專利名稱：用于對輸入偏置電流的高敏感度檢測的系統(tǒng)及方法
技術領域：
本發(fā)明涉及用于對輸入偏置電流的高敏感度檢測的系統(tǒng)及方法，且更特定來說，涉及用于測試生產運算放大器的低電平輸入偏置電流的平臺及技術。
背景技術：
運算放大器(通?？s寫為“op amp”)為通常經配置以提供由正(“ + ”)引腳及負 引腳上的輸入之間的差表示的比較或差分信號的放大的常見半導體部件。運算放大
器通常用于放大低電平信號。為了實現(xiàn)較好的放大結果，特別是在放大器敏感度的極限下，對于運算放大器部件的制造商來說，能夠識別在不存在輸入信號的情況下流動到運算放大器輸入中的固有泄漏電流或輸入偏置電流為有用的。已知嘗試使用各種技術來測量運算放大器或其它部件的輸入偏置電流(有時稱為IIB電流)。如圖1A中所展示，在一些常規(guī)測試平臺(稱為微微安培表(PAM))中，受測試運算放大器或其它裝置通過弓I線連接到敏感度高得多的運算放大器(例如儀表運算放大器)，所述引線從受測試運算放大器通向遠程附接的儀表放大器。遠程放大器可用于將輸入偏置電流轉換為電壓并基于經轉換電壓而隨時間測量輸入偏置電流的值。在此類型的常規(guī)配置中，雖然遠程儀表放大器可具有比受測試運算放大器高的敏感度，但長度可多達數英寸或更大的引線的附接可能產生雜散電容、泄漏或使由遠程PAM進行的高敏感度測量偏移或失真的其它電效應。這些非預期效應可能使輸入偏置電流結果偏斜或無效。盡管可測量并校準這些效應中的一些效應，但那些泄漏及其它效應可能隨時間并不固定，從而形成因所述漂移所致的測量底限。如圖1B中所展示，在其它已知的運算放大器測試平臺中，可將伺服環(huán)路并聯(lián)添加到實際受測試裝置，所述伺服環(huán)路經由感測電容器隨時間對輸入偏置電流進行積分。在稱為遠程積分器的此布置中，所述伺服環(huán)路形成其中運算放大器的電壓輸出的斜率與輸入偏置電流成比例的反饋效應，可接著從所述所捕獲的電壓數據導出所述輸入偏置電流。敏感度可通過選擇感測電容器的值及測試運行時間的長度來調整，且可實現(xiàn)足以測量目前大多數經制造運算放大器的毫微微安培(fA)范圍內的所要電平。然而，遠程積分器測試布置的使用還要求將受測試裝置放置于電路中以實際上閉合伺服環(huán)路。然而，并不能保證所得電壓斜坡產生一致的結果，此取決于每一運算放大器或其它受測試裝置的特性。因此，使用遠程積分的測試平臺已需要使用通過獨立手段知曉其輸入偏置值在所要范圍內的參考或“標準(golden)”樣本單元。此要求使用此些參考或相關部件來周期性地插入并驗證遠程積分器平臺，此在制造或其它生產環(huán)境中可能并非高效或合意的。可期望提供用于對輸入偏置電流的高敏感度檢測的方法及系統(tǒng)，所述方法及系統(tǒng)可在不使用長的所附接連接引線或不需要參考部件的情況下提供在高敏感度內用于運算放大器或其它部件的電路內輸入偏置電流測試能力
發(fā)明內容
提供用于對輸入偏置電流的高敏感度檢測的系統(tǒng)及方法，其中可以高準確度或精確在至少亞微微安培范圍內測量包含運算放大器及其它裝置的受測試裝置的輸入偏置電流。根據實例性實施例，依照本發(fā)明教示的平臺及技術可產生工廠或生產批次的受測試裝置上的高準確度輸入偏置電流讀數，而不需要工廠場地上的參考部件且不使用可能影響低電平測量準確度的延長的引線。已確定，可能將伺服環(huán)路以與用于受測試裝置的插口或其它插座的可切換并聯(lián)配置插入到輸入偏置測試平臺中，所述伺服環(huán)路連接到板上儀表放大器(例如緩沖高敏感度運算放大器)。已確定，局部儀表放大器可用于在不存在經插入受測試裝置的情況下完成及驅動伺服環(huán)路，且因此確立輸入偏置電流的校準量的參考。已確定，接著在儀表放大器切入到與受測試裝置的并聯(lián)連接中的情況下插入受測試裝置準許對組合輸入偏置電流的測量，所述組合輸入偏置電流的一部分由受測試裝置引起，且其剩余部分由在不存在受測試裝置的情況下由儀表放大器產生或登記的經校準輸入偏置電流表示?？山又ㄟ^從所測量總數減去經校準輸入偏置電流來計算受測試裝置的輸入偏置電流。所描述的方法避免了對用于校準目的的“標準”或參考標準的需要、對將在測量過程中插入受測試裝置以閉合伺服環(huán)路的需要及對可能引起測量過程中的雜散電容或其它泄漏或失真的相對長引線的需要。


