本技術(shù)涉及半導(dǎo)體加工設(shè)備領(lǐng)域,具體地說,涉及一種晶片支承臺。
背景技術(shù):
1、現(xiàn)有技術(shù)在晶片加載臺(load?lock?stage)設(shè)置有多個(gè)凹槽,可以插入多個(gè)導(dǎo)銷來支撐晶片,但此結(jié)構(gòu)的缺點(diǎn)是一旦有外部各種原因的干擾,很容易導(dǎo)致晶片的偏移,如加載臺充氣和抽氣的過程中氣流、震動過大或者本身的誤差導(dǎo)致晶片的偏移,從而導(dǎo)致取片時(shí)發(fā)生晶片位置錯(cuò)誤。因此,亟待研發(fā)一種結(jié)構(gòu)簡單、能穩(wěn)定承載待加工晶片的晶片支承臺。
2、需要說明的是,在上述背景技術(shù)部分公開的信息僅用于加強(qiáng)對本實(shí)用新型的背景的理解,因此可以包括不構(gòu)成對本領(lǐng)域技術(shù)人員已知的現(xiàn)有技術(shù)的信息。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、針對現(xiàn)有技術(shù)中的問題,本實(shí)用新型的目的在于提供一種晶片支承臺,通過支撐部的臺階設(shè)計(jì)以及支撐件的可插卸,有效地減少制程中加載的晶片的偏移,提高了半導(dǎo)體制程的效率。
2、本實(shí)用新型的實(shí)施例提供了一種晶片支承臺,包括平臺、多個(gè)支撐件及與所述支撐件相連接的多個(gè)支承部;
3、所述平臺設(shè)置有容置所述支撐件的多個(gè)凹槽;
4、所述支承部呈臺階狀,臺階的表面用于支承晶片。
5、根據(jù)本實(shí)用新型的一些示例,所述支撐件為圓柱形。
6、根據(jù)本實(shí)用新型的一些示例,所述支承部的數(shù)量小于所述支撐件的數(shù)量。
7、根據(jù)本實(shí)用新型的一些示例,多個(gè)所述支撐件呈圓周分布,所述支承部的臺階形成環(huán)形表面。
8、根據(jù)本實(shí)用新型的一些示例,所述支承部的臺階形成環(huán)形表面是不連續(xù)的。
9、根據(jù)本實(shí)用新型的一些示例,多個(gè)所述支撐件沿周向均勻分布;和/或
10、所述支承部的臺階形成的環(huán)形表面的各個(gè)不連續(xù)的部分沿周向均勻分布。
11、根據(jù)本實(shí)用新型的一些示例,所述支承部的臺階形成的環(huán)形表面的外徑的曲率大于或者等于支承的晶片的外徑的曲率。
12、根據(jù)本實(shí)用新型的一些示例,所述支承部的臺階形成的環(huán)形表面的外徑與支承的晶片的外徑的差值在0.5毫米至1.0毫米之間。
13、根據(jù)本實(shí)用新型的一些示例,所述臺階的高度大于或者等于0.15毫米。
14、根據(jù)本實(shí)用新型的一些示例,各個(gè)所述支撐件的高度可升降。
15、本實(shí)用新型的晶片支承臺通過支撐部的臺階設(shè)計(jì)以及支撐件的可插卸,提高晶片支承臺支承的穩(wěn)定性,支承臺能夠方便有效地加載晶片,極大地減少加載的晶片的偏移概率,提高了半導(dǎo)體制程的效率,降低了半導(dǎo)體加工的成本。
1.一種晶片支承臺,其特征在于,包括平臺、多個(gè)支撐件及與所述支撐件相連接的多個(gè)支承部;
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶片支承臺,其特征在于,所述支撐件為圓柱形。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶片支承臺,其特征在于,所述支承部的數(shù)量小于所述支撐件的數(shù)量。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶片支承臺,其特征在于,多個(gè)所述支撐件呈圓周分布,所述支承部的臺階形成環(huán)形表面。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的晶片支承臺,其特征在于,所述支承部的臺階形成環(huán)形表面是不連續(xù)的。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的晶片支承臺,其特征在于,多個(gè)所述支撐件沿周向均勻分布;和/或
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的晶片支承臺,其特征在于,所述支承部的臺階形成的環(huán)形表面的外徑的曲率大于或者等于支承的晶片的外徑的曲率。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的晶片支承臺,其特征在于,所述支承部的臺階形成的環(huán)形表面的外徑與支承的晶片的外徑的差值在0.5毫米至1.0毫米之間。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶片支承臺,其特征在于,所述臺階的高度大于或者等于0.15毫米。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶片支承臺,其特征在于,各個(gè)所述支撐件的高度可升降。