專利名稱：誤差消除電路、方法以及占空比檢測電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電路領(lǐng)域，更具體的說，是涉及一種誤差消除電路、方法以及占空比檢測電路。
背景技術(shù)：
請參閱圖1，為現(xiàn)有技術(shù)中的占空比檢測電路的示意圖，其中，Clk表示采樣信號，Ton表示量化信號。占空比檢測電路包括計數(shù)模塊102以及第一與門電路101，量化信號與采樣信號分別作用于第一與門電路102的不同輸入端，占空比檢測電路的原理如下在一預(yù)設(shè)時間段T中，當量化信號為高電平且采樣信號為上升沿時，計數(shù)模塊101對采樣信號 的個數(shù)進行計數(shù)直至量化信號到達下降沿時停止計數(shù)，量化信號的高電平的長度等于計數(shù)模塊記錄的數(shù)值與采樣信號周期的乘積，量化信號的平均占空比等于量化信號的高電的長度與T的比值。請參閱圖2，為現(xiàn)有技術(shù)占空比檢測電路的波形圖，圖中將量化信號的高電平按照時間順序分為量化高電平I、量化高電平2以及量化高電平N等，其中N為大于等于I的正整數(shù)，從圖2中可知，計數(shù)模塊101在量化高電平I時只記錄了一個采樣信號的周期(因為量化高電平I對應(yīng)一個采樣信號的上升沿)，顯然量化高電平I的長度大于一個采樣信號的周期，且Al大于BI，將量化高電平的上升沿與采樣信號的上升沿之間的時間差(例如Al、A2)稱為誤差A(yù)，計數(shù)模塊101在量化高電平2時記錄了兩個采樣信號的周期(因為量化高電平2對應(yīng)兩個采樣信號的上升沿)，但是量化高電平2的長度不一定是采樣信號周期的兩倍，因為A2不一定等于B2，將量化高電平的下降沿與采樣信號的上升沿之間的時間差(例如BI、B2)稱為誤差B，通常情況下，誤差A(yù)誤差+B不等于零，每一量化信號的高電平均可能有誤差A(yù)和誤差B，所以得到的每一量化信號的高電平的長度都有可能不準確，導致占空比檢測電路檢測出的量化信號的平均占空比與實際的平均占空比有很大誤差。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明提供了一種誤差消除電路、方法以及占空比檢測電路，以克服現(xiàn)有技術(shù)中的占空比檢測電路在測量量化信號的占空比時，對每一量化信號的高電平的長度的測量都有可能存在誤差，從而導致測量得到的占空比與真實的占空比存在很大誤差的問題。為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案一種誤差消除電路，包括補償移相模塊以及計數(shù)控制模塊；量化信號作用于所述補償移相模塊的一輸入端，采樣信號作用于所述補償移相模塊的另一輸入端，所述補償移相模塊的輸出端與所述計數(shù)控制模塊的輸入端相連；所述補償移相模塊依次將當前量化高電平集合中的各個量化高電平進行移相，以使各個移相后的量化高電平的上升沿與采樣信號的上升沿同步，且各個移相后的量化高電平的長度為采樣信號周期的整數(shù)倍，所述當前量化高電平集合包括至少一個量化高電平，并在所述各個移相后的量化高電平期間控制所述計數(shù)控制模塊，以使計數(shù)模塊記錄采樣信號的個數(shù)，確定所述每一移相后的量化高電平的長度與未移相時對應(yīng)的量化高電平長度的差值作為所述量化高電平的誤差時長，將所述當前量化高電平集合中各個量化高電平的誤差時長之和稱為所述當前量化高電平的誤差時長，當距離所述當前量化高電平集合時間最近的量化高電平到來時，將所述最近的量化高電平對所述當前量化高電平的誤差時長進行補償，并將下一量化高電平集合作為當前量化高電平集合，所述最近的量化高電平屬于所述下一量化高電平集合。其中，所述當前量化高電平集合中的各個移相后的量化高電平的上升沿時刻為滿足第一預(yù)設(shè)條件的時刻，下降沿時刻為滿足第二預(yù)設(shè)條件的時刻，補償移相后的所述最近的量化高電平的上升沿時刻為滿足第三預(yù)設(shè)條件的時刻，補償移相后的所述最近的量化高電平的下降沿時刻為滿足第四預(yù)設(shè)條件的時刻。