參考附圖來描述實例性實施例，附圖中圖1A及IB圖解說明根據各種方面的已知輸入偏置電流測試臺配置；圖2圖解說明根據本發(fā)明教示的各種方面的可在用于對輸入偏置電流的高敏感度檢測的系統(tǒng)及方法中使用的校準平臺；圖3圖解說明根據其它各種方面的可在用于對輸入偏置電流的高敏感度檢測的系統(tǒng)及方法中使用的校準平臺；且圖4圖解說明根據各種方面的可在用于對輸入偏置電流的高敏感度檢測的系統(tǒng)及方法中使用的總體校準處理。
具體實施例方式本發(fā)明的方面涉及用于對輸入偏置電流的高敏感度檢測的系統(tǒng)及方法。更特定來說，若干方面涉及用于并入有經由高敏感度測試放大器(例如儀表放大器)驅動的伺服環(huán)路的平臺及技術，所述伺服環(huán)路連接到運算放大器及/或其它受測試裝置。所述高敏感度測試放大器可由繼電器或其它開關控制以在受測試裝置未就位于電路中的情況下完成伺服環(huán)路電路，且產生測試平臺自身固有的輸入偏置電流的值。在確定所述值之后，可將運算放大器或其它受測試裝置插入到校準電路中，且可使用提供于伺服環(huán)路電路中的感測電容器來測量所得的組合輸入偏置電流(部分地由電路的高敏感度測試放大器部分引起且部分地由個別受測試裝置引起)。由于不使用外部PAM，因此不引入來自過量引線長度的雜散泄漏。由于校準了大致與受測試裝置位于同一地點的高敏感度測試放大器的輸入偏置電流，因此增強了針對每一受測試生產裝置確定的輸入偏置電流值的準確度。圖2圖解說明根據各種實施例的用于對輸入偏置電流的高敏感度檢測的總體平臺100。更特定來說，實施例涉及用于校準及測量受測試裝置104中的輸入偏置電流的平臺及技術。在若干實施例中，受測試裝置104可為或可包含運算放大器及/或其它電子或半導體裝置，例如振蕩器或其它部件。在若干實施例中，系統(tǒng)可并入有可經由校準繼電器108切換地連接到高敏感度測試放大器106的伺服環(huán)路102。在若干實施例中，高敏感度測試放大器106可為或可包含儀表放大器，所述儀表放大器可包括具有內置緩沖器電路以向高敏感度測試放大器106所附接到的電路呈現(xiàn)高阻抗輸入的運算放大器。在所展示的實施例中，高敏感度測試放大器106可經由校準繼電器108與伺服環(huán)路102串聯(lián)連接。在校準操作方面，最初可通過使校準繼電器108斷開而使高敏感度測試放大器106從具有伺服環(huán)路102的電路中切出。最初可通過簡單地不將受測試裝置104插入到插口或其它插座118中而類似地使受測試裝置104在所述電路之外，插口或其它插座118容納并將受測試裝置104插入到與伺服環(huán)路102串聯(lián)且與高敏感度測試放大器106并聯(lián)連接的電路中。在受測試裝置104未插入或安裝于插座118中的情況下，僅僅在校準繼電器108被切換成閉合的情況下經由高敏感度測試放大器106完成伺服環(huán)路102的電路。在校準繼電器108經閉合以完成所述電路的情況下，可以隔離方式在高敏感度測試放大器106上進行輸入偏置電流測量。在僅為說明性的實施方案中，可使用(例如)可從德克薩斯州達拉斯的德州儀器公司(Texas Instruments, Inc. , Dallas, Texas)獲得的市售INA116部件的儀表放大器作為高敏感度測試放大器106，制造商將所述部件的泄漏額定值定為+/_25fA，使得在使用所述部件的實施方案中，可在高于+/-25fA的最壞情況誤差限度或極限下進行校準。