麥克風(fēng)檢測方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種麥克風(fēng)檢測方法。于本發(fā)明方法中使用一待測麥克風(fēng)與一參考麥克風(fēng)分別接收來自一揚聲器的聲波，而分別產(chǎn)生一第一特征點分布圖形與一第二特征點分布圖形。第一特征點分布圖形以及第二特征點分布圖形分別包含多個對應(yīng)一頻率量化數(shù)值的特征點。通過比較第一特征點分布圖形與第二特征點分布圖形于一特定頻率量化數(shù)值區(qū)間內(nèi)的特征點數(shù)量差異來判定待測麥克風(fēng)的品質(zhì)。本案的麥克風(fēng)檢測方法可以直接于一開放式場所作檢測，于生產(chǎn)線上于制造完成后，毋須將產(chǎn)品再移至無響室，而是可立即于生產(chǎn)線一旁迅速作檢測，如此一來，大幅提高了整體效率。
【專利說明】麥克風(fēng)檢測方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明關(guān)于一種麥克風(fēng)檢測方法，且特別是關(guān)于一種在有背景噪音存在的情形下，仍能準(zhǔn)確判定麥克風(fēng)品質(zhì)的麥克風(fēng)檢測方法。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著影音技術(shù)的快速演進，目前市面上麥克風(fēng)的應(yīng)用范圍十分廣泛，舉凡像是攝錄影機、網(wǎng)絡(luò)攝影機以及耳機裝置等，通常一并連帶設(shè)置有麥克風(fēng)，以執(zhí)行收音的動作。
[0003]為了維持麥克風(fēng)的產(chǎn)品品質(zhì)，在出貨前通常會對麥克風(fēng)作品質(zhì)管理，通常是通過檢測儀器對麥克風(fēng)執(zhí)行測量，以獲得檢測數(shù)據(jù)及檢測波形。其后，再將測量而得的檢測數(shù)據(jù)及檢測波形與預(yù)先儲存內(nèi)建于檢測儀器中的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)及標(biāo)準(zhǔn)波形作比對。
[0004]然而，工廠為一開放式場所，麥克風(fēng)為一收音設(shè)備，因此不論是工廠里的機器運作或是吵雜人聲等背景噪音，皆難以避免地會一并被麥克風(fēng)所收錄進去。如此一來，于工廠里對麥克風(fēng)所測出的測試數(shù)據(jù)及測試波形，將會是包括背景噪音的測試數(shù)據(jù)及測試波形，因此，若據(jù)此以與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)及標(biāo)準(zhǔn)波形作比對，并不合理，因為其測試數(shù)據(jù)及測試波形并非單純反應(yīng)麥克風(fēng)本身品質(zhì)，而是還包括了背景噪音等噪聲。
[0005]進一步而言，由于標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)及標(biāo)準(zhǔn)波形預(yù)先內(nèi)建于檢測儀器當(dāng)中，故當(dāng)然無法得知當(dāng)下背景噪音對測試麥克風(fēng)的干擾程度，如此一來，拿測試波形及標(biāo)準(zhǔn)波形來作比對并不合理，此并未正確的反映出麥克風(fēng)的收音品質(zhì)，因此無法確實分辨出良品與不良品的差別。
[0006]因此，若欲避免上述情形，廠商則必須額外建立一無響室，無響室為一獨立的隔音測試區(qū)域，并使麥克風(fēng)在無響室內(nèi)進行收音，而后再與一標(biāo)準(zhǔn)波形作比較，以找出不良品質(zhì)的麥克風(fēng)。然而，此也必須額外耗費人力及時間成本在麥克風(fēng)的運送上，并不理想；此外，無響室的造價聞，必然使成本大幅提聞。
