專利名稱：鬼鍵檢測電路及其相關(guān)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種鬼鍵檢測電路(ghost key detecting circuit)，更具體講涉及 一種具有按鍵矩陣結(jié)構(gòu)的鍵盤及其相關(guān)方法。
背景技術(shù)：
目前說來，為了避免使用過多的接線而致使鍵盤本身的制造成本增加以及實際組 裝時的不便利性，現(xiàn)有技術(shù)的鍵盤多采用按鍵矩陣(key matrix)的方式進行設(shè)計。對于采 用按鍵矩陣進行設(shè)計的鍵盤而言，由于按鍵矩陣本身物理特性的關(guān)系，鬼鍵(ghost key)的 發(fā)生便會成為常規(guī)鍵盤設(shè)計時無法忽略的因素。一般來說，為了避免鬼鍵的發(fā)生，往往不得不增加按鍵矩陣的規(guī)模，或者是不得不 以二極管將每個按鍵加以區(qū)隔，然而，如此的作法將大幅提高鍵盤本身的制造成本。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的目的之一在于提出一種具有新穎性設(shè)計的鬼鍵檢測電路，以避免 發(fā)生鬼鍵，其并享有較低制造成本的功效。依據(jù)本發(fā)明的一個實施例，公開了 一種鬼鍵檢測電路。該鬼鍵檢測電路包含有帶 有預(yù)定阻值的多個開關(guān)元件、至少一組掃描線、至少一組返回線以及電平檢測電路，其中該 組返回線與該組掃描線彼此交會并分別耦接于該多個開關(guān)元件，且該電平檢測電路耦接于 該組返回線，并用來檢測對該組返回線上的測量電壓值以指示出該組掃描線上對應(yīng)于該組 返回線的至少一個開關(guān)元件處于不導(dǎo)通狀態(tài)或?qū)顟B(tài)。依據(jù)本發(fā)明的另一個實施例，還公開了一種使用于鬼鍵檢測電路的方法。該鬼鍵 檢測電路至少具有帶有預(yù)定阻值的多個開關(guān)元件、至少一組掃描線與至少一組返回線，該 組返回線與該組掃描線彼此交會并分別耦接于該多個開關(guān)元件。該方法包含有以下步驟 對該組返回線上的至少一個測量電壓值執(zhí)行電平檢測；當該組返回線中至少一條返回線上 的測量電壓值大于或等于一參考電壓值時，產(chǎn)生一邏輯電平信號以指示出目前掃描線上對 應(yīng)于該返回線的一開關(guān)元件處于不導(dǎo)通狀態(tài)；以及當該返回線上的該測量電壓值小于該參 考電壓值時，產(chǎn)生邏輯電平信號以指示出該目前掃描線上對應(yīng)于該返回線的該開關(guān)元件處 于導(dǎo)通狀態(tài)。


圖1為鍵盤所具有的標準二乘二按鍵矩陣的示意圖。圖2A 圖2D為圖1所示的按鍵矩陣發(fā)生鬼鍵的可能情形的示意圖。圖3為本發(fā)明的實施例的鬼鍵檢測電路的示意圖。圖4為圖3所示的鬼鍵檢測電路的等效電路示意圖。圖5為當圖3所示的第一開關(guān)元件所對應(yīng)的按鍵被按下時鬼鍵檢測電路的等效電 路示意圖。
