連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器及其轉(zhuǎn)換時(shí)間校正方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器及其轉(zhuǎn)換時(shí)間校正方法。該連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器包含一轉(zhuǎn)換電路及一轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置，其中該轉(zhuǎn)換電路于一工藝電壓溫度偏移下具有一轉(zhuǎn)換時(shí)間。該檢測電路用以檢測該轉(zhuǎn)換電路的一轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)，并根據(jù)該轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)調(diào)整該轉(zhuǎn)換電路的該轉(zhuǎn)換時(shí)間。
【專利說明】連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器及其轉(zhuǎn)換時(shí)間校正方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明關(guān)于一種連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器及其轉(zhuǎn)換時(shí)間校正方法。更具體而言，本發(fā)明關(guān)于一種可校正轉(zhuǎn)換時(shí)間的連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器及其轉(zhuǎn)換時(shí)間校正方法。
【背景技術(shù)】
[0002]模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器可以將模擬形式的連續(xù)信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字型式的離散信號，其中連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器(Successive Approximation Register Analog-to-DigitalConverter)近年來的應(yīng)用越來越多。
[0003]然而，連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器在不同的工藝電壓溫度(Process VoltageTemperature ；PVT)偏移下，其轉(zhuǎn)換模擬電壓為數(shù)字電壓的轉(zhuǎn)換時(shí)間將可能產(chǎn)生很大的差異。對于連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器的轉(zhuǎn)換時(shí)間而言，工藝電壓溫度偏移無論是造成轉(zhuǎn)換時(shí)間增長或是造成轉(zhuǎn)換時(shí)間縮短都可能會有問題。當(dāng)工藝電壓溫度偏移造成連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器的轉(zhuǎn)換時(shí)間增長時(shí)，將可能因轉(zhuǎn)換時(shí)間大于額定轉(zhuǎn)換時(shí)間而造成轉(zhuǎn)換過程不完整；而當(dāng)工藝電壓溫度偏移造成連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器的轉(zhuǎn)換時(shí)間縮短時(shí)，將可能因過快轉(zhuǎn)換而造成轉(zhuǎn)換結(jié)果不正確。
[0004]為了解決工藝電壓溫度偏移造成轉(zhuǎn)換時(shí)間增長的問題，在設(shè)計(jì)的時(shí)候，傳統(tǒng)的連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器經(jīng)常必須以較高速的規(guī)格進(jìn)行過度設(shè)計(jì)(Over-Design)，才能使連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器具有穩(wěn)定的效能。然而，過度設(shè)計(jì)這種作法，將造成電路上面積或功耗的浪費(fèi)。
[0005]另一方面，為了解決工藝電壓溫度偏移造成轉(zhuǎn)換時(shí)間縮短的問題，在設(shè)計(jì)時(shí)候，傳統(tǒng)的連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器必須具備更精確的時(shí)間同步，以克服轉(zhuǎn)換結(jié)果不正確的問題。然而，具備更精確的時(shí)間同步功能，將造成成本上的負(fù)擔(dān)。
[0006]有鑒于此，如何改善工藝電壓溫度偏移對傳統(tǒng)的連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器的轉(zhuǎn)換時(shí)間所造成的異常變化，進(jìn)而使傳統(tǒng)的連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器在不同的工藝電壓溫度偏移下仍具有相近的轉(zhuǎn)換時(shí)間，確為所屬領(lǐng)域亟需解決的問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本發(fā)明的目的在于提供一種連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器。該連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器包含一轉(zhuǎn)換電路及一轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置。該轉(zhuǎn)換電路于一工藝電壓溫度偏移下具有一轉(zhuǎn)換時(shí)間。該轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置用以檢測該轉(zhuǎn)換電路的一轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)并根據(jù)該轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)調(diào)整該轉(zhuǎn)換電路的該轉(zhuǎn)換時(shí)間。
[0008]本發(fā)明更提供一種連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器的轉(zhuǎn)換時(shí)間校正方法，其中該連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器包含一轉(zhuǎn)換電路及一轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置。該轉(zhuǎn)換電路于一工藝電壓溫度偏移下具有一轉(zhuǎn)換時(shí)間。該轉(zhuǎn)換時(shí)間校正方法包含下列步驟:
