一種高精度消光比測試方法及系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了高精度消光比測試方法及測試系統(tǒng)，該方法包括當對光信號進行衰減至光信號調制幅度測試單元最佳工作信噪比范圍內時，通過光信號調制幅度測試單元對衰減后的部分光信號進行測試，得到光信號調制幅度值；以及根據光信號調制幅度值，計算得到消光比值。該發(fā)明采用基于高速射頻信號峰峰值檢測的方法，將被測光信號消光比值轉換為低頻電壓信號，實現(xiàn)了在較寬的信號速率范圍內、多種信號碼型和調制格式條件下進行高速光信號消光比值高精度測量的目的；同時該系統(tǒng)大大擴展了可測試光信號的動態(tài)范圍并提高了測試精度、重復測試一致性和測試裝置工作穩(wěn)定性。
【專利說明】一種高精度消光比測試方法及系統(tǒng)

【技術領域】
[0001] 本發(fā)明涉及光通信領域，具體涉及一種高精度消光比測試方法及系統(tǒng)。

【背景技術】
[0002] 在光通信領域，光信號消光比是一項重要技術指標，尤其在光模塊、光器件的 研發(fā)測試、生產制造環(huán)節(jié)，光發(fā)射機輸出光信號消光比是一項必須測試的重要參數(shù)；圖 1提供了一種目前光模塊消光比測試普遍采用的系統(tǒng)連接圖；根據消光比計算公式： = 可知，如需測試出光信號消光比，則必須測出調制信號為"〇"時的平均光 功率"P0"及調制信號為" 1"時的平均光功率"P1"。
[0003] 隨著光纖通信網絡傳輸技術的提高，光信號普遍提高到lGbpS~10Gbp S，甚至 lOOGbps速率范圍，在如此高速率及各種不同的信號調制方式、數(shù)據碼型條件下，精確檢測 出調制信號分別為"〇"和"1"時的平均光功率，存在相當多的技術瓶頸，對測試裝置的信號 采樣速率、設備穩(wěn)定性、重復測試一致性都提出了較高要求。
[0004] 目前能研發(fā)和生產高速光信號消光比設備的廠家僅限于世界范圍內極少數(shù)行業(yè) 領先的通信測試設備廠商，類似設備如安捷倫86100系列寬帶示波器，泰克DSA8300系列數(shù) 字采樣示波器等，此類設備不僅均價格昂貴，復雜度極高，體積龐大，且大都只能測試特定 信號速率下的消光比值，如需測試不同速率光信號消光比，必須更換核心的測試模組，操作 維護非常不便。
[0005] 另外，現(xiàn)有技術中公開了一種低成本消光比測量系統(tǒng)，如圖2所示，包括被測光模 塊U1、光分路器U2、光功率測試單元U3、消光比測試單元U4和MCU單元U5 ;光功率測試單 元U3進一步包括光電轉換器U31 ;消光比測試單元U4進一步包括PIN型光電二極管U41、 跨阻放大器U42和信號檢測器U43。
[0006] 光分路器U2將被測光模塊U1輸出光信號按一定比例分配，光電轉換器U31將輸 出的一定比例光信號轉換為電信號IPD，MCU單元U5接收到光電轉換器U31輸出電信號后， 配合光電轉換器U31響應度數(shù)值R響應度，以及光分路器分光比N，計算得出被測光模塊U1 的平均光功率= + 4卜。
[0007] PIN型光電二極管U41將分光器輸出的另一路比例光信號轉換為電信號，并進一 步通過跨阻放大器U42將該電信號轉換為差分電壓信號，信號檢測器U43檢測出光模塊 輸出信號為"1"時的平均電壓值與輸出信號為"〇"時的平均電壓值之差，MCU單元U5再 利用跨阻放大器U42跨導值計算出光模塊輸出信號為"1"時的平均光功率與輸出信號為 "0"時的平均光功率差值P1-P0 ;由于光功率測試單元已測算出光模塊平均光功率PAVG，且 Pi + .〇〇 ( Pl'\ = ,故可計算出Ρ〇, Ρ1具體值，再配合消光比計算公式M = ,則可 最終計算出被測光模塊消光比值。