圖6為當圖3所示的第二開關(guān)元件所對應(yīng)的按鍵被按下時鬼鍵檢測電路的等效電 路示意圖。圖7為當圖3所示的第三開關(guān)元件所對應(yīng)的按鍵被按下時鬼鍵檢測電路的等效電 路示意圖。圖8為當圖3所示的第四開關(guān)元件所對應(yīng)的按鍵被按下時鬼鍵檢測電路的等效電 路示意圖。圖9為當圖3所示的第二、第三、第四開關(guān)元件所對應(yīng)的按鍵被按下而剩余的第一 開關(guān)元件所對應(yīng)的按鍵未被按下時鬼鍵檢測電路的等效電路示意圖。圖10為圖9所示的等效電路的簡化電路圖。圖11A 圖11B為當?shù)谝?、第二掃描線動作時圖10所示的簡化等效電路的操作示意圖。圖12為圖3所示的電平檢測電路的另一實施變化示意圖。附圖中的附圖標記說明如下100按鍵矩陣300鬼鍵檢測電路305a 305d 開關(guān)元件310a、310b 電阻元件315 電平檢測電路320 處理器
具體實施例方式為清楚了解本發(fā)明的技術(shù)手段以及本發(fā)明所能夠解決的問題，下面先簡述鬼鍵發(fā) 生的成因。請參照圖1，圖1是一般鍵盤所具有的標準二乘二按鍵矩陣100的示意圖。按鍵 矩陣100包含有形成井字型(double cross)結(jié)構(gòu)的四個按鍵，即分別對應(yīng)的薄膜開關(guān)元件 SWi-SWp這其中，每一薄膜開關(guān)元件SWi-SW*皆具有第一端與第二端。當對應(yīng)于一薄膜 開關(guān)元件(例如SWJ的按鍵被按下時，其第一端會與其第二端相接觸，而使得該薄膜開關(guān) 元件處于導(dǎo)通狀態(tài)(on)，進而導(dǎo)致掃描線(scan line)乂工與返回線(return line)導(dǎo)通。 基于此現(xiàn)象，依據(jù)返回線A上的信號，而得知開關(guān)元件SWi所對應(yīng)的按鍵目前是否被按下。 反之，當對應(yīng)于該薄膜開關(guān)元件的按鍵并未被按下時，其第一端則不會與第二端相接觸，因 而該薄膜開關(guān)元件會處于不導(dǎo)通狀態(tài)(off)，返回線t上亦沒有信號傳遞。然而，正因為上述按鍵矩陣100的物理特性，只要上述開關(guān)元件SWi SW4中的任 意三個所對應(yīng)的按鍵被按下時，就算剩余的第四個按鍵實際上并未被按下，仍將錯誤判斷 第四個按鍵被按下。這種實際上未被按下但卻被誤判已被按下的按鍵，即稱之為鬼鍵。具 體來說，請參照圖2A 圖2D，其分別顯示圖1所示的按鍵矩陣100中鬼鍵現(xiàn)象的可能成因。 如圖2A所示，當開關(guān)元件SWi SW3被導(dǎo)通時，掃描線X2與返回線Y2會因另一導(dǎo)通路徑(即 經(jīng)由開關(guān)元件SWi SW3的黑色粗線條)而導(dǎo)通，使得開關(guān)元件SW4亦處于導(dǎo)通狀態(tài)，因而 誤判開關(guān)元件SW4所對應(yīng)的按鍵被按下(亦即發(fā)生鬼鍵)。另外，如圖2B所示，當開關(guān)元件 Sff2 SW4皆因其所對應(yīng)的按鍵被按下時，開關(guān)元件SW2 SW4將提供另一導(dǎo)通路徑，導(dǎo)致掃 描線&與返回線A導(dǎo)通，而誤判開關(guān)元件SWi所對應(yīng)的按鍵被按下。此外，如圖2C所示，由導(dǎo)通的開關(guān)元件SWpSWySWA所提供的另一導(dǎo)通路徑，將使得掃描線\與返回線Y2導(dǎo)通，因 而誤判開關(guān)元件SW2所對應(yīng)的按鍵被按下；再者，如圖2D所示，當掃描線X2與返回線A被 導(dǎo)通時，將誤判開關(guān)元件SW3所對應(yīng)的按鍵被按下。本發(fā)明所提出的新穎設(shè)計將可以避免產(chǎn)生上述的鬼鍵問題，亦即，本發(fā)明可真正 區(qū)別出按鍵是否實際上被按下。