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用于測(cè)試差分模/數(shù)轉(zhuǎn)換器的方法及其對(duì)應(yīng)系統(tǒng)與流程

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用于測(cè)試差分模/數(shù)轉(zhuǎn)換器的方法及其對(duì)應(yīng)系統(tǒng)與流程

本發(fā)明大體上涉及測(cè)試方法和系統(tǒng),并且更具體來(lái)說(shuō),涉及用于測(cè)試差分模/數(shù)轉(zhuǎn)換器的方法和系統(tǒng)。



背景技術(shù):

現(xiàn)今的許多片上系統(tǒng)(SoC)器件包括轉(zhuǎn)換器例如模/數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)。ADC通常對(duì)接收到的模擬電壓進(jìn)行采樣并將所采樣的電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字代碼。ADC的分辨率或精度通常取決于SoC的應(yīng)用。例如,如果ADC用于在用戶溫度感測(cè)應(yīng)用中確定溫度,則可能需要8位的分辨率。更高分辨率的ADC需要更高的精度并且通常對(duì)環(huán)境條件例如電路噪聲、溫度、工作電壓等等更敏感。傳統(tǒng)上,工廠設(shè)置中需要進(jìn)行ADC測(cè)試以確保使用精密設(shè)備的功能。但是,希望在系統(tǒng)或應(yīng)用內(nèi)執(zhí)行ADC測(cè)試以例如幫助系統(tǒng)除錯(cuò)工作。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

一種用于測(cè)試模/數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的方法,包括:

將模擬信號(hào)源的單端輸出端耦合至放大器的差分輸入端;

將所述放大器的差分輸出端耦合至所述ADC的差分輸入端;

從所述模擬信號(hào)源的所述單端輸出端向所述放大器的所述差分輸入端的第一輸入端子和第二輸入端子交替地提供第一測(cè)試信號(hào)和第二測(cè)試信號(hào);

放大所述第一測(cè)試信號(hào)和第二測(cè)試信號(hào)以在所述放大器的所述差分輸出端生成放大差分信號(hào);

向所述ADC的所述差分輸入端提供所述放大差分信號(hào);并且

確定所述ADC的輸出是否為所預(yù)期的。

一種用于測(cè)試模/數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的方法,包括:

將模擬信號(hào)源的輸出端耦合至放大器的差分輸入端;

將所述放大器的差分輸出端耦合至所述ADC的差分輸入端;

從所述模擬信號(hào)源的所述輸出端向所述放大器的所述差分輸入端提供測(cè)試信號(hào);

將偏置電壓耦合至所述放大器的所述差分輸出端;

放大所述測(cè)試信號(hào)以在所述放大器的所述差分輸出端生成放大和偏置差分信號(hào);

向所述ADC的所述差分輸入端提供所述放大和偏置差分信號(hào);并且

確定所述ADC的輸出是否為所預(yù)期的。

一種差分放大器級(jí),包括:

用于耦合至數(shù)/模轉(zhuǎn)換器(DAC)的單端輸出端的單端輸入端;

第一開關(guān),所述第一開關(guān)具有第一端子和第二端子,所述第一端子耦合至所述單端輸入端;

第一電容器,所述第一電容器具有第一端子和第二端子,所述第一端子耦合至所述第一開關(guān)的所述第二端子;

第二開關(guān),所述第二開關(guān)具有第一端子和第二端子,所述第一端子耦合至所述單端輸入端;

第二電容器,所述第二電容器具有第一端子和第二端子,所述第一端子耦合至所述第二開關(guān)的所述第二端子;以及

差分放大器,所述差分放大器具有耦合至所述第一電容器的所述第二端子的第一差分輸入端,和耦合至所述第二電容器的所述第二端子的第二差分輸入端。

附圖說(shuō)明

本發(fā)明借助于例子示出并且不受附圖的限制,在附圖中的類似標(biāo)記指示類似元件。為簡(jiǎn)單和清晰起見示出附圖中的元件,并且這些元件未必按比例繪制。

圖1為示出根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的處理系統(tǒng)的簡(jiǎn)化框圖。

