專利名稱：轉(zhuǎn)發(fā)路徑檢測方法和設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及通信技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種轉(zhuǎn)發(fā)路徑;險(xiǎn)測方法和設(shè)備。
背景技術(shù)：
如何對交換機(jī)的轉(zhuǎn)發(fā)芯片間進(jìn)行檢測， 一直是交換機(jī)上的一個(gè)難點(diǎn)。尤 要高。
如圖l所示，是現(xiàn)有技術(shù)中一種可以實(shí)時(shí)檢測轉(zhuǎn)發(fā)芯片間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑狀態(tài) 的^f企測方法的示意圖。
現(xiàn)有技術(shù)通過CPU發(fā)送報(bào)文給轉(zhuǎn)發(fā)芯片，然后再由轉(zhuǎn)發(fā)芯片發(fā)送報(bào)文給 CPU，即檢測轉(zhuǎn)發(fā)芯片A到轉(zhuǎn)發(fā)芯片B的轉(zhuǎn)發(fā)路徑是否故障。
在實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的過程中，申請人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)至少存在以下問題
現(xiàn)有的轉(zhuǎn)發(fā)芯片檢測記住，需要CPU很強(qiáng)的參與能力， 一方面要對不同 的轉(zhuǎn)發(fā)芯片發(fā)送不同路徑的報(bào)文，另外一方面，對收到的報(bào)文需要CPU進(jìn)行 解析，并判定內(nèi)容是否正確，以達(dá)到判斷轉(zhuǎn)發(fā)芯片間鏈路檢查的目的。當(dāng)轉(zhuǎn) 發(fā)芯片多的時(shí)候，CPU需要忙于在轉(zhuǎn)發(fā)芯片間不停發(fā)包和收包檢測，導(dǎo)致檢 測效率低下。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種轉(zhuǎn)發(fā)路徑檢測方法和設(shè)備，利用交換網(wǎng)系統(tǒng)進(jìn)行報(bào)文的 識別和判斷，以及路徑的選擇，達(dá)到高效的檢測轉(zhuǎn)發(fā)芯片間的鏈路故障的目 的。
為達(dá)到上述目的，本發(fā)明一方面提供了一種轉(zhuǎn)發(fā)路徑檢測方法，應(yīng)用于 包括多個(gè)中央處理器CPU和多個(gè)轉(zhuǎn)發(fā)芯片的系統(tǒng)中，其中，各CPU按照預(yù)設(shè)片標(biāo)識的檢測報(bào)文，各轉(zhuǎn)發(fā)芯片將包含自身的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文轉(zhuǎn)發(fā) 送至所述系統(tǒng)中的其他轉(zhuǎn)發(fā)芯片的指定端口 ，各所述轉(zhuǎn)發(fā)芯片所對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)
芯片標(biāo)識互不相同，所述方法包括
轉(zhuǎn)發(fā)芯片通過指定端口接收其他轉(zhuǎn)發(fā)芯片發(fā)送的所述檢測報(bào)文； 所述轉(zhuǎn)發(fā)芯片分別根據(jù)接收到的各檢測報(bào)文中所包含的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識，
對接收到的包含每種轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文進(jìn)行計(jì)數(shù)；
所述轉(zhuǎn)發(fā)芯片在預(yù)設(shè)的檢測周期完成后，向相對應(yīng)的CPU上報(bào)接收到的
包含每種轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文的計(jì)數(shù)結(jié)果，以使所述CPU對所述轉(zhuǎn)發(fā)芯
片與其他轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑進(jìn)行檢測，其中，所述預(yù)設(shè)的檢測周期大
于所述預(yù)設(shè)的發(fā)送周期。
優(yōu)選的，所述轉(zhuǎn)發(fā)芯片分別根據(jù)接收到的各檢測報(bào)文中所包含的轉(zhuǎn)發(fā)芯 片標(biāo)識，對接收到的包含每種轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文進(jìn)行計(jì)數(shù)，具體為
所述轉(zhuǎn)發(fā)芯片識別所述通過指定端口所接收的檢測報(bào)文中所包含的轉(zhuǎn)發(fā) 芯片標(biāo)識的種類；
所述轉(zhuǎn)發(fā)芯片根據(jù)所述轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識種類的識別結(jié)果，分別對各種類的 轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識所對應(yīng)的檢測報(bào)文進(jìn)行計(jì)數(shù)。
優(yōu)選的，所述轉(zhuǎn)發(fā)芯片根據(jù)所述轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識種類的識別結(jié)果，分別對 各種類的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識所對應(yīng)的檢測報(bào)文進(jìn)行計(jì)數(shù)之后，還包括
所述轉(zhuǎn)發(fā)芯片丟棄完成所述計(jì)數(shù)操作的檢測報(bào)文。
優(yōu)選的，所述CPU對所述轉(zhuǎn)發(fā)芯片與其他轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑進(jìn)行 檢測，具體為
檢測報(bào)文的計(jì)數(shù)結(jié)果與預(yù)設(shè)的報(bào)文數(shù)量閾值的大小關(guān)系；
當(dāng)所述CPU判斷所述檢測周期內(nèi) 一種轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文的計(jì)數(shù)結(jié) 果大于或等于預(yù)設(shè)的報(bào)文數(shù)量閾值時(shí)，所述CPU確認(rèn)所述種類的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo) 識所對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)芯片與上報(bào)所述計(jì)數(shù)結(jié)果的轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑狀態(tài)正
常；
當(dāng)所述CPU判斷所述檢測周期內(nèi) 一種轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文的計(jì)數(shù)結(jié)果低于預(yù)設(shè)的報(bào)文數(shù)量閾值時(shí)，所述CPU保存所述種類的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識所對
應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)芯片與上報(bào)所述計(jì)數(shù)結(jié)果的轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑的狀態(tài)待定記 錄，并繼續(xù)進(jìn)行轉(zhuǎn)發(fā)路徑的檢測。
優(yōu)選的，當(dāng)所述CPU判斷所述檢測周期內(nèi) 一種轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文 的計(jì)數(shù)結(jié)果低于預(yù)設(shè)的報(bào)文數(shù)量閾值時(shí)，所述CPU保存判斷結(jié)果，作為所述
