專利名稱：漏電檢測保護(hù)電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種安裝在電源插座內(nèi)的具有漏電檢測、保護(hù)功能的電路。
背景技術(shù)：
隨著具有漏電保護(hù)功能的電源插座(簡稱GFCI)產(chǎn)業(yè)的不斷發(fā)展，人們對具有漏 電保護(hù)功能的電源插座的功能、使用安全性、可靠性、使用壽命等要求越來越高。這使得業(yè) 內(nèi)人士不斷地致力于研究、改進(jìn)安裝在電源插座內(nèi)的漏電檢測保護(hù)電路，使其電路更簡潔、 功能更強(qiáng)勁、使用壽命更長。圖1為常見的漏電檢測保護(hù)電路電路圖。如圖所示，該漏電檢測保護(hù)電路主要包 括用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈Li、用于檢測低電阻故障的自檢測線圈L2、控制芯片ICl (型 號(hào)RV4145)、內(nèi)置有鐵芯的脫扣線圈SOL、可控硅SCR等。當(dāng)負(fù)載出現(xiàn)漏電故障、短路故障或 低電阻故障時(shí)，則供電線路中的電流不平衡，感應(yīng)線圈Li、自檢測線圈L2輸出信號(hào)給控制 芯片IC1，控制芯片ICl的管腳5輸出高電平，觸發(fā)可控硅SCR導(dǎo)通，使脫扣線圈SOL內(nèi)有電 流流過，脫扣線圈SOL內(nèi)產(chǎn)生磁場，內(nèi)置在脫扣線圈SOL內(nèi)的鐵芯動(dòng)作，從而使電源插座內(nèi) 的機(jī)械裝置動(dòng)作，使電源插座上的復(fù)位按鈕RESET脫扣/跳閘，使與復(fù)位按鈕RESET聯(lián)動(dòng)的 電力連接開關(guān)KR-2-1、KR-2-2、KR-3-1、KR-3-2斷開，切斷電源插座的電源輸出。這種常見的漏電檢測保護(hù)電路的弊端是當(dāng)負(fù)載出現(xiàn)漏電故障、短路故障、低電 阻故障等時(shí)，在較大的短路電流、故障電流沒有消失前，較大的故障電流、短路電流在快速 分?jǐn)嚯娏B接開關(guān)時(shí)，會(huì)有較強(qiáng)大的反電動(dòng)勢形成的脫扣沖擊電流，短時(shí)間里流經(jīng)可控硅 SCR、控制芯片IC1、脫扣線圈S0L，大大降低了可控硅SCR、控制芯片ICl的使用壽命，從而， 降低了漏電檢測保護(hù)電路的使用壽命。為此，本發(fā)明人對常見的漏電檢測保護(hù)電路進(jìn)行了改進(jìn)。 發(fā)明內(nèi)容鑒于上述原因，本實(shí)用新型的主要目的是提供一種可大大提升漏電檢測保護(hù)電路 使用壽命的新型漏電檢測保護(hù)電路。本實(shí)用新型的另一目的是提供一種對由于雷擊或其他原因引起的瞬間高壓對電 源插座以及與電源插座相連的其它設(shè)備引起的破壞具有保護(hù)作用的新型漏電檢測保護(hù)電路。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用以下技術(shù)方案一種漏電檢測保護(hù)電路，它包括 用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈、用于檢測低電阻故障的自檢測線圈、控制芯片、內(nèi)置有鐵芯的 脫扣線圈、可控硅；其特征在于該漏電檢測保護(hù)電路還包括至少一組開關(guān)組，該開關(guān)組由 并聯(lián)的一個(gè)常開開關(guān)和一個(gè)常閉開關(guān)構(gòu)成；在電源插座復(fù)位按鈕復(fù)位/脫扣/跳閘的瞬間， 所述構(gòu)成開關(guān)組的常開開關(guān)和常閉開關(guān)進(jìn)行切換；該開關(guān)組串聯(lián)在漏電檢測保護(hù)電路中；該漏電檢測保護(hù)電路還包括有一個(gè)復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)，該復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)與電 源插座的復(fù)位按鈕聯(lián)動(dòng)；復(fù)位按鈕被按下時(shí)，所述復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)閉合，復(fù)位按鈕復(fù)位/
5脫扣/跳閘時(shí)，所述復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)處于斷開狀態(tài)；該漏電檢測保護(hù)電路的公共地端通過所述復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)與電源輸入端的零 線相連，同時(shí)，漏電檢測保護(hù)電路的公共地端還與電源輸出端的零線相連；或者，漏電檢測 保護(hù)電路的公共電源端通過所述復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)與電源輸入端的火線相連，同時(shí)，漏電 檢測保護(hù)電路的公共電源端還與電源輸出端的火線相連。該漏電檢測保護(hù)電路還包括兩個(gè)用于放電的直角三角形或等腰三角形狀的尖端 避雷金屬片；其中，至少一個(gè)尖端避雷金屬片與電源輸出端的火線或零線相連；所述尖端 避雷金屬片相對放置，兩個(gè)尖端避雷金屬片下部內(nèi)側(cè)之間的距離大于其上部內(nèi)側(cè)之間的距罔。

圖1為常見的漏電檢測保護(hù)電路具體電路圖；圖2為本實(shí)用新型公開的漏電檢測保護(hù)電路實(shí)施例1具體電路圖；圖3為本實(shí)用新型公開的漏電檢測保護(hù)電路實(shí)施例2具體電路圖；圖4為本實(shí)用新型公開的漏電檢測保護(hù)電路實(shí)施例3具體電路圖；圖5為本實(shí)用新型公開的漏電檢測保護(hù)電路實(shí)施例4具體電路圖；圖6為本實(shí)用新型公開的漏電檢測保護(hù)電路實(shí)施例5具體電路圖；圖7為本實(shí)用新型公開的漏電檢測保護(hù)電路實(shí)施例6具體電路圖；圖8為本實(shí)用新型公開的漏電檢測保護(hù)電路實(shí)施例7具體電路圖。
具體實(shí)施方式
