一種適用于lte系統(tǒng)的基站射頻測試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種適用于LTE系統(tǒng)的基站射頻測試系統(tǒng)，其中，所述系統(tǒng)連接待測基站，用于測試待測基站的射頻數(shù)據(jù)，所述系統(tǒng)包括：頻譜分析儀、信道模擬器、有用信號生成器、干擾信號生成器、寬帶信號生成器、功率計(jì)、主控計(jì)算機(jī)及射頻箱；其中，所述主控計(jì)算機(jī)連接所述頻譜分析儀、信道模擬器、有用信號生成器、干擾信號生成器、寬帶信號生成器、功率計(jì)及射頻箱；所述射頻箱連接所述頻譜分析儀、信道模擬器、有用信號生成器、干擾信號生成器、寬帶信號生成器、功率計(jì)及所述待測基站；所述功率計(jì)連接所述寬帶信號生成器；其中，所述射頻箱包括：開關(guān)、負(fù)載、單向器、耦合器、衰減器、合路器、多頻合路器及射頻接口。
【專利說明】一種適用于LTE系統(tǒng)的基站射頻測試系統(tǒng)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及移動(dòng)通信領(lǐng)域，尤指一種適用于LTE系統(tǒng)的基站射頻測試系統(tǒng)?！颈尘凹夹g(shù)】
[0002]LTE是第四代移動(dòng)通信的主流技術(shù)之一。支持FDD (頻分雙工)和TDD (時(shí)分雙工)兩種模式。TD-LTE是時(shí)分雙工的LTE系統(tǒng)，LTE-FDD是頻分雙工的LTE系統(tǒng)。目前，LTE系統(tǒng)的商用化受到了全球運(yùn)營商和設(shè)備商最為廣泛的關(guān)注。因此，基站設(shè)備作為通信網(wǎng)絡(luò)中重要的網(wǎng)元，其性能決定了整個(gè)系統(tǒng)的優(yōu)劣。
[0003]在現(xiàn)有技術(shù)中，LTE系統(tǒng)的基站射頻測試的系統(tǒng)搭建復(fù)雜，人工手動(dòng)搭建測試系統(tǒng)易引入人為的不必要的錯(cuò)誤，降低了系統(tǒng)的可靠性。射頻開關(guān)是射頻測試系統(tǒng)中的重要器件，常見的射頻開關(guān)分為兩種類型:具備反饋機(jī)制及不具備反饋機(jī)制；這兩種類型的開關(guān)都將引入大功率設(shè)備射頻自動(dòng)測試系統(tǒng)的安全性問題，降低了測試系統(tǒng)的魯棒性。常見的自動(dòng)測試系統(tǒng)中，儀表控制指令僅僅適用于某一種型號的儀表，測試系統(tǒng)的靈活性不高。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0004]本實(shí)用新型針對以上問題，從射頻發(fā)射與接收的角度對基站進(jìn)行測試，覆蓋LTE系統(tǒng)的基站的大部分測試項(xiàng)，保證了通信系統(tǒng)的整體性能，實(shí)現(xiàn)一種自動(dòng)化程度高，測量結(jié)果準(zhǔn)確、實(shí)現(xiàn)簡單的LTE系統(tǒng)的基站射頻測試系統(tǒng)。
[0005]為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型提出了一種適用于LTE系統(tǒng)的基站射頻測試系統(tǒng)，連接待測基站，用于測試所述待測基站的射頻數(shù)據(jù)，所述系統(tǒng)包括:頻譜分析儀、信道模擬器、有用信號生成器、干擾信號生成器、寬帶信號生成器、功率計(jì)、主控計(jì)算機(jī)及射頻箱；其中，所述主控計(jì)算機(jī)連接所述頻譜分析儀、信道模擬器、有用信號生成器、干擾信號生成器、寬帶信號生成器、功率計(jì)及射頻箱；所述射頻箱連接所述頻譜分析儀、信道模擬器、有用信號生成器、干擾信號生成器、寬帶信號生成器、功率計(jì)及所述待測基站；所述功率計(jì)連接所述寬帶信號生成器；其中，所述信道模擬器，用于模擬移動(dòng)通信的多徑衰落信道；所述有用信號生成器，用于產(chǎn)生有用信號；所述干擾信號生成器，用于產(chǎn)生干擾信號；所述寬帶信號生成器，用于生成寬帶信號；所述功率計(jì)，用于測試所述寬帶信號的功率；所述射頻箱包括:開關(guān)、負(fù)載、單向器、耦合器、衰減器、合路器、多頻合路器及射頻接口 ；其中，所述開關(guān)連接所述負(fù)載、單向器、耦合器衰減器、合路器、多頻合路器及射頻接口，用于切換測試通路；所述射頻接口用于連接所述待測基站、頻譜分析儀、信道模擬器、有用信號生成器、干擾信號生成器、寬帶信號生成器、功率計(jì)；所述頻譜分析儀，用于測試所述待測基站的射頻數(shù)據(jù)，并顯示測試結(jié)果；所述主控計(jì)算機(jī)，用于控制所述射頻箱的開關(guān)、頻譜分析儀、信道模擬器、有用信號生成器、干擾信號生成器、寬帶信號生成器及功率計(jì)，并用于控制測試流程及顯示測試結(jié)果。