[0008] 該消光比測試系統(tǒng)仍采用直接測量光信號分別為"1"和"0"時的平均光功率后再 計算消光比的方式，盡管具有理論上的可能性，但實際應用中，由于PIN型光電二極管響應 度、跨阻放大器跨導值均受環(huán)境溫度影響波動較大，導致測試精度、工作穩(wěn)定性極差，同時 信號檢測器受限于器件帶寬限制，只能工作在特定速率下，無法實現(xiàn)較寬速率范圍內高速 光信號消光比測量；另外，受限于跨阻放大器線性工作區(qū)限制，當輸入信號超過其飽和工作 點后，輸出信號失真會造成完全無法測量出被測光模塊的消光比真實值。


【發(fā)明內容】

[0009] 針對于現(xiàn)有技術存在的問題，本發(fā)明的一個目的是提供一種高精度消光比測試方 法，其能夠有效解決上述至少一種問題，實現(xiàn)了在較寬的信號速率范圍內對光信號消光比 進行精確測試，并且穩(wěn)定性好。
[0010] 本發(fā)明的另一個目的是提供一種高精度消光比測試系統(tǒng)。
[0011] 根據本發(fā)明的一個方面，提供高精度消光比測試方法，包括： 當通過可調光衰減器對光信號進行衰減至其輸出光功率處于光信號調制幅度測試單 元最佳工作信噪比范圍內時，通過光信號調制幅度測試單元對衰減后的部分光信號進行測 試，得到隨射頻信號峰峰值變化的光信號調制幅度值；以及 根據光信號調制幅度值，計算得到消光比值。
[0012] 進一步地，通過可調光衰減器對光信號進行衰減至其輸出光功率處于光信號調制 幅度測試單元最佳工作信噪比范圍內具體過程包括： 對衰減后的光信號按照一定比例進行分配，部分光信號經可調光衰減反饋控制單元轉 換為電壓控制信號； 根據電壓控制信號，控制可調光衰減器對光信號進行衰減至其輸出光功率處于光信號 調制幅度測試單元最佳工作信噪比范圍內。
[0013] 進一步地，部分光信號經可調光衰減反饋控制單元轉換為電壓控制信號具體過程 包括： 部分光信號通過光電二極管進行轉換得到電流信號； 通過反饋控制電路對電流信號進行轉換得到用于控制可調光衰減器對光信號進行衰 減至其輸出光功率處于光信號調制幅度測試單元最佳工作信噪比范圍內的電壓控制信號。
[0014] 進一步地，通過光信號調制幅度測試單元對衰減后的部分光信號進行測試，得到 隨射頻信號峰峰值變化的光信號調制幅度值具體過程包括： 對衰減后的光信號按照一定比例進行分配，部分光信號經可調光衰減反饋控制單元轉 換為電壓控制信號，另外一部分光信號經高速光信號探測器轉換為射頻電壓信號； 對射頻電壓信號進行濾波，通過射頻檢波器探測濾波后的射頻電壓信號峰峰值； 根據射頻電壓信號峰峰值，換算得到低頻電壓信號； 通過高速采樣電路采樣低頻電壓信號，得到光信號調制幅度值。
[0015] 進一步地，根據光信號調制幅度值，計算得到消光比值具體過程包括： 根據光信號調制幅度值，查找預先生成的消光比校準表，計算得到消光比值。
[0016] 進一步地，消光比校準表的生成過程包括： 對不同消光比條件下的光信號進行測試，得到若干個光信號調制幅度值； 分段線性擬合光信號調制幅度值，得到消光比校準表。
[0017] 根據本發(fā)明的另一方面，提供一種高精度消光比測試系統(tǒng)，包括： 可調光衰減器，用于對輸入的光信號進行衰減到使其輸出光功率值處于光信號調制幅 度測試單元最佳工作信噪比范圍內； 光分路器，用于將所述可調光衰減器輸出的光信號按照一定的比例進行分配，并分別 輸出至可調光衰減反饋控制單元和光信號調制幅度測試單元； 可調光衰減反饋控制單元，用于接收光分路器輸出的部分光信號，并根據部分光信號 控制光衰減器的輸出光功率處于光信號調制幅度測試單元最佳工作信噪比范圍內； 至少一個光信號調制幅度測試單元，用于接收光分路器輸出的另外一部分光信號，并 將另外一部分光信號進行測試，得到光信號調制幅度值； 非易失性存儲器，用于存儲對不同消光比條件下的光信號進行測試得到的光信號調制 幅度值分段線性擬合得到的消光比校準表；以及 微控制器，用于根據光信號調制幅度值，查找預先生成的消光比校準表，計算得到消光 比值。
