專利名稱：信號處理裝置及方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種通過X-Y地址型固態(tài)圖像攝取元件拍攝對象的圖像的信號處理裝置及信號處理方法。
背景技術：
在以CMOS(互補型金屬氧化物半導體)傳感器為代表的X-Y地址型固態(tài)圖像攝取元件中，大量像素排列在如圖1所示的由行和列構成的矩陣中。該元件包括垂直掃描電路54，用于依次選擇像素部52的各行；水平掃描電路60，用于依次選擇像素部52的各列；以及輸出電路61，用于輸出信號。
垂直掃描電路54和水平掃描電路60由例如移位寄存器構成，并且分別為每一行和每一列產(chǎn)生一個垂直掃描脈沖和一個水平掃描脈沖。
當讀取儲存在各個像素中的圖像信號時，通過垂直掃描電路54將脈沖信號加到一條垂直選擇線53上，使同一行中的所有像素晶體管51電導通。圖像信號從各感光部50被讀取到垂直信號線55上。將被讀取到垂直信號線55上的圖像信號提供給相關雙重取樣電路(CDS)56等電路，以清除每個像素的偏移信號(offset signal，或叫偏差信號)。
水平掃描電路60通過水平選擇線59將脈沖信號加到與各垂直信號線55連接的晶體管57上，使晶體管57處于通電狀態(tài)。已通過CDS 56清除了偏移信號的列的像素信號被讀取到水平信號線58。該像素信號通過輸入電路61轉換成電壓信號后，向外部輸出。
在這種X-Y地址型固態(tài)圖像攝取元件中，各列分別具有不同的(或者是他們自身的)垂直信號線55。因此，一旦CDS 56和晶體管57具有不同的特性，自輸出電路61提供的像素信號便會在各列間產(chǎn)生不同的偏移。分別對應各列的不同的偏移會作為條紋狀的固定模式噪聲(下文稱之為列噪聲)顯現(xiàn)在顯示屏幕上，造成畫質不好。
現(xiàn)有一種防止畫質變差的方法。在該方法中，從固態(tài)圖像攝取元件中僅提取列噪聲分量，提取出的列噪聲分量被作為用于校正的基準信號保存。在通常的圖像攝取操作時，從固態(tài)圖像攝取元件的信號輸出中減去基準信號，以此來校正列噪聲。
然而，當用光照射像素部52時，基于入射光的信號分量會被加到列噪聲分量中。因此，該輸出信號不能被用作用于校正的基準信號。
因此，根據(jù)日本專利申請公開第10-126697號出版物，如圖2所示，像素部52由有效像素區(qū)A、垂直光學黑體區(qū)B(下文稱之為VOPB)、及水平光學黑體區(qū)C(下文稱之為HOPB)構成，用于執(zhí)行列噪聲的檢測/校正。有效像素區(qū)A被光照射。在垂直光學黑體區(qū)B和水平光學黑體區(qū)C中，光的照射在數(shù)行到數(shù)十行的范圍內被諸如鋁薄膜等遮光板遮擋。

發(fā)明內容
但是，當排列在VOPB區(qū)B中的像素中存在黑色或白色的不良像素時，該不良像素會影響到列噪聲量的檢測值。如果在受到該不良像素影響的列噪聲上進行校正，便會產(chǎn)生條紋狀噪聲。
例如，當某列中存在白色不良像素時，將檢測出比實際的列噪聲量更大的值來當作列噪聲。如果基于這種更大的列噪聲量進行校正，便會產(chǎn)生暗條紋狀噪聲。或者，當某列中存在黑色不良像素時，將檢測出比實際的列噪聲量更小的值來當作列噪聲。如果基于這種更小的列噪聲量進行校正，便會產(chǎn)生亮條紋狀噪聲。
因此，本發(fā)明提供的是一種即使在VOPB區(qū)B中存在不良像素時也能夠正確地檢測出列噪聲、并進行列噪聲校正的信號處理裝置和信號處理方法。