請參照圖3，圖3是本發(fā)明一實施例的鬼鍵檢測電路300的 示意圖。鬼鍵檢測電路300在本實施例中為一薄膜鍵盤(membrane keyboard)，而其包含有 分別具有阻值Re的至少一組掃描線(包括第一掃描線Si與一第二掃描線S2)、至少一組返 回線(包括第一返回線禮與一第二返回線R2)、帶有一預(yù)定阻值Rb的多個開關(guān)元件305a 305d、具有阻值Ra的兩電阻元件310a與310b、定義有參考電壓值Vth的電平檢測電路315 以及一處理器320，其中第一掃描線Si、第二掃描線S2、第一返回線禮與第二返回線R2彼 此交會且分別耦接于開關(guān)元件305a 305d，形成如圖3中所示的井字型結(jié)構(gòu)，而開關(guān)元件 305a 305d中每一開關(guān)元件皆具有第一端與一第二端，該第一、第二端中至少會有一端 (例如第一端)涂布有一特定導(dǎo)電材料(conductive material)(在本實施例中例如是導(dǎo)電 碳墨(Carbon))，使得每一開關(guān)元件具有預(yù)定阻值RB，開關(guān)元件305a與305b的第一端耦接 至第一掃描線其第二端則分別耦接至第一返回線隊與第一返回線R2，而開關(guān)元件305c 與305d的第一端耦接至第二掃描線S2，其第二端則分別耦接至第一返回線禮與第一返回線 R2，此外，開關(guān)元件305a、305c的第二端經(jīng)由第一返回線禮而耦接至電阻元件310a，而開關(guān) 元件305b、305d的第二端經(jīng)由第二返回線R2而耦接至電阻元件310b，電阻元件310a、310b 的另一端則耦接至一電壓源。如圖3所示，電平檢測電路315耦接于第一、第二返回線隊與 R2，其可檢測第一、第二返回線隊與R2上的測量電壓值，以指示出掃描線Si與S2上對應(yīng)于 返回線禮與R2的各開關(guān)元件305a 305d的狀態(tài)(處于不導(dǎo)通狀態(tài)或?qū)顟B(tài))。簡單來說，在本發(fā)明的實施例中，基于電阻元件310a與310b、多個開關(guān)元件 305a 305d、第一掃描線&與一第二掃描線S2本身的阻值，只要開關(guān)元件305a 305d的 導(dǎo)通狀態(tài)(即相對按鍵的被按壓狀態(tài))有所變化，便會影響第一、第二返回線禮與R2上的 測量電壓值，使得電平檢測電路315基于參考電壓值Vth與測量電壓值的比較可檢測出開關(guān) 元件305a 305d所對應(yīng)的按鍵的按壓狀態(tài)?；谇笆龅木纸Y(jié)構(gòu)，當一按鍵所對應(yīng)的開 關(guān)元件并非因為該按鍵被按下而導(dǎo)通時，其相對的測量電壓值會因為導(dǎo)通路徑通過另外三 個開關(guān)元件而得到較多的分壓，因而大于或等于參考電壓值Vth，而當一按鍵所對應(yīng)的開關(guān) 元件因為該按鍵被按下而導(dǎo)通時，其相對的測量電壓值因為導(dǎo)通路徑的不同而得到較少的 分壓，因而會小于參考電壓值Vth，于是，藉由比較測量電壓值與參考電壓值Vth，可得知按鍵 的按壓狀態(tài)。為了正確地判別出實際的按鍵狀態(tài)，電平檢測電路315分別對第一、第二返回線隊 與R2上的測量電壓值執(zhí)行一電平檢測運作，以藉此判斷對應(yīng)于每一開關(guān)元件實際的按鍵狀 態(tài)。