技術(shù)編號：10038850
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。射線檢測儀能夠測量微量射線性，對于大多數(shù)常用核素具有較高的靈敏度，使用場合為工業(yè)無損探傷，探測和測定表面沾污；醫(yī)院、職業(yè)病防護領(lǐng)域；地質(zhì)勘探，科學考察，考古勘探；實驗室測定低能放射性核素；裝飾材料石材放射性元素含量等。現(xiàn)有的X射線檢測設(shè)備主要用于工業(yè)無損探傷，對給定工件進行射線探傷時，焊縫透照按底片影像質(zhì)量分為不同的檢驗等級，不同的象質(zhì)等級對底片的黑度、靈敏度與不清晰度有不同的規(guī)定。在照相過程中，必須選擇好的透照規(guī)范，使小的缺陷能夠在底片上明顯的辨別出來，...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。