[0006]進(jìn)一步的，所述常規(guī)測試射頻箱包括:第一射頻接口、第二射頻接口、第三射頻接口、6dB耦合器、6dB衰減器、IOdB衰減器、20dB衰減器、30dB衰減器、40dB衰減器、第一單向器、第二單向器、第一開關(guān)、第二開關(guān)、第三開關(guān)、第四開關(guān)及兩個(gè)負(fù)載；其中，所述第一射頻接口連接所述6dB耦合器的輸入端，所述6dB耦合器的直通輸出端連接所述6dB衰減器的一端，所述6dB衰減器的另一端連接所述第一開關(guān)的動(dòng)端，所述第一開關(guān)及第二開關(guān)分別至少包括5個(gè)不動(dòng)端，所述第一開關(guān)及第二開關(guān)之間對應(yīng)的每一對不動(dòng)端分別連接40dB衰減器、30dB衰減器、20dB衰減器、IOdB衰減器及跳線，所述第二開關(guān)的動(dòng)端連接所述第二射頻接口 ；所述第三射頻接口連接所述第三開關(guān)的動(dòng)端，所述第三開關(guān)及第四開關(guān)分別包括4個(gè)不動(dòng)端，所述第三開關(guān)的第一不動(dòng)端連接所述第一單向器的輸入端，所述第四開關(guān)的第一不動(dòng)端連接所述第一單向器的輸出端，所述第三開關(guān)的第二不動(dòng)端連接所述第二單向器的輸入端，所述第四開關(guān)的第二不動(dòng)端連接所述第二單向器的輸出端，所述第三開關(guān)的第三不動(dòng)端通過跳線連接所述第四開關(guān)的第三不動(dòng)端，所述第三開關(guān)的第四不動(dòng)端連接一負(fù)載，所述第四開關(guān)的第四不動(dòng)端連接另一負(fù)載，所述第四開關(guān)的動(dòng)端連接所述6dB耦合器的奉禹合端。 [0007]進(jìn)一步的，所述常規(guī)測試射頻箱還包括:第四射頻接口、第五射頻接口、第六射頻接口、第七射頻接口、第八射頻接口、第三單向器、第四單向器、第五單向器、第六單向器、第五開關(guān)、第六開關(guān)及合路器；其中，所述第四射頻接口連接所述第三單向器的輸入端，所述第三單向器的輸出端連接所述第五開關(guān)的一不動(dòng)端，所述第五射頻接口連接所述第四單向器的輸入端，所述第四單向器的輸出端連接所述第五開關(guān)的另一不動(dòng)端，所述第六射頻接口連接所述第五單向器的輸入端，所述第五單向器的輸出端連接所述第六開關(guān)的一不動(dòng)端，所述第七射頻接口連接所述第六單向器的輸入端，所述第六單向器的輸出端連接所述第六開關(guān)的另一不動(dòng)端，所述第五開關(guān)的動(dòng)端及第六開關(guān)的動(dòng)端連接所述合路器的輸入端，所述合路器輸出端連接所述第八射頻接口。
[0008]進(jìn)一步的，所述第一單向器、第三單向器、第五單向器為頻段800-1000MHZ的單向器；所述第二單向器、第四單向器、第六單向器為頻段1710-2700MHZ的單向器。
[0009]進(jìn)一步的，所述射頻箱還包括:雜散測試射頻箱；其中，所述雜散測試射頻箱包括:雜散箱第一開關(guān)、雜散箱第二開關(guān)、雜散箱第三開關(guān)、雜散箱第四開關(guān)、雜散箱第五開關(guān)、第一多頻合路器、第二多頻合路器、第三多頻合路器、第四多頻合路器、第一耦合器、第二耦合器、第一負(fù)載、第二負(fù)載、擴(kuò)展接口、信號輸入接口及信號輸出接口 ；其中，所述信號輸入接口連接所述第一耦合器及第二耦合器；所述雜散箱第一開關(guān)，連接所述第二耦合器，并選擇性地連接所述雜散箱第二開關(guān)、雜散箱第三開關(guān)以及第三多頻合路器的其中之一；所述雜散箱第二開關(guān)，選擇性地連接所述第一多頻合路器、第二多頻合路器以及第三多頻合路器的其中之一；所述雜散箱第三開關(guān)，選擇性地連接所述第一負(fù)載、第四多頻合路器以及擴(kuò)展接口的其中之一；所述雜散箱第四開關(guān)，連接所述信號輸出接口，并選擇性地連接所述第一多頻合路器、第二多頻合路器、第三多頻合路器、雜散箱第五開關(guān)以及擴(kuò)展接口的其中之一；所述雜散箱第五開關(guān)，選擇性地連接所述第二負(fù)載以及第四多頻合路器的其中之
O
