專利名稱：通信設(shè)備和通信測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及邊界掃描技術(shù)，尤其涉及一種通信設(shè)備和通信測試方法。
背景技術(shù)：
邊界掃描技術(shù)應(yīng)用越來越廣泛，單板上的邊界掃描芯片也越來越多，而邊界掃描 技術(shù)應(yīng)用上的需求也越來越多，JTAG(Joint Test Action Group，聯(lián)合測試行為組織)單鏈 設(shè)計為邊界掃描技術(shù)的應(yīng)用帶來了便利。通過邊界掃描技術(shù)可以實現(xiàn)單板B00TR0M(無盤 啟動ROM接口)加載、邏輯器件加載、故障模擬、仿真調(diào)試以及互連測試等功能，實現(xiàn)JTAG 單鏈設(shè)計不需要鏈路切換和組合。然而，隨著加工工藝與微電子技術(shù)的發(fā)展，芯片的封裝越來越小，功能越來越復(fù) 雜，各個單板也越來越復(fù)雜，高復(fù)雜單板的測試診斷與維修已經(jīng)成為一大難題，應(yīng)用邊界掃 描技術(shù)是有效解決該問題的途徑之一。目前，大多產(chǎn)品，例如基站產(chǎn)品的JTAG設(shè)計都基于各自單板，每塊單板都實現(xiàn)了 JTAG成鏈的設(shè)計，可以分別對單板進行JTAG應(yīng)用，單板之間沒有數(shù)據(jù)交互。這種方式的好 處是保證了每塊單板的獨立性，但隨著電子產(chǎn)品集成度越來越高，系統(tǒng)間聯(lián)系越來越緊密， 由于每個單板都需要放置一個JTAG插座，導(dǎo)致了成本浪費；而且，測試時，需要在單板與單 板之間經(jīng)常插拔JTAG插座，測試效率較低，而且軟件工程也需要更換，提高了測試成本。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實施例的主要目的在于提供一種通信設(shè)備和通信測試方法。本發(fā)明實施例的上述目的是通過如下技術(shù)方案實現(xiàn)的—種通信設(shè)備，所述通信設(shè)備包括一個第一單板和至少一個第二單板，所述通信 設(shè)備還包括選通模塊和JTAG接口，所述第一單板與選通模塊和JTAG接口分別相連，所述 JTAG接口與所述選通模塊相連，其中選通模塊用于至少導(dǎo)通第一單板的測試鏈路；所述 選通模塊包括多個選通單元，每一個選通單元分別與一個對應(yīng)的第二單板相連，用于在檢 測到對應(yīng)的第二單板的在位信號時，導(dǎo)通對應(yīng)的第二單板的測試鏈路，或者在沒有檢測到 對應(yīng)的第二單板的在位信號時，斷開對應(yīng)的第二單板的測試鏈路；JTAG接口用于連接測試 設(shè)備，以便所述測試設(shè)備對已導(dǎo)通測試鏈路的第一單板，或已導(dǎo)通測試鏈路的第一單板和 第二單板進行測試。一種通信測試方法，所述方法包括選通模塊接收與選通模塊相連的第一單板發(fā) 送的第一數(shù)據(jù)，所述第一數(shù)據(jù)由所述第一單板在接收到測試設(shè)備發(fā)送的數(shù)據(jù)后產(chǎn)生；選通 模塊檢測與選通模塊相連的第二單板的在位信號；如果存在第二單板的在位信號，則選通 模塊將從第一單板接收到的第一數(shù)據(jù)或從另一個第二單板接收到的第二數(shù)據(jù)發(fā)送給該在 位信號對應(yīng)的第二單板，并接收該第二單板返回的第二數(shù)據(jù)；若每個在位的第二單板均已 返回第二數(shù)據(jù)，選通模塊將從最后一個在位的第二單板接收到的第二數(shù)據(jù)發(fā)送給測試設(shè) 備。
一種通信設(shè)備，所述通信設(shè)備包括第一單板和第二單板，其特征在于，所述通信設(shè) 備還包括選通模塊和通信接口，其中所述選通模塊和第一單板以及第二單板分別相連，所 述通信接口和第一單板以及選通模塊分別相連；所述第一單板通過通信接口接收外部輸入 數(shù)據(jù)，產(chǎn)生第一數(shù)據(jù)并發(fā)送給所述選通模塊；所述選通模塊用于接收第一單板輸出的第一 數(shù)據(jù)，并在第二單板在位時將第一數(shù)據(jù)發(fā)送給第二單板，以及接收第二單板返回的第二數(shù) 據(jù)，并將第二數(shù)據(jù)發(fā)送至所述通信接口。一種通信設(shè)備，所述通信設(shè)備包括多個單板，其特征在于，所述多個單板包括一個 第一單板和多個在位的第二單板，所述通信設(shè)備還包括選通模塊和通信接口，其中所述選 通模塊和第一單板以及多個第二單板分別相連，所述通信接口和第一單板以及選通模塊分 別相連；其中，所述第一單板用于通過通信接口接收外部輸入數(shù)據(jù)，產(chǎn)生第一數(shù)據(jù)并發(fā)送給 所述選通模塊；每個在位的第二單板用于接收所述選通模塊發(fā)送的數(shù)據(jù)，產(chǎn)生第二數(shù)據(jù)并 發(fā)送給所述選通模塊；所述選通模塊用于接收所述第一單板輸出的第一數(shù)據(jù)后，將第一數(shù) 據(jù)發(fā)送給一個在位的第二單板，以及接收到該在位的第二單板返回的第二數(shù)據(jù)后，將該第 二單板返回的第二數(shù)據(jù)發(fā)送至下一個在位的第二單板，并接收所述下一個在位的第二單板 返回的第二數(shù)據(jù)，以及在接收到最后一個在位的第二單板返回的第二數(shù)據(jù)后，將最后一個 在位的第二單板返回的第二數(shù)據(jù)發(fā)送至所述通信接口。本發(fā)明實施例提供的通信設(shè)備和通信測試方法，通過多個單板的JTAG自動成鏈， 實現(xiàn)了系統(tǒng)級的JTAG應(yīng)用。