為了避免在較大的短路電流、故障電流沒有消失前，電路中產(chǎn)生的較強(qiáng)大的反電 動(dòng)勢形成的脫扣沖擊電流短時(shí)間里流經(jīng)可控硅V4、控制芯片IC1、脫扣線圈S0L，使可控硅 V4、脫扣線圈SOL、控制芯片ICl的壽命大大降低，從而，使漏電檢測保護(hù)電路的使用壽命降 低。本實(shí)用新型在漏電檢測保護(hù)電路中增加了至少一組開關(guān)組，該開關(guān)組由并聯(lián)的一個(gè)常 開開關(guān)和一個(gè)常閉開關(guān)構(gòu)成。在復(fù)位按鈕復(fù)位/跳閘/脫扣的瞬間，通過具有漏電保護(hù)功 能的電源插座內(nèi)的機(jī)械裝置，使該組開關(guān)組進(jìn)行切換，即，使該開關(guān)組中的常閉開關(guān)斷開， 常開開關(guān)閉合；或者使呈斷開狀態(tài)的常閉開關(guān)轉(zhuǎn)為閉合，呈閉合狀態(tài)的常開開關(guān)轉(zhuǎn)為斷開。 通過切換該開關(guān)組，使流過可控硅V4、脫扣線圈SOL中的較大的脫扣沖擊電流消失，從而， 使可控硅V4、脫扣線圈SOL避免在短時(shí)間通過大的沖擊電流，大大提高其使用壽命，進(jìn)一步 提高漏電檢測保護(hù)電路的使用壽命。在切換該開關(guān)組時(shí)，始終要保持一個(gè)開關(guān)閉合，一個(gè)開關(guān)斷開，其目的是保證漏 電檢測保護(hù)電路能夠正常工作，當(dāng)再次出現(xiàn)漏電故障、短路故障或其它故障時(shí)，漏電檢測保 護(hù)電路可以使電源插座內(nèi)的機(jī)械裝置動(dòng)作，使復(fù)位按鈕RESET脫扣/跳閘。如圖2-圖7所示，本實(shí)用新型在漏電檢測保護(hù)電路中增加的開關(guān)組由并聯(lián)的常閉 開關(guān)Kl和常開開關(guān)K2構(gòu)成。該開關(guān)組的一端與控制芯片ICl的控制信號(hào)輸出端5腳相連， 另一端與可控硅V4的控制極相連。在漏電檢測保護(hù)電路初始狀態(tài)時(shí)，常閉開關(guān)Kl閉合，常開開關(guān)K2斷開。當(dāng)復(fù)位 按鈕RESET被按下時(shí)，與復(fù)位按鈕RESET聯(lián)動(dòng)的復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4閉合，電源輸入端LINE的火線HOT經(jīng)感應(yīng)線圈Li、自檢測線圈L2、脫扣線圈SOL、模擬漏電流產(chǎn)生電阻R5、開 關(guān)K6或開關(guān)K5、抗沖擊限流電阻R6、復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4與電源輸入端的零線WHITE 相連，形成回路，產(chǎn)生模擬漏電流。當(dāng)漏電檢測保護(hù)電路檢測到故障電流后，控制芯片ICl 的5腳輸出高電平，使可控硅V4導(dǎo)通，脫扣線圈SOL內(nèi)有電流流過，脫扣線圈SOL內(nèi)產(chǎn)生磁 場，內(nèi)置在脫扣線圈SOL內(nèi)的鐵芯動(dòng)作，使電源插座內(nèi)的機(jī)械裝置動(dòng)作，機(jī)械裝置使電源插 座上的復(fù)位按鈕RESET復(fù)位，復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4斷開，模擬漏電流消失；與復(fù)位按鈕 RESET聯(lián)動(dòng)的電力連接開關(guān)KR-2-1、KR-2-2、KR-3-1、KR-3-2閉合，電源插座有電源輸出。 在復(fù)位按鈕RESET復(fù)位的瞬間，所述常閉開關(guān)Kl和常開開關(guān)K2進(jìn)行切換，即呈閉合狀態(tài)的 常閉開關(guān)Kl斷開，呈斷開狀態(tài)的常開開關(guān)K2閉合，在常閉開關(guān)K1、常開開關(guān)K2切換的過程 中，流過可控硅V4、脫扣線圈SOL中的脫扣沖擊電流消失，從而，使可控硅V4、脫扣線圈SOL 避免在短時(shí)間通過大的沖擊電流，大大提高可控硅V4、脫扣線圈SOL的使用壽命，進(jìn)一步提 高漏電檢測保護(hù)電路的使用壽命。供電電路正常工作之后，如果供電電路中出現(xiàn)故障如短路、漏電、電弧，漏電檢測 保護(hù)電路檢測到故障，使復(fù)位按鈕RESET跳閘/脫扣，在復(fù)位按鈕RESET跳閘/脫扣的瞬間， 所述常閉開關(guān)Kl和常開開關(guān)K2又進(jìn)行切換，即呈斷開狀態(tài)的常閉開關(guān)Kl轉(zhuǎn)為閉合，呈閉 合狀態(tài)的常開開關(guān)K2轉(zhuǎn)為斷開，在常閉開關(guān)K1、常開開關(guān)K2切換的過程中，使流過可控硅 V4、脫扣線圈SOL中的脫扣沖擊電流消失。如此周而復(fù)始，從而，使可控硅V4、脫扣線圈SOL 避免在短時(shí)間通過大的沖擊電流，大大提高可控硅V4、脫扣線圈SOL的使用壽命，進(jìn)一步提 高漏電檢測保護(hù)電路的使用壽命。如圖2-圖7所示，本實(shí)用新型增加在漏電檢測保護(hù)電路中的開關(guān)組還可以由并聯(lián) 的常閉開關(guān)K3和常開開關(guān)K4構(gòu)成。該開關(guān)組的一端最終與電源輸入端LINE的零線WHITE 相連，另一端與可控硅V4的陰極相連。在漏電檢測保護(hù)電路初始狀態(tài)時(shí)，常閉開關(guān)K3閉合，常開開關(guān)K4斷開。當(dāng)復(fù)位 按鈕RESET被按下時(shí)，與復(fù)位按鈕RESET聯(lián)動(dòng)的復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4閉合，電源輸入端 LINE的火線HOT經(jīng)感應(yīng)線圈Li、自檢測線圈L2、脫扣線圈SOL、模擬漏電流產(chǎn)生電阻R5、開 關(guān)K6或開關(guān)K5、抗沖擊限流電阻R6、復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4與電源輸入端的零線WHITE 相連，形成回路，產(chǎn)生模擬漏電流。當(dāng)漏電檢測保護(hù)電路檢測到故障電流后，控制芯片ICl 的5腳輸出高電平，使可控硅V4導(dǎo)通，脫扣線圈SOL內(nèi)有電流流過，脫扣線圈SOL內(nèi)產(chǎn)生磁 場，內(nèi)置在脫扣線圈SOL內(nèi)的鐵芯動(dòng)作，使電源插座內(nèi)的機(jī)械裝置動(dòng)作，電源插座內(nèi)的機(jī)械 裝置使電源插座上的復(fù)位按鈕RESET復(fù)位，同時(shí)，復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4斷開，模擬漏電流 消失；與復(fù)位按鈕RESET聯(lián)動(dòng)的電力連接開關(guān)KR-2-1、KR-2-2、KR-3-1、KR-3-2閉合，電源 插座有電源輸出。