[0010]進(jìn)一步的，所述射頻數(shù)據(jù)包括:最大輸出功率、占用帶寬、頻率誤差、誤差向量幅度、相鄰頻道泄漏比、總功率動(dòng)態(tài)范圍、下行參考信號功率、接收機(jī)靈敏度電平、動(dòng)態(tài)范圍、接收機(jī)雜散數(shù)據(jù)、多徑衰落傳播條件下的PUSCH性能、上行鏈路定時(shí)調(diào)整的性能要求、PUSCH上HARQ-ACK復(fù)用的性能要求、PRACH虛警概率及漏檢率。[0011]本實(shí)用新型提供了一種適用于LTE系統(tǒng)的基站射頻測試系統(tǒng)，該測試系統(tǒng)搭建簡單，應(yīng)用方便，可以適用多種主流頻譜分析儀，并且實(shí)現(xiàn)了在測試時(shí)先對測試系統(tǒng)中開關(guān)位置的確認(rèn)，有效保護(hù)了測試鏈路及測試儀器，提高了測試系統(tǒng)的魯棒性。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0012]此處所說明的附圖用來提供對本實(shí)用新型的進(jìn)一步理解，構(gòu)成本申請的一部分，并不構(gòu)成對本實(shí)用新型的限定。在附圖中:
[0013]圖1為本實(shí)用新型一實(shí)施例的適用于LTE系統(tǒng)的基站射頻測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0014]圖2為本實(shí)用新型一實(shí)施例的常規(guī)測試射頻箱的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0015]圖3為本實(shí)用新型一實(shí)施例的雜散測試射頻箱的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0016]圖4為本實(shí)用新型一具體實(shí)施例進(jìn)行發(fā)射機(jī)常規(guī)測試時(shí)的測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0017]圖5為本實(shí)用新型一具體實(shí)施例進(jìn)行特殊頻段雜散的發(fā)射機(jī)測試的測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖。
[0018]圖6為圖5所述實(shí)施例的射頻箱連接及開關(guān)初始位置的示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0019]以下配合圖式及本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例，進(jìn)一步闡述本實(shí)用新型為達(dá)成預(yù)定實(shí)用新型目的所采取的技術(shù)手段。
[0020]圖1為本實(shí)用新型一實(shí)施例的適用于LTE系統(tǒng)的基站射頻測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。所述測試系統(tǒng)用于測試待測基站的射頻數(shù)據(jù)，如圖1所示，測試系統(tǒng)連接待測基站9，測試系統(tǒng)包括:射頻箱1、信道模擬器2、頻譜分析儀3、有用信號生成器4、干擾信號生成器5、寬帶信號生成器6、功率計(jì)7、主控計(jì)算機(jī)8。其中，
[0021 ] 主控計(jì)算機(jī)8連接射頻箱1、信道模擬器2、頻譜分析儀3、有用信號生成器4、干擾信號生成器5、寬帶信號生成器6、功率計(jì)7 ;射頻箱I連接信道模擬器2、頻譜分析儀3、有用信號生成器4、干擾信號生成器5、寬帶信號生成器6、功率計(jì)7及所述待測基站9 ;功率計(jì)7連接寬帶信號生成器6。其中，
[0022]信道模擬器2，用于模擬移動(dòng)通信的多徑衰落信道。
[0023]有用信號生成器4，用于產(chǎn)生有用信號，可作為有用信號源。
[0024]干擾信號生成器5,用于產(chǎn)生干擾信號,可作為干擾信號源。
[0025]寬帶信號生成器6，用于生成寬帶信號，可作為寬帶信號源。
[0026]功率計(jì)7，用于測試寬帶信號的功率。
[0027]射頻箱I包括:開關(guān)、負(fù)載、單向器、耦合器、衰減器、合路器、多頻合路器及射頻接口 ；其中，開關(guān)連接負(fù)載、單向器、耦合器衰減器、合路器、多頻合路器及射頻接口，用于切換測試通路；射頻接口用于連接待測基站或者前述的測試設(shè)備，如信道模擬器2、頻譜分析儀
3、有用信號生成器4、干擾信號生成器5、寬帶信號生成器6及功率計(jì)7。
[0028]頻譜分析儀3，用于測試待測基站9的射頻數(shù)據(jù)，并顯示測試結(jié)果。
[0029]主控計(jì)算機(jī)8，用于控制所述射頻箱的開關(guān)、頻譜分析儀、信道模擬器、有用信號生成器、干擾信號生成器、寬帶信號生成器及功率計(jì)，并用于控制測試流程及顯示測試結(jié)果。
[0030]本實(shí)用新型的測試系統(tǒng)，搭建簡單，可測試的數(shù)據(jù)內(nèi)容豐富，主要可用于測量最大輸出功率、占用帶寬、頻率誤差、誤差向量幅度、相鄰頻道泄漏比、總功率動(dòng)態(tài)范圍、下行參考信號功率、接收機(jī)靈敏度電平、動(dòng)態(tài)范圍、接收機(jī)雜散數(shù)據(jù)、多徑衰落傳播條件下的PUSCH性能、上行鏈路定時(shí)調(diào)整的性能要求、PUSCH上HARQ-ACK復(fù)用的性能要求、PRACH虛警概率及漏檢率等數(shù)據(jù)。