種類的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識所對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)芯片與上報(bào)所述計(jì)數(shù)結(jié)果的轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間
的轉(zhuǎn)發(fā)路徑的狀態(tài)待定記錄，并繼續(xù)進(jìn)行轉(zhuǎn)發(fā)路徑的檢測之后，還包括
所述CPU判斷所述種類的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識所對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)芯片與上^^艮所述計(jì) 數(shù)結(jié)果的轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑的狀態(tài)待定記錄達(dá)到預(yù)設(shè)的安全閾值之 前，如果所述CPU判斷所述種類轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文的計(jì)數(shù)結(jié)果大于或 等于預(yù)設(shè)的報(bào)文數(shù)量閾值，所述CPU清除所述狀態(tài)待定記錄；
所述CPU判斷所述種類的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識所對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)芯片與上報(bào)所述計(jì) 數(shù)結(jié)果的轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑的狀態(tài)待定記錄達(dá)到預(yù)設(shè)的安全閾值之 前，如果所述CPU判斷所述種類轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文的計(jì)數(shù)結(jié)果小于預(yù) 設(shè)的報(bào)文數(shù)量閾值，所述CPU繼續(xù)保存所述狀態(tài)待定記錄；
當(dāng)所述CPU判斷所述種類的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識所對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)芯片與上報(bào)所述 計(jì)數(shù)結(jié)果的轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑的狀態(tài)待定記錄達(dá)到預(yù)設(shè)的安全閾值 時(shí)，所述CPU確認(rèn)所述種類的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識所對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)芯片與上報(bào)所述計(jì) 數(shù)結(jié)果的轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑狀態(tài)異常。
優(yōu)選的，所述CPU確認(rèn)所述種類的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識所對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)芯片與上 報(bào)所述計(jì)數(shù)結(jié)果的轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑狀態(tài)異常之后，還包括
優(yōu)選的，所述CPU確認(rèn)所述種類的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識所對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)芯片與上 報(bào)所述計(jì)數(shù)結(jié)果的轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑狀態(tài)異常之后，如果確認(rèn)是轉(zhuǎn)發(fā) 芯片故障，還包括
發(fā)生故障的轉(zhuǎn)發(fā)芯片所對應(yīng)的CPU設(shè)置所述發(fā)生故障的轉(zhuǎn)發(fā)芯片所對應(yīng) 的所有業(yè)務(wù)端口的狀態(tài)為關(guān)閉，設(shè)置所述發(fā)生故障的轉(zhuǎn)發(fā)芯片所對應(yīng)的所有 轉(zhuǎn)發(fā)路徑的狀態(tài)為環(huán)回；
所述發(fā)生故障的轉(zhuǎn)發(fā)芯片所對應(yīng)的CPU通知所述系統(tǒng)中的其他轉(zhuǎn)發(fā)芯片-徑的纟企測,
另一方面，本發(fā)明還提供了一種轉(zhuǎn)發(fā)芯片，包括一個(gè)指定端口，應(yīng)用于
包括多個(gè)中央處理器CPU和多個(gè)轉(zhuǎn)發(fā)芯片的系統(tǒng)中，其中，各CPU按照預(yù)設(shè)
片標(biāo)識的檢測報(bào)文，各所述轉(zhuǎn)發(fā)芯片所對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識互不相同，包括 通信模塊，用于接收CPU發(fā)送的包含自身的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文， 并將所述檢測報(bào)文轉(zhuǎn)發(fā)送至所述系統(tǒng)中的其他轉(zhuǎn)發(fā)芯片的指定端口，以及通 過自身的指定端口接收其他轉(zhuǎn)發(fā)芯片發(fā)送的所述檢測報(bào)文，還用于向所述 CPU上報(bào)接收到的包含每種轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文的計(jì)數(shù)結(jié)果；
計(jì)數(shù)模塊，與所述通信模塊連接，用于分別根據(jù)所述指定端口接收到的 各檢測報(bào)文中所包含的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識，對所述通信模塊接收到的包含每種轉(zhuǎn) 發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文進(jìn)行計(jì)數(shù)；
設(shè)置模塊，與所述通信模塊連接，用于設(shè)置檢測周期，使所述通信模塊 在預(yù)設(shè)的檢測周期完成后，向相對應(yīng)的CPU上報(bào)接收到的包含每種轉(zhuǎn)發(fā)芯片 標(biāo)識的檢測報(bào)文的計(jì)數(shù)結(jié)果，以使所述CPU對所述轉(zhuǎn)發(fā)芯片與其他轉(zhuǎn)發(fā)芯片 之間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑進(jìn)行;險(xiǎn)測，其中，所述預(yù)設(shè)的^f會測周期大于所述預(yù)設(shè)的發(fā)送 周期。
優(yōu)選的，所述計(jì)凄M莫塊，具體包括
識別子模塊，用于識別所述通過指定端口所接收的檢測報(bào)文中所包含的 轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的種類；
計(jì)數(shù)子模塊，與所述識別子模塊相連接，用于根據(jù)所述轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識種
優(yōu)選的，所述轉(zhuǎn)發(fā)芯片還包括
處理模塊，與所述計(jì)數(shù)模塊連接，用于丟棄完成所述計(jì)數(shù)模塊的計(jì)數(shù)操 作的檢測報(bào)文。
與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有以下優(yōu)點(diǎn)
