專利名稱:殘?jiān)鼊冸x液組合物及使用其的半導(dǎo)體元件的洗滌方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及在IC、LSI等半導(dǎo)體元件、液晶面板元件的配線工序中使用的殘?jiān)鼊?離液組合物,進(jìn)一步涉及使用該組合物將抗蝕劑殘?jiān)镆约皝?lái)源于配線材料的殘?jiān)飫冸x 的方法。更詳細(xì)而言,本發(fā)明涉及在具有由鋁(Al)或含有90質(zhì)量%以上Al的鋁合金構(gòu)成 的金屬配線的半導(dǎo)體基板的制造工序中,適于將為了形成導(dǎo)通孔而進(jìn)行干蝕刻以及灰化后 殘留的抗蝕劑殘?jiān)皝?lái)源于配線材料的金屬殘?jiān)鼊冸x而使用的組合物,以及使用殘?jiān)鼊冸x 液組合物將抗蝕劑殘?jiān)镆约皝?lái)源于配線材料的殘?jiān)飫冸x的洗滌方法。
背景技術(shù):
在IC、LSI等半導(dǎo)體元件的制造工序中,在形成配線或者在層間絕緣層中形成導(dǎo) 通孔時(shí),可以適用光刻技術(shù)。即,在形成于基體上的Al、銅(Cu)、Al合金等導(dǎo)電性金屬膜、 氧化硅(SiOx)膜等絕緣膜上均勻涂布抗蝕劑,并通過(guò)曝光及顯影處理形成圖案,接著,以 該抗蝕劑為掩模,對(duì)前述導(dǎo)電性金屬膜、絕緣膜進(jìn)行干蝕刻,然后將不需要的抗蝕劑以及在 干蝕刻中變質(zhì)的抗蝕劑殘?jiān)?,從而形成配線或者在層間絕緣膜中形成導(dǎo)通孔。另外,進(jìn) 行干蝕刻后,通過(guò)等離子體灰化除去不需要的抗蝕劑的方法也經(jīng)常使用,但是在通過(guò)這些 干蝕刻、其后的灰化形成的圖案周邊殘留抗蝕劑殘?jiān)?保護(hù)沉積膜),殘留因等離子體氣 體變質(zhì)的層間絕緣材料、配線材料來(lái)源的金屬殘?jiān)?以后將這些物質(zhì)統(tǒng)稱為殘?jiān)?。由于這些殘?jiān)臍埩魰?huì)導(dǎo)致斷線,從而會(huì)引發(fā)各種故障,因此期望將殘?jiān)耆?去。因此,為了除去殘留的殘?jiān)?,通過(guò)洗滌劑(殘?jiān)鼊冸x液組合物)進(jìn)行洗滌處理。這里,在具有以鈦(Ti)系合金作為勢(shì)壘金屬的Al合金配線的半導(dǎo)體基板的制造 工序中,為了形成導(dǎo)通孔而進(jìn)行干蝕刻及灰化時(shí),抗蝕劑殘?jiān)侵父晌g刻及灰化后殘留在 基板表面的來(lái)源于抗蝕劑的殘?jiān)?,因等離子體氣體變質(zhì)的來(lái)源于配線材料的金屬殘?jiān)?是指,殘留在導(dǎo)通孔側(cè)面及底面的包含金屬成分Al、Cu、Ti,其中尤其是指Ti的氧化產(chǎn)物 (以后,稱為來(lái)源于鈦(Ti)的殘?jiān)?。以前,為了將抗蝕劑殘?jiān)蛘邅?lái)源于Ti的殘?jiān)耆珓冸x,使用化學(xué)試劑進(jìn)行剝 離,例如,提出了由“鏈烷醇胺與水溶性有機(jī)溶劑的混合液”構(gòu)成的殘?jiān)鼊冸x液組合物(例 如參照專利文獻(xiàn)1和2)。這些剝離液只有在高溫及長(zhǎng)時(shí)間的條件下才可以使用,因此被用 于間歇式洗滌裝置中。但是近年來(lái),為了能有效地洗滌各種各樣的部件,洗滌方式開(kāi)始從 間歇式向適宜多品種少量生產(chǎn)的單片式轉(zhuǎn)移。由于該單片式洗滌裝置要求低溫及短時(shí)間處 理,因此不能使用上述有機(jī)胺系剝離液。于是,為了適應(yīng)單片式洗滌,需要在低溫、短時(shí)間內(nèi) 將抗蝕劑殘?jiān)约皝?lái)源于Ti的殘?jiān)鼊冸x。迄今為止,作為可以低溫、短時(shí)間處理的殘?jiān)鼊冸x液組合物,申請(qǐng)了很多關(guān)于含有 氟化物的溶液的專利。例如,作為具有可在低溫使用、并且還可在沖洗液中使用純水等優(yōu)點(diǎn) 的殘?jiān)鼊冸x液組合物,提出了 “由氟化物、水溶性有機(jī)溶劑及防蝕劑構(gòu)成的組合物”(例如 參照專利文獻(xiàn)3和4)。但是近年來(lái),隨著配線的微細(xì)化,來(lái)源于Ti的殘?jiān)罅慨a(chǎn)生,因此, 上述包含氟化物和水溶性有機(jī)溶劑的組合物漸漸無(wú)法將抗蝕劑殘?jiān)蛘邅?lái)源于Ti的殘?jiān)鼊冸x。另外,上述包含氟化物和水溶性有機(jī)溶劑的組合物具有如果被水稀釋則對(duì)Al合金的 蝕刻速率增加的性質(zhì),因此具有如下缺點(diǎn)在進(jìn)行化學(xué)試劑處理-純水沖洗時(shí),由于某些原 因,若不迅速進(jìn)行化學(xué)試劑的水置換,則被水稀釋從而對(duì)Al合金的腐蝕性增大了的溶液會(huì) 與基板接觸,腐蝕Al合金配線部分。