[0031]圖2為本實(shí)用新型一實(shí)施例的常規(guī)測試射頻箱的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖2所示，射頻箱I包括常規(guī)測試射頻箱；其中，常規(guī)測試射頻箱包括:
[0032]第一射頻接口 101、6dB耦合器102、6dB衰減器103、第一開關(guān)104、40dB衰減器105、30dB衰減器106、20dB衰減器107、IOdB衰減器108、第二開關(guān)109、第二射頻接口 110、第三射頻接口 111、第三開關(guān)112、兩個(gè)負(fù)載113、第一單向器114、第二單向器115、第四開關(guān)116 ;其中，
[0033]第一射頻接口 101連接6dB耦合器102的輸入端，6dB耦合器102的直通輸出端連接6dB衰減器103的一端，6dB衰減器103的另一端連接第一開關(guān)104的動(dòng)端,第一開關(guān)104及第二開關(guān)109分別至少包括5個(gè)不動(dòng)端，第一開關(guān)104及第二開關(guān)109之間對應(yīng)的每一對不動(dòng)端分別連接40dB衰減器105、30dB衰減器106、20dB衰減器107、IOdB衰減器108及跳線，第二開關(guān)109的動(dòng)端連接第二射頻接口 110 ；
[0034]第三射頻接口 111連接第三開關(guān)112的動(dòng)端，第三開關(guān)112及第四開關(guān)116分別包括4個(gè)不動(dòng)端，第三開關(guān)114的第一不動(dòng)端連接第一單向器114的輸入端，第四開關(guān)116的第一不動(dòng)端連接第一單向器114的輸出端，第三開關(guān)112的第二不動(dòng)端連接第二單向器115的輸入端，第四開關(guān)116的第二不動(dòng)端連接第二單向器115的輸出端，第三開關(guān)112的第三不動(dòng)端通過跳線連接第四開關(guān)116的第三不動(dòng)端，第三開關(guān)112的第四不動(dòng)端連接一負(fù)載113，第四開關(guān)116的第四不動(dòng)端連接另一負(fù)載113，第四開關(guān)116的動(dòng)端連接6dB耦合器102的稱合端。
[0035]在本實(shí)施例中，常規(guī)測試射頻箱還包括:第四射頻接口 117、第五射頻接口 118、第六射頻接口 119、第七射頻接口 120、第三單向器121、第四單向器122、第五單向器123、第六單向器124、第五開關(guān)125、第六開關(guān)126、合路器127、第八射頻接口 128 ;其中，
[0036]第四射頻接口 117連接第三單向器121的輸入端，第三單向器121的輸出端連接第五開關(guān)125的一不動(dòng)端，第五射頻接口 118連接第四單向器122的輸入端，第四單向器122的輸出端連接第五開關(guān)125的另一不動(dòng)端，第六射頻接口 119連接第五單向器123的輸入端，第五單向器123的輸出端連接第六開關(guān)1266的一不動(dòng)端，第七射頻接口 120連接第六單向器124的輸入端,第六單向器124的輸出端連接第六開關(guān)126的另一不動(dòng)端,第五開關(guān)125的動(dòng)端及第六開關(guān)126的動(dòng)端連接合路器127的輸入端，合路器127輸出端連接第八射頻接口 128。
[0037]其中，第一單向器114、第三單向器121、第五單向器123為頻段800_1000MHZ的單向器；第二單向器115、第四單向器122、第六單向器124為頻段1710_2700MHz的單向器；合路器127的頻段為700M-2.7GHz。
[0038]圖3為本實(shí)用新型一實(shí)施例的雜散測試射頻箱的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖3所示，射頻箱還包括:雜散測試射頻箱；其中，雜散測試射頻箱包括:[0039]信號輸入接口 140a、信號輸入接口 140b、信號輸入接口 140c、第一耦合器141、第二耦合器142、雜散箱第一開關(guān)143、雜散箱第二開關(guān)144、雜散箱第三開關(guān)145、第一多頻合路器146、第二多頻合路器147、第三多頻合路器148、雜散箱第四開關(guān)149、第一負(fù)載150、第二負(fù)載151、第四多頻合路器152、擴(kuò)展接口 153、雜散箱第五開關(guān)154及信號輸出接口 155;其中，
[0040]第一稱合器141為一 20dB稱合器,第二稱合器142為一 IOdB稱合器,兩個(gè)稱合器的輸出端相連接，信號輸入接口 140a連接第二耦合器142的耦合端；信號輸入接口 140b連接第一耦合器141的輸入端，信號輸入接口 140c連接第一口喝起141的耦合端。
