專利名稱:資料傳送裝置、光電轉(zhuǎn)換電路以及測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明是涉及一種資料傳送裝置、光電轉(zhuǎn)換電路以及測試裝置(DATATRANSMITTAL DEVICE,OPTICAL ELECTRIC TRANSFORM CIRCUIT,AND TESTINGDEVICE),特別是涉及一種用以進(jìn)行資料傳送的資料傳送裝置、用以進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換的光電轉(zhuǎn)換電路以及用以進(jìn)行電子裝置測試的測試裝置,特別是有關(guān)于一種使用光傳送的資料傳送裝置。
再者,本申請案是與下述的日本特許申請案相關(guān)聯(lián)。參照文獻(xiàn)時(shí),請依據(jù)所指定國家進(jìn)行參照,且在參照下述申請案所記載的內(nèi)容后,即納入本申請案中,而為本申請案的記載的一部份。
日本特許出愿第2001-312050號,申請日2001年10月9日。
背景技術(shù):
近年來,在資料(資料即數(shù)據(jù),以下均稱為資料)通訊中,通訊的高速化、大容量化是明顯的?,F(xiàn)在,在屋內(nèi)傳送等的近距離傳送中,進(jìn)行高速大容量通訊的情形下,是以平行光傳送方式為主流。使用平行光傳送方式以進(jìn)行資料傳送的資料傳送裝置是具有多條由激光二極管、光纖、光學(xué)二極管所構(gòu)成的通道(channel),并使用此多條信道進(jìn)行資料傳送。
然而,隨著資料通訊的高速化,多條通道間的斜交產(chǎn)生了問題。例如是,由于此斜交,因而限制了資料通迅的速度。在現(xiàn)有習(xí)知的資料傳送裝置中,為了降低其斜交性,因而在發(fā)送側(cè)設(shè)置復(fù)雜的成幀電路及編碼電路并在接收側(cè)設(shè)置解譯電路,然而如此則產(chǎn)生了消耗電力變大、甚至降低其靈敏度等的問題。
再者,用以測試電子裝置的測試裝置,也由于被測試裝置的高速化、測試裝置的小型化,因而迫切期望用于資料通訊的資料傳送裝置的高速化、小型高密度化、低消耗電力化。
由此可見,上述現(xiàn)有的資料傳送裝置、光電轉(zhuǎn)換電路以及測試裝置仍存在有缺陷,而亟待加以進(jìn)一步改進(jìn)。為解決現(xiàn)有的資料傳送裝置、光電轉(zhuǎn)換電路以及測試裝置的缺陷,相關(guān)廠商莫不費(fèi)盡心思來謀求解決之道,但長久以來一直未見適用設(shè)計(jì)被發(fā)展完成,此顯然是相關(guān)業(yè)者急欲解決的問題。
有鑒于上述現(xiàn)有的資料傳送裝置、光電轉(zhuǎn)換電路以及測試裝置存在的缺陷,本發(fā)明人基于從事此類產(chǎn)品設(shè)計(jì)制造多年豐富的實(shí)務(wù)經(jīng)驗(yàn)及專業(yè)知識,積極加以研究創(chuàng)新,以期創(chuàng)設(shè)一種新型結(jié)構(gòu)的資料傳送裝置、光電轉(zhuǎn)換電路以及測試裝置,能夠改進(jìn)一般現(xiàn)有的資料傳送裝置、光電轉(zhuǎn)換電路以及測試裝置,使其更具有實(shí)用性。經(jīng)過不斷的研究、設(shè)計(jì),并經(jīng)反復(fù)試作樣品及改進(jìn)后,終于創(chuàng)設(shè)出確具實(shí)用價(jià)值的本發(fā)明。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于,克服現(xiàn)有的資料傳送裝置、光電轉(zhuǎn)換電路以及測試裝置存在的缺陷,而提供一種新型結(jié)構(gòu)的可以解決上述問題的資料傳送裝置、光電轉(zhuǎn)換電路以及測試裝置,所要解決的技術(shù)問題是使其提供新型結(jié)構(gòu)的用以進(jìn)行資料傳送的資料傳送裝置,其可進(jìn)行降低信道間的傳送斜交的資料通訊;用以進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換的光電轉(zhuǎn)換電路;以及用以進(jìn)行電子裝置測試的測試裝置,測試裝置可以進(jìn)行更精確的且更有效率的電子裝置的測試,從而更加適于實(shí)用。此目的是可藉由組合申請專利范圍中獨(dú)立權(quán)利要求所記載的特征而達(dá)成。再者,從屬權(quán)利要求是對本發(fā)明的更有利的具體實(shí)施例進(jìn)行規(guī)定。
本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題是采用以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)的。依據(jù)本發(fā)明提出的一種資料傳送裝置,是利用光傳送進(jìn)行資料通訊,該裝置包括一發(fā)送部,是將所傳送的一電通訊資料轉(zhuǎn)換成一光通訊資料并送出;一光電轉(zhuǎn)換電路,是接收該光通訊資料且將所接收的該光通訊資料轉(zhuǎn)換成該電通訊資料;以及一可變設(shè)定部,將該光電轉(zhuǎn)換電路設(shè)定成對應(yīng)所定的該光通訊資料的水平,而產(chǎn)生預(yù)定的該電通訊資料。
本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還可采用以下技術(shù)措施進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)。
前述的資料傳送裝置,其中該光電轉(zhuǎn)換電路,是具有一光檢測部,以所接收的該光通訊資料為基準(zhǔn),產(chǎn)生一電流;一信號產(chǎn)生部,以該光檢測部所產(chǎn)生的該電流為基準(zhǔn),產(chǎn)生該電通訊資料;以及該可變設(shè)定部,是具有一可變電流源,該可變電流源是將該光檢測部所產(chǎn)生的電流大小所示的電流值減低至預(yù)定的電流值,以設(shè)定該光電轉(zhuǎn)換電路。
