傾斜檢查裝置及其方法
【專利摘要】提供一種傾斜檢查裝置和傾斜檢查方法。所述傾斜檢查裝置檢查包括傳感器和透鏡的透鏡模塊，并且該傾斜檢查裝置包括：發(fā)光部件，其擴散并輸出光以檢查透鏡模塊的傾斜；反射器，其反射擴散的光；接口，如果反射的光由透鏡模塊的傳感器檢測到，則該接口從傳感器接收檢測的結(jié)果；以及檢測器，其通過使用通過接口接收到的檢測結(jié)果來檢測深度信息，并且基于深度信息檢測透鏡和傳感器之間的傾斜狀態(tài)。因此，提高了傾斜檢查處理的效率。
【專利說明】傾斜檢查裝置及其方法
[0001]相關(guān)申請的交叉引用
[0002]此申請要求于2012年9月17日向韓國知識產(chǎn)權(quán)局提交的韓國專利申請第10-2012-102987號的優(yōu)先權(quán)，其公開通過引用全部包括于此。
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0003]本發(fā)明總構(gòu)思一般涉及一種傾斜檢查裝置及其方法，更具體地，涉及一種當(dāng)組裝透鏡和傳感器時用于估計傾斜過程的傾斜檢查裝置及其方法。
【背景技術(shù)】
[0004]數(shù)字照相機是通過透鏡接收外界光并且使用接收到的光通過傳感器提取圖像數(shù)據(jù)的裝置。因此，透鏡和傳感器是數(shù)字照相機的重要元件。
[0005]如果當(dāng)數(shù)字照相機生產(chǎn)時透鏡和傳感器沒有組裝好，則透鏡和傳感器之間的水平(level)被傾斜。傾斜影響圖像品質(zhì)。因此，估計傾斜度以確定透鏡和傳感器是否正常地組裝。
[0006]檢驗器在即時顯示模式(live view mode)中操作并估計透鏡和傳感器組裝在其中的透鏡模塊。換句話說，在即時顯示模式中，檢驗器在角區(qū)域和中心區(qū)域測量自動聚焦(AF)數(shù)據(jù)，并且測量AF數(shù)據(jù)的峰值的位置來估計傾斜度。根據(jù)此方法，如果傳感器在即時顯示模式中操作，則分辨度更低，并且該AF數(shù)據(jù)與真實AF數(shù)據(jù)有差別。此外，即使通過使用AF數(shù)據(jù)的峰值調(diào)整了傾斜，也會發(fā)生誤差。此外，在全尺寸靜止捕捉模式中，很難通過連續(xù)地驅(qū)動傳感器來精確地找到AF數(shù)據(jù)的峰值的位置。因此，不存在通過使用AF數(shù)據(jù)的峰值來校正誤差的方法。
[0007]因此，需要容易地檢查傾斜并獲得精確的傾斜校正值的技術(shù)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0008]示范性實施例解決至少上述問題和/或缺點及上面沒有描述的其它缺點。此外，示范性實施例不局限于克服上述缺點，并且示范性實施例可以提供除克服上面描述的任一問題以外的其他用途。
[0009]本發(fā)明總構(gòu)思的附加特征和/或用途將在下面的描述中被部分地闡明，以及從該描述中將部分地明顯，或者可以通過實踐本發(fā)明總構(gòu)思而學(xué)習(xí)到。
[0010]示范性實施例提供一種用于容易地檢查傾斜并獲得精確的傾斜校正值的傾斜檢查裝置及其方法。
[0011]本發(fā)明構(gòu)思的示范性實施例提供一種檢查包括傳感器和透鏡的透鏡模塊的傾斜檢查裝置。所述傾斜檢查裝置可以包括:發(fā)光部件，其擴散并輸出光以檢查透鏡模塊的傾斜；反射器，其反射擴散的光；接口，如果反射的光由透鏡模塊的傳感器感測，則該接口從傳感器接收檢測的結(jié)果；以及檢測器，其通過使用通過接口接收到的檢測結(jié)果來檢測深度信息，并且基于深度信息檢測透鏡和傳感器之間的傾斜狀態(tài)。[0012]所述檢測器可以檢測深度信息當(dāng)中的傳感器的中心區(qū)域的深度和傳感器的角區(qū)域的深度。