通過應(yīng)用本發(fā)明的技術(shù)方案，可以實(shí)時(shí)的檢測轉(zhuǎn)發(fā)芯片間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑，不再簡單的利用CPU收發(fā)報(bào)文進(jìn)行檢測，而是通過CPU和轉(zhuǎn)發(fā)芯片結(jié)合的方式
來對轉(zhuǎn)發(fā)芯片進(jìn)行檢測，通過硬件的高效的轉(zhuǎn)發(fā)功能和軟件的控制功能相結(jié)
合，減少CPU的占用以及達(dá)到智能選擇報(bào)文路徑和對報(bào)文進(jìn)行檢測的目的。


圖1為現(xiàn)有技術(shù)中一種可以實(shí)時(shí)檢測轉(zhuǎn)發(fā)芯片間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑狀態(tài)的檢測
方法的示意圖2為本發(fā)明所提出的一種轉(zhuǎn)發(fā)路徑檢測方法的流程示意圖3為本發(fā)明所提出的一種CPU對轉(zhuǎn)發(fā)芯片與其他轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間的轉(zhuǎn)發(fā)
路徑進(jìn)行;險(xiǎn)測的處理流程示意圖4為本發(fā)明所提出的具體應(yīng)用場景中的一種轉(zhuǎn)發(fā)路徑檢測方法的流程
示意圖5為本發(fā)明所提出的檢測報(bào)文發(fā)送流程的示意圖6為本發(fā)明所提出的檢測報(bào)文環(huán)回流程的示意圖7為本發(fā)明所提出的檢測報(bào)文統(tǒng)計(jì)結(jié)果反饋的流程示意圖8為本發(fā)明所提出的模塊隔離的流程示意圖9為本發(fā)明所提出的模塊隔離后進(jìn)行通知的流程示意圖IO為本發(fā)明所提出的一種轉(zhuǎn)發(fā)芯片的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式
如背景技術(shù)所述，現(xiàn)有的轉(zhuǎn)發(fā)路徑檢測方法過多的依賴于CPU的參與能 力，需要發(fā)送大量的檢測報(bào)文，并由CPU進(jìn)行大量的檢測報(bào)文的解析，這樣
的技術(shù)方案需要耗費(fèi)大量的系統(tǒng)資源，在系統(tǒng)資源被其他業(yè)務(wù)占用較多的情 況下，會影響檢測效率。
本發(fā)明提出了一種轉(zhuǎn)發(fā)路徑檢測方法，主要基于交換網(wǎng)架構(gòu)系統(tǒng)，利用 交換網(wǎng)系統(tǒng)進(jìn)行報(bào)文的識別和判斷，以及路徑的選擇，達(dá)到高效的檢測轉(zhuǎn)發(fā) 芯片間的鏈路故障的目的。
本發(fā)明所提出的方法應(yīng)用于包括多個(gè)中央處理器CPU和多個(gè)轉(zhuǎn)發(fā)芯片的含轉(zhuǎn)發(fā)芯片所對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文，各轉(zhuǎn)發(fā)芯片將包含自身的轉(zhuǎn) 發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文轉(zhuǎn)發(fā)送至系統(tǒng)中的其他轉(zhuǎn)發(fā)芯片的指定端口 ，各轉(zhuǎn)發(fā) 芯片所對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識互不相同。
需要指出的是，上述的檢測報(bào)文可以是全F的廣播報(bào)文，也可以是組播報(bào)
文，只要該類型的報(bào)文能夠覆蓋到所有的轉(zhuǎn)發(fā)芯片，則均屬于本發(fā)明的保護(hù) 范圍。
上述的轉(zhuǎn)發(fā)芯片中的指定端口，可以是該轉(zhuǎn)發(fā)芯片中的環(huán)回端口，也可 以使用邏輯等實(shí)現(xiàn)類似的功能的端口或其它類似的芯片屬性，具體端口種類 的變化并不影響本發(fā)明的保護(hù)范圍。
如圖2所示，本發(fā)明所提出的方法具體包括以下步驟
步驟S201、轉(zhuǎn)發(fā)芯片通過指定端口接收其他轉(zhuǎn)發(fā)芯片發(fā)送的檢測報(bào)文。
在本步驟中，轉(zhuǎn)發(fā)芯片接收到的是當(dāng)前系統(tǒng)中的其他轉(zhuǎn)發(fā)芯片所發(fā)送的
發(fā)芯片的，各轉(zhuǎn)發(fā)芯片將接收到的由自身所對應(yīng)的CPU發(fā)送的檢測報(bào)文發(fā)送 給當(dāng)前系統(tǒng)中的所有其他轉(zhuǎn)發(fā)芯片。
基于上述的轉(zhuǎn)發(fā)規(guī)則，當(dāng)前系統(tǒng)中的任何一個(gè)轉(zhuǎn)發(fā)芯片都可以接收到當(dāng) 前系統(tǒng)中的其他轉(zhuǎn)發(fā)芯片發(fā)送來的檢測報(bào)文。
步驟S202、轉(zhuǎn)發(fā)芯片分別根據(jù)接收到的各檢測報(bào)文中所包含的轉(zhuǎn)發(fā)芯片 標(biāo)識，對接收到的包含每種轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文進(jìn)行計(jì)數(shù)。
本步驟的具體實(shí)現(xiàn)流程為
首先，轉(zhuǎn)發(fā)芯片識別通過指定端口所接收的檢測報(bào)文中所包含的轉(zhuǎn)發(fā)芯 片標(biāo)識的種類；
然后，轉(zhuǎn)發(fā)芯片根據(jù)上述的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識種類的識別結(jié)果，分別對各種 類的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識所對應(yīng)的檢測報(bào)文進(jìn)行計(jì)數(shù)。
需要指出的是，上述的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識可以通過MAC作為唯一的標(biāo)志，也 可以是報(bào)文中的其它內(nèi)容，包括但不限于MAC,IP,以及任意一段可以唯一標(biāo)志 轉(zhuǎn)發(fā)芯片的報(bào)文數(shù)據(jù)內(nèi)容。進(jìn)一步的，在完成本步驟的計(jì)數(shù)處理之后，轉(zhuǎn)發(fā)芯片丟棄完成計(jì)數(shù)操作 的檢測報(bào)文。
步驟S203、轉(zhuǎn)發(fā)芯片在預(yù)設(shè)的4全測周期完成后，向相對應(yīng)的CPU上報(bào)接 收到的包含每種轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文的計(jì)數(shù)結(jié)果，以使CPU對轉(zhuǎn)發(fā)芯片 與其他轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑進(jìn)行檢測。
其中，為了避免對相同的檢索報(bào)文進(jìn)行重復(fù)檢測，需要要求預(yù)設(shè)的檢測 周期大于預(yù)設(shè)的發(fā)送周期，從而，保證每次檢測至少會檢測到一個(gè)新的檢測 報(bào)文的計(jì)數(shù)結(jié)果。
需要指出的是，在本發(fā)明所提出的技術(shù)方案中，可以由一個(gè)CPU對多個(gè) 轉(zhuǎn)發(fā)芯片進(jìn)行操作，也可以由一個(gè)CPU對一個(gè)轉(zhuǎn)發(fā)芯片進(jìn)行操作，或者是多 個(gè)CPU對一個(gè)轉(zhuǎn)發(fā)芯片進(jìn)行操作，例如，對同一個(gè)轉(zhuǎn)發(fā)芯片進(jìn)行發(fā)包和查詢 操作的CPU是不同的兩個(gè)CPU。
具體的，CPU對轉(zhuǎn)發(fā)芯片與其他轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑進(jìn)行檢測的處 理流程如圖3所示，包括以下步驟