[0018] 進一步地，可調光衰減反饋控制單元包括： 光電二極管，用于接收光分路器分配的部分光信號，并將部分光信號轉換為電流信 號； 反饋控制電路，用于接收電流信號，并將電流信號轉換為電壓控制信號，再輸出至可調 光衰減器控制其輸出光功率處于光信號調制幅度測試單元最佳工作信噪比范圍內。
[0019] 進一步地，光電二極管為大光敏面光電二極管。
[0020] 進一步地，光信號調制幅度測試單元包括： 高速光信號探測器，用于接收光分路器分配的另外一部分光信號，并將另外一部分光 信號轉換為射頻電壓信號； 網絡濾波器，用于接收射頻電壓信號，并對射頻電壓信號進行濾波； 射頻信號檢波器，用于接收濾波后的射頻電壓信號，并探測濾波后的射頻電壓信號峰 峰值，根據射頻電壓信號峰峰值換算得到低頻電壓信號； 高速采樣電路，用于采樣所述低頻電壓信號，輸出光信號調制幅度值。
[0021] 本發(fā)明的高精度消光比測試系統(tǒng)及方法的工作原理為：根據消光比與光信號調制 ，2 末 P + p 、、 幅度測試單元調制后光信號峰峰值之間的對應公式：朋= 103g 可知，當 被測光信號平均光功率為定值時，被測信號消光比與光信號調制幅度值間存在簡單的單調 性對應關系，上述公式中為被測光信號調制幅度值，據此原理，如采用可調光衰減器將 被測光信號衰減到固定光功率值，并將不同消光比條件下對應的光調制幅度值分段線性擬 合數(shù)據存儲在消光比校準表中，則通過檢測光信號調制幅度值后，再根據光信號調制幅度 值，通過校準表計算的方式，即可精確測量出被測光信號消光比值。
[0022] 本發(fā)明提供的高精度消光比測試方法及系統(tǒng)采用基于高速射頻信號峰峰值檢測 的方法，將被測光信號消光比值轉換為低頻電壓信號，實現(xiàn)了在較寬的信號速率范圍內、多 種信號碼型和調制格式條件下進行高速光信號消光比值高精度測量的目的，避免了直接對 調制信號為"〇"時的平均光功率"P0"及調制信號為"1"時的平均光功率"P1"進行測量以 計算消光比值所帶來的弊端；同時該系統(tǒng)采用可調光衰減器，在進行消光比測量前將被測 光信號衰減到探測器最佳接收信噪比范圍內，光信號調制幅度測試電路所用元器件溫度特 性穩(wěn)定，大大擴展了可測試光信號的動態(tài)范圍并提高了測試精度、重復測試一致性和測試 裝置工作穩(wěn)定性。
[0023] 本發(fā)明的高精度消光比測試方法及系統(tǒng)完全解決了現(xiàn)有消光比測試系統(tǒng)的弊端， 經過實際測試和驗證，其測試精度、工作穩(wěn)定性均滿足光通信領域尤其是光模塊研發(fā)、生產 制作過程中的消光比測試需求。
[0024] 另外，由于基于完全不同的工作原理，本發(fā)明的消光比測試系統(tǒng)設備體積小、重量 輕、成本低、測試精度和穩(wěn)定性高。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0025] 圖1為現(xiàn)有技術中光模塊消光比測試所采用的裝置的結構框圖。
[0026] 圖2為現(xiàn)有技術所公開的低成本消光比測試系統(tǒng)的原理框圖。
[0027] 圖3為本發(fā)明的高精度消光比測試方法的一個實施例的流程圖。
[0028] 圖4為本發(fā)明的對部分光信號衰減至信號調制幅度測試單元最佳工作信噪比范 圍內的方法的一個實施例的流程圖。
[0029] 圖5為本發(fā)明的對衰減后的部分光信號進行測試得到光信號調制幅度值的方法 的一個實施例的流程圖。
[0030] 圖6為本發(fā)明的生成消光比校準表的算法600的一個實施例的流程圖。