[0009](a)令該轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置檢測該轉(zhuǎn)換電路的一轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)；以及[0010](b)令該轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置根據(jù)該轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)調(diào)整該轉(zhuǎn)換電路的該轉(zhuǎn)換時(shí)間。
[0011]綜上所述，本發(fā)明提供了一種連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器及其轉(zhuǎn)換時(shí)間校正方法。本發(fā)明提供的連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器及其轉(zhuǎn)換時(shí)間校正方法可檢測出一連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器在一工藝電壓溫度偏移下的一轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)，并根據(jù)該轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)調(diào)整該連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器的一轉(zhuǎn)換時(shí)間。
[0012]通過上述操作，在不同的工藝電壓溫度偏移下，該連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器已有效改善工藝電壓溫度偏移對轉(zhuǎn)換時(shí)間所造成的異常變化，進(jìn)而使該連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器在不同的工藝電壓溫度偏移下仍具有相近的轉(zhuǎn)換時(shí)間。
[0013]于參閱圖式及隨后描述的實(shí)施方式后，所屬【技術(shù)領(lǐng)域】技術(shù)人員便可了解本發(fā)明的技術(shù)手段及實(shí)施態(tài)樣。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0014]圖1為本發(fā)明的第一實(shí)施例的一種連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器I的示意圖；
[0015]圖2為本發(fā)明的第二實(shí)施例的一種連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器3的示意圖；
[0016]圖3為本發(fā)明的第二實(shí)施例的一種比較電路315的具體示意圖；
[0017]圖4為本發(fā)明的第三實(shí)施例的一種連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器5的示意圖；
[0018]圖5為本發(fā)明的第四實(shí)施例的一種連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器7的示意圖；以及
[0019]圖6為本發(fā)明的第五實(shí)施例的一種用于一連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器的轉(zhuǎn)換時(shí)間校正方法的流程圖。
[0020]其中，附圖標(biāo)記說明如下:
[0021]1:連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器
[0022]11:轉(zhuǎn)換電路
[0023]13:轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置
[0024]15:數(shù)字電路
[0025]131:檢測電路
[0026]133:調(diào)整電路
[0027]20:轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)
[0028]21:震湯周期
[0029]22:轉(zhuǎn)換時(shí)間
[0030]3:連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器
[0031]31:轉(zhuǎn)換電路
[0032]311:取樣/保持電路
[0033]313:數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換電路
[0034]315:比較電路
[0035]3151:比較器
[0036]3153:控制器
[0037]3155:延遲器
[0038]317:連續(xù)逼近式控制電路[0039]319:震蕩電路
[0040]40:模擬信號
[0041]42:重置信號
[0042]5:連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器
[0043]7:連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器
[0044]71:轉(zhuǎn)換電路
【具體實(shí)施方式】
[0045]本發(fā)明的內(nèi)容將通過以下實(shí)施例來解釋。在以下實(shí)施例及圖式中，與本發(fā)明非直接相關(guān)的元件已省略而未繪示，且繪示于圖式中的各元件之間的尺寸比例僅為便于理解，而非用以限制為實(shí)際的實(shí)施比例。
[0046]本發(fā)明的第一實(shí)施例是用以闡述一種具有轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置的連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器，如圖1所示，連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器I包含一轉(zhuǎn)換電路11以及一轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置13。轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置13包含一檢測電路131以及一電性連接至檢測電路131與轉(zhuǎn)換電路11的調(diào)整電路133。
[0047]連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器I的轉(zhuǎn)換電路11在一工藝電壓溫度(ProcessVoltage Temperature ；PVT)偏移下具有一轉(zhuǎn)換時(shí)間，其中該轉(zhuǎn)換時(shí)間為轉(zhuǎn)換電路11轉(zhuǎn)換一模擬電壓為一數(shù)字電壓(一組若干位元的數(shù)字碼)所經(jīng)歷的時(shí)間。所述工藝電壓溫度偏移為工藝偏移、電壓偏移及溫度偏移的統(tǒng)稱，且普遍地被用以表示影響電子產(chǎn)品性能的三大因素。于本實(shí)施例，工藝電壓溫度偏移會對轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間產(chǎn)生影響，也就是當(dāng)處于不同的工藝電壓溫度偏移時(shí)，轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間會有所變化。