根據(jù)本發(fā)明的信號處理裝置包括固態(tài)圖像攝取元件，該固態(tài)圖像攝取元件包括包括均勻排列在行列矩陣中的多個像素的像素部，該像素部包括被光照射的有效像素區(qū)和光的照射被遮擋的垂直遮光像素區(qū)；垂直掃描電路，用于控制排列在同一行中并通過垂直選擇線共同連接的像素的控制電極；水平掃描電路，用于控制共同連接到排列在同一列中的像素的主電極上的垂直信號線的控制電極，從而以行為單位向水平信號線依次輸出像素信號，該像素信號經(jīng)由垂直信號線輸出；以及輸出電路，用于輸出來自水平掃描電路的像素信號；箝位裝置，用于將從固態(tài)圖像攝取元件的輸出電路輸出的垂直遮光像素區(qū)和有效像素區(qū)的像素信號的黑色電平值固定在預設的基準值；閾值確定裝置，用于根據(jù)預設的基準值確定閾值；判定裝置，用于判定已通過箝位裝置將黑色電平值固定在基準值的垂直遮光像素區(qū)的像素信號是否超過了由閾值確定裝置所確定的閾值；不良像素檢測裝置，用于從排列在垂直遮光像素區(qū)中的像素中檢測出不良像素；信號處理裝置，用于對已通過箝位裝置將黑色電平值固定在基準值的垂直遮光像素區(qū)的像素信號執(zhí)行預定的信號處理。
根據(jù)本發(fā)明的信號處理方法是一種用于具有固態(tài)圖像攝取元件的信號處理裝置的信號處理方法，其中，該固態(tài)圖像攝取元件包括包括均勻排列在行列矩陣中的多個像素的像素部，該像素部包括被光照射的有效像素區(qū)和光的照射被遮擋的垂直遮光像素區(qū)；垂直掃描電路，該垂直掃描電路控制排列在同一行中并通過垂直選擇線共同連接的像素的控制電極；水平掃描電路，該水平掃描電路控制共同連接到排列在同一列中的像素的主電極上的垂直信號線的控制電極，從而以行為單位向水平信號線依次輸出像素信號，該像素信號經(jīng)由垂直信號線輸出；以及輸出電路，該輸出電路輸出來自水平掃描電路的像素信號，上述方法包括以下步驟箝位步驟，將從固態(tài)圖像攝取元件的輸出電路輸出的垂直遮光像素區(qū)和有效像素區(qū)的像素信號的黑色電平值固定在預設的基準值；閾值確定步驟，根據(jù)預設的基準值確定閾值；判定步驟，判定已在箝位步驟中通過箝位裝置將黑色電平值固定在基準值的垂直遮光像素區(qū)的像素信號是否超過了由在閾值確定步驟中確定的閾值；不良像素檢測步驟，根據(jù)判定步驟的判定結果從排列在垂直遮光像素區(qū)的像素中檢測出不良像素；以及信號處理步驟，對已在箝位步驟中通過箝位裝置將黑色電平值固定在基準值的垂直遮光像素區(qū)的像素信號執(zhí)行預定的信號處理。
在本發(fā)明中，在黑色電平值被數(shù)字箝位器設置為0電平的VOPB區(qū)的像素信號中，不良排除器將超出預設閾值的像素信號視為不良信號。檢測出對應于該不良信號的不良像素。排除這些不良像素帶來的影響。通過列噪聲分量檢測器從排除了不良像素影響的像素信號中檢測出列噪聲分量。利用列噪聲校正器根據(jù)列噪聲分量來校正有效像素區(qū)的像素信號中的列噪聲。因此，即使VOPB區(qū)存在不良像素，也可以正確地檢測出列噪聲，并正確地執(zhí)行有效像素區(qū)的像素信號的列噪聲校正。


