技術(shù)編號(hào)：10487305
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。 掃描離子電導(dǎo)顯微鏡（Scanning Ion Conductance Microscopy，SICM)是掃描探 針顯微鏡家族中的新興成員。由于其特殊的成像機(jī)理，能夠在生理?xiàng)l件下實(shí)現(xiàn)對(duì)生物樣本 的非接觸、納米級(jí)分辨率掃描成像，因此SICM在活細(xì)胞的成像領(lǐng)域具有顯著的優(yōu)勢(shì)。近幾十 年，SICM技術(shù)得到了快速的發(fā)展，并在生物、化學(xué)、材料等多個(gè)領(lǐng)域均得到了廣泛應(yīng)用。 1989年，Hansma研究團(tuán)隊(duì)首先提出并研制出SICM，此后Korchev研究團(tuán)隊(duì)在此基礎(chǔ) 上...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。