專(zhuān)利名稱(chēng)：可注入時(shí)域抖動(dòng)的測(cè)試電路及相關(guān)測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一測(cè)試電路及相關(guān)的測(cè)試方法，特別是涉及可注入時(shí)域抖動(dòng)的訊號(hào)接收能力測(cè)試電路及相關(guān)的測(cè)試方法。
背景技術(shù)：
如同所有產(chǎn)品，電子產(chǎn)品在研發(fā)過(guò)程中以及在研發(fā)完成后產(chǎn)品出廠(chǎng)前，必須先經(jīng)過(guò)測(cè)試。在各種測(cè)試環(huán)境中，包含一項(xiàng)訊號(hào)接收能力測(cè)試，驗(yàn)證電子產(chǎn)品的接收端所接收的訊號(hào)能否可正常判斷。已知的待測(cè)電子產(chǎn)品中包含至少一核心電路及一測(cè)試電路。將該核心電路產(chǎn)生的輸出訊號(hào)經(jīng)由該核心電路的輸出端傳至一測(cè)試機(jī)臺(tái)。測(cè)試機(jī)臺(tái)處理接收該核心電路的輸出訊號(hào)并加以處理，產(chǎn)生一測(cè)試訊號(hào)。該測(cè)試訊號(hào)傳至該核心電路的接收端。經(jīng)由該測(cè)試電路比較該輸出端截取的輸出訊號(hào)與該接收端接收的測(cè)試訊號(hào)是否相符，藉以判斷該待測(cè)電子產(chǎn)品接收的訊號(hào)是否正常。經(jīng)由測(cè)試機(jī)臺(tái)產(chǎn)生各種不同特性的測(cè)試訊號(hào)，以驗(yàn)證該待測(cè)電子產(chǎn)品的訊號(hào)接收能力。
請(qǐng)參閱圖1。圖1所示為已知的以高速測(cè)試機(jī)臺(tái)120測(cè)試待測(cè)電子產(chǎn)品110的示意圖。待測(cè)電子產(chǎn)品110包含一訊號(hào)輸出端112與一訊號(hào)接收端114，分別與高速測(cè)試機(jī)臺(tái)120的訊號(hào)接收端124與訊號(hào)輸出端122相連。高速測(cè)試機(jī)臺(tái)120以處理電路126處理由訊號(hào)接收端124所接收的訊號(hào)，分析其電氣特性；依測(cè)試條件產(chǎn)生一測(cè)試訊號(hào)，再經(jīng)由訊號(hào)輸出端122輸出至待測(cè)電子產(chǎn)品110的訊號(hào)接收端114，以測(cè)試待測(cè)電子產(chǎn)品110的接收能力(例如敏感度)。
而隨著電子產(chǎn)品在數(shù)據(jù)處理速度上的逐漸提升，高速測(cè)試的需求隨之增加。所謂「高速」測(cè)試機(jī)臺(tái)，意指處理電路126的訊號(hào)處理速度至少等于或高于待測(cè)電子產(chǎn)品110的運(yùn)算速度。所使用的高速測(cè)試機(jī)臺(tái)120內(nèi)建一可高速處理訊號(hào)的處理電路126，能實(shí)時(shí)分析該待測(cè)電子產(chǎn)品110的輸出訊號(hào)的電氣特性，并依不同測(cè)試條件下產(chǎn)生一測(cè)試訊號(hào)回傳至待測(cè)電子產(chǎn)品110的接收端114。然而制造此一高速測(cè)試機(jī)臺(tái)120的技術(shù)門(mén)坎及研發(fā)成本將非常高而難以負(fù)擔(dān)；若是以測(cè)試機(jī)臺(tái)外接現(xiàn)有的高速測(cè)試儀器，如Agilent BistAssist或Teradyne SPQ等，則雖可在回路中注入時(shí)域抖動(dòng)而完整地進(jìn)行測(cè)試，但這些外接高速測(cè)試儀器的高昂造價(jià)又將形成成本上的負(fù)擔(dān)。

發(fā)明內(nèi)容