在若干實施方案中，可使用除前述商用部件以外的其它儀表放大器。在其它實施方案中，可針對高敏感度測試放大器106使用除儀表型放大器以外的其它高敏感度放大器。根據關于各種方面的實施例，高敏感度測試放大器106可安裝于或裝設于總體平臺100中靠近于插座118的實體位置處，舉例來說，以較短的距離(例如5mm、IOmm或其它距離)鄰接插座118或毗連插座118及因此毗連高敏感度測試放大器106。在關于各種其它方面的實施例中，高敏感度測試放大器106可永久性地安裝或附加于平臺100中且永久性地連接于平臺100的電路中，包含駐存于與伺服環(huán)路102的串聯(lián)連接中。在各種實施例中，高敏感度測試放大器106可在平臺100中始終維持通電狀態(tài)，從而使得平臺100可在比最壞情況更好且可能更好的精確度實現(xiàn)平均固定電流偏移校準。在校準操作方面，針對一生產批次或者在另一基礎上分組或收集的部件中的每一部件對高敏感度測試放大器106的測試及校準的準備可在插入第一高敏感度測試放大器106以用于工廠或其它測量或校準之前開始。在若干方面中，可在不插入高敏感度測試放大器106且伺服環(huán)路102及高敏感度測試放大器106處于通電狀態(tài)的情況下執(zhí)行初始校準操作。在若干方面中，可單獨地校準高敏感度測試放大器106的負引腳120及高敏感度測試放大器106的正引腳122中的每一個?？稍诓粚⑹軠y試裝置104插入到插座118中的情況下執(zhí)行對那些引腳上的輸入偏置電流的校準。在若干方面中，可接入或閉合校準繼電器108以將高敏感度測試放大器106連接到電路，且可接入或閉合負引腳積分繼電器110以將負引腳積分電容器112與伺服環(huán)路102及高敏感度測試放大器106串聯(lián)地連接到所述電路。在若干方面中，校準繼電器108及/或負引腳積分繼電器110的閉合可通過用戶的手動輸入或選擇及/或在自動化控制下(例如通過由結合平臺100操作的控制應用程序發(fā)出的命令)來完成。完成的電路可準許負引腳積分電容器112開始基于從106的負引腳120流出的偏置電流而充電。伺服環(huán)路102補償跨越負引腳積分電容器112的積累的電壓，且可通過在平臺100上托管的軟件或其它邏輯從所述電壓數字化此值。根據若干實施例，可接著根據下式計算針對不具有任何高敏感度測試放大器106的電路計算的輸入偏置電壓(I)輸入偏置電流(IIB) = Cint · Λ V (八時間· GAINloop)可接著將此值存儲于平臺100中或由平臺100存儲到(舉例來說)與平臺100附接或通信的個人計算機或工作站。可接著斷開校準繼電器108及負引腳積分電容器112，且可針對高敏感度測試放大器106的正引腳122通過以下操作來重復用于檢測及捕獲校準輸入偏置電流的相同過程在對應步驟中切換校準繼電器108及正引腳積分繼電器114以給正引腳積分電容器116充電，且相應地檢測并存儲正引腳122的輸入偏置電流(IIB)值。在不存在受測試裝置時以此方式捕獲平臺100的校準或背景輸入偏置電流(IIB)的情況下，可進行針對每一受測試裝置104的個別值檢測輸入偏置電流。在若干方面中，可插入所討論受測試裝置104，且可閉合或接入校準繼電器108、負引腳積分繼電器110及正引腳積分繼電器114中的每一者。此導致受測試裝置104的負引腳124并聯(lián)連接到高敏感度測試放大器106的負引腳120，且受測試裝置104的正引腳126并聯(lián)連接到高敏感度測試放大器106的正引腳122。接著由高敏感度測試放大器106及受測試裝置104兩者來驅動伺服環(huán)路102的電路?？山又鶕衔乃枋龅牟僮鱽頊y量高敏感度測試放大器106與受測試裝置104的組合元件的輸入偏置電流，其中組合輸入偏置電流是根據公式I計算的。