[0048]一般而言，連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器I的轉(zhuǎn)換電路11會根據(jù)規(guī)格的不同而被設(shè)計(jì)成具有不同的額定轉(zhuǎn)換時(shí)間，且理想地，轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間應(yīng)處于正常的操作范圍內(nèi)，也就是轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間應(yīng)接近額定轉(zhuǎn)換時(shí)間，且不能大于額定轉(zhuǎn)換時(shí)間。然而，工藝電壓溫度偏移會對轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間造成影響，使得轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間可能會大于額定轉(zhuǎn)換時(shí)間，或小于額定轉(zhuǎn)換時(shí)間，因而發(fā)生轉(zhuǎn)換過程不完整或者是轉(zhuǎn)換結(jié)果不正確等問題。
[0049]為了克服上述問題，轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置13的檢測電路131可用以檢測出轉(zhuǎn)換電路11在一工藝電壓溫度偏移下所對應(yīng)的轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)20，其中該轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)20至少可用以表示檢測電路131在該工藝電壓溫度偏移下的轉(zhuǎn)換時(shí)間是否大于一額定轉(zhuǎn)換時(shí)間或是小于該額定轉(zhuǎn)換時(shí)間。接著，調(diào)整電路133可用以根據(jù)轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)20，調(diào)整轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間，使得轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間接近該額定轉(zhuǎn)換時(shí)間，且不大于該額定轉(zhuǎn)換時(shí)間。換言之，通過上述操作方式，轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間在一工藝電壓溫度偏移下，皆可被校正為處于正常的操作范圍內(nèi)。
[0050]舉例而言，當(dāng)檢測電路131檢測到的轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)20顯示出轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間小于額定轉(zhuǎn)換時(shí)間時(shí)，調(diào)整電路133會根據(jù)轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)20，調(diào)整轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間，使轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間增長，并趨近額定轉(zhuǎn)換時(shí)間，但以不大于額定轉(zhuǎn)換時(shí)間為前提。此外，當(dāng)檢測電路131檢測到的轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)20顯示出轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間大于額定轉(zhuǎn)換時(shí)間時(shí)，調(diào)整電路133會根據(jù)轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)20，調(diào)整轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間，使轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間縮短，并趨近額定轉(zhuǎn)換時(shí)間或略小于額定轉(zhuǎn)換時(shí)間。
[0051]本實(shí)施例的連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器I的轉(zhuǎn)換電路11的架構(gòu)可為任一傳統(tǒng)的連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器的架構(gòu)。
[0052]本發(fā)明的第二實(shí)施例是用以闡述一種具有轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置的連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器，如圖2所示，連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器3包含一轉(zhuǎn)換電路31以及一轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置13。轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置13包含一檢測電路131以及一電性連接至檢測電路131與轉(zhuǎn)換電路31的調(diào)整電路133。轉(zhuǎn)換電路31包含一取樣/保持電路311、一數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換電路(Digital-to-Analog Converter)313、一比較電路315及一連續(xù)逼近式控制電路317。
[0053]取樣/保持電路311用以取樣及保持一模擬輸入電壓40并傳輸一模擬電壓至比較電路315，且比較電路315用以比較該模擬電壓及數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換電路313輸出的一預(yù)測電壓。連續(xù)逼近式控制電路317用以根據(jù)比較電路315的輸出，使用二元搜尋(binarysearch)演算法控制數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換電路313下次輸出的一預(yù)測電壓，以該數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換電路313輸出的預(yù)測電壓可逐次逼近該模擬電壓，此即為連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器3的基本轉(zhuǎn)換過程。由于轉(zhuǎn)換電路13進(jìn)行上述轉(zhuǎn)換的具體流程可為本領(lǐng)域技術(shù)人員輕易理解，于此不再贅述。