其中，所述補償移相模塊具體包括電容、充放電模塊以及判斷模塊； 所述電容的一端接地，另一端分別與所述充放電模塊的輸出端以及所述判斷模塊的輸入端相連；量化信號作用于所述充放電模塊的輸入端，所述充放電模塊的控制端分別與所述判斷模塊的輸出端以及所述計數(shù)控制模塊的輸入端相連；采樣信號分別作用于所述判斷模塊的控制端以及所述計數(shù)控制模塊的控制端；所述電容的初始電壓為預(yù)設(shè)電壓，所述充放電模塊檢測到量化信號的上升沿到來時，為所述電容充電，在所述量化高電平到來，且所述判斷模塊檢測出所述采樣信號的上升沿到來以及所述電容的電壓不低于所述預(yù)設(shè)電壓時，控制所述充放電模塊停止為所述電容充電，并控制所述計數(shù)控制模塊，以使計數(shù)模塊對采樣信號的個數(shù)進行計數(shù)，所述第三預(yù)設(shè)條件是指采樣信號的上升沿到來且所述電容的電壓不低于所述預(yù)設(shè)電壓；當所述充放電模塊檢測到所述量化高電平的下降沿到來時，為所述電容放電，當所述判斷模塊檢測出所述采樣信號的上升沿到來且所述電容的電壓值低于所述預(yù)設(shè)電壓時，控制所述充放電模塊停止為所述電容放電，并控制所述計數(shù)控制模塊，以使計數(shù)模塊停止對采樣信號進行計數(shù)，所述第四預(yù)設(shè)條件是指所述采樣信號的上升沿到來且所述電容的電壓低于所述預(yù)設(shè)電壓且所述量化信號為低電平。其中，所述判斷模塊具體包括比較器以及D觸發(fā)器；所述比較器的正相輸入端分別與所述充放電模塊的輸出端以及所述電容的非接地端相連，所述預(yù)設(shè)電壓作用于所述比較器的反相輸入端，所述比較器的輸出端與所述D觸發(fā)器的輸入端D相連，采樣信號作用于所述D觸發(fā)器的時鐘信號輸入端，復位信號作用于所述D觸發(fā)器的復位端R，所述D觸發(fā)器的輸出端Qtl為所述判斷模塊的輸出端，所述復位信號只在量化信號的第一個上升沿到來之前有效。其中，所述補償移相模塊具體包括電容、充放電模塊以及判斷模塊；所述電容的一端接地，另一端分別與所述充放電模塊的輸出端以及所述判斷模塊的輸入端相連；量化信號作用于所述充放電模塊的輸入端，所述充放電模塊的控制端分別與所述判斷模塊的輸出端以及所述計數(shù)控制模塊的輸入端相連；采樣信號分別作用于所述判斷模塊的控制端以及所述計數(shù)控制模塊的控制端；所述電容的初始電壓為所述預(yù)設(shè)電壓，當判所述斷模塊判斷出量化高電平η的上升沿到來時，所述判斷模塊控制所述充放電模塊為所述電容充電，當采樣信號的上升沿到來時，所述判斷模塊控制所述充放電模塊停止為所述電容充電，并控制所述計數(shù)控制模塊，以使所述計數(shù)模塊開始對采樣信號的個數(shù)進行計數(shù)，所述第一預(yù)設(shè)條件是指量化高電平η的上升沿到來后且采樣信號的上升沿到來，當所述判斷模塊判斷出量化高電平η的下降沿到來后，控制所述充放電模塊為所述電容放電，當采樣信號的上升沿到來時，控制所述充放電模塊停止為所述電容放電，并控制所述計數(shù)控制模塊，以使所述計數(shù)模塊停止對采樣信號的周期計數(shù)，所述第二預(yù)設(shè)條件是指量化高電平η的下降沿到來后且采樣信號的上升沿到來；對后續(xù)的各個量化高電平的操作與量化高電平η相同，直至量化高電平n+i到來，量化高電平n+i的上升沿到來時，所述判斷模塊控制所述充放電模塊為所述電容充電，在采樣信號的上升沿時對所述電容電壓進行判斷，當所述電容電壓低于預(yù)設(shè)電壓時，繼續(xù)對電容充電；當所述電容的電壓高于所述預(yù)設(shè)電壓且采樣信號的上升沿到來時，停止為所述電容充電，并控制所述計數(shù)控制模塊，以使所述計數(shù)模塊對采樣信號的個數(shù)進行計數(shù)，所述第三預(yù)設(shè)條件是指量化高電平n+i到來，所述電容的電壓高于所述預(yù)設(shè)電壓以及采 