[0031] 圖7為本發(fā)明的高精度消光比測試系統(tǒng)的一個實施例的示意性框圖。

【具體實施方式】
[0032] 為使本申請的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚，以下結合附圖及具體實施例，對本 申請作進一步地詳細說明。
[0033] 為簡單起見，以下描述中省略了本領域技術人員公知的某些技術特征。
[0034] 參考圖3,圖3所示為本發(fā)明的高精度消光比測試方法的一個實施例300的流程 圖。方法300包括步驟301到303。
[0035] 在步驟301中，通過可調光衰減器對光信號進行衰減至其輸出光功率處于光信號 調制幅度測試單元最佳工作信噪比范圍內；參考圖4,圖4為對部分光信號衰減至信號調制 幅度測試單元最佳工作信噪比范圍內的方法400的一個實施例的流程圖。方法400包括步 驟 401 到 404。
[0036] 在步驟401中，對衰減后的光信號按照一定的比例進行分配； 在本發(fā)明的一個實施例中，被測光信號經可調衰減器衰減后，輸出到光分路器；光分路 器將輸入的衰減后的光信號按Μ :N比例進行分配；一路光信號輸出到大光敏面光電二極 管，另外一路輸出到高速光信號探測器； 在步驟402中，部分光信號通過光電二極管進行轉換得到電流信號； 在本發(fā)明的一個實施例中，大光敏面光電二極管將光分路器中的一路輸出信號轉換為 隨光功率變化的電流信號，并輸出到反饋控制電路； 在步驟403和404中，反饋控制電路將接收到的電流信號轉換為隨光功率變化的電壓 控制信號，并將該控制信號輸出到可調光衰減器控制端，確保可調光衰減器輸出光功率穩(wěn) 定并始終處于光信號調制幅度測試單元最佳接收工作信噪比范圍內。
[0037] 在步驟302中，通過光信號調制幅度測試單元對衰減后的部分光信號進行測試， 得到隨射頻信號峰峰值變化的光信號調制幅度值；參見圖5,圖5為對衰減后的部分光信號 進行測試得到光信號調制幅度值的方法500的一個實施例的流程圖。方法500包括步驟 501 到 506。
[0038] 在步驟501中，對衰減后的光信號按照一定的比例進行分配；一路光信號輸出到 大光敏面光電二極管，另外一路輸出到高速光信號探測器； 在步驟502中，另外一路光信號輸出到高速光信號探測器，高速光信號探測器將其轉 換為輸出信號幅度隨消光比變化的RF電壓信號并輸出到網絡濾波器； 在步驟503中，網絡濾波器將高速光信號探測器輸出的RF電壓信號進行濾波以匹配較 寬速率范圍內的被測高速信號，并將濾波后的RF電壓信號輸出到RF信號檢波器； 在步驟504和505中，RF信號檢波器探測經過濾波后的RF電壓信號峰峰值，并輸出隨 該信號峰峰值變化的低頻電壓信號到高速采樣電路； 在步驟506中，高速采樣電路對低頻電壓信號進行采樣得到光信號調制幅度值并輸出 到微控制器。
[0039] 在步驟303中，根據光信號調制幅度值，計算得到消光比值； 在本發(fā)明的一個實施例中，微控制器根據被測光信號調制幅度值，查找 事先存儲在非易失性存儲器內部的消光比校準表，計算出被測信號的消光比值。
[0040] 在本發(fā)明的一個實施例中，消光比校準表是對不同消光比條件下的光信號進行測 試，得到若干個光信號調制幅度值，分段線性擬合光信號調制幅度值，得到。
[0041] 參考圖6,圖6為本發(fā)明的生成消光比校準表的算法600的一個實施例的流程圖。 方法600包括步驟601到606。
[0042] 該校準算法基于分段線性校準方式，確保了在所校準范圍內良好的消光比測量精 度，其中：EMX為最大消光比校準點，EMIN為最小消光比校準點，N為分段校準段數(shù)； 將Em^E^等分為N段后，測量光信號消光比分別為…EMX時RF檢波器信號 輸出電壓值VMIN、Vp V2…Vg，并計算相鄰兩個校準點之間線性擬合出的斜率SL0PEN及偏移 0FFSET N，并按序將SL0PEN、0FFSETN、VN存入消光比校準表中。
