本發(fā)明屬于pcie測試，尤其涉及一種pcie自動化測試系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)：

1、現(xiàn)有技術(shù)中的pcie測試是被測dut端pcie信號采用clb夾具與高帶寬示波器組網(wǎng)方式，示波器在pcie建鏈完成后采用人工、半自動化方案執(zhí)行測試，當(dāng)前4.0涉及16條lane,每條lane11個(gè)preset，需要人為在rx端輸入一個(gè)脈沖信號完成切換碼型，測試完當(dāng)前l(fā)ane后，需要對被測dut掉電，手動切換至其他lane，當(dāng)前測試一條lane預(yù)計(jì)花費(fèi)30min左右，服務(wù)器一般ac掉電后再上電預(yù)計(jì)10min才能完成第二次上電，單條lane的pcie4.0一致性測試需要花費(fèi)40min，且手動切換碼型，需要測試工程師在設(shè)備上電后根據(jù)示波器提示，手動手動通過夾具的toggle按鍵進(jìn)行切換操作非常煩瑣，特別是一些preset相關(guān)的測試項(xiàng)目中需要頻繁切換。由于在8gbps和16gbps下都有11種?preset值，測試過程中覆蓋當(dāng)前測試的所有preset值，整個(gè)測試周期較長。

2、因此，如何對現(xiàn)有的pcie測試方法進(jìn)行改進(jìn)，實(shí)現(xiàn)全成自動化的測試，減少人為干預(yù)測試，確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性，同時(shí)，在切換lane、切換preset實(shí)現(xiàn)全自動化操作，同時(shí)配合服務(wù)器不下電完成pcie二次建鏈觸發(fā)測試任務(wù)，達(dá)到上電一次即可完成單pcie槽位所有l(wèi)ane的一致性測試，大大縮減測試周期與成本，是目前亟需解決的技術(shù)問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明的目的在于對現(xiàn)有的pcie測試方法進(jìn)行改進(jìn)，實(shí)現(xiàn)全成自動化的測試，減少人為干預(yù)測試，確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性，同時(shí)，在切換lane、切換preset實(shí)現(xiàn)全自動化操作，同時(shí)配合服務(wù)器不下電完成pcie二次建鏈觸發(fā)測試任務(wù)，達(dá)到上電一次即可完成單pcie槽位所有l(wèi)ane的一致性測試，大大縮減測試周期與成本。

2、第一方面，提供一種pcie自動化測試方法，包括以下步驟：

3、s1：開啟服務(wù)器，監(jiān)測當(dāng)前pcie自動化測試系統(tǒng)的各模塊的連接狀態(tài)和性能參數(shù)；判斷pcie自動化測試系統(tǒng)是否存在異常，若否，執(zhí)行步驟s2，若是，對pcie自動化測試系統(tǒng)進(jìn)行維護(hù)；

4、s2：遠(yuǎn)程計(jì)算機(jī)向測試設(shè)備發(fā)送測試命令，測試設(shè)備向被測設(shè)備下發(fā)pcie建鏈信號；

5、s3：測試治具抓取被測設(shè)備的pcie數(shù)據(jù)信號，將pcie數(shù)據(jù)信號波形發(fā)送給測試設(shè)備，測試設(shè)備獲取pcie數(shù)據(jù)信號波形，對lane0進(jìn)行一致性測試以及對lane0的pcie數(shù)據(jù)信號進(jìn)行分析，并把lane0的pcie數(shù)據(jù)信號分析結(jié)果通過通信模塊發(fā)送給遠(yuǎn)程計(jì)算機(jī)；

6、s4：測試設(shè)備向測試治具的lane自動切換模塊發(fā)送切換lane的命令，lane自動切換模塊從lane0切換至lane1；

7、s5：測試設(shè)備給被測設(shè)備下發(fā)pcie二次建鏈信號，基于步驟s3進(jìn)行l(wèi)ane1的pcie數(shù)據(jù)信號測試；

8、s6：循環(huán)執(zhí)行步驟s3~s5，完成對所有l(wèi)ane的pcie數(shù)據(jù)信號的測試。

9、優(yōu)選的，步驟s4中，測試設(shè)備通過usb向lane自動撥碼開關(guān)發(fā)送lane切換命令，lane自動撥碼開關(guān)實(shí)現(xiàn)對lane的自動切換。

10、優(yōu)選的，步驟s3中的pcie數(shù)據(jù)信號測試，包括對pcie數(shù)據(jù)信號的質(zhì)量、幅度、穩(wěn)定性以及時(shí)序進(jìn)行測試分析。

11、第二方面，提供一種pcie自動化測試系統(tǒng)，用于實(shí)現(xiàn)任意一項(xiàng)所述的一種pcie自動化測試方法，包括遠(yuǎn)程計(jì)算機(jī)、測試設(shè)備、測試治具和通信模塊；所述測試設(shè)備的信號輸出端與被測設(shè)備的信號輸入端連接，所述測試治具與所述測試設(shè)備之間雙向連接，所述測試設(shè)備的信號輸出端與所述遠(yuǎn)程計(jì)算機(jī)的輸入端通過通信模塊連接。

12、優(yōu)選的，所述測試治具包括clb夾具和lane自動切換模塊，所述自動切換模塊的信號輸入端與所述測試設(shè)備的信號輸出端連接，所述遠(yuǎn)程計(jì)算機(jī)的信號輸出端和測試設(shè)備的信號輸出端與所述被測設(shè)備的信號輸入端連接。

13、優(yōu)選的，還包括信號發(fā)生器，所述測試設(shè)備的信號輸出端與所述信號發(fā)生器的信號輸入端連接，所述信號發(fā)生器的信號輸出端與所述測試治具的信號輸入端連接。