圖2到6為示出根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的在不同運(yùn)行階段的示例性放大器級(jí)電路的簡(jiǎn)化示意圖。

圖7為示出根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的用于在圖2到6中的開關(guān)控制信號(hào)的示例性時(shí)序波形的簡(jiǎn)化時(shí)序圖。

具體實(shí)施方式

本發(fā)明描述適于使用模擬信號(hào)源(例如數(shù)/模轉(zhuǎn)換器(DAC))的單端輸出端來(lái)測(cè)試差分模/數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的方法和系統(tǒng)。在SoC具有ADC和片上DAC時(shí),該DAC可以用來(lái)為該ADC提供測(cè)試信號(hào),從而允許ADC測(cè)試在用戶系統(tǒng)或應(yīng)用內(nèi)進(jìn)行。

圖1為示出根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的處理系統(tǒng)100的簡(jiǎn)化框圖。在一些實(shí)施例中,處理系統(tǒng)100可實(shí)施為單個(gè)集成電路。在一些實(shí)施例中,處理系統(tǒng)100可實(shí)施為多個(gè)集成電路,或可實(shí)施為集成電路和分立組件的組合。替代實(shí)施例可以任何方式實(shí)施系統(tǒng)100。

在圖1所示的實(shí)施例中,處理系統(tǒng)100包括中央處理單元(CPU)104、存儲(chǔ)器106、其它模塊108、數(shù)/模轉(zhuǎn)換器(DAC)110、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)114和測(cè)試控制單元116,上述單元全部借助于系統(tǒng)總線102彼此雙向耦合。放大器級(jí)112被耦合在DAC 110和ADC 114之間。放大器級(jí)112從DAC 110接收單端輸出電壓VDAC并分別提供差分輸出電壓VOUT+和VOUT-。測(cè)試控制單元116向DAC 110并向放大器級(jí)112提供信號(hào)。在一些實(shí)施例中,系統(tǒng)100可包括比圖1所示的那些電路的塊更少、更多的電路的塊或包括不同的電路的塊。

在測(cè)試模式中,測(cè)試控制單元116向DAC 110提供測(cè)試代碼或命令。DAC 110繼而基于這些測(cè)試代碼或命令來(lái)輸出模擬電壓VDAC。這些VDAC電壓可表征為測(cè)試信號(hào)并且交替地提供給在放大器級(jí)112中的差分放大器的差分輸入端。在一些實(shí)施例中,測(cè)試控制單元116可以提供一系列測(cè)試代碼或命令,使得斜變電壓被提供給放大器級(jí)112中的差分放大器的差分輸入端。該差分放大器放大測(cè)試信號(hào),從而在該放大器的差分輸出端生成放大差分信號(hào)VOUT+和VOUT-。該放大差分信號(hào)被提供給ADC 114的差分輸入端。ADC 114繼而對(duì)這些放大差分信號(hào)進(jìn)行采樣,并在輸出端生成對(duì)應(yīng)于這些放大差分信號(hào)的數(shù)字代碼。所生成的數(shù)字代碼被用于確定ADC 114的輸出是否為所預(yù)期的。例如,所生成的數(shù)字代碼可用于確定ADC 114的輸出的積分非線性、差分非線性、偏置誤差和增益誤差是否在預(yù)定標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)。

圖2到6為示出根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的在不同運(yùn)行階段的示例性放大器級(jí)電路的簡(jiǎn)化示意圖。圖7為示出用于在下面的圖2到6中示出的開關(guān)控制信號(hào)的示例性時(shí)序波形的簡(jiǎn)化時(shí)序圖。在開關(guān)控制信號(hào)CK1到CK6上的時(shí)鐘脈沖具有由時(shí)序標(biāo)記t1-t12指示的該信號(hào)的邏輯高電平部分。