在復(fù)位按鈕RESET復(fù)位的瞬間，所述常閉開關(guān)K3和常開開關(guān)K4進(jìn)行切 換，即呈閉合狀態(tài)的常閉開關(guān)K3斷開，呈斷開狀態(tài)的常開開關(guān)K4閉合，在常閉開關(guān)K3、常開 開關(guān)K4切換的過程中，流過可控硅V4、脫扣線圈SOL中的脫扣沖擊電流消失，從而，使可控 硅V4、脫扣線圈SOL避免在短時(shí)間通過大的沖擊電流，大大提高可控硅V4、脫扣線圈SOL的 使用壽命，進(jìn)一步提高漏電檢測保護(hù)電路的使用壽命。供電電路正常工作之后，如果供電電路中出現(xiàn)故障，漏電檢測保護(hù)電路檢測到故 障后，使復(fù)位按鈕RESET跳閘/脫扣，在復(fù)位按鈕RESET跳閘/脫扣的瞬間，所述常閉開關(guān) K3和常開開關(guān)K4又進(jìn)行切換，即呈斷開狀態(tài)的常閉開關(guān)K3轉(zhuǎn)為閉合，呈閉合狀態(tài)的常開開
7關(guān)K4轉(zhuǎn)為斷開，在常閉開關(guān)K3、常開開關(guān)K4切換的過程中，使流過可控硅V4、脫扣線圈SOL 中的脫扣沖擊電流再次消失。如此周而復(fù)始地工作，從而，使可控硅V4、脫扣線圈SOL避免 在短時(shí)間通過大的沖擊電流，大大提高可控硅V4、脫扣線圈SOL的使用壽命，進(jìn)一步提高漏 電檢測保護(hù)電路的使用壽命。如圖2、圖5、圖6所示，本實(shí)用新型增加在漏電檢測保護(hù)電路中的開關(guān)組還可以由 并聯(lián)的常閉開關(guān)K5和常開開關(guān)K6構(gòu)成。該開關(guān)組的一端經(jīng)開關(guān)、電阻最終與電源輸入端 LINE的零線WHITE相連，另一端與控制芯片ICl的工作地管腳4相連。在漏電檢測保護(hù)電路初始狀態(tài)時(shí)，常閉開關(guān)K5閉合，常開開關(guān)K6斷開。當(dāng)復(fù)位 按鈕RESET被按下時(shí)，與復(fù)位按鈕RESET聯(lián)動(dòng)的復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4閉合，電源輸入端 LINE的火線HOT經(jīng)感應(yīng)線圈Li、自檢測線圈L2、脫扣線圈SOL、模擬漏電流產(chǎn)生電阻R5、開 關(guān)K6或開關(guān)K5、抗沖擊限流電阻R6、復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4與電源輸入端的零線WHITE 相連，形成回路，產(chǎn)生模擬漏電流。當(dāng)漏電檢測保護(hù)電路檢測到故障電流，控制芯片ICl的5 腳輸出高電平，使可控硅V4導(dǎo)通，脫扣線圈SOL內(nèi)有電流流過，脫扣線圈SOL內(nèi)產(chǎn)生磁場， 內(nèi)置在脫扣線圈SOL內(nèi)的鐵芯動(dòng)作，使電源插座內(nèi)的機(jī)械裝置動(dòng)作，電源插座內(nèi)的機(jī)械裝 置使電源插座上的復(fù)位按鈕RESET復(fù)位，在復(fù)位按鈕RESET復(fù)位的瞬間，所述復(fù)位通路啟動(dòng) 開關(guān)KR-4斷開，模擬漏電流消失，所述常閉開關(guān)K5和常開開關(guān)K6進(jìn)行切換，即常閉開關(guān)K5 斷開，常開開關(guān)K6閉合，在常閉開關(guān)K5、常開開關(guān)K6切換的過程中，由于控制芯片ICl的工 作地管腳4斷路，使控制芯片ICl無法正常工作，整個(gè)漏電檢測保護(hù)電路無法正常工作，流 過可控硅V4、脫扣線圈SOL中的脫扣沖擊電流消失。供電電路正常工作之后，由于常開開關(guān)K6閉合，如果供電電路中出現(xiàn)故障，漏電 檢測保護(hù)電路檢測到故障后，使復(fù)位按鈕RESET跳閘/脫扣，在復(fù)位按鈕RESET跳閘/脫扣 的瞬間，所述常閉開關(guān)K5和常開開關(guān)K6又進(jìn)行切換，即呈斷開狀態(tài)的常閉開關(guān)K5轉(zhuǎn)為閉 合，呈閉合狀態(tài)的常開開關(guān)K6轉(zhuǎn)為斷開，在常閉開關(guān)K5、常開開關(guān)K6切換的過程中，使控制 芯片ICl無法正常工作，整個(gè)漏電檢測保護(hù)電路不工作，流過可控硅V4、脫扣線圈SOL中的 脫扣沖擊電流消失。如此周而復(fù)始，從而，使可控硅V4、脫扣線圈SOL避免在短時(shí)間通過大 的沖擊電流，大大提高可控硅V4、脫扣線圈SOL的使用壽命，進(jìn)一步提高漏電檢測保護(hù)電路 的使用壽命。 如圖2-圖7所示，本實(shí)用新型增加在漏電檢測保護(hù)電路中的開關(guān)組還可以由并聯(lián) 的常閉開關(guān)K7和常開開關(guān)K8構(gòu)成。該開關(guān)組的一端通過電阻R1、二極管VI、脫扣線圈SOL 最終與電源輸入端LINE的火線HOT相連，另一端與控制芯片ICl的電源輸入管腳6相連。 在漏電檢測保護(hù)電路初始狀態(tài)時(shí)，常閉開關(guān)K7閉合，常開開關(guān)K8斷開。當(dāng)復(fù)位 按鈕RESET被按下時(shí)，與復(fù)位按鈕RESET聯(lián)動(dòng)的復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4閉合，電源輸入端 LINE的火線HOT經(jīng)感應(yīng)線圈Li、自檢測線圈L2、脫扣線圈SOL、模擬漏電流產(chǎn)生電阻R5、開 關(guān)K6或開關(guān)K5、抗沖擊限流電阻R6、復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4與電源輸入端的零線WHITE 相連，形成回路，產(chǎn)生模擬漏電流。當(dāng)漏電檢測保護(hù)電路檢測到故障電流，控制芯片ICl的5 腳輸出高電平，使可控硅V4導(dǎo)通，脫扣線圈SOL內(nèi)有電流流過，脫扣線圈SOL內(nèi)產(chǎn)生磁場， 內(nèi)置在脫扣線圈SOL內(nèi)的鐵芯動(dòng)作，使電源插座內(nèi)的機(jī)械裝置動(dòng)作，電源插座內(nèi)的機(jī)械裝 置使電源插座上的復(fù)位按鈕RESET復(fù)位，在復(fù)位按鈕RESET復(fù)位的瞬間，所述復(fù)位通路啟動(dòng) 開關(guān)KR-4斷開，模擬漏電流消失，所述常閉開關(guān)K7和常開開關(guān)K8進(jìn)行切換，即常閉開關(guān)K7斷開，常開開關(guān)K8閉合，在常閉開關(guān)K7、常開開關(guān)K8切換的過程中，由于控制芯片ICl的電 源輸入管腳6斷路，使控制芯片ICl無法正常工作，整個(gè)漏電檢測保護(hù)電路無法正常工作， 流過可控硅V4、脫扣線圈SOL中的脫扣沖擊電流消失。