因此本發(fā)明的主要目的在于提供一可注入時(shí)域抖動(dòng)的測(cè)試電路及相關(guān)測(cè)試方法，以低通濾波器搭配交流共模偏移電路達(dá)到注入時(shí)域抖動(dòng)的需求，并完成所需的測(cè)試，以降低電子產(chǎn)品研發(fā)過(guò)程中測(cè)試的硬件成本，克服上述已知技術(shù)中的問(wèn)題。
本發(fā)明披露了一可注入時(shí)域抖動(dòng)的測(cè)試電路。該電路包括一輸入端，用來(lái)接收一待測(cè)電路輸出端的輸出訊號(hào)；一輸出端，用來(lái)輸出該測(cè)試電路的一測(cè)試訊號(hào)至該待測(cè)電路的一接收端；以及一低通濾波器，耦接于該輸入端與該輸出端，產(chǎn)生該測(cè)試訊號(hào)，其中該測(cè)試訊號(hào)具有一時(shí)域抖動(dòng)。
上述的可注入時(shí)域抖動(dòng)的測(cè)試電路，還包括一交流共模偏移電路耦接于該低通濾波器與該輸出端。該交流共模偏移電路接收一低速測(cè)試機(jī)臺(tái)的一周期訊號(hào)，將該周期訊號(hào)注入該測(cè)試訊號(hào)，使該測(cè)試訊號(hào)具有一周期抖動(dòng)。
本發(fā)明還披露了一可注入時(shí)域抖動(dòng)的測(cè)試方法。該方法包括仿真一測(cè)試電路的頻率響應(yīng)與時(shí)域響應(yīng)；選擇一最適測(cè)試電路耦接一待測(cè)電路的輸出訊號(hào)；經(jīng)由一低通濾波器產(chǎn)生一測(cè)試訊號(hào)，該測(cè)試訊號(hào)具有一時(shí)域抖動(dòng)；以及輸出該測(cè)試訊號(hào)至該待測(cè)電路的接收端，比較該測(cè)試訊號(hào)與該輸出訊號(hào)是否一致。
上述的可注入時(shí)域抖動(dòng)的測(cè)試方法，還包括注入一周期抖動(dòng)至該測(cè)試訊號(hào)，該周期抖動(dòng)經(jīng)由一交流共模偏移電路接收一低速測(cè)試機(jī)臺(tái)的訊號(hào)所產(chǎn)生。
本發(fā)明采用低通濾波電路以及成本較低的低速測(cè)試機(jī)臺(tái)以實(shí)現(xiàn)所需的相關(guān)測(cè)試與時(shí)域抖動(dòng)注入等效果，大幅縮減了電子產(chǎn)品于研發(fā)及生產(chǎn)過(guò)程中的測(cè)試成本，解決了已知技術(shù)中的問(wèn)題。


圖1為已知的以高速測(cè)試機(jī)臺(tái)測(cè)試待測(cè)電子產(chǎn)品的示意圖。
圖2為以本發(fā)明的可注入時(shí)域抖動(dòng)的測(cè)試電路的第一實(shí)施例測(cè)試待測(cè)電子產(chǎn)品的示意圖。
圖3為以本發(fā)明的可注入時(shí)域抖動(dòng)的測(cè)試電路的第二實(shí)施例測(cè)試待測(cè)電子產(chǎn)品的示意圖。
圖4為以本發(fā)明的可注入時(shí)域抖動(dòng)的測(cè)試電路的第三實(shí)施例測(cè)試待測(cè)電子產(chǎn)品的示意圖。
圖5為本發(fā)明的測(cè)試電路的方法的流程圖。
附圖符號(hào)說(shuō)明110，210，310 待測(cè)電子產(chǎn)品120 高速測(cè)試機(jī)臺(tái)220，320，420 可注入時(shí)域抖動(dòng)的測(cè)試電路112，122，212，312，412 訊號(hào)輸出端114，124，214，314，414 訊號(hào)接收端126 處理電路224，324低通濾波器330 低速測(cè)試機(jī)臺(tái)424，427，429，432 電容426，428電阻325，425交流共模偏移電路具體實(shí)施方式