圖1是表示固態(tài)圖像攝取元件的結構的示意圖；圖2是表示將固態(tài)圖像攝取元件的像素部分為有效像素區(qū)、VOPB區(qū)、以及HOPB區(qū)時的情形的示意圖；圖3是表示根據(jù)本發(fā)明的信號處理裝置的結構的框圖；圖4是表示將固態(tài)圖像攝取元件的像素部分為有效像素區(qū)、VOPB區(qū)、以及HOPB區(qū)時的情形的示意圖；圖5是表示固態(tài)圖像攝取元件的結構的示意圖；圖6是表示設置在固態(tài)圖像攝取元件中的信號處理器的結構的框圖；圖7是表示設置在固態(tài)圖像攝取元件中的不良排除器的結構的框圖；圖8是表示以0電平為中心、因列噪聲和隨機噪聲而不同的VOPB區(qū)的像素信號的波形的曲線圖；以及圖9是表示以列噪聲量為中心、因列噪聲而不同的VOPB區(qū)的像素信號的波形的曲線圖。
具體實施例方式
下面，對根據(jù)本發(fā)明實施例的圖像處理裝置和圖像處理方法進行描述。
如圖3所示，信號處理裝置1包括透鏡10，用于匯聚入射光；快門11，用于在規(guī)定時間內使由透鏡10會聚的光通過；固態(tài)圖像攝取元件12，用于攝取作為光線經(jīng)過透鏡10和快門11進入的對象的圖像；控制器13，用于控制快門11和固態(tài)圖像攝取元件12；以及信號處理器14，用于對通過固態(tài)圖像攝取元件12攝取的像素信號進行預定的信號處理。
物體發(fā)出的光經(jīng)由包括透鏡10和快門11的光學系統(tǒng)入射到固態(tài)圖像攝取元件12。固態(tài)圖像攝取元件12包括對物體的圖像進行拍攝的像素部。如圖4所示，該像素部由被光照射的有效像素區(qū)A、利用諸如鋁薄膜等遮光板在數(shù)行到數(shù)十行的范圍內遮擋光的照射的垂直光學黑體(下文稱之為VOPB)區(qū)B、和利用諸如鋁薄膜等遮光板在數(shù)列到數(shù)十列的范圍內遮擋光的照射的水平光學黑體(下文稱之為HOPB)區(qū)C構成。
控制器13控制快門11的開關操作?？刂破?3還控制固態(tài)圖像攝取元件12，以使信號處理器14輸出從排列在有效像素區(qū)A、VOPB區(qū)B、和HOPB區(qū)C中的像素選擇性輸出的像素信號S1。
參照圖5對固態(tài)圖像攝取元件12進行描述。固態(tài)圖像攝取元件12包括例如X-Y地址型的感光部15，如圖5所示，該感光部根據(jù)光的照射存儲電荷；像素部17，由輸出存儲在感光部15中的電荷、并排列成行列矩陣的像素晶體管16構成；垂直掃描電路19，向垂直選擇線18施加脈沖信號，其中，每一條垂直選擇線都與排列在像素部17的矩陣的每一行中的像素連接；相關雙重取樣電路(CDS)21，通過從垂直掃描電路19施加脈沖信號，從提供給垂直信號線20的信號中清除偏移信號，其中，每條垂直信號線20都與排列在像素部17的矩陣的每一列中的像素連接；晶體管23，用于向水平信號線22提供已通過CDS 21清除了偏移信號的信號；水平掃描電路25，通過水平選擇線24將脈沖信號提供給晶體管23，以此向水平信號線22提供已通過CDS 21清除了偏移信號的信號；以及輸出電路26，將提供給水平掃描電路25的信號提供給信號處理器14。
在這種X-Y地址型固態(tài)圖像攝取元件12中，垂直信號線20在所排列的像素的每一列間都互不相同。因此，如果CDS 21和晶體管23間具有不同的特性，從輸出電路26輸出的像素信號會受到各列間不同的偏移的影響。每列的偏移會作為條紋狀的固定模式噪聲(下文稱之為列噪聲)顯現(xiàn)在顯示屏幕上，造成畫質不好。位于固態(tài)圖像攝取元件12后段的信號處理器14能夠清除這種噪聲。