步驟S301 、 CPU判斷轉(zhuǎn)發(fā)芯片上報(bào)的檢測周期內(nèi)每種轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢 測報(bào)文的計(jì)數(shù)結(jié)果與預(yù)設(shè)的報(bào)文數(shù)量閾值的大小關(guān)系。
才艮據(jù)相應(yīng)的判斷結(jié)果進(jìn)行以下兩種情況的相應(yīng)處理
當(dāng)CPU判斷檢測周期內(nèi) 一種轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文的計(jì)數(shù)結(jié)果大于或 等于預(yù)設(shè)的報(bào)文數(shù)量閾值時(shí)，執(zhí)行步驟S302;
當(dāng)CPU判斷檢測周期內(nèi) 一種轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文的計(jì)數(shù)結(jié)果低于預(yù) 設(shè)的報(bào)文數(shù)量閾值時(shí)，執(zhí)行步驟S303。
步驟S302、 CPU確認(rèn)該種類的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識所對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)芯片與上報(bào)計(jì) 數(shù)結(jié)果的轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑狀態(tài)正常，完成本次檢測。
這種情況下，該轉(zhuǎn)發(fā)路徑的狀態(tài)檢測結(jié)果正常，為了節(jié)約網(wǎng)絡(luò)資源，可 以將已經(jīng)處理的該轉(zhuǎn)發(fā)路徑相關(guān)的統(tǒng)計(jì)信息刪除。
在實(shí)際的應(yīng)用場景中，也可以暫時(shí)保存上述統(tǒng)計(jì)信息，而在一個(gè)預(yù)設(shè)的 情路周期到達(dá)時(shí)，統(tǒng)一將當(dāng)前系統(tǒng)中保存的處理完畢，且相對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)路徑 狀態(tài)為正常的統(tǒng)計(jì)信息刪除。具體應(yīng)用上述哪種信息清理策略需要根據(jù)具體場景的需要進(jìn)行調(diào)整，無 論應(yīng)用哪種信息清理策略都不會影響本發(fā)明的保護(hù)范圍。
步驟S303、 CPU保存該種類的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識所對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)芯片與上報(bào)計(jì) 數(shù)結(jié)果的轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑的狀態(tài)待定記錄。
完成狀態(tài)待定記錄后，CPU繼續(xù)對該轉(zhuǎn)發(fā)路徑進(jìn)行;險(xiǎn)測。 需要進(jìn)一步說明的是，為了更準(zhǔn)確的進(jìn)行轉(zhuǎn)發(fā)路徑的狀態(tài)檢測，所以， 對于狀態(tài)待定的轉(zhuǎn)發(fā)路徑，系統(tǒng)保留當(dāng)前的狀態(tài)待定記錄，并繼續(xù)進(jìn)行再次 檢測，已確定該轉(zhuǎn)發(fā)路徑是否確實(shí)存在故障，并且，為了避免無限制的檢測 所帶來的資源浪費(fèi)，對于上述的狀態(tài)待定記錄，可以預(yù)設(shè)安全閾值，如果連 續(xù)出現(xiàn)狀態(tài)待定記錄的次數(shù)超過上述安全閾值，則判定該轉(zhuǎn)發(fā)路徑的狀態(tài)異 常，相反，如果在狀態(tài)待定記錄達(dá)到安全閾值之前，該轉(zhuǎn)發(fā)路徑的狀態(tài)檢測 結(jié)果為正常，則表示該轉(zhuǎn)發(fā)路徑已經(jīng)恢復(fù)正常，因此，刪除之前該轉(zhuǎn)發(fā)路徑 的全部狀態(tài)待定記錄。
基于上述的技術(shù)思路，對步驟S303之后的流程具體說明如下 步驟S304、 CPU判斷該種類的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識所對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)芯片與上報(bào)計(jì) 數(shù)結(jié)果的轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑的狀態(tài)待定記錄是否達(dá)到預(yù)設(shè)的安全鬮 值。
如果沒有達(dá)到安全閾值，則執(zhí)行步驟S301,繼續(xù)進(jìn)行相應(yīng)的狀態(tài)檢測。
并且，如果CPU判斷該種類的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識所對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)芯片與上報(bào)計(jì) 數(shù)結(jié)果的轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑的狀態(tài)待定記錄達(dá)到預(yù)設(shè)的安全闊值之 前，如果CPU判斷種類轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文的計(jì)數(shù)結(jié)果大于或等于預(yù)設(shè) 的報(bào)文數(shù)量閾值，則執(zhí)行步驟S302， CPU清除狀態(tài)待定記錄。
同樣，如果CPU判斷種類的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識所對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)芯片與上報(bào)計(jì)數(shù) 結(jié)果的轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑的狀態(tài)待定記錄達(dá)到預(yù)設(shè)的安全閾值之前， 如果CPU判斷種類轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文的計(jì)數(shù)結(jié)果小于預(yù)設(shè)的報(bào)文數(shù)量 閾值，則執(zhí)行步驟S303, CPU繼續(xù)保存狀態(tài)待定記錄。
如果達(dá)到安全闊值，則執(zhí)行步驟S305。
步驟S305、 CPU確認(rèn)種類的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識所對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)芯片與上報(bào)計(jì)數(shù)結(jié)果的轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑狀態(tài)異常。
并且，CPU確認(rèn)種類的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識所對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)芯片與上報(bào)計(jì)數(shù)結(jié)果
的轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑狀態(tài)異常之后，還可以進(jìn)一步執(zhí)行步驟S306。 步驟S306、 CPU發(fā)送轉(zhuǎn)發(fā)路徑狀態(tài)異常的告警或提示消息。 需要進(jìn)一步指出的是，在CPU確認(rèn)種類的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識所對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)芯