請(qǐng)參閱圖2。圖2示出了以本發(fā)明的可注入時(shí)域抖動(dòng)的測(cè)試電路的第一實(shí)施例220測(cè)試待測(cè)電子產(chǎn)品210的示意圖。如圖2所示，本發(fā)明將待測(cè)電子產(chǎn)品210由其訊號(hào)輸出端212所輸出的訊號(hào)耦合至本發(fā)明的可注入時(shí)域抖動(dòng)的測(cè)試電路220所包含的一低通濾波器224。藉由以低通濾波器224改變?cè)撦敵鲇嵦?hào)的頻率響應(yīng)特性與時(shí)域響應(yīng)特性，本發(fā)明的可注入時(shí)域抖動(dòng)的測(cè)試電路220能適當(dāng)?shù)胤抡娉鱿到y(tǒng)的傳輸信道所造成的插入損耗(insertionloss)以及調(diào)整有效頻寬，并且控制與訊號(hào)相關(guān)的時(shí)域抖動(dòng)(data dependenttime jitter)的增益。藉由選擇或調(diào)整低通濾波器224，使測(cè)試電路220的頻率響應(yīng)及時(shí)域響應(yīng)接近于該待測(cè)電子產(chǎn)品210的設(shè)計(jì)規(guī)格，例如使測(cè)試電路220的插入損耗接近于該待測(cè)電子產(chǎn)品210設(shè)計(jì)時(shí)所允許的最大值。待測(cè)電子產(chǎn)品210產(chǎn)生的輸出訊號(hào)經(jīng)過(guò)此低通濾波器224改變輸出訊號(hào)的特性，決定該測(cè)試訊號(hào)的時(shí)域抖動(dòng)特性與該測(cè)試訊號(hào)的振幅，此一測(cè)試訊號(hào)回傳至待測(cè)電子產(chǎn)品210的接收端214，可有效地進(jìn)行該待測(cè)電子產(chǎn)品210敏感度分析(sensitivity)。
換句話(huà)說(shuō)，在該待測(cè)電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)時(shí)，會(huì)依其接收端的規(guī)格進(jìn)行設(shè)計(jì)。藉由仿真方式可計(jì)算出該測(cè)試電路220的頻率響應(yīng)與時(shí)域響應(yīng)。例如該測(cè)試電路220的頻率響應(yīng)包含有插入損耗、返回?fù)p耗(return loss)、有效頻寬等特性，而該測(cè)試電路220的頻率響應(yīng)包含有時(shí)域抖動(dòng)、訊號(hào)振幅增益等特性。經(jīng)由選擇或調(diào)整適當(dāng)?shù)牡屯V波器224，可找出一測(cè)試電路220的頻率響應(yīng)與時(shí)域響應(yīng)接近于該待測(cè)電子產(chǎn)品210的接收端的設(shè)計(jì)規(guī)格。則此一測(cè)試電路220的接收端與輸出端分別耦接至該待測(cè)電子產(chǎn)品210的輸出端與接收端后，測(cè)試該待測(cè)電子產(chǎn)品210的輸出端與接收端訊號(hào)電平是否相同，即可驗(yàn)證該待測(cè)電子產(chǎn)品210的接收能力是否在其設(shè)計(jì)規(guī)格之內(nèi)。此一測(cè)試電路220不需要同步分析待測(cè)電子產(chǎn)品的輸出訊號(hào)的電氣特性，亦不需要同步產(chǎn)生出測(cè)試訊號(hào)。其電路設(shè)計(jì)的成本遠(yuǎn)較已知的高速處理電路低廉。
請(qǐng)參閱圖3。圖3示出了以本發(fā)明的可注入時(shí)域抖動(dòng)的測(cè)試電路的第二實(shí)施例320測(cè)試待測(cè)電子產(chǎn)品310的示意圖。如圖3所示，本發(fā)明的可注入時(shí)域抖動(dòng)的測(cè)試電路的第二實(shí)施例320除包含一低通濾波器324以仿真系統(tǒng)的插入損耗、調(diào)整有效頻寬，并且控制與訊號(hào)相關(guān)的時(shí)域抖動(dòng)的增益外，另包含一交流共模偏移(AC common mode offset)電路325，以及一低速測(cè)試機(jī)臺(tái)330。本發(fā)明的可注入時(shí)域抖動(dòng)的測(cè)試電路320以低速測(cè)試機(jī)臺(tái)330注入較低頻的抖動(dòng)以形成訊號(hào)直流電平的飄移，仿真出周期抖動(dòng)(periodicjitter)。