[0041]雜散箱第一開關(guān)143，連接第二耦合器142的輸入端，并選擇性地連接雜散箱第二開關(guān)144、雜散箱第三開關(guān)145以及第三多頻合路器148的其中之一；
[0042]雜散箱第二開關(guān)144，選擇性地連接第一多頻合路器146、第二多頻合路器147以及第三多頻合路器148的其中之一；
[0043]雜散箱第三開關(guān)145，選擇性地連接第一負(fù)載150、第四多頻合路器152以及擴(kuò)展接口 153的其中之一；
[0044]雜散箱第四開關(guān)149，連接信號輸出接口 155，并選擇性地連接第一多頻合路器146、第二多頻合路器147、第三多頻合路器148、雜散箱第五開關(guān)154以及擴(kuò)展接口 153的其中之一；
[0045]雜散箱第五開關(guān)154，選擇性地連接第二負(fù)載151以及第四多頻合路器152的其中
之一 O
[0046]在本實(shí)施例中，第一多頻合路器146包括四個(gè)頻段:880-915MHz、825-835MHz、1710-1785MHz 及 1920_1980MHz。
[0047]第二多頻合路器 147 包括:870-880MHz、921-960MHz、1805-1880MHz、2010-2030MHz 及 2110_2170MHz。
[0048]第三多頻合路器148 包括:700-820MHz、851-866MHz、1785-1805MHz、1880-1920MHz (F 頻段)及 2170_2300MHz。
[0049]第四多頻合路器152 包括:2300-2400MHz (E 頻段)、2570_2620MHz (D 頻段)。
[0050]下述以一具體實(shí)施例來說明利用本實(shí)用新型的測試系統(tǒng)進(jìn)行實(shí)際測試的步驟及效果。圖4為本實(shí)用新型一具體實(shí)施例進(jìn)行發(fā)射機(jī)常規(guī)測試時(shí)的測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖所示，在進(jìn)行發(fā)射機(jī)常規(guī)測試時(shí)，射頻箱I為常規(guī)測試射頻箱、并且還用到了頻譜分析儀3、有用信號生成器4、寬帶信號生成器6、功率計(jì)7、主控計(jì)算機(jī)8 ;其中，測試步驟包括:[0051 ] 步驟S401，測試路徑校準(zhǔn)。首先，將寬帶信號生成器6連接常規(guī)測試射頻箱的第一射頻接口 101，將頻譜分析儀3連接第二射頻接口 110，第四開關(guān)116連接負(fù)載；寬帶信號生成器6發(fā)出信號，利用主控計(jì)算機(jī)8控制第一開關(guān)104及第二開關(guān)109分別設(shè)置到40dB衰減器105、30dB衰減器106、20dB衰減器107、IOdB衰減器108處，分別記錄功率計(jì)7讀數(shù)及頻譜分析儀3讀數(shù)，獲取測試通路的插損值；
[0052]步驟S402，測試路徑確認(rèn)。將待測基站9的天線口連接至常規(guī)測試射頻箱的第一射頻接口 101，將頻譜分析儀3連接第二射頻接口 110，將有用信號生成器4連接第三射頻接口 111，第三開關(guān)112及第四開關(guān)116調(diào)整為跳線連接；根據(jù)待測基站9的額定輸出功率，利用有用信號生成器4發(fā)送一選定頻點(diǎn)的信號，頻譜分析儀3讀取選定頻點(diǎn)的信號，判斷測試路徑是否正確；
[0053]步驟S403，發(fā)射機(jī)性能測試。調(diào)用頻譜分析儀3的LTE插件，進(jìn)行待測基站9的發(fā)射功率、占用帶寬、總功率動(dòng)態(tài)范圍、頻率誤差、誤差向量幅度、相鄰頻道泄漏比、總功率動(dòng)態(tài)范圍、下行參考信號功率等數(shù)據(jù)的測試。
[0054]因?yàn)榇郎y基站9屬于大功率輸出設(shè)備，而頻譜分析儀3對于輸入端信號的大小有要求(為了保護(hù)前端衰減器，需要對輸入信號的大小做出限制。)為了防止開關(guān)位置誤置對頻譜分析儀3造成損害。需要在待測基站9加載功率之前，首先對開關(guān)位置進(jìn)行確認(rèn)(上述步驟S402)以確認(rèn)第一開關(guān)104和第二開關(guān)109之間的衰減器設(shè)置在了預(yù)期的位置上。當(dāng)確定開關(guān)位置無誤之后，再將待測基站9的輸出滿功率加載，進(jìn)行上述測試項(xiàng)目的測試。
[0055]通過以上【具體實(shí)施方式】，在實(shí)際測試中，該系統(tǒng)對于市場上主流廠家(Agilent公司和RS公司)的主流頻譜分析儀(N9020A和FSQ26)都能納入到本實(shí)用新型的體系中，實(shí)現(xiàn)了相同用戶需求不同儀表的指令之間的映射，提高了測試系統(tǒng)的靈活性。