為了提高對(duì)抗蝕劑殘?jiān)皝?lái)源于Ti的殘?jiān)膭冸x性,考慮在含有氟化物的組合 物中添加酸性添加劑的方法。專利文獻(xiàn)5中提出了 “由氟化物及磺酸類構(gòu)成的含有氟化物 的溶液”,但使用該化學(xué)試劑的話層間絕緣膜、導(dǎo)通孔底部的防蝕性不夠。(參照比較例34)。專利文獻(xiàn)6中提出了 “包含有機(jī)膦酸及氟化物的酸性水溶液”,但該化學(xué)試劑不僅 殘?jiān)バ圆粔?,?dǎo)通孔底部的防蝕性也不夠(參照比較例35)。專利文獻(xiàn)7中提出了 “氟化物及原硼酸或正磷酸及水溶性有機(jī)溶劑”,但該化學(xué)試 劑的殘?jiān)バ圆粔?參照比較例36)。另外,在上述的在含有氟化物的組合物中添加了酸性化合物的組合物中,為了防 蝕而含有水溶性有機(jī)溶劑,但與含有氟化物和水溶性有機(jī)溶劑的組合物同樣地,該組合物 具有如果被水稀釋則對(duì)Al合金的蝕刻速率增加的性質(zhì),結(jié)果,具有腐蝕Al合金配線部分的 缺點(diǎn)。專利文獻(xiàn)8中提出了 “為了除去金屬污染而包含炔醇的、含有氟化物和水溶性或 水混合性有機(jī)溶液的半導(dǎo)體基板洗滌液”,但沒(méi)有記載通過(guò)加入炔醇而對(duì)金屬配線的防蝕 效果等。專利文獻(xiàn)9中提出了“由為了提高沉積聚合物的除去速度而包含有炔醇的、含有 氟化物、硼酸以及水溶性有機(jī)溶劑的水溶液構(gòu)成的半導(dǎo)體元件制造用洗滌劑”;專利文獻(xiàn)10 中提出了 “由為了提高沉積聚合物的除去速度而包含有炔醇的、含有有機(jī)羧酸銨鹽和/或 有機(jī)羧酸胺鹽、氟化物、水溶性或水混合性有機(jī)溶劑和無(wú)機(jī)酸和/或有機(jī)酸的水溶液構(gòu)成 的半導(dǎo)體元件制造用洗滌液”。但沒(méi)有記載通過(guò)加入炔醇而對(duì)金屬配線的防蝕效果等。專利文獻(xiàn)11中提出了“含有炔醇化合物及有機(jī)磺酸化合物中的至少一種、和、多 元醇及其衍生物中的至少一種,進(jìn)而含有氟化物及氫氧化季銨鹽中的至少一種的組合物”, 該組合物與具有金屬配線的半導(dǎo)體電路元件的制造相關(guān),所述金屬配線以作為配線材料的 Cu為主要成分。但在專利文獻(xiàn)11中,對(duì)使用鉭作為勢(shì)壘金屬的配線進(jìn)行評(píng)價(jià),并沒(méi)有關(guān)于 來(lái)源于Ti的殘?jiān)挠涊d。另外,也沒(méi)有同時(shí)含有氟化物和有機(jī)磺酸的化學(xué)試劑的記載。并 且,該化學(xué)試劑的殘?jiān)某バ圆粔?參照比較例37 39)。還有其他關(guān)于在含有氟化物的溶液中添加添加劑的殘?jiān)鼊冸x液組合物的專利申 請(qǐng)。但對(duì)層間絕緣膜材料、配線材料等具有防蝕性,且對(duì)抗蝕劑殘?jiān)皝?lái)源于Ti的殘?jiān)?的剝離性非常優(yōu)異的殘?jiān)鼊冸x液組合物尚未被開(kāi)發(fā),因此希望開(kāi)發(fā)上述的殘?jiān)鼊冸x液組合 物。專利文獻(xiàn)1日本特開(kāi)昭62-49355號(hào)公報(bào)專利文獻(xiàn)2 日本特開(kāi)昭64-42653號(hào)公報(bào) 專利文獻(xiàn)3日本特開(kāi)平7-201794號(hào)公報(bào) 專利文獻(xiàn)4日本特開(kāi)平8-202052號(hào)公報(bào) 專利文獻(xiàn)5日本特開(kāi)2006-66533號(hào)公報(bào) 專利文獻(xiàn)6日本特開(kāi)2006-191002號(hào)公報(bào)
專利文獻(xiàn)7 日本特開(kāi)平11-67703號(hào)公報(bào)專利文獻(xiàn)8 日本特開(kāi)2000-208467號(hào)公報(bào)專利文獻(xiàn)9 日本特開(kāi)平11-323394號(hào)公報(bào)專利文獻(xiàn)10 日本特開(kāi)平10-55993號(hào)公報(bào)專利文獻(xiàn)11 日本特開(kāi)2006-251491號(hào)公報(bào)
圖1是適用本發(fā)明的殘?jiān)鼊冸x液組合物的鋁合金電路的制造工序圖。圖2是進(jìn)行了導(dǎo)通孔的干蝕刻及灰化之后的基板。附圖標(biāo)記說(shuō)明1.硅基板2. SiOx 氧化膜3. TiN/Ti勢(shì)壘金屬層4. Al合金配線層5. TiN/Ti勢(shì)壘金屬層6. SiOx 氧化膜7.來(lái)源于Ti的殘?jiān)?.抗蝕劑殘?jiān)?br>
