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自動檢測裝置的制造方法

文檔序號:10922895閱讀:577來源:國知局
自動檢測裝置的制造方法
【專利摘要】一種自動檢測裝置,包含電光轉(zhuǎn)換模塊、光纖連接器、測試座、誤碼測試器、二移載機(jī)構(gòu)與控制模塊??刂颇K控制第一移載機(jī)構(gòu)將光傳接模塊移至測試座、控制第二移載機(jī)構(gòu)將光纖連接器插入光傳接模塊,且致動誤碼測試器產(chǎn)生脈沖信號。電光轉(zhuǎn)換模塊依據(jù)脈沖信號產(chǎn)生測試光信號。光傳接模塊依據(jù)光纖連接器所傳輸?shù)臏y試光信號產(chǎn)生輸出電信號。測試座依據(jù)輸出電信號產(chǎn)生檢測信號。誤碼測試器依據(jù)檢測信號產(chǎn)生誤碼率。于預(yù)定時間后,控制模塊控制第二移載機(jī)構(gòu)將光纖連接器拔出,且依據(jù)誤碼率控制第一移載機(jī)構(gòu)將光傳接模塊移至合格品區(qū)或不合格品區(qū)。
【專利說明】
自動檢測裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001 ]本實用新型涉及一種自動檢測裝置,特別是一種適用于檢測光傳接模塊的自動檢測裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]在目前通信科技的傳輸方面上,將電信號或光信號通過纜線作為信號傳輸媒介的有線傳輸仍較無線傳輸更為穩(wěn)定。于其中,又以光信號傳輸方式最為快速。因此,隨著時光推演,通信科技所采用的傳輸媒介已從用以傳輸電信號一般電纜線演進(jìn)至用以傳輸光信號的光纖(Fiber Optics)。此外,由于光纖具有高頻寬、保密性佳以及不受電磁干擾等優(yōu)點,故自問世以來已被廣泛鋪設(shè)且應(yīng)用于網(wǎng)絡(luò)布線的主干上,以期能達(dá)到光纖到戶(Fiber ToThe Home,F(xiàn)TTH)的目標(biāo)。
[0003]在光纖通信的網(wǎng)絡(luò)中,光傳接模塊通常扮演著不可或缺的重要角色。光傳接模塊一般又可稱為光纖界面收發(fā)器,用以通過內(nèi)部的光電轉(zhuǎn)換模塊進(jìn)行電信號與光信號間的相互轉(zhuǎn)換,來使得各款電子裝置可通過光纖通信的網(wǎng)絡(luò)相互通信。因此,光傳接模塊本身的轉(zhuǎn)換品質(zhì)良否將影響其是否可正確地進(jìn)行電信號與光信號間的相互轉(zhuǎn)換,且進(jìn)而影響整個光纖通信系統(tǒng)的穩(wěn)定性。
【實用新型內(nèi)容】
[0004]本實用新型所要解決的技術(shù)問題是提供一種自動檢測裝置,用以檢測光傳接模塊。其中,光傳接模塊包含光傳輸口,且用以依據(jù)光傳輸口所接收的測試光信號產(chǎn)生對應(yīng)的輸出電信號。
[0005]為了實現(xiàn)上述目的,本實用新型提供了一種自動檢測裝置,適用于檢測一光傳接模塊,該光傳接模塊包含一光傳輸口,且用以依據(jù)該光傳輸口所接收的一測試光信號產(chǎn)生對應(yīng)的一輸出電信號,其中,該自動檢測裝置包含:
[0006]—電光轉(zhuǎn)換模塊,依據(jù)一脈沖信號產(chǎn)生對應(yīng)的該測試光信號;
[0007]—光纖連接器,傳輸該測試光信號,該光纖連接器包含一光纖接頭;
[0008]—測試座,依據(jù)該輸出電信號產(chǎn)生一檢測信號;
[0009]—誤碼測試器,產(chǎn)生該脈沖信號,且根據(jù)該檢測信號產(chǎn)生一誤碼率;
[0010]一進(jìn)料區(qū),放置未檢測的該光傳接模塊;
[0011]—出料區(qū),放置已檢測的該光傳接模塊,包含一合格品區(qū)與一不合格品區(qū);
[0012]—第一移載機(jī)構(gòu),搬運(yùn)該光傳接模塊;
[0013]—第二移載機(jī)構(gòu),攜載該光纖連接器;及
[0014]一控制模塊,控制該第一移載機(jī)構(gòu)將位于該進(jìn)料區(qū)的該光傳接模塊移至該測試座,且控制該第二移載機(jī)構(gòu)將該光纖連接器的該光纖接頭插入該光傳接模塊的該光傳輸口中,并致動該誤碼測試器;該控制模塊在一預(yù)定時間后控制該第二移載機(jī)構(gòu)將該光纖連接器的該光纖接頭自該光傳接模塊的該光傳輸口中拔出,并依據(jù)該誤碼率控制該第一移載機(jī)構(gòu)將完成檢測的該光傳接模塊自該測試座搬運(yùn)至該合格品區(qū)或該不合格品區(qū)。
[0015]上述的自動檢測裝置,其中,還包含:
[0016]—光纖清潔組,清潔該光纖連接器的該光纖接頭;
[0017]—攝像組,擷取該光纖接頭的影像;及
[0018]一第一計數(shù)器,計數(shù)該光纖清潔組的一清潔次數(shù);
[0019]其中該控制模塊還控制該第二移載機(jī)構(gòu)將該光纖連接器移至該光纖清潔組,且將清潔后的該光纖連接器移至該攝像組,并根據(jù)該攝像組所擷取的該影像確認(rèn)該光纖接頭是否符合一干凈標(biāo)準(zhǔn);
[0020]其中該控制模塊還確認(rèn)該清潔次數(shù)是否已達(dá)一第一閾值,且于判斷該清潔次數(shù)已達(dá)該第一閾值時,輸出一第一更換警示。
[0021]上述的自動檢測裝置,其中,還包含:
[0022]—預(yù)熱載臺,加熱該光傳接模塊至一預(yù)熱溫度;
[0023]其中該控制模塊控制該第一移載機(jī)構(gòu)將位于該進(jìn)料區(qū)的該光傳接模塊移至該預(yù)熱載臺后,再控制該第一移載機(jī)構(gòu)將該光傳接模移至該測試座,且該控制模塊還控制該第一移載機(jī)構(gòu)將位于該進(jìn)料區(qū)的另一光傳接模塊移至該預(yù)熱載臺。
[0024]上述的自動檢測裝置,其中,還包含:
[0025]—第二計數(shù)器,計數(shù)該光纖連接器的該光纖接頭插入至該光傳接模塊的該光傳輸口中的一使用次數(shù);
[0026]其中該控制模塊還確認(rèn)該使用次數(shù)是否已達(dá)一第二閾值,且于判斷該使用次數(shù)已達(dá)該第二閾值時,輸出一第二更換警示。
[0027]上述的自動檢測裝置,其中,還包含:
[0028]一第三計數(shù)器,計數(shù)測試座的一測試次數(shù);
[0029]其中該控制模塊還確認(rèn)該測試次數(shù)是否已達(dá)一第三閾值,且于判斷該測試次數(shù)已達(dá)該第三閾值時,輸出一第三更換警示。
[0030]上述的自動檢測裝置,其中,該光傳接模塊具有一識別碼,該自動檢測裝置還包含一讀碼器,讀取并記錄該光傳接模塊的該識別碼。
[0031]上述的自動檢測裝置,其中,該進(jìn)料區(qū)包含一供料區(qū)、一待取區(qū)與一空盤堆放區(qū),該供料區(qū)放置承載有未檢測的該光傳接模塊的一進(jìn)料盤,該待取區(qū)放置來自該供料區(qū)的該進(jìn)料盤,該空盤堆放區(qū)放置未承載該未檢測的該光傳接模塊的該進(jìn)料盤,該合格品區(qū)包含一合格品空盤區(qū)、一合格品待置區(qū)與一合格品滿盤區(qū),該合格品空盤區(qū)放置未承載該光傳接模塊的一合格品出料盤,該合格品待置區(qū)放置來自該合格品空盤區(qū)的該合格品出料盤,該合格品滿盤區(qū)放置已滿盤的該合格品出料盤,該不合格品區(qū)包含一不合格品空盤區(qū)、一不合格品待置區(qū)與一不合格品滿盤區(qū),該不合格品空盤區(qū)放置未承載該光傳接模塊的一不合格品出料盤,該不合格品待置區(qū)放置來自該不合格品空盤區(qū)的該不合格品出料盤,該不合格品滿盤區(qū)放置已滿盤的該不合格品出料盤,該自動檢測裝置還包含:
[0032]一第三移載機(jī)構(gòu),搬運(yùn)該進(jìn)料盤;
[0033]—第四移載機(jī)構(gòu),搬運(yùn)該合格品出料盤;及
[0034]—第五移載機(jī)構(gòu),搬運(yùn)該不合格品出料盤;
[0035]其中該控制模塊還控制該第三移載機(jī)構(gòu)將該進(jìn)料盤自該供料區(qū)移至該待取區(qū),并當(dāng)位于該待取區(qū)的該進(jìn)料盤已無承載該光傳接模塊時,控制該第三移載機(jī)構(gòu)將該進(jìn)料盤移至該空盤堆放區(qū),且控制該第三移載機(jī)構(gòu)將另一該進(jìn)料盤自該供料區(qū)移至該待取區(qū);
[0036]其中該控制模塊還控制該第四移載機(jī)構(gòu)將該合格品出料盤自該合格品空盤區(qū)移至該合格品待置區(qū),并當(dāng)位于該合格品待置區(qū)的該合格品出料盤已載滿該光傳接模塊時,控制該第四移載機(jī)構(gòu)將該合格品出料盤移至該合格品滿盤區(qū),且控制該第四移載機(jī)構(gòu)將另一該合格品出料盤自該合格品空盤區(qū)移至該合格品待置區(qū);
