技術(shù)編號：10654398
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。 近年來，隨著集成電路工藝技術(shù)的發(fā)展，處理器設(shè)計人員采用越來越高的時鐘頻 率、越來越低的電壓水平W及越來越小的工藝尺寸。運些技術(shù)在帶來更高性能與更低功耗 的同時，也使得處理器對瞬態(tài)故障更加敏感，威脅到程序執(zhí)行的正確性。運些瞬態(tài)故障通常 是由外部環(huán)境中高能粒子福射和電壓擾動、電磁干擾等誘發(fā)。與永久性故障導(dǎo)致的硬件錯 誤相比，運種錯誤具有瞬態(tài)、發(fā)生時間和位置隨機、可恢復(fù)等特點，因此被稱為"軟錯誤"。工 程人員提出了很多技術(shù)來處理軟錯誤的問題，運些技術(shù)主要可分為...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
請注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學(xué)習研究技術(shù)思路。