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明要解決的問(wèn)題本發(fā)明的目的在于,提供一種殘?jiān)鼊冸x液組合物及使用其的半導(dǎo)體元件的洗滌 方法,所述殘?jiān)鼊冸x液組合物在具有由鋁(Al)或鋁合金構(gòu)成的金屬配線的半導(dǎo)體基板的 制造工序中,可以將為了形成導(dǎo)通孔而進(jìn)行干蝕刻及灰化后殘留的抗蝕劑殘?jiān)皝?lái)源于鈦 (Ti)的殘?jiān)诘蜏?、短時(shí)間內(nèi)完全除去,并且不會(huì)腐蝕層間絕緣材料、配線材料等部件。用于解決問(wèn)題的方案本發(fā)明人等為了解決上述課題進(jìn)行了深入的研究,結(jié)果發(fā)現(xiàn),通過(guò)在包含氟化銨 和作為酸性化合物的甲磺酸的剝離劑中,添加具有碳-碳三鍵的化合物作為含有90質(zhì)量% 以上Al的Al合金配線的防蝕劑,使原液及其被水稀釋的情況下具有對(duì)Al合金的防蝕效 果,在具有殘?jiān)バ缘耐瑫r(shí),還可以抑制對(duì)層間絕緣材料、配線材料的腐蝕性。即,本發(fā)明涉及半導(dǎo)體元件的洗滌方法,其要旨如下所述。1. 一種殘?jiān)鼊冸x液組合物,所述殘?jiān)鼊冸x液組合物含有(A)氟化銨;(B)甲磺酸; (C)具有碳-碳三鍵的化合物,其為選自3-甲基-1-戊炔-3-醇、1-乙炔基-1-環(huán)己醇、
2-丙炔-1-醇、2-丁炔-1,4- 二醇、4-乙基-1-辛炔-3-醇、3-甲基-1- 丁炔-3-醇、1-辛 炔-3-醇、苯乙炔、3,3- 二甲基-1- 丁炔、2- 丁炔-1-醇、3,5- 二甲基-1-己炔-3-醇及
3-己炔_2,5-二醇中至少一種;(D)水溶性有機(jī)溶劑,其為選自多元醇類、二醇醚類及酰胺 類中的至少一種;以及(E)水,該殘?jiān)鼊冸x液組合物中的㈧、(C)、⑶及(E)的含量分別為 0. 005 2質(zhì)量%、0. 1 10質(zhì)量%、60 75質(zhì)量%及5 38質(zhì)量%,且包含相對(duì)于(A) 為0.9 1.5倍量(摩爾比)的(B)。
2. 一種洗滌方法,所述洗滌方法是從電子材料基板剝離殘留的殘?jiān)鼇?lái)進(jìn)行洗滌 的方法,所述電子材料基板是在硅基板上順次層疊SiOx、由TiN/Ti構(gòu)成的勢(shì)壘金屬層、由 Al-CiuAl-Si或者Al-Si-Cu構(gòu)成的含90質(zhì)量%以上Al的Al合金層、以及由TiN/Ti構(gòu)成的 勢(shì)壘金屬層,并涂布抗蝕劑(1)形成抗蝕劑(1)層,然后進(jìn)行曝光、顯影,并將該抗蝕劑(1) 層作為掩模進(jìn)行干蝕刻形成Al合金配線體,進(jìn)一步通過(guò)等離子體氣體將該抗蝕劑(1)層灰 化(ashing)除去,再經(jīng)過(guò)化學(xué)試劑處理除去抗蝕劑(1)的殘?jiān)?,在其上進(jìn)一步層疊由SiOx 構(gòu)成的層間絕緣膜層,其后涂布抗蝕劑( 形成抗蝕劑( 層,然后進(jìn)行曝光、顯影,并將該 抗蝕劑( 層作為掩模進(jìn)行干蝕刻,在Al合金配線體上的層間絕緣膜層和勢(shì)壘金屬層中形 成導(dǎo)通孔,進(jìn)一步通過(guò)等離子體氣體將該抗蝕劑( 層灰化除去了的電子材料基板,其中, 使用1中所述的殘?jiān)鼊冸x液組合物將至少導(dǎo)通孔內(nèi)的殘?jiān)鼊冸x。發(fā)明的效果通過(guò)使用本發(fā)明的殘?jiān)鼊冸x液組合物及洗滌方法,在具有由Al或者包含90質(zhì) 量%以上Al的Al合金構(gòu)成的金屬配線的半導(dǎo)體基板的制造工序中,可以將為了形成導(dǎo)通 孔而進(jìn)行干蝕刻及灰化后殘留的抗蝕劑殘?jiān)皝?lái)源于Ti的殘?jiān)诘蜏?、短時(shí)間內(nèi)完全除 去,并且不會(huì)腐蝕層間絕緣材料、配線材料等部件,可以謀求提高半導(dǎo)體元件制造的產(chǎn)品產(chǎn)量。