此處所說明的附圖用來提供對本發(fā)明的進一步理解，構(gòu)成本申請的一部分，并不 構(gòu)成對本發(fā)明的限定。在附圖中圖1為現(xiàn)有技術(shù)中以板級鏈路為主的基站設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本發(fā)明實施例的通信設(shè)備的結(jié)構(gòu)框圖；圖3為圖2所示實施例的通信設(shè)備的一個實施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖4為圖2所示實施例的通信設(shè)備的另外一個實施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖5為以雙通道選擇器作為本實施例的通信設(shè)備的選通單元的一個實施方式的 結(jié)構(gòu)示意圖；圖6為圖2所示實施例的通信設(shè)備的選通模塊的另外一個實施方式的組成框圖；圖7為本發(fā)明實施例的通信測試方法的流程圖。
具體實施例方式為使本發(fā)明實施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚明白，下面結(jié)合實施例和附 圖，對本發(fā)明實施例做進一步詳細說明。在此，本發(fā)明的示意性實施例及其說明用于解釋本 發(fā)明，但并不作為對本發(fā)明的限定。圖1為現(xiàn)有技術(shù)中以板級鏈路為主的基站設(shè)備的示意圖，如圖1所示，該基站設(shè)備 采用了主流的JTAG功能設(shè)計，各個單板，例如主控板和業(yè)務(wù)板，均設(shè)計一套單獨的JTAG測 試鏈路，單板之間沒有數(shù)據(jù)交互。相應(yīng)地，每個單板都需要設(shè)置一個JTAG插座，例如雙排插 針的JTAG插座，導(dǎo)致了成本浪費，而且，由于測試時通過JTAG插座連接單板和測試設(shè)備，因此對多個單板進行測試時，在單板與單板之間需要經(jīng)常插拔JTAG插座，測試效率較低，而 且軟件工程需要更換，也導(dǎo)致了測試成本較高。圖2為本發(fā)明實施例提供的一種通信設(shè)備的組成框圖，請參照圖2，該通信設(shè)備包 括一個第一單板21、至少一個第二單板22、選通模塊23以及一個JTAG接口 24，其中第一單板21與JTAG接口 M以及選通模塊23相連，通過選通模塊23導(dǎo)通第一單 板的測試鏈路。選通模塊23除了可以導(dǎo)通連接的第一單板21的測試鏈路以外，還可以進一步導(dǎo) 通第二單板22的測試鏈路。具體地，選通模塊23包括多個選通單元231，每一個第二單板 22與選通模塊23的一個選通單元231相連，通過與該第二單板對應(yīng)的選通單元231導(dǎo)通第 二單板的測試鏈路。其中，每一個選通單元231對應(yīng)一塊第二單板，與第一單板21以及一個第二單板 22相連，用于在檢測到對應(yīng)的第二單板22的在位信號時，導(dǎo)通對應(yīng)的第二單板22的測試 鏈路，并在沒有檢測到對應(yīng)的第二單板22的在位信號時，斷開對應(yīng)的第二單板22的測試鏈 路。在本實施例中，第一單板21、第二單板22、選通模塊23和JTAG接口 M位于一個 測試鏈路上，導(dǎo)通某單板的測試鏈路，即表示將該單板的測試鏈路加入到上述測試鏈路上， 斷開某單板的測試鏈路，即表示將該單板從上述測試鏈路上斷開。在本實施例中，由于該多個選通單元231依次連接，為了敘述方便，將直接與第一 單板相連的選通單元231稱之為第一個選通單元，將直接與JTAG接口 M相連的選通單元 231稱之為最后一個選通單元，相應(yīng)的，與第一個選通單元對應(yīng)的第二單板稱之為第一個第 二單板，與最后一個選通單元相連的第二單板稱之為最后一個第二單板。其他的選通單元 231及其對應(yīng)的第二單板依該連接順序而稱之，在此不再贅述。在本實施例中，“相連”既可以表示直接電連接，也可以表示間接電連接，即通過其 他部件連接，具體視電路要求而定。在本實施例中，該選通模塊23可以設(shè)置于本實施例的通信設(shè)備的背板上。在本實施例中，該選通模塊23可以通過電路來實現(xiàn)，例如通過多個雙通道選擇器 來實現(xiàn)該選通模塊23的多個選通單元231的功能；也可以通過軟件來實現(xiàn)，例如通過一塊 芯片或者IP CORE來實現(xiàn)該選通模塊23的多個選通單元231的功能，本實施例并不以此作 為限制，只要能夠完成圖2所述的選擇導(dǎo)通或斷開測試鏈路的功能，都包含于本發(fā)明實施 例的保護范圍之內(nèi)。JTAG接口 M與第一單板21以及選通模塊23相連，用于外接測試設(shè)備，以便所述 測試設(shè)備對導(dǎo)通測試鏈路的第一單板進行測試；或者對導(dǎo)通測試鏈路的第一單板和第二單 板進行JTAG測試。在一個實施例中，第一單板21為本實施例的通信的主控板，第二單板22為本實施 例的通信設(shè)備的業(yè)務(wù)板。在另外一個實施例中，第一單板21為本實施例的通信設(shè)備的一個業(yè)務(wù)板，而第二 單板22為本實施例的通信設(shè)備的主控板；在另外一個實施例中，第一單板21為本實施例的通信設(shè)備的一個業(yè)務(wù)板，而第二 單板22為本實施例的通信設(shè)備的主控板和其他的業(yè)務(wù)板。