具體來說，當電平檢測電路315判定第一返回線禮上的測量電壓值大于或等于參考電 壓值Vth時，電平檢測電路315即會產(chǎn)生第一邏輯電平信號SL,以指示出一目前掃描線(例 如SD上對應(yīng)于第一返回線禮的開關(guān)元件305a處于不導(dǎo)通狀態(tài)，亦即開關(guān)元件305a所對 應(yīng)的按鍵并未被按下。反之，當?shù)谝环祷鼐€隊上的測量電壓值小于參考電壓值Vth時，電平 檢測電路315指示出開關(guān)元件305a處于導(dǎo)通狀態(tài)，亦即，開關(guān)元件305a所對應(yīng)的按鍵被按 下。因此，耦接于電平檢測電路315的處理器320即可依據(jù)電平檢測電路315所產(chǎn)生的第
6一、第二邏輯電平信號&與SJ來判斷對應(yīng)于每一開關(guān)元件實際的按鍵狀態(tài)而不會有鬼鍵 發(fā)生。為了使電平檢測電路315能夠基于參考電壓值Vth檢測出第一、第二返回線隊與 R2上的電壓相對的變化，可利用其內(nèi)部晶體管與外部第一、第二返回線禮與R2電性連接關(guān) 系定義出參考電壓值Vth。詳細而言，電平檢測電路315包含有晶體管Qi Q4，其中晶體管 (^、93的控制端(基極)分別耦接至第一、第二返回線禮、民，而其發(fā)射極分別耦接至接地電 平，以及其集電極分別經(jīng)由電阻而耦接至供應(yīng)電壓VDD，此外，晶體管Q2、Q4的控制端(基極) 分別耦接至晶體管Qp Q3的集電極，晶體管Q2、Q4的發(fā)射極耦接至接地電平，而其集電極耦 接至處理器320，以分別提供第一、第二邏輯電平信號&與SJ予處理器320。參考電壓值 Vth設(shè)計為耦接于第一返回線禮的晶體管Qi、耦接于晶體管Qi的晶體管Q3的臨界電壓。以 晶體管Qi與晶體管Q2所組成的第一檢測模塊來說，當?shù)谝环祷鼐€隊的測量電壓值大于或 等于晶體管A的臨界電壓(即參考電壓值Vth)時，晶體管仏會導(dǎo)通并將其集電極電壓拉 低，致使晶體管92因基極-發(fā)射極的跨壓未能超過其臨界電壓(或稱導(dǎo)通電壓)而未導(dǎo)通。 此時，第一邏輯電平信號&會具有一高邏輯電平，表示第一返回線禮上的開關(guān)元件305a與 305c的其中之一所對應(yīng)到的按鍵并未被按下。反之，當?shù)谝环祷鼐€禮的測量電壓值小于參 考電壓值Vth時，晶體管Qi并不會導(dǎo)通，但因開路的關(guān)系會致使晶體管Q2的基極_發(fā)射極跨 壓超過其導(dǎo)通電壓，而讓第二晶體管92本身被導(dǎo)通。此時，第一邏輯電平信號&會具有一 低邏輯電平，表示第一返回線禮上的開關(guān)元件305a與305c的其中之一所對應(yīng)到的按鍵已 被按下。晶體管Q3與晶體管Q4所組成的第二檢測模塊的操作則與上述的第一檢測模塊相 似，在此不另贅述。因此，依據(jù)上述晶體管Qi Q4的導(dǎo)通與否，即可輸出具有不同邏輯電平 的信號來表示按鍵是否被按下。當電平檢測電路315基于參考電壓值Vth檢測出第一、第二 返回線隊與R2上的電壓相對的變化時，其相對產(chǎn)生的邏輯電平信號、可用來判斷對應(yīng)于 每一開關(guān)元件305a 305d的按鍵的狀態(tài)。請參照圖4，圖4是圖3所示的鬼鍵檢測電路300的等效電路示意圖。如圖4所 示，當?shù)谝粧呙杈€Si動作時，其連接到的電壓SCAR為一低電壓，而在本發(fā)明的實施例中這 相當于耦接于地。