技術(shù)編號:10470516
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。在現(xiàn)代CMOS集成電路的制作工藝過程中,幾乎所有的襯底結(jié)構(gòu)都是由離子注入形成的,從而使其滿足各種器件不同功能的要求。這些襯底結(jié)構(gòu)的摻雜區(qū)的制作流程如下首先使用光刻膠或者其他高于表面的結(jié)構(gòu),定義需要注入的區(qū)域,然后使用離子注入機將高能離子(比如砷、磷、硼等)嵌入到襯底中,最后去除光刻膠,得到所需的摻雜區(qū)。然而在高能離子注入涂布有光刻膠的襯底晶圓過程中,其中的部分高能離子會被吸附到光刻膠表面上甚至?xí)诫s到光刻膠中,使光刻膠表面甚至一定深度發(fā)生硬化,變成一種金剛...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。