本實施例的通信設(shè)備可以是基站，也可以是其他利用邊界掃描技術(shù)進行JTAG測 試的設(shè)備，本實施例并不以此作為限制。通過本實施例的通信設(shè)備，可以使得通信設(shè)備的多個單板的JTAG自動成鏈，實現(xiàn) 板級的JTAG應(yīng)用。為使本實施例的通信設(shè)備更加清楚易懂，以下結(jié)合具體實施例對本實施例的通信 設(shè)備進行詳細說明。圖3為圖2所示實施例的通信設(shè)備的一個實施方式的組成框圖，與圖2相同的內(nèi) 容不再贅述。請參照圖3，該通信設(shè)備包括主控板31、至少一個業(yè)務(wù)板32、選通模塊33以及 JTAG接口 34，在本實施方式中，主控板31作為第一單板，業(yè)務(wù)板32作為第二單板，請參照 圖3，其中選通模塊33包括多個選通單元331，該多個選通單元331依次連接。其中，選通模塊33與作為第一單板的主控板31以及JTAG接口 34相連，用于導(dǎo)通 主控板31的測試鏈路，并在檢測到作為第二單板的業(yè)務(wù)板32的在位信號時，導(dǎo)通相應(yīng)的業(yè) 務(wù)板32的測試鏈路，在沒有檢測到作為第二單板的業(yè)務(wù)板32的在位信號時，斷開相應(yīng)的業(yè) 務(wù)板32的測試鏈路。其中，每一個選通單元331與作為第一單板的主控板31以及作為第二單板的一個 業(yè)務(wù)板32相連，因此，每一個選通單元331對應(yīng)一個業(yè)務(wù)板32。在本實施例中，由于該多個 選通單元331依次連接，為了敘述方便，將直接與作為第一單板的主控板31相連的選通單 元331稱之為第一個選通單元，將直接與JTAG接口 34相連的選通單元331稱之為最后一 個選通單元，相應(yīng)的，與第一個選通單元對應(yīng)的業(yè)務(wù)板稱之為第一個業(yè)務(wù)板，與最后一個選 通單元相連的業(yè)務(wù)板稱之為最后一個業(yè)務(wù)板。其他的選通單元331及其對應(yīng)的業(yè)務(wù)板依該 連接順序而稱之，在此不再贅述。JTAG接口 34與作為第一單板的主控板31和選通模塊33相連，用于連接外接測試 設(shè)備，以便該測試設(shè)備對導(dǎo)通測試鏈路的主控板31，或者導(dǎo)通測試鏈路的主控板31和業(yè)務(wù) 板32進行JTAG測試。在本實施例中，當(dāng)主控板31和業(yè)務(wù)板32的測試鏈路被導(dǎo)通后，還可以進一步通過 這種鏈式設(shè)計，可以實現(xiàn)主控板31對業(yè)務(wù)板32的BST(Boundary Scan Test，便捷掃描測試 功能)功能的集中式管理與測試；還可以進一步支持整機方式的JTAG測試，例如由主控板 31發(fā)起命令，直接測試業(yè)務(wù)板32的重要芯片的焊接情況，提升測試效率。例如，原來5塊業(yè) 務(wù)板32單獨使用BST功能進行管理與測試，現(xiàn)在5塊業(yè)務(wù)板32可以一起使用BST功能進 行管理和測試，時間大為縮短，節(jié)省了成本，并提升了效率。另外，通過這種鏈式設(shè)計，還可 以實現(xiàn)主控板31對業(yè)務(wù)板32的EPLD (Erasable Programmable Logic Device，可擦除可編 輯邏輯器件)升級及管理功能。圖4為圖2所示實施例的通信設(shè)備的另外一個實施方式的組成框圖，與圖2相同 的內(nèi)容不再贅述。請參照圖4，該通信設(shè)備包括主控板41、至少一個業(yè)務(wù)板42、選通模塊43 以及JTAG接口 44，在本實施例中，一個業(yè)務(wù)板(標記為42’ )作為第一單板，主控板41以 及該通信設(shè)備的其他業(yè)務(wù)板(標記為42”)作為第二單板，請參照圖4，其中選通模塊43包括多個選通單元431，該多個選通單元431依次連接。其中，選通模塊43與作為第一單板的業(yè)務(wù)板42’以及JTAG接口 44相連，用于導(dǎo)通業(yè)務(wù)板42’的測試鏈路，并在檢測到作為第二單板的主控板41或者業(yè)務(wù)板42”的在位信 號時，導(dǎo)通相應(yīng)的主控板41或者業(yè)務(wù)板42”的測試鏈路，在沒有檢測到作為第二單板的主 控板41或者業(yè)務(wù)板42”的在位信號時，斷開相應(yīng)的主控板41或者業(yè)務(wù)板42”的測試鏈路。其中，每一個選通單元431與作為第一單板的業(yè)務(wù)板42’以及作為第二單板的主 控板41或者業(yè)務(wù)板42”相連，因此，每一個選通單元431對應(yīng)一個主控板41或者業(yè)務(wù)板 42”。在本實施例中，由于該多個選通單元431依次連接，為了敘述方便，將直接與作為第一 單板的業(yè)務(wù)板42’相連的選通單元431稱之為第一個選通單元，將直接與JTAG接口 44相 連的選通單元431稱之為最后一個選通單元，相應(yīng)的，與第一個選通單元對應(yīng)的主控板或 業(yè)務(wù)板稱之為第一個主控板或業(yè)務(wù)板，與最后一個選通單元相連的主控板或業(yè)務(wù)板稱之為 最后一個主控板或業(yè)務(wù)板。