[0037]其中該控制模塊還控制該第五移載機(jī)構(gòu)將該不合格品出料盤自該不合格品空盤區(qū)移至該不合格品待置區(qū),并當(dāng)位于該不合格品待置區(qū)的該不合格品出料盤已載滿該光傳接模塊時,控制該第五移載機(jī)構(gòu)將該不合格品出料盤移至該不合格品滿盤區(qū),且控制該第五移載機(jī)構(gòu)將另一該不合格品出料盤自該不合格品空盤區(qū)移至該不合格品待置區(qū)。
[0038]上述的自動檢測裝置,其中,還包含:
[0039]—第一檢測模塊,檢測是否有該進(jìn)料盤位于該供料區(qū),且當(dāng)未檢測到該進(jìn)料盤位于該供料區(qū)時,產(chǎn)生一第一補(bǔ)充警示;
[0040]—第二檢測模塊,檢測是否有該合格品出料盤位于該合格品空盤區(qū),且當(dāng)未檢測該合格品出料盤位于該合格品空盤區(qū)時,產(chǎn)生一第二補(bǔ)充警示;及
[0041]—第三檢測模塊,檢測是否有該不合格品出料盤位于該不合格品空盤區(qū),且當(dāng)未檢測到該不合格品出料盤位于該不合格品空盤區(qū)時,產(chǎn)生一第三補(bǔ)充警示。
[0042]上述的自動檢測裝置,其中,該測試座包含:
[0043]—溫控模塊,調(diào)控位于該測試座的該光傳接模塊至一測試溫度。
[0044]上述的自動檢測裝置,其中,該光傳接模塊還包含一電傳輸口,且該光傳接模塊還依據(jù)該電傳輸口所接收的該脈沖信號產(chǎn)生對應(yīng)的一輸出光信號,該自動檢測裝置還包含:
[0045]—通信分析儀,依據(jù)該輸出光信號產(chǎn)生一分析信號;
[0046]其中,該控制模塊依據(jù)該誤碼率與該分析信號控制該第一移載機(jī)構(gòu)將完成檢測的該光傳接模塊自該測試座搬運(yùn)至該合格品區(qū)或該不合格品區(qū)。
[0047]上述的自動檢測裝置,其中,該光纖連接器還包含一彈臂,該彈臂的一端耦接于該光纖連接器,當(dāng)該光纖連接器的該光纖接頭插入該光傳接模塊的該光傳輸口中時,該彈臂的另一端扣合于該光傳接模塊,以固定該光纖接頭于該光傳輸口中,該第二移載機(jī)構(gòu)包含一推壓件與一縱向滑軌組件,該預(yù)定時間后該控制模塊控制該推壓件推壓該彈臂,以使該彈臂的該另一端松開該光傳接模塊,且該控制模塊控制該縱向滑軌組件朝遠(yuǎn)離該光傳輸口的方向移動,以使該光纖接頭自該光傳輸口中拔出。
[0048]上述的自動檢測裝置,其中,還包含一出料載臺,該出料載臺包含一承載基座與一出料槽,該出料槽位于該承載基座上,其中于該光纖接頭自該光傳輸口中拔出后,該控制模塊控制該第一移載機(jī)構(gòu)將完成檢測的該光傳接模塊自該測試座移到該出料槽,再根據(jù)該誤碼率控制該第一移載機(jī)構(gòu)將位于該出料槽的該光傳接模塊搬運(yùn)至該合格品區(qū)或該不合格品區(qū)。
[0049]上述的自動檢測裝置,其中,該第一移載機(jī)構(gòu)包含一伸縮件,該光傳接模塊還包含一拉環(huán),該拉環(huán)位于該光傳輸口,且該拉環(huán)可旋轉(zhuǎn)于一扣合位置與一拉動位置之間,其中當(dāng)該光傳接模塊位于該測試座時,該拉環(huán)位于該扣合位置,且該拉環(huán)與該光傳輸口之間形成一穿孔,其中該控制模塊于該預(yù)定時間后控制該伸縮件伸展至該穿孔中后,再控制該伸縮件朝遠(yuǎn)離于該測試座的方向移動,以拉動該拉環(huán)至該拉動位置并借以將該光傳接模塊自該測試座拉至該出料槽中。
[0050]本實用新型的有益功效在于:
[0051]本實用新型的自動檢測裝置,利用移載機(jī)構(gòu)來搬運(yùn)光傳接模塊以及插拔光纖連接器,而無需仰賴人工進(jìn)行作業(yè),借以自動化光傳接模塊的檢測作業(yè),并提高整體檢測的精準(zhǔn)度與效率。
[0052]以下結(jié)合附圖和具體實施例對本實用新型進(jìn)行詳細(xì)描述,但不作為對本實用新型的限定。
【附圖說明】
[0053]圖1為本實用新型一實施例的自動檢測裝置的結(jié)構(gòu)框圖;
[0054]圖2為本實用新型一實施例的自動檢測裝置的立體結(jié)構(gòu)示意圖;
[0055]圖3為圖2的俯視圖;
[0056]圖4為第一移載機(jī)構(gòu)自進(jìn)料區(qū)取起光傳接模塊的一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0057]圖5為第一移載機(jī)構(gòu)將光傳接模塊移至預(yù)熱載臺的一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖(一);
[0058]圖6為第一移載機(jī)構(gòu)將光傳接模塊移至預(yù)熱載臺的一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖(二);
[0059]圖7為將光傳接模塊自預(yù)熱載臺移至測試座的一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0060]圖8A為光纖連接器位于擦拭位置的一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖(一);
[0061 ]圖8B為圖8A的局部放大圖;
[0062]圖9為光纖連接器位于擦拭位置的一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖(二);
[0063]圖10為光纖連接器位于攝像位置的一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0064]圖11為光纖連接器位于第二插入位置的一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0065]圖12為光纖接頭插入至光傳輸口光纖接頭;
[0066]圖13為圖12的局部放大結(jié)構(gòu)示意圖;
[0067]圖14為第二移載機(jī)構(gòu)將光纖接頭自光傳輸口中拔出的一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖(一);
[0068]圖15為第二移載機(jī)構(gòu)將光纖接頭自光傳輸口中拔出的一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖(二 );
[0069]圖16為第一移載機(jī)構(gòu)將光傳接模塊自測試座移至出料載臺的一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖(一);
[0070]圖17A為第一移載機(jī)構(gòu)將光傳接模塊自測試座移至出料載臺的一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖(^.);
[0071]圖17B為圖17A的局部放大圖;
[0072]圖18為第一移載機(jī)構(gòu)將光傳接模塊自測試座移至出料載臺的一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖(三);
[0073]圖19為第一移載機(jī)構(gòu)將光傳接模塊自測試座移至出料載臺的一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖(四);
[0074]圖20為第一移載機(jī)構(gòu)將光傳接模塊自出料載臺取起的一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0075]其中,附圖標(biāo)記
[0076]100自動檢測裝置110電光轉(zhuǎn)換模塊
[0077]120光纖連接器121光纖接頭
[0078]1211支撐管1212光纖
[0079]122彈臂130測試座
[0080]131承載基臺132測試電路板[0081 ]1321測試槽140誤碼測試器
[0082]141脈沖產(chǎn)生單元142誤碼檢測單元
[0083]150第一移載機(jī)構(gòu)151第一移載組件
[0084]1511水平滑軌組件1512升降組件
[0085]1513取置部152第二移載組件
[0086]1521橫向滑軌組件1522縱向滑軌組件
[0087]153第三移載組件1531縱向滑軌組件
[0088]1532垂直伸縮組件160第二移載機(jī)構(gòu)
[0089]161水平滑軌組件162縱向滑軌組件
[0090]163攜載部164升降組件
[0091]165推壓件170第三移載機(jī)構(gòu)
[0092]171橫向滑軌組件172承載板
[0093]173升降組件174抵持組件
[0094]180第四移載機(jī)構(gòu)190第五移載機(jī)構(gòu)
[0095]200光傳接模塊210光傳輸口