片與上報(bào)計(jì)數(shù)結(jié)果的轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑狀態(tài)異常之后，如果確認(rèn)是轉(zhuǎn)
發(fā)芯片故障，本發(fā)明所提出的技術(shù)方案還包括單板隔離處理流程，具體為 發(fā)生故障的轉(zhuǎn)發(fā)芯片所對應(yīng)的CPU設(shè)置發(fā)生故障的轉(zhuǎn)發(fā)芯片所對應(yīng)的所
有業(yè)務(wù)端口的狀態(tài)為關(guān)閉，設(shè)置發(fā)生故障的轉(zhuǎn)發(fā)芯片所對應(yīng)的所有轉(zhuǎn)發(fā)路徑
的狀態(tài)為環(huán)回；
發(fā)生故障的轉(zhuǎn)發(fā)芯片所對應(yīng)的CPU通知系統(tǒng)中的其他轉(zhuǎn)發(fā)芯片所對應(yīng)的 CPU不再對發(fā)生故障的轉(zhuǎn)發(fā)芯片進(jìn)行轉(zhuǎn)發(fā)路徑的檢測。
在本發(fā)明的技術(shù)方案中，對故障轉(zhuǎn)發(fā)芯片進(jìn)行隔離，可以使用將所有的 業(yè)務(wù)端口 DOWN并將所有的轉(zhuǎn)發(fā)路徑自環(huán)的方式，也可以采用其它的方式， 只要能將故障轉(zhuǎn)發(fā)芯片在業(yè)務(wù)層面上面進(jìn)行隔離即可。具體隔離方式的變化 并不影響本發(fā)明的保護(hù)范圍。
故障轉(zhuǎn)發(fā)芯片隔離后，可以通過CPU通知到其它CPU上面，也可以通過其 它方式通知其它CPU或轉(zhuǎn)發(fā)芯片，具體的通知方式包括但不限于信號或其它 診斷報(bào)文等，使得轉(zhuǎn)發(fā)芯片知道故障轉(zhuǎn)發(fā)芯片被隔離了，不再對故障轉(zhuǎn)發(fā)芯 片進(jìn)行檢測。
另一方面，對故障轉(zhuǎn)發(fā)芯片進(jìn)行隔離后進(jìn)行的檢測，可以是由本地的軟 件實(shí)現(xiàn)的，也可以是其它硬件等診斷方式，只要能夠?qū)收限D(zhuǎn)發(fā)芯片進(jìn)行診 斷定位即可。
業(yè)務(wù)檢測到轉(zhuǎn)發(fā)芯片故障后，可以通過模塊隔離計(jì)數(shù)將故障轉(zhuǎn)發(fā)芯片隔 離，也可以通過其它方式對轉(zhuǎn)發(fā)芯片進(jìn)行修復(fù)等手段對故障轉(zhuǎn)發(fā)進(jìn)行處理。 與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有以下優(yōu)點(diǎn)
通過應(yīng)用本發(fā)明的技術(shù)方案，可以實(shí)時(shí)的檢測轉(zhuǎn)發(fā) 片間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑， 并能夠高效快速的進(jìn)行轉(zhuǎn)發(fā)路徑的健康性的檢查，降低CPU占用率，并且，減小轉(zhuǎn)發(fā)路徑檢測受軟件的影響。
基于上述的技術(shù)思想，下面結(jié)合具體的應(yīng)用場景，對本發(fā)明所提出的技 術(shù)思^各進(jìn)行詳細(xì)描述。
本發(fā)明所提出的技術(shù)方案不再簡單的利用CPU收發(fā)報(bào)文進(jìn)行檢測，而是
通過CPU和轉(zhuǎn)發(fā)芯片結(jié)合的方式來對轉(zhuǎn)發(fā)芯片進(jìn)行檢測，通過硬件的高效的
轉(zhuǎn)發(fā)功能和軟件的控制功能相結(jié)合，減少CPU的占用以及達(dá)到智能選擇報(bào)文
路徑和對纟艮文進(jìn)行^r測的目的。
如圖4所示，本發(fā)明所提出的轉(zhuǎn)發(fā)路徑檢測方法的具體實(shí)現(xiàn)流程如下 步驟S401、與轉(zhuǎn)發(fā)芯片A相對應(yīng)的CPU對轉(zhuǎn)發(fā)芯片A只發(fā)送一個(gè)報(bào)文，利
用芯片的特性，轉(zhuǎn)發(fā)芯片A將這個(gè)報(bào)文轉(zhuǎn)發(fā)到所有的轉(zhuǎn)發(fā)芯片的指定端口中去。
這個(gè)發(fā)送的報(bào)文帶有一個(gè)特定的MAC。系統(tǒng)中所有的轉(zhuǎn)發(fā)芯片都分配一 個(gè)特定的MAC,用于區(qū)分不同的轉(zhuǎn)發(fā)芯片。
報(bào)文發(fā)送的目的地是各個(gè)轉(zhuǎn)發(fā)芯片的指定端口 ，即各轉(zhuǎn)發(fā)芯片內(nèi)部的一 個(gè)自環(huán)端口 ，在本實(shí)施例中可以具體設(shè)置該指定端口為環(huán)回端口 。
本步驟具體的流程示意圖如圖5所示。
步驟S402、其它轉(zhuǎn)發(fā)芯片收到報(bào)文后，根據(jù)報(bào)文內(nèi)容中的MAC進(jìn)行報(bào)文 個(gè)數(shù)統(tǒng)計(jì)。
如果在本實(shí)施例中，設(shè)置指定端口為環(huán)回端口，則上述轉(zhuǎn)發(fā)芯片所接收 到的報(bào)文從環(huán)回端口里面重新環(huán)回回來，并在轉(zhuǎn)發(fā)芯片內(nèi)部進(jìn)行個(gè)數(shù)統(tǒng)計(jì)處 理。這樣的變化以轉(zhuǎn)發(fā)芯片可以接收到報(bào)文為目的，具體端口類型的變化并 不影響本發(fā)明的保護(hù)范圍。
具體的統(tǒng)計(jì)策略可以如下
該轉(zhuǎn)發(fā)芯片每收到一個(gè)攜帶特定的MAC的報(bào)文，就將攜帶這個(gè)MAC的報(bào) 文的個(gè)數(shù)加一，不同的MAC的報(bào)文，使用不同的統(tǒng)計(jì)單元進(jìn)行計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)。
MAC匹配完成之后，將該報(bào)文直接丟棄，不再繼續(xù)進(jìn)行轉(zhuǎn)發(fā)，避免對其 它報(bào)文造成影響。本步驟具體的流程示意圖如圖6所示。
步驟S403、每10個(gè)周期，CPU就從轉(zhuǎn)發(fā)芯片A (本CPU用于發(fā)送和檢測的 轉(zhuǎn)發(fā)芯片)中獲取其它轉(zhuǎn)發(fā)芯片發(fā)送過來的報(bào)文個(gè)數(shù)，并檢測每個(gè)轉(zhuǎn)發(fā)芯片 發(fā)送過來的報(bào)文個(gè)數(shù)是否在合理的范圍內(nèi)。
需要指出的是，上述的10個(gè)周期即為前述的檢測周期，而l個(gè)周期則是前 述的發(fā)送周期，檢測周期大于發(fā)送周期，符合前述的系統(tǒng)設(shè)定要求。
其中，這個(gè)10個(gè)周期的大小(即檢測周期的大小)可以根據(jù)實(shí)際需要進(jìn) 行設(shè)定，不一定是10個(gè)周期，也可以是其它固定周期， 一企測周期大小的變化 并不影響本發(fā)明的保護(hù)范圍。
在本實(shí)施例中，認(rèn)為MAC值對應(yīng)的報(bào)文收包個(gè)數(shù)大于或等于8為合理范圍。
當(dāng)MAC值對應(yīng)的報(bào)文收包個(gè)數(shù)大于或等于8時(shí)，執(zhí)行步驟S404; 當(dāng)MAC值對應(yīng)的報(bào)文收包個(gè)數(shù)小于8時(shí)，繼續(xù)執(zhí)行步驟S403,繼續(xù)進(jìn)行
轉(zhuǎn)發(fā)路徑的狀態(tài)檢測。
當(dāng)MAC值對應(yīng)的報(bào)文收包個(gè)數(shù)連續(xù)3次小于8時(shí)，執(zhí)行步驟S405。
其中的8就是前述的預(yù)設(shè)的報(bào)文數(shù)量闊值，在本實(shí)施例中，這個(gè)數(shù)值采用 的是周期數(shù)-2,即10-2,在實(shí)際的應(yīng)用場景中，也可以是其它計(jì)算方式， 即該數(shù)值可以根據(jù)實(shí)際的需要進(jìn)行調(diào)整。
進(jìn)一步的，上述的3次，就是前述的預(yù)設(shè)的安全閾值，這個(gè)數(shù)值也可以根 據(jù)實(shí)際的需要進(jìn)行調(diào)整。
上述的預(yù)設(shè)的報(bào)文數(shù)量閾值和預(yù)設(shè)的安全閾值的數(shù)值變化并不影響本發(fā) 明的保護(hù)范圍。