其他的選通單元431及其對應(yīng)的主控板或業(yè)務(wù)板依該連接順序 而稱之，在此不再贅述。JTAG接口 44與作為第一單板的業(yè)務(wù)板42’和選通模塊43相連，用于連接外接測 試設(shè)備，以便該測試設(shè)備對導(dǎo)通測試鏈路的主控板41，或者導(dǎo)通測試鏈路的主控板和業(yè)務(wù) 板42進行JTAG測試。本實施例的通信設(shè)備以一個業(yè)務(wù)板連接JTAG接口，其他單板，例如主控板和其他 業(yè)務(wù)板，與選通模塊的各個選通單元連接，以通過該選通單元導(dǎo)通或斷開測試鏈路，以便于 連接JTAG接口的測試設(shè)備對導(dǎo)通測試鏈路的單板進行JTAG測試，通過這種鏈式設(shè)計，提高 了測試效率和成本。圖5為圖2所示實施例提供的通信設(shè)備中選通模塊的一個實施方式的組成框圖， 在本實施例中，選通模塊的選通單元通過雙通道選擇器來實現(xiàn)，本實施例以一個通信設(shè)備 包括一個背板51、一個主控板52、兩個業(yè)務(wù)板5354為例加以說明，在本實施例中，主控板 52作為第一單板，兩個業(yè)務(wù)板5354作為第二單板，但本實施例并不以此作為限制。其中， 與圖2或圖3或圖4所示實施例相同的內(nèi)容不再贅述。請參照圖5，該通信設(shè)備還包括選 通模塊以及一個JTAG接口 56，其中，選通模塊包括兩個雙通道選擇器551、552。其中，雙通道選擇器551與業(yè)務(wù)板53對應(yīng)，雙通道選擇器單元552與業(yè)務(wù)板討對 應(yīng)。當(dāng)業(yè)務(wù)板53在位時，雙通道選擇器551導(dǎo)通主控板52的測試鏈路以及業(yè)務(wù)板53的測 試鏈路；當(dāng)業(yè)務(wù)板53不在位時，雙通道選擇器551僅導(dǎo)通主控板52的測試鏈路而斷開該業(yè) 務(wù)板53的測試鏈路。同樣的，當(dāng)業(yè)務(wù)板M在位時，雙通道選擇器552導(dǎo)通主控板52的測 試鏈路以及業(yè)務(wù)板討的測試鏈路；當(dāng)業(yè)務(wù)板討不在位時，雙通道選擇器552僅導(dǎo)通主控板 52的測試鏈路而斷開該業(yè)務(wù)板M的測試鏈路。其中，JTAG接口 56為雙排插座設(shè)計，其連接主控板52與選通模塊，用于連接測試 設(shè)備，以便所述測試設(shè)備對已導(dǎo)通測試鏈路的主控板52，或者導(dǎo)通測試鏈路的主控板和業(yè) 務(wù)板5354進行測試。在一個實施例中，請繼續(xù)參照圖5，選通單元是通過雙通道選擇器來實現(xiàn)，選通模 塊包括多個雙通道選擇器；但本實施例并不以此作為限制，例如，選通模塊也可以通過一塊 芯片來實現(xiàn)，選通模塊中包括多個選通單元，每個選通單元對應(yīng)一塊單板；或者，選通單元 可以通過IP CORE來實現(xiàn)，只要能夠完成圖2所述的選擇導(dǎo)通或斷開導(dǎo)通的功能，都包含于 本發(fā)明實施例的保護范圍之內(nèi)。在本實施例中，每一個雙通道選擇器包括一個檢測引腳以及兩個通道，其中，引腳1A、引腳1B、引腳IY組成一個通道，在本實施例中稱為通道1，引腳IA和引腳IB為該通道 1的輸入引腳，引腳IY為該通道1的輸出引腳；引腳2A、引腳2B、引腳2Y組成一個通道，在 本實施例中稱為通道2，引腳2A和引腳2B為該通道2的輸入引腳，引腳2Y為該通道2的輸 出引腳。以下以雙通道選擇器551為例加以說明，當(dāng)雙通道選擇器551通過檢測引腳檢測 到對應(yīng)的業(yè)務(wù)板53有在位信號時，則選擇A作為輸出，否則選擇B作為輸出。請參照圖5，引腳IA和引腳IB為通道1的兩個輸入引腳，引腳IY為通道1的一個 輸出引腳，引腳2A和引腳2B為通道2的兩個輸入引腳，引腳2Y為通道2的一個輸出引腳。 其中，引腳IA與業(yè)務(wù)板53的測試數(shù)據(jù)輸出引腳TDO引腳相連，引腳2A和引腳IB與主控板 52的TDO引腳相連，引腳2B為保留引腳，引腳IY與雙通道選擇器56的引腳2A和引腳IB 相連，引腳2Y與業(yè)務(wù)板53的JTAG接口的測試數(shù)據(jù)輸入引腳TDI引腳相連。其中，選擇A作為輸出，則從主控板52的TDO引腳輸出的信號經(jīng)過通道2的引腳 2A輸入，從通道2的引腳2Y輸出，進入業(yè)務(wù)板53的TDI引腳，再經(jīng)過業(yè)務(wù)板53內(nèi)部的各個 支持邊界掃描技術(shù)的芯片串聯(lián)后，從TDO引腳輸出，再通過通道1的引腳IA輸入，進入雙通 道選擇器551內(nèi)部，然后，從通道1的引腳IY輸出到雙通道選擇器552，如此即導(dǎo)通了業(yè)務(wù) 板53的測試鏈路。其中，選擇B作為輸出，則從主控板52的TDO引腳輸出的信號經(jīng)過通道1的引腳 IB輸入，從通道1的引腳IY輸出到雙通道選擇器552，如此即斷開了業(yè)務(wù)板53的測試鏈路。在本實施例中，雙通道選擇器552導(dǎo)通或斷開業(yè)務(wù)板M的測試鏈路的過程與前述 雙通道選擇器551導(dǎo)通或斷開業(yè)務(wù)板53的測試鏈路的過程相同，在此不再贅述。