[0013]所述檢測器可以計算檢測到的深度的平均值、計算平均值和深度之間的差、以及比較所計算的值以檢測傾斜狀態(tài)。
[0014]所述傾斜檢查裝置還可以包括:存儲器，其存儲深度信息和傾斜狀態(tài)；以及輸出部件，其輸出深度信息和傾斜狀態(tài)。
[0015]所述發(fā)光部件可以多次輸出具有90°的相位差的光。
[0016]本發(fā)明構(gòu)思的示范性實施例還提供一種檢查包括傳感器和透鏡的透鏡模塊的傾斜檢查方法。所述傾斜檢查方法可以包括:擴散并輸出光以檢查透鏡模塊的傾斜；反射擴散的光；如果反射的光由透鏡模塊的傳感器感測到，則從傳感器接收檢測的結(jié)果；以及通過使用接收到的檢測結(jié)果來檢測深度信息，并且基于深度信息檢測透鏡和傳感器之間的傾斜狀態(tài)。
[0017]可以檢測深度信息當(dāng)中的傳感器的中心區(qū)域的深度和傳感器的角區(qū)域的深度。
[0018]可以計算檢測到的深度的平均值、可以計算平均值和深度之間的差、以及可以比較所計算的值以檢測傾斜狀態(tài)。
[0019]所述傾斜檢查方法還可以包括:存儲深度信息和傾斜狀態(tài)；以及顯示深度信息和傾斜狀態(tài)。
[0020]可以多次輸出具有90°的相位差的光。
[0021]如上所述，根據(jù)本發(fā)明總構(gòu)思的多個示范性實施例，可以在組合透鏡和傳感器的過程中容易地檢查傾斜。此外，可以獲得精確的校正值以提高組合透鏡和傳感器的過程的效率。
[0022]本發(fā)明構(gòu)思的示范性實施例還提供一種傾斜檢查裝置，包括:發(fā)光部件，用于輸出擴散的光以檢查透鏡模塊的傾斜；反射器，用于反射擴散的光；透鏡模塊，用于接收反射的光并確定反射光的光線的深度差；以及檢測器，用于計算確定的深度差的平均值，計算深度差的平均值和深度差之間的差，以及比較所計算的值以檢測傾斜狀態(tài)。
[0023]在示范性實施例中，確定用于反射光的中心區(qū)域的深度差和反射光的角區(qū)域的深度差的光線。
[0024]在示范性實施例中，所述透鏡模塊包括:透鏡，用于接收反射光；以及傳感器，用于感測穿過透鏡的反射光的中心區(qū)域和角區(qū)域。
[0025]在示范性實施例中，所述傾斜檢查裝置還包括:存儲器，其存儲深度差信息和傾斜狀態(tài)；以及輸出部件，其輸出深度差信息和傾斜狀態(tài)。
[0026]本發(fā)明構(gòu)思的示范性實施例還提供一種檢查透鏡模塊的傾斜的方法，包括:輸出擴散的光；反射擴散的光；接收反射的光并確定反射的光的光線的深度差；以及計算確定的深度差的平均值，計算深度差的平均值和深度差之間的差，以及比較所計算的值以檢測傾斜狀態(tài)。
[0027]在示范性實施例中，利用透鏡和傳感器執(zhí)行確定反射光的光線的深度差。
[0028]在示范性實施例中，確定用于反射光的中心區(qū)域中的深度差和反射光的角區(qū)域的深度差的光線。【專利附圖】

【附圖說明】
[0029]通過下面結(jié)合附圖對該實施例的描述，本發(fā)明總構(gòu)思的這些和/或其它特征和用途將變得明顯且更易理解，其中:
[0030]圖1和圖2是示出根據(jù)本發(fā)明總構(gòu)思的示范性實施例的傾斜檢查裝置的結(jié)構(gòu)的框圖；
[0031]圖3是示出根據(jù)本發(fā)明總構(gòu)思的示范性實施例的傾斜檢查裝置的結(jié)構(gòu)的視圖；
[0032]圖4是示出根據(jù)本發(fā)明總構(gòu)思的示范性實施例的、通過使用光的相位計算深度的方法的視圖；
[0033]圖5是示出根據(jù)本發(fā)明總構(gòu)思的示范性實施例的傾斜檢查方法的流程圖；以及
[0034]圖6是示出根據(jù)本發(fā)明總構(gòu)思的示范性實施例的檢測深度的方法的流程圖。
【具體實施方式】
[0035]參考附圖更詳細地描述示范性實施例。