前述的資料傳送裝置,其中該光電轉(zhuǎn)換電路,是具有一光檢測部,以所接收的該光通訊資料為基準(zhǔn),產(chǎn)生一電流;一比較儀,將該光檢測部所產(chǎn)生的電流大小所示的電流值與一參考電流進(jìn)行比較,產(chǎn)生該電通訊資料;以及該可變設(shè)定部,是具有一可變電流源,該可變電流源是利用在該參考電流的值中施加預(yù)定的電流值,以設(shè)定該光電轉(zhuǎn)換電路。
前述的資料傳送裝置,其更包括復(fù)數(shù)個(gè)該發(fā)送部;復(fù)數(shù)個(gè)光導(dǎo)波路,分別傳輸該些發(fā)送部所送出的復(fù)數(shù)個(gè)該光通訊資料;以及復(fù)數(shù)個(gè)該光電轉(zhuǎn)換電路,分別對應(yīng)該些發(fā)送部,其中,該些光電轉(zhuǎn)換電路的各個(gè)該可變設(shè)定部是對應(yīng)所定光通訊資料的水平,產(chǎn)生預(yù)定的電通訊資料,以設(shè)定相互對應(yīng)的該些光電轉(zhuǎn)換電路。
前述的資料傳送裝置,其中所述的可變設(shè)定部是位于相互對應(yīng)的該發(fā)送部與該光電轉(zhuǎn)換電路之間,并以該光通訊資料與該電通訊資料的傳輸延遲時(shí)間為基準(zhǔn),設(shè)定該光電轉(zhuǎn)換電路。
前述的資料傳送裝置,其中所述的可變設(shè)定部是更進(jìn)一步以對應(yīng)于光導(dǎo)波路的該光通訊資料的衰減量為基準(zhǔn),設(shè)定該光電轉(zhuǎn)換電路。
前述的資料傳送裝置,其中所述的可變設(shè)定部是更進(jìn)一步以對應(yīng)該發(fā)送部的該電通訊資料的電光轉(zhuǎn)換效率為基準(zhǔn),設(shè)定該光電轉(zhuǎn)換電路。
前述的資料傳送裝置,其中所述的可變設(shè)定部是更進(jìn)一步以對應(yīng)于該光電轉(zhuǎn)換電路中的該光通訊資料的光電轉(zhuǎn)換效率基準(zhǔn),設(shè)定該光電轉(zhuǎn)換電路。
前述的資料傳送裝置,其中所述的光通訊資料為數(shù)字資料時(shí),該可變電流源將該光檢測部所生成的電流值減低至在該光通訊資料為H邏輯的情形下的該光檢測部所產(chǎn)生的電流的一半左右的電流值。
前述的資料傳送裝置,其中所述的光通訊資料為數(shù)字資料時(shí),該可變電流源將該光檢測部所生成的電流值的大小減低至由該光通訊資料為H邏輯的情形下的該光檢測部所產(chǎn)生的電流與該光通訊資料為L邏輯的情形下的該光檢測部所產(chǎn)生的電流等所大致平均的電流值。
前述的資料傳送裝置,其中所述的光通訊資料為數(shù)字資料時(shí),該可變電流源將在該光通訊資料為H邏輯的情形下的該光檢測部所產(chǎn)生的電流的一半左右的電流值施加于該參考電流的值內(nèi)。
前述的資料傳送裝置,其中所述的光通訊資料為數(shù)字資料時(shí),該可變電流源將由該光通訊資料為H邏輯的情形下的該光檢測部所產(chǎn)生的電流與該光通訊資料為L邏輯的情形下的該光檢測部所產(chǎn)生的電流等所大致平均的電流值施加于該參考電流的值內(nèi)。
前述的資料傳送裝置,其中所述的發(fā)送部更包括一激光二極管,以該電通訊資料為基準(zhǔn),產(chǎn)生該光通訊資料;以及一電流源,提供比該激光二極管的激光振蕩起始電流還大的一偏壓電流給該激光二極管。
本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還采用以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)。依據(jù)本發(fā)明提出的一種測試裝置,以測試一電子裝置,其包括一圖案產(chǎn)生部,產(chǎn)生用以測試該電子裝置的一測試信號;一波形整形部,對該測試信號進(jìn)行整形;一測試頭,與該電子裝置相接觸;一資料傳送裝置,是進(jìn)行該波形整形部與該測試頭間資料的傳送;以及一判斷部,以該電子裝置基于該測試信號而輸出的一輸出信號為基準(zhǔn),判斷該電子裝置是否良善,其中,該資料傳送裝置,其更包括一發(fā)送部,將該測試信號轉(zhuǎn)換成一光通訊資料并送出,一光電轉(zhuǎn)換電路,接收該光通訊資料,并將所接收的該光通訊資料轉(zhuǎn)換成該測試信號,一可變設(shè)定部,對應(yīng)所定的光通訊資料水平,產(chǎn)生預(yù)定的測試信號,設(shè)定該光電轉(zhuǎn)換電路。
本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還采用以下的技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)。依據(jù)本發(fā)明提出的一種光電轉(zhuǎn)換電路,用以接收一光并將所接收的該光轉(zhuǎn)換成一電,該電路包括一光學(xué)二極管,以所接收的該光為基準(zhǔn),產(chǎn)生電流;以及一可變電流源,用以發(fā)生可對該光學(xué)二極管所產(chǎn)生的電流進(jìn)行偏移的電流。
本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比具有明顯的優(yōu)點(diǎn)和有益效果。由以上技術(shù)方案可知,為了達(dá)到前述發(fā)明目的,本發(fā)明的主要技術(shù)內(nèi)容如下本發(fā)明的第一型態(tài)是為一種利用光傳送進(jìn)行資料通訊的資料傳送裝置,此裝置包括發(fā)送部、光電轉(zhuǎn)換電路、可變設(shè)定部。發(fā)送部是將所傳送的電通訊資料轉(zhuǎn)換成光通訊資料并送出。光電轉(zhuǎn)換電路是接收光通訊資料且將所接收的光通訊資料轉(zhuǎn)換成電通訊資料??勺冊O(shè)定部是將光電轉(zhuǎn)換電路設(shè)定成對應(yīng)所定的光通訊資料的水平,而產(chǎn)生預(yù)定的電通訊資料。