在一個實施例中，JTAG接口 56的輸出與主控板52的TDI引腳相連，JTAG接口 56 的輸入與雙通道選擇器56的IY引腳相連，JTAG接口 56的復(fù)位引腳(TRST)、時鐘引腳(TCK) 以及模式選擇引腳(TMQ分別與主控板52的測試復(fù)位引腳、測試時鐘輸入引腳、測試模式 選擇引腳相連，如此即可在該JTAG接口 56外接測試設(shè)備時，由該測試設(shè)備對已導(dǎo)通測試鏈 路的主控板，或者已導(dǎo)通測試鏈路的主控板和業(yè)務(wù)板進行測試。在本實施例中，各個業(yè)務(wù)板例如業(yè)務(wù)板53、54的測試復(fù)位引腳(TRST)、測試時鐘 輸入引腳(TCK)、測試模式選擇引腳(TMS)可以通過背板51上的走線與JTAG接口 56的復(fù) 位引腳(TRST)、時鐘引腳(TCK)以及模式選擇引腳(TMS)分別相連。在本實施例中，由于主控板與業(yè)務(wù)板通過雙通道選擇器采用了鏈式設(shè)計，實現(xiàn)了 主控板對業(yè)務(wù)板BST功能的集中式管理與測試，例如，可以支持整機方式的JTAG測試，由主 控板發(fā)起命令，直接測試所有業(yè)務(wù)板的重要芯片的焊接情況，提升測試效率，還可以實現(xiàn)背 板主要業(yè)務(wù)通道(如IDXl通道)的互聯(lián)功能檢測，即通過控制兩塊單板，進行信號掃描，可 以直接判斷單板的插拔良好及背板線路良好狀態(tài)。圖6為圖2所示實施例提供的通信設(shè)備中選通模塊的另外一個實施方式的組成框 圖，在本實施例中，選通模塊的選通單元通過專用IC芯片或者IP CORE來實現(xiàn)，請參照圖6， 該選通單元包括檢測單元61，用于檢測對應(yīng)的第二單板是否有在位信號；處理單元62，用于在檢測單元61檢測到對應(yīng)的業(yè)務(wù)板有在位信號時，導(dǎo)通第一單 板和對應(yīng)的第二單板的測試鏈路，并在檢測模塊61檢測到對應(yīng)的第二單板沒有在位信號 時，導(dǎo)通第一單板的測試鏈路并斷開對應(yīng)的第二單板的測試鏈路。
本實施例僅對專用IC芯片或者IP CORE實現(xiàn)的選通單元作了說明，對于通信設(shè)備 的其他組成部分，例如背板、第一單板、第二單板、JTAG接口等連接關(guān)系和功能均與圖2所 示實施例相同，在此不再贅述。在本實施例中，由于主控板與業(yè)務(wù)板通過該專用IC芯片或者IP CORE實現(xiàn)的選 通單元采用了鏈式設(shè)計，實現(xiàn)了主控板對業(yè)務(wù)板BST功能的集中式管理與測試，例如，可以 支持整機方式的JTAG測試，由主控板發(fā)起命令，直接測試所有業(yè)務(wù)板的重要芯片的焊接情 況，提升測試效率，還可以實現(xiàn)背板主要業(yè)務(wù)通道(如IDXl通道)的互聯(lián)功能檢測，即通過 控制兩塊單板，進行信號掃描，可以直接判斷單板的插拔良好及背板線路良好狀態(tài)。圖7為本發(fā)明實施例提供的一種通信測試方法的流程圖，請參照圖7，該方法包 括步驟701 選通模塊接收與選通模塊相連的第一單板發(fā)送的第一數(shù)據(jù)，所述第一 數(shù)據(jù)由所述第一單板在接收到測試設(shè)備發(fā)送的數(shù)據(jù)后產(chǎn)生；步驟702 選通模塊檢測與選通模塊相連的第二單板的在位信號；其中，選通模塊包括至少一個選通單元，則該步驟具體包括每個選通單元檢測與 該選通單元相連的第二單板的在位信號。步驟703 如果存在第二單板的在位信號，則選通模塊將從第一單板接收到的第 一數(shù)據(jù)或從另一個第二單板接收到的第二數(shù)據(jù)發(fā)送給該在位信號對應(yīng)的第二單板，并接收 該第二單板返回的第二數(shù)據(jù)；步驟704 若每個在位的第二單板均已返回第二數(shù)據(jù)，選通模塊將從最后一個在 位的第二單板接收到的第二數(shù)據(jù)發(fā)送給測試設(shè)備。在本實施例中，選通模塊可以設(shè)置于背板上，該選通模塊包括多個選通單元，每一 個選通單元對應(yīng)一個第二單板，且每一個選通單元均與第一單板及其對應(yīng)的第二單板相 連，以便在檢測到對應(yīng)的第二單板有在位信號時，導(dǎo)通第一單板的測試鏈路及對應(yīng)的第二 單板的測試鏈路，并在沒有檢測到對應(yīng)的第二單板有在位信號時，僅導(dǎo)通第一單板的測試 鏈路斷開對應(yīng)的第二單板的測試鏈路。在本實施例中，還通過JTAG接口連接第一單元以及選通模塊，以便在該JTAG接口 外接測試設(shè)備后，由該外接的測試設(shè)備對已導(dǎo)通測試鏈路的第一單板，或者已導(dǎo)通測試鏈 路的第一單板和第二單板進行JTAG測試。本實施例的通信測試方法應(yīng)用于通信設(shè)備，該通信設(shè)備可以具有如前述圖2-5所 示實施例所描述的結(jié)構(gòu)、組成和功能，由于在前述圖2-5所示的實施例中，已經(jīng)對該通信設(shè) 備進行了詳細說明，在此對該方法不再贅述。通過本實施例的通信測試方法對通信設(shè)備進行JTAG測試，可以提升測試效率，節(jié) 約測試成本?？蛇x的，本發(fā)明實施例還提供一種通信設(shè)備，例如可以是基站，該信設(shè)備包括第一 單板和第二單板，在本實施例中，該通信設(shè)備還包括選通模塊和通信接口，其中，所述選 通模塊和第一單板以及第二單板分別相連，所述通信接口和第一單板以及選通模塊分別相 連；所述第一單板通過通信接口接收外部輸入數(shù)據(jù)，產(chǎn)生第一數(shù)據(jù)并發(fā)送給所述選通模塊； 所述選通模塊用于接收第一單板輸出的第一數(shù)據(jù)，并在第二單板在位時將第一數(shù)據(jù)發(fā)送給 第二單板，以及接收第二單板返回的第二數(shù)據(jù)，并將第二數(shù)據(jù)發(fā)送至所述通信接口。
