本申請涉及信號處理，尤其涉及adc采樣方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、在現(xiàn)代電子設(shè)備中，模擬信號的采樣和數(shù)字化處理是至關(guān)重要的環(huán)節(jié)。模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器(adc)是實現(xiàn)這一轉(zhuǎn)換的核心部件。adc采樣廣泛應(yīng)用于音頻處理、通信系統(tǒng)、傳感器信號處理等領(lǐng)域。為了獲得高精度的數(shù)字信號，采樣過程中需要確保采樣點能夠真實反映被測信號的實際電壓值。

2、但在采樣過程中，會存在信號異常情況，但在采樣時無法識別信號異常且無對應(yīng)的處理方式從而導致采樣結(jié)果存在偏差。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本申請的主要目的在于提供一種adc采樣方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)，旨在解決adc采樣精度較低，導致數(shù)據(jù)不夠準確的技術(shù)問題。

2、為實現(xiàn)上述目的，本申請?zhí)岢鲆环Nadc采樣方法，所述adc采樣方法包括：

3、在采樣周期內(nèi)進行adc采樣時，獲取采樣電壓數(shù)據(jù)；

4、根據(jù)所述采樣電壓數(shù)據(jù)確定采樣點之間的斜率變化數(shù)據(jù)；

5、根據(jù)所述斜率變化數(shù)據(jù)對采樣數(shù)據(jù)進行篩選，得到目標采樣數(shù)據(jù)。

6、在一實施例中，所述根據(jù)所述采樣電壓數(shù)據(jù)確定采樣點之間的斜率變化數(shù)據(jù)的步驟包括：

7、根據(jù)所述采樣電壓數(shù)據(jù)得到當前采樣電壓和歷史采樣電壓；

8、獲取當前采樣時間和歷史采樣時間；

9、根據(jù)所述當前采樣電壓、所述歷史采樣電壓、所述當前采樣時間以及所述歷史采樣時間計算采樣點之間的斜率變化數(shù)據(jù)。

10、在一實施例中，所述根據(jù)所述當前采樣電壓、所述歷史采樣電壓、所述當前采樣時間以及所述歷史采樣時間計算采樣點之間的斜率變化數(shù)據(jù)的步驟包括：

11、根據(jù)所述當前采樣電壓和所述歷史采樣電壓計算電壓差值；

12、根據(jù)所述當前采樣時間和所述歷史采樣時間計算時間間隔；

13、根據(jù)所述時間間隔和所述電壓差值計算采樣點之間的斜率值；

14、根據(jù)所述斜率值得到斜率變化數(shù)據(jù)。

15、在一實施例中，所述根據(jù)所述斜率變化數(shù)據(jù)對采樣數(shù)據(jù)進行篩選，得到目標采樣數(shù)據(jù)包括：

16、根據(jù)所述斜率變化數(shù)據(jù)得到當前斜率值和歷史斜率值；

17、根據(jù)所述當前斜率值和所述歷史斜率值計算斜率變化差值；

18、根據(jù)所述斜率變化差值對所述采樣數(shù)據(jù)進行篩選，得到目標采樣數(shù)據(jù)。

19、在一實施例中，所述根據(jù)所述斜率變化差值對所述采樣數(shù)據(jù)進行篩選，得到目標采樣數(shù)據(jù)包括：

20、將所述斜率變化差值與預(yù)設(shè)斜率變化閾值進行比較；

21、在所述斜率變化差值大于所述預(yù)設(shè)斜率變化閾值時，確定當前采樣點存在過沖，將當前采樣時間和所述當前采樣點從采樣數(shù)據(jù)中剔除；

22、通過預(yù)設(shè)規(guī)則增加所述采樣周期，得到增加采樣周期，并返回所述在采樣周期內(nèi)進行adc采樣時，獲取采樣電壓數(shù)據(jù)的步驟，直至所述增加采樣周期完成，得到目標采樣數(shù)據(jù)。

23、在一實施例中，所述將所述斜率變化差值與預(yù)設(shè)斜率變化閾值進行比較的步驟之后，還包括：

24、在所述斜率變化差值小于等于所述預(yù)設(shè)斜率變化閾值時，確定當前采樣點不存在過沖，將當前采樣時間和所述當前采樣點添加至采樣數(shù)據(jù)；

25、通過所述當前采樣點更新歷史采樣值和歷史斜率值，并通過預(yù)設(shè)規(guī)則減少所述采樣周期，得到減少采樣周期；

26、修改穩(wěn)定采樣點計數(shù)器的值，并返回所述在采樣周期內(nèi)進行adc采樣時，獲取采樣電壓數(shù)據(jù)的步驟，直至所述減少采樣周期完成或所述穩(wěn)定采樣點計數(shù)器的值達到預(yù)設(shè)值，得到目標采樣數(shù)據(jù)。

27、在一實施例中，所述根據(jù)所述斜率變化數(shù)據(jù)對采樣數(shù)據(jù)進行篩選，得到目標采樣數(shù)據(jù)的步驟之后，還包括：