光電轉(zhuǎn)換電路具有光檢測部、信號產(chǎn)生部。光檢測部是以所接收的光通訊資料為基準(zhǔn),產(chǎn)生電流。信號產(chǎn)生部是以光檢測部所產(chǎn)生的電流為基準(zhǔn),產(chǎn)生電通訊資料。可變設(shè)定部是具有可變電流源,此可變電流源是將光檢測部所產(chǎn)生的電流大小所示的電流值,減低至預(yù)定的電流值,以設(shè)定光電轉(zhuǎn)換電路。
光電轉(zhuǎn)換電路是具有光檢測部及比較儀。光檢測部是以所接收的光通訊資料為基準(zhǔn),產(chǎn)生電流。比較儀是將光檢測部所產(chǎn)生的電流大小所示的電流值與參考電流進(jìn)行比較,產(chǎn)生電通訊資料。可變設(shè)定部是具有可變電流源,此可變電流源是利用在參考電流的值中施加預(yù)定的電流值,以設(shè)定光電轉(zhuǎn)換電路。
資料傳送裝置更包括有多個(gè)發(fā)送部、多個(gè)光導(dǎo)波路、多個(gè)光電轉(zhuǎn)換電路。多個(gè)光導(dǎo)波路分別傳輸發(fā)送部所送出的多個(gè)光通訊資料。多個(gè)光電轉(zhuǎn)換電路分別對應(yīng)發(fā)送部。光電轉(zhuǎn)換電路的各個(gè)可變設(shè)定部是對應(yīng)所定光通訊資料的水平,產(chǎn)生預(yù)定的電通訊資料,以設(shè)定相互對應(yīng)的光電轉(zhuǎn)換電路。
再者,可變設(shè)定部是位于相互對應(yīng)的發(fā)送部與光電轉(zhuǎn)換電路之間,并以光通訊資料與電通訊資料的傳輸延遲時(shí)間為基準(zhǔn),設(shè)定光電轉(zhuǎn)換電路。再者,可變設(shè)定部是更進(jìn)一步以對應(yīng)于光導(dǎo)波路的光通訊資料的衰減量為基準(zhǔn),設(shè)定光電轉(zhuǎn)換電路。再者,可變設(shè)定部是更進(jìn)一步以對應(yīng)發(fā)送部的電通訊資料的電光轉(zhuǎn)換效率為基準(zhǔn),設(shè)定光電轉(zhuǎn)換電路。甚至,可變設(shè)定部可更進(jìn)一步以對應(yīng)于光電轉(zhuǎn)換電路中的光通訊資料的光電轉(zhuǎn)換效率基準(zhǔn),設(shè)定光電轉(zhuǎn)換電路。
再者,當(dāng)光通訊資料為數(shù)字資料時(shí),可變電流源將光檢測部所生成的電流值減低至在光通訊資料為H邏輯的情形下的光檢測部所產(chǎn)生的電流的一半左右的電流值。再者,當(dāng)光通訊資料為數(shù)字資料時(shí),可變電流源將光檢測部所生成的電流值的大小減低至由光通訊資料為H邏輯的情形下的光檢測部所產(chǎn)生的電流與光通訊資料為L邏輯的情形下的光檢測部所產(chǎn)生的電流等所大致平均的電流值。
再者,當(dāng)光通訊資料為數(shù)字資料時(shí),可變電流源將在光通訊資料為H邏輯的情形下的光檢測部所產(chǎn)生的電流的一半左右的電流值施加于參考電流的值內(nèi)。再者,當(dāng)光通訊資料為數(shù)字資料時(shí),可變電流源將由光通訊資料為H邏輯的情形下的光檢測部所產(chǎn)生的電流與光通訊資料為L邏輯的情形下的光檢測部所產(chǎn)生的電流等所大致平均的電流值施加于參考電流的值內(nèi)。
再者,發(fā)送部更包括激光二極管、電流源。激光二極管是以電通訊資料為基準(zhǔn),產(chǎn)生光通訊資料。電流源是提供比激光二極管的激光振蕩起始電流還大的偏壓電流給激光二極管。
本發(fā)明的第二型態(tài)是為一種用以測試電子裝置的測試裝置,此裝置包括圖案產(chǎn)生部、波形整形部、測試頭、資料傳送裝置、判斷部。圖案產(chǎn)生部是產(chǎn)生用以測試電子裝置的測試信號。波形整形部是對測試信號進(jìn)行整形。測試頭是與電子裝置相接觸。資料傳送裝置是進(jìn)行波形整形部與測試頭間資料的傳送。判斷部是以電子裝置基于測試信號而輸出的輸出信號為基準(zhǔn),判斷電子裝置是否良善。資料傳送裝置更包括發(fā)送部、光電轉(zhuǎn)換電路、可變設(shè)定部。發(fā)送部是將測試信號轉(zhuǎn)換成光通訊資料并送出。光電轉(zhuǎn)換電路接收光通訊資料,并將所接收的光通訊資料轉(zhuǎn)換成測試信號。可變設(shè)定部是對應(yīng)所定的光通訊資料水平,產(chǎn)生預(yù)定的測試信號,設(shè)定光電轉(zhuǎn)換電路。
本發(fā)明的第三型態(tài)是為一種用以接收光并將所接收的光轉(zhuǎn)換成電的光電轉(zhuǎn)換電路,此電路包括光學(xué)二極管、可變電流源。光學(xué)二極管是以所接收的光為基準(zhǔn),產(chǎn)生電流??勺冸娏髟词怯靡园l(fā)生可對光學(xué)二極管所產(chǎn)生的電流進(jìn)行偏移的電流。
另外,上述發(fā)明的概述僅是列舉本發(fā)明的全部必要特征,含有前述特征群的次要組合也屬于本發(fā)明的技術(shù)方案。
經(jīng)由上述可知,本發(fā)明是關(guān)于一種資料傳送裝置、光電轉(zhuǎn)換電路以及測試裝置。該資料傳送裝置,是利用光傳送進(jìn)行資料通訊,此裝置包括發(fā)送部及光電轉(zhuǎn)換電路。發(fā)送部是將所傳送的電通訊資料轉(zhuǎn)換成光通訊資料并送出。光電轉(zhuǎn)換電路是接收光通訊資料且將所接收的光通訊資料轉(zhuǎn)換成電通訊資料。光電轉(zhuǎn)換電路是具有光學(xué)二極管與可變電流源。光學(xué)二極管是以光通訊資料為基準(zhǔn)產(chǎn)生電流。可變電流源是將光學(xué)二極管所產(chǎn)生的電流減低至預(yù)定的電流。再者,各個(gè)發(fā)送部的激光二極管的偏壓電流是設(shè)定成比激光振蕩起始電流還大的電流,以減低各激光二極管的發(fā)光延遲時(shí)間的偏差。
借由上述技術(shù)方案,本發(fā)明至少具有下列優(yōu)點(diǎn)本發(fā)明的資料傳送裝置可進(jìn)行降低信道間的傳送斜交的資料通訊。再者,測試裝置中可進(jìn)行更精確的且更有效率的電子裝置的測試。