在本實施例中，通信接口可以為JTAG接口，第一單板通過JTAG接口的測試數(shù)據(jù)輸 入引腳接收外部輸入數(shù)據(jù)，選通模塊將第二數(shù)據(jù)發(fā)送至JTAG接口的測試數(shù)據(jù)輸出引腳。在本實施例中，選通模塊包括選通單元，選通單元和第二單板以及通信接口相連， 用于在檢測到第二單板在位時將第一數(shù)據(jù)發(fā)送給第二單板，以及接收第二單板返回的第二 數(shù)據(jù)，并將第二數(shù)據(jù)發(fā)送至所述通信接口。本實施例中該選通模塊可以通過電路來實現(xiàn)，例如通過雙通道選擇器來實現(xiàn)；也 可以通過軟件來實現(xiàn)，例如通過一塊芯片或者IP CORE來實現(xiàn)該選通模塊的功能，本實施例 并不以此作為限制。在本實施例中，由于第一單板與第二單板的測試鏈路采用了鏈式設(shè)計，實現(xiàn)了各 個單板BST功能的集中式管理與測試，提升了測試效率。可選的，本發(fā)明實施例還提供另外一種通信設(shè)備，例如可以是基站，該通信設(shè)備包 括多個單板，該多個單板包括一個第一單板和多個在位的第二單板，在本實施例中，該通信 設(shè)備還包括選通模塊和通信接口，其中所述選通模塊和第一單板以及多個第二單板分別 相連，所述通信接口和第一單板以及選通模塊分別相連；所述第一單板用于通過通信接口 接收外部輸入數(shù)據(jù)，產(chǎn)生第一數(shù)據(jù)并發(fā)送給所述選通模塊；每個在位的第二單板用于接收 所述選通模塊發(fā)送的數(shù)據(jù)，產(chǎn)生第二數(shù)據(jù)并發(fā)送給所述選通模塊；所述選通模塊用于接收 所述第一單板輸出的第一數(shù)據(jù)后，將第一數(shù)據(jù)發(fā)送給一個在位的第二單板，以及接收到該 在位的第二單板返回的第二數(shù)據(jù)后，將該第二單板返回的第二數(shù)據(jù)發(fā)送至下一個在位的第 二單板，并接收所述下一個在位的第二單板返回的第二數(shù)據(jù)，以及在接收到最后一個在位 的第二單板返回的第二數(shù)據(jù)后，將最后一個在位的第二單板返回的第二數(shù)據(jù)發(fā)送至所述通 信接口。在本實施例中，通信接口可以為JTAG接口，第一單板通過JTAG接口的測試數(shù)據(jù)輸 入引腳接收外部輸入數(shù)據(jù)，選通模塊將第二數(shù)據(jù)發(fā)送至JTAG接口的測試數(shù)據(jù)輸出引腳。在本實施例中，選通模塊包括多個選通單元，每個選通單元和一個對應(yīng)的第二單 板相連，各個選通單元依次相連，且第一個選通單元和第一單板相連，最后一個選通單元和 通信接口相連；每個選通單元用于在檢測到對應(yīng)的第二單板在位時將接收到的數(shù)據(jù)發(fā)送給 該對應(yīng)的第二單板，以及接收該對應(yīng)的第二單板返回的第二數(shù)據(jù)，并將該對應(yīng)的第二單板 返回的第二數(shù)據(jù)發(fā)送至下一個選通單元或通信接口。在本實施例中，第一單板為該通信設(shè)備的主控板，第二單板為該通信設(shè)備的業(yè)務(wù) 板；或者，第一單板為該通信設(shè)備的一個業(yè)務(wù)板，第二單板為該通信設(shè)備的主控板以及該通 信設(shè)備的至少一個其它業(yè)務(wù)板。本實施例中該選通模塊可以通過電路來實現(xiàn)，例如通過雙通道選擇器來實現(xiàn)；也 可以通過軟件來實現(xiàn)，例如通過一塊芯片或者IP CORE來實現(xiàn)該選通模塊的功能，本實施例 并不以此作為限制。在本實施例中，由于第一單板與第二單板的測試鏈路采用了鏈式設(shè)計，實現(xiàn)了各 個單板BST功能的集中式管理與測試，提升了測試效率。結(jié)合本文中所公開的實施例描述的方法或算法的步驟可以直接用硬件、處理器執(zhí) 行的軟件模塊，或者二者的結(jié)合來實施。軟件模塊可以置于隨機存儲器(RAM)、內(nèi)存、只讀存 儲器(ROM)、電可編程ROM、電可擦除可編程ROM、寄存器、硬盤、可移動磁盤、CD-ROM、或技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)所公知的任意其它形式的存儲介質(zhì)中。 