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一種基于拓?fù)浒l(fā)現(xiàn)的自動(dòng)化測(cè)試方法及系統(tǒng)的制作方法

文檔序號(hào):7918335閱讀:219來源:國知局
專利名稱:一種基于拓?fù)浒l(fā)現(xiàn)的自動(dòng)化測(cè)試方法及系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域,具體涉及一種基于拓樸發(fā)現(xiàn)的自動(dòng)化測(cè)試 方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)
隨著自動(dòng)化測(cè)試^t支術(shù)的蓬勃發(fā)展,自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)已經(jīng)逐漸深入到軟件 測(cè)試的各個(gè)方面。早期的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)需要根據(jù)測(cè)試工程統(tǒng)一設(shè)定測(cè)試拓 樸。例如有的測(cè)試工程,測(cè)試拓樸設(shè)定多臺(tái)被測(cè)設(shè)備和多個(gè)測(cè)試設(shè)備端口。 當(dāng)進(jìn)行其中 一些基本模塊如基本配置命令等測(cè)試時(shí),其實(shí)只需要一臺(tái)被測(cè)設(shè) 備,甚至不需要測(cè)試設(shè)備端口。而在只具備這些基本測(cè)試條件進(jìn)行這些基本 模塊測(cè)試時(shí),將會(huì)因?yàn)闇y(cè)試條件不滿足既定測(cè)試拓樸,導(dǎo)致測(cè)試無法進(jìn)行。為了適應(yīng)這一測(cè)試情況,根據(jù)測(cè)試模塊的拓樸結(jié)構(gòu)搭建測(cè)試環(huán)境, 一個(gè) 模塊測(cè)試完畢再根據(jù)下一個(gè)測(cè)試模塊繼續(xù)搭建相應(yīng)的測(cè)試環(huán)境。這樣導(dǎo)致在 測(cè)試過程中頻繁的更改測(cè)試環(huán)境,并且需要同時(shí)在自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)上修 文相 應(yīng)配置,人為參與性強(qiáng),不利于自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)的開展。中國專利CN 1731747,通過4荅建測(cè)試環(huán)境,描述測(cè)試物理環(huán)境的拓樸并 儲(chǔ)存,描述測(cè)試用例的邏輯拓樸并儲(chǔ)存,讀取所述測(cè)試用例的測(cè)試腳本并解 析其所依賴的邏輯拓樸,映射所述邏輯拓樸到所述物理拓樸,執(zhí)行所述測(cè)試 定義的操作。但該技術(shù)方案的缺點(diǎn)就是測(cè)試執(zhí)行單一,只能單線程進(jìn)行測(cè)試,這樣也 造成了 一些被測(cè)試設(shè)備和測(cè)試設(shè)備的浪費(fèi),不能達(dá)到測(cè)試資源的最大利用。同時(shí)在搭建測(cè)試環(huán)境時(shí),人工配置測(cè)試環(huán)境復(fù)雜,需要在被測(cè)試設(shè)備之 間以及被測(cè)試設(shè)備和測(cè)試設(shè)備之間多種連接,容易導(dǎo)致實(shí)際連接物理拓樸和 預(yù)期物理拓樸不一致,影響自動(dòng)化測(cè)試,甚至在連^|妻時(shí)由于線纜插得+>散,導(dǎo)致實(shí)際連接物理拓樸和預(yù)期物理拓樸不一致,這一點(diǎn)較前面連接錯(cuò)誤更難 發(fā)現(xiàn),直接影響自動(dòng)化測(cè)試的效果,甚至導(dǎo)致自動(dòng)化測(cè)試的失敗。因此,需 要一種技術(shù)方案解決在進(jìn)行測(cè)試環(huán)境拓樸結(jié)構(gòu)時(shí)自動(dòng)發(fā)現(xiàn),并且根據(jù)腳本運(yùn) 行策略自適應(yīng)的調(diào)整測(cè)試腳本映射其邏輯拓樸順序的問題,同時(shí)可以執(zhí)行多 個(gè)測(cè)試j壬務(wù)。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種基于拓樸發(fā)現(xiàn)的自動(dòng)化測(cè)試方法 及系統(tǒng),能夠進(jìn)行測(cè)試環(huán)境拓樸結(jié)構(gòu)自動(dòng)發(fā)現(xiàn),并且根據(jù)腳本運(yùn)行策略自適 應(yīng)的調(diào)整測(cè)試腳本映射其邏輯拓樸順序,同時(shí)可以執(zhí)行多個(gè)測(cè)試任務(wù),最大 限度地利用了測(cè)試資源,節(jié)約了測(cè)試時(shí)間,適應(yīng)目前大規(guī)4莫自動(dòng)化測(cè)試的需求。