[0056]圖5為本實(shí)用新型一具體實(shí)施例進(jìn)行特殊頻段雜散的發(fā)射機(jī)測試的測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖。圖6為圖5所述實(shí)施例的射頻箱連接及開關(guān)初始位置的示意圖。如圖5及圖6所示，以測試880MHz-915MHz的特殊頻段的雜散為例，用到的射頻箱I為常規(guī)測試射頻箱以及雜散測試射頻箱，并且還用到了頻譜分析儀3、有用信號生成器4、寬帶信號生成器6、功率計(jì)7及主控計(jì)算機(jī)8 ;其中，測試步驟包括:
[0057]步驟S501，特殊頻段雜散的發(fā)射機(jī)測試路徑校準(zhǔn)。首先，將常規(guī)測試射頻箱的第一射頻接口 101連接有用信號生成器4，第二射頻接口 110連接雜散測試射頻箱的信號輸入接口 140b，雜散測試射頻箱的信號輸出接口 155連接頻譜分析儀3，兩個(gè)射頻箱的其他接口接負(fù)載；利用主控計(jì)算機(jī)8將常規(guī)測試射頻箱中的第一開關(guān)104及第二開關(guān)109調(diào)節(jié)為跳線連接，第四開關(guān)116調(diào)節(jié)為連接負(fù)載；將雜散箱第一開關(guān)143調(diào)節(jié)于連接雜散箱第二開關(guān)144，雜散箱第二開關(guān)144調(diào)節(jié)于連接第一多頻合路器146的880-815MHz項(xiàng)，雜散箱第四開關(guān)149調(diào)節(jié)于連接第一多頻合路器146。設(shè)置有用信號生成器4和頻譜分析儀3的頻段為880-915MHZ，打開有用信號源，利用頻譜分析儀3測量記錄插損值。
[0058]在步驟S501中通過調(diào)整雜散測試射頻箱的開關(guān)，及有用信號生成器4和頻譜分析儀3的頻段，可以測量其他頻段的插損值。
[0059]步驟S502，特殊頻段雜散的發(fā)射機(jī)測試路徑的確認(rèn)。首先，將待測基站9的天線口連接至常規(guī)測試射頻箱的第一射頻接口 101，第二射頻接口 110連接雜散測試射頻箱的信號輸入接口 140b，信號輸入接口 140a連接寬帶信號生成器6，信號輸入接口 140c連接功率計(jì)7，信號輸出接口 155連接頻譜分析儀3，其他接口接負(fù)載；調(diào)節(jié)常規(guī)測試射頻箱及雜散測試射頻箱的開關(guān)，讀取頻譜分析儀3及功率計(jì)7數(shù)值判斷特殊頻段雜散的發(fā)射機(jī)測試路徑是否正確。
[0060]步驟S503，測試發(fā)射機(jī)雜散數(shù)據(jù)。設(shè)置頻譜分析儀3頻率范圍為880-915MHZ，按照規(guī)范的要求設(shè)置RBW等參數(shù)，讀取最高的雜散值，完成測試。
[0061 ] 其中，在本實(shí)施例的步驟S502中，具體的測試路徑確認(rèn)步驟如下:
[0062]步驟S502a，設(shè)置射頻箱的開關(guān)在如圖6所示的初始位置(連接各自的第一個(gè)不動(dòng)端)，提示被測廠家工程師設(shè)置待測基站9在所連接天線口按照測試規(guī)范的要求發(fā)射規(guī)定格式的信號。讀取功率計(jì)7數(shù)值，檢測是否在合適范圍內(nèi)，若在合理范圍內(nèi)則繼續(xù)執(zhí)行下一步，若超出范圍則提示常規(guī)測試射頻箱設(shè)置有誤。
[0063]步驟502b,對于F頻段設(shè)備，可以將雜散射頻箱的雜散第一開關(guān)143、第二開關(guān)144、第三開關(guān)145、第四開關(guān)149、第五開關(guān)154的不動(dòng)端依次調(diào)節(jié)在5、1、1、3、1位置；對于E頻段設(shè)備，可以將雜散射頻箱的開關(guān)依次調(diào)節(jié)在1、1、2、4、2位置；對于D頻段設(shè)備，可以將雜散射頻箱的開關(guān)依次調(diào)節(jié)在1、1、3、4、2位置；然后在頻譜分析儀3執(zhí)行測試模型驗(yàn)證，根據(jù)測試標(biāo)準(zhǔn)，驗(yàn)證步驟S502a中發(fā)出信號是否符合標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定。
[0064]步驟S502c，調(diào)節(jié)雜散測試射頻箱的雜散箱第一開關(guān)143連接雜散箱第二開關(guān)144，其他開關(guān)均在初始位置(連接各自的第一個(gè)不動(dòng)端)。利用寬帶信號生成器6發(fā)送0dBmi900MHz信號，設(shè)置頻譜分析儀3中心頻率900MHz，帶寬IMHz，RBW=30KHz，檢波方式RMS,讀取功率P，然后關(guān)閉信源輸出；判斷P是否在合理范圍之內(nèi)，若在就繼續(xù)執(zhí)行下一步，若不在則提示雜散射頻箱開關(guān)或連接存在異常。