以上所述的具體實施例，對本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和有益效果進行了進一步詳 細說明，所應(yīng)理解的是，以上所述僅為本發(fā)明的具體實施例而已，并不用于限定本發(fā)明的保 護范圍，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所做的任何修改、等同替換、改進等，均應(yīng)包含在本 發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種通信設(shè)備，所述通信設(shè)備包括一個第一單板和至少一個第二單板，其特征在于， 所述通信設(shè)備還包括選通模塊和JTAG接口，所述第一單板與選通模塊和JTAG接口分別相 連，所述JTAG接口與所述選通模塊相連，其中選通模塊用于至少導(dǎo)通第一單板的測試鏈路；所述選通模塊包括多個選通單元，每一 個選通單元分別與一個對應(yīng)的第二單板相連，用于在檢測到對應(yīng)的第二單板的在位信號 時，導(dǎo)通對應(yīng)的第二單板的測試鏈路，或者在沒有檢測到對應(yīng)的第二單板的在位信號時，斷 開對應(yīng)的第二單板的測試鏈路；JTAG接口用于連接測試設(shè)備，以便所述測試設(shè)備對已導(dǎo)通測試鏈路的第一單板，或已 導(dǎo)通測試鏈路的第一單板和第二單板進行測試。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的通信設(shè)備，其特征在于所述第一單板為所述通信設(shè)備的主控板，所述第二單板為所述通信設(shè)備的業(yè)務(wù)板；或者所述第一單板為所述通信設(shè)備的一個業(yè)務(wù)板，所述第二單板為所述通信設(shè)備的主控 板；或者所述第一單板為所述通信設(shè)備的一個業(yè)務(wù)板，所述第二單板為所述通信設(shè)備的主控板 以及所述通信設(shè)備的其他業(yè)務(wù)板。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的通信設(shè)備，其特征在于，所述多個選通單元依次連接，且第一 個選通單元和所述第一單板連接，最后一個選通單元和所述JTAG接口連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的通信設(shè)備，其特征在于，所述選通單元為雙通道選擇器，每一 個雙通道選擇器包括一個檢測引腳，用于檢測對應(yīng)的第二單板是否有在位信號；以及兩個通道，用于在所述檢測引腳檢測到對應(yīng)的第二單板有在位信號時，導(dǎo)通對應(yīng)的第 二單板的測試鏈路，并在所述檢測引腳沒有檢測到對應(yīng)的第二單板的在位信號時，斷開對 應(yīng)的第二單板的測試鏈路；其中，所述兩個通道為第一通道和第二通道，所述第一通道和所述第二通道分別包括 第一輸入、第二輸入和輸出；所述第一通道的第一輸入與對應(yīng)的第二單板的測試數(shù)據(jù)輸出 引腳相連；所述第一通道的第二輸入和所述第二通道的第一輸入與所述第一單板的測試數(shù) 據(jù)輸出引腳相連，或者與前一個雙通道選擇器的第一通道輸出相連；所述第一通道的輸出 與下一個雙通道選擇器的第一通道的第二輸入和第二通道的第一輸入相連；所述第二通道 的輸出與對應(yīng)的第二單板的測試數(shù)據(jù)輸入引腳相連；當(dāng)通過所述檢測引腳檢測到對應(yīng)的第 二單板有在位信號時，選擇所述兩個通道的第一輸入引腳作為輸出，導(dǎo)通第一單板以及對 應(yīng)的第二單板的測試鏈路；否則選擇所述第一通道的第二輸入引腳作為輸出，導(dǎo)通第一單 板的測試鏈路并斷開對應(yīng)的第二單板的測試鏈路。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的通信設(shè)備，其特征在于，所述每一個選通單元包括檢測單元，用于檢測是否收到表示對應(yīng)的第二單板在位的在位信號；處理單元，用于在所述檢測單元檢測到對應(yīng)的第二單板有在位信號時，導(dǎo)通所述第一 單板的測試鏈路以及所述對應(yīng)的第二單板的測試鏈路，并在檢測單元檢測到對應(yīng)的第二單 板沒有在位信號時，斷開所述對應(yīng)的第二單板的測試鏈路。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的通信設(shè)備，其特征在于，所述通信設(shè)備為基站。
7.一種通信測試方法，其特征在于，所述方法包括選通模塊接收與選通模塊相連的第一單板發(fā)送的第一數(shù)據(jù)，所述第一數(shù)據(jù)由所述第一 單板在接收到測試設(shè)備發(fā)送的數(shù)據(jù)后產(chǎn)生；選通模塊檢測與選通模塊相連的第二單板的在位信號；如果存在第二單板的在位信號，則選通模塊將從第一單板接收到的第一數(shù)據(jù)或從另一 個第二單板接收到的第二數(shù)據(jù)發(fā)送給該在位信號對應(yīng)的第二單板，并接收該第二單板返回 的第二數(shù)據(jù)；若每個在位的第二單板均已返回第二數(shù)據(jù)，選通模塊將從最后一個在位的第二單板接 收到的第二數(shù)據(jù)發(fā)送給測試設(shè)備。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于所述選通模塊包括至少一個選通單元，選通模塊檢測與選通模塊相連的第二單板的在 位信號包括每個選通單元檢測與該選通單元相連的第二單板的在位信號。