綜上所述,本發(fā)明特殊結(jié)構(gòu)的資料傳送裝置、光電轉(zhuǎn)換電路以及測試裝置,其具有上述諸多的優(yōu)點(diǎn)及實(shí)用價(jià)值,并在同類產(chǎn)品中未見有類似的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)公開發(fā)表或使用而確屬創(chuàng)新,其不論在產(chǎn)品、裝置或功能上皆有較大的改進(jìn),在技術(shù)上有較大的進(jìn)步,并產(chǎn)生了好用及實(shí)用的效果,且較現(xiàn)有的資料傳送裝置、光電轉(zhuǎn)換電路以及測試裝置具有增進(jìn)的多項(xiàng)功效,從而更加適于實(shí)用,而具有產(chǎn)業(yè)的廣泛利用價(jià)值,誠為一新穎、進(jìn)步、實(shí)用的新設(shè)計(jì)。
上述說明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述,為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技術(shù)手段,并可依照說明書的內(nèi)容予以實(shí)施,以下以本發(fā)明的較佳實(shí)施例并配合附圖詳細(xì)說明如后。
圖1是本發(fā)明的測試裝置100的結(jié)構(gòu)的一實(shí)施例的示意圖。
圖2A至圖2B是資料傳送裝置60的結(jié)構(gòu)的一實(shí)施例的示意圖,其中圖2A是資料傳送裝置60結(jié)構(gòu)的概略示意圖;圖2B是發(fā)送部62及接收部68結(jié)構(gòu)的一實(shí)施例的示意圖。
圖3A至圖3B是發(fā)送部62及接收部68結(jié)構(gòu)的一實(shí)施例的詳細(xì)結(jié)構(gòu)示意圖,其中圖3A是發(fā)送部62結(jié)構(gòu)的一實(shí)施例的示意圖;圖3B是接收部68結(jié)構(gòu)的一實(shí)施例的示意圖。
圖4A至圖4C是接收部68結(jié)構(gòu)的其它實(shí)施例的示意圖,其中圖4A是將可變電流源76電性連接于第一晶體管102的集極端子的一實(shí)施例的示意圖;圖4B是接收部68的其它實(shí)施例的示意圖;圖4C是接收部68的其它
10圖案發(fā)生部 20波形整形部30電子裝置40測試頭50判斷部 60資料(數(shù)據(jù))傳送裝置62發(fā)送部 64轉(zhuǎn)換部66激光二極管 68接收部70光學(xué)二極管 72轉(zhuǎn)換部74光纖76可變電流源78a線路 78b線路80光檢測部82a線路
82b線路 84電流源94第一阻抗96第二阻抗98電壓源 100測試裝置102第一晶體管 104第二晶體管106第一電流源 108第二電流源110比較儀 120光電轉(zhuǎn)換電路具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖及較佳實(shí)施例,對依據(jù)本發(fā)明提出的資料傳送裝置、光電轉(zhuǎn)換電路以及測試裝置其具體結(jié)構(gòu)、特征及其功效,詳細(xì)說明如后。
雖然本發(fā)明是以發(fā)明的較佳實(shí)施例進(jìn)行說明,然而下述的較佳實(shí)施例并非用以限定本發(fā)明申請專利范圍,又本發(fā)明的必要解決手段并不限于此較佳實(shí)施例中所說明的特征組合的全部。
請參閱圖1所示,本發(fā)明的測試裝置100的結(jié)構(gòu)一實(shí)施例的示意圖。該測試裝置100是用以進(jìn)行電子裝置30的測試。測試裝置100是具備有圖案發(fā)生部10、波形整形部20、資料傳送裝置60、測試頭(test head)40、以及判斷部50。
該圖案發(fā)生部10,是生成用以對電子裝置30進(jìn)行測試的測試信號,并將此測試信號提供給波形整形部20。再者,圖案發(fā)生部10在當(dāng)電子裝置30接收測驗(yàn)信號的情形下輸出時(shí),則會(huì)生成適當(dāng)?shù)钠诖敌盘?,并將此期待值信號提供給判斷部50。
該波形整形部20,是對所接收的測試信號進(jìn)行整形,再將整形后的測試信號提供給資料傳送裝置60。波形整形部20也可以提供例如是對應(yīng)測試圖案的所期望的時(shí)序(timing)給資料傳送裝置。
該資料傳送裝置60,是將所接收的測試信號提供給測試頭40。資料傳送裝置60例如是可將電通訊資料轉(zhuǎn)換光通訊資料并傳送的裝置。在本較佳實(shí)施例中,資料傳送裝置60是為將具有電通訊的一實(shí)施例的測試信號轉(zhuǎn)換成光通訊資料并傳送,再將所傳送的光通訊資料復(fù)元回測試信號的光傳送裝置。藉由光傳送而將測試信號傳送到測試頭40的方式,在圖案發(fā)生部及波形整形部20與測試頭40分離的情形下,也可以高速傳送資料。
該測試頭40,與電子裝置30相接觸,且進(jìn)行與電子裝置30的信號的接收傳送。例如,測試頭40將所接收的測試信號提供給電子裝置30,再接收電子裝置30所輸出的輸出信號。測試頭40將所接收的輸出信號提供給判斷部50。再者,測試頭40也可以與多個(gè)電子裝置30相接觸,進(jìn)行信號的接收傳送。
該判斷部50,是以電子裝置30基于測試信號所輸出的輸出信號為基準(zhǔn),判斷電子裝置30是否良善。判斷部50也可以對圖案發(fā)生部10所產(chǎn)生的期待值信號與電子裝置30所輸出的輸出信號進(jìn)行比較,以判斷電子裝置30是否良善。
請參閱圖2A至圖2B所示,是資料傳送裝置60的結(jié)構(gòu)的一實(shí)施例的示意圖。圖2A是資料傳送裝置60的結(jié)構(gòu)的概略示意圖。該資料傳送裝置60是具有多個(gè)發(fā)送部62及多個(gè)接收部68。
該發(fā)送部62,是用以將待發(fā)送的電通訊資料轉(zhuǎn)換成光通訊資料并送出。在本較佳實(shí)施例中,該發(fā)送部62是接收來自波形整形部20的測試信號,再將測試信號轉(zhuǎn)換成光通訊信號并送出。