為了解決上述問題,本發(fā)明提供了一種基于拓樸發(fā)現(xiàn)的自動(dòng)化測(cè)試方法, 包括,遍歷所有測(cè)試端口,通過改變端口的鏈路狀態(tài),記錄其直接連接端口,生成測(cè)試環(huán)境的邏輯拓樸;根據(jù)設(shè)定的腳本屬性,對(duì)所有進(jìn)行測(cè)試的腳本進(jìn)行排序,從第一個(gè)測(cè)試 腳本開始加載所述邏輯拓樸并映射到物理拓樸,直至加載的測(cè)試腳本的測(cè)試 環(huán)境的物理拓樸滿足映射所述邏輯拓樸,并創(chuàng)建測(cè)試腳本子集;按照所述順序加載后面的腳本,首先在已經(jīng)存在的測(cè)試腳本子集所映射 的物理拓樸里映射邏輯拓樸,如果物理拓樸滿足,則把該腳本加入所滿足的 所述創(chuàng)建的測(cè)試腳本子集,并設(shè)置該測(cè)試腳本子集的子集標(biāo)志位;如果物理 拓樸不滿足,則在測(cè)試物理拓樸中已生成測(cè)試腳本子集所映射物理拓樸的補(bǔ) 集中繼續(xù)映射,直到其物理拓樸滿足,建立新的測(cè)試腳本子集,并設(shè)置新的 測(cè)試腳本子集的子集標(biāo)志位;按照測(cè)試腳本子集的子集標(biāo)志位由小到大或由 大到小的順序,依次對(duì)測(cè)試腳本子集在測(cè)試環(huán)境上映射測(cè)試拓樸并進(jìn)行測(cè)試。進(jìn)一步地,上述自動(dòng)化測(cè)試方法還可包括,所述遍歷所有測(cè)試端口,通 過改變端口的鏈路狀態(tài),記錄其直接連接端口,生成測(cè)試環(huán)境的邏輯拓樸,分為以下步驟,遍歷所有測(cè)試端口 ,記錄測(cè)試設(shè)備和被測(cè)試設(shè)備的物理端口的所在設(shè)備名稱、端口名稱、端口類型和端口鏈路狀態(tài)的信息;尋找端口鏈路狀態(tài)的信息為up的測(cè)試端口,將其鏈路狀態(tài)變?yōu)閐own狀 態(tài),并記錄相應(yīng)鏈路狀態(tài)由up變?yōu)閐own的其他測(cè)試端口,記錄這兩個(gè)端口 為具有連接關(guān)系的端口;繼續(xù)遍歷其他未具有連接關(guān)系的測(cè)試端口 ,利用其鏈路狀態(tài)改變的屬性, 記錄其直接連接端口 ;根據(jù)測(cè)試端口之間連接關(guān)系,生成測(cè)試環(huán)境的邏輯拓樸。進(jìn)一步地,上述自動(dòng)化測(cè)試方法還可包括,所述尋找端口鏈路狀態(tài)的信 息為叩的測(cè)試端口中,如果沒有找到端口鏈路狀態(tài)的信息為up的測(cè)試端口 , 則表示在目前測(cè)試環(huán)境無直接連接端口 ,說明該端口與測(cè)試環(huán)境之外設(shè)備相 連接或者端口自環(huán)。進(jìn)一步地,上述自動(dòng)化測(cè)試方法還可包括,所述創(chuàng)建的測(cè)試腳本子集是 指在同一個(gè)物理拓樸上進(jìn)行測(cè)試的一類腳本的集合;所述腳本屬性包括測(cè)試優(yōu)先級(jí)、運(yùn)行時(shí)間或測(cè)試資源占有情況,其中,測(cè)試優(yōu)先級(jí)是指測(cè)試腳本的優(yōu)先屬性,如果測(cè)試時(shí)間有限制,按照腳本 優(yōu)先級(jí)由高到低的順序加載腳本;運(yùn)行時(shí)間是指所述腳本正常測(cè)試時(shí)所需要的時(shí)間,在測(cè)試時(shí)間受限時(shí), 按照運(yùn)行時(shí)間由小到大的順序加栽腳本;測(cè)試資源占有情況是指所述腳本在測(cè)試時(shí)占有的測(cè)試資源情況。進(jìn)一步地,上述自動(dòng)化測(cè)試方法還可包括,所述按照排序的順序加載后 面的腳本,首先在已經(jīng)存在的測(cè)試腳本子集所映射的物理拓樸里映射邏輯拓 樸,如果物理拓樸滿足,則把該腳本加入所滿足的測(cè)試腳本子集;如果物理 拓樸不滿足,則在測(cè)試物理拓樸中已生成測(cè)試腳本子集所映射物理拓樸的補(bǔ) 集中繼續(xù)映射,如果其物理拓樸滿足,則建立新的測(cè)試腳本子集中,進(jìn)一步 包括,如果腳本都不滿足上述兩者的物理拓樸,則該腳本暫時(shí)不進(jìn)行測(cè)試,并且在腳本屬性上添加腳本標(biāo)志位;按照所述排序的順序,繼續(xù)加載腳本屬性中存在腳本標(biāo)志位的腳本,即 繼續(xù)加載沒有進(jìn)行拓樸映射的腳本,進(jìn)行其邏輯拓樸到測(cè)試環(huán)境物理拓樸的 映射,建立測(cè)試腳本子集,并設(shè)置該測(cè)試腳本子集的子集標(biāo)志位。