[0096]220電傳輸口230光電轉(zhuǎn)換單元
[0097]240拉環(huán)300控制模塊
[0098]410進(jìn)料盤410c置料槽
[0099]420合格品出料盤430不合格品出料盤
[0100]510支撐架511支撐柱
[0101]512支撐件520支撐架
[0102]530支撐架600通信分析儀
[0103]710光纖清潔組711殼體
[0104]711c清潔口712操作組件
[0105]712a按壓部712b推壓件
[0106]720攝像組800出料載臺
[0107]810承載基座820出料槽
[0108]830滑軌組件900預(yù)熱載臺
[0109]910承載基座920加熱槽
[0110]Al進(jìn)料區(qū)A2出料區(qū)
[0111]All供料區(qū)A12待取區(qū)
[0112]A13空盤堆放區(qū)A21合格品區(qū)
[0113]A211合格品空盤區(qū)A212合格品待置區(qū)
[0114]A213合格品滿盤區(qū)A22不合格品區(qū)
[0115]A221不合格品空盤區(qū)A222不合格品待置區(qū)
[0116]A223不合格品滿盤區(qū)Rl誤碼率
[0117]SI脈沖信號S2測試光信號
[0118]S3輸出電信號S4檢測信號
[0119]S5輸出光信號S6分析信號
【具體實施方式】
[0120]下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的結(jié)構(gòu)原理和工作原理作具體的描述:
[0121]請參閱圖1至圖3,本實用新型一實施例提供一種適用于檢測光傳接模塊200的自動檢測裝置100。一般而言,光傳接模塊200是整合光發(fā)送器(Transmitter)與光接收器(Receiver)兩大功能所形成的單一光信號收發(fā)模塊,且可用以進(jìn)行電信號與光信號之間的相互轉(zhuǎn)換,以使各款式的電子裝置可通過光纖通信網(wǎng)絡(luò)相互連線。
[0122]在本實施例中,光傳接模塊200可包含光傳輸口210、電傳輸口 220與光電轉(zhuǎn)換單元230。其中,光傳輸口210可用以與后述的光纖連接器120的光纖接頭121相接,以傳輸光信號。電傳輸口 220可用以與電子裝置的信號發(fā)射端或接收端相接,以傳輸電信號。光電轉(zhuǎn)換單元230耦接至光傳輸口 210與電傳輸口 220,且可用以將光傳輸口 210所接收的光信號轉(zhuǎn)換成對應(yīng)的電信號后,再將電信號從電傳輸口 220輸出,或?qū)㈦妭鬏斂?220所接收的電信號轉(zhuǎn)換成對應(yīng)的光信號后,再將光信號從光傳輸口 210輸出。
[0123]在一些實施例中,光傳接模塊200可為小封裝熱插拔收發(fā)器(SmalI Form-FactorPluggable,SFP)。但本實用新型并非以此為限,光傳接模塊200亦可為增強(qiáng)型小封裝熱插拔收發(fā)器(Enhanced Small Form-FactorPluggable,SFP+)、四通道小封裝熱插拔收發(fā)器(Quad Small Form-FactorPluggable,QSFP)或萬兆小封裝熱插拔收發(fā)器(1GigabitSmall Form-FactorPluggable,XFP)等或其他定制化規(guī)格的光學(xué)界面收發(fā)器。此外,光傳接模塊200的光傳輸口 210的規(guī)格可對應(yīng)于光纖連接器120的光纖接頭121的規(guī)格,例如:FC、SC、ST 或 LC 等。
[0124]本實用新型一實施例的自動檢測裝置100可包含進(jìn)料區(qū)Al、出料區(qū)A2、電光轉(zhuǎn)換模塊110、光纖連接器120、測試座130、誤碼測試器140、至少二移載機(jī)構(gòu)(以下,分別稱之為第一移載機(jī)構(gòu)150與第二移載機(jī)構(gòu)160)以及控制模塊300。其中,電光轉(zhuǎn)換模塊110耦接至光纖連接器120,誤碼測試器140耦接至電光轉(zhuǎn)換模塊110與測試座130,且控制模塊300耦接至測試座130、誤碼測試器140、第一移載機(jī)構(gòu)150以及第二移載機(jī)構(gòu)160。于此,第一移載機(jī)構(gòu)150用以搬運(yùn)光傳接模塊200,且第二移載機(jī)構(gòu)160用以攜載光纖連接器120。
[0125]進(jìn)料區(qū)Al用以放置尚未檢測過的光傳接模塊200,且出料區(qū)A2用以放置已完成檢測的光傳接模塊200。其中,出料區(qū)A2包含合格品區(qū)A21與不合格品區(qū)A22。于此,合格品區(qū)A21用以放置其檢測結(jié)果為正常的光傳接模塊200,而不合格品區(qū)A22則用以放置其檢測結(jié)果為異常的光傳接模塊200。
[0126]在本實施例中,誤碼測試器(Bit Error Rate Tester,BERT) 140可用以產(chǎn)生脈沖信號SI;電光轉(zhuǎn)換模塊110可用以將脈沖信號SI轉(zhuǎn)換成對應(yīng)的測試光信號S2;光纖連接器120可用以傳輸測試光信號S2;光傳接模塊200可用以依據(jù)光傳輸口 210所接收的測試光信號S2經(jīng)由電傳輸口 220產(chǎn)生對應(yīng)的輸出電信號S3;測試座130可用以依據(jù)輸出電信號S3產(chǎn)生檢測信號S4;且誤碼測試器140還可用以根據(jù)檢測信號S4產(chǎn)生誤碼率(Bit Error Rate,BER)Rl,借以完成對光傳接模塊200中的光接收部分的檢測。
[0127]換言之,于進(jìn)行光傳接模塊200的光接收部分的檢測程序中,自動檢測裝置100的控制模塊300可先控制第一移載機(jī)構(gòu)150將位于進(jìn)料區(qū)Al的光傳接模塊200移至測試座130,然后控制第二移載機(jī)構(gòu)160將光纖連接器120的光纖接頭121插入至位于測試座130的光傳接模塊200的光傳輸口 210中后,再致動誤碼測試器140以開始檢測。之后,待一預(yù)定時間過后,控制模塊300再控制第二移載機(jī)構(gòu)160將光纖連接器120的光纖接頭121從光傳接模塊200的光傳輸口210中拔出,然后再根據(jù)誤碼測試器140所得的誤碼率Rl來控制第一移載機(jī)構(gòu)150將此完成檢測的光傳接模塊200自測試座130搬運(yùn)至合格品區(qū)A21或不合格品區(qū)A22。
[0128]在一些實施例中,控制模塊300系根據(jù)所得的誤碼率Rl計算出光傳接模塊200的靈敏度(Sensitivity),然后再根據(jù)此靈敏度來評估光傳接模塊200的效能,并根據(jù)評估的結(jié)果來搬運(yùn)光傳接模塊200至合格品區(qū)A21或不合格品區(qū)A22。
[0129]此外,本實用新型一實施例的自動檢測裝置100還可包含通信分析儀600,耦接至控制模塊300與光纖連接器120,用以檢測光傳接模塊200的光發(fā)送部分。于此,誤碼測試器140可用以產(chǎn)生脈沖信號SI;光傳接模塊200還可用以依據(jù)電傳輸口 220所接收的脈沖信號SI產(chǎn)生對應(yīng)的輸出光信號S5 ;光纖連接器120還可用以傳輸輸出光信號S5 ;且通信分析儀600可用以根據(jù)輸出光信號S5產(chǎn)生分析信號S6。
[0130]換言之,于進(jìn)行光傳接模塊200的光發(fā)送部分的檢測程序中,自動檢測裝置100的控制模塊300可先控制第一移載機(jī)構(gòu)150將位于進(jìn)料區(qū)Al的光傳接模塊200移至測試座130,然后控制第二移載機(jī)構(gòu)160將光纖連接器120的光纖接頭121插入至位于測試座140的光傳接模塊200的光傳輸口 210中后,再致動誤碼測試器140與通信分析儀600以開始檢測。之后,待一預(yù)定時間過后,控制模塊300再控制第二移載機(jī)構(gòu)160將光纖連接器120的光纖接頭121從光傳接模塊200的光傳輸口210中拔出,然后再根據(jù)通信分析儀600所得的分析信號S6來控制第一移載機(jī)構(gòu)150將此完成檢測的光傳接模塊200自測試座130搬運(yùn)至合格品區(qū)A21或不合格品區(qū)A22。
[0131 ] 在一些實施例中,通信分析儀600所產(chǎn)生的分析信號S6可包含平均功率(AveragePower)、消光率(Extinct1n Rat1)、抖動(Jitter)、上升時間(Rising Time)、下降時間(Falling Time)、眼圖遮罩測試(Eye Mask Test)及/或眼圖寬度(Eye Width)等數(shù)據(jù)。
[0132]在本實施例中,自動檢測裝置100可先完成光傳接模塊200的光接收部分的檢測程序后,再接續(xù)執(zhí)行光傳接模塊200的光發(fā)送部分的檢測程序。