具體實(shí)施例方式[殘?jiān)鼊冸x液組合物]本發(fā)明的殘?jiān)鼊冸x液組合物的特征在于,其含有(A)氟化銨;(B)甲磺酸;(C)具 有碳-碳三鍵的化合物;(D)水溶性有機(jī)溶劑,其為選自多元醇類、二醇醚類及酰胺類中的 至少一種;及(E)水,該殘?jiān)鼊冸x液組合物中的(A)、(C)、(D)及(E)的含量分別為0. 005 2質(zhì)量%、0. 1 10質(zhì)量%、60 75質(zhì)量%及5 38質(zhì)量%,且包含相對(duì)于(A)為0. 9 1.5倍量(摩爾比)的(B)0《(A)氟化銨》本發(fā)明的殘?jiān)鼊冸x液組合物中包含(A)氟化銨。殘?jiān)鼊冸x液組合物中的氟化銨 的含量通常在0. 005 2. 0質(zhì)量%的濃度范圍使用,優(yōu)選為0. 01 1. 8質(zhì)量%、特別優(yōu)選 為0. 1 1.5質(zhì)量%。氟化銨的濃度大于2.0質(zhì)量%時(shí),對(duì)材質(zhì)的腐蝕性高,小于0.005質(zhì) 量%時(shí),殘?jiān)膭冸x速度變緩。《⑶甲磺酸》本發(fā)明的殘?jiān)鼊冸x液組合物中包含(B)甲磺酸。甲磺酸是考慮到在水中或水溶性 有機(jī)溶劑中的酸解離常數(shù)(PKa)小,且進(jìn)一步考慮到其混合到殘?jiān)鼊冸x液組合物中時(shí)的相 容性、穩(wěn)定性、對(duì)殘?jiān)膭冸x性與對(duì)材質(zhì)的腐蝕性的平衡等而在本發(fā)明的殘?jiān)鼊冸x液組合 物中采用的物質(zhì)。相對(duì)于所含有的氟化銨,要求甲磺酸以摩爾比計(jì)含有0. 9倍 1. 5倍量,優(yōu)選為 0.9倍 1.4倍量,更優(yōu)選為0.95倍 1.3倍量。低于0. 9倍量時(shí),殘?jiān)膭冸x性不夠,或 者層間絕緣材料的腐蝕性增大。另外若大于1. 5倍量,則殘?jiān)膭冸x性不夠,或者金屬配線 材料的腐蝕性增大?!?C)具有碳-碳三鍵的化合物》
本發(fā)明的殘?jiān)鼊冸x液組合物中包含(C)具有碳-碳三鍵的化合物。在本發(fā)明中, (C)具有碳-碳三鍵的化合物為選自3-甲基-1-戊炔-3-醇、1-乙炔基-1-環(huán)己醇、2-丙 炔-1-醇、2- 丁炔-1,4- 二醇、4-乙基-1-辛炔-3-醇、3-甲基-1- 丁炔-3-醇、1-辛 炔-3-醇、苯乙炔、3,3- 二甲基-1- 丁炔、2- 丁炔-1-醇、3,5- 二甲基-1-己炔-3-醇及 3-己炔_2,5-二醇中的至少一種,也可以含有多種上述化合物。殘?jiān)鼊冸x液組合物中的具有碳-碳三鍵的化合物的含量要求為0. 1質(zhì)量% 10 質(zhì)量%,優(yōu)選為0. 15質(zhì)量% 8質(zhì)量%、更優(yōu)選為0.2質(zhì)量% 5質(zhì)量%。若低于0. 1質(zhì) 量%,則殘?jiān)鼊冸x液組合物及該組合物被水稀釋時(shí),對(duì)含有90質(zhì)量%以上Al的Al合金的 防蝕效果不夠,若多于10質(zhì)量%,則可能引發(fā)殘?jiān)某バ韵陆?、混合性下降等?!盯撬苄杂袡C(jī)溶劑》本發(fā)明所使用的⑶水溶性有機(jī)溶劑為選自多元醇類、二醇醚類及酰胺類中的至 少一種。通過(guò)使用上述有機(jī)溶劑,可以使殘?jiān)锍バ蕴岣摺W鳛槎嘣碱?,?yōu)選列舉出乙二醇、二乙二醇、聚乙二醇、丙二醇、二丙二醇、聚丙 二醇、丙三醇、一縮二丙三醇、聚丙三醇、1,3_ 丁二醇等。作為二醇醚類,優(yōu)選列舉出乙二醇單甲醚、乙二醇單乙醚、乙二醇單丁醚、乙二醇
單苯醚、二乙二醇單甲醚、二乙二醇單乙醚、二乙二醇單丁醚、二乙二醇二甲醚、丙二醇單甲 醚、丙二醇單丁醚、乙二醇單甲醚醋酸酯、三乙二醇單甲醚、三乙二醇單乙醚、三乙二醇單丁 醚、三乙二醇二甲醚、二丙二醇單丙醚、三丙二醇二甲醚等。作為酰胺類,優(yōu)選列舉出二甲基甲酰胺、二甲基乙酰胺、乙酰胺、甲基乙酰胺、乙基 乙酰胺、甲酰胺、甲基甲酰胺、二甲基甲酰胺、乙基甲酰胺、二乙基甲酰胺等。另外,本發(fā)明中的(D)水溶性有機(jī)溶劑可與其他有機(jī)溶劑組合使用。作為其他有 機(jī)溶劑,優(yōu)選列舉出Y-丁內(nèi)酯等內(nèi)酯類,二乙基亞砜、二苯基亞砜等亞砜類,乙腈、苯基腈 等腈類,甲醇、乙醇、異丙醇、乙二醇等醇類,醋酸甲酯、醋酸乙酯等酯類等。本發(fā)明中,有機(jī) 溶劑可以單獨(dú)使用上述溶劑中的一種,或混合使用兩種以上。殘?jiān)鼊冸x液組合物中的水溶性有機(jī)溶劑的含量要求為60 75質(zhì)量%,優(yōu)選為 65 75質(zhì)量%。水溶性有機(jī)溶劑的含量小于60質(zhì)量%時(shí),材質(zhì)的腐蝕增大,大于75質(zhì)量% 時(shí),殘?jiān)膭冸x性下降?!?E)水》本發(fā)明的殘?jiān)鼊冸x液組合物中包含(E)水。殘?jiān)鼊冸x液組合物中的水的含量要求 為5 38質(zhì)量%,優(yōu)選為20 38質(zhì)量%,更優(yōu)選為20 31質(zhì)量%。水的含量小于5質(zhì)量%時(shí),殘?jiān)膭冸x性下降,大于38質(zhì)量%時(shí),材質(zhì)的腐蝕增 大。[洗滌方法]本發(fā)明的洗滌方法是從電子材料基板剝離殘留的殘?jiān)姆椒?,所述電子材料基?