專利名稱：一種快速測(cè)試轉(zhuǎn)接頭的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及通信領(lǐng)域，尤其涉及一種快速測(cè)試轉(zhuǎn)接頭。
背景技術(shù)：
目前現(xiàn)有的產(chǎn)品中測(cè)試接頭與對(duì)公接頭是兩個(gè)分開(kāi)的產(chǎn)品，在測(cè)試過(guò)程中會(huì)有較大程度的衰減，影響測(cè)試的準(zhǔn)確性。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問(wèn)題是針對(duì)以上弊端提供一種將測(cè)試接頭與對(duì)公接頭整合成一體的快速測(cè)試轉(zhuǎn)接頭。為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型的技術(shù)方案是:一種快速測(cè)試轉(zhuǎn)接頭，由測(cè)試接頭外殼、對(duì)公接頭外殼、羅套、絕緣介質(zhì)、內(nèi)導(dǎo)體組成，其中，所述的測(cè)試接頭外殼與對(duì)公接頭外殼通過(guò)羅套連接成一體。上述一種快速測(cè)試轉(zhuǎn)接頭，其中，所述的羅套一端設(shè)有一圈突出的帽沿用于固定測(cè)試接頭外殼，另一端壓進(jìn)對(duì)公接頭外殼中，測(cè)試接頭與對(duì)公接頭即形成了一個(gè)整體，又可相互旋轉(zhuǎn)，減少了磨損，增加了靈活性。上述 一種快速測(cè)試轉(zhuǎn)接頭，其中，所述的對(duì)公接頭外殼延外周軸向均勻設(shè)有若干縱向槽，增加了彈性和使用壽命，并能夠適用于各種不同規(guī)格的產(chǎn)品，節(jié)約了成本。上述一種快速測(cè)試轉(zhuǎn)接頭，其中，所述的對(duì)公接頭外殼延外周設(shè)有一未封口的圓形固定環(huán)，增強(qiáng)了彈性和回彈功能，增加了使用壽命。本實(shí)用新型的有益效果為:1.測(cè)試接頭外殼與對(duì)公接頭外殼通過(guò)羅套連接成一體，降低了成本，減少了測(cè)試中的衰減。2.測(cè)試接頭與對(duì)公接頭即形成了一個(gè)整體，又可相互旋轉(zhuǎn)，減少了磨損，增加了靈活性。3.增加了彈性和使用壽命，并能夠適用于各種不同規(guī)格的產(chǎn)品，節(jié)約了成本，增加了使用壽命。

圖1為本實(shí)用新型的主視圖圖2為本實(shí)用新型的剖視圖
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說(shuō)明。如圖2所示，一種快速測(cè)試轉(zhuǎn)接頭，由測(cè)試接頭外殼1、對(duì)公接頭外殼2、羅套3、絕緣介質(zhì)4、內(nèi)導(dǎo)體5組成，其中，所述的測(cè)試接頭外殼I與對(duì)公接頭外殼2通過(guò)羅套3連接成一體。羅套3 —端設(shè)有一圈突出的帽沿6用于固定測(cè)試接頭外殼1，另一端壓進(jìn)對(duì)公接頭外殼2中，測(cè)試接頭I與對(duì)公接頭2即形成了一個(gè)整體，又可相互旋轉(zhuǎn)，減少了磨損，增加了靈活性。如圖1所示，對(duì)公接頭外殼I延外周縱向均勻設(shè)有若干縱向槽7，設(shè)有一未封口的圓形固定環(huán)8，增加了彈性和使用壽命，并能夠適用于各種不同規(guī)格的產(chǎn)品，節(jié)約了成本，增加了使用壽 命。
權(quán)利要求1.一種快速測(cè)試轉(zhuǎn)接頭，由測(cè)試接頭外殼、對(duì)公接頭外殼、羅套、絕緣介質(zhì)、內(nèi)導(dǎo)體組成，其特征為，所述的測(cè)試接頭外殼與對(duì)公接頭外殼通過(guò)羅套連接成一體。
2.如權(quán)利要求1所述的一種快速測(cè)試轉(zhuǎn)接頭，其特征為，所述的羅套一端設(shè)有一圈突出的帽沿用于固定測(cè)試接頭外殼，另一端壓進(jìn)對(duì)公接頭外殼中。
3.如權(quán)利要求1所述的一種快速測(cè)試轉(zhuǎn)接頭，其特征為，所述的對(duì)公接頭外殼延外周軸向均勻設(shè)有若干縱向槽。
4.如權(quán)利要求1所述的一種快速測(cè)試轉(zhuǎn)接頭，其特征為，所述的對(duì)公接頭外殼延外周設(shè)有一未封 口的圓形固定環(huán)
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種將測(cè)試接頭與對(duì)公接頭整合成一體的快速測(cè)試轉(zhuǎn)接頭，由測(cè)試接頭外殼、對(duì)公接頭外殼、羅套、絕緣介質(zhì)、內(nèi)導(dǎo)體組成，其中，所述的測(cè)試接頭外殼與對(duì)公接頭外殼通過(guò)羅套連接成一體，降低了成本，減少了測(cè)試中的衰減。
文檔編號(hào)H01R13/512GK203135078SQ20132002400
公開(kāi)日2013年8月14日 申請(qǐng)日期2013年1月17日 優(yōu)先權(quán)日2013年1月17日
發(fā)明者李金林, 李龍 申請(qǐng)人:鎮(zhèn)江市丹徒區(qū)佳興電子有限公司