在完成檢測組合輸入偏置電流之后，可如下計算個別受測試裝置104的輸入偏置電流值(2) I IB (DUT 的輸入偏置電流)=I IBmeasueed-1 IBcalibeated可針對受測試裝置104的負引腳124及正引腳126中的每一者計算此表達式。給定生產批次及/或其它組中的每一受測試裝置104的輸入偏置電流(IIB)的檢測及評估可以類似方式繼續(xù)進行。 在若干實施例中，且如圖3中所展示，除伺服環(huán)路102、高敏感度測試放大器106與受測試裝置104之間的連接以外，可通過插入一組受驅動保護電路128來增強測量及校準穩(wěn)定性及精確度。在所展示的實施例中，所述組受驅動保護電路128(由虛線指示但經由印刷電路或如平臺100的其它組件的其它電連接而連接)可感測高敏感度測試放大器106的負引腳120上的電壓及/或高敏感度測試放大器106的正引腳122上的電壓。所述組受驅動保護電路128可接著驅動相等的低阻抗電壓。當經實施時，所述組受驅動保護電路128可環(huán)繞高敏感度測試放大器106的在負引腳120及正引腳122上的高阻抗輸入，此致使在所述組受驅動保護電路128的環(huán)外部的任何泄漏電流被分流到接地導體130。此分流動作產生負輸入引腳120及正輸入引腳122周圍的潛在電壓差的缺乏，從而進一步減少與高敏感度測試放大器106相關聯(lián)的泄漏或輸入偏置電流。圖4圖解說明根據各種實施例的可在可于用于輸入偏置電流的高敏感度檢測的系統(tǒng)及方法中使用的總體校準操作中執(zhí)行的處理。在402中，處理可開始。在404中，可經由校準繼電器108及/或其它開關或控制件連接及/或激活高敏感度測試放大器106以與伺服環(huán)路102通信或鏈接。在若干方面中，高敏感度測試放大器106可在受測試裝置104從插座118及/或平臺100中的用于所述裝置的其它安裝結構移除的情況下連接到伺服環(huán)路102。在406中，可通過閉合、連接及/或激活負引腳積分繼電器110及/或其它開關或控制件來連接及/或激活高敏感度測試放大器106的負引腳120上的負引腳積分電容器112以與伺服環(huán)路102通信或鏈接。在408中，可經由負引腳積分電容器110及/或其它感測電容器或元件使用基于積分的測量來計算、確定、取樣及/或存儲負引腳120上的輸入偏置電流。在若干方面中，可通過評估以上公式I中的表達式來產生校準輸入偏置電流(IIB)。在若干方面中，可使用計算機、工作站及/或其它硬件、軟件及/或其它儀表或控制邏輯(未展示)來取樣、計算及/或存儲輸入偏置電流(IIB)。在410中，可斷開及/或切斷負引腳積分繼電器110，且可通過閉合、連接及/或激活正引腳積分繼電器114及/或其它開關或控制件將高敏感度測試放大器106的正引腳122上的正引腳積分電容器116連接到伺服環(huán)路102。在412中，可經由正引腳積分電容器116及/或其它感測電容器或元件使用基于積分的測量來計算、確定、取樣及/或存儲正引腳122上的輸入偏置電流。在若干方面中，可通過評估以上公式I中的表達式以與針對負引腳120相同的方式同樣地產生輸入偏置電流(IIB)，且可同樣地將其存儲到計算機、工作站及/或由平臺100托管或與其相關聯(lián)的其它儀表或控制邏輯(未展示)。在414中，在采用高敏感度測試放大器106的一組保護環(huán)電路128的實施方案中，可視情況將在所述組保護環(huán)電路128外部的任何泄漏電流分流到接地。在若干實施例中，可使用除所展示的所述組保護環(huán)電路128以外的其它保護或分流電路配置。在416中，可根據上文所述的公式2產生一生產批次或其它組受測試裝置104中的每一受測試裝置104的輸入偏置電流值(IIB)?？舍槍γ恳皇軠y試裝置104的負引腳120及正引腳122中的每一者捕獲及存儲受測試裝置104的輸入偏置電流的值。