技術編號：10651787
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。 粒子尺寸測量在工業(yè)、云微物理檢測和工程測量上具有重要意義。干涉粒子成像 測量技術廣泛應用于粒子尺寸和粒子空間分布的獲取，該方法具有非接觸、精度高、速度快 等優(yōu)點，其研究技術較為成熟，研究對象多為尺寸相同的球形粒子。大氣中的懸浮粒子、雨 滴以及人體細胞等實際粒子場中，粒子尺寸并不相同，因此，研究適用于混合粒子場的干涉 成像處理算法，對提高粒子尺寸的測量精度具有重要意義。 干涉粒子成像技術廣泛應用于粒子尺寸的測量，研究對象多為單一粒徑粒子場， 為提高干涉條紋...
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