當?shù)诙呙杈€S2動作時，其連接到的電壓SCAN2亦為一低電壓，本發(fā)明的 實施例中相當于耦接至地。如圖4所示，開關(guān)元件305a 305d皆處于不導(dǎo)通的狀態(tài)時，供 應(yīng)電壓VDD會在第一、第二掃描線Sp S2動作時，分別透過電阻元件310a與310b來導(dǎo)通晶 體管Qi與Q3，使得第一、第二邏輯電平信號&、SJ如前所述會具有高邏輯電平。如此，處理 器320即依據(jù)第一、第二掃描線Sp S2中的哪一個啟動以及信號、SL'的邏輯電平來判斷 對應(yīng)于每一開關(guān)元件的按鍵的狀態(tài)。圖5 圖8分別繪示圖3所示和開關(guān)元件305a 305d所對應(yīng)的按鍵分別被按下 時的等效電路。為了簡化說明書內(nèi)容，在此僅以圖5來說明，由于其余圖6 圖8的電路操 作原理與圖5的電路操作原理相似，故在此不多贅述。如圖5所示，由于僅開關(guān)元件305a所對應(yīng)的按鍵被按下而其余按鍵未被按下，所 以供應(yīng)電壓VDD仍會在第二掃描線S2動作時，透過電阻元件310b來導(dǎo)通晶體管Q3，使得第 二邏輯電平信號SJ具有高邏輯電平。然而，第一返回線禮上的測量電壓值VK1在第一掃描 線Si動作時會因為分壓的關(guān)系而由下列等式所決定VE1 = VDD X (Rb+Rc) / (Ra+Rb+Rc)
由上可知，測量電壓值VK1的數(shù)值由電阻元件310a的阻值RA、開關(guān)元件305a的預(yù) 定阻值Rb與掃描線Si的阻值Re的關(guān)系所決定?；谏鲜鲫P(guān)系，當僅開關(guān)元件305a導(dǎo)通時， 第一返回線隊上的測量電壓值VK1小于晶體管Qi的臨界電壓(亦即參考電壓值Vth)，因此， 晶體管Qi將不會導(dǎo)通，而第一邏輯電平信號&會具有低邏輯電平，故前述的處理器320可 知道實際上僅開關(guān)元件305a所對應(yīng)的按鍵被按下；上述VK1與Vth的關(guān)系可表示成如下VE1 = VDD X (Rb+Rc) / (Ra+Rb+Rc) < Vth一般來說，可將阻值Ra設(shè)計為極大于阻值Rb與Re，以使得分壓后的電壓值VK1小于 晶體管Qi的臨界電壓Vth。請參照圖9，其所繪示為圖3的開關(guān)元件305b 305d所對應(yīng)的按鍵皆被按下而 剩余開關(guān)元件305a所對應(yīng)的按鍵未被按下時的等效電路；圖9的等效電路中關(guān)于阻值Ra、
的部分電路可被更精簡成圖10所示的電路示意圖，以及圖11A 圖11B則分別繪 示第一、第二掃描線Si與&動作時圖10所示的電路的等效電路示意圖。如圖11B所示， 當?shù)诙呙杈€S2動作時，電壓SCAN2相當于一接地電平而電壓SCAR相當于一供應(yīng)電壓電 平(例如 VDD)，此時電壓值 V^ 與 VR2 等于 VDD X (Rb+Rc) / (Ra+Rb+Rc)，如前所述，VDD X (Rb+Rc) / (Ra+Rb+Rc)會低于預(yù)定臨界電壓Vth，而藉由上述電平檢測電路315的運作，處理器320即可 正確判斷出開關(guān)元件305c與305d所對應(yīng)的按鍵被按下。另一方面，如圖11A所示，當?shù)谝?