進(jìn)一步地,上述自動(dòng)化測(cè)試方法還可包括,所述子集標(biāo)志位相同的測(cè)試 腳本子集同時(shí)進(jìn)行映射且同時(shí)進(jìn)行測(cè)試。進(jìn)一步地,上述自動(dòng)化測(cè)試方法還可包括,所述測(cè)試完畢后,還包括,輸出測(cè)試結(jié)果,同時(shí)也輸出腳本屬性中存在腳本標(biāo)志位的腳本,說明目 前的測(cè)試環(huán)境不滿足這些腳本的測(cè)試,清空測(cè)試環(huán)境,繼續(xù)執(zhí)行下一批次的 測(cè)試腳本子集。本發(fā)明還提供了一種基于拓樸發(fā)現(xiàn)的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),包括拓樸自動(dòng)發(fā)現(xiàn)模塊、腳本拓樸映射模塊和測(cè)試執(zhí)行模塊,其中,所述拓樸自動(dòng)發(fā)現(xiàn)才莫塊,用于遍歷所有測(cè)試端口,通過改變端口的鏈路 狀態(tài),記錄其直接連接端口,生成測(cè)試環(huán)境的邏輯拓樸;所述腳本策略控制^t塊,用于根據(jù)設(shè)定的腳本屬性,對(duì)所有進(jìn)行測(cè)試的 腳本進(jìn)行排序,從第一個(gè)測(cè)試腳本開始加載所述邏輯拓樸并映射到物理拓樸, 直至加載的測(cè)試腳本的測(cè)試環(huán)境的物理拓樸滿足映射所述邏輯拓樸,并創(chuàng)建 測(cè)試腳本子集;按照所述順序加載后面的腳本,首先在已經(jīng)存在的測(cè)試腳本 子集所映射的物理拓樸里映射所述腳本策略控制才莫塊生成的邏輯拓樸,如果 物理拓樸滿足,則把該腳本加入所滿足的所述創(chuàng)建的測(cè)試腳本子集,并設(shè)置 該測(cè)試腳本子集的子集標(biāo)志位;如果物理拓樸不滿足,則在測(cè)試物理拓樸中 已生成測(cè)試腳本子集所映射物理拓樸的補(bǔ)集中繼續(xù)映射,直到其物理拓樸滿 足,建立新的測(cè)試腳本子集,并設(shè)置新的測(cè)試腳本子集的子集標(biāo)志位;將所 有創(chuàng)建的測(cè)試腳本子集及其子集標(biāo)志位發(fā)送給所述測(cè)試執(zhí)行才莫塊;測(cè)試執(zhí)行模塊,接收所述腳本策略控制模塊發(fā)送的測(cè)試腳本子集及其子 集標(biāo)志位,按照測(cè)試腳本子集的子集標(biāo)志位由小到大或由大到小的順序,依 次對(duì)測(cè)試腳本子集在測(cè)試環(huán)境上映射測(cè)試拓樸并進(jìn)行測(cè)試。進(jìn)一步地,上述自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)還可包括,所述拓樸自動(dòng)發(fā)現(xiàn)^^塊遍歷9所有測(cè)試端口,通過改變端口的鏈路狀態(tài),記錄其直接連接端口,生成測(cè)試 環(huán)境的邏輯拓樸,是指,所述拓樸自動(dòng)發(fā)現(xiàn)模塊遍歷所有測(cè)試端口 ,記錄測(cè)試設(shè)備和被測(cè)試設(shè)備的物理端口的所在設(shè)備名稱、端口名稱、端口類型和端口鏈路狀態(tài)的信息; 尋找端口鏈路狀態(tài)的信息為up的測(cè)試端口,將其鏈路狀態(tài)變?yōu)閐own狀態(tài), 并記錄相應(yīng)鏈路狀態(tài)由up變?yōu)閐own的其他測(cè)試端口 , i己錄這兩個(gè)端口為具 有連接關(guān)系的端口;繼續(xù)遍歷其他未具有連接關(guān)系的測(cè)試端口,利用其鏈路 狀態(tài)改變的屬性,記錄其直接連接端口;根據(jù)測(cè)試端口之間連接關(guān)系,生成 測(cè)試環(huán)境的邏輯拓樸。進(jìn)一步地,上述自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)還可包括,所述腳本策略控制^^塊創(chuàng)建 的測(cè)試腳本子集是指在同一個(gè)物理拓樸上進(jìn)行測(cè)試的一類腳本的集合;所述腳本策略控制模塊根據(jù)設(shè)定的腳本屬性中腳本屬性包括測(cè)試優(yōu)先 級(jí)、運(yùn)行時(shí)間或測(cè)試資源占有情況,其中,測(cè)試優(yōu)先級(jí)是指測(cè)試腳本的優(yōu)先屬性,如果測(cè)試時(shí)間有限制,按照腳本 優(yōu)先級(jí)由高到低的順序加栽腳本;運(yùn)行時(shí)間是指所述腳本正常測(cè)試時(shí)所需要的時(shí)間,在測(cè)試時(shí)間受限時(shí), 按照運(yùn)行時(shí)間由小到大的順序加載腳本;測(cè)試資源占有情況是指所述腳本在測(cè)試時(shí)占有的測(cè)試資源情況。