在圖2中的放大器級(jí)200描繪在圖1中示出的放大器級(jí)112的代表性電路系統(tǒng)并包括多個(gè)開關(guān)202到220、多個(gè)電容器222到228和差分放大器230。在圖2中的開關(guān)202到220被示為斷開或非導(dǎo)通,其對(duì)應(yīng)于圖7中在t1之前的開關(guān)控制信號(hào)CK1到CK6的示例性時(shí)序波形。在一些實(shí)施例中,差分放大器230被表征為具有高開環(huán)增益的差分運(yùn)算放大器。在一些實(shí)施例中,差分放大器230被表征為單位增益差分運(yùn)算放大器。放大器級(jí)200在差分輸出端VOUT+和VOUT-提供對(duì)應(yīng)于在輸入端VDAC接收到的電壓VDAC(來(lái)自圖1中的DAC 110)的差分輸出電壓VOUT+和VOUT-。

電容器222到228中的每個(gè)電容器包括第一端子和第二端子,電容器222到228中的每個(gè)電容器可由此被耦合至放大器級(jí)200的其它電路元件。電容器222到228可以用給定工藝技術(shù)中可用的任何合適材料和結(jié)構(gòu)形成,例如金屬氧化物半導(dǎo)體(MOS)電容器、金屬絕緣體金屬(MIM)電容器、多晶硅絕緣體多晶硅(PIP)電容器、深槽電容器等。電容器222到228可形成為上述電容器類型的組合。例如,每個(gè)電容器220到228可形成為MOS電容器與MIM電容器并聯(lián)或串聯(lián)。

開關(guān)202到220中的每個(gè)開關(guān)包括控制端子以及第一端子和第二端子,開關(guān)202到220中的每個(gè)開關(guān)可通過(guò)第一端子和第二端子耦合至放大器級(jí)200的其它電路元件。開關(guān)202到220的每個(gè)控制端子被耦合至一組開關(guān)控制信號(hào)CK1到CK6中的一個(gè)開關(guān)控制信號(hào)。每個(gè)開關(guān)控制信號(hào)可為時(shí)鐘或時(shí)鐘脈沖的形式。開關(guān)202到220可以用任何合適的晶體管、電路元件或其組合形成。例如,開關(guān)202到220可用N溝道MOS(NMOS)晶體管或P溝道MOS(PMOS)晶體管形成,或用組合例如NMOS晶體管與PMOS晶體管并聯(lián)耦合來(lái)形成。如本文所論述的晶體管可包括控制電極、第一電流電極和第二電流電極。例如,如果開關(guān)用晶體管形成,則該開關(guān)的控制端子可表征為該晶體管的控制電極,以及該開關(guān)的第一端子和第二端子可分別表征為第一電流電極和第二電流電極。

在此實(shí)施例中,第一開關(guān)202被耦合在放大器級(jí)200的VDAC輸入端子和電容器222的第一端子之間。開關(guān)202的控制端子經(jīng)耦合以接收第一開關(guān)控制信號(hào)CK1。第二開關(guān)204被耦合在VDAC輸入端子和電容器224的第一端子之間。開關(guān)202的控制端子經(jīng)耦合以接收第二開關(guān)控制信號(hào)CK2。電容器222的第二端子被耦合至差分放大器230的第一輸入端,以及電容器224的第二端子被耦合至差分放大器230的第二輸入端。差分放大器230的第一輸出端被耦合至放大器級(jí)200的VOUT+差分輸出端子,以及差分放大器230的輸出端被耦合至VOUT-差分輸出端子。

第三開關(guān)206被耦合在參考電壓(VREF)電源端子和電容器226的第一端子之間。在VREF電源端子的VREF電壓可在類似于VDD或該ADC的工作電壓的值。該VREF電源可為VDD的干凈或無(wú)噪聲版本。開關(guān)206的控制端子經(jīng)耦合以接收第三開關(guān)控制信號(hào)CK5。第四開關(guān)208被耦合在共模電壓(VCM)電源端子和電容器226的第一端子之間。在一些實(shí)施例中,該VCM電源可為VREF的值的一半。例如,如果VREF為3.0伏,則VCM可為1.5伏。開關(guān)208的控制端子經(jīng)耦合以接收第四開關(guān)控制信號(hào)CK4。第五開關(guān)210被耦合在VCM電源端子和電容器228的第一端子之間。開關(guān)210的控制端子經(jīng)耦合以接收第四開關(guān)控制信號(hào)CK4。第六開關(guān)212被耦合在接地電壓(GND)電源端子和電容器228的第一端子之間。開關(guān)212的控制端子經(jīng)耦合以接收開關(guān)控制信號(hào)CK5。電容器226的第二端子被耦合至差分放大器230的第一輸入端,以及電容器228的第二端子被耦合至差分放大器230的第二輸入端。