供電電路正常工作之后，由于常開開關(guān)K8閉合，如果供電電路中出現(xiàn)故障，漏電 檢測保護(hù)電路檢測到故障后，使復(fù)位按鈕RESET跳閘/脫扣，在復(fù)位按鈕RESET跳閘/脫扣 的瞬間，所述常閉開關(guān)K7和常開開關(guān)K8又進(jìn)行切換，即常閉開關(guān)K7閉合，常開開關(guān)K8斷 開，在常閉開關(guān)K7、常開開關(guān)K8切換的過程中，使流過可控硅V4、脫扣線圈SOL中的脫扣沖 擊電流再次消失。如此周而復(fù)始，從而，使可控硅V4、脫扣線圈SOL避免在短時(shí)間通過大的 沖擊電流，大大提高可控硅V4、脫扣線圈SOL的使用壽命，進(jìn)一步提高漏電檢測保護(hù)電路的 使用壽命。如圖3、圖4、圖7所示，本實(shí)用新型增加在漏電檢測保護(hù)電路中的由并聯(lián)的常閉開 關(guān)K5和常開開關(guān)K6構(gòu)成的開關(guān)組，其一端還可以與穿過感應(yīng)線圈Ll和自檢測線圈L2的 電源輸入端LINE的零線WHITE相連，另一端與控制芯片ICl的工作地管腳4相連。在電源插座上的復(fù)位按鈕RESET復(fù)位/跳閘/脫扣的瞬間，通過切換所述常閉開 關(guān)K5和常開開關(guān)K6，使流過可控硅V4、脫扣線圈SOL中的脫扣沖擊電流消失，從而，使可控 硅V4、脫扣線圈SOL避免在短時(shí)間通過大的沖擊電流，大大提高可控硅V4、脫扣線圈SOL的 使用壽命，進(jìn)一步提高漏電檢測保護(hù)電路的使用壽命。如圖4所示，本實(shí)用新型增加在漏電檢測保護(hù)電路中的開關(guān)組還可以由并聯(lián)的常 閉開關(guān)K9和常開開關(guān)KlO構(gòu)成。該開關(guān)組的一端通過抗沖擊限流電阻R6、復(fù)位通路啟動(dòng)開 關(guān)KR-4與電源輸入端LINE的火線HOT相連，另一端通過脫扣線圈SOL與可控硅V4的陽極 相連。在漏電檢測保護(hù)電路初始狀態(tài)時(shí)，常閉開關(guān)K9閉合，常開開關(guān)KlO斷開。當(dāng)復(fù)位 按鈕RESET被按下時(shí)，與復(fù)位按鈕RESET聯(lián)動(dòng)的復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4閉合，電源輸入端 LINE的火線HOT經(jīng)復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4、抗沖擊限流電阻R6、開關(guān)K9或開關(guān)K10、脫扣 線圈SOL、模擬漏電流產(chǎn)生電阻R5、開關(guān)K6或開關(guān)K5、感應(yīng)線圈Li、自檢測線圈L2與電源 輸入端的零線WHITE相連，形成回路，產(chǎn)生模擬漏電流。當(dāng)漏電檢測保護(hù)電路檢測到故障電 流后，使電源插座內(nèi)的機(jī)械裝置動(dòng)作，機(jī)械裝置使電源插座上的復(fù)位按鈕RESET復(fù)位，在復(fù) 位按鈕RESET復(fù)位的瞬間，所述復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4斷開，模擬漏電流消失，所述常閉開 關(guān)K9和常開開關(guān)KlO進(jìn)行切換，即常閉開關(guān)K9斷開，常開開關(guān)KlO閉合，在常閉開關(guān)K9、常 開開關(guān)KlO切換的過程中，使流過可控硅V4、脫扣線圈SOL中的脫扣沖擊電流消失。供電電路正常工作之后，由于常開開關(guān)KlO閉合，如果供電電路中出現(xiàn)故障，漏電 檢測保護(hù)電路檢測到故障，使復(fù)位按鈕RESET跳閘/脫扣，在復(fù)位按鈕RESET跳閘/脫扣的 瞬間，所述常閉開關(guān)K9和常開開關(guān)KlO又進(jìn)行切換，即呈斷開狀態(tài)的常閉開關(guān)K9轉(zhuǎn)為閉 合，呈閉合狀態(tài)的常開開關(guān)KlO轉(zhuǎn)為斷開，在常閉開關(guān)K9、常開開關(guān)KlO切換的過程中，使流 過可控硅V4、脫扣線圈SOL中的脫扣沖擊電流消失。如此周而復(fù)始，使可控硅V4、脫扣線圈 SOL避免在短時(shí)間通過大的沖擊電流，大大提高可控硅V4、脫扣線圈SOL的使用壽命，進(jìn)一 步提高漏電檢測保護(hù)電路的使用壽命。如圖5所示，本實(shí)用新型增加在漏電檢測保護(hù)電路中的由并聯(lián)的常閉開關(guān)K9和常 開開關(guān)KlO構(gòu)成的開關(guān)組，其一端還可以與穿過感應(yīng)線圈Ll和自檢測線圈L2的電源輸入端LINE的火線HOT相連，另一端通過脫扣線圈SOL與可控硅V4的陽極相連。在電源插座上的復(fù)位按鈕RESET復(fù)位/跳閘/脫扣的瞬間，通過切換所述常閉開 關(guān)K9和常開開關(guān)K10，使流過可控硅V4、脫扣線圈SOL中的脫扣沖擊電流消失，從而，使可 控硅V4、脫扣線圈SOL避免在短時(shí)間通過大的沖擊電流，大大提高可控硅V4、脫扣線圈SOL 的使用壽命，進(jìn)一步提高漏電檢測保護(hù)電路的使用壽命。如圖7所示，本實(shí)用新型增加在漏電檢測保護(hù)電路中的開關(guān)組還可以由并聯(lián)的常 閉開關(guān)Kll和常開開關(guān)K12構(gòu)成的開關(guān)組，其一端與脫扣線圈SOL相連，另一端與可控硅V4 的陽極相連。在電源插座上的復(fù)位按鈕RESET復(fù)位/跳閘/脫扣的瞬間，通過切換所述常閉開 關(guān)Kll和常開開關(guān)K12，使流過可控硅V4、脫扣線圈SOL中的脫扣沖擊電流消失，從而，使可 控硅V4、脫扣線圈SOL避免在短時(shí)間通過大的沖擊電流，大大提高可控硅V4、脫扣線圈SOL 的使用壽命，進(jìn)一步提高漏電檢測保護(hù)電路的使用壽命。為了提高漏電檢測保護(hù)電路的使用壽命，避免由于雷擊或其他原因引起的瞬間高 壓對漏電檢測保護(hù)電路以及與其相連的外部設(shè)備引起的破壞，如圖2、圖6、圖8所示，本實(shí) 用新型公開的漏電檢測保護(hù)電路還包括有一組用于放電的直角三角形或等腰三角形狀的 尖端避雷金屬片Ml和M2。