進(jìn)一步地,上述自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)還可包括,所述腳本策略控制才莫塊,還 用于按照所述排序的順序加栽后面的腳本,如果腳本既不滿足已經(jīng)存在的測(cè) 試腳本子集所映射的物理拓樸又不滿足已生成測(cè)試腳本子集所映射物理拓樸的補(bǔ)集,則在該腳本屬性上添加腳本標(biāo)志位,按照所述排序的順序,繼續(xù)加 栽腳本屬性中存在腳本標(biāo)志位的腳本,即繼續(xù)加載沒有進(jìn)行拓樸映射的腳本, 進(jìn)行其邏輯拓樸到測(cè)試環(huán)境物理拓樸的映射,建立測(cè)試腳本子集,并設(shè)置該 測(cè)試腳本子集的子集標(biāo)志位。進(jìn)一步地,上述自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)還可包括,所述測(cè)試執(zhí)行模塊依次對(duì)測(cè) 試腳本子集在測(cè)試環(huán)境上映射測(cè)試拓樸并進(jìn)行測(cè)試是指,所述測(cè)試執(zhí)行模塊 對(duì)所述子集標(biāo)志位相同的測(cè)試腳本子集同時(shí)進(jìn)行映射且同時(shí)進(jìn)行測(cè)試。用本發(fā)明,在測(cè)試開始就進(jìn)行測(cè)試拓樸結(jié)構(gòu)的自動(dòng) 發(fā)現(xiàn),省卻了人為設(shè)置測(cè)試物理拓樸,并避免了在設(shè)置復(fù)雜物理拓樸時(shí)的人 為失誤。還可以根據(jù)實(shí)際情況按照測(cè)試腳本的策略屬性靈活安排模塊測(cè)試順 序,更重要的是在測(cè)試環(huán)境上同時(shí)進(jìn)行多個(gè)測(cè)試子集的測(cè)試,提高了測(cè)試效 率,最大限度的利用測(cè)試資源,節(jié)約測(cè)試成本。


圖1是本發(fā)明的基于拓樸發(fā)現(xiàn)的自動(dòng)化測(cè)試方法的流程圖; 圖2是本發(fā)明的基于拓樸發(fā)現(xiàn)的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說明。如圖1所示, 一種基于拓樸發(fā)現(xiàn)的自動(dòng)化測(cè)試方法,包括以下步驟,步驟100、遍歷所有測(cè)試端口,記錄其物理端口所在設(shè)備名稱、端口名 稱、端口類型和端口鏈路狀態(tài)等信息;所述測(cè)試端口是指包含測(cè)試設(shè)備和被測(cè)試設(shè)備的物理端口 。步驟IIO、尋找端口鏈路狀態(tài)的信息為up的測(cè)試端口,將其鏈路狀態(tài)變 為關(guān)閉狀態(tài)(down),并記錄相應(yīng)鏈路狀態(tài)由叩變?yōu)閐own的其他測(cè)試端口 , 記錄這兩個(gè)端口為具有連4妻關(guān)系的端口 ;如果沒有找到端口鏈路狀態(tài)的信息為叩的測(cè)試端口,則表示在目前測(cè) 試環(huán)境無直接連接端口 , _沈明該端口與測(cè)試環(huán)境之外設(shè)備相連接或者端口自 環(huán)等。步驟120、繼續(xù)遍歷其他未具有連接關(guān)系的測(cè)試端口,利用其鏈路狀態(tài) 改變的屬性,記錄其直接連接端口;步驟130、根據(jù)測(cè)試端口之間連接關(guān)系,生成測(cè)試環(huán)境的邏輯拓樸;步驟140、根據(jù)設(shè)定的腳本屬性,對(duì)所有進(jìn)行測(cè)試的腳本進(jìn)行排序,對(duì) 第一個(gè)測(cè)試腳本加載邏輯拓樸并映射到物理拓樸,如果測(cè)試環(huán)境物理拓樸滿足其加載邏輯拓樸,則建立測(cè)試腳本子集;如果測(cè)試環(huán)境物理拓樸不滿足其 加栽邏輯拓樸,則該腳本不進(jìn)行測(cè)試,繼續(xù)加載后面的腳本,直至測(cè)試環(huán)境 物理拓樸滿足其映射邏輯拓樸,并創(chuàng)建測(cè)試腳本子集;測(cè)試腳本子集是指可以在同一個(gè)物理拓樸上進(jìn)行測(cè)試的一類腳本的集合。所述腳本屬性包括測(cè)試優(yōu)先級(jí)、運(yùn)行時(shí)間或測(cè)試資源占有情況等,其中,測(cè)試優(yōu)先級(jí)是指測(cè)試腳本的優(yōu)先屬性,如果測(cè)試時(shí)間有限制,可以按照 腳本優(yōu)先級(jí)由高到低的順序加載腳本;運(yùn)行時(shí)間是指該腳本正常測(cè)試時(shí)所需要的時(shí)間,同樣在測(cè)試時(shí)間受限時(shí), 可以按照運(yùn)行時(shí)間由小到大的順序加載腳本,執(zhí)行更多的測(cè)試;測(cè)試過程中 根據(jù)測(cè)試腳本既定策略調(diào)節(jié)測(cè)試腳本加栽順序;測(cè)試資源占有情況是指該腳本在測(cè)試時(shí)占有的測(cè)試資源情況,本發(fā)明一 個(gè)比較大的特點(diǎn)就是在一個(gè)物理環(huán)境上同時(shí)進(jìn)行多個(gè)腳本的測(cè)試,達(dá)到最大 限度利用測(cè)試資源的目的;根據(jù)測(cè)試資源占有情況排列腳本,讓測(cè)試資源占 有少的腳本先進(jìn)行拓樸映射,這樣可以同時(shí)運(yùn)行多個(gè)腳本進(jìn)行測(cè)試。