在若干方面中，一生產批次的受測試裝置104可為或可包含具有連續(xù)或以其它方式相關的序號的相同或類似部件(例如相同或不同部件類型的運算放大器)的離散組或集合，及/或其輸入偏置電流(IIB)值(例如，每輸入引腳)需要在裝運或交付給客戶或其它者之前測試的其它裝置集合。在若干方面中，受測試裝置104的負引腳120、正引腳122的所測量輸入偏置電流(IIB)值及/或其它所測試值可印刷于隨所述裝置一起裝運的印刷材料中、壓印于裝置的外殼中、記錄于所述裝置中的或與所述裝置相關聯(lián)的電子存儲器中及/或使用其它媒體存儲或遞送。在418中，可在目前生產批次的整個測試中或視情況在其它間隔內使高敏感度測試放大器106保持或維持于通電模式或狀態(tài)中。在420中，平臺100的操作者及/或自動化控制資源可完成對當前生產批次及/或其它所討論裝置群組的受測試裝置104組的輸入偏置電流(IIB)測試及/或其它測試或測量操作。在422中，平臺100的操作者及/或其它自動化控制資源可視情況(舉例來說，當切換到新一批的運算放大器或其它部件及/或切換到新的裝置類型或型號以用于校準操作時)在受測試裝置104不在電路中的情況下使用高敏感度測試放大器106重新執(zhí)行輸入偏置電流校準過程。在424中，平臺100的操作者及/或自動化控制資源可視情況起始對接下來的一個或數個生產批次或其它組的受測試裝置104的輸入偏置電流(IIB)測試。在426中，處理可重復、返回到前一處理點、跳到另一處理點或結束。結合本文中所揭示的實施方案所描述的各種說明性邏輯、邏輯塊、模塊、裝置及電路(包含個人計算機、蜂窩式電話、媒體回放裝置及服務器)均可借助或使用以下各項來實施或執(zhí)行通用處理器、數字信號處理器(DSP)、專用集成電路(ASIC)、現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)或其它可編程邏輯裝置、離散門或晶體管邏輯、離散硬件組件或其經設計以執(zhí)行本文所描述的功能的任何組合。通用處理器可為微處理器，但可同樣地為任何常規(guī)處理器、控制器、微控制器或狀態(tài)機。還可將處理器實施為計算裝置的組合，例如，一個或一個以上DSP與一個或一個以上微處理器的組合、多個微處理器或任何其它配置。在實例性實施方案中，所描述的功能可以硬件、軟件、固件或其任何組合來實施。如果以軟件實施，那么所述功能可作為一個或一個以上指令或代碼存儲于計算機可讀媒體上或經由所述計算機可讀媒體傳輸。計算機可讀媒體包含計算機存儲媒體。存儲媒體可為可由計算機存取的任何可用媒體。僅以實例的方式，計算機可讀媒體可包括RAM、ROM、EEPROM、CD-ROM、DVD-ROM。藍光光盤或其它光盤存儲裝置、磁盤存儲裝置或其它磁性存儲裝置或任何其它媒體可用于以指令或數據結構的形式載運或存儲所要的程序代碼且可由計算機存取。結合本文中所揭示的實施方案所描述的方法或算法的步驟可直接以硬件、以由處理器執(zhí)行的軟件模塊或以兩者的組合來體現(xiàn)。軟件模塊可駐存于RAM存儲器、快閃存儲器、ROM存儲器、EPROM存儲器、EEPROM存儲器、寄存器、硬磁盤、可裝卸磁盤、⑶-ROM或此項技術中已知的任何其它形式的存儲媒體中。實例性存儲媒體耦合到處理器及/或與處理器集成，使得所述處理器可從所述存儲媒體讀取信息及向所述存儲媒體寫入信息。盡管已描述其中伺服環(huán)路102及高敏感度測試放大器106實施為單獨部件的實施方案，但在若干方面中，伺服環(huán)路102及高敏感度測試放大器106可實施為組合及/或單片部件或電路。相反地，盡管已描述其中伺服環(huán)路102及高敏感度測試放大器106中的每一者實施為在平臺100中連接的單一部件的實施方案，但在若干實施例中，伺服環(huán)路102及106中的每一者或任一者可使用多個部件或元件實施及/或可與其它電路、部件或元件組合。此外，盡管已描述其中已將伺服環(huán)路102及/或高敏感度測試放大器106描述為作為模擬電路元件操作的離散部件的實施例，但在若干實施例中，由伺服環(huán)路102及/或高敏感度測試放大器106執(zhí)行的一些或所有功能或操作可使用數字電路及/或計算機軟件來實施。本發(fā)明所涉及領域的技術人員將了解，可對所描述的實例性實施例做出修改，且可在所主張發(fā)明的范圍內實現(xiàn)其它實施例。