[0043] 當實際進行消光比測量時，微控制器U5根據高速采樣電路U44采樣的RF信號檢 波器輸出電壓VTEST，檢索存儲在非易失性存儲器U6中的消光比校準表，當VM_i < VTEST彡VM 時，可根據線性校準公式計算出對應的被測光信號消 光比值。
[0044] 參見圖7,圖7為本發(fā)明的高精度消光比測試系統(tǒng)的一個實施例的示意性框圖。
[0045] 該測試系統(tǒng)包括可調光衰減器U1、光分路器U2、可調光衰減反饋控制單元U3、光 信號調制幅度測試單元U4、微控制器U5和非易失性存儲器U6 ;可調光衰減反饋控制單元 U3其進一步包括大光敏面光電二極管U31和反饋控制電路U32 ;光信號調制幅度測試單元 U4進一步包括高速光信號探測器U41、網絡濾波器U42、RF信號檢波器U43和高速采樣電路 U44 ;其中， 被測光信號經可調光衰減器U1衰減后輸出到光分路器U2 ; 光分路器U2將輸入光信號按M: N比例分配后，一路輸出到大光敏面光電二極管U31，另 一路輸出到高速光信號探測器U41 ; 大光敏面光電二極管U31將光分路器U2中的一路輸出信號轉換為隨光功率變化的電 流信號，并輸出到反饋控制電路U32 ; 反饋控制電路U32將接收到的電流信號轉換為隨光功率變化的電壓控制信號，并將該 電壓控制信號輸出到可調光衰減器U1控制端，確?？烧{光衰減器U1輸出光功率穩(wěn)定并始 終處于光信號調制幅度測試單元U4最佳工作信噪比范圍內； 高速光信號探測器U41將另一路光分路器U2的輸出信號轉換為輸出信號幅度隨消光 比變化的RF電壓信號并輸出到網絡濾波器U42 ; 網絡濾波器U42將高速光信號探測器U41輸出的RF電壓信號進行濾波以匹配較寬速 率范圍內的被測高速信號，并將濾波后的RF電壓信號輸出到RF信號檢波器U43 ; RF信號檢波器U43探測經過濾波后的RF電壓信號峰峰值，并輸出隨該信號峰峰值變化 的低頻電壓信號到高速采樣電路U44 ; 高速采樣電路U44將采樣到的光信號調制幅度值輸出到微控制器U5 ; 微控制器U5根據被測光信號光調制幅度值，查找事先存儲在非易失性存儲器內部的 消光比校準表，計算出被測信號的消光比值； 非易失性存儲器U6通過數(shù)據總線與微控制器U5相連，存儲不同消光比條件下對應的 光調制幅度值分段線性擬合數(shù)據，即消光比校準表。
[0046] 在本發(fā)明的另外一個實施例中，可以包含有兩個相同或類似原理的光信號調制幅 度測試單元，通過多路消光比測試值取平均或其它處理方式以減小系統(tǒng)測試誤差，提高消 光比測試精度。
[0047] 在本發(fā)明的另外一些實例中，還可以采用自身具備高速采樣電路及非易失性存儲 器的MCU ; 綜上所述，該發(fā)明的消光比測試系統(tǒng)體積小巧，成本低，使未來手持式消光比測試裝置 的出現(xiàn)成為可能，并且在高速光模塊的研發(fā)測試、生產制造過程中具有廣闊的技術應用前 旦 -5^ 〇
【權利要求】
1. 一種高精度消光比測試方法，其特征是，包括： 當通過可調光衰減器對光信號進行衰減至其輸出光功率處于光信號調制幅度測試單 元最佳工作信噪比范圍內時，通過光信號調制幅度測試單元對衰減后的部分光信號進行測 試，得到隨射頻信號峰峰值變化的光信號調制幅度值；以及 根據所述光信號調制幅度值，計算得到消光比值。
2. 根據權利要求1所述的測試方法，其特征是，通過可調光衰減器對光信號進行衰減 至其輸出光功率處于光信號調制幅度測試單元最佳工作信噪比范圍內具體過程包括： 對衰減后的光信號按照一定比例進行分配，部分光信號經可調光衰減反饋控制單元轉 換為電壓控制信號； 根據所述電壓控制信號，控制可調光衰減器對光信號進行衰減至其輸出光功率處于光 信號調制幅度測試單元最佳工作信噪比范圍內。