樣信號的上升沿到來，直到當量化高電平n+i的下降沿到來時，且所述判斷模塊判斷出所述電容的電壓高于所述預(yù)設(shè)電壓時，控制所述充放電模塊為所述電容放電，當所述電容的電壓小于所述預(yù)設(shè)電壓且采樣信號的上升沿到來時，控制所述充放電模塊停止為所述電容放電，以及控制所述計數(shù)控制模塊，以使所述計數(shù)模塊停止對采樣信號周期計數(shù)，所述第四預(yù)設(shè)條件是指量化高電平n+i的下降沿到來，所述電容的電壓小于所述預(yù)設(shè)電壓以及采樣信號的上升沿到來，其中，所述η與i均為大于等于I的正整數(shù)，且n=l+kX (i+1)，其中，k=0，1，2，3，· · .。其中，所述判斷模塊具體包括N個D觸發(fā)器、第一或非門、第一非門、第一與門、第二非門、第一或門、第二與門、第三與門、第二或門以及比較器；量化信號分別作用于第一個D觸發(fā)器的時鐘輸入端以及第三與門的一輸入端，復位信號作用于所述N個D觸發(fā)器的復位端R，所述第一個D觸發(fā)器的輸入端D分別與所述第一個D觸發(fā)器的輸出端g、第二個D觸發(fā)器的時鐘輸入端以及第一或非門的第一輸入端相連，第二個D觸發(fā)器的輸入端D分別與所述第二個D觸發(fā)器的輸出端G以及所述第一或非門的第二輸入端相連，以此類推，第N-I個D觸發(fā)器的輸入端D分別與所述第N-I個D觸發(fā)器的輸出端P以及所述第一或非門的第N-I輸入端相連，所述第一或非門的輸出端分別與所述第一非門的輸入端以及所述第一與門的一輸入端相連，所述第一與門的另一輸入端與所述比較器的輸出端相連，所述第一與門的輸出端分別與所述第二與門的一輸入端以及所述第一或門的一輸入端相連，所述第一非門的輸出端與所述第一或門的另一輸入端相連，所述第一或門的輸出端與所述第三與門的另一輸入端相連，所述第三與門的輸出端與所述第二或門的一輸入端相連，所述第二或門的另一輸入端與所述第二與門的輸出端相連，所述第二或門的輸出端與所述第N個D觸發(fā)器的輸入端D相連，采樣信號作用于所述第N個D觸發(fā)器的時鐘輸入端，所述第N觸發(fā)器的輸出端Q為所述判斷模塊的輸出端。其中，所述判斷模塊還包括第三開關(guān)管；
脈沖信號作用于所述第三開關(guān)管的控制端，所述第三開關(guān)管的第一端與所述比較器的正相輸入端相連，所述第三開關(guān)管的第二端與基準電壓Vref的輸出端相連；當所述量化信號的第一個上升沿到來之前，所述脈沖信號控制所述第三開關(guān)管閉合，以形成為所述電容充電的線路，當所述電容的電壓為預(yù)設(shè)電壓時，所述脈沖信號控制所述第三開關(guān)管斷開，以使所述電容的初始電壓為所述預(yù)設(shè)電壓。其中，所述充放電模塊具體包括異或門、第一與門、或非門、非門、第一電流源、第二電流源、第一開關(guān)管以及第二
開關(guān)管；所述判斷模塊的輸出端與所述異或門的一輸入端相連，量化信號作用于所述異或門的另一輸入端，所述異或門的輸出端分別與所述第一與門的一輸入端以及所述非門的輸入端相連，量化信號作用于所述第一與門的另一輸入端，所述第一與門的輸出端與所述第 一開關(guān)管的控制端相連；所述非門的輸出端與所述或非門的一輸入端相連，量化信號作用于所述或非門的另一輸入端，所述或非門的輸出端與所述第二開關(guān)管的制端相連；所述第一電流源的輸入端與外接電源相連，輸出端與所述第一開關(guān)管的第一端相連；所述第一開關(guān)管的第二端與所述第二開關(guān)管的第一端相連，所述第二開關(guān)管的第二端與所述第二電流源的輸入端相連，所述第二電流源的輸出端接地；所述第一開關(guān)管的第二端為所述充放電模塊的輸出端；其中，所述第一電流源與所述第一開關(guān)管形成為所述電容供電的線路，所述第二電流源與所述第二開關(guān)管形成為所述電容放電的線路，所述第一電流源為所述電容充電的電流與所述第二電流源為所述電容放電的電流相同。其中，所述計數(shù)控制模塊包括第二與門；采樣信號作用于所述第二與門的一輸入端相連；所述第二與門的另一輸入端與所述判斷模塊的輸出端相連，所述第二與門的輸出端為所述計數(shù)控制模塊的輸出端；當所述采樣信號的上升沿到來且所述判斷模塊輸出高電平時，所述第二與門輸出高電平，以控制所述計數(shù)模塊計數(shù)。