步驟S404、 CPU確認(rèn)該轉(zhuǎn)發(fā)路徑的狀態(tài)正常。
步驟S405、 CPU確認(rèn)這個(gè)特定MAC對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)芯片到本轉(zhuǎn)發(fā)芯片的路徑
是不正常的，進(jìn)行告警和提示用戶。
上述的步驟S403至步驟S405的具體的流程示意圖如圖7所示。 需要進(jìn)一步指出的是，在上述的步驟中，為避免其它任務(wù)搶占CPU，使
得實(shí)時(shí)性不高導(dǎo)致誤報(bào)，可以使用一個(gè)獨(dú)立的高優(yōu)先級任務(wù)進(jìn)行檢測。這個(gè)任務(wù)中每一秒鐘(每個(gè)發(fā)送周期)執(zhí)行一次發(fā)包任務(wù)，每10秒鐘(每個(gè)檢測 周期)執(zhí)行一次收包檢查任務(wù)。
當(dāng)CPU檢測到芯片轉(zhuǎn)發(fā)故障后，進(jìn)一步可以執(zhí)行步驟S406。 步驟S406、 CPU采用模塊隔離技術(shù)，對故障單板進(jìn)行隔離，并在隔離后 對單板進(jìn)行檢測，以實(shí)現(xiàn)對單板故障的檢測。
模塊隔離的時(shí)候，首先保證業(yè)務(wù)層面上面的隔離，即隔離單板不參與業(yè)
務(wù)轉(zhuǎn)發(fā)。
通過將所有的業(yè)務(wù)端口 DOWN以及將所有的轉(zhuǎn)發(fā)路徑設(shè)置環(huán)回的方式， 將故障轉(zhuǎn)發(fā)芯片A的業(yè)務(wù)層面上進(jìn)行隔離。
如圖8所示，模塊隔離的時(shí)候，通過CPU將發(fā)生故障的故障轉(zhuǎn)發(fā)芯片A的 業(yè)務(wù)層面上面的轉(zhuǎn)發(fā)通道隔離，關(guān)閉故障轉(zhuǎn)發(fā)芯片的轉(zhuǎn)發(fā)入通道和轉(zhuǎn)發(fā)出通 道，并需要及時(shí)通知其它模塊，故障轉(zhuǎn)發(fā)芯片模塊A已經(jīng)處于隔離狀態(tài)，相應(yīng) 的，如圖9所示，其它轉(zhuǎn)發(fā)芯片感知到故障轉(zhuǎn)發(fā)芯片A已經(jīng)處于隔離狀態(tài)后， 對故障轉(zhuǎn)發(fā)芯片A不再進(jìn)行轉(zhuǎn)發(fā)路徑檢測，避免誤報(bào)。
通過上述模塊隔離的處理，CPU將故障轉(zhuǎn)發(fā)模塊隔離后，可以對故障轉(zhuǎn) 發(fā)芯片進(jìn)行詳細(xì)的診斷。
與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有以下優(yōu)點(diǎn)
通過應(yīng)用本發(fā)明的技術(shù)方案，可以實(shí)時(shí)的檢測轉(zhuǎn)發(fā)芯片間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑， 不再簡單的利用CPU收發(fā)報(bào)文進(jìn)行檢測，而是通過CPU和轉(zhuǎn)發(fā)芯片結(jié)合的方式 來對轉(zhuǎn)發(fā)芯片進(jìn)行才企測，通過硬件的高效的轉(zhuǎn)發(fā)功能和軟件的控制功能相結(jié) 合，減少CPU的占用以及達(dá)到智能選擇報(bào)文路徑和對報(bào)文進(jìn)行檢測的目的。
為了實(shí)現(xiàn)上述的技術(shù)方案，本發(fā)明還提供了一種轉(zhuǎn)發(fā)芯片，包括一個(gè)指 定端口，應(yīng)用于包括多個(gè)CPU和多個(gè)轉(zhuǎn)發(fā)芯片的系統(tǒng)中，其中，各CPU按照
片標(biāo)識的檢測報(bào)文，各轉(zhuǎn)發(fā)芯片所對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識互不相同。 如圖IO所示，轉(zhuǎn)發(fā)芯片具體包括
通信模塊101,用于接收CPU發(fā)送的包含自身的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文，并將檢測報(bào)文轉(zhuǎn)發(fā)送至系統(tǒng)中的其他轉(zhuǎn)發(fā)芯片的指定端口，以及通過自 身的指定端口接收其他轉(zhuǎn)發(fā)芯片發(fā)送的檢測報(bào)文，還用于向CPU上報(bào)接收到 的包含每種轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文的計(jì)數(shù)結(jié)果。
計(jì)數(shù)模塊102,與通信模塊101連接，用于分別根據(jù)指定端口接收到的各 檢測報(bào)文中所包含的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識，對通信模塊101接收到的包含每種轉(zhuǎn)發(fā) 芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文進(jìn)行計(jì)數(shù)，具體包括
識別子模塊1021，用于識別通過指定端口所接收的檢測報(bào)文中所包含的 轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的種類。
計(jì)數(shù)子模塊1022,與識別子模塊1021相連接，用于根據(jù)轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識種 類的識別結(jié)果，分別對各種類的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識所對應(yīng)的檢測報(bào)文進(jìn)行計(jì)數(shù)。
設(shè)置模塊103，與通信模塊101連接，用于設(shè)置檢測周期，使通信模塊 101在預(yù)設(shè)的檢測周期完成后，向相對應(yīng)的CPU上報(bào)接收到的包含每種轉(zhuǎn)發(fā) 芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文的計(jì)數(shù)結(jié)果，以使CPU對轉(zhuǎn)發(fā)芯片與其他轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間 的轉(zhuǎn)發(fā)路徑進(jìn)行檢測，其中，預(yù)設(shè)的檢測周期大于預(yù)設(shè)的發(fā)送周期。
在具體的應(yīng)用場景中，該轉(zhuǎn)發(fā)芯片還包括
處理模塊104，與計(jì)數(shù)模塊102連接，用于丟棄完成計(jì)數(shù)模塊102的計(jì)數(shù) 操作的檢測報(bào)文。
與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有以下優(yōu)點(diǎn)
通過應(yīng)用本發(fā)明的技術(shù)方案，可以實(shí)時(shí)的檢測轉(zhuǎn)發(fā)芯片間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑， 不再簡單的利用CPU收發(fā)報(bào)文進(jìn)行檢測，而是通過CPU和轉(zhuǎn)發(fā)芯片結(jié)合的方 式來對轉(zhuǎn)發(fā)芯片進(jìn)行檢測，通過硬件的高效的轉(zhuǎn)發(fā)功能和軟件的控制功能相 結(jié)合，減少CPU的占用以及達(dá)到智能選擇報(bào)文路徑和對報(bào)文進(jìn)行檢測的目的。
通過以上的實(shí)施方式的描述，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以清楚地了解到本發(fā) 明可以通過硬件實(shí)現(xiàn)，也可以借助軟件加必要的通用硬件平臺的方式來實(shí)現(xiàn)。 基于這樣的理解，本發(fā)明的技術(shù)方案可以以軟件產(chǎn)品的形式體現(xiàn)出來，該軟 件產(chǎn)品可以存儲在一個(gè)非易失性存儲介質(zhì)(可以是CD-ROM， U盤，移動(dòng)硬 盤等)中，包括若干指令用以使得一臺計(jì)算機(jī)設(shè)備(可以是個(gè)人計(jì)算機(jī)，服務(wù)器，或者網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等)執(zhí)行本發(fā)明各個(gè)實(shí)施場景所述的方法。
