基于flex的平衡調(diào)制解調(diào)器測試電路的制作方法
【專利說明】基于FLEX的平衡調(diào)制解調(diào)器測試電路
[0001]
技術(shù)領(lǐng)域
[0002]本發(fā)明涉及集成電路測試技術(shù),尤其涉及使用大規(guī)模集成電路測試系統(tǒng)MicroFLEX進(jìn)行航天用平衡調(diào)制/解調(diào)器AD630測試的方法。
[0003]
【背景技術(shù)】
[0004]AD630是平衡調(diào)制/解調(diào)器,每通道帶寬2Mhz,能從10dB噪聲中恢復(fù)信號,Ikhz互調(diào)干擾小于_120dB,可編程閉環(huán)增益±1,±2,閉環(huán)增益精度和匹配度0.05%,在航天型號中有廣泛的應(yīng)用。然而,現(xiàn)有技術(shù)無法測試精度如此高又有動態(tài)參數(shù)測試要求的器件,無法實(shí)現(xiàn)動態(tài)參數(shù)、高精度的測試方法,并有較好的穩(wěn)定性。
[0005]大規(guī)模集成電路測試系統(tǒng)Micro FLEX具有高速,高精度測試的功能,且有比較完善的窗口編輯界面,適合用于此類高速、高精度器件的測試,在FLEX上開發(fā)AD630的測試程序并設(shè)計(jì)相關(guān)測試線路,可較好地滿足測試要求。
[0006]因此,為了進(jìn)行電性能測試,業(yè)界需要有高速,高精度的測試設(shè)備和測試線路。
[0007]
【發(fā)明內(nèi)容】
[0008]本發(fā)明旨在使用大規(guī)模集成電路測試系統(tǒng)Micro FLEX來進(jìn)行平衡調(diào)制/解調(diào)器AD630的測試,解決了傳統(tǒng)無法測試既有調(diào)制器又有解調(diào)器測試要求的器件,實(shí)現(xiàn)了調(diào)制器、解調(diào)器的測試方法,并有較好的穩(wěn)定性。
[0009]為了達(dá)成上述目的,提供了一種基于FLEX的平衡調(diào)制解調(diào)器測試電路,包括第一運(yùn)算放大器,其包括放大器、比較器、集成輸出放大器;第二運(yùn)算放大器,其包括放大器、t匕較器、集成輸出放大器;及其中,所述第一放大器和第二放大器具有兩路不同輸入通道,一個(gè)時(shí)間只有一路工作。
[0010]一些實(shí)施例中,還包括比較器電路。
[0011]一些實(shí)施例中,所述測試電路的繼電器連接USER POWER 5V和UDBxx。
[0012]一些實(shí)施例中,用DC30儀表提供器件電源。
[0013]一些實(shí)施例中,用三路運(yùn)放測試儀表連接所述兩個(gè)運(yùn)算放大器以及所述比較器電路。
[0014]本發(fā)明采用的電路與現(xiàn)有技術(shù)相比,其優(yōu)點(diǎn)是:解決了傳統(tǒng)無法測試既有調(diào)制器又有解調(diào)器測試要求的器件,實(shí)現(xiàn)了調(diào)制器、解調(diào)器的測試方法,保證了測試的速度和精度,實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的小電流測試功能。
[0015]以下結(jié)合附圖,通過示例說明本發(fā)明主旨的描述,以清楚本發(fā)明的其他方面和優(yōu)點(diǎn)。
[0016]
【附圖說明】
[0017]結(jié)合附圖,通過下文的詳細(xì)說明,可更清楚地理解本發(fā)明的上述及其他特征和優(yōu)點(diǎn),其中:
圖1為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的測試電路的方塊圖;及圖2為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的測試電路的電路圖。
[0018]
【具體實(shí)施方式】
[0019]參見本發(fā)明具體實(shí)施例的附圖,下文將更詳細(xì)地描述本發(fā)明。然而,本發(fā)明可以以許多不同形式實(shí)現(xiàn),并且不應(yīng)解釋為受在此提出之實(shí)施例的限制。相反,提出這些實(shí)施例是為了達(dá)成充分及完整公開,并且使本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員完全了解本發(fā)明的范圍。