其中，所述計數(shù)控制模塊還包括延遲單元采樣信號作用于所述延遲單元的輸入端，所述延遲單元的輸出端與所述第二與門的所述一輸入端相連，所述延遲單元的延遲時間大于等于所述D觸發(fā)器的延遲時間。一種占空比檢測電路，包括上述任一項所述電路以及計數(shù)模塊。一種誤差消除方法，包括依次將當前量化高電平集合中的各個量化高電平進行移相，以使各個移相后的量化高電平的上升沿與采樣信號的上升沿同步，且各個移相后的量化高電平的長度為采樣信號周期的整數(shù)倍，所述當前量化高電平集合包括至少一個量化高電平；在所述各個移相后的量化高電平期間記錄采樣信號的個數(shù)；確定所述每一移相后的量化高電平的長度與未移相時對應(yīng)的量化高電平長度的差值作為所述量化高電平的誤差時長，將所述當前量化高電平集合中各個量化高電平的誤差時長之和稱為所述當前量化高電平集合的誤差時長；當距離所述當前量化高電平集合時間最近的量化高電平到來時，將所述最近的量化高電平對所述當前量化高電平集合的誤差時長進行補償，并將下一量化高電平集合作為當前量化高電平集合，所述最近的量化高電平屬于所述下一量化高電平集合。經(jīng)由上述的技術(shù)方案可知，采用本發(fā)明實施例提供的誤差消除電路，通過對當前量化高電平集合進行移相和補償，這樣得到的平均占空比的誤差僅僅在于最后一個量化高電平或最后一個采樣信號，從而大大降低了誤差。


為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)提供的附圖獲得其他的附圖。圖I為現(xiàn)有技術(shù)中的占空比檢測電路的不意圖；圖2為現(xiàn)有技術(shù)占空比檢測電路的波形圖； 圖3為本發(fā)明實施例提供的將量化信號移相以消除誤差A(yù)的波形圖；圖4為本發(fā)明實施例提供的第一種計算平均占空比方法的波形圖；圖5所示為本發(fā)明實施例提供的第一種計算平均占空比的第二種誤差波形圖；圖6為本發(fā)明實施例提供的第二種計算平均占空比的波形圖；圖7為本發(fā)明實施例提供的第一種誤差消除電路的結(jié)構(gòu)示意圖；圖8為本發(fā)明實施例提供的第二種誤差消除電路的結(jié)構(gòu)示意圖；圖9為本發(fā)明實施例提供的量化高電平移相補償?shù)牟ㄐ螆D；圖10為本發(fā)明實施例提供的一種判斷模塊的電路圖；圖11為本發(fā)明實施例提供的一種充放電模塊的電路圖；圖12為本發(fā)明實施例提供的一種計數(shù)控制模塊的電路圖；圖13為本發(fā)明實施例提供的一種判斷模塊的電路圖；圖14為本發(fā)明實施例提供的一種誤差消除電路的波形圖；圖15為本發(fā)明實施例提供的一種消除誤差電路的波形圖；圖16為本發(fā)明實施提供的一種誤差消除方法的流程圖。
具體實施例方式下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。發(fā)明人發(fā)現(xiàn)產(chǎn)生誤差A(yù)的原因在于量化高電平I的上升沿與采樣信號的上升沿不同步，如果對量化信號移相，使量化高電平I的上升沿與采樣信號的上升沿同步就可以消除誤差A(yù)，請參閱圖3，為本發(fā)明實施例提供的將量化信號移相以消除誤差A(yù)的波形圖。由于量化信號的高電平的長度不一定是采樣信號周期的整數(shù)倍，且量化信號各個高電平的長度可能不同，從圖3中可以看出由于量化高電平I不是采樣信號周期的整倍數(shù)，由于量化高電平I對應(yīng)兩個采樣信號的上升沿，所以實際計算得到的量化高電平I的長度比真實的量化高電平I的長度長BI，BI為量化高電平I的誤差時長，為了消除量化高電平I中多記錄的BI，可以先由量化高電平2去BI(即補償量化高電平1)，即量化高電平2的長度減少BI，如果在減去BI后的量化高電平2的上升沿與采樣信號的上升沿同步，那么計數(shù)模塊開始計數(shù)，如果不同步，從圖2中可以看出還需要將量化高電平2向右移Al，那么再將量化高電平2向右Al (即將量化高電平2進行移相)，再觸發(fā)計數(shù)模塊計數(shù)，當補償移相后的量化高電平2的下降沿到來時，控制計數(shù)模塊停止計數(shù)，從圖中可以看出量化高電平2多記錄了 B2，那么先將量化高電平3減去B2 (即補償量化高電平2)，如果量化高電平3在減去B2后的上升沿與采樣信號的上升沿同步，那么計數(shù)模塊開始計數(shù)，如果不同步，從圖2中可以看出還需要將量化高電平3向右移A3 (即將量化信號3進行移相)，才能使補償移相后的量化高電平3的上升沿與采樣信號的上升沿同步，那么將量化高電平3向右A2，再觸發(fā)計數(shù)模塊計數(shù)直至補償移相后的量化高電平3的下降沿到達時停止計數(shù)，對于量化高電平N都進行如圖3所示的補償一移相處理，如果在補償之后發(fā)現(xiàn)量化高電平N與采樣信號同步，那么不用移相，其中N為大于等于3的正整數(shù)。 當然，也可以先將量化高電平2進行移相，移相后的量化高電平2與采樣信號的上升沿同步，然后在補償量化高電平1，量化高電平3也可以先移相在補償量化高電平2，是先移相再補償，還是先補償再移相不影響本發(fā)明實施例的具體實現(xiàn)，所以在此不作具體限定。在不同的實際情況下，也可以每隔i個量化高電平，就補償一次，即量化高電平I至量化高電平i的誤差時長集中在量化高電平Ι+i補償，也就是，只對量化高電平I至量化高電平i進行移相，并記錄下量化高電平I至量化高電平i的誤差時長)，由于量化高電平i并不能對自己的誤差時長進行補償，所以量化高電平2X (i+1)在對量化高電平2X (i+l)+l至量化高電平i+2進行補償時，也會對量化高電平i+Ι進行補償，量化高電平2X (i+Ι)的誤差時長為所述量化高電平Ι+i的長度與，補償移相后的量化高電平Ι+i的長度與量化高電平i至量化高電平I中的誤差時長之和的差值的差值。綜上，量化高電平n+i對量化高電平η+i-l至量化高電平n_l的誤差時長進行補償，其中，η與i均為大于等于I的正整數(shù),且n=l+kX (i+1),其中，k=0, 1，2，3，. . ·。當η等于I時，量化高電平η-I為量化高電平0，由于實際上不存在量化高電平0，所以可以將量化高電平O的誤差時長看做零。量化高電平n+i可以先移相在補償量化高電平η至量化高電平n+i_l的誤差時長，是先移相再補償，還是先補償再移相不影響本發(fā)明實施例的具體實現(xiàn)，所以在此不作具體限定。假設(shè)量化高電平I對應(yīng)的量化信號周期定義為量化高電平I的上升沿至量化高電平2的上升沿，且將量化高電平I對應(yīng)的量化信號周期稱之為Tswl，量化高電平2對應(yīng)的周期定義為量化高電平2的上升沿至量化信號3的上升沿，且將量化高電平2對應(yīng)的量化信號周期稱之為Tsw2，量化高電平N對應(yīng)的周期定義為量化高電平N的上升沿至量化高電平N+1的上升沿，且將量化高電平N對應(yīng)的量化信號周期稱之為TswN，N個量化信號周期的平均占空比的定義如下
權(quán)利要求
1.一種誤差消除電路，其特征在于，包括補償移相模塊以及計數(shù)控制模塊； 量化信號作用于所述補償移相模塊的一輸入端，采樣信號作用于所述補償移相模塊的另一輸入端，所述補償移相模塊的輸出端與所述計數(shù)控制模塊的輸入端相連； 所述補償移相模塊依次將當前量化高電平集合中的各個量化高電平進行移相，以使各個移相后的量化高電平的上升沿與采樣信號的上升沿同步，且各個移相后的量化高電平的長度為采樣信號周期的整數(shù)倍，所述當前量化高電平集合包括至少一個量化高電平，并在所述各個移相后的量化高電平期間控制所述計數(shù)控制模塊，以使計數(shù)模塊記錄采樣信號的個數(shù)，確定所述每一移相后的量化高電平的長度與未移相時對應(yīng)的量化高電平長度的差值作為所述量化高電平的誤差時長，將所述當前量化高電平集合中各個量化高電平的誤差時長之和稱為所述當前量化高電平的誤差時長，當距離所述當前量化高電平集合時間最近的量化高電平到來時，將所述最近的量化高電平對所述當前量化高電平的誤差時長進行補償，并將下一量化高電平集合作為當前量化高電平集合，所述最近的量化高電平屬于所述下一量化高電平集合。