第七開關(guān)214被耦合在電容器222的第一端子和VOUT+差分輸出端子之間。第八開關(guān)216被耦合在電容器224的第一端子和VOUT-差分輸出端子之間。開關(guān)214的控制端子和開關(guān)216的控制端子中的每個(gè)控制端子經(jīng)耦合以接收第五開關(guān)控制信號(hào)CK6。第九開關(guān)218被耦合在VCM電源端子和差分放大器230的第一輸入端之間。第十開關(guān)220被耦合在該VCM電源端子和差分放大器230的第二輸入端之間。開關(guān)218的控制端子和開關(guān)220的控制端子中的每個(gè)控制端子經(jīng)耦合以接收第六開關(guān)控制信號(hào)CK3。

圖3示出根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的在第一運(yùn)行階段的示例性放大器級(jí)200的電路系統(tǒng)。在第一階段中,開關(guān)202、208、210、218和220被閉合或是能導(dǎo)電的。在圖7中從時(shí)間標(biāo)記t3至t4被描繪為斷言或在邏輯高電平的在CK1開關(guān)控制信號(hào)上的時(shí)鐘脈沖致使開關(guān)202被閉合,從而允許在VDAC端子的第一測(cè)試信號(hào)電壓被采樣到電容器222上。在圖7中從t1至t7被描繪為在開關(guān)控制信號(hào)CK3上的邏輯電平高致使開關(guān)218和220被閉合,從而允許電壓VCM被提供給電容器222到228的第二端子。類似地,在圖7中從t2至t9被描繪為邏輯電平高的開關(guān)控制信號(hào)CK4致使開關(guān)208和210被閉合,從而允許電壓VCM被提供給電容器226和電容器228的第一端子。

圖4示出根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的在第二運(yùn)行階段的示例性放大器級(jí)200的電路系統(tǒng)。在第二階段中,開關(guān)204、208、210、218和220被閉合或是能導(dǎo)電的。在圖7中從t5至t6被描繪為斷言或在邏輯高電平的在CK2開關(guān)控制信號(hào)上的時(shí)鐘脈沖致使開關(guān)204被閉合,從而允許在該VDAC端子的第二測(cè)試信號(hào)電壓被采樣到電容器224上。在此實(shí)施例中,開關(guān)控制信號(hào)CK2與開關(guān)控制信號(hào)CK1不重疊。在一些實(shí)施例中,第一測(cè)試信號(hào)和第二測(cè)試信號(hào)可模擬全軌差分模擬信號(hào)。開關(guān)218和開關(guān)220在CK3時(shí)鐘脈沖的持續(xù)時(shí)間繼續(xù)閉合,由此,該電壓VCM被提供給電容器222到228的第二端子。類似地,開關(guān)208和開關(guān)210在CK4時(shí)鐘脈沖的持續(xù)時(shí)間繼續(xù)閉合,由此,該電壓VCM被提供給電容器226和電容器228的第一端子。

圖5示出根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的在第三運(yùn)行階段的示例性放大器級(jí)200的電路系統(tǒng)。在第三階段中,開關(guān)208、210、214和216被閉合或是能導(dǎo)電的,從而允許放大第一測(cè)試信號(hào)和第二測(cè)試信號(hào)以在差分放大器230的VOUT+輸出端和VOUT-輸出端生成放大差分信號(hào)。在圖7中從時(shí)間標(biāo)記t8至t12被描繪為斷言或在邏輯高電平的在CK6開關(guān)控制信號(hào)上的時(shí)鐘脈沖致使開關(guān)214和開關(guān)216閉合,從而允許電荷分別在電容器222和電容器224以及輸出端VOUT+和輸出端VOUT-之間重新分布。根據(jù)通過(guò)電容器222的電荷重新分布從而致使在VOUT+輸出端子的電壓變化,輸出電壓VOUT+可增大或減小。類似地,根據(jù)通過(guò)電容器224的電荷重新分布從而致使在VOUT-輸出端子的電壓變化,輸出電壓VOUT-可增大或減小。開關(guān)208和開關(guān)210在CK4時(shí)鐘脈沖的持續(xù)時(shí)間繼續(xù)閉合,由此,電壓VCM被提供給電容器226和電容器228的第一端子。