其中，一個(gè)尖端避雷金屬片與穿過用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈 Li、用于檢測低電阻故障的自檢測線圈L2的電源輸入端火線HOT相連，另一個(gè)尖端避雷金 屬片與電源輸出端LOAD的零線WHITE相連。尖端避雷金屬片Ml和M2相對放置，兩個(gè)尖端 避雷金屬片下部內(nèi)側(cè)之間的距離大于其上部內(nèi)側(cè)之間的距離。當(dāng)電源插座電源輸出端有電源輸出時(shí)，如果出現(xiàn)由于雷擊或其他原因引起的瞬間 高壓，接于電源輸入端火線處的尖端避雷金屬片和接于電源輸出端零線處的尖端避雷金屬 片之間的空氣介質(zhì)被擊穿，形成空氣放電，大部分高壓通過避雷金屬片消耗掉，剩余一小部 分通過脫扣線圈SOL、壓敏電阻MOV消耗掉，從而保護(hù)了漏電檢測保護(hù)電路/電源插座，以及 與電源插座相連的其它設(shè)備的安全運(yùn)行。如圖3所示，在本實(shí)用新型的另一實(shí)施例中，所述一個(gè)尖端避雷金屬片Ml與穿過 用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈Ll、用于檢測低電阻故障的自檢測線圈L2的電源輸入端零線 WHITE相連，另一個(gè)尖端避雷金屬片M2經(jīng)電阻R7與電源輸出端LOAD的火線HOT相連。當(dāng)電源插座電源輸出端有電源輸出時(shí)，如果出現(xiàn)由于雷擊或其他原因引起的瞬間 高壓，接于電源輸入端零線處的尖端避雷金屬片和接于電源輸出端火線處的尖端避雷金屬 片之間的空氣介質(zhì)被擊穿，形成空氣放電，大部分高壓通過避雷金屬片消耗掉，剩余一小部 分通過脫扣線圈S0L、壓敏電阻MOV消耗掉，從而保護(hù)了漏電檢測保護(hù)電路/電源插座，以及 與電源插座相連的其它設(shè)備的安全運(yùn)行。如圖4、圖7所示，在本實(shí)用新型的另一實(shí)施例中，所述一個(gè)尖端避雷金屬片M2與 穿過用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈Li、用于檢測低電阻故障的自檢測線圈L2的電源輸入端 零線WHITE相連，另一個(gè)尖端避雷金屬片Ml與電源輸出端電源火線輸出插孔相連。當(dāng)電源插座電源輸出端的電源輸出插孔有電源輸出時(shí)，如果出現(xiàn)由于雷擊或其他 原因引起的瞬間高壓，接于電源輸入端零線處的尖端避雷金屬片和接于電源輸出端電源火 線輸出插孔處的尖端避雷金屬片之間的空氣介質(zhì)被擊穿，形成空氣放電，大部分高壓通過 避雷金屬片消耗掉，剩余一小部分通過脫扣線圈S0L、壓敏電阻MOV消耗掉，從而保護(hù)了漏電檢測保護(hù)電路/電源插座，以及與電源插座相連的其它設(shè)備的安全運(yùn)行。如圖5所示，在本實(shí)用新型的另一實(shí)施例中，所述一個(gè)尖端避雷金屬片Ml與穿過 用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈Ll、用于檢測低電阻故障的自檢測線圈L2的電源輸入端火線 HOT相連，另一個(gè)尖端避雷金屬片M2與電源輸出端電源零線輸出插孔相連。當(dāng)電源插座電源輸出端的電源插孔有電源輸出時(shí)，如果出現(xiàn)由于雷擊或其他原因 引起的瞬間高壓，接于電源輸入端火線處的尖端避雷金屬片和接于電源輸出端電源零線輸 出插孔處的尖端避雷金屬片之間的空氣介質(zhì)被擊穿，形成空氣放電，大部分高壓通過避雷 金屬片消耗掉，剩余一小部分通過脫扣線圈SOL、壓敏電阻MOV消耗掉，從而保護(hù)了漏電檢 測保護(hù)電路/電源插座，以及與電源插座相連的其它設(shè)備的安全運(yùn)行。所述一個(gè)尖端避雷金屬片還可以與電源輸出端電源火線輸出插孔相連；另一個(gè)尖 端避雷金屬片與電源輸出端的電源零線輸出插孔相連。另外，如圖2、圖5、圖6、圖8所示，本實(shí)用新型還在電源輸入端LINE零線WHITE上 串聯(lián)有一抗沖擊的限流電阻R6和復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4。復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4與復(fù) 位按鈕RESET聯(lián)動(dòng)，當(dāng)復(fù)位按鈕RESET被按下時(shí)，復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4閉合，當(dāng)復(fù)位按鈕 RESET復(fù)位、脫扣、跳閘時(shí)，復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4斷開。電源輸入端火線HOT經(jīng)脫扣線圈 SOL、模擬漏電流產(chǎn)生電阻R5、抗沖擊的限流電阻R6、復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4與電源輸入端 零線WHITE相連，構(gòu)成手動(dòng)模擬漏電流產(chǎn)生回路。漏電檢測保護(hù)電路的公共地端(如控制芯片ICl的工作地管腳4和可控硅V4的 陰極)通過復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4與電源輸入端的零線相連，同時(shí)，漏電檢測保護(hù)電路的 公共地端還與電源輸出端的零線相連。當(dāng)復(fù)位按鈕RESET被按下時(shí)，復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4閉合，電源輸入端火線HOT 經(jīng)脫扣線圈SOL、電阻R5、抗沖擊的限流電阻R6、閉合的復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4與電源輸 入端零線WHITE相連，產(chǎn)生模擬漏電流。如果漏電檢測保護(hù)電路沒有壽命終止，則復(fù)位按鈕 RESET復(fù)位，電源插座有電源輸出。在復(fù)位按鈕RESET復(fù)位的同時(shí)，復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4 斷開，模擬漏電流消失。當(dāng)電源插座有電源輸出后，該復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4早已斷開，整個(gè)漏電檢測保 護(hù)電路由電源輸出端供電。