[0133]因此,自動檢測裝置100的控制模塊300是先控制第一移載機(jī)構(gòu)150將位于進(jìn)料區(qū)Al的光傳接模塊200移至測試座130,然后控制第二移載機(jī)構(gòu)160將光纖連接器120的光纖接頭121插入至位于測試座130的光傳接模塊200的光傳輸口 210中后,再致動誤碼測試器140以開始光接收部分的檢測。待一預(yù)定時間過后,控制模塊300再致動通信分析儀600以開始光發(fā)送部分的檢測。之后,待經(jīng)過另一預(yù)定時間后,控制模塊300再控制第二移載機(jī)構(gòu)160將光纖連接器120的光纖接頭121從光傳接模塊200的光傳輸口 210中拔出,然后再根據(jù)誤碼測試器140所得的誤碼率Rl以及根據(jù)通信分析儀600所得的分析信號S6來控制第一移載機(jī)構(gòu)150將此完成所有檢測的光傳接模塊200自測試座130搬運(yùn)至合格品區(qū)A21或不合格品區(qū)A22。然而,本實用新型并非以此為限,自動檢測裝置100亦可先完成光傳接模塊200的光發(fā)送部分的檢測程序后,再接續(xù)執(zhí)行光傳接模塊200的光接收部分的檢測程序。
[0134]本實用新型一實施例的自動檢測裝置100的詳細(xì)架構(gòu)與詳細(xì)作動,茲分述如下。
[0135]自動檢測裝置100的進(jìn)料區(qū)Al可包含供料區(qū)AU、待取區(qū)A12與空盤堆放區(qū)A13。其中,供料區(qū)All可供一個以上的進(jìn)料盤410以垂直間格排列的方式堆放于此區(qū)。于此,在供料區(qū)All的每一進(jìn)料盤410上可承載至少一個尚未檢測過的光傳接模塊200。
[0136]待取區(qū)A12可用以放置至少一個從供料區(qū)All移送至此區(qū)的進(jìn)料盤410,且位于此待取區(qū)A12的進(jìn)料盤410上的光傳接模塊200將依序被第一移載機(jī)構(gòu)150搬運(yùn)至測試座130進(jìn)行檢測。而空盤堆放區(qū)A13則可供一個以上已無承載任何光傳接模塊200的進(jìn)料盤410以垂直間格排列的方式堆放于此區(qū)。
[0137]自動檢測裝置100還可包含第三移載機(jī)構(gòu)170用以搬運(yùn)位于進(jìn)料區(qū)Al的進(jìn)料盤410。于此,控制模塊300耦接至第三移載機(jī)構(gòu)170,以控制第三移載機(jī)構(gòu)170從供料區(qū)All將承載有尚未檢測過的光傳接模塊200的進(jìn)料盤410移送至待取區(qū)A12來等待進(jìn)入檢測程序。之后,待位于此待取區(qū)A12的進(jìn)料盤410上已無承載任何光傳接模塊200(空載)時,控制模塊300再控制第三移載機(jī)構(gòu)170將此空載的進(jìn)料盤410移送至空盤堆放區(qū)A13堆放,并且控制第三移載機(jī)構(gòu)170重新至供料區(qū)All搬運(yùn)另一個進(jìn)料盤410至待取區(qū)A12,以接續(xù)進(jìn)行檢測程序。
[0138]在一實施例中,進(jìn)料區(qū)Al可設(shè)有第一檢測模塊(圖未示),用以檢測供料區(qū)All中是否還有進(jìn)料盤410,且于未檢測到有進(jìn)料盤410位于供料區(qū)Al I時,可產(chǎn)生第一補(bǔ)充警示,以提示進(jìn)行補(bǔ)充進(jìn)料盤410的動作。此外,第一檢測模塊還可用以檢測空盤堆放區(qū)A13中所堆放的進(jìn)料盤410的數(shù)量是否已達(dá)一閾值,并于檢測到進(jìn)料盤410的數(shù)量達(dá)到閾值時,產(chǎn)生警示信號,以提示操作員。
[0139]自動檢測裝置100的合格品區(qū)A21可包含合格品空盤區(qū)A211、合格品待置區(qū)A212與合格品滿盤區(qū)A213。其中,合格品空盤區(qū)A211可供一個以上的合格品出料盤420以垂直間格排列的方式堆放于此區(qū),且合格品出料盤420可用以容置被檢測為合格品的光傳接模塊200。于此,在合格品空盤區(qū)A211的每一合格品出料盤420上并未承載任何光傳接模塊200,而呈空載狀態(tài)。
[0140]合格品待置區(qū)A212可用以放置至少一個從合格品空盤區(qū)A211移送至此區(qū)的合格品出料盤420,以使被檢測為合格品的光傳接模塊200可依序放置在位于此區(qū)的合格品出料盤420的置料槽中。而合格品滿盤區(qū)A213則可供一個以上載滿光傳接模塊200的合格品出料盤420自合格品待置區(qū)A212移送至此區(qū)堆放。于此,滿載的合格品出料盤420以垂直間格排列的方式堆放于此。
[0141]自動檢測裝置100還可包含第四移載機(jī)構(gòu)180用以搬運(yùn)位于合格品區(qū)A21的合格品出料盤420。于此,控制模塊300耦接至第四移載機(jī)構(gòu)180,以控制第四移載機(jī)構(gòu)180將空載的合格品出料盤420自合格品空盤區(qū)A211移送至合格品待置區(qū)A212來容置被檢測為合格品的光傳接模塊200。之后,待位于此合格品待置區(qū)A212的合格品出料盤420已載滿被檢測為合格品的光傳接模塊200而呈現(xiàn)滿載狀態(tài)時,控制模塊300再控制第四移載機(jī)構(gòu)180將此滿載的合格品出料盤420移送至合格品滿盤區(qū)A213堆放,并且控制第四移載機(jī)構(gòu)180重新至合格品空盤區(qū)A211搬運(yùn)另一個合格品出料盤420至合格品待置區(qū)A212,以接續(xù)進(jìn)行檢測程序。
[0142]在一實施例中,合格品區(qū)A21可設(shè)有第二檢測模塊(圖未示),用以檢測合格品空盤區(qū)A211中是否還有合格品出料盤420,且于未檢測到有合格品出料盤420位于合格品空盤區(qū)A211時,可產(chǎn)生第二補(bǔ)充警示,以提示進(jìn)行補(bǔ)充合格品出料盤420的動作。此外,第二檢測模塊還可用以檢測合格品滿盤區(qū)A213中所堆放的合格品出料盤420的數(shù)量是否已達(dá)一閾值,并于檢測到合格品出料盤420的數(shù)量達(dá)到閾值時,產(chǎn)生警示信號以提示操作員。
[0143]自動檢測裝置100的不合格品區(qū)A22可包含不合格品空盤區(qū)A221、不合格品待置區(qū)A222與不合格品滿盤區(qū)A223。其中,不合格品空盤區(qū)A221可供一個以上的不合格品出料盤430以垂直間格排列的方式堆放于此區(qū)且不合格品出料盤430可用以容置被檢測為不合格品的光傳接模塊200。于此,在不合格品空盤區(qū)A221的每一不合格品出料盤430上并未承載任何光傳接模塊200,而呈空載狀態(tài)。
[0144]不合格品待置區(qū)A222可用以放置至少一個從不合格品空盤區(qū)A221移送至此區(qū)的不合格品出料盤430,以使被檢測為不合格品的光傳接模塊200可依序放置在位于此區(qū)的不合格品出料盤430的置料槽中。而不合格品滿盤區(qū)A223則可供一個以上載滿光傳接模塊200的不合格品出料盤430自不合格品待置區(qū)A222移送至此區(qū)堆放。于此,滿載的不合格品出料盤430系以垂直間格排列的方式堆放于此。
[0145]自動檢測裝置100還可包含第五移載機(jī)構(gòu)190用以搬運(yùn)位于不合格品區(qū)A22的不合格品出料盤430。于此,控制模塊300耦接至第五移載機(jī)構(gòu)190,以控制第五移載機(jī)構(gòu)190將空載的不合格品出料盤430自不合格品空盤區(qū)A221移送至不合格品待置區(qū)A222來容置被檢測為不合格品的光傳接模塊200。之后,待位于此不合格品待置區(qū)A222的不合格品出料盤430已載滿被檢測為不合格品的光傳接模塊200而呈現(xiàn)滿載狀態(tài)時,控制模塊300再控制第五移載機(jī)構(gòu)190將此滿載的不合格品出料盤430移送至不合格品滿盤區(qū)A223堆放,并且控制第五移載機(jī)構(gòu)190重新至不合格品空盤區(qū)A221搬運(yùn)另一個不合格品出料盤430至不合格品待置區(qū)A222,以接續(xù)進(jìn)行檢測程序。
[0146]在本實施例中,第五移載機(jī)構(gòu)190的架構(gòu)與第四移載機(jī)構(gòu)180、第三移載機(jī)構(gòu)170的架構(gòu)大致上相同。
[0147]在一實施例中,不合格品區(qū)A22可設(shè)有第三檢測模塊(圖未示),用以檢測不合格品空盤區(qū)A221中是否還有不合格品出料盤430,且于未檢測到有不合格品出料盤430位于不合格品空盤區(qū)A221時,可產(chǎn)生第三補(bǔ)充警示,以提示進(jìn)行補(bǔ)充不合格品出料盤430的動作。此夕卜,第三檢測模塊還可用以檢測不合格品滿盤區(qū)A223中所堆放的不合格品出料盤430的數(shù)量是否已達(dá)一閾值,并于檢測到不合格品出料盤430的數(shù)量達(dá)到閾值時,產(chǎn)生警示信號以提示操作員。