步驟150、按照排序的順序加載后面的腳本,首先在已經(jīng)存在的測(cè)試腳 本子集所映射的物理拓樸里映射邏輯拓樸,如果物理拓樸滿足,則把該腳本 加入所滿足的測(cè)試腳本子集;如果物理拓樸不滿足,則在測(cè)試物理拓樸中已 生成測(cè)試腳本子集所映射物理拓樸的補(bǔ)集中繼續(xù)映射,如果其物理拓樸滿足, 則建立新的測(cè)試腳本子集,否則,該腳本暫時(shí)不進(jìn)行測(cè)試,并且在腳本屬性 上添加腳本標(biāo)志位Y;本步驟創(chuàng)建的測(cè)試腳本子集設(shè)置子集標(biāo)志位為0,標(biāo)志著這些測(cè)試腳本 子集為同一次創(chuàng)建,可以在物理拓樸里同時(shí)映射,滿足共同測(cè)試的目的。測(cè) 試腳本加載完畢,清空映射拓樸。步驟160、按照排序的順序,繼續(xù)加載腳本屬性中腳本標(biāo)志位為Y的腳 本,即繼續(xù)加載沒有進(jìn)行拓樸映射的腳本,重復(fù)執(zhí)行上述步驟140 -步驟150, 進(jìn)行其邏輯拓樸到測(cè)試環(huán)境物理拓樸的映射,建立測(cè)試腳本子集,并設(shè)置該 測(cè)試腳本子集的子集標(biāo)志位;其中,拓樸映射完畢的腳本,將其腳本屬性中腳本標(biāo)志位Y取消。其中,重復(fù)執(zhí)行一次上述步驟140 -步驟150,所創(chuàng)建的測(cè)試腳本子集設(shè) 置子集標(biāo)志位為1。此處可以設(shè)定重復(fù)執(zhí)行次數(shù)n,反復(fù)執(zhí)行該步驟(一般設(shè)置n<=5)。盡 可能多的讓在物理拓樸之上同時(shí)映射多個(gè)測(cè)試子集,達(dá)到共同測(cè)試的目的, 當(dāng)然,根據(jù)測(cè)試重復(fù)執(zhí)行次數(shù),所創(chuàng)建的測(cè)試腳本子集設(shè)置子集標(biāo)志位為n 。步驟170、按照測(cè)試腳本子集的子集標(biāo)志位由小到大或由大到小的順序, 依次在測(cè)試環(huán)境上映射測(cè)試拓樸并進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試完畢,輸出測(cè)試結(jié)果,同 時(shí)也輸出腳本屬性中腳本標(biāo)志位為Y的腳本,表明目前的測(cè)試環(huán)境不滿足這 些腳本的測(cè)試,清空測(cè)試環(huán)境,繼續(xù)執(zhí)行下一批次的測(cè)試腳本子集。其中,子集標(biāo)志位相同的測(cè)試腳本子集可以同時(shí)進(jìn)行映射且同時(shí)進(jìn)行測(cè)試。如圖2所示, 一種基于拓樸發(fā)現(xiàn)的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),在專利CN 1731747 上面增加和改進(jìn)了拓樸自動(dòng)發(fā)現(xiàn)模塊、腳本拓樸映射模塊和測(cè)試執(zhí)行模塊, 其中,所述拓樸自動(dòng)發(fā)現(xiàn);f莫塊,用于遍歷所有測(cè)試端口,通過改變端口的鏈路 狀態(tài),記錄其直接連接端口,生成測(cè)試環(huán)境的邏輯拓樸;拓樸自動(dòng)發(fā)現(xiàn)模塊主要用于自動(dòng)發(fā)現(xiàn)測(cè)試設(shè)備和被測(cè)試設(shè)備的組網(wǎng)邏輯 拓樸,省去了手工配置測(cè)試物理拓樸和進(jìn)行物理拓樸到邏輯拓樸的映射,避 免了物理連^l妻狀態(tài)錯(cuò)誤導(dǎo)致的自動(dòng)化測(cè)試失敗。所述腳本策略控制模塊,用于根據(jù)設(shè)定的腳本屬性,對(duì)所有進(jìn)行測(cè)試的 腳本進(jìn)行排序,從第一個(gè)測(cè)試腳本開始加栽所述邏輯拓樸并映射到物理拓樸, 直至加栽的測(cè)試腳本的測(cè)試環(huán)境的物理拓樸滿足映射所述邏輯拓樸,并創(chuàng)建 測(cè)試腳本子集;按照所述順序加載后面的腳本,首先在已經(jīng)存在的測(cè)試腳本 子集所映射的物理拓樸里映射所述腳本策略控制^^莫塊生成的邏輯拓樸,如果 物理拓樸滿足,則把該腳本加入所滿足的所述創(chuàng)建的測(cè)試腳本子集,并設(shè)置 該測(cè)試腳本子集的子集標(biāo)志位;如果物理拓樸不滿足,則在測(cè)試物理拓樸中 已生成測(cè)試腳本子集所映射物理拓樸的補(bǔ)集中繼續(xù)映射,直到其物理拓樸滿足,建立新的測(cè)試腳本子集,并設(shè)置新的測(cè)試腳本子集的子集標(biāo)志位;將所 有創(chuàng)建的測(cè)試腳本子集及其子集標(biāo)志位發(fā)送給所述測(cè)試執(zhí)行模塊;腳本拓樸映射模塊主要是根據(jù)設(shè)定的腳本屬性,把其邏輯拓樸映射到測(cè) 試環(huán)境上,并根據(jù)測(cè)試資源占有情況繼續(xù)進(jìn)行拓樸映射,直到最大限度利用 完測(cè)試資源。