[0020]現(xiàn)參考附圖詳細(xì)說明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種基于FLEX的平衡調(diào)制解調(diào)器測試電路。
[0021]如圖1所示,根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的測試電路包括第一運(yùn)算放大器,其包括放大器、比較器、集成輸出放大器;第二運(yùn)算放大器,其包括放大器、比較器、集成輸出放大器;及其中,所述第一放大器和第二放大器具有兩路不同輸入通道,一個(gè)時(shí)間只有一路工作。
[0022]本發(fā)明設(shè)計(jì)了一種基于FLEX系統(tǒng)的測試線路。用不同角度理解AD630調(diào)制/解調(diào)器件的內(nèi)部功能連接,把放大器、比較器、集成輸出放大器結(jié)合成一個(gè)運(yùn)放電路。這個(gè)放大器由兩路不同輸入通道,一個(gè)時(shí)間只有一路工作。復(fù)雜電路簡單化,把AD630調(diào)制/解調(diào)器件看作兩個(gè)運(yùn)算放大器、一個(gè)比較器分解測試??紤]到滿足高性能測試的要求,用DC30儀表提供器件電源,用三路運(yùn)放測試資源提供兩個(gè)運(yùn)放、一個(gè)比較器電路的測試,繼電器連接 USER POWER 5V 和 UDBxx。
[0023]現(xiàn)參考圖2,詳細(xì)描述使用FLEX進(jìn)行平衡調(diào)制/解調(diào)器AD630的測試電路。
[0024]電源電流(Is):器件上電工作,用DC30通道加電壓測電流。
[0025]電源電壓抑制比(PSRR):器件給±13.5V上電工作,選擇A路放大器,兩個(gè)輸入端同時(shí)接地,輸出設(shè)定1.4V,儀表內(nèi)部運(yùn)放環(huán)增益Gain設(shè)定10K,用PLMeter測量儀表內(nèi)部OAL點(diǎn)電壓Vl,改變器件工作電壓土 16.5V,用PLMeter測量儀表內(nèi)部OAL點(diǎn)電壓V2,計(jì)算PSRR=20*log (delta V/(2*delta Vps)*Gain)。選擇 B 路放大器,用相同辦法測量 PSRR。
[0026]偏置電壓(Voffset):器件給±15V上電工作,選擇A路放大器,兩個(gè)輸入端同時(shí)接地,輸出設(shè)定1.4V,儀表內(nèi)部運(yùn)放環(huán)增益Gain設(shè)定1K,用PLMeter測量儀表內(nèi)部OAL點(diǎn)電壓Vl即為Voffset。選擇B路放大器,用相同辦法測量Voffset。
[0027]偏置電流(Ibias/1ffset):器件給±15V上電工作,選擇A路放大器,兩個(gè)輸入端同時(shí)接地,輸出設(shè)定1.4V,儀表內(nèi)部運(yùn)放環(huán)增益Gain設(shè)定10K,用PLMeter測量兩個(gè)輸入腳的輸入電流即為Ibias,兩者之差即為1ffset。選擇B路放大器,用相同辦法測量Ibias,1ffset0
[0028]共模抑制比(CMRR):器件給土 15V上電工作,選擇A路放大器,兩個(gè)輸入端同時(shí)接地,輸出設(shè)定1.4V,儀表內(nèi)部運(yùn)放環(huán)增益Gain設(shè)定10K,用PLMeter測量儀表內(nèi)部OAL點(diǎn)電壓VI,兩個(gè)輸入端同時(shí)接1.5V,用PLMeter測量儀表內(nèi)部OAL點(diǎn)電壓V2,計(jì)算CMRR=20*log (delta V/(delta Vin * Gain)。選擇 B 路放大器,用相同辦法測量 CMRR。
[0029]輸出電壓擺幅(Vout):器件給±15V上電工作,選擇A路放大器,負(fù)載設(shè)定2K歐姆,一路輸入接地,另外一路輸入接0.1V,用PLMeter測量儀表測量運(yùn)放輸出電壓VI,改變一路輸入從0.1V到-0.1V,用PLMeter測量儀表測量運(yùn)放輸出電壓V2,即為輸出擺幅。選擇B路放大器,用相同辦法測量輸出電壓擺幅。