本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解附圖只是一個(gè)優(yōu)選實(shí)施場景的示意圖，附圖中
的模塊或流程并不一定是實(shí)施本發(fā)明所必須的。
本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解實(shí)施場景中的裝置中的模塊可以按照實(shí)施場景
描述進(jìn)行分布于實(shí)施場景的裝置中，也可以進(jìn)行相應(yīng)變化位于不同于本實(shí)施
場景的一個(gè)或多個(gè)裝置中。上述實(shí)施場景的模塊可以合并為一個(gè)模塊，也可
以進(jìn)一步拆分成多個(gè)子^^莫塊。
上述本發(fā)明序號僅僅為了描述，不代表實(shí)施場景的優(yōu)劣。
以上公開的僅為本發(fā)明的幾個(gè)具體實(shí)施場景，但是，本發(fā)明并非局限于 此，任何本領(lǐng)域的技術(shù)人員能思之的變化都應(yīng)落入本發(fā)明的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1、一種轉(zhuǎn)發(fā)路徑檢測方法，其特征在于，應(yīng)用于包括多個(gè)中央處理器CPU和多個(gè)轉(zhuǎn)發(fā)芯片的系統(tǒng)中，其中，各CPU按照預(yù)設(shè)的發(fā)送周期分別向相對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)芯片發(fā)送包含所述轉(zhuǎn)發(fā)芯片所對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文，各轉(zhuǎn)發(fā)芯片將包含自身的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文轉(zhuǎn)發(fā)送至所述系統(tǒng)中的其他轉(zhuǎn)發(fā)芯片的指定端口，各所述轉(zhuǎn)發(fā)芯片所對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識互不相同，所述方法包括轉(zhuǎn)發(fā)芯片通過指定端口接收其他轉(zhuǎn)發(fā)芯片發(fā)送的所述檢測報(bào)文；所述轉(zhuǎn)發(fā)芯片分別根據(jù)接收到的各檢測報(bào)文中所包含的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識，對接收到的包含每種轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文進(jìn)行計(jì)數(shù)；所述轉(zhuǎn)發(fā)芯片在預(yù)設(shè)的檢測周期完成后，向相對應(yīng)的CPU上報(bào)接收到的包含每種轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文的計(jì)數(shù)結(jié)果，以使所述CPU對所述轉(zhuǎn)發(fā)芯片與其他轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑進(jìn)行檢測，其中，所述預(yù)設(shè)的檢測周期大于所述預(yù)設(shè)的發(fā)送周期。
2、 如權(quán)利要求l所述的方法，其特征在于，所述轉(zhuǎn)發(fā)芯片分別根據(jù)接收 到的各檢測報(bào)文中所包含的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識，對接收到的包含每種轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo) 識的檢測報(bào)文進(jìn)行計(jì)數(shù)，具體為所述轉(zhuǎn)發(fā)芯片識別所述通過指定端口所接收的檢測報(bào)文中所包含的轉(zhuǎn)發(fā) 芯片標(biāo)識的種類；所述轉(zhuǎn)發(fā)芯片根據(jù)所述轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識種類的識別結(jié)果，分別對各種類的 轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識所對應(yīng)的檢測報(bào)文進(jìn)行計(jì)數(shù)。
3、 如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述轉(zhuǎn)發(fā)芯片根據(jù)所述轉(zhuǎn)發(fā) 芯片標(biāo)識種類的識別結(jié)果，分別對各種類的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識所對應(yīng)的檢測報(bào)文 進(jìn)行計(jì)數(shù)之后，還包括所述轉(zhuǎn)發(fā)芯片丟棄完成所述計(jì)數(shù)操作的檢測報(bào)文。
4、 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述CPU對所述轉(zhuǎn)發(fā)芯片 與其他轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑進(jìn)行檢測，具體為檢測報(bào)文的計(jì)數(shù)結(jié)果與預(yù)設(shè)的報(bào)文數(shù)量閾值的大小關(guān)系；當(dāng)所述CPU判斷所述檢測周期內(nèi) 一種轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文的計(jì)數(shù)結(jié) 果大于或等于預(yù)設(shè)的報(bào)文數(shù)量閾值時(shí)，所述CPU確認(rèn)所述種類的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)常；、、、 一 、、曰、、、當(dāng)所述CPU判斷所述檢測周期內(nèi) 一種轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文的計(jì)數(shù)結(jié) 果低于預(yù)設(shè)的報(bào)文數(shù)量閾值時(shí)，所述CPU保存所述種類的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識所對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)芯片與上報(bào)所述計(jì)數(shù)結(jié)果的轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑的狀態(tài)待定記 錄，并繼續(xù)進(jìn)行轉(zhuǎn)發(fā)路徑的檢測。