掃描線Si動作時，電壓SCAR相當于一接地電平而電壓SCAN2相當于一供應(yīng)電壓電平(例 如VDD)，此時電壓值VRi與VR2不同，其中電壓值VR2等于VDD X (Rb+Rc) / (Ra+Rb+Rc)，而電壓值 VR:因為分壓的關(guān)系由下列等式所決定VE1 = VDD X (3 X Rb+Rc) / (RA+3 X RB+RC)由此可知，此時測量電壓值VK1的數(shù)值由阻值RA、開關(guān)元件305b 305d的預(yù)定阻 值&與掃描線S2的阻值Re的關(guān)系所決定。所以，當按鍵矩陣中的任意三個按鍵被按下而 剩余按鍵未被按下時，雖然該剩余按鍵所對應(yīng)的開關(guān)元件會因為另一導(dǎo)電路徑而被判定為 導(dǎo)通狀態(tài)，然而，此導(dǎo)電路徑所造成的返回線測量電壓值會與該剩余按鍵實際被按下時的 導(dǎo)電路徑所造成的返回線測量電壓值有所不同，因此，本實施例可適當?shù)卦O(shè)計阻值Ra、Rb與 Rc，使得此時的測量電壓值VK1大于或等于晶體管仏的臨界電壓(亦即參考電壓值Vth)，因 此，晶體管Qi將會導(dǎo)通，而第一邏輯電平信號&具有高邏輯電平，故前述的處理器320可知 道實際上僅開關(guān)元件305a所對應(yīng)的按鍵并未被按下；上述VK1與Vth的關(guān)系可表示成如下VE1 = VDD X (3 X Rb+Rc) / (RA+3 X RB+RC)彡 Vth因此，藉由適當?shù)卦O(shè)計阻值Ra、Rb與Rc以及經(jīng)由電平檢測電路315中晶體管穩(wěn)定 的操作，本實施例的鬼鍵檢測電路300可達到如下的效果當形成一井字型結(jié)構(gòu)的按鍵中 的任意三個按鍵被按下而一剩余按鍵未被按下時，鬼鍵檢測電路300可正確地判斷出該剩 余按鍵實際上并未被按下，亦即，鬼鍵檢測電路300的設(shè)計不會因為井字型結(jié)構(gòu)本身的物 理特性而造成誤判，故可避免發(fā)生鬼鍵。此外，在另一實施例中，電平檢測電路315中的晶體管Qi Q4亦可利用場效應(yīng)晶 體管(Field Effect Transistor, FET)來實現(xiàn)。再者，在其他實施例中，第一、第二檢測模 塊的部分運作亦可利用運算放大器來實現(xiàn)；請參照圖12，其所繪示為圖3所示的電平檢測 電路315的另一實施變化。如圖所示，上述的第一、第二檢測模塊分別以運算放大器與 0P2來實現(xiàn)，其中運算放大器OPi與0P2作為比較器來使用，以比較器來說，其具有耦接于參考電壓值Vth的反向輸入端、用來接收第一返回線禮上的測量電壓值VK1的非反向輸入 端以及用來產(chǎn)生第一邏輯電平信號&的輸出端，當?shù)谝环祷鼐€上的測量電壓值VR1大于參 考電壓值Vth時，比較器OPi會輸出具有高邏輯電平的第一邏輯電平信號&，以及當?shù)谝环?回線上的測量電壓值VR1小于或等于大于參考電壓值Vth時，比較器OPi會輸出具有低邏輯 電平的第一邏輯電平信號、而比較器0P2的操作則與比較器的操作相似。因此，由上 可知，以運算放大器來實現(xiàn)電平檢測電路315，亦可使后續(xù)的處理器320判斷出井字型結(jié)構(gòu) 的按鍵是否實際上被按下；此一實施方式亦屬于本發(fā)明的范疇。另外，在另一實施例中，亦 可將前述第一、第二檢測模塊的其中之一以圖3所示的晶體管來實現(xiàn)，而將第一、第二檢測 模塊的其中另一以運算放大器來實現(xiàn)，換言之，在本發(fā)明的實施例中，第一、第二檢測模塊 中的至少其一會利用晶體管與相關(guān)的電阻來實現(xiàn)，而第一、第二檢測模塊中的至少其一會 利用運算放大器來實現(xiàn)；前述的種種實施變化皆符合本發(fā)明的精神。