接著，就信號處理器14的結構進行描述。如圖6所示，信號處理器14包括AFE(模擬前端)部30，用于將固態(tài)圖像攝取元件12的輸出信號轉換成數(shù)字信號；數(shù)字箝位器31，用于對從AFE部30提供的像素信號的HOPB區(qū)C的黑色電平值執(zhí)行減法處理；不良排除器32，用于從自數(shù)字箝位器31輸出的、對應于VOPB區(qū)B的像素信號中排除不良像素的影響；列噪聲分量檢測器33，用于從已通過不良排除器32排除了不良信號的影響的VOPB區(qū)B的像素信號中檢測出固定模式噪聲(下面稱之為列噪聲分量)，并檢測出VOPB區(qū)B的黑色電平值；行存儲器34，用于存儲通過列噪聲分量檢測器33檢測出的列噪聲分量；列噪聲校正器35，根據(jù)保存在行存儲器34中的列噪聲分量，校正由AFE部30提供的有效像素區(qū)A的像素信號的列噪聲分量；以及像機信號處理器36，對列噪聲校正器35的輸出信號執(zhí)行預定的像機處理。
AFE部30將自固態(tài)圖像攝取元件12提供的像素信號轉換成數(shù)字信號，并輸出經(jīng)過轉換的像素信號。
數(shù)字箝位器31從自AFE部30提供的像素信號中檢測出HOPB區(qū)C的黑色電平值，并從有效像素區(qū)A和VOPB區(qū)B的像素信號中減去檢測到的HOPB區(qū)C的黑色電平值。數(shù)字箝位器31將通過從VOPB區(qū)B的像素信號中減去HOPB區(qū)C的黑色電平值而獲得的信號提供給不良排除器32。另一方面，數(shù)字箝位器31將通過從有效像素區(qū)A的像素信號中減去HOPB區(qū)C的黑色電平值而獲得的信號提供給列噪聲校正器35。
向不良排除器32提供的是由數(shù)字箝位器31提供的、通過從VOPB區(qū)B的像素信號中減去了HOPB區(qū)C的黑色電平值而獲得的像素信號，并從提供的像素信號中排除不良像素帶來的影響。不良排除器32將排除后的像素信號輸出給列噪聲分量檢測器33。在此，參照圖7對不良排除器32的結構進行描述。
如圖7所示，不良排除器32包括閾值確定部40，根據(jù)預設的基準值(具有該基準值的信號電平為0電平)確定閾值；判定部41，判定已通過數(shù)字箝位器31將其黑色電平值固定在預設的基準值的VOPB區(qū)B的像素信號是否超過了閾值確定部40所確定的閾值；不良像素檢測器42，根據(jù)判定部41的判定結果，從排列在VOPB區(qū)B中的像素中檢測出不良像素；以及處理器43，根據(jù)不良像素檢測器42的檢測結果，對由數(shù)字箝位器31提供的VOPB區(qū)B的像素信號進行預定的信號處理。
下面，將描述利用根據(jù)本發(fā)明的不良排除器32檢測不良像素所采用的兩種方法。
現(xiàn)對第一種檢測方法進行說明。通過了數(shù)字箝位器31的像素信號的黑色電平值的信號電平為0電平。即，如圖8所示，VOPB區(qū)B的像素信號具有以0電平為中心的變量，因列噪聲及由暗電流等引起的隨機噪聲而不同。閾值確定部40參照列噪聲及隨機噪聲的信號可能表現(xiàn)出的值來確定閾值。具有超過該閾值的值的像素被確定為不良像素。閾值的確定方法如下所述。對列噪聲及隨機噪聲的信號進行加法處理。算出該加法處理得到的加和值的標準偏差。將該標準偏差的3倍范圍作為閾值。在該方法中，99.5％的非不良像素能夠在用于檢測列噪聲的運算中使用。