是在硅基板上順次層疊SiOx、由TiN/Ti構(gòu)成的勢(shì)壘金屬層、由Al-CiuAl-Si或者Al-Si-Cu 構(gòu)成的含90質(zhì)量%以上Al的Al合金層、以及由TiN/Ti構(gòu)成的勢(shì)壘金屬層,并涂布抗蝕劑 (1)形成抗蝕劑(1)層,然后進(jìn)行曝光、顯影,并將該抗蝕劑(1)層作為掩模進(jìn)行干蝕刻形 成Al合金配線體,進(jìn)一步通過(guò)等離子體氣體將該抗蝕劑(1)層灰化除去,再經(jīng)過(guò)化學(xué)試劑 處理除去抗蝕劑(1)的殘?jiān)?,在其上進(jìn)一步層疊由SiOx構(gòu)成的層間絕緣膜層,其后涂布抗蝕劑( 形成抗蝕劑( 層,然后進(jìn)行曝光、顯影,并將該抗蝕劑( 層作為掩模進(jìn)行干蝕 刻,在Al合金配線體上的層間絕緣膜層和勢(shì)壘金屬層中形成導(dǎo)通孔,進(jìn)一步通過(guò)等離子體 氣體將該抗蝕劑( 層灰化除去了的電子材料基板,其中,使用本發(fā)明的殘?jiān)鼊冸x液組合 物將至少導(dǎo)通孔內(nèi)的殘?jiān)鼊冸x。圖1是適用本發(fā)明的殘?jiān)鼊冸x液組合物的鋁合金電路的制造工序圖。本發(fā)明的洗 滌方法的特征在于,該方法用本發(fā)明的殘?jiān)鼊冸x液組合物將殘?jiān)鼊冸x,所述殘?jiān)窍率鰵?渣在半導(dǎo)體元件制造中,以基板上的抗蝕劑為掩模對(duì)層間絕緣膜層、勢(shì)壘金屬層進(jìn)行干蝕 刻,并形成導(dǎo)通孔,并且通過(guò)等離子體進(jìn)行灰化后殘留的抗蝕劑殘?jiān)?、在?dǎo)通孔內(nèi)殘留的來(lái) 源于Ti的殘?jiān)?。這里,來(lái)源于Ti的殘?jiān)俏挥趫D1中的第三行從右邊數(shù)第二個(gè)所記載的 “灰化”的圖中所示的、來(lái)源于TiN/Ti勢(shì)壘金屬層中所含的Ti的殘?jiān)?。另外。如圖1所示, 本發(fā)明的殘?jiān)鼊冸x液組合物可以將導(dǎo)通孔內(nèi)的來(lái)源于Ti的殘?jiān)痛嬖谟赟iOx氧化膜表面 的抗蝕劑殘?jiān)瑫r(shí)剝離除去。供于本發(fā)明的洗滌方法的Al或Al合金配線是包含90質(zhì)量%以上的Al的Al合 金,包括Al-Cu、Al-Si、Al-Si-Cu等合金。優(yōu)選Al含量為95質(zhì)量%以上,進(jìn)一步優(yōu)選為98 質(zhì)量%以上的Al合金。勢(shì)壘金屬層是為了提高配線的可靠性而層疊在配線層上的層,TiN/Ti是一種對(duì) Al合金配線廣為使用的材料。只要是通常能用于Al合金配線的TiN/Ti勢(shì)壘金屬層,就可 以對(duì)來(lái)源于該TiN/Ti的來(lái)自于Ti的殘?jiān)鼰o(wú)限制地適用本發(fā)明的洗滌方法。剝離殘?jiān)鼤r(shí)的溫度優(yōu)選為0°C 50°C,更優(yōu)選為10°C 40°C,進(jìn)一步優(yōu)選為 15 35 。另外,剝離殘?jiān)鼤r(shí)的處理時(shí)間優(yōu)選為10秒 5分鐘,更優(yōu)選為30秒 3分鐘。本發(fā)明的洗滌方法中,對(duì)于用殘?jiān)鼊冸x液組合物處理之后所用的沖洗液,即使僅 用純水沖洗也沒(méi)有任何問(wèn)題。但也可以使用甲醇、乙醇、異丙醇、二甲基乙酰胺、二甲基亞 砜、二醇醚、乙醇胺等水溶性有機(jī)溶劑。另外,還可以使用上述水溶性有機(jī)溶劑與純水的混 合物作為沖洗液使用。實(shí)施例以下,通過(guò)實(shí)施例及比較例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行更加詳細(xì)的說(shuō)明,但本發(fā)明并不受這些 實(shí)施例的任何限定?!断礈鞝顟B(tài)的評(píng)價(jià)》對(duì)于各實(shí)施例及比較例中的洗滌結(jié)果,通過(guò)掃描型電子顯微鏡(SEM)觀察來(lái)源于 Ti的殘?jiān)翱刮g劑殘?jiān)膭冸x狀態(tài)、層間絕緣膜材質(zhì)及導(dǎo)通孔底部材質(zhì)的腐蝕性,并依照 下述基準(zhǔn)進(jìn)行評(píng)價(jià)。使用日立高分辨場(chǎng)致發(fā)射掃描電子顯微鏡S-4700來(lái)進(jìn)行掃描型電子 顯微鏡的觀察。<來(lái)源于Ti的殘?jiān)翱刮g劑殘?jiān)膭冸x性的判定基準(zhǔn)>〇良好。Δ 有剝離殘?jiān)?。X 完全不能剝離。<層間絕緣膜層的材質(zhì)的腐蝕性的判定基準(zhǔn)>〇良好。