該接收部68,是接收發(fā)送部62所送出的光通訊資料,再將所接收的光通訊資料轉(zhuǎn)換成電通訊資料。在本較佳實(shí)施例中,該接收部68是將所接收的光通訊資料轉(zhuǎn)換成測試信號,并提供給測試頭40。
再者,該資料傳送裝置60更具有位于發(fā)送部62與接收部68間且為光導(dǎo)波路的一實(shí)施例的光纖。發(fā)送部62是經(jīng)由前述光纖而將光通訊資料傳送至接收部68。再者,資料傳送裝置60更具有可接收作為來自波形整形部20的測試信號的序列資料(serial data)且將測試信號轉(zhuǎn)換成平行資料(parallel data)的序列-并行轉(zhuǎn)換部以及可將多個(gè)接收部68所輸出的測試信號轉(zhuǎn)換回序列信號的平行-序列轉(zhuǎn)換部。
請參閱圖2B所示,是發(fā)送部62及接收部68的結(jié)構(gòu)的一實(shí)施例的示意圖。發(fā)送部62是具有轉(zhuǎn)換部64及激光二極管(laser diode)66。轉(zhuǎn)換部64是用以對測試信號進(jìn)行變調(diào)。激光二極管66是以電通訊資料為基準(zhǔn)產(chǎn)生光通訊資料,并送出至光纖74。在本較佳實(shí)施例中,激光二極管66是將變調(diào)后的測試信號轉(zhuǎn)換成光通訊資料,再輸出至光纖74。再者,激光二極管66是被給予比激光二極管66的激光振蕩起始電流值還大的偏壓電流。在激光二極管66中,依據(jù)所給予的大于激光振蕩起始電流值的偏壓電流,激光二極管66中的發(fā)光延遲時(shí)間會(huì)變得最短,如此可以減少在多個(gè)發(fā)送部62的各個(gè)激光二極管66中的發(fā)光延遲時(shí)間的偏差。當(dāng)此偏壓電流小于激光振蕩起始電流值之際,此發(fā)光延遲時(shí)間是依存于測試信號的圖案,然而由于在本較佳實(shí)施例中的發(fā)送部62與測試信號的圖案無關(guān),因而激光二極管66是具有一定的發(fā)光延遲時(shí)間。再者,激光二極管66中,由于所給予的偏壓電流比激光振蕩起始電流值還大,因此激光二極管66產(chǎn)生光通訊資料波形的升降,而減少緩和振動(dòng)。
該接收部68,是用以將發(fā)送部62所發(fā)送出的光通訊資料轉(zhuǎn)換成測試信號。接收部68是具有光檢測部及轉(zhuǎn)換部72。在本較佳實(shí)施例中,此光檢測部是具有光學(xué)二極管(photo diode)70。光學(xué)二極管70是以所接收的光通訊資料為基準(zhǔn)產(chǎn)生電流。光學(xué)二極管70被給予偏壓電壓。轉(zhuǎn)換部72是用以將光學(xué)二極管70所產(chǎn)生的電流轉(zhuǎn)換成測試信號。
請參閱圖3A至圖3B所示,是發(fā)送部62及接收部68的結(jié)構(gòu)的一實(shí)施例的詳細(xì)示意圖。圖3A是發(fā)送部62的結(jié)構(gòu)的一實(shí)施例的示意圖。發(fā)送部62是具有轉(zhuǎn)換部64、激光二極管66及電流源84。在本較佳實(shí)施例中,轉(zhuǎn)換部64是接收來自波形整形部20的測試信號,并將所接收的測試信號強(qiáng)度進(jìn)行變調(diào),再提供給激光二極管66。
激光二極管66是以所接收的測試信號為基準(zhǔn)產(chǎn)生光通訊資料,再送出至光纖74。在上述結(jié)構(gòu)中,電流源84是提供比激光二極管66的激光振蕩起始電流還大的偏壓電流給激光二極管66。再者,激光二極管66的陰極經(jīng)由線路82b而與電流源84電性連接。再者,激光二極管66的陽極經(jīng)由線路82a而與轉(zhuǎn)換部64電性連接。線路82a及線路82b的阻抗較佳是略等于激光二極管66的順偏壓阻抗。線路82a、82b例如是微波帶狀線(microstripline)。該線路82a及線路82b的阻抗藉由與激光二極管的等值阻抗略微相等,以減低線路82a、82b與激光二極管66的連接點(diǎn)的信號反射,并降低信號波形的劣化。
請參閱圖3B所示,是接收部68的結(jié)構(gòu)的一實(shí)施例的示意圖。該接收部68是具有光電轉(zhuǎn)換電路120與可變設(shè)定部。該光電轉(zhuǎn)換電路120是具有光檢測部80及轉(zhuǎn)換部72。光檢測部80是具有上述光學(xué)二極管70,以將光通訊資料轉(zhuǎn)換成電流。在本較佳實(shí)施例中,光檢測部80是以光通訊資料為基準(zhǔn)產(chǎn)生電流,再將所產(chǎn)生的電流提供給轉(zhuǎn)換部72。轉(zhuǎn)換部72也可以為將光檢測部80所生成的電流轉(zhuǎn)換成電壓的電流電壓變換器。轉(zhuǎn)換部72是以光檢測部80所產(chǎn)生的電流為基準(zhǔn),而輸出具有電通訊資料的測試信號??勺冊O(shè)定部是對應(yīng)所定光通訊資料的水平,產(chǎn)生預(yù)定的電通訊資料,進(jìn)而設(shè)定光電轉(zhuǎn)換電路。在本較佳實(shí)施例中,可變設(shè)定部是為可變電流源76。
光檢測部80是具有光學(xué)二極管70及線路78a、78b。光學(xué)二極管70是以光通訊資料為基準(zhǔn)產(chǎn)生電流。當(dāng)在光學(xué)二極管70產(chǎn)生電流的情形下,可減少后述的第一晶體管102的射極電流。可變電流源76是與光學(xué)二極管70的陽極電性連接。藉由設(shè)置可變電流源76,即可增加第一晶體管102的射極電流。換言之,可變電流源76可將光學(xué)二極管70所產(chǎn)生的電流大小依據(jù)所示的電流值,減少至所預(yù)定的電流,并對光學(xué)二極管70的輸出施加偏移。光電轉(zhuǎn)換電路80可以將因可變電流源76而減少的電流提供給轉(zhuǎn)換部72。
轉(zhuǎn)換部72是具有第一阻抗94、第二阻抗96、電壓源98、第一晶體管102、第二晶體管104、第一電流源106、第二電流源108以及比較儀(comparator)110。