[0007]有鑒于此，提供一種麥克風(fēng)檢測方法，即便在有背景噪音的開放式工廠里，也能準(zhǔn)確地檢測出不良的麥克風(fēng)，進而提高檢測效率，乃為業(yè)界亟待解決的問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0008]本發(fā)明的主要目的在于提供一種麥克風(fēng)檢測方法，其利用額外的一檢定品質(zhì)優(yōu)良的參考麥克風(fēng)以與待測麥克風(fēng)同時作收音，故兩麥克風(fēng)分別測出兩波形，而后執(zhí)行函數(shù)轉(zhuǎn)換而成兩特征點分布圖形，通過比較兩特征點分布圖形中，于特定頻率量化數(shù)值區(qū)間內(nèi)特征點的差值，以判定待測麥克風(fēng)是否為良品。
[0009]本發(fā)明的另一目的在于提供一種麥克風(fēng)檢測方法，包括下列步驟:(a)提供一待測麥克風(fēng)、一參考麥克風(fēng)以及一處理單元，該待測麥克風(fēng)以及該參考麥克風(fēng)分別信號連接于該處理單元；(b)提供一揚聲器，使該待測麥克風(fēng)以及該參考麥克風(fēng)接收該揚聲器所發(fā)出的一聲波；其中，該待測麥克風(fēng)接收該聲波而產(chǎn)生一第一數(shù)字信號至該處理單元，且該參考麥克風(fēng)接收該聲波而產(chǎn)生一第二數(shù)字信號至該處理單元，其中，該處理單元依據(jù)該第一數(shù)字信號產(chǎn)生一第一特征點分布圖形，以及依據(jù)該第二數(shù)字信號產(chǎn)生一第二特征點分布圖形，且該第一特征點分布圖形以及該第二特征點分布圖形分別包含多個特征點，且每一該特征點對應(yīng)一頻率量化數(shù)值；以及(C)比較該第一特征點分布圖形與該第二特征點分布圖形于一特定頻率量化數(shù)值區(qū)間內(nèi)的特征點數(shù)量差異而判定該待測麥克風(fēng)的品質(zhì)；其中，當(dāng)該特征點數(shù)量差異小于一預(yù)定值時判定該待測麥克風(fēng)為一良品，而當(dāng)該特征點數(shù)量差異大于一預(yù)定值時判定該待測麥克風(fēng)為一不良品。
[0010]于一較佳實施例中，其中該處理單兀包括一芯片模塊以及一應(yīng)用程序模塊,于步驟(b)中包括下述步驟:(bl)使該芯片模塊接收該第一數(shù)字信號并傳送至該應(yīng)用程序模塊以產(chǎn)生一第一波形，并對該第一波形執(zhí)行函數(shù)轉(zhuǎn)換以產(chǎn)生該第一特征點分布圖形。
[0011]于一較佳實施例中，其中于步驟(bl)后還包括下述步驟:(b2)使該芯片模塊接收該第二數(shù)字信號并傳送至該應(yīng)用程序模塊以產(chǎn)生一第二波形，并對該第二波形執(zhí)行函數(shù)轉(zhuǎn)換以產(chǎn)生該第二特征點分布圖形。
[0012]于一較佳實施例中，該函數(shù)轉(zhuǎn)換為傅立葉轉(zhuǎn)換(Fourier Transform)或小波轉(zhuǎn)換(Wavelet Transform)。
[0013]于一較佳實施例中，該揚聲器發(fā)射出的該聲波頻率為IkHz。
[0014]本案的麥克風(fēng)檢測方法可以直接于一開放式場所作檢測，像是生產(chǎn)工廠，故于生產(chǎn)線上于制造完成后，毋須將產(chǎn)品再移至無響室，而是可立即于生產(chǎn)線一旁迅速作檢測，如此一來，大幅提聞了整體效率。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0015]圖1為本發(fā)明的麥克風(fēng)檢測方法的方塊示意圖。