[0148]因此,在自動檢測裝置100的檢測程序的初始步驟中,控制模塊300可控制第三移載機(jī)構(gòu)170將進(jìn)料盤410自供料區(qū)All移至待取區(qū)A12,且控制第四移載機(jī)構(gòu)180將合格品出料盤420自合格品空盤區(qū)A211移至合格品待置區(qū)A212,并控制第五移載機(jī)構(gòu)190將不合格品出料盤430自不合格品空盤區(qū)A221移至不合格品待置區(qū)A222。于此,第三移載機(jī)構(gòu)170、第四移載機(jī)構(gòu)180與第五移載機(jī)構(gòu)190可同步作動,但本實用新型并非以此為限,第三移載機(jī)構(gòu)170、第四移載機(jī)構(gòu)180與第五移載機(jī)構(gòu)190亦可依序分別作動。
[0149]請參閱圖2、圖4與圖5。在本實用新型一實施例中,自動檢測裝置100還可包含預(yù)熱載臺900,耦接至控制模塊300。預(yù)熱載臺900可用以預(yù)先加熱光傳接模塊200至一預(yù)熱溫度,例如70°C,以加速檢測的流程。于此,預(yù)熱載臺900的預(yù)熱溫度可由控制模塊300設(shè)定。
[0150]在本實施例中,預(yù)熱載臺900包含一承載基座910與加熱槽920。其中,加熱槽920位于承載基座910上,且加熱槽920具有一出料端。于此,加熱槽920可凹設(shè)于承載基座910,且加熱槽920的一出料端鄰接于承載基座910的一側(cè)邊。
[0151]因此,第一移載機(jī)構(gòu)150可先將尚未檢測的光傳接模塊200自待取區(qū)A12移送至預(yù)熱載臺900加熱至預(yù)熱溫度后,再移送至測試座130。其中,當(dāng)光傳接模塊200位于預(yù)熱載臺900的加熱槽920時,其電傳輸口 220系鄰近于加熱槽920的出料端,如圖5所示。
[0152]在本實施例中,第一移載機(jī)構(gòu)150可包含第一移載組件151與第二移載組件152。其中,第一移載組件151用以將位于待取區(qū)A12的光傳接模塊200移送至預(yù)熱載臺900的加熱槽920中,而第二移載組件則可用以將光傳接模塊200自加熱槽920中移送至測試座130。
[0153]第一移載組件151跨設(shè)于進(jìn)料區(qū)Al與出料區(qū)A2之上。第一移載組件151可包含水平滑軌組件1511、升降組件1512、取置部1513以及驅(qū)動電路(圖未示)。其中,升降組件1512耦接取置部1513,以帶動取置部1513于垂直方向上移動;水平滑軌組件1511耦接升降組件1512,以帶動升降組件1512與取置部1513于水平方向上移動;且驅(qū)動電路耦接至水平滑軌組件1511、升降組件1512、取置部1513以及控制模塊300,以根據(jù)控制模塊300的控制信號驅(qū)動水平滑軌組件1511、升降組件1512及/或取置部1513進(jìn)行相應(yīng)的作動。
[0154]于此,第一移載組件151的取置部1513可用以取放光傳接模塊200。在一實施例中,第一移載組件151的取置部1513可為真空吸嘴,以通過真空吸力來取放光傳接模塊200。
[0155]因此,在檢測程序中,控制模塊300可控制驅(qū)動電路驅(qū)動水平滑軌組件1511帶動取置部1513移動至待取的光傳接模塊200的上方,然后控制驅(qū)動電路驅(qū)動升降組件1512帶動取置部1513向下移動直至取置部1513可取起光傳接模塊200后再帶動取置部1513向上移動,如圖4所示。接續(xù),控制模塊300可控制驅(qū)動電路驅(qū)動水平滑軌組件1511帶動取置部1513移動至預(yù)熱載臺900的加熱槽920的上方后,再控制驅(qū)動電路驅(qū)動升降組件1512帶動取置部1513向下移動以將光傳接模塊200置入加熱槽920中,如圖5所示。
[0156]請參閱圖6與圖7。第二移載組件152耦接于預(yù)熱載臺900。第二移載組件152可包含一橫向滑軌組件1521、縱向推移組件1522以及驅(qū)動電路(圖未示)。其中,橫向滑軌組件1521耦接于承載基座910,以帶動承載基座910橫向移動;縱向推移組件1522設(shè)置于承載基座910上且鄰近于加熱槽920,以將光傳接模塊200自加熱槽920中推出;驅(qū)動電路耦接至橫向滑軌組件1521、縱向推移組件1522以及控制模塊300,以根據(jù)控制模塊300的控制信號驅(qū)動橫向滑軌組件1521及/或縱向推移組件1522進(jìn)行相應(yīng)的作動。
[0157]因此,在檢測程序中,待預(yù)熱載臺900將位于加熱槽920中的光傳接模塊200加熱至預(yù)熱溫度時,如圖6所示,控制模塊300可先控制驅(qū)動電路驅(qū)動橫向滑軌組件1521帶動預(yù)熱載臺900移動至一第一插入位置后,再控制驅(qū)動電路驅(qū)動縱向推移組件1522,以將光傳接模塊200自加熱槽920中推移至測試座130,如圖7所示。此外,待光傳接模塊200被移至測試座130后,控制模塊300可再控制驅(qū)動電路驅(qū)動橫向滑軌組件1521帶動預(yù)熱載臺900回復(fù)至預(yù)設(shè)位置。
[0158]在一實施例中,測試座130可包含承載基臺131與測試電路板132。其中,測試電路板132可設(shè)置于承載基臺131上。測試電路板132上可布有多個電子零件與一測試槽1321。于此,測試槽1321具有一進(jìn)出端,以供光傳接模塊200可自此進(jìn)出端進(jìn)入或離開測試槽1321。此外,測試槽1321中可設(shè)有與光傳接模塊200的電傳輸口 220相匹配的接頭,借以與光傳接模塊200電性連接。
[0159]此外,在一實施例中,測試座130還可包含溫控模塊(圖未示),耦接至測試槽1321。于此,溫控模塊可用以調(diào)控位于測試槽1321中的光傳接模塊200至測試溫度,例如70°C。
[0160]在一實施例中,自動檢測裝置100可包含一個以上的測試座130,例如二個,且各個測試座130的溫控模塊可將位于其測試槽1321中的光傳接模塊200調(diào)控至不同的或相同的測試溫度。
[0161]于此,當(dāng)橫向滑軌組件1521帶動預(yù)熱載臺900移動至第一插入位置時,加熱載臺900可鄰靠于測試座130,且其加熱槽920的出料端可對準(zhǔn)于測試槽1321的進(jìn)出端,以使縱向推移組件1522可將光傳接模塊200自加熱槽920推移進(jìn)測試槽1321中。在一實施例中,位于測試槽1321中的光傳接模塊200,其光傳輸口 210可裸露于測試槽1321外。
[0162]請參閱圖8A至圖12。接續(xù),第二移載機(jī)構(gòu)160可攜載光纖連接器120至第二插入位置,且將光纖連接器120與位于測試槽1321中的光傳接模塊200相接合以進(jìn)行檢測。
[0163]—般而言,光纖連接器120可用以于二光纖的間進(jìn)行可拆卸連接的器件,以使其中一光纖所輸出的光信號能最大限度地耦合到另一光纖。在本實施例中,光纖連接器120具有光纖接頭121,且可通過其光纖接頭121與光傳接模塊200的光傳輸口 210的接合來將電光轉(zhuǎn)換模塊110所產(chǎn)生的測試光信號S2傳輸至光傳接模塊200。
[0164]在本實施例中,光纖連接器120的光纖接頭121包含支撐套管1211與光纖1212。其中,光纖1212為可替換的,且可固定于支撐套管1211中。于此,光纖1212可穿出此支撐套管1211而裸露出一小段的端部。此外,光纖連接器120的光纖接頭121的規(guī)格可對應(yīng)于光傳接模塊200的光傳輸口 210的規(guī)格,例如:FC、SC、ST或LC等。
[0165]由于光纖連接器120的光纖接頭121上(S卩,光纖1212的端部面)可能殘存有細(xì)微臟污,例如灰塵,而可能影像到光傳接模塊200的檢測結(jié)果的正確性。因此,在本實施例中,自動檢測裝置100還可包含光纖清潔組710與攝像組720分別耦接至控制模塊300。其中,光纖清潔組710可用以清潔光纖連接器120的光纖接頭121,且攝像組720可用以擷取光纖接頭121的影像,以使控制模塊300可根據(jù)攝像組720所擷取的影像確認(rèn)光纖接頭121是否已清潔干凈。
[0166]在一實施例中,光纖清潔組710可包含殼體711、光纖清潔帶卷(圖未示)、輸出輪組(圖未示)與單向輸送輪組(圖未示)。其中,殼體711包含容置室(圖未示)、收納室(圖未示)與清潔口 711c,且清潔口 711c開設(shè)于殼體711的一側(cè);光纖清潔帶卷為長條狀的光纖清潔帶卷繞而成,且可繞設(shè)于輸出輪組上,而與輸出輪組可旋轉(zhuǎn)地裝設(shè)于殼體711的收納室中;單向輸送輪組裝設(shè)于收納室中,且可用以夾持光纖清潔帶以將未使用的光纖清潔帶移送置清潔口 711c,并將使用后的光纖清潔帶輸送至收納室中收納。