[0054]比較電路315可包含一比較器3151及一電性連接至比較器3151的控制器3153?？刂破?153用以控制比較器3151進(jìn)入比較階段或是進(jìn)入重置(Reset)階段。當(dāng)比較取樣/保持電路311以及數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換電路313的輸出傳輸至比較器3151時(shí)，控制器3153將控制比較器3151進(jìn)入比較階段，使比較器3151比較取樣/保持電路311以及數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換電路313的輸出。當(dāng)比較器3151比較結(jié)束后，控制器輸出比較器3151的比較結(jié)果至連續(xù)逼近式控制電路317，使連續(xù)逼近式控制電路317使用二元搜尋演算法控制數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換電路313下次輸出的一預(yù)測電壓。此時(shí)，控制器3153更回傳一重置信號至比較器3151，使比較器3151進(jìn)入重置階段，并等待進(jìn)入下一次的比較階段。
[0055]一般而言，控制器3153可由多個(gè)不同功能的邏輯門所組成，例如與非門(NANDgate)、異或非門(XOR gate)等等。由于邏輯門易遭受工藝電壓溫度偏移的影響，故在比較器3151及控制器3153之間所形成的回路上，比較器3151及控制器3153之間的信號傳遞，將因工藝電壓溫度偏移而產(chǎn)生加速或者延遲的，進(jìn)而使得轉(zhuǎn)換電路31的轉(zhuǎn)換時(shí)間發(fā)生增長或者縮短等現(xiàn)象。換言之，比較器3151及控制器3153之間的信號傳遞產(chǎn)生加速或者延遲是造成轉(zhuǎn)換電路31的轉(zhuǎn)換時(shí)間因工藝電壓溫度偏移發(fā)生增長或者縮短等現(xiàn)象的主要原因之一。
[0056]一個(gè)傳統(tǒng)的N位元的連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器，其轉(zhuǎn)換一模擬電壓為一數(shù)字電壓共需要經(jīng)過N個(gè)修正周期。因此，本實(shí)施例的轉(zhuǎn)換電路11共需要N個(gè)修正周期，方可將一模擬電壓轉(zhuǎn)換為一 N位元的數(shù)字電壓(一組若干位元的數(shù)字碼)，其中N為一正整數(shù)。舉例而言，當(dāng)N等于3時(shí)，轉(zhuǎn)換電路11共需要經(jīng)過3個(gè)修正周期，才能將一模擬電壓轉(zhuǎn)換為一以3位元表示的數(shù)字電壓。基于上述特性，本實(shí)施例的轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置13的檢測電路131將根據(jù)轉(zhuǎn)換電路11的第N個(gè)修正周期檢測出轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)20。
[0057]由于連續(xù)逼近式控制電路317本身即具有計(jì)數(shù)上述修正周期的功能，故轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置13的檢測電路131可通過監(jiān)視轉(zhuǎn)換電路11的連續(xù)逼近式控制電路317，獲知轉(zhuǎn)換電路11是否進(jìn)入第N個(gè)修正周期，藉以檢測出轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)20。
[0058]詳言之，當(dāng)轉(zhuǎn)換電路11進(jìn)入了第N個(gè)修正周期，連續(xù)逼近式控制電路317將進(jìn)行最后一次控制數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換電路313輸出的一預(yù)測電壓，此時(shí)轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置13的檢測電路131可根據(jù)該信息獲知轉(zhuǎn)換電路11完成轉(zhuǎn)換的一轉(zhuǎn)換時(shí)間，并通過該轉(zhuǎn)換時(shí)間與額定轉(zhuǎn)換時(shí)間之間的差異，檢測出轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)20。此時(shí)，轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)20可能顯示出轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間小于額定轉(zhuǎn)換時(shí)間，或者顯示出轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間大于額定轉(zhuǎn)換時(shí)間。
[0059]根據(jù)檢測電路131檢測出的轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)20，調(diào)整電路133可進(jìn)一步調(diào)整轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間。于本實(shí)施例中，調(diào)整電路133可通過改變連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器3的一操作電壓及一操作電流其中之一，藉以調(diào)整轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間。
[0060]當(dāng)轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)20顯示出轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間小于額定轉(zhuǎn)換時(shí)間，調(diào)整電路133可通過降低連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器3的一操作電壓及一操作電流其中之一，使轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間增長，并趨近額定轉(zhuǎn)換時(shí)間，但以不大于額定轉(zhuǎn)換時(shí)間為前提。
[0061]當(dāng)轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)20顯示出轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間大于額定轉(zhuǎn)換時(shí)間，調(diào)整電路133可通過增加連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器3的一操作電壓及一操作電流其中之一，使轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間縮短，并趨近額定轉(zhuǎn)換時(shí)間或略小于額定轉(zhuǎn)換時(shí)間。
[0062]通常地，增加操作電壓或操作電流可降低轉(zhuǎn)換時(shí)間，而降低操作電壓或操作電流會增加轉(zhuǎn)換時(shí)間。
[0063]于其他實(shí)施例，調(diào)整電路133亦可通過改變控制器3153以及比較器3151之間的一延遲時(shí)間，藉以調(diào)整轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間。茲以圖3為例進(jìn)行說明，圖3為比較電路315的一具體示意圖。如圖3所示，比較電路315更包含一延遲器3155，其中延遲器3155用以改變控制器3153傳遞重置信號42至比較器3151的一延遲程度。