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述電路，其特征在于，所述當前量化高電平集合中的各個移相后的量化高電平的上升沿時刻為滿足第一預(yù)設(shè)條件的時刻，下降沿時刻為滿足第二預(yù)設(shè)條件的時刻，補償移相后的所述最近的量化高電平的上升沿時刻為滿足第三預(yù)設(shè)條件的時刻，補償移相后的所述最近的量化高電平的下降沿時刻為滿足第四預(yù)設(shè)條件的時刻。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述電路，其特征在于，所述補償移相模塊具體包括 電容、充放電模塊以及判斷模塊； 所述電容的一端接地，另一端分別與所述充放電模塊的輸出端以及所述判斷模塊的輸入端相連；量化信號作用于所述充放電模塊的輸入端，所述充放電模塊的控制端分別與所述判斷模塊的輸出端以及所述計數(shù)控制模塊的輸入端相連；采樣信號分別作用于所述判斷模塊的控制端以及所述計數(shù)控制模塊的控制端； 所述電容的初始電壓為預(yù)設(shè)電壓，所述充放電模塊檢測到量化信號的上升沿到來時，為所述電容充電，在所述量化高電平到來，且所述判斷模塊檢測出所述采樣信號的上升沿到來以及所述電容的電壓不低于所述預(yù)設(shè)電壓時，控制所述充放電模塊停止為所述電容充電，并控制所述計數(shù)控制模塊，以使計數(shù)模塊對采樣信號的個數(shù)進行計數(shù)，所述第三預(yù)設(shè)條件是指采樣信號的上升沿到來且所述電容的電壓不低于所述預(yù)設(shè)電壓；當所述充放電模塊檢測到所述量化高電平的下降沿到來時，為所述電容放電，當所述判斷模塊檢測出所述采樣信號的上升沿到來且所述電容的電壓值低于所述預(yù)設(shè)電壓時，控制所述充放電模塊停止為所述電容放電，并控制所述計數(shù)控制模塊，以使計數(shù)模塊停止對采樣信號進行計數(shù)，所述第四預(yù)設(shè)條件是指所述采樣信號的上升沿到來且所述電容的電壓低于所述預(yù)設(shè)電壓且所述量化信號為低電平。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述電路，其特征在于，所述判斷模塊具體包括 比較器以及D觸發(fā)器； 所述比較器的正相輸入端分別與所述充放電模塊的輸出端以及所述電容的非接地端相連，所述預(yù)設(shè)電壓作用于所述比較器的反相輸入端，所述比較器的輸出端與所述D觸發(fā)器的輸入端D相連，采樣信號作用于所述D觸發(fā)器的時鐘信號輸入端，復位信號作用于所述D觸發(fā)器的復位端R，所述D觸發(fā)器的輸出端Qtl為所述判斷模塊的輸出端，所述復位信號只在量化信號的第一個上升沿到來之前有效。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述電路，其特征在于，所述補償移相模塊具體包括 電容、充放電模塊以及判斷模塊； 所述電容的一端接地，另一端分別與所述充放電模塊的輸出端以及所述判斷模塊的輸入端相連；量化信號作用于所述充放電模塊的輸入端，所述充放電模塊的控制端分別與所述判斷模塊的輸出端以及所述計數(shù)控制模塊的輸入端相連；采樣信號分別作用于所述判斷模塊的控制端以及所述計數(shù)控制模塊的控制端； 所述電容的初始電壓為所述預(yù)設(shè)電壓，當判所述斷模塊判斷出量化高電平η的上升沿到來時，所述判斷模塊控制所述充放電模塊為所述電容充電，當采樣信號的上升沿到來時，所述判斷模塊控制所述充放電模塊停止為所述電容充電，并控制所述計數(shù)控制模塊，以使所述計數(shù)模塊開始對采樣信號的個數(shù)進行計數(shù)，所述第一預(yù)設(shè)條件是指量化高電平η的上升沿到來后且采樣信號的上升沿到來，當所述判斷模塊判斷出量化高電平η的下降沿到來后，控制所述充放電模塊為所述電容放電，當采樣信號的上升沿到來時，控制所述充放