請參閱圖3B所示,第一阻抗94是設(shè)置成與光學(xué)二極管70并列,且其一端是與光學(xué)二極管70的陰極電性連接。第一晶體管102是設(shè)置成與第一阻抗94垂直排列,其集極端子是與第一阻抗94的另一端電性連接,且其射極端子是與可變電流源76電性連接。第一電流源106是與第一晶體管102的射極端子電性連接,且設(shè)置成與可變電流源76并列。電流源98是提供所定電位給第一晶體管102的基極端子。比較儀110是比較對應(yīng)光檢測部80所產(chǎn)生的電流大小而變化的電流(亦即,流經(jīng)第一阻抗94的電流)與流經(jīng)第二阻抗96的參考電流,并產(chǎn)生電通訊資料。在本較佳實(shí)施例中,比較儀110是以流經(jīng)第一阻抗94的電流為基準(zhǔn),判斷第一晶體管102的集極電壓是否大于以參考電流為基準(zhǔn)的基準(zhǔn)值。
第二阻抗96是設(shè)置成與第一阻抗94并列,且其一端與接地電位電性連接。第二晶體管104是設(shè)置成與第二阻抗垂直排列,且其集極端子與第二阻抗96的另一端電性連接。第一晶體管102是如同圖3B所示,具有射極輸入基極接地晶體管。藉由設(shè)置第一晶體管102,即可減少轉(zhuǎn)換部72的輸入阻抗。第二電流源108是與第二晶體管104的射極端子電性連接,且設(shè)置成與可變電流源76并列。再者,電壓源98是提供所定電位給第二晶體管104的基極端子,而且比較儀110是接收第二晶體管104的集極電壓以作為前述基準(zhǔn)值。請參閱圖3B所示,前述基準(zhǔn)值是為幾乎一定的值。第一阻抗94的阻抗值與第二阻抗96的阻抗值相比較時(shí),可輕易地進(jìn)行精確度較佳的制造。為此,比較儀110可對流經(jīng)第一阻抗94的信號的H邏輯及L邏輯進(jìn)行較精確的判斷。
再者,在本較佳實(shí)施例中,比較儀110雖然是以接收作為前述基準(zhǔn)值的第二晶體管104的集極電壓為例進(jìn)行說明,然而在其它實(shí)施例中,轉(zhuǎn)換部72更進(jìn)一步包括有用以生成所定電壓的第二電壓源時(shí),比較儀110也可以接收來自第二電壓源的基準(zhǔn)值。
在本較佳實(shí)施例中,第一阻抗94的阻抗略等于第二阻抗96的阻抗。再者,第一晶體管102與第二晶體管104具有大致相同的特性。再者,第一電流源106與第二電流源108產(chǎn)生大致相同的電流。
在本較佳實(shí)施例中,線路78b的阻抗較佳是略等于第一晶體管102的射極輸入阻抗。由于線路78b的阻抗等于第一晶體管102的射極輸入阻抗,因此,可以減少線路78b與第一晶體管102間接觸點(diǎn)的信號反射。線路78例如是微波帶狀線。
接著,對接收部68的動(dòng)作進(jìn)行說明。當(dāng)光學(xué)二極管70接收H邏輯的情形時(shí),光學(xué)二極管70會(huì)產(chǎn)生逆電流,而使流經(jīng)第一阻抗94的電流產(chǎn)生變化。比較儀110以此電流的變化為基準(zhǔn),判斷光學(xué)二極管70是接收H邏輯還是接收L邏輯。
在本較佳實(shí)施例中,由于將大于激光振蕩起始電流的偏壓電流給予發(fā)送部62的激光二極管66,因而時(shí)常會(huì)送出光。為此,光學(xué)二極管70時(shí)常會(huì)檢測到光,而產(chǎn)生電流。為此,當(dāng)傳送作為光通訊資料的L邏輯之際,光學(xué)二極管70所產(chǎn)生的電流不會(huì)為零??勺冸娏髟?6可將光學(xué)二極管70所產(chǎn)生的電流減少至預(yù)定的電流。為此,當(dāng)光學(xué)二極管70產(chǎn)生上述的電流之際,比較儀110可以檢測出H邏輯或L邏輯。
在本較佳實(shí)施例中,可變電流源76可以取光學(xué)二極管70接受H邏輯之際所產(chǎn)生的電流與光學(xué)二極管70接受L邏輯之際所產(chǎn)生的電流中的大略平均值電流作為電流,而減低來自光學(xué)二極管70所產(chǎn)生的電流。再者,可變電流源76也可以僅取在光學(xué)二極管70接受H邏輯之際所產(chǎn)生的電流的大略一半的值作為電流,以減低光學(xué)二極管70所產(chǎn)生的電流。
接收部68也可以包括用以檢測光學(xué)二極管70所產(chǎn)生的電流值的手段以及以檢測而得的電流值為基準(zhǔn)控制可變電流源76所減少的電流量的控制部。例如,各個(gè)發(fā)送部62送出預(yù)定的H邏輯及L邏輯,接收部68在發(fā)送部62送出H邏輯及L邏輯的情形下,較佳的是以光學(xué)二極管70所產(chǎn)生的電流值為基準(zhǔn),預(yù)先對可變電流源76的電流量進(jìn)行校準(zhǔn)。
再者,由于多個(gè)信道的光纖74的各自的衰減量等特性、對應(yīng)多個(gè)信道的各個(gè)的激光二極管66的電光轉(zhuǎn)換效率、及對應(yīng)多個(gè)信道的各個(gè)的光學(xué)二極管70的光電轉(zhuǎn)換效率等是為相異的,因此,當(dāng)對多個(gè)信道傳送同一信號之際,各自的光學(xué)二極管70會(huì)產(chǎn)生相異的電流。可變電流源76也可以將由光學(xué)二極管70所生成的電流減低至調(diào)整此偏差后的電流。
在上述中,本較佳實(shí)施例的資料傳送裝置60是利用對激光二極管施加大于激光振蕩起始電流的偏壓電流,可以減低發(fā)送部62中的資料延遲時(shí)間的偏差。再者,利用在接收部68設(shè)置可變電流源76,可以減低各通道間的斜交。再者,比較儀110可以精確地檢測出H邏輯及L邏輯。為此,在測試裝置100中,可對電子裝置30的測試進(jìn)行更精確且有效率的測試。
再者,如圖1至圖3B所說明的資料傳送裝置60雖然并未說明一般的并列資料傳送的方式,然而使用一般的并列資料傳送方式,只要可以得到與圖1至圖3B所說明的資料傳送裝置60同樣的效果即可。
