專利名稱：圖像處理方法及圖像處理裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及利用不良像素圖像周圍的正常像素圖像，修正不良像素圖像的圖像處理方法及圖像處理裝置。
背景技術：
例如，數(shù)字X射線檢測器，從制造上的成品率觀點出發(fā)，存在著線或點的不良像素。該不良像素在再次構成圖像時由于降低了圖像的品質(zhì)，因此有必要進行一些處理來修正圖像。
以往，在進行此類不良像素的修正時，主要做法是在進行圖像的顯示時逐行檢查出不良像素，參照不良像素周圍的像素進行修正。
但是，逐行參照不良像素及其周圍像素的做法，由于計算處理的龐大，不能進行簡單快速的圖像修正。因此，它只適用于靜態(tài)圖像，動態(tài)圖像的修正在實際上還不可能。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以往的實際情況，本發(fā)明的目的在于提供一種能夠快速進行修正處理的圖像處理方法及圖像處理裝置。
為了實現(xiàn)上述目標，本發(fā)明的圖像處理方法是，利用不良像素圖像周圍的正常像素圖像修正不良像素圖像，其特征在于預先根據(jù)拍攝光在照射時和非照射時的差異找出不良像素，然后將位于所述各不良像素周圍的正常像素作為修正像素，并把其對應該各不良像素記錄到修正列表中，在圖像顯示時，利用所述修正列表，求出修正像素的信息的平均像素灰度，將該平均像素灰度作為對應該修正像素的不良像素的值進行顯示。
根據(jù)上述的方法，由于預先求出了不良像素和修正列表，因此在進行圖像修正處理時可不進行那樣的處理。而且，由于通過掃描而順序獲得的圖像數(shù)據(jù)被立即發(fā)送到修正列表，被用來修正不良像素，因此提高了修正處理的速度。
拍攝光在照射時和非照射時的差異如果在一定的閾值以下，則可判定該像素為不良像素。
所述不良像素如果是點，即，是1個或者是相鄰的2個不良像素，則可將圍繞該不良像素周圍的8或16個像素作為修正像素。
另一方面，所述不良像素如果以線狀的行或列的形式存在，則可將從兩側與該線狀不良像素相鄰的一對線狀像素作為所述修正像素。
從兩側與所述線狀的1行或1列不良像素相鄰的一對線狀像素，根據(jù)機器的特性，有不能發(fā)揮正常的功能的情況。在這種情況下，可將包含從兩側與所述線狀的1行或1列不良像素相鄰的一對線狀像素的3行或3列像素視為所述不良像素來進行所述修正。
本發(fā)明，可在所述拍攝光線是通過射線源照射來的透視攝影用的射線的射線透視拍攝裝置中利用。
而且，上述攝影光是從放射源照射來的透視拍攝用射線的圖像處理裝置，還備有拍攝用的射線檢測器。
本發(fā)明圖像處理裝置的其他特征是，具有所述修正列表；以及在圖像顯示時，利用所述修正列表，求出修正像素信息的平均像素灰度，并將該平均像素灰度作為對應該修正像素的不良像素的值來進行顯示的修正程序。修正程序及修正列表除了以文件的形式存在以外，也可以寫入IC芯片中進行保存。
如上所述，根據(jù)上述本發(fā)明的圖像處理方法及圖像處理裝置的特征，能夠迅速地進行修正處理。而且，不僅限于對靜態(tài)圖像，對動態(tài)圖像也可進行修正處理。
關于本發(fā)明其它的目的，構成及效果，結合以下記載的內(nèi)容進行明確的說明。


圖1是表示本發(fā)明的圖像處理裝置的方框圖。
圖2表示對應射線檢測器的畫面，(a)表示不照射X射線的情況(圖像A)，(b)表示照射X射線的情況(圖像B)，(c)表示從圖像B減去圖像A的圖像。
圖3表示修正點狀不良像素的方法，(a)表示修正1個點狀不良像素的情況，(b)表示修正相鄰的2個點狀不良像素的情況。
圖4是表示修正點狀不良像素方法的圖。
圖5是表示不良像素位圖的生成順序的流程圖。
圖6是表示修正列表的生成順序的流程圖。
圖7是表示不良像素修正處理順序的流程圖。
具體實施例方式