圖6示出根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的在第四運(yùn)行階段的示例性放大器級(jí)200的電路系統(tǒng)。在第四階段中,開關(guān)206、212、214和216被閉合或是能導(dǎo)電的,從而允許放大第一測(cè)試信號(hào)和第二測(cè)試信號(hào)以在差分放大器230的VOUT+輸出端和VOUT-輸出端生成具有偏置的放大差分信號(hào)。在圖7中從時(shí)間標(biāo)記t10至t11被描繪為斷言或在邏輯高電平的在CK5開關(guān)控制信號(hào)上的時(shí)鐘脈沖致使開關(guān)206和開關(guān)212閉合,從而分別在電容器226的第一端子提供VREF電壓和在電容器228的第一端子上提供接地電壓。根據(jù)通過(guò)電容器222的電荷重新分布從而致使在VOUT+輸出端子的電壓偏置,輸出電壓VOUT+可增大或減小。類似地,根據(jù)通過(guò)電容器224的電荷重新分布從而致使在VOUT-輸出端子的電壓偏置,輸出電壓VOUT-可增大或減小。開關(guān)214和開關(guān)216在CK6時(shí)鐘脈沖的持續(xù)時(shí)間繼續(xù)閉合。

總而言之,提供用于測(cè)試模/數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的方法,包括:將模擬信號(hào)源的單端輸出端耦合至放大器的差分輸入端;將該放大器的差分輸出端耦合至該ADC的差分輸入端;從該模擬信號(hào)源的單端輸出端向該放大器的差分輸入端的第一輸入端子和第二輸入端子交替地提供第一測(cè)試信號(hào)和第二測(cè)試信號(hào);放大第一測(cè)試信號(hào)和第二測(cè)試信號(hào)以在該放大器的差分輸出端生成放大差分信號(hào);向該ADC的差分輸入端提供該放大差分信號(hào);并且確定該ADC的輸出是否為所預(yù)期的。確定該ADC的輸出是否為所預(yù)期的可另外包括確定該ADC的輸出的積分非線性、差分非線性、偏置誤差和增益誤差中的一個(gè)或多個(gè)誤差在預(yù)定標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)。該方法可另外包括在向該放大器的差分輸入端的第一輸入端子和第二輸入端子交替地提供第一測(cè)試信號(hào)和第二測(cè)試信號(hào)的步驟之后,將偏置電壓耦合至該放大器的差分輸出端。耦合該偏置電壓可另外包括:向該放大器的差分輸出端的第一輸出端子提供第一偏置電壓;并且,向該差分輸出端的第二端子提供不同于第一偏置電壓的第二偏置電壓。該模擬信號(hào)源和該ADC兩者可在單個(gè)集成電路上實(shí)施。交替地提供第一測(cè)試信號(hào)和第二測(cè)試信號(hào)可另外包括向該放大器的差分輸入端提供斜變電壓。該模擬信號(hào)源可為數(shù)/模轉(zhuǎn)換器(DAC)。交替地提供第一測(cè)試信號(hào)和第二測(cè)試信號(hào)可另外包括將共模電壓耦合至該放大器的差分輸入端的第一輸入端子和第二輸入端子,同時(shí)交替地提供第一測(cè)試信號(hào)和第二測(cè)試信號(hào)。第一測(cè)試信號(hào)和第二測(cè)試信號(hào)可模擬全軌差分模擬信號(hào)。