測(cè)試執(zhí)行模塊,接收所述腳本策略控制才莫塊發(fā)送的測(cè)試腳本子集及其子 集標(biāo)志位,按照測(cè)試腳本子集的子集標(biāo)志位由小到大或由大到小的順序,依 次對(duì)測(cè)試腳本子集在測(cè)試環(huán)境上映射測(cè)試拓樸并進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試執(zhí)行模塊主要是根據(jù)測(cè)試腳本預(yù)定策略執(zhí)行測(cè)試腳本,可以同時(shí)執(zhí) 行一個(gè)或者多個(gè)測(cè)試腳本,達(dá)到利用資源、節(jié)約時(shí)間的目的。以上所述,僅為本發(fā)明較佳的具體實(shí)施方式
,但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不 局限于此,任何熟悉該技術(shù)的人在本發(fā)明所公開的技術(shù)范圍內(nèi),可輕易想到 的變化或替換,都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此,本發(fā)明的保護(hù)范 圍應(yīng)該以權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1、一種基于拓?fù)浒l(fā)現(xiàn)的自動(dòng)化測(cè)試方法,其特征在于,包括,遍歷所有測(cè)試端口,通過改變端口的鏈路狀態(tài),記錄其直接連接端口,生成測(cè)試環(huán)境的邏輯拓?fù)洌桓鶕?jù)設(shè)定的腳本屬性,對(duì)所有進(jìn)行測(cè)試的腳本進(jìn)行排序,從第一個(gè)測(cè)試腳本開始加載所述邏輯拓?fù)洳⒂成涞轿锢硗負(fù)?,直至加載的測(cè)試腳本的測(cè)試環(huán)境的物理拓?fù)錆M足映射所述邏輯拓?fù)洌?chuàng)建測(cè)試腳本子集;按照所述順序加載后面的腳本,首先在已經(jīng)存在的測(cè)試腳本子集所映射的物理拓?fù)淅镉成溥壿嬐負(fù)洌绻锢硗負(fù)錆M足,則把該腳本加入所滿足的所述創(chuàng)建的測(cè)試腳本子集,并設(shè)置該測(cè)試腳本子集的子集標(biāo)志位;如果物理拓?fù)洳粷M足,則在測(cè)試物理拓?fù)渲幸焉蓽y(cè)試腳本子集所映射物理拓?fù)涞难a(bǔ)集中繼續(xù)映射,直到其物理拓?fù)錆M足,建立新的測(cè)試腳本子集,并設(shè)置新的測(cè)試腳本子集的子集標(biāo)志位;按照測(cè)試腳本子集的子集標(biāo)志位由小到大或由大到小的順序,依次對(duì)測(cè)試腳本子集在測(cè)試環(huán)境上映射測(cè)試拓?fù)洳⑦M(jìn)行測(cè)試。
2、 如權(quán)利要求1所述的自動(dòng)化測(cè)試方法,其特征在于,所述遍歷所有測(cè)試端口,通過改變端口的鏈路狀態(tài),記錄其直接連接端 口,生成測(cè)試環(huán)境的邏輯拓樸,分為以下步驟,遍歷所有測(cè)試端口 ,記錄測(cè)試設(shè)備和被測(cè)試設(shè)備的物理端口的所在設(shè)備 名稱、端口名稱、端口類型和端口鏈路狀態(tài)的信息;尋找端口鏈路狀態(tài)的信息為up的測(cè)試端口 ,將其鏈路狀態(tài)變?yōu)閐own狀 態(tài),并記錄相應(yīng)鏈路狀態(tài)由up變?yōu)閐own的其他測(cè)試端口,記錄這兩個(gè)端口 為具有連接關(guān)系的端口;繼續(xù)遍歷其他未具有連接關(guān)系的測(cè)試端口 ,利用其鏈路狀態(tài)改變的屬性, 記錄其直接連接端口 ;根據(jù)測(cè)試端口之間連接關(guān)系,生成測(cè)試環(huán)境的邏輯拓樸。
3、 如權(quán)利要求2所述的自動(dòng)化測(cè)試方法,其特征在于, 所述尋找端口鏈路狀態(tài)的信息為up的測(cè)試端口中,如杲?jīng)]有找到端口鏈路狀態(tài)的信息為up的測(cè)試端口 ,則表示在目前測(cè)試環(huán)境無直接連接端口 , 說明該端口與測(cè)試環(huán)境之外設(shè)備相連^t妻或者端口自環(huán)。