[0064]延遲器3155可預(yù)設(shè)一延遲時(shí)間，此時(shí)重置信號42將根據(jù)該延遲時(shí)間由控制器3153傳遞至比較器3151。當(dāng)轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)20顯示出轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間小于額定轉(zhuǎn)換時(shí)間，調(diào)整電路133可通過增長延遲器3155的該延遲時(shí)間，使轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間增長，并趨近額定轉(zhuǎn)換時(shí)間，但以不大于額定轉(zhuǎn)換時(shí)間為前提。當(dāng)轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)20顯示出轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間大于額定轉(zhuǎn)換時(shí)間，調(diào)整電路133可通過縮短延遲器3155的該延遲時(shí)間，使轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間縮短，并趨近額定轉(zhuǎn)換時(shí)間或略小于額定轉(zhuǎn)換時(shí)間。
[0065]于其他實(shí)施例，亦可通過預(yù)先在控制器3153與比較器3151之間建立多個(gè)路徑，其中該多個(gè)路徑各自具有不同的延遲效果，以使調(diào)整電路133可通過如多路復(fù)用器來改變重置信號42的傳輸路徑，調(diào)整轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間。
[0066]當(dāng)轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)20顯示出轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間小于額定轉(zhuǎn)換時(shí)間，調(diào)整電路133可通過選擇延遲效果較大的路徑進(jìn)行傳輸重置信號42，使轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間增長，并趨近額定轉(zhuǎn)換時(shí)間，但以不大于額定轉(zhuǎn)換時(shí)間為前提。
[0067]當(dāng)轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)20顯示出轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間大于額定轉(zhuǎn)換時(shí)間，調(diào)整電路133可通過選擇延遲效果較小的路徑進(jìn)行傳輸重置信號42，使轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間縮短，并趨近額定轉(zhuǎn)換時(shí)間或略小于額定轉(zhuǎn)換時(shí)間。
[0068]于其他實(shí)施例，調(diào)整電路133亦可同時(shí)通過改變連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器3的一操作電壓及一操作電流其中之一，以及通過改變控制器3153以及比較器3151之間的一延遲時(shí)間，藉以調(diào)整轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間。
[0069]本發(fā)明的第三實(shí)施例是用以闡述一種具有轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置的連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器，如圖4所示，連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器5包含一轉(zhuǎn)換電路31、一轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置13以及一電性連接至轉(zhuǎn)換電路31的數(shù)字電路15。本實(shí)施例所述的轉(zhuǎn)換電路及轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置可視為第二實(shí)施例的轉(zhuǎn)換電路31及轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置13。本實(shí)施例的連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器5與第二實(shí)施例的連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器3之間的主要差異在于轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置13的檢測電路131是根據(jù)數(shù)字電路15所測量的一信號噪聲及失真比(Signal-to-Noise and Distortion Ratio ;SNDR)或一信號噪聲比(Signal-to-Noise Ratio ;SNR)，檢測出轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)20。
[0070]續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器5的功能之一在于將一模擬信號轉(zhuǎn)換為一數(shù)字信號，以由轉(zhuǎn)換電路13所輸出的該數(shù)字信號適用于后續(xù)數(shù)字電路15的各種運(yùn)作。一般而言，數(shù)字電路15具備測量連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器5的一信號噪聲及失真比或信號噪聲比的功能，而該信號噪聲及失真比或信號噪聲比除了可反應(yīng)出連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器5的性能，更可據(jù)以顯示出轉(zhuǎn)換電路13的轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)20。如何根據(jù)數(shù)字電路15所測量的信號噪聲及失真比或信號噪聲比檢測出轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)20可為所屬【技術(shù)領(lǐng)域】技術(shù)人員輕易理解，于此不再贅述。
[0071]根據(jù)數(shù)字電路15所測量的信號噪聲及失真比或信號噪聲比，檢測電路131可檢測出轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)20。之后，調(diào)整電路133可擇一或同時(shí)選擇下列方式，調(diào)整轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間:通過改變連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器3的一操作電壓及一操作電流其中之一；以及通過改變控制器3153以及比較器3151之間的一延遲時(shí)間。