接著，對第二種檢測方法進行描述。在信號處理裝置1中，當檢測VOPB區(qū)B的列噪聲時，對每一列都進行檢測。例如，在對多個幀檢測列噪聲的情況下，當在一個幀內可以利用正在計算中的列噪聲時，將正在檢測中的列噪聲當作那一列的黑色電平。如果注意某特定列，如圖9所示，像素信號以列噪聲量為中心，具有與對應于隨機噪聲的量相當?shù)牟煌瑺顟B(tài)。參照隨機噪聲可采取的值來確定閾值，超出該閾值的像素被當作不良像素。閾值的確定方法如下所述。算出隨機噪聲的標準偏差，將該標準偏差3倍的范圍當作閾值。在該方法中，99.5％的非不良像素能夠在用于檢測列噪聲的運算中使用。
此外，上述方法與事先存儲不良像素的位置的方法不同，它能夠進行恒定的檢測。
接著，進一步描述如何處理檢測出的不良像素的兩種方法。
第一種方法是一種對被不良像素檢測器42當作不良像素的像素的信號進行溢出限制(overflow limitation)的方法。例如，如圖8所示，不良像素檢測器42將偏離以0電平為中心的閾值的信號當作不良信號。不良像素檢測器42將這些信號提供給處理器43。處理器43根據(jù)不良像素檢測器42的檢測結果，對由數(shù)字箝位器31提供的VOPB區(qū)B的像素信號進行預定的信號處理。例如，如圖8所示，處理器43對具有大于由閾值確定部40確定的閾值1的信號電平的像素(導致白色缺陷的像素a)進行溢出限制。換句話說，處理器43執(zhí)行使白色不良像素a的信號電平減少到閾值1的信號電平的處理。同樣，處理器43對具有小于由閾值確定部40確定的閾值2的信號電平的像素(導致黑色缺陷的像素b)進行溢出限制。換句話說，處理器43執(zhí)行使黑色不良像素b的信號電平增加到閾值2的信號電平的處理。
通過執(zhí)行這種處理，可縮小白色及黑色不良像素的信號的絕對值，以將不良像素給列噪聲檢測帶來的影響降至最低。
第二種處理方法是一種從VOPB區(qū)B的像素信號中清除被不良像素檢測器42當作不良像素的像素的信號的方法。處理器43根據(jù)不良像素檢測器42的檢測結果，執(zhí)行從由數(shù)字箝位器31提供的VOPB區(qū)B的像素信號中清除不良像素的信號的處理。
通過執(zhí)行這種處理，可將不良像素給列噪聲檢測帶來的影響降至最低。
接著，對閾值確定部40確定閾值的方法進行描述。
閾值確定部40根據(jù)像素部的列噪聲量和隨機噪聲量確定閾值。然而，當檢測排列在VOPB區(qū)B中的像素的列噪聲時，算入了沒有在該檢測中使用的像素的像素數(shù)量。因此，在這種像素的數(shù)量較大的情況下，應執(zhí)行控制使閾值范圍擴大。這是因為如果在列噪聲檢測的運算中沒有使用到的像素數(shù)量過多的話，將被運算的像素的樣本數(shù)便會減少，從而降低了檢測精度。如果被檢測的不良信號的數(shù)量太少的話，則應根據(jù)不良像素檢測器42的檢測結果，執(zhí)行控制使閾值范圍縮小。這是因為不良像素給列噪聲檢測帶來的影響很大，從而必須縮小閾值范圍來提高檢測精度。注意，閾值確定部40可以采用不良像素檢測器42的檢測結果被不斷反饋這樣的結構。
列噪聲分量檢測器33從由不良排除器32提供的信號中檢測出列噪聲分量。著眼于同一列中的像素具有相同的列噪聲量，列噪聲分量檢測器33從已由不良排除器32排除了不良像素的影響的VOPB區(qū)B的像素信號中檢測出列噪聲分量。列噪聲分量檢測器33將該檢測結果存儲到行存儲器34中。