再者,本較佳實(shí)施例中的可變電流源76雖然是以與光學(xué)二極管70的陽極電性連接為例進(jìn)行說明,然而在其它實(shí)施例中,可變電流源76也可以與其它部位相連接。以下,是以接收部68的結(jié)構(gòu)的其它實(shí)施例進(jìn)行說明。
請參閱圖4A至圖4C所示,是接收部68的結(jié)構(gòu)的其它實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。圖4A至圖4C的可變電流源76是具有與圖3A至圖3B中所說明的可變電流源76同一或相同的功能。請參閱圖4A所示,是可變電流源76與第一晶體管102的集極端子電性連接的一實(shí)施例的示意圖。該可變電流源76是為可對應(yīng)光檢測部80所產(chǎn)生的電流大小而變化的電流,而從流經(jīng)第一阻抗94的電流減低至預(yù)定的電流值。換言之,該可變電流源76可從光檢測部80所產(chǎn)生的電流的大小所示的電流值,減低至預(yù)定的電流值,而施加與光學(xué)二極管70的輸出等價(jià)的偏移。本較佳實(shí)施例的資料傳送裝置60可以得到與圖3A至圖3B所說明的資料傳送裝置60相同的效果。
請參閱圖4B所示,是接收部68的其它實(shí)施例的示意圖。在本實(shí)施例中,該可變電流源76是與第二晶體管104的射極端子電性連接??勺冸娏髟?6藉由在比較儀110的參考電流值中施加預(yù)定的電流值,用以設(shè)定光電轉(zhuǎn)換電路120。換言之,可變電流源76藉由在比較儀110的參考電流中施加預(yù)定的電流值,以施加與光學(xué)二極管70的輸出等價(jià)的偏移。本實(shí)施例的資料傳送裝置60可得到與圖3A至圖3B所說明的資料傳送裝置60相同效果。
請參閱圖4C所示,是接收部68的其它實(shí)施例的示意圖。在本實(shí)施例中,該可變電流源76是與比較儀的反轉(zhuǎn)輸入端子相連接。本實(shí)施例也與圖4B所示的實(shí)施例相同,可變電流源76藉由在比較儀110的參考電流中施加預(yù)定的電流值,以施加與光學(xué)二極管70的輸出等價(jià)的偏移。本實(shí)施例的資料傳送裝置60可得到與圖3A至圖3B所說明的資料傳送裝置60相同效果。
再者,本實(shí)施例的可變設(shè)定部雖然是以可變電流源76為例進(jìn)行說明,然也可以為其它實(shí)施例,只要可變設(shè)定部可以改變第一阻抗94或第二阻抗96的阻抗值即可。換言之,第一阻抗94或第二阻抗96為可變阻抗,藉由可變設(shè)定部改變第一阻抗94或第二阻抗96的阻抗值,以對光學(xué)二極管70的輸出施加偏移。在此情形下,可變設(shè)定部也可以使第一阻抗94及第二阻抗96的阻抗值,對應(yīng)光學(xué)二極管70受到H邏輯而產(chǎn)生的電流值以及光學(xué)二極管70受到L邏輯而產(chǎn)生的電流值等而變化。再者,在其它更進(jìn)一步的實(shí)施例中,可變設(shè)定部也可以為可變電壓源。例如,此可變電壓源也可以垂直排列設(shè)置于第一阻抗94或第二阻抗96與接地電位之間。
從上述說明中所揭露的內(nèi)容中,本發(fā)明的資料傳送裝置可進(jìn)行降低信道間的傳送斜交的資料通訊。再者,測試裝置中可進(jìn)行更精確的且更有效率的電子裝置的測試。
以上所述,僅是本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已,并非對本發(fā)明作任何形式上的限制,雖然本發(fā)明已以較佳實(shí)施例揭露如上,然而并非用以限定本發(fā)明,任何熟悉本專業(yè)的技術(shù)人員,在不脫離本發(fā)明技術(shù)方案范圍內(nèi),當(dāng)可利用上述揭示的結(jié)構(gòu)及技術(shù)內(nèi)容作出些許的更動(dòng)或修飾為等同變化的等效實(shí)施例,但是凡是未脫離本發(fā)明技術(shù)方案的內(nèi)容,依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實(shí)質(zhì)對以上實(shí)施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾,均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種資料傳送裝置,是利用光傳送進(jìn)行資料通訊,其特征在于該裝置包括一發(fā)送部,是將所傳送的一電通訊資料轉(zhuǎn)換成一光通訊資料并送出;一光電轉(zhuǎn)換電路,是接收該光通訊資料且將所接收的該光通訊資料轉(zhuǎn)換成該電通訊資料;以及一可變設(shè)定部,將該光電轉(zhuǎn)換電路設(shè)定成對應(yīng)所定的該光通訊資料的水平,而產(chǎn)生預(yù)定的該電通訊資料。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的資料傳送裝置,其特征在于該光電轉(zhuǎn)換電路,是具有一光檢測部,以所接收的該光通訊資料為基準(zhǔn),產(chǎn)生一電流;一信號產(chǎn)生部,以該光檢測部所產(chǎn)生的該電流為基準(zhǔn),產(chǎn)生該電通訊資料;以及該可變設(shè)定部,是具有一可變電流源,該可變電流源是將該光檢測部所產(chǎn)生的電流大小所示的電流值減低至預(yù)定的電流值,以設(shè)定該光電轉(zhuǎn)換電路。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的資料傳送裝置,其特征在于該光電轉(zhuǎn)換電路,是具有一光檢測部,以所接收的該光通訊資料為基準(zhǔn),產(chǎn)生一電流;一比較儀,將該光檢測部所產(chǎn)生的電流大小所示的電流值與一參考電流進(jìn)行比較,產(chǎn)生該電通訊資料;以及該可變設(shè)定部,是具有一可變電流源,該可變電流源是利用在該參考電流的值中施加預(yù)定的電流值,以設(shè)定該光電轉(zhuǎn)換電路。