以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例，凡依本申請權(quán)利要求書所做的均等變化與修 飾，皆應(yīng)屬本發(fā)明的涵蓋范圍。
權(quán)利要求
一種鬼鍵檢測電路，其包含有帶有預(yù)定阻值的多個開關(guān)元件；至少一組掃描線；至少一組返回線，所述一組返回線與所述一組掃描線彼此交會并分別耦接于所述多個開關(guān)元件；電平檢測電路，耦接于所述一組返回線，用來檢測所述一組返回線上的測量電壓值，以指示出所述一組掃描線上對應(yīng)于所述一組返回線的至少一個開關(guān)元件處于不導(dǎo)通或?qū)顟B(tài)。
2.如權(quán)利要求1所述的鬼鍵檢測電路，其中，當所述一組返回線上的至少一個電壓值大于或等于所述參考電壓值時，目前掃描線上 對應(yīng)于所述一組返回線的所述至少一個開關(guān)元件處于不導(dǎo)通狀態(tài)，當所述一組返回線上的至少一個電壓值小于所述參考電壓值時，目前掃描線上對應(yīng)于 所述一組返回線的所述至少一個開關(guān)元件處于導(dǎo)通狀態(tài)。
3.如權(quán)利要求1所述的鬼鍵檢測電路，其另包含有處理器，耦接于所述電平檢測電路，用來依據(jù)所述電平檢測電路所產(chǎn)生的第一、第二邏 輯電平信號，以判斷對應(yīng)于每一開關(guān)元件的按鍵的狀態(tài)。
4.如權(quán)利要求1所述的鬼鍵檢測電路，其另包含有多個電阻元件，每一電阻元件分別具有第一阻值且并分別耦接于所述一組返回線；其中每一開關(guān)元件的第一、第二端中的至少一端涂布有特定導(dǎo)電材料使得每一開關(guān)元 件各自具有所述預(yù)定阻值，而所述一組掃描線分別具有第三阻值；以及當所述多個開關(guān)元 件中的三個開關(guān)元件處于導(dǎo)通狀態(tài)而一剩余開關(guān)元件處于不導(dǎo)通狀態(tài)時，所述剩余開關(guān)元 件所對應(yīng)的一返回線上的一測量電壓值基于一電阻元件的第一阻值、所述三個開關(guān)元件的 預(yù)定阻值與所述一組掃描線的第三阻值的關(guān)系而大于或等于所述參考電壓值。
5.如權(quán)利要求1所述的鬼鍵檢測電路，其另包含有多個電阻元件，分別具有第一阻值且并分別耦接于所述一組返回線；其中每一開關(guān)元件的第一、第二端中的至少一端涂布有特定導(dǎo)電材料使得每一開關(guān)元 件各自具有所述預(yù)定阻值，而所述一組掃描線分別具有第三阻值；以及當對應(yīng)于所述一組 返回線的所述至少一個開關(guān)元件處于導(dǎo)通狀態(tài)時，所述開關(guān)元件所對應(yīng)的一返回線上的測 量電壓值基于所述第一阻值、所述開關(guān)元件的預(yù)定阻值與所述一組掃描線的第三阻值的關(guān) 系而小于所述參考電壓值。
6.如權(quán)利要求1所述的鬼鍵檢測電路，其中所述電平檢測電路包含有第一檢測模塊，耦接于所述第一返回線，用來接收所述第一返回線上的測量電壓值以 產(chǎn)生所述第一邏輯電平信號；以及第二檢測模塊，耦接于所述第二返回線，用來接收所述第二返回線上的測量電壓值以 產(chǎn)生所述第二邏輯電平信號。