[0016]圖2為本發(fā)明的麥克風(fēng)檢測方法的流程圖。
[0017]圖3為本發(fā)明的麥克風(fēng)檢測方法的待測麥克風(fēng)的第一波形座標(biāo)圖。
[0018]圖4為本發(fā)明的麥克風(fēng)檢測方法的第一特征點分布圖形。
[0019]圖5為本發(fā)明的麥克風(fēng)檢測方法的參考麥克風(fēng)的第二波形座標(biāo)圖。
[0020]圖6為本發(fā)明的麥克風(fēng)檢測方法的第二特征點分布圖形。
[0021]其中，附圖標(biāo)記說明如下:
[0022]1:揚聲器
[0023]21:待測麥克風(fēng)
[0024]210:第一數(shù)字信號
[0025]22:參考麥克風(fēng)
[0026]220:第二數(shù)字信號
[0027]3:處理單元
[0028]36:芯片模塊
[0029]37:應(yīng)用程序模塊
[0030]41:第一波形
[0031]42:第二波形
[0032]51:第一特征點分布圖形
[0033]52:第二特征點分布圖形[0034]SI ?S3:步驟
[0035]P:第一特征點分布圖形上的特征點
[0036]Pl?P12:第一特征點分布圖形頻率量化數(shù)值位于0.4?0.6的特征點
[0037]P’:第二特征點分布圖形上的特征點
[0038]P’ 1:第二特征點分布圖形頻率量化數(shù)值位于0.4?0.6的特征點【具體實施方式】
[0039]需先說明者，本發(fā)明所揭露的麥克風(fēng)檢測方法，不再如傳統(tǒng)受環(huán)境局限像是必須于封閉式的無響室環(huán)境進行，換句話說，本發(fā)明所揭露的麥克風(fēng)檢測方法可以于呈現(xiàn)有背景噪音的一般開放式環(huán)境下(比如:于執(zhí)行生產(chǎn)制造的廠房中)，進行麥克風(fēng)的品質(zhì)檢測。
[0040]請參閱圖1，其為本發(fā)明的麥克風(fēng)檢測方法的方塊示意圖；圖2為本發(fā)明的麥克風(fēng)檢測方法的流程圖。請合并參閱圖1及圖2。于步驟SI中，首先，提供一待測麥克風(fēng)21、一參考麥克風(fēng)22以及一處理單元3。待測麥克風(fēng)21以及參考麥克風(fēng)22分別信號連接于處理單元3。其中，待測麥克風(fēng)21為品質(zhì)待檢測的新麥克風(fēng)成品，舉例而言，比如于生產(chǎn)線上剛完成制作的麥克風(fēng)，至于參考麥克風(fēng)22則是原已經(jīng)過檢定品質(zhì)優(yōu)良的麥克風(fēng)。本案使待測麥克風(fēng)21與參考麥克風(fēng)22于同一環(huán)境同一時間執(zhí)行收音動作,而后針對此兩者的收音內(nèi)容作比較，以判別待測麥克風(fēng)21是否能達到與參考麥克風(fēng)22有一樣的收音水準(zhǔn)。
[0041]接著，于步驟S2中提供一揚聲器I并使揚聲器I朝待測麥克風(fēng)21以及參考麥克風(fēng)22發(fā)出一聲波，以使待測麥克風(fēng)21以及參考麥克風(fēng)22接收該聲波。于一實施例中，該聲波為固定頻率的聲波，比如Ik頻率的聲波，但并不限于此頻率。
[0042]圖3為本發(fā)明的麥克風(fēng)檢測方法的待測麥克風(fēng)的第一波形座標(biāo)圖；圖4為本發(fā)明的麥克風(fēng)檢測方法的第一特征點分布圖形。請合并參閱圖1至圖4。其中，待測麥克風(fēng)21通過接收該聲波而產(chǎn)生一第一數(shù)字信號210至處理單元3，且處理單元3依據(jù)第一數(shù)字信號210產(chǎn)生一第一特征點分布圖形51。相似地，請參閱圖5以及圖6，圖5為本發(fā)明的麥克風(fēng)檢測方法的參考麥克風(fēng)的第二波形座標(biāo)圖；圖6為本發(fā)明的麥克風(fēng)檢測方法的第二特征點分布圖形。其中，參考麥克風(fēng)22接收聲波而產(chǎn)生一第二數(shù)字信號220至該處理單元3，且處理單元3依據(jù)第二數(shù)字信號220產(chǎn)生一第二特征點分布圖形52。