進(jìn)一步來(lái)說(shuō)，在第一實(shí)施例的測(cè)試訊號(hào)的交流共模電性電平為一定值。該交流共模偏移電路325接受該低速測(cè)試機(jī)臺(tái)330產(chǎn)生的一輸出訊號(hào)，該低速測(cè)試機(jī)臺(tái)330的輸出訊號(hào)的振動(dòng)周期大于該測(cè)試訊號(hào)的周期。該交流共模偏移電路325將該低速測(cè)試機(jī)臺(tái)330的輸出訊號(hào)注入該測(cè)試訊號(hào)之中，使該測(cè)試訊號(hào)的交流共模電平隨著該低速測(cè)試機(jī)臺(tái)的輸出訊號(hào)產(chǎn)生偏移。此時(shí)該測(cè)試訊號(hào)交流共模偏移具有一周期，等于該低速測(cè)試機(jī)臺(tái)330的輸出訊號(hào)的振動(dòng)周期。
所謂「低速」測(cè)試機(jī)臺(tái)，意指低速測(cè)試機(jī)臺(tái)330的訊號(hào)處理速度較待測(cè)電子產(chǎn)品310的運(yùn)算速度為低。因此，制造此一低速測(cè)試機(jī)臺(tái)320的技術(shù)門(mén)坎及研發(fā)成本將不致難以負(fù)擔(dān)；或亦可外接現(xiàn)有較便宜的低速測(cè)試儀器，相對(duì)已知外接的高階測(cè)試儀器來(lái)說(shuō)，成本上的負(fù)擔(dān)將大為減輕。本發(fā)明披露的交流共模偏移電路即接收該低速測(cè)試機(jī)臺(tái)320的一輸出訊號(hào)，使該測(cè)試訊號(hào)具有一周期性抖動(dòng)。該周期性抖動(dòng)的周期等于該低速測(cè)試機(jī)臺(tái)320的輸出訊號(hào)的周期。舉例來(lái)說(shuō)，該低速測(cè)試機(jī)臺(tái)320的輸出訊號(hào)可以是一正弦波(sinusoidal wave)。
關(guān)于本發(fā)明的可注入時(shí)域抖動(dòng)的測(cè)試電路所包含的交流共模偏移電路，可有不同的實(shí)施方式。請(qǐng)參閱圖4。圖4示出了以本發(fā)明的可注入時(shí)域抖動(dòng)的測(cè)試電路的第三實(shí)施例420測(cè)試待測(cè)電子產(chǎn)品310的示意圖。本發(fā)明的可注入時(shí)域抖動(dòng)的測(cè)試電路的第三實(shí)施例420的架構(gòu)與圖3中所示的本發(fā)明的可注入時(shí)域抖動(dòng)的測(cè)試電路的第二實(shí)施例320相同，但圖4示出了所采用的低通濾波器424與交流共模偏移電路425的一種實(shí)施例。
如圖4所示，本發(fā)明的測(cè)試電路420具有一訊號(hào)接收端414及一訊號(hào)輸出端412。本實(shí)施例中的低通濾波器424包含一電容429，該電容429的一端耦接至訊號(hào)接收端414，該電容429的另一端耦接至地電位。該低通濾波器424，具有一頻率響應(yīng)與時(shí)域響應(yīng)。該頻率響應(yīng)特性與時(shí)域響應(yīng)可由該電容的電容值大小來(lái)決定。
在本實(shí)施例中，該交流共模偏移電路425可由一電容427與電阻426與電阻428所組成。該電阻426與該電阻428形成一分壓電路將該低速測(cè)試機(jī)臺(tái)330的一周期性訊號(hào)混入該測(cè)試訊號(hào)中，使測(cè)試訊號(hào)具有一周期抖動(dòng)。該周期抖動(dòng)的振幅可經(jīng)由選擇不同的電阻426與電阻428之間的比值來(lái)調(diào)整。該電容427一端耦接至該分壓電路且一端耦接至地電位，形成另一低通濾波器，防止該低速測(cè)試機(jī)臺(tái)330的周期性訊號(hào)中具有其它高頻噪聲混入測(cè)試訊號(hào)之中，造成測(cè)試的誤差。