3. 根據權利要求2所述的方法，其特征是，所述部分光信號經可調光衰減反饋控制單 元轉換為電壓控制信號具體過程包括： 部分光信號通過光電二極管進行轉換得到電流信號； 通過反饋控制電路對所述電流信號進行轉換得到用于控制可調光衰減器對光信號進 行衰減至其輸出光功率處于光信號調制幅度測試單元最佳工作信噪比范圍內的電壓控制 信號。
4. 根據權利要求1所述的測試方法，其特征是，所述通過光信號調制幅度測試單元對 衰減后的部分光信號進行測試，得到隨射頻信號峰峰值變化的光信號調制幅度值具體過程 包括： 對衰減后的光信號按照一定比例進行分配，部分光信號經可調光衰減反饋控制單元轉 換為電壓控制信號，另外一部分光信號經高速光信號探測器轉換為射頻電壓信號； 對所述射頻電壓信號進行濾波，通過射頻檢波器探測濾波后的射頻電壓信號峰峰值； 根據所述射頻電壓信號峰峰值，換算得到低頻電壓信號； 通過高速采樣電路采樣所述低頻電壓信號，得到光信號調制幅度值。
5. 根據權利要求1所述的測試方法，其特征是，根據所述光信號調制幅度值，計算得到 消光比值具體過程包括： 根據所述光信號調制幅度值，查找預先生成的消光比校準表，計算得到消光比值。
6. 根據權利要求5所述的測試方法，其特征是，所述消光比校準表的生成過程包括： 對不同消光比條件下的光信號進行測試，得到若干個光信號調制幅度值； 分段線性擬合所述光信號調制幅度值，得到消光比校準表。
7. -種高精度消光比測試系統(tǒng)，其特征是，包括： 可調光衰減器，用于對輸入的光信號進行衰減到使其輸出光功率處于光信號調制幅度 測試單元最佳工作信噪比范圍內； 光分路器，用于將所述可調光衰減器輸出的光信號按照一定的比例進行分配，并分別 輸出至可調光衰減反饋控制單元和光信號調制幅度測試單元； 可調光衰減反饋控制單元，用于接收所述光分路器輸出的部分光信號，并根據所述部 分光信號控制光衰減器的輸出光功率處于光信號調制幅度測試單元最佳工作信噪比范圍 內； 至少一個光信號調制幅度測試單元，用于接收所述光分路器輸出的另外一部分光信 號，并將所述另外一部分光信號進行測試，得到光信號調制幅度值； 非易失性存儲器，用于存儲對不同消光比條件下的光信號進行測試得到的光信號調制 幅度值分段線性擬合得到的消光比校準表；以及 微控制器，用于根據所述光信號調制幅度值，查找預先生成的消光比校準表，計算得到 消光比值。
8. 根據權利要求7所述的測試系統(tǒng)，其特征是，所述可調光衰減反饋控制單元包括： 光電二極管，用于接收光分路器分配的部分光信號，并將所述部分光信號轉換為電流 信號； 反饋控制電路，用于接收所述電流信號，并將所述電流信號轉換為電壓控制信號，再輸 出至可調光衰減器控制其輸出光功率處于光信號調制幅度測試單元最佳工作信噪比范圍 內。
9. 根據權利要求8所述的測試系統(tǒng)，其特征是，所述光電二極管為大光敏面光電二極 管。
10. 根據權利要求7所述的測試系統(tǒng)，其特征是，所述光信號調制幅度測試單元包括： 高速光信號探測器，用于接收光分路器分配的另外一部分光信號，并將所述另外一部 分光信號轉換為射頻電壓信號； 網絡濾波器，用于接收所述射頻電壓信號，并對所述射頻電壓信號進行濾波； 射頻信號檢波器，用于接收濾波后的射頻電壓信號，并探測所述濾波后的射頻電壓信 號峰峰值，根據所述射頻電壓信號峰峰值換算得到低頻電壓信號； 高速采樣電路，用于采樣所述低頻電壓信號，輸出光信號調制幅度值。
【文檔編號】H04B10/079GK104243025SQ201410417502
【公開日】2014年12月24日 申請日期:2014年8月22日 優(yōu)先權日:2014年8月22日
【發(fā)明者】屠澄軼, 白曉明, 易少賓, 陳仕隆, 楊雷, 趙澤東, 殷飛, 呂坤 申請人:寧波摩視光電科技有限公司