[0036]在下面的描述中，相同的附圖標記即使在不同的附圖中也用于相同的元件。在描述中定義的事項，諸如詳細結(jié)構(gòu)和元件，是為了幫助全面理解示范性實施例而提供的。因而，顯然示范性實施例可以在沒有那些具體定義的事項的情況下執(zhí)行。此外，由于公知的功能或結(jié)構(gòu)將以不必要的細節(jié)混淆示范性實施例，因此不會詳細描述公知的功能或結(jié)構(gòu)。
[0037]圖1和圖2是示出根據(jù)本發(fā)明總構(gòu)思的示范性實施例的傾斜檢查裝置100的結(jié)構(gòu)的框圖。
[0038]參照圖1，傾斜檢查裝置100包括發(fā)光部件110、反射器120、接口 130和檢測器140。發(fā)光部件110擴散并輸出光以檢查包括透鏡和傳感器的透鏡模塊10的傾斜。發(fā)光部件110可以包括輸出光的光源，以及收集和擴散光的透鏡與擴散器。反射器120將擴散光反射在透鏡模塊10上。透鏡模塊10被連接到傾斜檢查裝置100的接口 130。
[0039]從反射器120反射的光被輸入到透鏡模塊10中。透鏡模塊10的深度傳感器感測輸入的光并向傾斜檢查裝置100發(fā)送感測結(jié)果。接口 130接收透鏡模塊10的深度傳感器的感測結(jié)果并向檢測器140發(fā)送感測結(jié)果。
[0040]檢測器140使用通過接口接收到的感測結(jié)果來檢測深度信息。檢測器140還基于深度信息檢測透鏡和傳感器之間的傾斜狀態(tài)。檢測器140還可以從五個區(qū)域，S卩，從傳感器的中心區(qū)域和角區(qū)域檢測深度信息的深度。檢測器140可以計算從五個區(qū)域檢測到的深度的平均值，以計算所計算的平均值和檢測到的深度之間的差，以及比較所計算的值以檢測傾斜狀態(tài)。從其檢測深度的區(qū)域不局限于上述區(qū)域。因此，可以從其他區(qū)域檢測深度，并且其他區(qū)域可以添加到所述五個區(qū)域以從六個或更多區(qū)域檢測深度。參照圖2，傾斜檢查裝置100還可以包括存儲器150和輸出部件160。
[0041]存儲器150存儲檢測到的深度信息和傾斜狀態(tài)。存儲器150還可以存儲用于驅(qū)動傾斜檢查裝置100的程序。例如，存儲器150可以包括只讀存儲器(ROM)、隨機存取存儲器(RAM)或可從傾斜檢查裝置100移除的存儲卡(例如，安全數(shù)字(SD)卡或記憶棒)。存儲器150還可以包括非易失性存儲器、易失性存儲器、硬盤驅(qū)動器(HDD)、或者固態(tài)存儲器(SSD)。
[0042]輸出部件160輸出檢測到的深度信息和傾斜狀態(tài)。顯示的深度信息可以是傳感器的中心區(qū)域和角區(qū)域與反射器120之間的距離。傾斜狀態(tài)可以是中心區(qū)域和角區(qū)域的深度的平均值與中心區(qū)域和角區(qū)域的深度之間的差。輸出部件160可以實現(xiàn)為各種類型的顯示單元，諸如液晶顯示器(IXD)面板、等離子體顯示板(PDP)、有機發(fā)光二極管(OLED)、真空熒光顯示(VFD)、場致發(fā)射顯示器(FED)、電致發(fā)光顯示器(ELD)等等?？商鎿Q地，輸出部件160可以是打印機。
[0043]現(xiàn)在將詳細描述透鏡模塊10的傾斜檢查裝置100的結(jié)構(gòu)。
[0044]圖3是示出根據(jù)本發(fā)明總構(gòu)思的示范性實施例的傾斜檢查裝置的結(jié)構(gòu)的視圖。
[0045]參照圖3的圖示⑴，發(fā)光部件110包括擴散器111、透鏡112和光源113。光源113可以是發(fā)光二極管。發(fā)光二極管也被稱為光電二極管并且可以輸出具有紅外范圍的特定頻率的光。透鏡112積聚從發(fā)光二極管輸出的光。擴散器111擴散通過透鏡112積聚的光。例如，擴散器111可以是由玻璃纖維或金屬網(wǎng)構(gòu)成的板的形式。相對于反射器120，發(fā)光部件110布置在與透鏡模塊10相同側(cè)以被傾斜檢查裝置100檢查，即，布置在反射器120的相對側(cè)，以用于向反射器120輸出光。