電模塊停止為所述電容放電，并控制所述計數(shù)控制模塊，以使所述計數(shù)模塊停止對采樣信號的周期計數(shù)，所述第二預(yù)設(shè)條件是指量化高電平η的下降沿到來后且采樣信號的上升沿到來；對后續(xù)的各個量化高電平的操作與量化高電平η相同，直至量化高電平n+i到來，量化高電平n+i的上升沿到來時，所述判斷模塊控制所述充放電模塊為所述電容充電，在采樣信號的上升沿時對所述電容電壓進行判斷，當所述電容電壓低于預(yù)設(shè)電壓時，繼續(xù)對電容充電；當所述電容的電壓高于所述預(yù)設(shè)電壓且采樣信號的上升沿到來時，停止為所述電容充電，并控制所述計數(shù)控制模塊，以使所述計數(shù)模塊對采樣信號的個數(shù)進行計數(shù)，所述第三預(yù)設(shè)條件是指量化高電平n+i到來，所述電容的電壓高于所述預(yù)設(shè)電壓以及采樣信號的上升沿到來，直到當量化高電平n+i的下降沿到來時，且所述判斷模塊判斷出所述電容的電壓高于所述預(yù)設(shè)電壓時，控制所述充放電模塊為所述電容放電，當所述電容的電壓小于所述預(yù)設(shè)電壓且采樣信號的上升沿到來時，控制所述充放電模塊停止為所述電容放電，以及控制所述計數(shù)控制模塊，以使所述計數(shù)模塊停止對采樣信號周期計數(shù)，所述第四預(yù)設(shè)條件是指量化高電平n+i的下降沿到來，所述電容的電壓小于所述預(yù)設(shè)電壓以及采樣信號的上升沿到來，其中，所述η與i均為大于等于I的正整數(shù)，且n=l+kX (i+1)，其中，k=0，1，2，3，· · .。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述電路，其特征在于，所述判斷模塊具體包括 N個D觸發(fā)器、第一或非門、第一非門、第一與門、第二非門、第一或門、第二與門、第三與門、第二或門以及比較器； 量化信號分別作用于第一個D觸發(fā)器的時鐘輸入端以及第三與門的一輸入端，復位信號作用于所述N個D觸發(fā)器的復位端R，所述第一個D觸發(fā)器的輸入端D分別與所述第一個D觸發(fā)器的輸出端β、第二個D觸發(fā)器的時鐘輸入端以及第一或非門的第一輸入端相連,第二個D觸發(fā)器的輸入端D分別與所述第二個D觸發(fā)器的輸出端g以及所述第一或非門的第二輸入端相連，以此類推，第N-I個D觸發(fā)器的輸入端D分別與所述第N-I個D觸發(fā)器的輸出端^以及所述第一或非門的第N-I輸入端相連，所述第一或非門的輸出端分別與所述第一非門的輸入端以及所述第一與門的一輸入端相連，所述第一與門的另一輸入端與所述比較器的輸出端相連，所述第一與門的輸出端分別與所述第二與門的一輸入端以及所述第一或門的一輸入端相連，所述第一非門的輸出端與所述第一或門的另一輸入端相連，所述第一或門的輸出端與所述第三與門的另一輸入端相連，所述第三與門的輸出端與所述第二或門的一輸入端相連，所述第二或門的另一輸入端與所述第二與門的輸出端相連，所述第二或門的輸出端與所述第N個D觸發(fā)器的輸入端D相連，采樣信號作用于所述第N個D觸發(fā)器的時鐘輸入端，所述第N觸發(fā)器的輸出端Q為所述判斷模塊的輸出端。
7.根據(jù)權(quán)利要求3-6任一所述電路，其特征在于，所述判斷模塊還包括第三開關(guān)管；脈沖信號作用于所述第三開關(guān)管的控制端，所述第三開關(guān)管的第一端與所述比較器的正相輸入端相連，所述第三開關(guān)管的第二端與基準電壓Vref的輸出端相連； 當所述量化信號的第一個上升沿到來之前，所述脈沖信號控制所述第三開關(guān)管閉合，以形成為所述電容充電的線路，當所述電容的電壓為預(yù)設(shè)電壓時，所述脈沖信號控制所述第三開關(guān)管斷開，以使所述電容的初始電壓為所述預(yù)設(shè)電壓。