另外，當(dāng)復(fù)位按鈕RESET處于脫扣狀態(tài)時(shí)，由于復(fù)位通路啟動(dòng)開 關(guān)KR-4處于斷開狀態(tài)，使本實(shí)用新型漏電檢測保護(hù)電路不加載電壓，這樣也可以減少故障 的幾率，從而提高漏電檢測保護(hù)電路工作的可靠性和安全性。如圖3、圖4、圖7所示，在本實(shí)用新型的另一實(shí)施例中，在電源輸入端LINE火線 HOT上串聯(lián)抗沖擊的限流電阻R6和復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4。復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4與復(fù) 位按鈕RESET聯(lián)動(dòng)，當(dāng)復(fù)位按鈕RESET被按下時(shí)，復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4閉合，當(dāng)復(fù)位按鈕 RESET復(fù)位、脫扣、跳閘時(shí)，復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4斷開。電源輸入端火線HOT經(jīng)復(fù)位通路 啟動(dòng)開關(guān)KR-4、抗沖擊的限流電阻R6、脫扣線圈S0L、模擬漏電流產(chǎn)生電阻R5、開關(guān)K6或開 關(guān)K5、感應(yīng)線圈Li、自檢測線圈L2與電源輸入端零線WHITE相連，構(gòu)成手動(dòng)模擬漏電流產(chǎn) 生回路。漏電檢測保護(hù)電路的公共電源端(如控制芯片ICl的電源輸入管腳6和可控硅V4 的陽極)經(jīng)脫扣線圈S0L、抗沖擊的限流電阻R6、復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4最終與電源輸入 端的火線相連，同時(shí)，漏電檢測保護(hù)電路的公共電源端還與電源輸出端的火線相連。
11[0058]當(dāng)復(fù)位按鈕RESET被按下時(shí)，復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4閉合，電源輸入端火線HOT 經(jīng)復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4、抗沖擊的限流電阻R6、脫扣線圈SOL、模擬漏電流產(chǎn)生電阻R5、 感應(yīng)線圈Ll、自檢測線圈L2與電源輸入端零線WHITE相連，產(chǎn)生模擬漏電流。如果漏電檢測 保護(hù)電路沒有壽命終止，則復(fù)位按鈕RESET復(fù)位，電源插座有電源輸出。在復(fù)位按鈕RESET 復(fù)位的同時(shí)，復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4斷開，模擬漏電流消失。當(dāng)電源插座有電源輸出后，該復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4早已斷開，整個(gè)漏電檢測保 護(hù)電路由電源輸出端供電。另外，當(dāng)復(fù)位按鈕RESET處于脫扣狀態(tài)時(shí)，由于復(fù)位通路啟動(dòng)開 關(guān)KR-4處于斷開狀態(tài)，使本實(shí)用新型漏電檢測保護(hù)電路不加載電壓，這樣也可以減少故障 的幾率，從而提高漏電檢測保護(hù)電路工作的可靠性和安全性。如圖2所示，本實(shí)用新型在電源輸入端LINE零線WHITE與電源輸出端LOAD零線 WHITE之間還串聯(lián)有一只抗電源脫扣反沖擊的保護(hù)電阻R7，其阻值與R6相仿均為0至幾歐 姆。在復(fù)位按鈕RESET復(fù)位/脫扣/跳閘時(shí)，漏電檢測保護(hù)電路中會(huì)產(chǎn)生反向電動(dòng)勢，這只 抗電源脫扣反沖擊的保護(hù)電阻R7的作用是阻止反向電動(dòng)勢對電路的沖擊，提高漏電檢測 保護(hù)電路工作的可靠性。如圖3所示，在本實(shí)用新型的另一實(shí)施例中，在電源輸入端LINE火線HOT與電源 輸出端LOAD火線HOT之間串聯(lián)有一只抗電源脫扣反沖擊的保護(hù)電阻R7，其作用阻止反向 電動(dòng)勢對電路的沖擊，提高漏電檢測保護(hù)電路工作的可靠性。如圖2所示，本實(shí)用新型還調(diào)整了模擬漏電流產(chǎn)生電阻R5的連接位置，將電阻R5 并聯(lián)在壓敏電阻MOV的兩端。使電阻R5不僅具有模擬產(chǎn)生漏電流的作用，還增加了使可控 硅V4在快速截止時(shí)釋放能量的作用，從而提高漏電檢測保護(hù)電路的工作可靠性。綜上所述，由于本實(shí)用新型采用以上技術(shù)方案，故本實(shí)用新型公開的漏電檢測保 護(hù)電路具有以下突出的優(yōu)點(diǎn)(1)在漏電檢測保護(hù)電路中增加了至少一組開關(guān)組，該開關(guān)組由并聯(lián)的一個(gè)常開 開關(guān)和一個(gè)常閉開關(guān)構(gòu)成。在復(fù)位按鈕復(fù)位/跳閘/脫扣的瞬間，通過電源插座內(nèi)的機(jī)械 裝置，使該開關(guān)組切換，即，使該開關(guān)組中的常閉開關(guān)斷開，常開開關(guān)閉合，或者使呈斷開狀 態(tài)的常閉開關(guān)閉合，呈閉合狀態(tài)的常開開關(guān)斷開。通過切換該開關(guān)組，使流過可控硅V4、脫 扣線圈S0L、控制芯片IC 1中的脫扣沖擊電流消失，從而，使可控硅V4、脫扣線圈S0L、控制 芯片ICl避免在短時(shí)間內(nèi)通過大的沖擊電流，大大提高可控硅V4、脫扣線圈SOL的使用壽 命，進(jìn)一步提高漏電檢測保護(hù)電路的使用壽命。(2)由于本實(shí)用新型設(shè)置有一對用于放電的尖端金屬片，當(dāng)電源插座有電源輸出 時(shí)，如果電源輸出端的火線和零線間由于雷擊或其他原因引起瞬間高壓時(shí)，接于輸出端的 尖端避雷金屬片之間的空氣介質(zhì)被擊穿，形成空氣放電，將產(chǎn)生的瞬間高壓通過避雷金屬 片消耗掉，從而保護(hù)了漏電檢測保護(hù)電路/電源插座，以及與電源插座相連的其它設(shè)備的 安全運(yùn)行。(3)本實(shí)用新型還在電源輸入端零線或火線上串聯(lián)有一抗沖擊的限流電阻R6和 復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)KR-4。通過控制開關(guān)KR-4控制整個(gè)漏電檢測保護(hù)電路是否工作，保證漏 電保護(hù)電路在脫扣的狀態(tài)下不加載電壓，這樣也可以減少故障的幾率，從而提高漏電檢測 保護(hù)電路工作的可靠性和穩(wěn)定性；同時(shí)，還節(jié)約了電能。