[0065]步驟S502d，將常規(guī)測試射頻箱的第一開關(guān)104及第二開關(guān)105調(diào)節(jié)為跳線連接，讀取功率計(jì)7的數(shù)值，判斷是否在合適范圍內(nèi)，若在則可以執(zhí)行步驟S503進(jìn)行雜散數(shù)據(jù)的測試，若超出范圍則提示常規(guī)測試射頻箱開關(guān)設(shè)置有誤。
[0066]在本實(shí)施例中，當(dāng)一個(gè)頻段的雜散數(shù)據(jù)測試結(jié)束后，若需要測試其他頻段的雜散時(shí)，需要重新執(zhí)行步驟S502a至S502d，對路徑重新進(jìn)行確認(rèn)。
[0067]通過以上方案，實(shí)現(xiàn)了對測試系統(tǒng)中的開關(guān)位置進(jìn)行二次確認(rèn)，防止由于基站設(shè)備的輸出功率較大，如果系統(tǒng)中開關(guān)位置有誤或置錯(cuò)，將有可能對測試鏈路及測試儀表造成損壞。本系統(tǒng)在開關(guān)位置確認(rèn)后，再提示待測基站的輸出功率打開，保護(hù)了測試鏈路及儀器。
[0068]本實(shí)用新型提供了一種適用于LTE系統(tǒng)的基站射頻測試系統(tǒng)，該測試系統(tǒng)搭建簡單，應(yīng)用方便，可以適用多種主流頻譜分析儀，并且實(shí)現(xiàn)了在測試時(shí)先對測試系統(tǒng)中開關(guān)位置的確認(rèn)，有效保護(hù)了測試鏈路及測試儀器，提高了測試系統(tǒng)的魯棒性。
[0069]以上所述的具體實(shí)施例，對本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案和有益效果進(jìn)行了進(jìn)一步詳細(xì)說明，所應(yīng)理解的是，以上所述僅為本實(shí)用新型的具體實(shí)施例而已，并不用于限定本實(shí)用新型的保護(hù)范圍，凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)，所做的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種適用于LTE系統(tǒng)的基站射頻測試系統(tǒng)，連接待測基站，用于測試所述待測基站的射頻數(shù)據(jù)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括:頻譜分析儀、信道模擬器、有用信號生成器、干擾信號生成器、寬帶信號生成器、功率計(jì)、主控計(jì)算機(jī)及射頻箱；其中， 所述主控計(jì)算機(jī)連接所述頻譜分析儀、信道模擬器、有用信號生成器、干擾信號生成器、寬帶信號生成器、功率計(jì)及射頻箱；所述射頻箱連接所述頻譜分析儀、信道模擬器、有用信號生成器、干擾信號生成器、寬帶信號生成器、功率計(jì)及所述待測基站；所述功率計(jì)連接所述寬帶信號生成器；其中， 所述信道模擬器，用于模擬移動(dòng)通信的多徑衰落信道； 所述有用信號生成器，用于產(chǎn)生有用信號； 所述干擾信號生成器，用于產(chǎn)生干擾信號； 所述寬帶信號生成器，用于生成寬帶信號； 所述功率計(jì)，用于測試所述寬帶信號的功率； 所述射頻箱包括:開關(guān)、負(fù)載、單向器、耦合器、衰減器、合路器、多頻合路器及射頻接口 ；其中， 所述開關(guān)連接所述負(fù)載、單向器、耦合器衰減器、合路器、多頻合路器及射頻接口，用于切換測試通路； 所述射頻接口用于連接所述待測基站、頻譜分析儀、信道模擬器、有用信號生成器、干擾信號生成器、寬帶信 號生成器、功率計(jì)； 所述頻譜分析儀，用于測試所述待測基站的射頻數(shù)據(jù)，并顯示測試結(jié)果； 所述主控計(jì)算機(jī)，用于控制所述射頻箱的開關(guān)、頻譜分析儀、信道模擬器、有用信號生成器、干擾信號生成器、寬帶信號生成器及功率計(jì)，并用于控制測試流程及顯示測試結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述射頻箱包括:常規(guī)測試射頻箱；其中，所述常規(guī)測試射頻箱包括: 第一射頻接口、第二射頻接口、第三射頻接口、6dB耦合器、6dB衰減器、IOdB衰減器、20dB衰減器、30dB衰減器、40dB衰減器、第一單向器、第二單向器、第一開關(guān)、第二開關(guān)、第三開關(guān)、第四開關(guān)及兩個(gè)負(fù)載；其中， 