8.根據(jù)權(quán)利要求3-6任一所述電路，其特征在于，所述充放電模塊具體包括 異或門、第一與門、或非門、非門、第一電流源、第二電流源、第一開關(guān)管以及第二開關(guān)管； 所述判斷模塊的輸出端與所述異或門的一輸入端相連，量化信號作用于所述異或門的另一輸入端，所述異或門的輸出端分別與所述第一與門的一輸入端以及所述非門的輸入端相連，量化信號作用于所述第一與門的另一輸入端，所述第一與門的輸出端與所述第一開關(guān)管的控制端相連；所述非門的輸出端與所述或非門的一輸入端相連，量化信號作用于所述或非門的另一輸入端，所述或非門的輸出端與所述第二開關(guān)管的制端相連；所述第一電流源的輸入端與外接電源相連，輸出端與所述第一開關(guān)管的第一端相連；所述第一開關(guān)管的第二端與所述第二開關(guān)管的第一端相連，所述第二開關(guān)管的第二端與所述第二電流源的輸入端相連，所述第二電流源的輸出端接地；所述第一開關(guān)管的第二端為所述充放電模塊的輸出端； 其中，所述第一電流源與所述第一開關(guān)管形成為所述電容供電的線路，所述第二電流源與所述第二開關(guān)管形成為所述電容放電的線路，所述第一電流源為所述電容充電的電流與所述第二電流源為所述電容放電的電流相同。
9.根據(jù)權(quán)利要求1-6任一項所述電路，其特征在于，所述計數(shù)控制模塊包括第二與門； 采樣信號作用于所述第二與門的一輸入端相連；所述第二與門的另一輸入端與所述判斷模塊的輸出端相連，所述第二與門的輸出端為所述計數(shù)控制模塊的輸出端； 當所述采樣信號的上升沿到來且所述判斷模塊輸出高電平時，所述第二與門輸出高電平，以控制所述計數(shù)模塊計數(shù)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述電路，其特征在于，所述計數(shù)控制模塊還包括延遲單元 采樣信號作用于所述延遲單元的輸入端，所述延遲單元的輸出端與所述第二與門的所述一輸入端相連，所述延遲單元的延遲時間大于等于所述D觸發(fā)器的延遲時間。
11.一種占空比檢測電路，其特征在于，包括1-10任一項所述電路以及計數(shù)模塊。
12.—種誤差消除方法，其特征在于，包括依次將當前量化高電平集合中的各個量化高電平進行移相，以使各個移相后的量化高電平的上升沿與采樣信號的上升沿同步，且各個移相后的量化高電平的長度為采樣信號周期的整數(shù)倍，所述當前量化高電平集合包括至少一個量化高電平； 在所述各個移相后的量化高電平期間記錄采樣信號的個數(shù)； 確定所述每一移相后的量化高電平的長度與未移相時對應(yīng)的量化高電平長度的差值作為所述量化高電平的誤差時長，將所述當前量化高電平集合中各個量化高電平的誤差時長之和稱為所述當前量化高電平集合的誤差時長； 當距離所述當前量化高電平集合時間最近的量化高電平到來時，將所述最近的量化高電平對所述當前量化高電平集合的誤差時長進行補償，并將下一量化高電平集合作為當前量化高電平集合，所述最近的量化高電平屬于所述下一量化高電平集合。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述方法，其特征在于，還包括 根據(jù)所述記錄的采樣信號的個數(shù)，計算量化信號的占空比。
14.根據(jù)權(quán)利要求12或13所述方法，其特征在于，對當前量化高電平集合進行移相和補償?shù)倪^程是通過在設(shè)定的時間點對電容的充放電實現(xiàn)的。
全文摘要
本發(fā)明實施例公開了一種誤差消除電路、方法以及占空比檢測電路，誤差消除電路包括補償移相模塊以及計數(shù)控制模塊；量化信號作用于所述補償移相模塊的一輸入端，采樣信號作用于所述補償移相模塊的另一輸入端，所述補償移相模塊的輸出端與所述計數(shù)控制模塊的輸入端相連。采用本發(fā)明實施例提供的誤差消除電路，得到的平均占空比的誤差僅僅在于最后一個量化高電平或最后一個采樣信號，從而大大降低了誤差。
文檔編號H03K5/19GK102832913SQ201210299880
公開日2012年12月19日 申請日期2012年8月21日 優(yōu)先權(quán)日2012年8月21日
發(fā)明者羅東旭, 宗強, 方紹華 申請人:上海新進半導體制造有限公司