(4)由于本實(shí)用新型在電源輸入端與電源輸出端之間還增加了一只抗電源脫扣反沖擊的保護(hù)電阻R7，其電阻參數(shù)與R6相仿，阻值為0至幾歐姆之間，阻止反向電動(dòng)勢對電路 的沖擊，從而，進(jìn)一步提高了本實(shí)用新型的電路工作可靠性和安全性。(5)由于本實(shí)用新型還調(diào)整了模擬漏電流產(chǎn)生電阻R5的連接位置，將電阻R5并聯(lián) 在壓敏電阻MOV的兩端，使電阻R5不僅具有模擬產(chǎn)生漏電流的作用，還增加了使可控硅V4 在快速截止時(shí)釋放能量的作用，從而提高漏電保護(hù)電路的工作可靠性。以上所述是本實(shí)用新型的具體實(shí)施例及所運(yùn)用的技術(shù)原理，任何基于本實(shí)用新型 技術(shù)方案基礎(chǔ)上的等效變換，均屬于本實(shí)用新型保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求一種漏電檢測保護(hù)電路，它包括用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈(L1)、用于檢測低電阻故障的自檢測線圈(L2)、控制芯片(IC1)、內(nèi)置有鐵芯的脫扣線圈(SOL)、可控硅(V4)；其特征在于該漏電檢測保護(hù)電路還包括至少一組開關(guān)組，該開關(guān)組由并聯(lián)的一個(gè)常開開關(guān)和一個(gè)常閉開關(guān)構(gòu)成；在電源插座復(fù)位按鈕復(fù)位/脫扣/跳閘的瞬間，所述構(gòu)成開關(guān)組的常開開關(guān)和常閉開關(guān)進(jìn)行切換；該開關(guān)組串聯(lián)在漏電檢測保護(hù)電路中；該漏電檢測保護(hù)電路還包括有一個(gè)復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)(KR 4)，該復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)與電源插座的復(fù)位按鈕聯(lián)動(dòng)；復(fù)位按鈕被按下時(shí)，所述復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)(KR 4)閉合，復(fù)位按鈕復(fù)位/脫扣/跳閘時(shí)，所述復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)(KR 4)處于斷開狀態(tài)；該漏電檢測保護(hù)電路的公共地端通過所述復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)(KR 4)與電源輸入端的零線相連，同時(shí)，漏電檢測保護(hù)電路的公共地端還與電源輸出端的零線相連；或者，漏電檢測保護(hù)電路的公共電源端通過所述復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)(KR 4)與電源輸入端的火線相連，同時(shí)，漏電檢測保護(hù)電路的公共電源端還與電源輸出端的火線相連。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的漏電檢測保護(hù)電路，其特征在于所述開關(guān)組由并聯(lián)的常閉 開關(guān)(K1)和常開開關(guān)(K2)構(gòu)成；該開關(guān)組的一端與控制芯片(TC1)的控制信號(hào)輸出端(5腳)相連，另一端與可控硅 (V4)的控制極相連。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的漏電檢測保護(hù)電路，其特征在于所述開關(guān)組由并聯(lián)的常閉 開關(guān)(K3)和常開開關(guān)(K4)構(gòu)成；該開關(guān)組的一端經(jīng)所述復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)(KR-4)與電源 輸入端(LINE)的零線相連，另一端與可控硅(V4)的陰極相連。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的漏電檢測保護(hù)電路，其特征在于所述開關(guān)組由并聯(lián)的常閉 開關(guān)(K5)和常開開關(guān)(K6)構(gòu)成；該開關(guān)組的一端經(jīng)電阻、所述復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)(KR-4) 與電源輸入端(LINE)的零線相連，另一端與控制芯片(TC1)的工作地管腳⑷相連。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的漏電檢測保護(hù)電路，其特征在于所述開關(guān)組由并聯(lián)的常閉 開關(guān)(K7)和常開開關(guān)(K8)構(gòu)成；該開關(guān)組的一端通過電阻(R1)、二極管(V1)、脫扣線圈 (SOL)最終與電源輸入端(LINE)的火線相連，另一端與控制芯片(TC1)的電源輸入管腳 (6)相連。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的漏電檢測保護(hù)電路，其特征在于所述開關(guān)組由并聯(lián)的常閉 開關(guān)(K5)和常開開關(guān)(K6)構(gòu)成，該開關(guān)組的一端與穿過感應(yīng)線圈(L1)和自檢測線圈(L2) 的電源輸入端(LINE)的零線相連，另一端與控制芯片(TCl)的工作地管腳⑷相連。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的漏電檢測保護(hù)電路，其特征在于所述開關(guān)組由并聯(lián)的常閉 開關(guān)(K9)和常開開關(guān)(K10)構(gòu)成；該開關(guān)組的一端通過抗沖擊限流電阻(R6)、所述復(fù)位通 路啟動(dòng)開關(guān)(KR-4)與電源輸入端(LINE)的火線相連，另一端通過脫扣線圈(SOL)與可控 硅(V4)的陽極相連。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的漏電檢測保護(hù)電路，其特征在于所述開關(guān)組由并聯(lián)的常閉 開關(guān)(K9)和常開開關(guān)(K10)構(gòu)成，該開關(guān)組的一端與穿過感應(yīng)線圈(L1)和自檢測線圈 (L2)的電源輸入端(LINE)的火線相連，另一端通過脫扣線圈(SOL)與可控硅(V4)的陽極 相連。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的漏電檢測保護(hù)電路，其特征在于所述開關(guān)組由并聯(lián)的常閉開關(guān)(Kll)和常開開關(guān)(K12)構(gòu)成，該開關(guān)組的一端與脫扣線圈(SOL)相連，另一端與可控 硅(V4)的陽極相連。