[0043]接者，對本案的第一特征點分布圖形51以及第二特征點分布圖形52的形成方式作詳細介紹。請合并參閱圖1至圖6，詳細而言，處理單元3包括一芯片模塊36以及一應(yīng)用程序模塊37。芯片模塊36接收該第一數(shù)字信號210并傳送至該應(yīng)用程序模塊37以產(chǎn)生一第一波形41，如圖3所示，第一波形41的橫軸代表時間，而縱軸代表頻率。其后，對該第一波形41執(zhí)行函數(shù)轉(zhuǎn)換，以產(chǎn)生可供作辨識與比較的多個特征點P，即產(chǎn)生如圖4的第一特征點分布圖形51，其橫軸代表每一特征點，而縱軸代表頻率量化數(shù)值；換句話說，第一特征點分布圖形51上的每一特征點分別對應(yīng)于一頻率量化數(shù)值。相似地，芯片模塊36接收第二數(shù)字信號220并傳送至應(yīng)用程序模塊37以產(chǎn)生一第二波形42，如圖5所示，第二波形42的橫軸代表時間，而縱軸代表頻率；其后，對該第二波形42執(zhí)行函數(shù)轉(zhuǎn)換，以產(chǎn)生可供作辨識與比較的多個特征點P’，即產(chǎn)生如圖6的第二特征點分布圖形52，其橫軸代表每一特征點，而縱軸代表頻率量化數(shù)值；也即，第二特征點分布圖形52上的每一特征點分別對應(yīng)于一頻率量化數(shù)值。[0044]于此需先說明者為，函數(shù)轉(zhuǎn)換的方式可以為傅立葉轉(zhuǎn)換(Fourier Transform)、小波轉(zhuǎn)換(Wavelet Transform)或其它能夠?qū)Ⅺ溈孙L(fēng)所得到的波形的一時間域轉(zhuǎn)換為頻率域的函數(shù)轉(zhuǎn)換，諸如此類設(shè)計，皆屬本案可能的應(yīng)用的范疇內(nèi)。
[0045]隨后，執(zhí)行步驟S3。于步驟S3中，比較第一特征點分布圖形51與第二特征點分布圖形52于一特定頻率量化數(shù)值區(qū)間內(nèi)的特征點數(shù)量差異。其中，當(dāng)兩者之間的特征點數(shù)量差異小于一預(yù)定值時，則判定待測麥克風(fēng)21為一良品，而當(dāng)兩者之間的特征點數(shù)量差異大于一預(yù)定值時，則判定待測麥克風(fēng)21為一不良品。
[0046]舉例而言，請合并參閱圖4及圖6，圖4所繪示的第一特征點分布圖形51上包含有五十個特征點P，而該五十個特征點P各自有對應(yīng)于縱軸上的頻率量化數(shù)值。請再參閱圖6，第二特征點分布圖形52上也包含有五十個特征點P’，而該五十個特征點P’也各自有對應(yīng)于縱軸上的頻率量化數(shù)值。接者，檢測者可指定兩特征點分布圖形中的任一特定頻率量化數(shù)值區(qū)間為判別區(qū)間，再進一步計算于此判別區(qū)間內(nèi)，第一特征點分布圖形51的特征點數(shù)量與第二特征點分布圖形52的特征點數(shù)量的差異。舉例而言，若檢測者指定的特定頻率量化數(shù)值區(qū)間為0.4?0.6之間，且指定特征點數(shù)量的差值為小于或等于7則為良品，特征點數(shù)量的差值為大于7則為不良品，則如圖4及圖6所示，于第一特征點分布圖形51上處于頻率量化數(shù)值區(qū)間為0.4?0.6之間的特征點P有十二個，其分別被標(biāo)示為Pl?P12，第二特征點分布圖形52上處于頻率量化數(shù)值區(qū)間為0.4?0.6之間的特征點有一個，其被標(biāo)示為P’l，兩者的數(shù)量差值為11，差值大于7，故于此例舉中我們判定該待測麥克風(fēng)21為不良品。當(dāng)然，上述的特定頻率量化數(shù)值區(qū)間以及特征點數(shù)量的差值可做變換，于此僅為方便說明的一例舉，并不作限制。