14、優(yōu)選的，所述lane自動切換模塊包括lane自動撥碼開關(guān)，所述測試設(shè)備通過usb與所述lane自動撥碼開關(guān)連接。

15、優(yōu)選的，所述測試設(shè)備為示波器。

16、本發(fā)明的有益效果包括：

17、本發(fā)明提供的一種pcie自動化測試系統(tǒng)及方法，首先監(jiān)測當(dāng)前pcie自動化測試系統(tǒng)的各模塊的連接狀態(tài)和性能參數(shù)；遠(yuǎn)程計(jì)算機(jī)向測試設(shè)備發(fā)送測試命令，測試設(shè)備向被測設(shè)備下發(fā)pcie建鏈信號。測試治具抓取被測設(shè)備的pcie數(shù)據(jù)信號，將pcie數(shù)據(jù)信號波形發(fā)送給測試設(shè)備，測試設(shè)備獲取pcie數(shù)據(jù)信號波形，對lane0進(jìn)行一致性測試以及對lane0的pcie數(shù)據(jù)信號進(jìn)行分析，并把lane0的pcie數(shù)據(jù)信號分析結(jié)果通過通信模塊發(fā)送給遠(yuǎn)程計(jì)算機(jī)；測試設(shè)備向測試治具的lane自動切換模塊發(fā)送切換lane的命令，lane自動切換模塊從lane0切換至lane1；測試設(shè)備給被測設(shè)備下發(fā)pcie二次建鏈信號，進(jìn)行l(wèi)ane1的pcie數(shù)據(jù)信號測試；直至完成對所有l(wèi)ane的pcie數(shù)據(jù)信號的測試。

18、通過lane自動模塊切換被測設(shè)備的lane,自動切換被測lane的preset，獲取的波形自動調(diào)用分析軟件進(jìn)行結(jié)果分析實(shí)現(xiàn)了pcie全自動化測試。整機(jī)不用掉電再重啟觸發(fā)每條lane的pcie建鏈，當(dāng)抓取完波形文件后，測試終端觸發(fā)pcie二次建鏈流程，建鏈完成后自動開啟下一條lane的測試，直至所有l(wèi)ane測試完成。

技術(shù)特征：

1.一種pcie自動化測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種pcie自動化測試方法，其特征在于，步驟s4中，測試設(shè)備通過usb向lane自動撥碼開關(guān)發(fā)送lane切換命令，lane自動撥碼開關(guān)實(shí)現(xiàn)對lane的自動切換。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種pcie自動化測試方法，其特征在于，步驟s3中的pcie數(shù)據(jù)信號測試，包括對pcie數(shù)據(jù)信號的質(zhì)量、幅度、穩(wěn)定性以及時(shí)序進(jìn)行測試分析。

4.一種pcie自動化測試系統(tǒng)，用于實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1-3任意一項(xiàng)所述的一種pcie自動化測試方法，其特征在于，包括遠(yuǎn)程計(jì)算機(jī)、測試設(shè)備、測試治具和通信模塊；所述測試設(shè)備的信號輸出端與被測設(shè)備的信號輸入端連接，所述測試治具與所述測試設(shè)備之間雙向連接，所述測試設(shè)備的信號輸出端與所述遠(yuǎn)程計(jì)算機(jī)的輸入端通過通信模塊連接。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種pcie自動化測試系統(tǒng)及方法，其特征在于，所述測試治具包括clb夾具和lane自動切換模塊，所述自動切換模塊的信號輸入端與所述測試設(shè)備的信號輸出端連接，所述遠(yuǎn)程計(jì)算機(jī)的信號輸出端和測試設(shè)備的信號輸出端與所述被測設(shè)備的信號輸入端連接。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種pcie自動化測試系統(tǒng)，其特征在于，還包括信號發(fā)生器，所述測試設(shè)備的信號輸出端與所述信號發(fā)生器的信號輸入端連接，所述信號發(fā)生器的信號輸出端與所述測試治具的信號輸入端連接。

7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種pcie自動化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述lane自動切換模塊包括lane自動撥碼開關(guān)，所述測試設(shè)備通過usb與所述lane自動撥碼開關(guān)連接。

8.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種pcie自動化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試設(shè)備為示波器。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明屬于PCIE測試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種PCIE自動化測試系統(tǒng)及方法，監(jiān)測當(dāng)前PCIE自動化測試系統(tǒng)的各模塊的連接狀態(tài)和性能參數(shù)；測試設(shè)備向被測設(shè)備下發(fā)PCIE建鏈信號。測試治具抓取被測設(shè)備的PCIE數(shù)據(jù)信號，將PCIE數(shù)據(jù)信號波形發(fā)送給測試設(shè)備，測試設(shè)備獲取PCIE數(shù)據(jù)信號波形，對lane0進(jìn)行一致性測試、PCIE數(shù)據(jù)信號進(jìn)行分析，并把lane0的PCIE數(shù)據(jù)信號分析結(jié)果通過通信模塊發(fā)送給遠(yuǎn)程計(jì)算機(jī)；測試設(shè)備向測試治具的lane自動切換模塊發(fā)送切換lane的命令，lane自動切換模塊從lane0切換至lane1；測試設(shè)備給被測設(shè)備下發(fā)PCIE二次建鏈信號，進(jìn)行l(wèi)ane1的PCIE數(shù)據(jù)信號測試；直至完成對所有l(wèi)ane的PCIE數(shù)據(jù)信號的測試，實(shí)現(xiàn)了PCIE全自動化測試。

技術(shù)研發(fā)人員：李林成
受保護(hù)的技術(shù)使用者：四川華鯤振宇智能科技有限責(zé)任公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/19