7.如權(quán)利要求6所述的鬼鍵檢測電路，其中所述第一、第二檢測模塊中的至少一個檢 測模塊包含有第一晶體管，具有耦接于供應(yīng)電壓的第一端、耦接于接地電平的第二端與耦接于一返 回線的控制端，其中所述參考電壓值為所述第一晶體管的臨界電壓；以及第二晶體管，具有用來產(chǎn)生一邏輯電平信號的第一端、耦接于所述接地電平的第二端 與耦接于所述第一晶體管的所述第一端的控制端。
8.如權(quán)利要求6所述的鬼鍵檢測電路，其中所述第一、第二檢測模塊中的至少一個檢 測模塊包含有比較器，具有耦接于所述參考電壓值的反向輸入端、用來接收一返回線上的測量電壓 值的非反向輸入端與用來產(chǎn)生一邏輯電平信號的輸出端。
9.一種使用于鬼鍵檢測電路的方法，所述鬼鍵檢測電路至少具有帶有預(yù)定阻值的多個 開關(guān)元件、至少一組掃描線與至少一組返回線，所述一組返回線與所述一組掃描線彼此交 會并分別耦接于所述多個開關(guān)元件，以及所述方法包含有對所述一組返回線上的至少一個測量電壓值執(zhí)行電平檢測；其中，當所述一組返回線中的至少一條返回線上的測量電壓值大于或等于參考電壓值 時，產(chǎn)生邏輯電平信號以指示出目前掃描線上對應(yīng)于所述返回線的一開關(guān)元件處于不導(dǎo)通 狀態(tài)；以及其中，當所述返回線上的所述測量電壓值小于所述參考電壓值時，產(chǎn)生邏輯電平信號 以指示出所述目前掃描線上對應(yīng)于所述返回線的所述開關(guān)元件處于導(dǎo)通狀態(tài)。
10.如權(quán)利要求9所述的方法，其中所述鬼鍵檢測電路另包含有多個電阻元件，每一電 阻元件分別具有第一阻值且并分別耦接于所述一組返回線；以及，當所述多個開關(guān)元件中的三個開關(guān)元件處于導(dǎo)通狀態(tài)而一剩余開關(guān)元件處于不導(dǎo)通 狀態(tài)時，所述剩余開關(guān)元件所對應(yīng)的返回線上的測量電壓值由于一電阻元件的第一阻值、 所述三個開關(guān)元件的預(yù)定阻值與所述一組掃描線的第三阻值的關(guān)系而大于或等于所述參 考電壓值，當對應(yīng)于所述返回線的所述開關(guān)元件處于導(dǎo)通狀態(tài)時，所述開關(guān)元件所對應(yīng)的所述返 回線上的所述測量電壓值由于一電阻元件的第一阻值、所述開關(guān)元件的預(yù)定阻值與所述一 組掃描線的第三阻值的關(guān)系而小于所述參考電壓值。
全文摘要
本發(fā)明提供一種鬼鍵檢測電路，其包含有至少第一掃描線與第二掃描線、至少第一返回線與第二返回線、多個開關(guān)元件及電平檢測電路；其中電平檢測電路對第一、第二返回線上的測量電壓值執(zhí)行電平檢測，當一返回線上的測量電壓值大于或等于參考電壓值時，電平檢測電路產(chǎn)生邏輯電平信號以指示出目前掃描線上對應(yīng)于該返回線的開關(guān)元件處于不導(dǎo)通狀態(tài)，以及當返回線上的測量電壓值小于參考電壓值時，電平檢測電路產(chǎn)生邏輯電平信號以指示出目前掃描線上對應(yīng)于該返回線的開關(guān)元件處于導(dǎo)通狀態(tài)。
文檔編號H03M11/00GK101854176SQ20091013383
公開日2010年10月6日 申請日期2009年4月3日 優(yōu)先權(quán)日2009年4月3日
發(fā)明者劉文通, 郭國甫, 黃炯至 申請人:旭麗電子(廣州)有限公司;光寶科技股份有限公司