在另一實(shí)施例中,提供用于測(cè)試模/數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的方法,包括:將模擬信號(hào)源的輸出端耦合至放大器的差分輸入端;將該放大器的差分輸出端耦合至該ADC的差分輸入端;從該模擬信號(hào)源的輸出端向該放大器的差分輸入端提供測(cè)試信號(hào);將偏置電壓耦合至該放大器的差分輸出端;放大該測(cè)試信號(hào)以在該放大器的差分輸出端生成放大和偏置差分信號(hào);向該ADC的差分輸入端提供該放大和偏置差分信號(hào);并且確定該ADC的輸出是否為所預(yù)期的。該模擬信號(hào)源的輸出端可被表征為單端輸出端。該模擬信號(hào)源和該ADC兩者可在單個(gè)集成電路上實(shí)施。從該模擬信號(hào)源的輸出端向該放大器的差分輸入端提供測(cè)試信號(hào)可另外包括:從該模擬信號(hào)源的單端輸出端向該放大器的差分輸入端的第一輸入端子和第二輸入端子交替地提供第一測(cè)試信號(hào)和第二測(cè)試信號(hào)。提供第一測(cè)試信號(hào)和第二測(cè)試信號(hào)另外包括向作為該模擬信號(hào)源的數(shù)/模轉(zhuǎn)換器(DAC)提供一系列測(cè)試代碼。該方法可另外包括在交替地提供第一測(cè)試信號(hào)和第二測(cè)試信號(hào)時(shí),向該放大器的差分輸入端提供共模電壓。

在又一實(shí)施例中,提供差分放大器級(jí),包括:用于耦合至數(shù)/模轉(zhuǎn)換器(DAC)的單端輸出端的單端輸入端;第一開關(guān),該第一開關(guān)具有第一端子和第二端子,該第一端子耦合至該單端輸入端;第一電容器,該第一電容器具有第一端子和第二端子,該第一端子耦合至該第一開關(guān)的第二端子;第二開關(guān),該第二開關(guān)具有第一端子和第二端子,該第一端子耦合至該單端輸入端;第二電容器,該第二電容器具有第一端子和第二端子,該第一端子耦合至該第二開關(guān)的第二端子;以及差分放大器,該差分放大器具有耦合至該第一電容器的第二端子的第一差分輸入端,和耦合至該第二電容器的第二端子的第二差分輸入端。該差分放大器可被表征為單位增益放大器。該差分放大器可另外包括差分輸出端。該差分放大器級(jí)的差分輸出端可用于向模/數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的差分輸入端提供測(cè)試信號(hào)。用于測(cè)試該ADC的差分測(cè)試信號(hào)可使用第一開關(guān)和第二開關(guān)以及該DAC的單端輸出端來(lái)生成。

截至目前應(yīng)了解,提供適于使用模擬信號(hào)源,例如數(shù)/模轉(zhuǎn)換器(DAC)的單端輸出端來(lái)測(cè)試差分模/數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的方法和系統(tǒng)。放大器級(jí)從該DAC接收基于測(cè)試代碼的單端輸出信號(hào)并向該差分ADC的輸入端提供差分輸出電壓。

如本文所使用,術(shù)語(yǔ)“總線”用于指代多個(gè)信號(hào)或?qū)w,該多個(gè)信號(hào)或?qū)w可以用來(lái)傳送一個(gè)或多個(gè)各種類型的信息,例如數(shù)據(jù)、地址、控制或狀態(tài)。如本文中所論述的導(dǎo)體可參考單個(gè)導(dǎo)體、多個(gè)導(dǎo)體、單向?qū)w或雙向?qū)w示出或描述。然而,不同實(shí)施例可改變導(dǎo)體的實(shí)施方案。例如,可使用單獨(dú)的單向?qū)w而不是雙向?qū)w,且反之亦然。并且,可以用以連續(xù)方式或以時(shí)分復(fù)用方式傳送多個(gè)信號(hào)的單個(gè)導(dǎo)體來(lái)代替多個(gè)導(dǎo)體。同樣,攜載多個(gè)信號(hào)的單個(gè)導(dǎo)體可以被分成攜載這些信號(hào)的子集的各種不同導(dǎo)體。因此,存在用于傳送信號(hào)的許多選項(xiàng)。

本文中在提及使信號(hào)、狀態(tài)位或類似裝置呈現(xiàn)為其邏輯真或邏輯假狀態(tài)時(shí)分別使用術(shù)語(yǔ)“斷言”或“設(shè)置”和“取消”(或“撤銷斷言”或“清除”)。如果邏輯真狀態(tài)為邏輯電平1,那么邏輯假狀態(tài)為邏輯電平0。并且如果邏輯真狀態(tài)為邏輯電平0,則邏輯假狀態(tài)為邏輯電平1。