[0046]與發(fā)光部件110和透鏡模塊10相反地布置反射器120以將從發(fā)光部件110輸出的光反射到透鏡模塊10。例如，反射器120可以是白墻(white wall)。從反射器120反射的光可以均勻地入射在透鏡模塊10上。
[0047]將要檢查的透鏡模塊10包括透鏡11和傳感器12并且可以被連接到將被安裝在檢查板(未示出)上的照相機主板20。照相機主板20提供用于控制透鏡模塊10的控制模式并驅(qū)動透鏡模塊10。照相機主板20還可以包括連接到傾斜檢查裝置100的接口 130的端子或連接器，以向傾斜檢查裝置100發(fā)送感測的數(shù)據(jù)。
[0048]透鏡模塊10可以僅包括深度傳感器或者可以包括感測深度和顏色的傳感器。深度傳感器可以感測具有特定頻率的光，例如，具有紅外范圍的850nm的波長的光。從反射器120反射的光穿過透鏡11然后由傳感器12感測到。
[0049]如圖3的圖示(I)所示，如果傳感器12相對于透鏡11傾斜，則在傳感器12的區(qū)域a和e感測的光的量和相位不同。
[0050]將首先描述使用光的量來檢測深度和傾斜狀態(tài)的過程，然后將描述使用相位來檢測深度和傾斜狀態(tài)的過程。圖3的圖示(2)示出傳感器12的正面。參照圖3的圖示(2)，區(qū)域a和b相距反射器120最遠，因此從區(qū)域a和b感測的光的量最小。區(qū)域d和e最接近反射器120，因此從區(qū)域d和e感測的光的量最大。由傳感器120感測的結(jié)果通過接口130被發(fā)送到檢測器140。檢測器140通過使用從預(yù)定區(qū)域感測的光的量檢測深度信息來檢測區(qū)域a、b、d和e的深度信息，并檢測傳感器12是否傾斜。檢測器140檢測區(qū)域a、b、d和e的深度信息并計算區(qū)域a、b、d和e的深度的平均值。檢測器140可以計算平均值和深度之間的差以檢測傾斜狀態(tài)。
[0051]例如，區(qū)域a和b的深度是每個1002mm (毫米)，區(qū)域c的深度是1000mm，并且區(qū)域d和e的深度是每個998mm。五個區(qū)域的深度的平均值是1000mm。因此，區(qū)域a和b的傾斜狀態(tài)是每個+2mm，區(qū)域c的傾斜狀態(tài)是0mm，并且區(qū)域d和e的傾斜狀態(tài)是每個_2mm。檢測到的傾斜狀態(tài)是傾斜校正。因此，根據(jù)本發(fā)明總構(gòu)思的示范性實施例，可以定量地檢測到傾斜校正。可以基于檢測到的傾斜校正調(diào)整透鏡模塊10的調(diào)整裝置(例如，調(diào)整螺旋)以校正傾斜。例如，工作人員知道如何對調(diào)整裝置進行調(diào)整以調(diào)整1_的傾斜，因此可以提高傾斜調(diào)整工作的效率。
[0052]圖3中示出當(dāng)透鏡11垂直于地面時檢查傳感器12的傾斜狀態(tài)的方法。通常，透鏡模塊10的透鏡11與鏡筒(barrel)組合。鏡筒可以放置在傾斜檢查裝置100的檢查板上。
[0053]當(dāng)開發(fā)成像設(shè)備時，執(zhí)行若干處理以組合模塊或調(diào)整設(shè)置值。因此，可以檢測鏡筒和透鏡之間是否發(fā)生組合誤差并在另一過程中進行調(diào)整。此外，如果鏡筒放置在檢查板上，則傾斜檢查裝置100可以在檢查板上包括定平設(shè)備(level device)，并且檢查員可以調(diào)整檢查板的水平狀態(tài)以保持鏡筒或透鏡模塊10的水平狀態(tài)。
[0054]因為當(dāng)鏡筒和透鏡11之間不發(fā)生組合誤差時可以調(diào)整檢查板以保證水平狀態(tài)，所以透鏡11可以保持垂直于地面。透鏡11可以保持垂直于地面，因此可以檢測傳感器12的傾斜狀態(tài)。因此，可以通過使用檢測到的傾斜校正來調(diào)整透鏡11和傳感器12的傾斜狀態(tài)。