[0072]本發(fā)明的第四實(shí)施例是用以闡述一種具有轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置的連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器，如圖5所示，連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器7包含一轉(zhuǎn)換電路71以及一轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置13。本實(shí)施例所述的轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置可視為上述實(shí)施例的轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置13。轉(zhuǎn)換電路71包含的取樣/保持電路311、數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換電路313、比較電路315及連續(xù)逼近式控制電路317可視為上述實(shí)施例的取樣/保持電路311、數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換電路313、比較電路315及連續(xù)逼近式控制電路317。
[0073]本實(shí)施例的連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器7與第二實(shí)施例的連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器3之間的主要差異在于轉(zhuǎn)換電路71更包含一震蕩電路319。震蕩電路319具有一震蕩周期21，且該震蕩周期無視工藝電壓溫度偏移的影響。換言之，該震蕩周期21并不因工藝電壓溫度偏移產(chǎn)生變化，或者說，該震蕩周期21因工藝電壓溫度偏移產(chǎn)生的變化是可忽略或可接受的。由于震蕩電路319本身具有的震蕩周期21可無視工藝電壓溫度偏移的影響，故通過設(shè)置震蕩電路319 (例如，石英震蕩器)于轉(zhuǎn)換電路71中進(jìn)行計(jì)數(shù)，即可通過震蕩電路319本身具有的震蕩周期21以及此工藝電壓溫度偏移之下的轉(zhuǎn)換電路71的轉(zhuǎn)換時(shí)間22而得到轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)20。其中，震蕩電路319 (例如，石英震蕩器)亦可以外掛，亦即精準(zhǔn)的震蕩周期21可由外部輸入，或其再經(jīng)由一鎖相回路電路產(chǎn)生(未繪示于圖)。在本實(shí)施例中，轉(zhuǎn)換電路71的轉(zhuǎn)換時(shí)間22自比較電路315的控制器3153檢測而得，轉(zhuǎn)換電路71的轉(zhuǎn)換時(shí)間22亦可自轉(zhuǎn)換電路71的其他電路(例如:連續(xù)逼近式控制電路317)檢測而得。因此，檢測電路131可根據(jù)該震蕩周期21與所檢測出轉(zhuǎn)換電路71的轉(zhuǎn)換時(shí)間22進(jìn)行比較以得到轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)20。之后，調(diào)整電路133可擇一或同時(shí)選擇下列方式，調(diào)整轉(zhuǎn)換電路11的轉(zhuǎn)換時(shí)間22:通過改變連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器3的一操作電壓及一操作電流其中之一；以及通過改變控制器3153以及比較器3151之間的一延遲時(shí)間。
[0074]本發(fā)明的第五實(shí)施例是用以闡述一種用于一連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器的轉(zhuǎn)換時(shí)間校正方法。有關(guān)本實(shí)施例的說明請參閱圖6，圖6為本發(fā)明提供的一種用于一連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器的轉(zhuǎn)換時(shí)間校正方法的流程圖。
[0075]本實(shí)施例所述的連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器可為上述實(shí)施例的連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器1、3、5及7其中之一。因此，本實(shí)施例所述的連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器可包含一轉(zhuǎn)換電路及一轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置。該轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置包含一檢測電路及一電性連接至該檢測電路及該轉(zhuǎn)換電路的調(diào)整電路，且該轉(zhuǎn)換電路于一工藝電壓溫度偏移下具有一轉(zhuǎn)換時(shí)間。
[0076]如圖6所示，于步驟S51，令該檢測電路于該工藝電壓溫度偏移下檢測出該轉(zhuǎn)換電路的一轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)，而于步驟S53，令該調(diào)整電路于該工藝電壓溫度偏移下根據(jù)該轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)調(diào)整該轉(zhuǎn)換電路的該轉(zhuǎn)換時(shí)間。于其他實(shí)施例，步驟S53可適當(dāng)?shù)靥鎿Q為:令該調(diào)整電路根據(jù)該轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)改變該比較器及該控制器之間的一延遲時(shí)間，以調(diào)整該轉(zhuǎn)換電路的該轉(zhuǎn)換時(shí)間；或者替換為:令該調(diào)整電路根據(jù)該轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)改變該連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器的一操作電壓及一操作電流其中之一，以調(diào)整該轉(zhuǎn)換電路的該轉(zhuǎn)換時(shí)間。
[0077]當(dāng)本實(shí)施例所述的連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器為第二實(shí)施例的連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器3時(shí)，本實(shí)施例所述的轉(zhuǎn)換電路通過N個(gè)修正周期轉(zhuǎn)換一模擬電壓為一 N位元數(shù)字電壓，其中N為一正整數(shù)，此時(shí)步驟S51可適當(dāng)?shù)靥鎿Q為:令該檢測電路根據(jù)該轉(zhuǎn)換電路的第N個(gè)修正周期檢測出該轉(zhuǎn)換電路的該轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)。