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的資料傳送裝置,其特征在于其更包括復(fù)數(shù)個(gè)該發(fā)送部;復(fù)數(shù)個(gè)光導(dǎo)波路,分別傳輸該些發(fā)送部所送出的復(fù)數(shù)個(gè)該光通訊資料;以及復(fù)數(shù)個(gè)該光電轉(zhuǎn)換電路,分別對應(yīng)該些發(fā)送部,其中,該些光電轉(zhuǎn)換電路的各個(gè)該可變設(shè)定部是對應(yīng)所定光通訊資料的水平,產(chǎn)生預(yù)定的電通訊資料,以設(shè)定相互對應(yīng)的該些光電轉(zhuǎn)換電路。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的資料傳送裝置,其特征在于其中所述的可變設(shè)定部是位于相互對應(yīng)的該發(fā)送部與該光電轉(zhuǎn)換電路之間,并以該光通訊資料與該電通訊資料的傳輸延遲時(shí)間為基準(zhǔn),設(shè)定該光電轉(zhuǎn)換電路。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的資料傳送裝置,其特征在于其中所述的可變設(shè)定部是更進(jìn)一步以對應(yīng)于光導(dǎo)波路的該光通訊資料的衰減量為基準(zhǔn),設(shè)定該光電轉(zhuǎn)換電路。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的資料傳送裝置,其特征在于其中所述的可變設(shè)定部是更進(jìn)一步以對應(yīng)該發(fā)送部的該電通訊資料的電光轉(zhuǎn)換效率為基準(zhǔn),設(shè)定該光電轉(zhuǎn)換電路。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的資料傳送裝置,其特征在于其中所述的可變設(shè)定部是更進(jìn)一步以對應(yīng)于該光電轉(zhuǎn)換電路中的該光通訊資料的光電轉(zhuǎn)換效率基準(zhǔn),設(shè)定該光電轉(zhuǎn)換電路。
9.根據(jù)權(quán)利要求2所述的資料傳送裝置,其特征在于其中所述的光通訊資料為數(shù)字資料時(shí),該可變電流源將該光檢測部所生成的電流值減低至在該光通訊資料為H邏輯的情形下的該光檢測部所產(chǎn)生的電流的一半左右的電流值。
10.根據(jù)權(quán)利要求2所述的資料傳送裝置,其特征在于其中所述的光通訊資料為數(shù)字資料時(shí),該可變電流源將該光檢測部所生成的電流值的大小減低至由該光通訊資料為H邏輯的情形下的該光檢測部所產(chǎn)生的電流與該光通訊資料為L邏輯的情形下的該光檢測部所產(chǎn)生的電流等所大致平均的電流值。11、根據(jù)權(quán)利要求3所述的資料傳送裝置,其特征在于其中所述的光通訊資料為數(shù)字資料時(shí),該可變電流源將在該光通訊資料為H邏輯的情形下的該光檢測部所產(chǎn)生的電流的一半左右的電流值施加于該參考電流的值內(nèi)。
12.根據(jù)權(quán)利要求3所述的資料傳送裝置,其特征在于其中所述的光通訊資料為數(shù)字資料時(shí),該可變電流源將由該光通訊資料為H邏輯的情形下的該光檢測部所產(chǎn)生的電流與該光通訊資料為L邏輯的情形下的該光檢測部所產(chǎn)生的電流等所大致平均的電流值施加于該參考電流的值內(nèi)。
13.根據(jù)權(quán)利要求1至10中任一權(quán)利要求所述的資料傳送裝置,其特征在于其中所述的發(fā)送部更包括一激光二極管,以該電通訊資料為基準(zhǔn),產(chǎn)生該光通訊資料;以及一電流源,提供比該激光二極管的激光振蕩起始電流還大的一偏壓電流給該激光二極管。
14.一種測試裝置,以測試一電子裝置,其特征在于其包括一圖案產(chǎn)生部,產(chǎn)生用以測試該電子裝置的一測試信號;一波形整形部,對該測試信號進(jìn)行整形;一測試頭,與該電子裝置相接觸;一資料傳送裝置,是進(jìn)行該波形整形部與該測試頭間資料的傳送;以及一判斷部,以該電子裝置基于該測試信號而輸出的一輸出信號為基準(zhǔn),判斷該電子裝置是否良善,其中,該資料傳送裝置,其更包括一發(fā)送部,將該測試信號轉(zhuǎn)換成一光通訊資料并送出,一光電轉(zhuǎn)換電路,接收該光通訊資料,并將所接收的該光通訊資料轉(zhuǎn)換成該測試信號,一可變設(shè)定部,對應(yīng)所定的光通訊資料水平,產(chǎn)生預(yù)定的測試信號,設(shè)定該光電轉(zhuǎn)換電路。
15.一種光電轉(zhuǎn)換電路,用以接收一光并將所接收的該光轉(zhuǎn)換成一電,其特征在于該電路包括一光學(xué)二極管,以所接收的該光為基準(zhǔn),產(chǎn)生電流;以及一可變電流源,用以發(fā)生可對該光學(xué)二極管所產(chǎn)生的電流進(jìn)行偏移的電流。
全文摘要
本發(fā)明是關(guān)于一種資料傳送裝置、光電轉(zhuǎn)換電路以及測試裝置。該資料傳送裝置,是利用光傳送進(jìn)行資料通訊,此裝置包括發(fā)送部及光電轉(zhuǎn)換電路。發(fā)送部是將所傳送的電通訊資料轉(zhuǎn)換成光通訊資料并送出。光電轉(zhuǎn)換電路是接收光通訊資料且將所接收的光通訊資料轉(zhuǎn)換成電通訊資料。光電轉(zhuǎn)換電路是具有光學(xué)二極管與可變電流源。光學(xué)二極管是以光通訊資料為基準(zhǔn)產(chǎn)生電流。可變電流源是將光學(xué)二極管所產(chǎn)生的電流減低至預(yù)定的電流。再者,各個(gè)發(fā)送部的激光二極管的偏壓電流是設(shè)定成比激光振蕩起始電流還大的電流,可以減低各激光二極管的發(fā)光延遲時(shí)間的偏差。
文檔編號H04B10/06GK1565094SQ0281980
公開日2005年1月12日 申請日期2002年10月2日 優(yōu)先權(quán)日2001年10月9日
發(fā)明者小野淳, 岡安俊幸 申請人:株式會(huì)社愛德萬測試