所述第一射頻接口連接所述6dB耦合器的輸入端，所述6dB耦合器的直通輸出端連接所述6dB衰減器的一端，所述6dB衰減器的另一端連接所述第一開關(guān)的動(dòng)端，所述第一開關(guān)及第二開關(guān)分別至少包括5個(gè)不動(dòng)端，所述第一開關(guān)及第二開關(guān)之間對應(yīng)的每一對不動(dòng)端分別連接40dB衰減器、30dB衰減器、20dB衰減器、IOdB衰減器及跳線，所述第二開關(guān)的動(dòng)端連接所述第二射頻接口； 所述第三射頻接口連接所述第三開關(guān)的動(dòng)端，所述第三開關(guān)及第四開關(guān)分別包括4個(gè)不動(dòng)端，所述第三開關(guān)的第一不動(dòng)端連接所述第一單向器的輸入端，所述第四開關(guān)的第一不動(dòng)端連接所述第一單向器的輸出端，所述第三開關(guān)的第二不動(dòng)端連接所述第二單向器的輸入端，所述第四開關(guān)的第二不動(dòng)端連接所述第二單向器的輸出端，所述第三開關(guān)的第三不動(dòng)端通過跳線連接所述第四開關(guān)的第三不動(dòng)端，所述第三開關(guān)的第四不動(dòng)端連接一負(fù)載，所述第四開關(guān)的第四不動(dòng)端連接另一負(fù)載，所述第四開關(guān)的動(dòng)端連接所述6dB耦合器的奉禹合端。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述常規(guī)測試射頻箱還包括:第四射頻接口、第五射頻接口、第六射頻接口、第七射頻接口、第八射頻接口、第三單向器、第四單向器、第五單向器、第六單向器、第五開關(guān)、第六開關(guān)及合路器；其中， 所述第四射頻接口連接所述第三單向器的輸入端，所述第三單向器的輸出端連接所述第五開關(guān)的一不動(dòng)端，所述第五射頻接口連接所述第四單向器的輸入端，所述第四單向器的輸出端連接所述第五開關(guān)的另一不動(dòng)端，所述第六射頻接口連接所述第五單向器的輸入端，所述第五單向器的輸出端連接所述第六開關(guān)的一不動(dòng)端，所述第七射頻接口連接所述第六單向器的輸入端，所述第六單向器的輸出端連接所述第六開關(guān)的另一不動(dòng)端，所述第五開關(guān)的動(dòng)端及第六開關(guān)的動(dòng)端連接所述合路器的輸入端，所述合路器輸出端連接所述第八射頻接口。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述第一單向器、第三單向器、第五單向器為頻段800-1000MHZ的單向器； 所述第二單向器、第四單向器、第六單向器為頻段1710-2700MHZ的單向器。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述射頻箱還包括:雜散測試射頻箱；其中，所述雜散測試射頻箱包括: 雜散箱第一開關(guān)、雜散箱第二開關(guān)、雜散箱第三開關(guān)、雜散箱第四開關(guān)、雜散箱第五開關(guān)、第一多頻合路器、第二多頻合路器、第三多頻合路器、第四多頻合路器、第一耦合器、第二耦合器、第一負(fù)載、第二負(fù)載、擴(kuò)展接口、信號輸入接口及信號輸出接口 ；其中， 所述信號輸入接口連接所述第一耦合器及第二耦合器； 所述雜散箱第一開關(guān) ，連接所述第二耦合器，并選擇性地連接所述雜散箱第二開關(guān)、雜散箱第三開關(guān)以及第三多頻合路器的其中之一； 所述雜散箱第二開關(guān)，選擇性地連接所述第一多頻合路器、第二多頻合路器以及第三多頻合路器的其中之一； 所述雜散箱第三開關(guān)，選擇性地連接所述第一負(fù)載、第四多頻合路器以及擴(kuò)展接口的其中之一； 所述雜散箱第四開關(guān)，連接所述信號輸出接口，并選擇性地連接所述第一多頻合路器、第二多頻合路器、第三多頻合路器、雜散箱第五開關(guān)以及擴(kuò)展接口的其中之一； 所述雜散箱第五開關(guān)，選擇性地連接所述第二負(fù)載以及第四多頻合路器的其中之一。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述射頻數(shù)據(jù)包括:最大輸出功率、占用帶寬、頻率誤差、誤差向量幅度、相鄰頻道泄漏比、總功率動(dòng)態(tài)范圍、下行參考信號功率、接收機(jī)靈敏度電平、動(dòng)態(tài)范圍、接收機(jī)雜散數(shù)據(jù)、多徑衰落傳播條件下的PUSCH性能、上行鏈路定時(shí)調(diào)整的性能要求、PUSCH上HARQ-ACK復(fù)用的性能要求、PRACH虛警概率及漏檢率。
【文檔編號】H04B17/00GK203537404SQ201320630130
【公開日】2014年4月9日 申請日期:2013年10月12日 優(yōu)先權(quán)日:2013年10月12日
【發(fā)明者】馬鑫, 李莉莉, 蘇潔, 劉傳利, 陳永欣, 楊波, 劉菁, 何桂立, 史德年, 秦巖, 魏哲, 賀鵬 申請人:工業(yè)和信息化部電信傳輸研究所