4 、如權(quán)利要求1所述的自動(dòng)化測(cè)試方法,其特征在于,所述創(chuàng)建的測(cè)試腳本子集是指在同一個(gè)物理拓樸上進(jìn)行測(cè)試的一類腳本 的集合;所述腳本屬性包括測(cè)試優(yōu)先級(jí)、運(yùn)行時(shí)間或測(cè)試資源占有情況,其中,測(cè)試優(yōu)先級(jí)是指測(cè)試腳本的優(yōu)先屬性,如果測(cè)試時(shí)間有限制,按照腳本 優(yōu)先級(jí)由高到低的順序加載腳本;運(yùn)行時(shí)間是指所述腳本正常測(cè)試時(shí)所需要的時(shí)間,在測(cè)試時(shí)間受限時(shí), 按照運(yùn)行時(shí)間由小到大的順序加載腳本;測(cè)試資源占有情況是指所述腳本在測(cè)試時(shí)占有的測(cè)試資源情況。
5、 如權(quán)利要求1所述的自動(dòng)化測(cè)試方法,其特征在于,所述按照排序的順序加載后面的腳本,首先在已經(jīng)存在的測(cè)試腳本子集 所映射的物理拓樸里映射邏輯拓樸,如果物理拓樸滿足,則把該腳本加入所 滿足的測(cè)試腳本子集;如果物理拓樸不滿足,則在測(cè)試物理拓樸中已生成測(cè) 試腳本子集所映射物理拓樸的補(bǔ)集中繼續(xù)映射,如果其物理拓樸滿足,則建 立新的測(cè)試腳本子集中,進(jìn)一步包括,如果腳本都不滿足上述兩者的物理拓樸,則該腳本暫時(shí)不進(jìn)行測(cè)試,并 且在腳本屬性上添加腳本標(biāo)志位;按照所述排序的順序,繼續(xù)加載腳本屬性中存在腳本標(biāo)志位的腳本,即 繼續(xù)加載沒有進(jìn)行拓樸映射的腳本,進(jìn)行其邏輯拓樸到測(cè)試環(huán)境物理拓樸的 映射,建立測(cè)試腳本子集,并設(shè)置該測(cè)試腳本子集的子集標(biāo)志位。
6、 如權(quán)利要求1所述的自動(dòng)化測(cè)試方法,其特征在于, 進(jìn)一步包括,所述子集標(biāo)志位相同的測(cè)試腳本子集同時(shí)進(jìn)行映射且同時(shí)進(jìn)行測(cè)試。
7、 如權(quán)利要求1所述的自動(dòng)化測(cè)試方法,其特征在于,所述測(cè)試完畢后,還包括,輸出測(cè)試結(jié)果,同時(shí)也輸出腳本屬性中存在腳本標(biāo)志位的腳本,說明目 前的測(cè)試環(huán)境不滿足這些腳本的測(cè)試,清空測(cè)試環(huán)境,繼續(xù)執(zhí)行下一批次的 測(cè)試腳本子集。
8、 一種基于拓樸發(fā)現(xiàn)的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),其特征在于, 包括拓樸自動(dòng)發(fā)現(xiàn)才莫塊、腳本拓樸映射模塊和測(cè)試執(zhí)行模塊,其中, 所述拓樸自動(dòng)發(fā)現(xiàn)模塊,用于遍歷所有測(cè)試端口,通過改變端口的鏈路狀態(tài),記錄其直接連接端口,生成測(cè)試環(huán)境的邏輯拓樸;所述腳本策略控制模塊,用于根椐設(shè)定的腳本屬性,對(duì)所有進(jìn)行測(cè)試的 腳本進(jìn)行排序,從第一個(gè)測(cè)試腳本開始加載所述邏輯拓樸并映射到物理拓樸, 直至加載的測(cè)試腳本的測(cè)試環(huán)境的物理拓樸滿足映射所述邏輯拓樸,并創(chuàng)建 測(cè)試腳本子集;按照所述順序加栽后面的腳本,首先在已經(jīng)存在的測(cè)試腳本 子集所映射的物理拓樸里映射所述腳本策略控制;f莫塊生成的邏輯拓樸,如果 物理拓樸滿足,則把該腳本加入所滿足的所述創(chuàng)建的測(cè)試腳本子集,并設(shè)置 該測(cè)試腳本子集的子集標(biāo)志位;如果物理拓樸不滿足,則在測(cè)試物理拓樸中 已生成測(cè)試腳本子集所映射物理拓樸的補(bǔ)集中繼續(xù)映射,直到其物理拓樸滿 足,建立新的測(cè)試腳本子集,并設(shè)置新的測(cè)試腳本子集的子集標(biāo)志位;將所 有創(chuàng)建的測(cè)試腳本子集及其子集標(biāo)志位發(fā)送給所述測(cè)試執(zhí)行才莫塊;測(cè)試執(zhí)行模塊,接收所述腳本策略控制^t塊發(fā)送的測(cè)試腳本子集及其子 集標(biāo)志位,按照測(cè)試腳本子集的子集標(biāo)志位由小到大或由大到小的順序,依 次對(duì)測(cè)試腳本子集在測(cè)試環(huán)境上映射測(cè)試拓樸并進(jìn)行測(cè)試。
