專(zhuān)利名稱(chēng)：一種設(shè)有測(cè)試pad的PCB板的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種PCB板，尤其涉及一種工藝邊上設(shè)有測(cè)試點(diǎn)的PCB板。
背景技術(shù)：
作為電子產(chǎn)品最基本也是最核心的部件，PCB板廣泛運(yùn)用于各類(lèi)電子產(chǎn)品及大 型設(shè)備及裝置上，通常，按照客戶(hù)要求，生產(chǎn)廠(chǎng)家需要將線(xiàn)路布設(shè)于PCB板的基板上， 常見(jiàn)的加工過(guò)程中，有一道工藝是在PCB板與工藝邊的分界線(xiàn)上開(kāi)一條切斷槽，便于使 用時(shí)將PCB板與工藝邊斷開(kāi)，而現(xiàn)有技術(shù)中，沒(méi)有一道標(biāo)準(zhǔn)工序用于檢測(cè)是否在出廠(chǎng)前 開(kāi)設(shè)了切斷槽。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于提供一種在PCB板工藝邊上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)，防止在加工過(guò) 程中遺漏開(kāi)設(shè)切斷槽工序，從而提高產(chǎn)品良率的PCB板。為了達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案為一種設(shè)有測(cè)試pad的 PCB板，包括PCB板，設(shè)于PCB板邊緣的工藝邊，在工藝邊上設(shè)有兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)，其位于 與工藝邊邊緣平行的直線(xiàn)上，兩測(cè)試點(diǎn)通過(guò)一弧形線(xiàn)連通，該弧形線(xiàn)的頂端位于工藝邊 與PCB板的分界線(xiàn)上。測(cè)試原理在于，在出廠(chǎng)前的檢測(cè)工序，檢測(cè)兩測(cè)試點(diǎn)之間是出于 開(kāi)路還是短路，如果處于開(kāi)路，則說(shuō)明兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)之間斷開(kāi)，也表明位于分界線(xiàn)上的弧 形線(xiàn)頂端已被切掉，表明該產(chǎn)品已開(kāi)設(shè)切斷槽，為良品；反之，如果位于同一排的兩個(gè) 測(cè)試點(diǎn)處于短路，則說(shuō)明兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)之間未斷開(kāi)，也表明位于分界線(xiàn)上的弧形線(xiàn)頂端未 被切掉，表明該產(chǎn)品未開(kāi)設(shè)切斷槽，為不良品，需要返工，有效的防止了不良品出廠(chǎng)。采用上述結(jié)構(gòu)后，可有效防止不良品出廠(chǎng)，提高產(chǎn)品的良率。

圖1為本實(shí)用新型的未開(kāi)設(shè)切斷槽時(shí)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖IA為圖1的局部放大圖；圖2為本實(shí)用新型的開(kāi)設(shè)切斷槽時(shí)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2A為圖2的局部放大圖。
具體實(shí)施方式
為了使本領(lǐng)域技術(shù)人員更好的理解本實(shí)用新型，茲配合附圖詳細(xì)說(shuō)明請(qǐng)參考圖1所示，本實(shí)用新型公開(kāi)了一種設(shè)有測(cè)試pad的PCB板，包括PCB板 1，設(shè)于PCB板1邊緣的工藝邊11，在工藝邊11上設(shè)有兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)2、3；其位于與工藝 邊11邊緣平行的直線(xiàn)上，兩測(cè)試點(diǎn)2、3通過(guò)一弧形線(xiàn)4連通，該弧形線(xiàn)4的頂端位于工 藝邊11與PCB板1的分界線(xiàn)上。測(cè)試原理在于，在出廠(chǎng)前的檢測(cè)工序，檢測(cè)位于同一 排的兩測(cè)試點(diǎn)2、3之間是出于開(kāi)路還是短路，如果處于開(kāi)路，則說(shuō)明兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)2、3之間斷開(kāi)，也表明位于分界線(xiàn) 上的弧形線(xiàn)4的頂端已被切掉，表明該產(chǎn)品已開(kāi)設(shè)切斷槽， 為良品；反之，如果位于同一排的兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)2、3處于短路，則說(shuō)明兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)2、3之 間未斷開(kāi)，也表明位于分界線(xiàn)上的弧形線(xiàn)4的頂端未被切掉，表明該產(chǎn)品已未開(kāi)設(shè)切斷 槽，為不良品，需要返工，有效的防止了不良品出廠(chǎng)。
權(quán)利要求1. 一種設(shè)有測(cè)試pad的PCB板，包括PCB板，設(shè)于PCB板邊緣的工藝邊，其特征在 于，在工藝邊上設(shè)有兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)，其位于與工藝邊邊緣平行的直線(xiàn)上，兩測(cè)試點(diǎn)通過(guò)一 弧形線(xiàn)連通，該弧形線(xiàn)的頂端位于工藝邊與PCB板的分界線(xiàn)上。
專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)一種設(shè)有測(cè)試pad的PCB板，包括PCB板，設(shè)于PCB板邊緣的工藝邊，在工藝邊上設(shè)有兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)，其位于與工藝邊邊緣平行的直線(xiàn)上，兩測(cè)試點(diǎn)通過(guò)一弧形線(xiàn)連通，該弧形線(xiàn)的頂端位于工藝邊與PCB板的分界線(xiàn)上。測(cè)試原理在于，在出廠(chǎng)前的檢測(cè)工序，檢測(cè)兩測(cè)試點(diǎn)之間是出于開(kāi)路還是短路，如果處于開(kāi)路，則說(shuō)明兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)之間斷開(kāi)，也表明位于分界線(xiàn)上的弧形線(xiàn)頂端已被切掉，表明該產(chǎn)品已開(kāi)設(shè)切斷槽，為良品；反之，如果位于同一排的兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)處于短路，則說(shuō)明兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)之間未斷開(kāi)，也表明位于分界線(xiàn)上的弧形線(xiàn)頂端未被切掉，表明該產(chǎn)品未開(kāi)設(shè)切斷槽，為不良品，需要返工，有效的防止了不良品出廠(chǎng)。
文檔編號(hào)H05K1/02GK201797645SQ20102053838
公開(kāi)日2011年4月13日 申請(qǐng)日期2010年9月21日 優(yōu)先權(quán)日2010年9月21日
發(fā)明者盧磊 申請(qǐng)人:磊鑫達(dá)電子(深圳)有限公司