在此，對由列噪聲分量檢測器33檢測出VOPB區(qū)B的黑色電平值的差值的操作進行描述。如上所述，在數(shù)字箝位器31中，從VOPB區(qū)B的像素信號中減去了HOPB區(qū)C的黑色電平值。因此，如果HOPB區(qū)C和VOPB區(qū)B的黑色電平值沒有差別，VOPB區(qū)B的黑色電平值就被列噪聲分量檢測器33檢測為0。
另一方面，如果HOPB區(qū)C和VOPB區(qū)B的黑色電平值存在差異，則VOPB區(qū)B的黑色電平值將被列噪聲檢測器33檢測為正值或負值。當VOPB區(qū)B的黑色電平值為正值時，表示VOPB區(qū)B的黑色電平值高于HOPB區(qū)C的黑色電平值，當VOPB區(qū)B的黑色電平值為負值時，這意味著VOPB區(qū)B的黑色電平值低于HOPB區(qū)C的黑色電平值。
因此，為了檢測出HOPB區(qū)C和VOPB區(qū)B的黑色電平值的差值，由于HOPB區(qū)C的黑色電平值為0，所以列噪聲分量檢測器33只需檢測出VOPB區(qū)B的黑色電平值。用于檢測出VOPB區(qū)B的黑色電平值的方法可以采用對整個VOPB區(qū)B求積分，也可以采用對部分VOPB區(qū)B進行積分。
列噪聲校正器35根據(jù)由列噪聲分量檢測器33檢測出的噪聲分量校正從排列在有效像素區(qū)A中的像素中輸出的像素信號的列噪聲。列噪聲校正器35將校正后的信號提供給像機信號處理器36。像機信號處理器36對已通過列噪聲校正器35進行過列噪聲校正處理的信號執(zhí)行預定的像機信號處理。
因此，在根據(jù)本發(fā)明的信號處理裝置1中，在黑色電平值被數(shù)字箝位器31設置為0電平的VOPB區(qū)B的像素信號中，超出預設閾值的像素信號被不良排除器32當作不良信號。檢測出與該不良信號對應的不良像素。排除該不良像素的影響。通過列噪聲分量檢測器33從排除了不良像素影響的像素信號中檢測出列噪聲分量。通過列噪聲校正器35根據(jù)列噪聲分量來校正有效像素區(qū)的像素信號中的列噪聲。因此，即使VOPB區(qū)B存在不良像素，也可以正確地檢測出列噪聲，并正確地執(zhí)行有效像素區(qū)A的像素信號的列噪聲校正。
本發(fā)明并不限于上面參照附圖描述的實施例。各種修改、替換、或等價物在不脫離權利要求和本發(fā)明的主題的情況下都是可行的。
以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例而已，并不用于限制本發(fā)明，對于本領域的技術人員來說，本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發(fā)明的保護范圍之內。
權利要求
1.一種信號處理裝置，包括固態(tài)圖像攝取元件，所述固態(tài)圖像攝取元件包括像素部，所述像素部包括均勻排列在行列矩陣中的多個像素，并且所述像素部包括被光照射的有效像素區(qū)和光的照射被遮擋的垂直遮光像素區(qū)，垂直掃描電路，用于控制排列在同一行中并通過垂直選擇線共同連接的像素的控制電極，水平掃描電路，用于控制共同連接到排列在同一列中的像素的主電極上的垂直信號線的控制電極，從而以行為單位向水平信號線依次輸出像素信號，所述像素信號經(jīng)由所述垂直信號線輸出，以及輸出電路，用于輸出來自所述水平掃描電路的像素信號；箝位裝置，用于將從所述輸出電路輸出的所述垂直遮光像素區(qū)和