[0047]綜上所述，本發(fā)明所揭露的麥克風(fēng)檢測方法，利用另外的一參考麥克風(fēng)以與待測麥克風(fēng)同時作收音，通過對兩者測得內(nèi)容作相對應(yīng)比較，使得檢測結(jié)果將不會受到機器運作或是吵雜人聲等背景噪音的干擾而有誤差。故本案的麥克風(fēng)檢測方法可以直接于一開放式場所作檢測，像是生產(chǎn)工廠，故于生產(chǎn)線上于制造完成后，毋須將產(chǎn)品再移至無響室，而是可立即于生產(chǎn)線一旁迅速作檢測，如此一來，大幅提高了整體效率。
[0048]惟以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例，非意欲局限本發(fā)明的專利保護范圍，故舉凡運用本發(fā)明說明書及圖式內(nèi)容所為的等效變化，均同理皆包括于本發(fā)明的權(quán)利保護范圍內(nèi)，合予陳明。
【權(quán)利要求】
1.一種麥克風(fēng)檢測方法，包括下列步驟: (a)提供一待測麥克風(fēng)、一參考麥克風(fēng)以及一處理單元，該待測麥克風(fēng)以及該參考麥克風(fēng)分別信號連接于該處理單元； (b)提供一揚聲器，使該待測麥克風(fēng)以及該參考麥克風(fēng)接收該揚聲器所發(fā)出的一聲波；其中，該待測麥克風(fēng)接收該聲波而產(chǎn)生一第一數(shù)字信號至該處理單元，且該參考麥克風(fēng)接收該聲波而產(chǎn)生一第二數(shù)字信號至該處理單元，其中，該處理單元依據(jù)該第一數(shù)字信號產(chǎn)生一第一特征點分布圖形，以及依據(jù)該第二數(shù)字信號產(chǎn)生一第二特征點分布圖形，且該第一特征點分布圖形以及該第二特征點分布圖形分別包含多個特征點，且每一該特征點對應(yīng)一頻率量化數(shù)值；以及 (C)比較該第一特征點分布圖形與該第二特征點分布圖形于一特定頻率量化數(shù)值區(qū)間內(nèi)的特征點數(shù)量差異而判定該待測麥克風(fēng)的品質(zhì)；其中，當(dāng)該特征點數(shù)量差異小于一預(yù)定值時判定該待測麥克風(fēng)為一良品，而當(dāng)該特征點數(shù)量差異大于一預(yù)定值時判定該待測麥克風(fēng)為一不良品。
2.如權(quán)利要求1所述的麥克風(fēng)檢測方法，其中該處理單元包括一芯片模塊以及一應(yīng)用程序模塊，于步驟(b)中包括下述步驟: (bl)使該芯片模塊接收該第一數(shù)字信號并傳送至該應(yīng)用程序模塊以產(chǎn)生一第一波形，并對該第一波形執(zhí)行函數(shù)轉(zhuǎn)換以產(chǎn)生該第一特征點分布圖形。
3.如權(quán)利要求2所述的麥克風(fēng)檢測方法，其中于步驟(bl)后還包括下述步驟: (b2)使該芯片模塊接收該第二數(shù)字信號并傳送至該應(yīng)用程序模塊以產(chǎn)生一第二波形，并對該第二波形執(zhí)行函數(shù)轉(zhuǎn)換以產(chǎn)生該第二特征點分布圖形。
4.如權(quán)利要求3所述的麥克風(fēng)檢測方法，其中該函數(shù)轉(zhuǎn)換為傅立葉轉(zhuǎn)換或小波轉(zhuǎn)換。
5.如權(quán)利要求1所述的麥克風(fēng)檢測方法，其中該揚聲器發(fā)射出的該聲波頻率為1kHz。
【文檔編號】H04R29/00GK103581819SQ201210275196
【公開日】2014年2月12日 申請日期:2012年8月3日 優(yōu)先權(quán)日:2012年8月3日
【發(fā)明者】呂思豪, 余建男 申請人:致伸科技股份有限公司