[0078]當(dāng)本實(shí)施例所述的連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器為第三實(shí)施例的連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器5時(shí)，本實(shí)施例所述的轉(zhuǎn)換電路更電性連接至一數(shù)字電路，此時(shí)步驟S51可適當(dāng)?shù)靥鎿Q為:令該檢測電路根據(jù)該數(shù)字電路測量的一信號噪聲及失真比檢測出該轉(zhuǎn)換電路的該轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)。
[0079]當(dāng)本實(shí)施例所述的連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器為第四實(shí)施例的連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器7時(shí)，此時(shí)步驟S51可適當(dāng)?shù)靥鎿Q為:令該檢測電路根據(jù)該震蕩周期與檢測該轉(zhuǎn)換電路所得的轉(zhuǎn)換時(shí)間進(jìn)行比較以得到該轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)。
[0080]除了上述步驟，本實(shí)施例亦能執(zhí)行上述實(shí)施例所描述的所有操作及具備所對應(yīng)的所有功能，且所屬【技術(shù)領(lǐng)域】技術(shù)人員可直接了解本實(shí)施例的轉(zhuǎn)換時(shí)間校正方法如何基于上述實(shí)施例的揭示內(nèi)容執(zhí)行此多種操作及具備此多種功能，于此不再贅述。
[0081]綜上所述，本發(fā)明提供了一種連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器，以及一種用于一連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器的轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置及其轉(zhuǎn)換時(shí)間校正方法。本發(fā)明提供的轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置及轉(zhuǎn)換時(shí)間校正方法可檢測出一連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器在一工藝電壓溫度偏移下的一轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)，并根據(jù)該轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)調(diào)整該連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器的一轉(zhuǎn)換時(shí)間。
[0082]通過上述操作，在不同的工藝電壓溫度偏移下，該連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器可有效改善工藝電壓溫度偏移對轉(zhuǎn)換時(shí)間所造成的異常變化，進(jìn)而使該連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器在不同的工藝電壓溫度偏移下仍具有相近的轉(zhuǎn)換時(shí)間。
[0083]上述實(shí)施例所闡述的內(nèi)容僅用以例舉本發(fā)明的部分實(shí)施方式，以及闡釋本發(fā)明的技術(shù)特征，并非用以限制本發(fā)明的實(shí)質(zhì)保護(hù)范疇。因此，任何熟悉本領(lǐng)域技術(shù)人員可輕易完成的改變或均等性的安排均屬于本發(fā)明所主張的范圍，且本發(fā)明的權(quán)利要求保護(hù)范圍以申請專利權(quán)利要求范圍為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.一種連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器的轉(zhuǎn)換時(shí)間校正方法，該連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器包含一轉(zhuǎn)換電路及一轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置，該轉(zhuǎn)換電路于一工藝電壓溫度偏移下具有一轉(zhuǎn)換時(shí)間，該轉(zhuǎn)換時(shí)間校正方法包含下列步驟: (a)令該轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置檢測該轉(zhuǎn)換電路的一轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)；以及 (b)令該轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置根據(jù)該轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)調(diào)整該轉(zhuǎn)換電路的該轉(zhuǎn)換時(shí)間。
2.如權(quán)利要求1所述的轉(zhuǎn)換時(shí)間校正方法，其中該轉(zhuǎn)換電路通過N個(gè)修正周期轉(zhuǎn)換一模擬電壓為一 N位元數(shù)字電壓，N為一正整數(shù)，該轉(zhuǎn)換時(shí)間校正方法的步驟(a)更包含下列步驟: (al)令該轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置根據(jù)該轉(zhuǎn)換電路的第N個(gè)修正周期檢測出該轉(zhuǎn)換電路的該轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)。
3.如權(quán)利要求1所述的轉(zhuǎn)換時(shí)間校正方法，其中該轉(zhuǎn)換電路更電性連接至一數(shù)字電路，該轉(zhuǎn)換時(shí)間校正方法的步驟(a)更包含下列步驟: (al)令該轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置根據(jù)該數(shù)字電路測量的一信號噪聲及失真比檢測出該轉(zhuǎn)換電路的該轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)。
4.如權(quán)利要求1所述的轉(zhuǎn)換時(shí)間校正方法，該轉(zhuǎn)換時(shí)間校正方法的步驟(a)更包含下列步驟: (al)令該轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置根據(jù)一震蕩周期與所檢測出該轉(zhuǎn)換電路的該轉(zhuǎn)換時(shí)間進(jìn)行比較以得到該轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)。
5.如權(quán)利要求1所述的轉(zhuǎn)換時(shí)間校正方法，其中該轉(zhuǎn)換電路包含一比較電路，該比較電路包含一比較器及一電性連接至該比較器的控制器，該轉(zhuǎn)換時(shí)間校正方法的步驟(b)更包含下列步驟: (bl)令該轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置根據(jù)該轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)改變該比較器及該控制器之間的一延遲時(shí)間，以調(diào)整該轉(zhuǎn)換電路的該轉(zhuǎn)換時(shí)間。