9.一種通信設(shè)備，所述通信設(shè)備包括第一單板和第二單板，其特征在于，所述通信設(shè)備 還包括選通模塊和通信接口，其中所述選通模塊和第一單板以及第二單板分別相連，所述 通信接口和第一單板以及選通模塊分別相連；所述第一單板通過通信接口接收外部輸入數(shù)據(jù)，產(chǎn)生第一數(shù)據(jù)并發(fā)送給所述選通模塊；所述選通模塊用于接收第一單板輸出的第一數(shù)據(jù)，并在第二單板在位時將第一數(shù)據(jù)發(fā) 送給第二單板，以及接收第二單板返回的第二數(shù)據(jù)，并將第二數(shù)據(jù)發(fā)送至所述通信接口。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的通信設(shè)備，其特征在于所述通信接口為JTAG接口 ；所述第一單板通過JTAG接口的測試數(shù)據(jù)輸入引腳接收外 部輸入數(shù)據(jù)，所述選通模塊將第二數(shù)據(jù)發(fā)送至JTAG接口的測試數(shù)據(jù)輸出引腳。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的通信設(shè)備，其特征在于所述選通模塊包括選通單元，所述選通單元和第二單板以及通信接口相連，用于在檢 測到第二單板在位時將第一數(shù)據(jù)發(fā)送給第二單板，以及接收第二單板返回的第二數(shù)據(jù)，并 將第二數(shù)據(jù)發(fā)送至所述通信接口。
12.一種通信設(shè)備，所述通信設(shè)備包括多個單板，其特征在于，所述多個單板包括一個 第一單板和多個在位的第二單板，所述通信設(shè)備還包括選通模塊和通信接口，其中所述選 通模塊和第一單板以及多個第二單板分別相連，所述通信接口和第一單板以及選通模塊分 別相連；其中，所述第一單板用于通過通信接口接收外部輸入數(shù)據(jù)，產(chǎn)生第一數(shù)據(jù)并發(fā)送給所 述選通模塊；每個在位的第二單板用于接收所述選通模塊發(fā)送的數(shù)據(jù)，產(chǎn)生第二數(shù)據(jù)并發(fā)送給所述 選通模塊；所述選通模塊用于接收所述第一單板輸出的第一數(shù)據(jù)后，將第一數(shù)據(jù)發(fā)送給一個在位 的第二單板，以及接收到該在位的第二單板返回的第二數(shù)據(jù)后，將該第二單板返回的第二 數(shù)據(jù)發(fā)送至下一個在位的第二單板，并接收所述下一個在位的第二單板返回的第二數(shù)據(jù)， 以及在接收到最后一個在位的第二單板返回的第二數(shù)據(jù)后，將最后一個在位的第二單板返回的第二數(shù)據(jù)發(fā)送至所述通信接口。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的通信設(shè)備，其特征在于所述通信接口為JTAG接口 ；所述第一單板通過JTAG接口的測試數(shù)據(jù)輸入引腳接收外 部輸入數(shù)據(jù)，所述選通模塊將第二數(shù)據(jù)發(fā)送至JTAG接口的測試數(shù)據(jù)輸出引腳。
14.根據(jù)權(quán)利要求12所述的通信設(shè)備，其特征在于所述選通模塊包括多個選通單元，每個選通單元和一個對應(yīng)的第二單板相連，各個 選通單元依次相連，且第一個選通單元和第一單板相連，最后一個選通單元和通信接口相 連；每個選通單元用于在檢測到對應(yīng)的第二單板在位時將接收到的數(shù)據(jù)發(fā)送給該對應(yīng)的 第二單板，以及接收該對應(yīng)的第二單板返回的第二數(shù)據(jù)，并將該對應(yīng)的第二單板返回的第 二數(shù)據(jù)發(fā)送至下一個選通單元或通信接口。
15.根據(jù)權(quán)利要求12所述的通信設(shè)備，其特征在于所述第一單板為所述通信設(shè)備的主控板，所述第二單板為所述通信設(shè)備的業(yè)務(wù)板；或者所述第一單板為所述通信設(shè)備的一個業(yè)務(wù)板，所述第二單板為所述通信設(shè)備的主控板 以及所述通信設(shè)備的至少一個其它業(yè)務(wù)板。
全文摘要
本發(fā)明實施例提供一種通信設(shè)備和通信測試方法，所述通信設(shè)備包括選通模塊和JTAG接口，所述第一單板與選通模塊和JTAG接口分別相連，所述JTAG接口與所述選通模塊相連，其中選通模塊用于至少導(dǎo)通第一單板的測試鏈路；所述選通模塊包括多個選通單元，每一個選通單元分別與一個對應(yīng)的第二單板相連，用于在檢測到對應(yīng)的第二單板的在位信號時，導(dǎo)通對應(yīng)的第二單板的測試鏈路，或者在沒有檢測到對應(yīng)的第二單板的在位信號時，斷開對應(yīng)的第二單板的測試鏈路；JTAG接口用于連接測試設(shè)備，以便所述測試設(shè)備對已導(dǎo)通測試鏈路的第一單板，或已導(dǎo)通測試鏈路的第一單板和第二單板進行測試。本發(fā)明實施例提供的通信設(shè)備和測試方法，通過多個單板的JTAG自動成鏈，實現(xiàn)了板級的JTAG應(yīng)用。
文檔編號H04B17/00GK102142911SQ201010270898
公開日2011年8月3日 申請日期2010年8月31日 優(yōu)先權(quán)日2010年8月31日
發(fā)明者劉兵, 劉海新, 章浩亮, 許靖 申請人:華為技術(shù)有限公司