技術編號：10532029
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。電子元件或其組成的電子裝置(例如芯片、集成電路、印刷電路等等)在進行檢測時，待測物的耐受溫度通常為相當重要的檢測項目，即需檢測待測物在某一特定溫度范圍內(nèi)是否能正常運作。可想而知，在前述檢測過程中，需利用一溫度控制系統(tǒng)盡可能地將待測物的溫度準確地控制到設定溫度?，F(xiàn)有的一種溫度控制系統(tǒng)是由一冷卻裝置冷卻一流體管路內(nèi)的工作流體，并將冷卻后的工作流體導引至一待測物周圍，以冷卻該待測物。然而，當該工作流體溫度非常低時，該工作流體可能會在該流體管路內(nèi)壁開始結霜，若結霜...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權人授權前，僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。