所述有效像素區(qū)的像素信號的黑色電平值固定在預設的基準值；閾值確定裝置，用于根據(jù)所述預設的基準值確定閾值；判定裝置，用于判定已通過所述箝位裝置將黑色電平值固定的所述垂直遮光像素區(qū)的像素信號是否超過由所述閾值確定裝置確定的閾值；不良像素檢測裝置，用于根據(jù)所述判定裝置的判定結果，從排列在所述垂直遮光像素區(qū)中的像素中檢測出不良像素；以及信號處理裝置，用于根據(jù)所述不良像素檢測裝置的檢測結果對已通過所述箝位裝置將黑色電平值固定為所述基準值的所述垂直遮光像素區(qū)的像素信號執(zhí)行預定的信號處理。
2.根據(jù)權利要求1所述的信號處理裝置，進一步包括列噪聲分量檢測裝置，用于在通過所述信號處理裝置已經(jīng)執(zhí)行了預定的處理之后，從所述垂直遮光像素區(qū)的像素信號中檢測出列噪聲分量；以及列噪聲校正裝置，用于根據(jù)所述列噪聲分量檢測裝置檢測出的列噪聲分量，校正包含在已通過所述箝位裝置將黑色電平值固定為所述預設的基準值的所述有效像素區(qū)的像素信號中的列噪聲。
3.根據(jù)權利要求1所述的信號處理裝置，其中，所述閾值確定裝置根據(jù)所述不良像素檢測裝置的檢測結果改變閾值的范圍。
4.根據(jù)權利要求1所述的信號處理裝置，其中，所述信號處理裝置根據(jù)所述不良像素檢測裝置檢測出的不良像素，從已通過所述箝位裝置將黑色電平值固定為所述基準值的所述垂直遮光像素區(qū)的像素信號中檢測出不良信號，并使所述不良信號的信號值收斂于由所述閾值確定裝置確定的閾值。
5.根據(jù)權利要求1所述的信號處理裝置，其中，所述信號處理裝置根據(jù)所述不良像素檢測裝置檢測出的不良像素，從已通過所述箝位裝置將黑色電平值固定為所述基準值的所述垂直遮光像素區(qū)的像素信號中檢測出不良信號，并清除所述不良信號。
6.一種用于具有固態(tài)圖像攝取元件的信號處理裝置的信號處理方法，所述固態(tài)圖像攝取元件包括像素部，所述像素部包括均勻排列在行列矩陣中的多個像素，并且所述像素部包括被光照射的有效像素區(qū)和光的照射被遮擋的垂直遮光像素區(qū)，垂直掃描電路，用于控制排列在同一行中并通過垂直選擇線共同連接的像素的控制電極，水平掃描電路，用于控制共同連接到排列在同一列中的像素的主電極上的垂直信號線的控制電極，從而以行為單位向水平信號線依次輸出像素信號，所述像素信號經(jīng)由所述垂直信號線輸出，以及輸出電路，用于輸出來自所述水平掃描電路的像素信號；所述信號處理方法包括以下步驟箝位步驟，將從所述輸出電路輸出的所述垂直遮光像素區(qū)和所述有效像素區(qū)的像素信號的黑色電平值固定在預設的基準值；閾值確定步驟，根據(jù)所述預設的基準值確定閾值；判定步驟，判定已在所述箝位步驟中將黑色電平值固定為所述基準值的所述垂直遮光像素區(qū)的像素信號是否超過了在所述閾值確定步驟中確定的閾值；不良像素檢測步驟，根據(jù)判定步驟的判定結果，從排列在所述垂直遮光像素區(qū)中的像素中檢測出不良像素；以及信號處理步驟，根據(jù)不良像素檢測裝置的檢測結果，對已在所述箝位步驟中將黑色電平值固定為所述基準值的所述垂直遮光像素區(qū)的像素信號執(zhí)行預定的信號處理。