[0167]在一實施例中,光纖清潔組710還可包含一緩沖墊(圖未示)相對于清潔口71 Ic而設(shè)置于殼體711中,且光纖清潔帶可由清潔口與緩沖墊之間通過,以使光纖連接器120的光纖接頭121于光纖清潔帶上擦拭時可有彈性緩沖的空間。
[0168]此外,光纖清潔組710還包含遮板與操作組件712。其中,遮板上開設(shè)有一通孔,且通孔的大小大致上可相等于清潔口 711c的大小。于此,遮板可活動地位于光纖清潔帶與清潔口711c之間,且可隨操作組件712的作動來啟閉清潔口711c。在一實施例中,操作組件712包含按壓部712a與推壓件712b。其中,按壓部712a設(shè)于殼體711的一側(cè),且耦接至遮板;而推壓件712b設(shè)置于殼體711外,且耦接至控制模塊300,以根據(jù)控制模塊300的控制信號作動。
[0169]于此,推壓件712b可根據(jù)控制模塊300的控制信號活動至一開啟位置與一關(guān)閉位置。當(dāng)推壓件712b活動至開啟位置時,推壓件712b可推抵按壓部712a以帶動遮板移動,使得遮板的通孔可相對于清潔口 711c而露出未使用的光纖清潔帶。而當(dāng)推壓件712b活動至關(guān)閉位置時,推壓件712b可以一間距與按壓部712a相隔,且此時遮板的通孔與清潔口 711c因錯位而關(guān)閉,借以避免異物侵入殼體711內(nèi)。
[0170]在一些實施態(tài)中,攝像組720可為照相機(jī)、攝影機(jī)、或CCD(charge_coupleddevice)相機(jī)等。
[0171]在一實施例中,第二移載機(jī)構(gòu)160可包含水平滑軌組件161、縱向滑軌組件162、攜載部163以及驅(qū)動電路(圖未示)。其中,攜載部163可用以攜載光纖連接器120;水平滑軌組件161與縱向滑軌組件162耦接至攜載部163,且水平滑軌組件161與縱向滑軌組件162可偕同運(yùn)作以帶動光纖連接器120進(jìn)行移位;且驅(qū)動電路耦接至水平滑軌組件161、縱向滑軌組件162與控制模塊300,以根據(jù)控制模塊300的控制信號驅(qū)動水平滑軌組件161及/或縱向滑軌組件162進(jìn)行相應(yīng)的作動。
[0172]因此,在檢測程序中,控制模塊300可先控制驅(qū)動電路驅(qū)動水平滑軌組件161及/或縱向滑軌組件162攜載光纖連接器120移動至一擦拭位置以清潔光纖接頭121,如圖8A、8B與圖9所示。其中,當(dāng)光纖連接器120移動至擦拭位置時,光纖連接器120的光纖接頭121可對準(zhǔn)于光纖清潔組710的清潔口 610c。之后,控制模塊300可控制驅(qū)動電路驅(qū)動水平滑軌組件161攜載光纖連接器120移動至一攝像位置以使控制模塊300可根據(jù)攝像組720所擷取的影像確認(rèn)光纖接頭121是否已符合一干凈標(biāo)準(zhǔn),如圖10所示。當(dāng)控制模塊300判斷光纖接頭121已符合干凈標(biāo)準(zhǔn)時,如圖9所示,控制模塊300便可控制驅(qū)動電路驅(qū)動水平滑軌組件161及/或縱向滑軌組件162攜載光纖連接器120移動至第二插入位置,以將光纖接頭121插入位于測試座130的光傳接模塊200的光傳輸口 210中。于此,當(dāng)光纖連接器120移動至第二插入位置時,光纖連接器120的光纖接頭121可對準(zhǔn)于光傳接模塊200的光傳輸口 210。反之,當(dāng)確認(rèn)光纖接頭121仍不符合干凈標(biāo)準(zhǔn)時,控制模塊300則重新控制驅(qū)動電路驅(qū)動水平滑軌組件161及/或縱向滑軌組件162攜載光纖連接器120移動至擦拭位置重新進(jìn)行清潔程序,直至判斷光纖接頭121已符合干凈標(biāo)準(zhǔn)時,才控制驅(qū)動電路驅(qū)動水平滑軌組件161及/或縱向滑軌組件162攜載光纖連接器120移動至第二插入位置。
[0173]在一實施例中,自動檢測裝置100還包含第一計數(shù)器(圖未示),耦接至控制模塊300,且可用以計數(shù)光纖清潔組710對光纖接頭121進(jìn)行清潔的清潔次數(shù)。因此,控制模塊300可根據(jù)第一計數(shù)器所計數(shù)的清潔次數(shù)確認(rèn)光纖清潔組710的使用次數(shù)(與清潔次數(shù)的值相同)是否已達(dá)第一閾值,且于判斷清潔次數(shù)達(dá)到第一閾值時,產(chǎn)生第一更換警示以提示進(jìn)行更換光纖清潔組710中的光纖清潔帶卷。
[0174]于光纖連接器120的光纖接頭121插入至光傳接模塊200的光傳輸口 210中后,控制模塊300便可發(fā)送致能信號給誤碼測試器140,以致動誤碼測試器140產(chǎn)生脈沖信號SI。于此,脈沖信號SI為一種電信號,故須先將脈沖信號SI經(jīng)由電光轉(zhuǎn)換模塊110轉(zhuǎn)換成對應(yīng)的測試光信號S2后,再將測試光信號S2經(jīng)由光纖連接器120傳輸至位于測試座130的光傳接模塊200以進(jìn)行檢測。
[0175]因此,光傳接模塊200便可根據(jù)光傳輸口210所接收到的測試光信號S2轉(zhuǎn)換出對應(yīng)的輸出電信號S3,且測試座130可根據(jù)光傳接模塊200所轉(zhuǎn)換出的輸出電信號S3產(chǎn)生對應(yīng)的檢測信號S4輸出,以使誤碼測試器140可根據(jù)檢測信號S4產(chǎn)生誤碼率Rl。
[0176]在一實施例中,誤碼測試器140可包含脈沖產(chǎn)生單元(Pulse Pattern Generator,PPG) 141與誤碼檢測單元(Error Detector,ED) 142。其中,脈沖產(chǎn)生單元141親接至電光轉(zhuǎn)換模塊110,且誤碼檢測器142耦接電光轉(zhuǎn)換模塊110、測試座130以及控制模塊300。
[0177]在一實施例中,脈沖產(chǎn)生單元141可為偽隨機(jī)位元序列(PRBS)產(chǎn)生器,用以產(chǎn)生并輸出具有2N-1種的排列組合的脈沖信號SI,其中N為位元數(shù)。而誤碼檢測單元142則可用以根據(jù)檢測信號S4以及脈沖產(chǎn)生單元141所產(chǎn)生的脈沖信號SI來得到誤碼率R1。于此,誤碼率Rl是指每一個從發(fā)送端(如脈沖產(chǎn)生單元141)送出的位元在接收端(如光傳接模塊200)發(fā)生錯誤的機(jī)率,而可用以衡量數(shù)據(jù)在規(guī)定時間內(nèi)的傳輸精確性。
[0178]此外,于光纖連接器120的光纖接頭121插入至光傳接模塊200的光傳輸口 210中后,誤碼測試器140所產(chǎn)生的脈沖信號SI亦可經(jīng)由測試座130的測試槽1321以及與測試槽1321中的接頭相接的電傳輸口 220傳輸至光傳接模塊200,且光傳接模塊200可根據(jù)電傳輸口 220所接收的脈沖信號SI轉(zhuǎn)換出對應(yīng)的輸出光信號S5至通信分析儀600,以使通信分析儀600可根據(jù)輸出光信號S5來產(chǎn)生對應(yīng)的分析信號S6,借以完成對光傳接模塊200的光發(fā)送功能的檢測。
[0179]在一實施例中,通信分析儀600可為數(shù)位通信分析示波器(DCA)。
[0180]于此,自動檢測裝置100可先完成對光傳接模塊200的光接收功能的檢測后,再完成對光傳接模塊200的光發(fā)送功能的檢測。然而,本實用新型并非以此為限,自動檢測裝置100亦可先完成對光傳接模塊200的光發(fā)送功能的檢測后,再完成對光傳接模塊200的光接收功能的檢測。
[0181]因此,于經(jīng)過預(yù)計可完成所有檢測的一預(yù)定時間后,例如20分鐘,控制模塊300便可控制第二移載機(jī)構(gòu)160將光纖連接器120的光纖接頭121自光傳接模塊200的光傳輸口 210
中拔出。
[0182]請參閱圖13至圖15。在一實施例中,光纖連接器120還包含一彈臂122,設(shè)置于支撐套管1211上,用以于光纖接頭121插入至光傳接模塊200的光傳輸口 210時可扣合于光傳接模塊200的外殼。此外,第二移載機(jī)構(gòu)160還包含升降組件164與推壓件165。其中,推壓件165耦接升降組件,且升降組件164耦接至縱向滑軌組件162與驅(qū)動電路,以根驅(qū)動電路的驅(qū)動信號進(jìn)行相應(yīng)的作動。于此,推壓件165可相對于攜載部163設(shè)置于其上方,并可隨縱向滑軌組件162—同移動。