X 有腐蝕,形狀發(fā)生改變。<導(dǎo)通孔底部的材質(zhì)的腐蝕性的判定基準(zhǔn)>〇良好。X 有腐蝕,形狀發(fā)生改變。洗滌方法圖2中示出了作為剝離對(duì)象的包含90質(zhì)量%以上鋁(Al)的Al合金電路元件的 截面圖。如圖2所示,在硅基板1上形成由氧化硅(SiOx)等構(gòu)成的基底氧化膜2,接著形 成由氮化鈦(TiN)/鈦(Ti)構(gòu)成的勢(shì)壘金屬層3,在其上形成由Al-銅(Cu)、Al-硅(Si) 或Al-Si-Cu (有時(shí)為Al合金配線)構(gòu)成的作為配線的Al合金層4,并層疊由TiN/Ti構(gòu)成 的勢(shì)壘金屬層5,之后涂布抗蝕劑(1)形成抗蝕劑(1)層,然后進(jìn)行曝光、顯影,并以該抗蝕 劑(1)層為掩模進(jìn)行干蝕刻,形成Al合金配線體,進(jìn)一步通過(guò)等離子體氣體將該抗蝕劑(1) 層灰化除去,通過(guò)化學(xué)試劑處理除去抗蝕劑(1)殘?jiān)_M(jìn)一步在其上層疊由SiOx構(gòu)成的層 間絕緣膜層6,其后涂布抗蝕劑( 形成抗蝕劑( 層,然后進(jìn)行曝光、顯影,并將該抗蝕劑 (2)層作為掩模進(jìn)行干蝕刻,在層間絕緣膜層6與勢(shì)壘金屬層5中形成導(dǎo)通孔,再通過(guò)氧氣 的等離子體氣體將抗蝕劑( 層灰化除去。導(dǎo)通孔底部的Al合金層露出,導(dǎo)通孔側(cè)壁上殘 留有來(lái)源于Ti的殘?jiān)?,層間絕緣膜層6的上部殘留有抗蝕劑O)的殘?jiān)?。使用下述殘?jiān)?剝離液組合物對(duì)上述鋁合金電路元件(評(píng)價(jià)用的樣品晶片)進(jìn)行洗滌。實(shí)施例1、比較例1 9及16 M按照表1所示的配合組成(質(zhì)量% )制備實(shí)施例1、比較例1 9及16 M的殘 渣剝離液組合物。實(shí)施例1的殘?jiān)鼊冸x液組合物中使用氟化銨,比較例1 5及16 20 中使用氫氟酸代替氟化銨作為氟化物,比較例6 8及21 23中使用四甲基氟化銨。比 較例9及M中不含氟化物。另外在實(shí)施例1、比較例1 9的剝離液組合物中包含2. 00質(zhì) 量%的3-甲基-1-戊炔-3-醇作為具有碳-碳三鍵的化合物(防蝕劑)、比較例16 M 中不含防蝕劑。在這里使用的試劑均為特級(jí)試劑。分別將圖1中所示的評(píng)價(jià)用樣品晶片在實(shí)施例1、比較例1 9及16 M的殘?jiān)?剝離液組合物中在25°C浸漬2分鐘,然后用超純水進(jìn)行沖洗,并吹送氮?dú)膺M(jìn)行干燥。用掃描 型電子顯微鏡(SEM)對(duì)處理后的來(lái)源于鈦的殘?jiān)?及抗蝕劑殘?jiān)?的剝離性、以及對(duì)層間 絕緣膜層6及導(dǎo)通孔底部的材質(zhì)的腐蝕性進(jìn)行觀察,其結(jié)果記載于表1中。實(shí)施例1的殘?jiān)鼊冸x液組合物顯示出使來(lái)源于Ti的殘?jiān)⒖刮g劑殘?jiān)鼊冸x,并且 也沒(méi)有材質(zhì)的腐蝕性的良好結(jié)果。比較例1 5及16 20的包含氫氟酸的剝離液組合物 對(duì)殘?jiān)膭冸x性及導(dǎo)通孔底部的材質(zhì)的腐蝕性均不夠好。比較例6 8及21 23的包含 四甲基氟化銨的剝離液組合物對(duì)殘?jiān)膭冸x性和/或材質(zhì)的腐蝕性不夠好。比較例9及M 的不含氟化物的剝離液組合物對(duì)殘?jiān)膭冸x性不夠。實(shí)施例2、比較例10 12及25 27按照表1制備實(shí)施例2、比較例10 12及25 27的殘?jiān)鼊冸x液組合物。甲磺 酸/氟化物的摩爾比,在實(shí)施例2的殘?jiān)鼊冸x液組合物中為1. 00、在比較例10及25中為 0. 75、在比較例11及洸中為1. 69、在比較例12及27中為2. 42。另外,實(shí)施例2及比較例 10 12的殘?jiān)鼊冸x液組合物包含0. 50質(zhì)量%的苯乙炔作為具有碳-碳三鍵的化合物(防 蝕劑),比較例25 27中不含防蝕劑。在這里使用的化學(xué)試劑均為特級(jí)試劑。其余以實(shí)施例1為基準(zhǔn)進(jìn)行,結(jié)果記載于表1中。實(shí)施例2的甲磺酸/氟化物(摩爾比)=1.00的殘?jiān)鼊冸x液組合物顯示出使來(lái) 源于Ti的殘?jiān)?、抗蝕劑殘?jiān)鼊冸x,并且也沒(méi)有材質(zhì)腐蝕的良好結(jié)果。比較例10及25的甲 磺酸/氟化物(摩爾比)=0.75的殘?jiān)鼊冸x液組合物使層間絕緣膜腐蝕。比較例11及沈 的甲磺酸/氟化物(摩爾比)=1.69的殘?jiān)鼊冸x液組合物以及比較例12和27的甲磺酸 /氟化物(摩爾比)=2. 42的殘?jiān)鼊冸x液組合物對(duì)抗蝕劑殘?jiān)膭冸x性不夠,且腐蝕導(dǎo)通 孔底部的材質(zhì)。