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半導體激光器用外延片的制作方法

文檔序號:10018732閱讀:681來源:國知局
半導體激光器用外延片的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型屬于半導體激光技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及半導體激光器外延片的效率提高和制備方法。
【背景技術(shù)】
[0002]半導體激光器是一種新型高效的小型光源,具有體積小、電光轉(zhuǎn)換效率高等優(yōu)點,在材料處理、醫(yī)療儀器、航天及軍事等領(lǐng)域獲得了廣泛的應用。
[0003]提高激光器的效率可從多方面考慮:1)減小量子阱內(nèi)非輻射復合造成的損耗;2)減小波導散射、自由載流子吸收等因素產(chǎn)生的光吸收和散射損耗??梢酝ㄟ^對器件的結(jié)構(gòu)進行設(shè)計、工藝改進等措施來解決上述問題。如采用不對稱波導,可以減小載流子溢出損耗,增加量子阱里兩種載流子的復合機率,提高激光器效率。應變補償結(jié)構(gòu)有如下優(yōu)點:可以提供更大的帶階,從而減少了載流子泄漏;可以提供更大的峰值增益;透明載流子濃度更低,使激光器有著低的閾值電流;透明載流子濃度隨溫度變化不大,激光器有好的溫度特性;緩解了有源區(qū)的應變,對材料生長有利,改善晶體生長質(zhì)量。
【實用新型內(nèi)容】
[0004]本實用新型提供一種半導體激光器外延片,所述外延片的結(jié)構(gòu)為:在n-GaAs襯底上由下至上外延生長n-GaAs緩沖層,I1-AlxGa1 xAs漸變層,I1-AlxGa1 xAs下限制層,AlxGa1 xAs下波導層,有源層,AlxGa1 xAs上波導層,p-AlxGal-xAs上限制層,p-AlxGal-xAs漸變層,ρ-GaAs頂層;所述AlxGal-xAs上波導層的厚度小于所述AlxGal_xAs下波導層厚度;所述有源層采用應變補償量子阱結(jié)構(gòu)。
[0005]進一步地,所述上波導層和下波導層的厚度范圍為70nm至2000nmo
[0006]進一步地,所述有源層由一個或多個InxGal-xAs量子講層及對應的GayAsl-yP勢皇層組成。
[0007]進一步地,本實用新型還提供一種上述的半導體激光器外延片的制備方法,其特征在于包括以下步驟:
[0008]I)以n-GaAs襯底作為基板;
[0009]2)在上述基板上采用金屬有機化學氣相沉積的方法(MOCVD) —次性沉積n_GaAs緩沖層,I1-AlxGa1 xAs漸變層,I1-AlxGa1 xAs下限制層,AlxGa1 xAs下波導層,有源層,AlxGa1 xAs上波導層,P-AlxGa1 xAs上限制層,P-AlxGa1 xAs漸變層,p-GaAs頂層。
【附圖說明】
[0010]通過參照附圖更詳細地描述本實用新型的示例性實施例,本實用新型的以上和其它方面及優(yōu)點將變得更加易于清楚,在附圖中:
[0011]圖1為本實用新型的半導體激光器用外延片的縱剖面結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0012]在下文中,現(xiàn)在將參照附圖更充分地描述本實用新型,在附圖中示出了各種實施例。然而,本實用新型可以以許多不同的形式來實施,且不應該解釋為局限于在此闡述的實施例。相反,提供這些實施例使得本公開將是徹底和完全的,并將本實用新型的范圍充分地傳達給本領(lǐng)域技術(shù)人員。
[0013]在下文中,將參照附圖更詳細地描述本實用新型的示例性實施例。
[0014]參考附圖1,本實用新型提供一種半導體激光器外延片,所述外延片的結(jié)構(gòu)為:在n-GaAs襯底上由下至上外延生長n-GaAs緩沖層,I1-AlxGa1 xAs漸變層,I1-AlxGa1 xAs下限制層,AlxGa1 xAs下波導層,有源層,AlxGa1 xAs上波導層,P-AlxGa1 xAs上限制層,p-AlxGal-xAs漸變層,P-GaAs頂層;所述AlxGal-xAs上波導層的厚度小于所述AlxGa1 xAs下波導層厚度;所述有源層采用應變補償量子阱結(jié)構(gòu)。
[0015]以上所述僅為本實用新型的實施例而已,并不用于限制本實用新型。本實用新型可以有各種合適的更改和變化。凡在本實用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換、改進等,均應包含在本實用新型的保護范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種半導體激光器外延片,其特征在于:所述外延片的結(jié)構(gòu)為:在n-GaAs襯底上由下至上外延生長n-GaAs緩沖層,I1-AlxGa1 xAs漸變層,I1-AlxGa1 xAs下限制層,AlxGa1 xAs下波導層,有源層,AlxGa1 xAs上波導層,p-AlxGal-xAs上限制層,p-AlxGal-xAs漸變層,p-GaAs頂層;所述AlxGal-xAs上波導層的厚度小于所述AlxGal_xAs下波導層厚度;所述有源層采用應變補償量子阱結(jié)構(gòu)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導體激光器外延片,其特征在于:所述上波導層和下波導層的厚度范圍為70nm至2000nmo3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導體激光器外延片,其特征在于:所述有源層由一個或多個InxGal-xAs量子講層及對應的GayAsl-yP勢皇層組成。
【專利摘要】本實用新型公開了一種半導體激光器用外延片。在n-GaAs襯底上由下至上外延生長n-GaAs緩沖層,n-AlxGa1-xAs漸變層,n-AlxGa1-xAs下限制層,AlxGa1-xAs下波導層,有源層,AlxGa1-xAs上波導層,p-AlxGa1-xAs上限制層,p-AlxGa1-xAs漸變層,p-GaAs頂層。其制備方法是:采用金屬有機化學氣相沉積(MOCVD)的方法在n-GaAs襯底上至下而上依次外延生長各層。本實用新型可以減少電子散失,提高有源區(qū)內(nèi)電子與空穴的輻射復合效率??梢陨L出高質(zhì)量的晶體,能提供更深的載流子阱和更大的增益;應變補償量子阱具有帶階大,波長漂移速度更低和透明載流子濃度更低等優(yōu)勢。
【IPC分類】H01S5/343
【公開號】CN204927806
【申請?zhí)枴緾N201520710645
【發(fā)明人】馬淑芳, 田海軍, 吳小強, 梁建, 董海亮
【申請人】山西飛虹微納米光電科技有限公司
【公開日】2015年12月30日
【申請日】2015年9月14日
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