[0183]因此,當(dāng)欲將光纖接頭121自光傳輸口210中拔出時,控制模塊300可先控制驅(qū)動電路驅(qū)動升降組件164帶動推壓件165朝攜載部163的方向下降,以推壓位于攜載部163的光纖連接器120的彈臂122,如圖14所示。之后,控制模塊300再控制驅(qū)動電路驅(qū)動縱向滑軌組件162朝向遠(yuǎn)離光傳接模塊200的光傳輸口 210的方向移動,以使光纖連接器120的光纖接頭121可與光傳輸口 210分離,如圖15所示。此外,控制模塊300還可控制驅(qū)動電路驅(qū)動水平滑軌組件161帶動攜載部163回復(fù)至擦拭位置進(jìn)行清潔,以待測試下一個光傳接模塊200。
[0184]接續(xù),于光纖接頭121自光傳輸口210中拔出后,控制模塊300便可根據(jù)誤碼測試器140所產(chǎn)生的誤碼率Rl與通信分析儀600所產(chǎn)生的分析信號S6控制第一移載機(jī)構(gòu)150將光傳接模塊200自測試座130搬運(yùn)至對應(yīng)的合格品區(qū)A21或不合格品區(qū)A22。
[0185]請參閱圖16至圖20。在一實施例中,自動檢測裝置100還包含一出料載臺800,以使第一移載機(jī)構(gòu)150可先將檢測完的光傳接模塊200先移送至此處后,再搬運(yùn)至對應(yīng)的合格品區(qū)A21或不合格品區(qū)A22。在本實施例中,出料載臺800可包含承載基座810、出料槽820以及滑軌組件830。其中,出料槽820位于承載基座810上,且出料槽820具有一進(jìn)料端。于此,出料槽820可凹設(shè)于承載基座810,且進(jìn)料端系鄰接于承載基座810的一側(cè)邊?;壗M件830耦接承載基座810以及控制模塊300,以根據(jù)控制模塊300的控制信號帶動承載基座810進(jìn)行相應(yīng)的作動。
[0186]此外,第一移載機(jī)構(gòu)150還可包含第三移載組件153,設(shè)置于出料載臺800的承載基座810上,用以將已完成檢測的光傳接模塊200自測試座130的測試槽1321中移出至出料載臺800的出料槽820中。
[0187]在本實施例中,光傳接模塊200還包含拉環(huán)240,鄰設(shè)于光傳輸口210。于此,拉環(huán)240可旋轉(zhuǎn)于一扣合位置與一拉動位置之間,以將光傳接模塊200固定于或拔出于與的相接的電子裝置。因此,當(dāng)光傳接模塊200被插入至測試座130的測試槽1321中時,拉環(huán)240可被旋轉(zhuǎn)至扣合位置以將光傳接模塊200固定于測試槽1321中;而當(dāng)欲將光傳接模塊200自測試槽1321中拔出時,拉環(huán)240則可被旋轉(zhuǎn)至拉動位置,以使光傳接模塊200可被輕松拉出。
[0188]第一移載機(jī)構(gòu)150的第三移載組件153可包含縱向滑軌組件1531、垂直伸縮組件1532與驅(qū)動電路(圖未示)。其中,垂直伸縮組件1532耦接縱向滑軌組件1531,以跟隨縱向滑軌組件1531 —同移動;且驅(qū)動電路耦接縱向滑軌組件1531、垂直伸縮組件1532與控制模塊300,以根據(jù)控制模塊300的控制信號驅(qū)動縱向滑軌組件1531及/或垂直伸縮組件1532進(jìn)行相應(yīng)的作動。
[0189]因此,當(dāng)控制模塊300欲根據(jù)誤碼率Rl與分析信號S6控制第一移載機(jī)構(gòu)150將光傳接模塊200自測試座130移至對應(yīng)的合格品區(qū)A21或不合格品區(qū)A22時,控制模塊300可先控制出料載臺800的滑軌組件830帶動承載基座810移動至一進(jìn)料位置,以使得出料槽820的進(jìn)料端可相對于測試槽1321的進(jìn)出端。于此,當(dāng)承載基座810移動至進(jìn)料位置時,裸露于測試槽1321外的光傳接模塊200的光傳輸口 210可位于出料槽820中。
[0190]然后,控制模塊300可控制第三移載組件153的驅(qū)動電路驅(qū)動縱向滑軌組件1531帶動垂直伸縮組件1532朝測試座130的方向移動,以使垂直伸縮組件1532可位于光傳接模塊200的光傳輸口 210的上方,如圖16所示。于此,垂直伸縮組件1532具有一伸縮件,且當(dāng)垂直伸縮組件1532位于光傳輸口 210的上方時,伸縮件可對準(zhǔn)于由光傳接模塊200的拉環(huán)240與光傳輸口 210所形成的穿孔(此時的拉環(huán)240是位于扣合位置)。
[0191]接續(xù),如圖17A、17B所示,控制模塊300可控制第三移載組件153的驅(qū)動電路驅(qū)動垂直伸縮組件1532的伸縮件向下伸展,以使伸縮件可位于由拉環(huán)240與光傳輸口 210所形成的穿孔中后,再驅(qū)動縱向滑軌組件1531朝遠(yuǎn)離于測試座130的方向移動,以將光傳接模塊200的拉環(huán)240自扣合位置拉動至拉動位置并借以將整個光傳接模塊200自測試槽1321中拉至出料槽820中,如圖18所示。之后,如圖19所示,控制模塊300便可控制出料載臺800的滑軌組件830帶動承載基座810移動至出料位置。接續(xù),如圖18所示,控制模塊300控制第一移載組件151的驅(qū)動電路驅(qū)動水平滑軌組件1511帶動取置部1513移動至位于出料槽820的光傳接模塊200的上方后,再控制第一移載組件151的驅(qū)動電路驅(qū)動升降組件1512帶動取置部1513向下移動直至取置部1513可取起已檢測完的光傳接模塊200后,再帶動取置部1513向上移動。然后,控制模塊300便可根據(jù)誤碼測試器140所產(chǎn)生的誤碼率Rl與通信分析儀600所產(chǎn)生的分析信號S6控制第一移載組件151的驅(qū)動電路驅(qū)動水平滑軌組件1511、升降組件1512與取置部1513,以將光傳接模塊200置放到對應(yīng)的合格品待置區(qū)A212的合格品出料盤420上或不合格品待置區(qū)A222的不合格品出料盤430上。
[0192]在一實施例中,自動檢測裝置100還包含第二計數(shù)器(圖未示),耦接至控制模塊300,且可用以計數(shù)光纖連接器120的光纖接頭121插入至光傳接模塊200的光傳輸口 210的使用次數(shù)。因此,控制模塊300可根據(jù)第二計數(shù)器所計數(shù)的使用次數(shù)確認(rèn)光纖連接器120的使用次數(shù)是否已達(dá)第二閾值,且于判斷使用次數(shù)達(dá)到第二閾值時,產(chǎn)生第二更換警示以提示進(jìn)行更換光纖連接器120中的光纖1212。
[0193]此外,自動檢測裝置100還包含第三計數(shù)器(圖未示),耦接至控制模塊300,且可用以計數(shù)測試座130的測試槽1321的測試次數(shù)。因此,控制模塊300可根據(jù)第三計數(shù)器所計數(shù)的測試次數(shù)確認(rèn)測試座130的測試槽1321的使用次數(shù)(S卩,所述的測試次數(shù))是否已達(dá)第三閾值,且于判斷測試次數(shù)達(dá)到第三閾值時,產(chǎn)生第三更換警示以提示進(jìn)行更換測試座130的測試槽1321。
[0194]在一實施例中,每一光傳接模塊200上可具有其對應(yīng)的識別碼,且自動檢測裝置100可包含讀碼器(圖未示),耦接至控制模塊300,且可于光傳接模塊200插入至測試座130的測試槽1321中時,用以讀取并記錄光傳接模塊200上的識別碼,以使控制模塊300可根據(jù)此識別碼與其檢測的結(jié)果(即,誤碼率Rl與分析信號S6)得知各個光傳接模塊200的品質(zhì)。
[0195]綜上所述,根據(jù)本實用新型一實施例的自動檢測裝置,利用移載機(jī)構(gòu)來搬運(yùn)光傳接模塊以及插拔光纖連接器,而無需仰賴人工進(jìn)行作業(yè),借以自動化光傳接模塊的檢測作業(yè),并提高整體檢測的精準(zhǔn)度與效率。
[0196]當(dāng)然,本實用新型還可有其它多種實施例,在不背離本實用新型精神及其實質(zhì)的情況下,熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員當(dāng)可根據(jù)本實用新型作出各種相應(yīng)的改變和變形,但這些相應(yīng)的改變和變形都應(yīng)屬于本實用新型所附的權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項】