下面，參照圖1-3，對本發(fā)明的第一實施方式進行說明。在圖1所示的圖像處理裝置中，將來自于未圖示的射線源照射來的X射線穿過透視物，通過數(shù)字X射線檢測器2拍攝此透過的X射線。檢測器2由如液晶畫面的Pixel(像素)矩陣構成，在受光面貼覆有能將X射線能轉(zhuǎn)換為光能的閃爍器。被照射的X射線被分成8個區(qū)段2a～h，被分別送至放大器3，然后通過多路復用器4的切換被依次輸入到個人計算機5中。在放大器3或多路復用器4中，對于每個區(qū)分2a～h或放大器3分別進行將不同的偏移量平均化的調(diào)整。
個人計算機5中設有內(nèi)存6及CPU7。而且，將后述算法程序展開在內(nèi)存空間中，并且同時進行運算處理。將處理結果顯示在監(jiān)視器8的顯示畫面8a中。
下面，參照圖5-7，對圖像處理裝置中的圖像處理方法的處理順序進行說明。
首先，如圖5所示，將如圖2(a)所示的未照射X射線時的圖像作為圖像A取得(S01)。在此，以高亮度顯示線狀缺陷D1及點狀缺陷D2。然后，將如圖2(b)所示的照射X射線時的圖像作為圖像B取得(S02)。這時，以低亮度顯示線狀缺陷D1及點狀缺陷D2。并且，為了算出亮度值要從圖像B中減去圖像A，將其作為圖像C來保存(S03)。在圖像C中，將缺陷部分D1～4顯示為發(fā)暗的線或點。
另一方面，算出圖像B的平均像素灰度(S04)。首先，將一定的值，例如平均像素灰度的50％～10％作為閾值(S05)，掃描圖像C將未達到閾值的像素標記為不良像素(S06)。而且，將圖像C作為包含缺陷部分D1～4的位置信息的不良像素位圖來進行保存(S07)。
在生成修正列表時，如圖6所示，首先，讀出不良像素位圖(S11)，掃描不良像素位圖(S12)，在檢查出不良像素后(S13)，掃描其周圍的像素(S14)。
在此，對根據(jù)周圍像素的不良像素的修正模型進行說明。首先，在如圖3(a)那樣存在1點不良像素Da的情況下，使用圍繞其周邊的8個像素R1～8，利用它們的平均值來修正不良像素Da。如果是在如圖3(b)所示那樣連續(xù)出現(xiàn)2個不良像素Da、Db2的情況下，則使用圍繞最初掃描的不良像素Da的長方形的16個像素R1～16，利用它們的平均值來修正不良像素Da、Db。
另一方面，如圖4所示，在產(chǎn)生線狀不良像素L3的情況下，將與不良像素L3相鄰的一對像素列L2、L4中的各部分進行上下對應，利用各部分的平均值來進行修正。例如，對于位于坐標上的第L3行、第C列上的點，采用位于坐標上的第L2行、第C列，及第L4行、第C列上的兩點的平均值進行修正。
但是，由于檢測器的特性，與不良像素L3相鄰的一對像素列L2、L4也可能不完整。這時，首先，利用像素列L1、L5修正像素列L2、L4，然后利用像素列L2、L4修正像素L3。也可考慮一概通過像素列L1、L5修正像素列L2、L3、L4。
在處理順序上，先要判斷各坐標像素是否為正常像素(S15)，在不是正常像素的情況下，檢測其周圍的像素(S15)。在2個不良像素為連續(xù)的情況下，進行如圖3(a、b)所示的處理，在為正常像素的情況下，使如上所述的不良像素與周邊的修正像素保持對應關系，并將其登錄到修正列表中(S16)。對于全體像素進行同樣的掃描(S17)，全體像素如掃描完畢，則將修正列表保存到文件中(S18)。
像這樣生成的修正列表文件，是各個檢測器2中固有的，被組合提供。也就是說，由于事先生成了修正列表文件，因此可實現(xiàn)修正處理的高速化。實際的圖像處理裝置并不包含進行上述處理順序的程序，只保存有進行修正處理所必要的程序文件和修正列表文件。在修正列表文件中至少要記載修正像素(R1～8、R1～16、L1、L2、L4、L5)以及與此對應的不良像素(Da，Db，L3)的坐標。