實(shí)施例3 9、比較例13及觀按照表1制備實(shí)施例3 9、比較例13及28的殘?jiān)鼊冸x液組合物。實(shí)施例3 9的殘?jiān)鼊冸x液組合物在組成中包含選自多元醇類、二醇醚類以及酰胺類中的水溶性有機(jī) 溶劑,比較例13及觀的殘?jiān)鼊冸x液組合物中不含規(guī)定量的水溶性有機(jī)溶劑。另外,實(shí)施例 3 7及比較例13中包含0. 30質(zhì)量%的3,5- 二甲基-1-己炔-3-醇作為具有碳-碳三鍵 的化合物(防蝕劑),實(shí)施例8 9中包含0. 20質(zhì)量%的3-甲基-1-戊炔-3-醇作為防蝕 劑,比較例觀中不含防蝕劑。在這里使用的化學(xué)試劑均為特級(jí)試劑。其余以實(shí)施例1為基 準(zhǔn)進(jìn)行,結(jié)果記載于表1中。結(jié)果,實(shí)施例3 9的殘?jiān)鼊冸x液組合物將來(lái)源于Ti的殘?jiān)翱刮g劑殘?jiān)鼊冸x, 且材質(zhì)未被腐蝕,但比較例13J8的殘?jiān)鼊冸x液組合物未能充分剝離來(lái)源于Ti的殘?jiān)翱?蝕劑殘?jiān)?。比較例14 15、29 30按照表1制備比較例14 15及四 30的殘?jiān)鼊冸x液組合物。比較例14及四 的殘?jiān)鼊冸x液組合物中包含76. 75質(zhì)量%的水溶性有機(jī)溶劑,比較例15及30中包含56. 75 質(zhì)量%的水溶性有機(jī)溶劑。另外比較例14 15的殘?jiān)鼊冸x液組合物中包含2. 00質(zhì)量% 的3-甲基-1-戊炔-3-醇作為具有碳-碳三鍵的化合物(防蝕劑),比較例四 30中不 含防蝕劑。在這里使用的化學(xué)試劑均為特級(jí)試劑。其余以實(shí)施例1為基準(zhǔn)進(jìn)行,結(jié)果記載 于表1中。比較例14及四的殘?jiān)鼊冸x液組合物對(duì)來(lái)源于Ti的殘?jiān)膭冸x性及抗蝕劑殘?jiān)?的剝離性不夠。比較例15及30的殘?jiān)鼊冸x液組合物使材質(zhì)腐蝕。另一方面,在本發(fā)明規(guī) 定的60 75質(zhì)量%的范圍內(nèi)含有水溶性有機(jī)溶劑的實(shí)施例1的殘?jiān)鼊冸x液組合物(66. 75 質(zhì)量% )、實(shí)施例9的殘?jiān)鼊冸x液組合物(72. 94質(zhì)量% )顯示出使來(lái)源于Ti的殘?jiān)翱刮g 劑殘?jiān)鼊冸x、并且沒(méi)有材質(zhì)腐蝕性的良好結(jié)果。實(shí)施例10 13、比較例31 33按照表1制備實(shí)施例10 13及比較例31 33的殘?jiān)鼊冸x液組合物。除了含 有碳-碳三鍵的化合物(防蝕劑)以外的該剝離液組合物的基本組成為,氟化銨0.80質(zhì) 量%、甲磺酸2. 20質(zhì)量%、二乙二醇20質(zhì)量%、丙二醇單甲醚51質(zhì)量%、其余為水。比較 例31的殘?jiān)鼊冸x液組合物中沒(méi)有添加防蝕劑,比較例32 33的殘?jiān)鼊冸x液組合物中加入 了 1.00質(zhì)量%的本發(fā)明的含有碳-碳三鍵的化合物以外的添加劑。這里使用的試劑均為 特級(jí)試劑。其余以實(shí)施例1為基準(zhǔn)進(jìn)行,結(jié)果記載于表1中。實(shí)施例10 13的殘?jiān)鼊冸x液組合物顯示出使來(lái)源于Ti的殘?jiān)?、抗蝕劑殘?jiān)鼊?離、并且沒(méi)有材質(zhì)腐蝕性的良好結(jié)果。比較例31 33的殘?jiān)鼊冸x液組合物使導(dǎo)通孔底部發(fā)生腐蝕。實(shí)施例14 25按照表1制備實(shí)施例14的殘?jiān)鼊冸x液組合物。除了含有碳-碳三鍵的化合物(防 蝕劑)以外的殘?jiān)鼊冸x液組合物的基本組成為,氟化銨1. 00質(zhì)量%、甲磺酸3. 00質(zhì)量%、 二乙二醇30質(zhì)量%、丙二醇單甲醚35質(zhì)量%、其余為水,甲磺酸/氟化物的摩爾比為1. 16。 實(shí)施例15 25的殘?jiān)鼊冸x液組合物為在實(shí)施例14的制備組成中改變了包含碳-碳三鍵 的化合物(防蝕劑)的組合物。在這里使用的化學(xué)試劑均為特級(jí)試劑。其余以實(shí)施例1為 基準(zhǔn)進(jìn)行,結(jié)果記載于表1中。實(shí)施例14 25的殘?jiān)鼊冸x液組合物顯示出使來(lái)源于Ti的殘?jiān)?、抗蝕劑殘?jiān)鼊?離、并且沒(méi)有材質(zhì)腐蝕性的良好結(jié)果。比較例34 39按照表1制備比較例34 39的殘?jiān)鼊冸x液組合物。