10.根據(jù)權(quán)利要求1-9之一所述的漏電檢測保護(hù)電路，其特征在于該漏電檢測保護(hù)電 路還包括兩個(gè)用于放電的直角三角形或等腰三角形狀的尖端避雷金屬片(Ml和M2)；其中， 至少一個(gè)尖端避雷金屬片與電源輸出端的火線或零線相連；所述尖端避雷金屬片(Ml和M2)相對放置，兩個(gè)尖端避雷金屬片下部內(nèi)側(cè)之間的距離 大于其上部內(nèi)側(cè)之間的距離。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的漏電檢測保護(hù)電路，其特征在于所述一個(gè)尖端避雷金屬 片與穿過用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈(Li)、用于檢測低電阻故障的自檢測線圈(L2)的電 源輸入端(LINE)火線相連，另一個(gè)尖端避雷金屬片與電源輸出端(LOAD)的零線相連。
12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的漏電檢測保護(hù)電路，其特征在于所述一個(gè)尖端避雷金屬 片(Ml)與穿過用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈(Li)、用于檢測低電阻故障的自檢測線圈(L2) 的電源輸入端(LINE)零線相連，另一個(gè)尖端避雷金屬片(M2)與電源輸出端(LOAD)的火線 相連。
13.根據(jù)權(quán)利要求10所述的漏電檢測保護(hù)電路，其特征在于所述一個(gè)尖端避雷金屬 片與穿過用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈(Li)、用于檢測低電阻故障的自檢測線圈(L2)的電 源輸入端(LINE)零線或火線相連，另一個(gè)尖端避雷金屬片與電源輸出端電源火線輸出插 孔或電源輸出端電源零線輸出插孔相連。
14.根據(jù)權(quán)利要求10所述的漏電檢測保護(hù)電路，其特征在于所述一個(gè)尖端避雷金屬 片與電源輸出端電源火線輸出插孔相連；另一個(gè)尖端避雷金屬片與電源輸出端的電源零線 輸出插孔相連。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的漏電檢測保護(hù)電路，其特征在于所述漏電檢測保護(hù)電路 還包括一串聯(lián)的抗沖擊的限流電阻(R6)；該抗沖擊的限流電阻(R6)和所述復(fù)位通路啟動(dòng) 開關(guān)(KR-4)串聯(lián)在電源輸入端(LINE)零線或者火線中；電源輸入端火線經(jīng)所述脫扣線圈(SOL)、模擬漏電流產(chǎn)生電阻(R5)、抗沖擊的限流電 阻(R6)、復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)(KR-4)與電源輸入端零線相連，構(gòu)成模擬漏電流產(chǎn)生回路。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的漏電檢測保護(hù)電路，其特征在于所述復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān) (KR-4)的一端與電源輸入端零線相連，另一端最終與可控硅的陰極和控制芯片的工作地管 腳(4腳)相連；所述復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)(KR-4)的另一端還與電源輸出端的零線相連。
17.根據(jù)權(quán)利要求15所述的漏電檢測保護(hù)電路，其特征在于所述復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān) (KR-4)的一端與電源輸入端火線相連，另一端最終與可控硅的陽極和控制芯片的工作電源 輸入管腳(6腳)相連；所述復(fù)位通路啟動(dòng)開關(guān)(KR-4)的另一端還與電源輸出端的火線相 連。
18.根據(jù)權(quán)利要求16或17所述的漏電檢測保護(hù)電路，其特征在于所述模擬漏電流產(chǎn) 生電阻(R5)并聯(lián)在電路內(nèi)壓敏電阻(MOV)的兩端。
19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的漏電檢測保護(hù)電路，其特征在于所述漏電檢測保護(hù)電路 還包括一只抗電源脫扣反沖擊的保護(hù)電路電阻(R7)；該抗電源脫扣反沖擊的保護(hù)電阻(R7)串聯(lián)在電源輸入端(LINE)火線與電源輸出端 (LOAD)火線之間；或者，該抗電源脫扣反沖擊的保護(hù)電阻(R7)串聯(lián)在電源輸入端(LINE)零線與電源輸出 端(LOAD)零線之間。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種漏電檢測保護(hù)電路，它包括用于檢測漏電流的感應(yīng)線圈、用于檢測低電阻故障的自檢測線圈、控制芯片、內(nèi)置有鐵芯的脫扣線圈、可控硅；其特征在于該漏電檢測保護(hù)電路還包括至少一開關(guān)組，該開關(guān)組由并聯(lián)的一個(gè)常開開關(guān)和一個(gè)常閉開關(guān)構(gòu)成；該開關(guān)組串聯(lián)在漏電檢測保護(hù)電路中。在電源插座復(fù)位按鈕復(fù)位/脫扣/跳閘的瞬間，所述構(gòu)成開關(guān)組的常開開關(guān)和常閉開關(guān)進(jìn)行切換。使流過可控硅、脫扣線圈、控制芯片中的脫扣沖擊電流消失，從而，使可控硅、脫扣線圈、控制芯片避免在短時(shí)間內(nèi)通過大的沖擊電流，大大提高可控硅、脫扣線圈的使用壽命，進(jìn)一步提高漏電檢測保護(hù)電路的使用壽命。
文檔編號(hào)H02H3/32GK201774225SQ201020272169
公開日2011年3月23日 申請日期2010年7月27日 優(yōu)先權(quán)日2009年11月19日
發(fā)明者黃華道 申請人:黃華道