7.根據(jù)權利要求6所述的信號處理方法，進一步包括列噪聲分量檢測步驟，在所述信號處理步驟中已執(zhí)行了預定處理之后，從所述垂直遮光像素區(qū)的像素信號中檢測出列噪聲分量；以及列噪聲校正步驟，根據(jù)在所述列噪聲分量檢測步驟中檢測出的列噪聲分量，校正包含于已在所述箝位步驟中已將黑色電平值固定為所述預設的基準值的所述有效像素區(qū)的像素信號中的列噪聲。
8.根據(jù)權利要求6所述的信號處理方法，其中，所述閾值決定步驟根據(jù)所述不良像素檢測步驟的檢測結果改變閾值的范圍。
9.根據(jù)權利要求6所述的信號處理方法，其中，所述信號處理步驟根據(jù)在所述不良像素檢測步驟中檢測出的不良像素，從已在所述箝位步驟中將黑色電平值固定為所述基準值的所述垂直遮光像素區(qū)的像素信號中檢測出不良信號，并將所述不良信號的信號值收斂于所述閾值確定步驟中所確定的閾值。
10.根據(jù)權利要求6所述的信號處理方法，其中，所述信號處理步驟根據(jù)在所述不良像素檢測步驟中檢測出的不良像素，從已在所述箝位步驟中將黑色電平值固定為所述基準值的所述垂直遮光像素區(qū)的像素信號中檢測出不良信號，并清除所述不良信號。
11.一種信號處理裝置，包括固態(tài)圖像攝取元件，所述固態(tài)圖像攝取元件包括像素部，所述像素部包括均勻排列在行列矩陣中的多個像素，所述像素部包括被光照射的有效像素區(qū)和光的照射被遮擋的垂直遮光像素區(qū)，垂直掃描電路，用于控制排列在同一行中并通過垂直選擇線共同連接的像素的控制電極，水平掃描電路，用于控制共同連接到排列在同一列中的像素的主電極上的垂直信號線的控制電極，從而以行為單位向水平信號線依次輸出像素信號，所述像素信號經(jīng)由所述垂直信號線輸出，以及輸出電路，用于輸出來自所述水平掃描電路的像素信號；箝位部，用于將從所述輸出電路輸出的所述垂直遮光像素區(qū)和所述有效像素區(qū)的像素信號的黑色電平值固定在預設的基準值；閾值確定部，用于根據(jù)所述預設的基準值確定閾值；判定部，用于判定已通過所述箝位部將黑色電平值固定在所述基準值的所述垂直遮光像素區(qū)的像素信號是否超過了所述閾值確定裝置所確定的閾值；不良像素檢測器，用于從排列在所述垂直遮光像素區(qū)的像素中檢測出不良像素；以及信號處理器，用于對已通過所述箝位部將黑色電平值固定在所述基準值的所述垂直遮光像素區(qū)的像素信號執(zhí)行特定的信號處理。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種即使在VOPB區(qū)B中存在不良像素的情況下也可以正確地檢測出列噪聲、并進行列噪聲校正的信號處理裝置。該信號處理裝置包括固態(tài)圖像攝取元件，該元件包括像素部、垂直掃描電路、水平掃描電路、和輸出電路；箝位部，用于將從輸出電路輸出的垂直遮光像素區(qū)和有效像素區(qū)的像素信號的黑色電平值固定在預設的基準值；閾值確定部，用于根據(jù)預設的基準值確定閾值；判定部，用于判定已通過箝位部將黑色電平值固定在基準值的垂直遮光像素區(qū)的像素信號是否超過了閾值確定部所確定的閾值；不良像素檢測器，用于從排列在垂直遮光像素區(qū)中的像素中檢測出不良像素；以及信號處理器，用于對已通過箝位部將黑色電平值固定在基準值的垂直遮光像素區(qū)的像素信號執(zhí)行預定的信號處理。
文檔編號H04N5/361GK1719877SQ20051008260
公開日2006年1月11日 申請日期2005年7月6日 優(yōu)先權日2004年7月7日
發(fā)明者稻葉靖二郎 申請人:索尼公司