比較例34的殘?jiān)鼊冸x液組 合物中,甲磺酸/氟化銨的摩爾比在本發(fā)明的范圍外,且不含具有碳-碳三鍵的化合物(防 蝕劑),比較例35中不含氟化銨、甲磺酸及防蝕劑,比較例36中不含甲磺酸及防蝕劑,比較 例37中不含氟化銨及甲磺酸,比較例38中不含氟化銨及防蝕劑,比較例39中不含甲磺酸, 但含有過(guò)量的水溶性有機(jī)溶劑。在這里使用的化學(xué)試劑均為特級(jí)試劑。其余以實(shí)施例1為 基準(zhǔn)進(jìn)行,結(jié)果記載于表1中。比較例34的殘?jiān)鼊冸x液組合物在材質(zhì)腐蝕性方面不夠好,比較例35的腐蝕性不 夠好,且使導(dǎo)通孔底部發(fā)生腐蝕,比較例36 39的剝離性不夠。[表1]
權(quán)利要求
1.一種殘?jiān)鼊冸x液組合物,所述殘?jiān)鼊冸x液組合物含有(A)氟化銨;(B)甲磺酸;(C) 具有碳_碳三鍵的化合物,其為選自3-甲基-1-戊炔-3-醇、1-乙炔基-1-環(huán)己醇、2-丙 炔-1-醇、2- 丁炔-1,4- 二醇、4-乙基-1-辛炔-3-醇、3-甲基-1- 丁炔-3-醇、1-辛 炔-3-醇、苯乙炔、3,3- 二甲基-1- 丁炔、2- 丁炔-1-醇、3,5- 二甲基-1-己炔-3-醇及 3-己炔_2,5-二醇中的至少一種;(D)水溶性有機(jī)溶劑,其為選自多元醇類、二醇醚類及酰 胺類中的至少一種;以及(E)水,該殘?jiān)鼊冸x液組合物中的(A)、(C)、(D)及(E)的含量分別為0. 005 2質(zhì)量%、0. 1 10質(zhì)量%、60 75質(zhì)量%及5 38質(zhì)量%,且包含相對(duì)于(A)為0. 9 1. 5倍量(摩爾 比)的⑶。
2.一種洗滌方法,所述洗滌方法是從電子材料基板剝離殘留的殘?jiān)鼇?lái)進(jìn)行洗滌的 方法,所述電子材料基板是在硅基板上順次層疊SiOx、由TiN/Ti構(gòu)成的勢(shì)壘金屬層、由 Al-CiuAl-Si或者Al-Si-Cu構(gòu)成的含90質(zhì)量%以上Al的Al合金層、以及由TiN/Ti構(gòu)成 的勢(shì)壘金屬層,并涂布抗蝕劑(1)形成抗蝕劑(1)層,然后進(jìn)行曝光、顯影,并將該抗蝕劑 (1)層作為掩模進(jìn)行干蝕刻形成Al合金配線體,進(jìn)一步通過(guò)等離子體氣體將該抗蝕劑(1) 層灰化除去,再經(jīng)過(guò)化學(xué)試劑處理除去抗蝕劑(1)的殘?jiān)?,在其上進(jìn)一步層疊由SiOx構(gòu)成 的層間絕緣膜層,其后涂布抗蝕劑(2)形成抗蝕劑(2)層,然后進(jìn)行曝光、顯影,并將該抗蝕 劑(2)層作為掩模進(jìn)行干蝕刻,在Al合金配線體上的層間絕緣膜層和勢(shì)壘金屬層中形成導(dǎo) 通孔,進(jìn)一步通過(guò)等離子體氣體將該抗蝕劑(2)層灰化除去了的電子材料基板,其中,使用權(quán)利要求1中所述的殘?jiān)鼊冸x液組合物將至少導(dǎo)通孔內(nèi)的殘?jiān)鼊冸x。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的洗滌方法,其中,在10 40°C下進(jìn)行殘?jiān)膭冸x。
4.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的洗滌方法,其中,實(shí)施30秒 3分鐘的殘?jiān)膭冸x。
全文摘要
本發(fā)明提供殘?jiān)鼊冸x液組合物及使用其的半導(dǎo)體元件的洗滌方法,所述殘?jiān)鼊冸x液組合物在具有由鋁(Al)或鋁合金構(gòu)成的金屬配線的半導(dǎo)體基板的制造工序中,可將為了形成導(dǎo)通孔而進(jìn)行干蝕刻及灰化后殘留的抗蝕劑殘?jiān)皝?lái)源于鈦(Ti)的殘?jiān)诘蜏?、短時(shí)間內(nèi)完全除去,并且不會(huì)腐蝕層間絕緣材料、配線材料等部件。該殘?jiān)鼊冸x液組合物是含有(A)氟化銨;(B)甲磺酸;(C)具有碳-碳三鍵的化合物;(D)水溶性有機(jī)溶劑;以及(E)水的殘?jiān)鼊冸x液組合物,并且,該殘?jiān)鼊冸x液組合物中的(A)、(C)、(D)及(E)的含量分別為0.005~2質(zhì)量%、0.1~10質(zhì)量%、60~75質(zhì)量%及5~38質(zhì)量%,且(B)相對(duì)于(A)為0.9~1.5倍量(摩爾比)。
文檔編號(hào)H01L21/027GK102138202SQ20098013101
公開(kāi)日2011年7月27日 申請(qǐng)日期2009年7月7日 優(yōu)先權(quán)日2008年8月5日
發(fā)明者松永裕嗣, 田中圭一, 鐮田京子 申請(qǐng)人:三菱瓦斯化學(xué)株式會(huì)社