使用進行修正處理的程序文件的修正處理，首先要讀出上述修正列表(S21)，并從列表中取得不良像素坐標(S22)。并且要從列表中取得修正用像素坐標(S23)，并將像素值相加(S24)，如果取完修正像素(S25)，則求出平均像素灰度(S26)，并將平均像素值寫入不良像素坐標中(S27)。反復進行以上的操作，一直到修正列表終了為止(S28)。
另外，修正列表和修正程序，可作為文件保存，同時也可通過寫入IC芯片中進行保存。此外，記錄到權利要求范圍項目內(nèi)的符號，只不過是為了方便與畫面進行對照，該記入并不表示將本發(fā)明限制在附圖所示構成的范圍內(nèi)。
本發(fā)明用于對使用數(shù)字X射線檢測器或黑白照像機等拍攝的攝影圖像處理，同時也適用于X射線以外的放射線、可視光、紫外線、紅外線等情況下的處理。另外，不僅限于黑白照相機，在彩色攝影的情況下，只要對每個色彩通道進行同樣的處理，即可達到上述的效果。
權利要求
1.一種圖像處理方法，利用不良像素圖像周圍的正常像素圖像修正不良像素圖像，其特征在于預先根據(jù)拍攝光在照射時和非照射時的差異找出不良像素(Da、Db、L3)，然后將位于所述各不良像素(Da、Db、L3)周圍的正常像素作為修正像素(R1～8、R1～16、L1、L2、L4、L5)，并把其對應該各不良像素(Da、Db、L3)記錄到修正列表中，在圖像顯示時，利用所述修正列表，求出修正像素(R1～8、R1～16、L1、L2、L4、L5)的信息的平均像素灰度，將該平均像素灰度作為對應該修正像素(R1～8、R1～16、L1、L2、L4、L5)的不良像素(Da、Db、L3)的值進行顯示。
2.根據(jù)權利要求1所述的圖像處理方法，其特征在于在拍攝光的照射時和非照射時的差異為一定的閾值以下的情況下，可判定其像素為不良像素(Da、Db、L3)。
3.根據(jù)權利要求1或2所述的圖像處理方法，其特征在于在所述不良像素(Da、Db)是1個或者是相鄰的2個不良像素的情況下，可將圍繞該不良像素(Da、Db)周圍的8或16個像素作為修正像素。
4.根據(jù)權利要求1至3中任意一項所述的圖像處理方法，其特征在于所述不良像素(L3)如果以線狀的行或列的形式存在，則可將從兩側與該線狀不良像素(L3)相鄰的一對線狀像素作為所述修正像素(L2、L4)。
5.根據(jù)權利要求1至4中任意一項所述的圖像處理方法，其特征在于將包含從兩側與所述線狀的1行或1列不良像素相鄰的一對線狀像素的3行或3列像素(L2、L3、L4)視為所述不良像素來進行所述修正。
6.根據(jù)權利要求1至5中任意一項所述的圖像處理方法，其特征在于所述拍攝光線是通過射線源照射來的透視攝影用的射線。
7.一種圖像處理裝置，其特征在于用于實施權利要求1至5中任意一項所述的圖像處理方法，所述拍攝光線是通過射線源照射來的透視攝影用的射線，而且備有攝影用的射線檢測器。
8.一種圖像處理裝置，其特征在于在權利要求1至6中任意一項所述的圖像處理方法中使用，其具有所述修正列表；以及在圖像顯示時，利用所述修正列表，求出修正像素信息的平均像素灰度，并將該平均像素灰度作為對應該修正像素的不良像素的值來進行顯示的修正程序。
全文摘要
本發(fā)明提供一種能夠進行快速修正處理的圖像處理方法及圖像處理裝置。預先根據(jù)在拍攝光的照射時和非照射時的差異找出不良像素(Da、Db)。然后，將位于各不良像素(Da、Db)周圍的正常像素作為修正像素(R1～8，R1～16)，并將其與該各不良像素(Da、Db)相對應記錄到修正列表中，在進行圖像顯示時，利用修正列表求出修正像素(R1～8，R1～16)信息的平均像素灰度，并將該平均像素灰度作為對應該修正像素(R1～8，R1～16)的值來進行顯示。拍攝光在照射時和非照射時的差異如果在一定的閾值以下，則可將該像素判定為不良像素(Da、Db)。
文檔編號H04N1/409GK1599915SQ02824109
公開日2005年3月23日 申請日期2002年12月2日 優(yōu)先權日2001年12月4日
發(fā)明者中井啟介, 笹倉繁, 鈴木雅之 申請人:Pony工業(yè)株式會社