此外，本發(fā)明的測(cè)試電路的訊號(hào)接收端414還可經(jīng)由一電容432交流耦接(AC coupling)至待測(cè)電子產(chǎn)品的輸出端312，避免待測(cè)電子產(chǎn)品310與測(cè)試電路420的交流共模具有不同的電平。類(lèi)似地，本發(fā)明的測(cè)試電路的訊號(hào)輸出端412還可經(jīng)由一電容432交流耦接至待測(cè)電子產(chǎn)品的訊號(hào)輸出端314。對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員而言，該低通濾波器與該交流共模偏移電路可以有各類(lèi)型的變化，此一實(shí)施例并非限定本發(fā)明，任一低通濾波器可產(chǎn)生一特定頻率響應(yīng)與時(shí)域響應(yīng)，用以產(chǎn)生一具有時(shí)域抖動(dòng)的測(cè)試訊號(hào)均未脫離本發(fā)明的精神與范疇。相同地，一交流共模偏移電路用以使該測(cè)試訊號(hào)具有一周期抖動(dòng)均未脫離本發(fā)明的精神與范疇。
請(qǐng)參閱圖5。圖5為根據(jù)圖3和/或圖4所示的本發(fā)明可注入時(shí)域抖動(dòng)的測(cè)試電路的測(cè)試方法流程圖。
步驟510仿真一測(cè)試電路的頻率響應(yīng)與時(shí)域響應(yīng)，該測(cè)試電路至少包含一低通濾波器；步驟520選擇一測(cè)試電路，該測(cè)試電路仿真的頻率響應(yīng)與時(shí)域響應(yīng)接近于一待測(cè)電路的設(shè)計(jì)規(guī)格；步驟530耦接該待測(cè)電路的輸出訊號(hào)至該測(cè)試電路；步驟540產(chǎn)生一測(cè)試訊號(hào)，該測(cè)試訊號(hào)為該輸出訊號(hào)經(jīng)由該測(cè)試電路所產(chǎn)生；步驟550注入一周期抖動(dòng)至該測(cè)試訊號(hào)，該周期抖動(dòng)為一交流共模偏移電路接收一低速測(cè)試機(jī)臺(tái)的訊號(hào)所產(chǎn)生；步驟560輸出該測(cè)試訊號(hào)至待測(cè)電路的接收端，比較該測(cè)試訊號(hào)與該輸出訊號(hào)是否一致。
經(jīng)實(shí)驗(yàn)證明，本發(fā)明的可注入時(shí)域抖動(dòng)的測(cè)試電路的仿真結(jié)果相當(dāng)吻合實(shí)際量測(cè)出來(lái)的傳輸信道的頻率響應(yīng)與時(shí)域響應(yīng)。本發(fā)明所采用的低通濾波器為相對(duì)簡(jiǎn)單而普遍的技術(shù)，可直接采用離散組件(discrete component)來(lái)實(shí)現(xiàn)；而本發(fā)明的可注入時(shí)域抖動(dòng)的測(cè)試電路亦可再采用適當(dāng)?shù)膫鬏旊娐吩O(shè)計(jì)或加上嵌入式組件(embedded component)，如穿孔(via)或電感電容等來(lái)衰減能量，以更佳地于訊號(hào)中注入抖動(dòng)。經(jīng)由選擇或調(diào)整低通濾波器的使測(cè)試電路具有適當(dāng)?shù)念l率響應(yīng)與時(shí)域響應(yīng)，及經(jīng)由混入一低速測(cè)試機(jī)臺(tái)的周期性訊號(hào)，本發(fā)明可達(dá)到產(chǎn)生一時(shí)域抖動(dòng)及一周期抖動(dòng)的測(cè)試訊號(hào)，進(jìn)行電子產(chǎn)品的接收能力測(cè)試，大幅縮減了電子產(chǎn)品于研發(fā)及生產(chǎn)過(guò)程中的測(cè)試成本，解決了已知技術(shù)中無(wú)法克服的問(wèn)題。
以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，凡依本發(fā)明的權(quán)利要求所做的均等變化與修飾，皆應(yīng)屬本發(fā)明的涵蓋范圍。
權(quán)利要求