9、如權(quán)利要求8所述的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述拓樸自動(dòng)發(fā)現(xiàn)模塊遍歷所有測(cè)試端口 ,通過改變端口的鏈路狀態(tài), 記錄其直接連接端口,生成測(cè)試環(huán)境的邏輯拓樸,是指,所述拓樸自動(dòng)發(fā)現(xiàn)才莫塊遍歷所有測(cè)試端口 ,記錄測(cè)試設(shè)備和被測(cè)試設(shè)備 的物理端口的所在設(shè)備名稱、端口名稱、端口類型和端口鏈路狀態(tài)的信息; 尋找端口鏈路狀態(tài)的信息為up的測(cè)試端口 ,將其鏈路狀態(tài)變?yōu)閐own狀態(tài),并記錄相應(yīng)鏈路狀態(tài)由up變?yōu)閐own的其他測(cè)試端口 ,記錄這兩個(gè)端口為具 有連接關(guān)系的端口;繼續(xù)遍歷其他未具有連接關(guān)系的測(cè)試端口,利用其鏈路 狀態(tài)改變的屬性,記錄其直接連接端口;根據(jù)測(cè)試端口之間連接關(guān)系,生成 測(cè)試環(huán)境的邏輯拓樸。
10、 如權(quán)利要求8所述的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述腳本策略控制模塊創(chuàng)建的測(cè)試腳本子集是指在同一個(gè)物理拓樸上進(jìn) 行測(cè)試的一類腳本的集合;所述腳本策略控制模塊根據(jù)設(shè)定的腳本屬性中腳本屬性包括測(cè)試優(yōu)先 級(jí)、運(yùn)行時(shí)間或測(cè)試資源占有情況,其中,測(cè)試優(yōu)先級(jí)是指測(cè)試腳本的優(yōu)先屬性,如果測(cè)試時(shí)間有限制,按照腳本 優(yōu)先級(jí)由高到低的順序加載腳本;運(yùn)行時(shí)間是指所述腳本正常測(cè)試時(shí)所需要的時(shí)間,在測(cè)試時(shí)間受限時(shí), 按照運(yùn)行時(shí)間由小到大的順序加載腳本;測(cè)試資源占有情況是指所iiiip本在測(cè)試時(shí)占有的測(cè)試資源情況。
11、 如權(quán)利要求8所述的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述腳本策略控制模塊,還用于按照所述排序的順序加栽后面的腳本, 如果腳本既不滿足已經(jīng)存在的測(cè)試腳本子集所映射的物理拓樸又不滿足已生 成測(cè)試腳本子集所映射物理拓樸的補(bǔ)集,則在該腳本屬性上添加腳本標(biāo)志位, 按照所述排序的順序,繼續(xù)加栽腳本屬性中存在腳本標(biāo)志位的腳本,即繼續(xù) 加載沒有進(jìn)行拓樸映射的腳本,進(jìn)行其邏輯拓樸到測(cè)試環(huán)境物理拓樸的映射, 建立測(cè)試腳本子集,并設(shè)置該測(cè)試腳本子集的子集標(biāo)志位。
12、 如權(quán)利要求8所述的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述測(cè)試執(zhí)行模塊依次對(duì)測(cè)試腳本子集在測(cè)試環(huán)境上映射測(cè)試拓樸并進(jìn) 行測(cè)試是指,所述測(cè)試執(zhí)行模塊對(duì)所述子集標(biāo)志位相同的測(cè)試腳本子集同時(shí) 進(jìn)行映射且同時(shí)進(jìn)行測(cè)試。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種基于拓?fù)浒l(fā)現(xiàn)的自動(dòng)化測(cè)試方法及系統(tǒng),包括,遍歷所有測(cè)試端口,通過改變端口的鏈路狀態(tài)記錄其直接連接端口,生成測(cè)試的邏輯拓?fù)?;根?jù)設(shè)定的腳本屬性,對(duì)所有測(cè)試腳本排序,從第一個(gè)測(cè)試腳本開始加載所述邏輯拓?fù)洳⒂成涞轿锢硗負(fù)?,?chuàng)建測(cè)試腳本子集,并設(shè)置該測(cè)試腳本子集的子集標(biāo)志位;按照測(cè)試腳本子集的子集標(biāo)志位由小到大或由大到小的順序,依次對(duì)測(cè)試腳本子集在測(cè)試環(huán)境上映射測(cè)試拓?fù)洳⑦M(jìn)行測(cè)試。應(yīng)用本發(fā)明,在測(cè)試開始就進(jìn)行測(cè)試拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的自動(dòng)發(fā)現(xiàn),省了人為設(shè)置測(cè)試物理拓?fù)?,還可根據(jù)實(shí)際情況按照測(cè)試腳本的策略屬性靈活安排模塊測(cè)試順序,更重要的是在測(cè)試環(huán)境上同時(shí)進(jìn)行多個(gè)測(cè)試子集的測(cè)試,提高了測(cè)試效率。
文檔編號(hào)H04L12/26GK101330412SQ200810144408
公開日2008年12月24日 申請(qǐng)日期2008年7月29日 優(yōu)先權(quán)日2008年7月29日
發(fā)明者劉鳳萍, 劉宗昌, 李素林, 樊志強(qiáng), 許生海, 郇昌波 申請(qǐng)人:中興通訊股份有限公司
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