6.如權(quán)利要求1所述的轉(zhuǎn)換時(shí)間校正方法，其中步驟(b)更包含下列步驟: (bl)令該轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置根據(jù)該轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)改變該連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器的一操作電壓及一操作電流其中之一，以調(diào)整該轉(zhuǎn)換電路的該轉(zhuǎn)換時(shí)間。
7.如權(quán)利要求1所述的轉(zhuǎn)換時(shí)間校正方法，其中該轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)為該轉(zhuǎn)換時(shí)間小于一額定轉(zhuǎn)換時(shí)間，以及該轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置根據(jù)該轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)調(diào)整該轉(zhuǎn)換電路，以增長該轉(zhuǎn)換時(shí)間至該額定轉(zhuǎn)換時(shí)間。
8.如權(quán)利要求1所述的轉(zhuǎn)換時(shí)間校正方法，其中該轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)為該轉(zhuǎn)換時(shí)間大于一額定轉(zhuǎn)換時(shí)間，以及該轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置根據(jù)該轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)調(diào)整該轉(zhuǎn)換電路，以縮短該轉(zhuǎn)換時(shí)間至該額定轉(zhuǎn)換時(shí)間。
9.如權(quán)利要求4所述的轉(zhuǎn)換時(shí)間校正方法，其中步驟(b)更包含下列步驟: (bl)令該轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置根據(jù)該轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)改變該連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器的一操作電壓及一操作電流其中之一，以調(diào)整該轉(zhuǎn)換電路的該轉(zhuǎn)換時(shí)間。
10.如權(quán)利要求4所述的轉(zhuǎn)換時(shí)間校正方法，其中該轉(zhuǎn)換電路包含一比較電路，該比較電路包含一比較器及一電性 連接至該比較器的控制器，該轉(zhuǎn)換時(shí)間校正方法的步驟(b)更包含下列步驟: (bl)令該轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置根據(jù)該轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)改變該比較器及該控制器之間的一延遲時(shí)間，以調(diào)整該轉(zhuǎn)換電路的該轉(zhuǎn)換時(shí)間。
11.一種連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器，包含: 一轉(zhuǎn)換電路，該轉(zhuǎn)換電路于一工藝電壓溫度偏移下具有一轉(zhuǎn)換時(shí)間；以及 一轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置，用以檢測該轉(zhuǎn)換電路的一轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)并根據(jù)該轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)調(diào)整該轉(zhuǎn)換電路的該轉(zhuǎn)換時(shí)間。
12.如權(quán)利要求11所述的連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器，其中該轉(zhuǎn)換電路通過N個(gè)修正周期轉(zhuǎn)換一模擬電壓為一 N位元數(shù)字電壓，N為一正整數(shù)，以及該轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置根據(jù)該轉(zhuǎn)換電路的第N個(gè)修正周期檢測出該轉(zhuǎn)換電路的該轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)。
13.如權(quán)利要求11所述的連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器，其中該轉(zhuǎn)換電路更電性連接至一數(shù)字電路，以及該轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置根據(jù)該數(shù)字電路測量的一信號噪聲及失真比檢測出該轉(zhuǎn)換電路的該轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)。
14.如權(quán)利要求11所述的連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器，其中該轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置根據(jù)一震蕩周期與所檢測出該轉(zhuǎn)換電路的該轉(zhuǎn)換時(shí)間進(jìn)行比較以得到該轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)。
15.如權(quán)利要求11所述的連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器，其中該轉(zhuǎn)換電路包含一比較電路，該比較電路包含一比較器及一電性連接至該比較器的控制器，該轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置根據(jù)該轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)改變 該比較器及該控制器之間的一延遲時(shí)間，以調(diào)整該轉(zhuǎn)換電路的該轉(zhuǎn)換時(shí)間。
16.如權(quán)利要求11所述的連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器，其中該轉(zhuǎn)換時(shí)間校正裝置根據(jù)該轉(zhuǎn)換時(shí)間狀態(tài)改變該連續(xù)逼近式模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器的一操作電壓及一操作電流其中之一，以調(diào)整該轉(zhuǎn)換電路的該轉(zhuǎn)換時(shí)間。
【文檔編號】H03M1/10GK103944567SQ201310021387
【公開日】2014年7月23日 申請日期:2013年1月21日 優(yōu)先權(quán)日:2013年1月21日
【發(fā)明者】林見儒, 陳昱璋, 黃詩雄 申請人:瑞昱半導(dǎo)體股份有限公司