1.一種可注入時(shí)域抖動(dòng)的測(cè)試方法，其包含下列步驟接收一待測(cè)電路的輸出訊號(hào)；仿真一測(cè)試電路的頻率響應(yīng)與時(shí)域響應(yīng)；選擇一測(cè)試電路耦接至該待測(cè)電路，其中該測(cè)試電路仿真的頻率響應(yīng)與時(shí)域響應(yīng)接近于該待測(cè)電路的一設(shè)計(jì)規(guī)格；產(chǎn)生一測(cè)試訊號(hào)，其中該測(cè)試訊號(hào)由該測(cè)試電路產(chǎn)生，以及該測(cè)試訊號(hào)具有一時(shí)域抖動(dòng)；以及輸出該測(cè)試訊號(hào)至該待測(cè)電路的接收端。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其還包含下列步驟偏移該測(cè)試訊號(hào)，使該測(cè)試訊號(hào)具有一周期抖動(dòng)。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其中該步驟偏移該測(cè)試訊號(hào)，使該測(cè)試訊號(hào)具有一周期抖動(dòng)是經(jīng)由注入一低速測(cè)試機(jī)臺(tái)的一輸出訊號(hào)所產(chǎn)生。
4.如權(quán)利要求3所述的方法，其中該低速測(cè)試機(jī)臺(tái)的輸出訊號(hào)的頻率低于該待測(cè)電路的輸出訊號(hào)的頻率。
5.一種可注入時(shí)域抖動(dòng)的測(cè)試電路，其包含一輸入端，用來(lái)由一待測(cè)電路的輸出端接收該待測(cè)電路的輸出訊號(hào)；一輸出端，用來(lái)輸出該測(cè)試電路的一測(cè)試訊號(hào)至該待測(cè)電路的一接收端；以及一低通濾波器，耦接于該輸入端與該輸出端，產(chǎn)生該測(cè)試訊號(hào)，其中該測(cè)試訊號(hào)具有一時(shí)域抖動(dòng)。
6.如權(quán)利要求5所述的測(cè)試電路，其還包含一交流共模電壓偏移電路耦接于該低通濾波器，其中該交流共模電壓偏移電路接收一低速測(cè)試機(jī)臺(tái)的一輸出訊號(hào)，使該測(cè)試訊號(hào)具有一周期抖動(dòng)。
7.如權(quán)利要求6所述的測(cè)試電路，其中該交流共模電壓偏移電路包含一分壓電路，決定該測(cè)試訊號(hào)的該周期抖動(dòng)的振幅。
8.如權(quán)利要求5所述的測(cè)試電路，其還包含一第三電容，其第一端耦接于該低通濾波器，其第二端耦接于該待測(cè)電路的輸出端。
9.如權(quán)利要求6所述的測(cè)試電路，其中該低速測(cè)試機(jī)臺(tái)的輸出訊號(hào)的頻率低于該待測(cè)電路的輸出訊號(hào)的頻率。
10.如權(quán)利要求5所述的測(cè)試電路，其中該低通濾波器具有一插入損耗，用以決定該測(cè)試訊號(hào)的時(shí)域抖動(dòng)及振幅。
全文摘要
本發(fā)明提供一可注入時(shí)域抖動(dòng)的測(cè)試電路及相關(guān)測(cè)試方法。該測(cè)試方法經(jīng)由模擬方式選擇適當(dāng)?shù)牡屯V波器，該低通濾波器接收一待測(cè)電路的輸出訊號(hào)以產(chǎn)生一具有時(shí)域抖動(dòng)的測(cè)試訊號(hào)，再將該測(cè)試訊號(hào)輸入該待測(cè)電路的接收端，進(jìn)而進(jìn)行所需的量測(cè)。本發(fā)明的測(cè)試電路及測(cè)試方法以簡(jiǎn)易的電路達(dá)到與昂貴的高速測(cè)試機(jī)臺(tái)相同的時(shí)域抖動(dòng)注入的效果，大幅節(jié)省了電子產(chǎn)品與研發(fā)及制造過(guò)程中所需負(fù)擔(dān)的測(cè)試成本。
文檔編號(hào)H04B17/00GK1741427SQ200510099529
公開(kāi)日2006年3月1日 申請(qǐng)日期2005年9月13日 優(yōu)先權(quán)日2005年9月13日
發(fā)明者徐鑫洲, 林敏生 申請(qǐng)人:威盛電子股份有限公司