5、 如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，當(dāng)所述CPU判斷所述^f企測 周期內(nèi)一種轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文的計(jì)數(shù)結(jié)果低于預(yù)設(shè)的報(bào)文數(shù)量閾值 時(shí)，所述CPU保存判斷結(jié)果，作為所述種類的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識所對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)芯 片與上報(bào)所述計(jì)數(shù)結(jié)果的轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑的狀態(tài)待定記錄，并繼續(xù)進(jìn)行轉(zhuǎn)發(fā)路徑的檢測之后，還包括所述CPU判斷所述種類的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識所對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)芯片與上報(bào)所述計(jì) 數(shù)結(jié)果的轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑的狀態(tài)待定記錄達(dá)到預(yù)設(shè)的安全閾值之 前，如果所述CPU判斷所述種類轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文的計(jì)數(shù)結(jié)果大于或 等于預(yù)設(shè)的報(bào)文數(shù)量閾值，所述CPU清除所述狀態(tài)待定記錄；數(shù)結(jié)果的轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑的狀態(tài)待定記錄達(dá)到預(yù)設(shè)的安全閾值之 前，如果所述CPU判斷所述種類轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文的計(jì)數(shù)結(jié)果小于預(yù) 設(shè)的報(bào)文數(shù)量閾值，所述CPU繼續(xù)保存所述狀態(tài)待定記錄；計(jì)數(shù)結(jié)果的轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑的狀態(tài)待定記錄達(dá)到預(yù)設(shè)的安全閾值 時(shí)，所述CPU確認(rèn)所述種類的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識所對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)芯片與上報(bào)所述計(jì) 數(shù)結(jié)果的轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑狀態(tài)異常。
6、 如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述CPU確認(rèn)所述種類的 轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識所對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)芯片與上報(bào)所述計(jì)數(shù)結(jié)果的轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間的轉(zhuǎn)發(fā) 路徑狀態(tài)異常之后，還包括所述CPU發(fā)送轉(zhuǎn)發(fā)路徑狀態(tài)異常的告警或提示消息。
7、 如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述CPU確認(rèn)所述種類的 轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識所對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)芯片與上報(bào)所述計(jì)數(shù)結(jié)果的轉(zhuǎn)發(fā)芯片之間的轉(zhuǎn)發(fā) 路徑狀態(tài)異常之后，如果確認(rèn)是轉(zhuǎn)發(fā)芯片故障，還包括發(fā)生故障的轉(zhuǎn)發(fā)芯片所對應(yīng)的CPU設(shè)置所述發(fā)生故障的轉(zhuǎn)發(fā)芯片所對應(yīng) 的所有業(yè)務(wù)端口的狀態(tài)為關(guān)閉，設(shè)置所述發(fā)生故障的轉(zhuǎn)發(fā)芯片所對應(yīng)的所有 轉(zhuǎn)發(fā)路徑的狀態(tài)為環(huán)回；所述發(fā)生故障的轉(zhuǎn)發(fā)芯片所對應(yīng)的CPU通知所述系統(tǒng)中的其他轉(zhuǎn)發(fā)芯片
8、 一種轉(zhuǎn)發(fā)芯片，其特征在于，包括一個(gè)指定端口，應(yīng)用于包括多個(gè)中 央處理器CPU和多個(gè)轉(zhuǎn)發(fā)芯片的系統(tǒng)中，其中，各CPU按照預(yù)設(shè)的發(fā)送周期測報(bào)文，各所述轉(zhuǎn)發(fā)芯片所對應(yīng)的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識互不相同，包括通信模塊，用于接收CPU發(fā)送的包含自身的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文， 并將所述檢測報(bào)文轉(zhuǎn)發(fā)送至所述系統(tǒng)中的其他轉(zhuǎn)發(fā)芯片的指定端口 ，以及通 過自身的指定端口接收其他轉(zhuǎn)發(fā)芯片發(fā)送的所述檢測報(bào)文，還用于向所述 CPU上報(bào)接收到的包含每種轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文的計(jì)數(shù)結(jié)果；計(jì)數(shù)模塊，與所述通信模塊連接，用于分別根據(jù)所述指定端口所接收到 的的各檢測報(bào)文中所包含的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識，對所述通信模塊接收到的包含每 種轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的檢測報(bào)文進(jìn)行計(jì)數(shù)；設(shè)置模塊，與所述通信模塊連接，用于設(shè)置檢測周期，使所述通信模塊 在預(yù)設(shè)的檢測周期完成后，向相對應(yīng)的CPU上報(bào)接收到的包含每種轉(zhuǎn)發(fā)芯片 標(biāo)識的檢測報(bào)文的計(jì)數(shù)結(jié)果，以使所述CPU對所述轉(zhuǎn)發(fā)芯片與其他轉(zhuǎn)發(fā)芯片 之間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑進(jìn)行檢測，其中，所述預(yù)設(shè)的檢測周期大于所述預(yù)設(shè)的發(fā)送 周期。
9、如權(quán)利要求8所迷的轉(zhuǎn)發(fā)芯片，其特征在于，所述計(jì)數(shù)模塊，具體包括識別子模塊，用于識別所述通過指定端口所接收的檢測報(bào)文中所包含的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識的種類；計(jì)數(shù)子模塊，與所述識別子模塊相連接，用于根據(jù)所述轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識種類的識別結(jié)果，分別對各種類的轉(zhuǎn)發(fā)芯片標(biāo)識所對應(yīng)的檢測報(bào)文進(jìn)行計(jì)數(shù)。
10、如權(quán)利要求9所述的轉(zhuǎn)發(fā)芯片，其特征在于，還包括 處理模塊，與所述計(jì)數(shù)模塊連接，用于丟棄完成所述計(jì)數(shù)模塊的計(jì)數(shù)操作的檢測報(bào)文。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種轉(zhuǎn)發(fā)路徑檢測方法和設(shè)備，可以實(shí)時(shí)的檢測轉(zhuǎn)發(fā)芯片間的轉(zhuǎn)發(fā)路徑，不再簡單的利用CPU收發(fā)報(bào)文進(jìn)行檢測，而是通過CPU和轉(zhuǎn)發(fā)芯片結(jié)合的方式來對轉(zhuǎn)發(fā)芯片進(jìn)行檢測，通過硬件的高效的轉(zhuǎn)發(fā)功能和軟件的控制功能相結(jié)合，減少CPU的占用以及達(dá)到智能選擇報(bào)文路徑和對報(bào)文進(jìn)行檢測的目的。
文檔編號H04L12/26GK101626324SQ20091016318
公開日2010年1月13日 申請日期2009年8月19日 優(yōu)先權(quán)日2009年8月19日
發(fā)明者汪洪遠(yuǎn), 亮 石 申請人:杭州華三通信技術(shù)有限公司