由于實(shí)施本發(fā)明的裝置大部分由本領(lǐng)域的技術(shù)人員已知的電子組件和電路組成,因此為了理解和了解本發(fā)明的基本概念并且為了不混淆或偏離本發(fā)明的教示,將不會(huì)以比以上圖示認(rèn)為必要的任何更大程度闡述電路細(xì)節(jié)。

雖然本發(fā)明已關(guān)于特定導(dǎo)電類型或電位的極性進(jìn)行描述,但本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)了解到,可顛倒導(dǎo)電類型或電位的極性。

根據(jù)需要,上述實(shí)施例中的一些實(shí)施例可使用各種不同的處理系統(tǒng)來(lái)實(shí)施。當(dāng)然,出于論述的目的,該架構(gòu)的描述已被簡(jiǎn)化,并且其只是可根據(jù)本發(fā)明使用的適當(dāng)架構(gòu)的許多不同類型中的一種類型。本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)認(rèn)識(shí)到,邏輯塊之間的邊界僅為例示性的,且替代實(shí)施例可合并邏輯塊或電路元件,或?qū)Ω鞣N邏輯塊或電路元件強(qiáng)加功能的替代分解。

因此,應(yīng)理解,在本文中描繪的架構(gòu)僅為示例性的,并且實(shí)際上,可以實(shí)施實(shí)現(xiàn)相同功能的許多其它架構(gòu)。從抽象角度但仍具有明確意義來(lái)說(shuō),實(shí)現(xiàn)相同功能的任何組件布置實(shí)際上“相關(guān)聯(lián)”,使得所希望的功能得以實(shí)現(xiàn)。因此,在本文中被組合以實(shí)現(xiàn)特定功能的任何兩個(gè)組件都可以被視為彼此“相關(guān)聯(lián)”,從而實(shí)現(xiàn)所希望的功能,而不管架構(gòu)或中間組件如何。同樣,如此相關(guān)聯(lián)的任何兩個(gè)組件還可以被視為“可操作地連接”或“可操作地耦合”到彼此以實(shí)現(xiàn)所希望的功能。

雖然本文中參考具體實(shí)施例描述了本發(fā)明,但是在不脫離如所附權(quán)利要求書所闡述的本發(fā)明的范圍的情況下可以進(jìn)行各種修改和改變。因此,說(shuō)明書和附圖應(yīng)視為例示性而不具有限制性意義,并且所有此些修改旨在都包括在本發(fā)明的范圍內(nèi)。并不希望將本文中關(guān)于具體實(shí)施例描述的任何優(yōu)勢(shì)、優(yōu)點(diǎn)或針對(duì)問(wèn)題的解決方案理解為任何或所有權(quán)利要求的關(guān)鍵、必需或必不可少的特征或要素。

如本文中所使用,術(shù)語(yǔ)“耦合”并不旨在局限于直接耦合或機(jī)械耦合。

此外,如本文中所用,術(shù)語(yǔ)“一”被定義為一個(gè)或一個(gè)以上。而且,權(quán)利要求書中介紹性短語(yǔ)例如“至少一個(gè)”和“一個(gè)或多個(gè)”的使用不應(yīng)解釋為暗示由不定冠詞“一”引入的另一權(quán)利要求要素將包含此引入的權(quán)利要求要素的任何特定權(quán)利要求限制為僅包含一個(gè)此要素的發(fā)明,甚至是在同一權(quán)利要求包括介紹性短語(yǔ)“一個(gè)或多個(gè)”或“至少一個(gè)”和不定冠詞例如“一”時(shí)。對(duì)于定冠詞的使用也是如此。

除非另外說(shuō)明,否則術(shù)語(yǔ)例如“第一”和“第二”用于任意地區(qū)分此類術(shù)語(yǔ)所描述的要素。因此,這些術(shù)語(yǔ)不一定意欲指示此些要素的時(shí)間或其它優(yōu)先級(jí)。

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