[0055]現(xiàn)在將描述通過使用光的相位來檢測深度和傾斜狀態(tài)的過程。
[0056]圖4是示出根據(jù)本發(fā)明總構(gòu)思示范性實施例的、通過使用光的相位計算深度的方法的視圖。
[0057]光源113在每個預(yù)定時段輸出光。光源113輸出光的時段與傳感器112執(zhí)行感測的時段同步。在圖4中示出從光源113輸出的光的波形以及被反射并由傳感器12感測的光的波形。由于距離，輸出光與反射光有時間T的相位差。例如,光源113輸出具有相位變化0°、90°、180°和270°的光。在圖4中，當(dāng)從光源113輸出的光具有0°的相位時，光具有波形31。當(dāng)光具有180°的相位時，光具有波形32。當(dāng)光具有90°的相位時，光具有波形33。當(dāng)光具有270°的相位時，光具有波形34。如果計算以所述相位輸出的光的波形的區(qū)域并且使用區(qū)域之間的關(guān)系，則可以計算由于相位差而發(fā)生的延遲時間T。可以計算反射器120和傳感器12之間的距離和時間，因此可以檢測深度。換句話說，發(fā)光部件110可以四次輸出具有90°的相位差的光以檢測深度。
[0058]輸出光的90°相位差僅是示范性實施例。因此，可以根據(jù)用于計算深度的算法、檢查方法、檢查裝置等等不同地設(shè)置光的相位。輸出光的次數(shù)不局限于四次，因此可以根據(jù)光的相位差適當(dāng)?shù)卦O(shè)置。
[0059]在以上描述的處理中，透鏡12或擴散器111的效果可以被預(yù)先測量和預(yù)先計算以計算校正值，并且所計算的校正值可以存儲在檢測器140中。檢測器140可以應(yīng)用存儲的校正值以檢測深度。以上描述的通過使用相位檢測深度的方法僅是示范性實施例，因此可以根據(jù)不同方法通過使用相位來檢測深度。
[0060]此外，如上所述，檢測深度的方法被分類為使用光量的方法和使用相位的方法。然而，當(dāng)檢測器140實際上檢測深度時，兩個方法都可以應(yīng)用于檢測深度。
[0061]圖5是示出根據(jù)本發(fā)明總構(gòu)思示范性實施例的傾斜檢查方法的流程圖。
[0062]包括透鏡11和傳感器12的透鏡模塊10被安裝在檢查板20上，并且傳感器12被設(shè)置為接收深度信息。在操作S510中，發(fā)光部件110擴散并輸出光以檢測透鏡模塊10的傾斜。從發(fā)光部件Iio輸出的光具有紅外范圍的特定頻率。在操作S520中，反射器120反射擴散的光。
[0063]從反射器120反射的光入射在透鏡模塊10的傳感器12上，并且傳感器12感測光并輸出感測結(jié)果。在操作S530中，如果通過透鏡模塊10的傳感器12感測反射的光，則接口 130 (圖1)接收感測的結(jié)果。
[0064]在操作S540中，檢測器140通過使用包括接收到的光的量和光的相位信息的感測結(jié)果來檢測深度信息，并且基于深度信息檢測透鏡11和傳感器12之間的傾斜狀態(tài)。上面描述了詳細的傾斜檢查方法，因此此處將省略。
[0065]圖6是示出根據(jù)本發(fā)明總構(gòu)思示范性實施例的檢測深度的方法的流程圖。
[0066]參照圖6，在操作S610中，檢測器140檢測傳感器12的中心區(qū)域的深度和傳感器12的角區(qū)域的深度。例如，可以以毫米為單位檢測深度信息。
[0067]在操作S620中，檢測器140計算檢測到的深度的平均值，計算平均值和深度之間的差，以及比較所計算的值以檢測傾斜狀態(tài)。例如，可以通過使用從區(qū)域計算的平均值與從區(qū)域計算的深度之間的毫米差值來檢測傾斜狀態(tài)。檢測到的差值可以是傾斜校正。傾斜校正可以存儲在存儲器150中或可以輸出到輸出部件160。