[0030]開環(huán)增益(AV0L):器件給土 15V上電工作,選擇A路放大器,兩個(gè)輸入端同時(shí)接地,輸出設(shè)定0.25V,儀表內(nèi)部運(yùn)放環(huán)增益Gain設(shè)定10K,用PLMeter測量儀表內(nèi)部OAL點(diǎn)電壓VI,改變輸出設(shè)定為2V,用PLMeter測量儀表內(nèi)部OAL點(diǎn)電壓V2,計(jì)算AV0L=20*log(deltaVset/ (delta V * Gain);選擇B路放大器,用相同辦法測量開環(huán)增益
比較器輸入偏置電流(Ibias):器件給±15V上電工作,比較器輸入同時(shí)給5V電壓,用PLMeter測量輸入偏置電流Ibias。
[0031]比較器通道狀態(tài)電流(Isink):器件給±15V上電工作,比較器輸入同時(shí)給5V電壓,測量比較器輸出腳在電平-Vs+0.4V時(shí)的電流。
[0032]本發(fā)明采用的電路與現(xiàn)有技術(shù)相比,其優(yōu)點(diǎn)是:解決了傳統(tǒng)無法測試既有調(diào)制器又有解調(diào)器測試要求的器件,實(shí)現(xiàn)了調(diào)制器、解調(diào)器的測試方法,保證了測試的速度和精度,實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的小電流測試功能。
[0033]以上詳細(xì)描述了本發(fā)明的較佳具體實(shí)施例。應(yīng)當(dāng)理解,本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員無需創(chuàng)造性勞動就可以根據(jù)本發(fā)明的構(gòu)思做出諸多修改和變化。凡本技術(shù)領(lǐng)域中技術(shù)人員依本發(fā)明的構(gòu)思在現(xiàn)有技術(shù)的基礎(chǔ)上通過邏輯分析、推理或者有限的實(shí)驗(yàn)可以得到的技術(shù)方案,皆應(yīng)在由權(quán)利要求書所確定的保護(hù)范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種基于FLEX的平衡調(diào)制解調(diào)器測試電路,其特征在于,包括: 第一運(yùn)算放大器,其包括放大器、比較器、集成輸出放大器; 第二運(yùn)算放大器,其包括放大器、比較器、集成輸出放大器;及 其中,所述第一放大器和第二放大器具有兩路不同輸入通道,一個(gè)時(shí)間只有一路工作。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試電路,其特征在于,還包括比較器電路。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試電路,其特征在于,所述測試電路的繼電器連接USERPOWER 5V 和 UDBxx。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試電路,其特征在于,用DC30儀表提供器件電源。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試電路,其特征在于,用三路運(yùn)放測試儀表連接所述兩個(gè)運(yùn)算放大器以及所述比較器電路。
【專利摘要】一種基于FLEX的平衡調(diào)制解調(diào)器測試電路,包括第一運(yùn)算放大器,其包括放大器、比較器、集成輸出放大器;第二運(yùn)算放大器,其包括放大器、比較器、集成輸出放大器;及其中,所述第一放大器和第二放大器具有兩路不同輸入通道,一個(gè)時(shí)間只有一路工作。本發(fā)明采用的電路與現(xiàn)有技術(shù)相比,其優(yōu)點(diǎn)是:解決了傳統(tǒng)無法測試既有調(diào)制器又有解調(diào)器測試要求的器件,實(shí)現(xiàn)了調(diào)制器、解調(diào)器的測試方法,保證了測試的速度和精度,實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的小電流測試功能。
【IPC分類】G01R31/28
【公開號】CN105652180
【申請?zhí)枴?br>【發(fā)明人】許偉達(dá), 徐導(dǎo)進(jìn)
【申請人】上海精密計(jì)量測試研究所
【公開日】2016年6月8日
【申請日】2014年12月4日