權利要求
1.一種用于測量運算放大器中的輸入偏置電流的設備，其包括 伺服環(huán)路； 低泄漏放大器，其連接到所述伺服環(huán)路； 插座，其用于所述運算放大器，所述插座經配置以在所述運算放大器安裝于所述插座中時將所述運算放大器耦合到所述低泄漏放大器及所述伺服環(huán)路； 其中所述伺服環(huán)路經配置以 在所述運算放大器未安裝于所述插座中的情況下，產生所述低泄漏放大器的第一泄漏電流，及 在所述運算放大器安裝于所述插座中的情況下，產生耦合到所述運算放大器的所述低泄漏放大器的第二泄漏電流，以及 其中所述運算放大器的所述輸入偏置電流是通過從所述第二泄漏電流減去所述第一泄漏電流而產生。
2.根據權利要求1所述的設備，其中所述低泄漏放大器包括儀表放大器。
3.根據權利要求2所述的設備，其中所述儀表放大器包括耦合到高阻抗輸入緩沖器的儀表運算放大器。
4.根據權利要求1所述的設備，其中所述低泄漏放大器連接到用以將所述低泄漏放大器連接到所述伺服環(huán)路的開關。
5.根據權利要求1所述的設備，其中所述低泄漏放大器連接到用以將所述低泄漏放大器連接到至少一個電容器的至少一個開關，所述至少一個電容器用以對存在于所述低泄漏放大器的至少一個輸入引腳上的電壓進行積分。
6.根據權利要求1所述的設備，其中所述運算放大器連接到用以將所述運算放大器連接到至少一個電容器的至少一個開關，所述至少一個電容器用以對存在于所述運算放大器的至少一個輸入引腳上的電壓進行積分。
7.根據權利要求8所述的設備，其進一步包括至少一個保護電路，所述至少一個保護電路經配置以將所述運算放大器的所述至少一個輸入引腳與所述至少一個保護電路之間的電壓電位分流到接地。
8.一種測量運算放大器中的輸入偏置電流的方法，其包括 測量由連接到伺服環(huán)路的低泄漏放大器產生的第一泄漏電流； 將所述低泄漏放大器耦合到所述運算放大器； 將所述經耦合的低泄漏放大器與運算放大器連接到所述伺服環(huán)路； 測量由所述經由所述伺服環(huán)路耦合的低泄漏放大器與運算放大器產生的第二泄漏電流；及 從所述第二泄漏電流減去所述第一泄漏電流以產生所述運算放大器的所述輸入偏置電流。
9.根據權利要求8所述的方法，其中所述低泄漏放大器包括儀表放大器。
10.根據權利要求9所述的方法，其中所述儀表放大器包括耦合到高阻抗輸入緩沖器的儀表運算放大器。
全文摘要
本發(fā)明提供用于對輸入偏置電流的高敏感度檢測的系統(tǒng)及方法，尤其是與用于校準及測量運算放大器或其它裝置中的輸入偏置電流的平臺及技術相關的系統(tǒng)及方法。在若干實施例中，所述平臺可并入連接到(例如)儀表放大器的高敏感度測試放大器(106)的伺服環(huán)路(102)。在生產裝置未就位的情況下，所述測試放大器(106)可完成具有所述伺服環(huán)路(102)的可切換電路且檢測測試平臺的校準輸入偏置電流?？蓪⑹軠y試裝置(104)切入到所述伺服環(huán)路中，且在所述受測試裝置(104)及測試放大器(106)兩者在電路中的情況下測量總偏置電流。在插入所述裝置的情況下的所述所測量的電流與先前所測量的校準電流之間的差表示所討論裝置的偏置電流，而不附接外部儀表或不需要生產類型的參考部件。
文檔編號H03F3/45GK103052889SQ201180038171
公開日2013年4月17日 申請日期2011年9月29日 優(yōu)先權日2010年9月29日
發(fā)明者戴爾·A·希頓, 戴維·W·吉德里 申請人:德州儀器公司