28、根據(jù)所述目標采樣數(shù)據(jù)得到目標采樣點集合；

29、通過預(yù)設(shè)擬合策略對所述目標采樣點集合進行擬合，得到擬合誤差；

30、在所述擬合誤差位于預(yù)設(shè)范圍內(nèi)時，輸出擬合曲線、目標采樣點以及過沖采樣點。

31、此外，為實現(xiàn)上述目的，本申請還提出一種adc采樣裝置，所述adc采樣裝置包括：

32、獲取模塊，用于在采樣周期內(nèi)進行adc采樣時，獲取采樣電壓數(shù)據(jù)；

33、確定模塊，用于根據(jù)所述采樣電壓數(shù)據(jù)計算采樣點之間的斜率變化數(shù)據(jù)；

34、篩選模塊，用于根據(jù)所述斜率變化數(shù)據(jù)對采樣數(shù)據(jù)進行篩選，得到目標采樣數(shù)據(jù)。

35、此外，為實現(xiàn)上述目的，本申請還提出一種adc采樣設(shè)備，所述設(shè)備包括：存儲器、處理器及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的計算機程序，所述計算機程序配置為實現(xiàn)如上文所述的adc采樣方法的步驟。

36、此外，為實現(xiàn)上述目的，本申請還提出一種存儲介質(zhì)，所述存儲介質(zhì)為計算機可讀存儲介質(zhì)，所述存儲介質(zhì)上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如上文所述的adc采樣方法的步驟。

37、此外，為實現(xiàn)上述目的，本申請還提供一種計算機程序產(chǎn)品，所述計算機程序產(chǎn)品包括計算機程序，所述計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如上文所述的adc采樣方法的步驟。

38、本申請?zhí)岢龅囊粋€或多個技術(shù)方案，在采樣周期內(nèi)進行adc采樣時，獲取采樣電壓數(shù)據(jù)；根據(jù)所述采樣電壓數(shù)據(jù)確定采樣點之間的斜率變化數(shù)據(jù)；根據(jù)所述斜率變化數(shù)據(jù)對采樣數(shù)據(jù)進行篩選，得到目標采樣數(shù)據(jù)，實時計算連續(xù)采樣點之間的斜率變化，從而根據(jù)斜率變化引入動態(tài)調(diào)整機制，對采樣數(shù)據(jù)進行動態(tài)調(diào)整和篩選，提高adc采樣的精度，從而提高測量值的準確性。

技術(shù)特征：

1.一種adc采樣方法，其特征在于，所述adc采樣方法包括：

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述采樣電壓數(shù)據(jù)確定采樣點之間的斜率變化數(shù)據(jù)的步驟包括：

3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述當前采樣電壓、所述歷史采樣電壓、所述當前采樣時間以及所述歷史采樣時間計算采樣點之間的斜率變化數(shù)據(jù)的步驟包括：

4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述斜率變化數(shù)據(jù)對采樣數(shù)據(jù)進行篩選，得到目標采樣數(shù)據(jù)包括：

5.如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述斜率變化差值對所述采樣數(shù)據(jù)進行篩選，得到目標采樣數(shù)據(jù)包括：

6.如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述將所述斜率變化差值與預(yù)設(shè)斜率變化閾值進行比較的步驟之后，還包括：

7.如權(quán)利要求1至6中任一項所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述斜率變化數(shù)據(jù)對采樣數(shù)據(jù)進行篩選，得到目標采樣數(shù)據(jù)的步驟之后，還包括：

8.一種adc采樣裝置，其特征在于，所述裝置包括：

9.一種adc采樣設(shè)備，其特征在于，所述設(shè)備包括：存儲器、處理器及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的計算機程序，所述計算機程序配置為實現(xiàn)如權(quán)利要求1至7中任一項所述的adc采樣方法的步驟。

10.一種存儲介質(zhì)，其特征在于，所述存儲介質(zhì)為計算機可讀存儲介質(zhì)，所述存儲介質(zhì)上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如權(quán)利要求1至7中任一項所述的adc采樣方法的步驟。

技術(shù)總結(jié)
本申請公開了一種ADC采樣方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)，涉及信號處理技術(shù)領(lǐng)域，包括：在采樣周期內(nèi)進行ADC采樣時，獲取采樣電壓數(shù)據(jù)；根據(jù)所述采樣電壓數(shù)據(jù)確定采樣點之間的斜率變化數(shù)據(jù)；根據(jù)所述斜率變化數(shù)據(jù)對采樣數(shù)據(jù)進行篩選，得到目標采樣數(shù)據(jù)，實時計算連續(xù)采樣點之間的斜率變化，從而根據(jù)斜率變化引入動態(tài)調(diào)整機制，對采樣數(shù)據(jù)進行動態(tài)調(diào)整和篩選，提高ADC采樣的精度，從而提高測量值的準確性。

技術(shù)研發(fā)人員：韓冬子,張來風
受保護的技術(shù)使用者：歌爾光學科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/17