[0068]根據(jù)以上描述的多個示范性實施例的傾斜檢查方法可以具體實現(xiàn)為程序并且提供到傾斜檢查裝置。
[0069]例如，提供一種存儲執(zhí)行以下操作的程序的非臨時的計算機可讀介質(zhì):如果通過透鏡模塊的傳感器感測到反射光，則從傳感器接收感測的結(jié)果；通過使用接收到的感測結(jié)果檢測深度信息，并且基于深度信息檢測透鏡和傳感器之間的傾斜狀態(tài)或執(zhí)行操作:檢測深度信息當(dāng)中的、傳感器的中心區(qū)域的深度與傳感器的角區(qū)域的深度；以及計算深度的平均值以計算平均值與深度之間的差并比較所計算的值以檢測傾斜狀態(tài)。
[0070]非臨時的計算機可讀介質(zhì)是指這樣的介質(zhì)，其不僅短時存儲數(shù)據(jù)(諸如寄存器、高速緩存存儲器、存儲器等等)而且還半永久地存儲數(shù)據(jù)，而且該介質(zhì)可由設(shè)備讀取。詳細地，以上描述的應(yīng)用或程序可以存儲并提供在諸如CD、DVD、硬盤、藍光盤、通用串行總線(USB)、存儲器卡、ROM等等之類的非臨時的計算機可讀介質(zhì)上。
[0071]前述示范性實施例和優(yōu)點僅僅是示范性的，并且不應(yīng)被理解為限制。本教導(dǎo)可以容易地應(yīng)用于其它類型的裝置。此外，示范性實施例的描述預(yù)期是說明性的，而不是限制權(quán)利要求的范圍，并且許多替換、修改和變化將對本領(lǐng)域技術(shù)人員是顯而易見的。
【權(quán)利要求】
1.一種檢查包括傳感器和透鏡的透鏡模塊的傾斜檢查裝置，所述傾斜檢查裝置包括: 發(fā)光部件，其擴散并輸出光以檢查透鏡模塊的傾斜； 反射器，其反射擴散的光； 接口，如果由透鏡模塊的傳感器感測到反射的光，則該接口從傳感器接收感測結(jié)果；以及 檢測器，其使用通過接口接收到的感測結(jié)果來檢測深度信息，并且基于深度信息檢測透鏡和傳感器之間的傾斜狀態(tài)。
2.如權(quán)利要求1所述的傾斜檢查裝置，其中所述檢測器檢測深度信息當(dāng)中的、傳感器的中心區(qū)域的深度和傳感器的角區(qū)域的深度。
3.如權(quán)利要求2所述的傾斜檢查裝置，其中所述檢測器計算檢測到的深度的平均值，計算平均值和深度之間的差值，以及比較所計算的差值以檢測傾斜狀態(tài)。
4.如權(quán)利要求1所述的傾斜檢查裝置，還包括: 存儲器，其存儲深度信息和傾斜狀態(tài)；以及 輸出部件，其輸出深度信息和傾斜狀態(tài)。
5.如權(quán)利要求1所述的傾斜檢查裝置，其中所述發(fā)光部件多次輸出具有預(yù)置相位差的光。
6.一種檢查包括傳感器和透鏡的透鏡模塊的傾斜檢查方法,所述傾斜檢查方法包括: 擴散并輸出光以檢查透鏡模塊的傾斜； 反射擴散的光； 如果由透鏡模塊的傳感器感測到反射的光，則從傳感器接收感測結(jié)果；以及使用接收到的感測結(jié)果來檢測深度信息，并且基于深度信息檢測透鏡和傳感器之間的傾斜狀態(tài)。
7.如權(quán)利要求6所述的傾斜檢查方法，其中檢測深度信息當(dāng)中的、傳感器的中心區(qū)域的深度和傳感器的角區(qū)域的深度。
8.如權(quán)利要求7所述的傾斜檢查方法，其中計算檢測到的深度的平均值，計算平均值和深度之間的差值，以及比較所計算的差值以檢測傾斜狀態(tài)。
9.如權(quán)利要求6所述的傾斜檢查方法，還包括: 存儲深度信息和傾斜狀態(tài)；以及 顯示深度信息和傾斜狀態(tài)。
10.如權(quán)利要求6所述的傾斜檢查方法，其中多次輸出具有預(yù)置相位差的光。
【文檔編號】H04N5/225GK103685873SQ201310291246
【公開日】2014年3月26日 申請日期:2013年7月11日 優(yōu)先權(quán)日:2012年9月17日
【發(fā)明者】全真阿 申請人:三星電子株式會社