1.一種自動檢測裝置,適用于檢測一光傳接模塊,該光傳接模塊包含一光傳輸口,且用以依據(jù)該光傳輸口所接收的一測試光信號產(chǎn)生對應(yīng)的一輸出電信號,其特征在于,該自動檢測裝置包含: 一電光轉(zhuǎn)換模塊,依據(jù)一脈沖信號產(chǎn)生對應(yīng)的該測試光信號; 一光纖連接器,傳輸該測試光信號,該光纖連接器包含一光纖接頭; 一測試座,依據(jù)該輸出電信號產(chǎn)生一檢測信號; 一誤碼測試器,產(chǎn)生該脈沖信號,且根據(jù)該檢測信號產(chǎn)生一誤碼率; 一進(jìn)料區(qū),放置未檢測的該光傳接模塊; 一出料區(qū),放置已檢測的該光傳接模塊,包含一合格品區(qū)與一不合格品區(qū); 一第一移載機(jī)構(gòu),搬運(yùn)該光傳接模塊; 一第二移載機(jī)構(gòu),攜載該光纖連接器;及 一控制模塊,控制該第一移載機(jī)構(gòu)將位于該進(jìn)料區(qū)的該光傳接模塊移至該測試座,且控制該第二移載機(jī)構(gòu)將該光纖連接器的該光纖接頭插入該光傳接模塊的該光傳輸口中,并致動該誤碼測試器;該控制模塊在一預(yù)定時間后控制該第二移載機(jī)構(gòu)將該光纖連接器的該光纖接頭自該光傳接模塊的該光傳輸口中拔出,并依據(jù)該誤碼率控制該第一移載機(jī)構(gòu)將完成檢測的該光傳接模塊自該測試座搬運(yùn)至該合格品區(qū)或該不合格品區(qū)。2.如權(quán)利要求1所述的自動檢測裝置,其特征在于,還包含: 一光纖清潔組,清潔該光纖連接器的該光纖接頭; 一攝像組,擷取該光纖接頭的影像;及 一第一計數(shù)器,計數(shù)該光纖清潔組的一清潔次數(shù); 其中該控制模塊還控制該第二移載機(jī)構(gòu)將該光纖連接器移至該光纖清潔組,且將清潔后的該光纖連接器移至該攝像組,并根據(jù)該攝像組所擷取的該影像確認(rèn)該光纖接頭是否符合一干凈標(biāo)準(zhǔn); 其中該控制模塊還確認(rèn)該清潔次數(shù)是否已達(dá)一第一閾值,且于判斷該清潔次數(shù)已達(dá)該第一閾值時,輸出一第一更換警示。3.如權(quán)利要求1所述的自動檢測裝置,其特征在于,還包含: 一預(yù)熱載臺,加熱該光傳接模塊至一預(yù)熱溫度; 其中該控制模塊控制該第一移載機(jī)構(gòu)將位于該進(jìn)料區(qū)的該光傳接模塊移至該預(yù)熱載臺后,再控制該第一移載機(jī)構(gòu)將該光傳接模移至該測試座,且該控制模塊還控制該第一移載機(jī)構(gòu)將位于該進(jìn)料區(qū)的另一光傳接模塊移至該預(yù)熱載臺。4.如權(quán)利要求1所述的自動檢測裝置,其特征在于,還包含: 一第二計數(shù)器,計數(shù)該光纖連接器的該光纖接頭插入至該光傳接模塊的該光傳輸口中的一使用次數(shù); 其中該控制模塊還確認(rèn)該使用次數(shù)是否已達(dá)一第二閾值,且于判斷該使用次數(shù)已達(dá)該第二閾值時,輸出一第二更換警示。5.如權(quán)利要求1所述的自動檢測裝置,其特征在于,還包含: 一第三計數(shù)器,計數(shù)測試座的一測試次數(shù); 其中該控制模塊還確認(rèn)該測試次數(shù)是否已達(dá)一第三閾值,且于判斷該測試次數(shù)已達(dá)該第三閾值時,輸出一第三更換警示。6.如權(quán)利要求1所述的自動檢測裝置,其特征在于,該光傳接模塊具有一識別碼,該自動檢測裝置還包含一讀碼器,讀取并記錄該光傳接模塊的該識別碼。7.如權(quán)利要求1所述的自動檢測裝置,其特征在于,該進(jìn)料區(qū)包含一供料區(qū)、一待取區(qū)與一空盤堆放區(qū),該供料區(qū)放置承載有未檢測的該光傳接模塊的一進(jìn)料盤,該待取區(qū)放置來自該供料區(qū)的該進(jìn)料盤,該空盤堆放區(qū)放置未承載該未檢測的該光傳接模塊的該進(jìn)料盤,該合格品區(qū)包含一合格品空盤區(qū)、一合格品待置區(qū)與一合格品滿盤區(qū),該合格品空盤區(qū)放置未承載該光傳接模塊的一合格品出料盤,該合格品待置區(qū)放置來自該合格品空盤區(qū)的該合格品出料盤,該合格品滿盤區(qū)放置已滿盤的該合格品出料盤,該不合格品區(qū)包含一不合格品空盤區(qū)、一不合格品待置區(qū)與一不合格品滿盤區(qū),該不合格品空盤區(qū)放置未承載該光傳接模塊的一不合格品出料盤,該不合格品待置區(qū)放置來自該不合格品空盤區(qū)的該不合格品出料盤,該不合格品滿盤區(qū)放置已滿盤的該不合格品出料盤,該自動檢測裝置還包含: 一第三移載機(jī)構(gòu),搬運(yùn)該進(jìn)料盤; 一第四移載機(jī)構(gòu),搬運(yùn)該合格品出料盤;及 一第五移載機(jī)構(gòu),搬運(yùn)該不合格品出料盤; 其中該控制模塊還控制該第三移載機(jī)構(gòu)將該進(jìn)料盤自該供料區(qū)移至該待取區(qū),并當(dāng)位于該待取區(qū)的該進(jìn)料盤已無承載該光傳接模塊時,控制該第三移載機(jī)構(gòu)將該進(jìn)料盤移至該空盤堆放區(qū),且控制該第三移載機(jī)構(gòu)將另一該進(jìn)料盤自該供料區(qū)移至該待取區(qū); 其中該控制模塊還控制該第四移載機(jī)構(gòu)將該合格品出料盤自該合格品空盤區(qū)移至該合格品待置區(qū),并當(dāng)位于該合格品待置區(qū)的該合格品出料盤已載滿該光傳接模塊時,控制該第四移載機(jī)構(gòu)將該合格品出料盤移至該合格品滿盤區(qū),且控制該第四移載機(jī)構(gòu)將另一該合格品出料盤自該合格品空盤區(qū)移至該合格品待置區(qū); 其中該控制模塊還控制該第五移載機(jī)構(gòu)將該不合格品出料盤自該不合格品空盤區(qū)移至該不合格品待置區(qū),并當(dāng)位于該不合格品待置區(qū)的該不合格品出料盤已載滿該光傳接模塊時,控制該第五移載機(jī)構(gòu)將該不合格品出料盤移至該不合格品滿盤區(qū),且控制該第五移載機(jī)構(gòu)將另一該不合格品出料盤自該不合格品空盤區(qū)移至該不合格品待置區(qū)。8.如權(quán)利要求7所述的自動檢測裝置,其特征在于,還包含: 一第一檢測模塊,檢測是否有該進(jìn)料盤位于該供料區(qū),且當(dāng)未檢測到該進(jìn)料盤位于該供料區(qū)時,產(chǎn)生一第一補(bǔ)充警示; 一第二檢測模塊,檢測是否有該合格品出料盤位于該合格品空盤區(qū),且當(dāng)未檢測該合格品出料盤位于該合格品空盤區(qū)時,產(chǎn)生一第二補(bǔ)充警示;及 一第三檢測模塊,檢測是否有該不合格品出料盤位于該不合格品空盤區(qū),且當(dāng)未檢測到該不合格品出料盤位于該不合格品空盤區(qū)時,產(chǎn)生一第三補(bǔ)充警示。9.如權(quán)利要求1所述的自動檢測裝置,其特征在于,該測試座包含: 一溫控模塊,調(diào)控位于該測試座的該光傳接模塊至一測試溫度。10.如權(quán)利要求1所述的自動檢測裝置,其特征在于,該光傳接模塊還包含一電傳輸口,且該光傳接模塊還依據(jù)該電傳輸口所接收的該脈沖信號產(chǎn)生對應(yīng)的一輸出光信號,該自動檢測裝置還包含: 一通信分析儀,依據(jù)該輸出光信號產(chǎn)生一分析信號; 其中,該控制模塊依據(jù)該誤碼率與該分析信號控制該第一移載機(jī)構(gòu)將完成檢測的該光傳接模塊自該測試座搬運(yùn)至該合格品區(qū)或該不合格品區(qū)。11.如權(quán)利要求1所述的自動檢測裝置,其特征在于,該光纖連接器還包含一彈臂,該彈臂的一端耦接于該光纖連接器,當(dāng)該光纖連接器的該光纖接頭插入該光傳接模塊的該光傳輸口中時,該彈臂的另一端扣合于該光傳接模塊,以固定該光纖接頭于該光傳輸口中,該第二移載機(jī)構(gòu)包含一推壓件與一縱向滑軌組件,該預(yù)定時間后該控制模塊控制該推壓件推壓該彈臂,以使該彈臂的該另一端松開該光傳接模塊,且該控制模塊控制該縱向滑軌組件朝遠(yuǎn)離該光傳輸口的方向移動,以使該光纖接頭自該光傳輸口中拔出。12.如權(quán)利要求1所述的自動檢測裝置,其特征在于,還包含一出料載臺,該出料載臺包含一承載基座與一出料槽,該出料槽位于該承載基座上,其中于該光纖接頭自該光傳輸口中拔出后,該控制模塊控制該第一移載機(jī)構(gòu)將完成檢測的該光傳接模塊自該測試座移到該出料槽,再根據(jù)該誤碼率控制該第一移載機(jī)構(gòu)將位于該出料槽的該光傳接模塊搬運(yùn)至該合格品區(qū)或該不合格品區(qū)。13.如權(quán)利要求12所述的自動檢測裝置,其特征在于,該第一移載機(jī)構(gòu)包含一伸縮件,該光傳接模塊還包含一拉環(huán),該拉環(huán)位于該光傳輸口,且該拉環(huán)可旋轉(zhuǎn)于一扣合位置與一拉動位置之間,其中當(dāng)該光傳接模塊位于該測試座時,該拉環(huán)位于該扣合位置,且該拉環(huán)與該光傳輸口之間形成一穿孔,其中該控制模塊于該預(yù)定時間后控制該伸縮件伸展至該穿孔中后,再控制該伸縮件朝遠(yuǎn)離于該測試座的方向移動,以拉動該拉環(huán)至該拉動位置并借以將該光傳接模塊自該測試座拉至該出料槽中。
【文檔編號】H04B10/073GK205610642SQ201620285915
【公開日】2016年9月28日
【申請日】2016年4月7日
【發(fā)明人】王中庸
【申請人】王中庸
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