專利名稱:柵結(jié)構(gòu)及柵結(jié)構(gòu)的形成方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體器件中的柵結(jié)構(gòu)和半導(dǎo)體器件中的柵結(jié)構(gòu)的形成方 法。更具體地,本發(fā)明涉及多層?xùn)沤Y(jié)構(gòu)和該柵結(jié)構(gòu)的形成方法。
背景技術(shù):
常規(guī)的柵電極通常采用摻入雜質(zhì)的多晶硅形成。隨著半導(dǎo)體器件高度集 成,由于多晶硅具有相對(duì)高的電阻,所以多晶硅的柵電極不適合應(yīng)用于半導(dǎo)
體器件。因此,已經(jīng)開發(fā)出具有多晶硅金屬硅化物(polycide)結(jié)構(gòu)的柵電 極,其具有低于多晶硅的電阻。具有多晶硅金屬硅化物的常規(guī)柵電極一般包 括多晶硅膜和形成在多晶硅膜上的金屬硅化物膜。這里,硅化鈦膜或硅化鴒 膜通常被用作金屬硅化物膜。然而,如果半導(dǎo)體器件具有非常高的集成度同 時(shí)確保半導(dǎo)體器件的電性能適當(dāng),則具有多晶硅金屬硅化物結(jié)構(gòu)的常規(guī)柵電 極不能達(dá)到半導(dǎo)體器件的期望電阻。
近來,柵電極已被開發(fā)為包括多晶硅膜和設(shè)置在多晶硅膜上的金屬膜以 降低柵電極的電阻。這里,由于在金屬膜直接形成于多晶硅膜上時(shí)金屬膜會(huì) 變?yōu)榻饘俟杌锬?,所以歐姆膜和阻擋膜應(yīng)該設(shè)置在多晶硅膜和金屬膜之 間。
在常規(guī)柵電極中,金屬膜、阻擋膜和歐姆膜一般分別包括鴒、氮化鴒和 硅化鴒。然而,在形成柵電極的高溫工藝期間,包括在阻擋膜中的氮會(huì)從氮 化鴒中分解出來并與歐姆膜中的硅結(jié)合。因此,在阻擋膜與歐姆膜之間會(huì)產(chǎn) 生氮化硅的不規(guī)則分界面,從而顯著增加了柵電極的電阻。
圖1為說明常規(guī)柵電極中由氮化硅凝聚產(chǎn)生的不規(guī)則分界面的掃描電子 顯微鏡(SEM)圖片。在圖1中,常規(guī)柵電極包括順序堆疊在襯底上的多晶 硅膜、硅化鴿膜、氮化鎢膜和鎢膜。
參考圖1,在形成常規(guī)柵電極的高溫工藝期間,由于氮化硅的凝聚,不 規(guī)則分界面易于在氮化鎢膜和硅化鎢膜之間產(chǎn)生??紤]到上述問題,硅化鈦或鈦已被用作柵電極中的歐姆膜來代替硅化鎢。
圖2為說明具有鈦的歐姆膜的另一常規(guī)柵電極中相對(duì)均勻的分界面的 SEM圖片。在圖2中,常規(guī)柵電極包括相繼形成在襯底上的鈦膜、氮化鎢 膜和鵠膜。
如圖2所示,在執(zhí)行了高溫工藝之后,氮化鴒膜和鈦膜之間產(chǎn)生的分界 面相對(duì)均勻。然而,包括鈦歐姆膜的柵電極具有薄層電阻(sheet resistance ), 該薄層電阻比包括硅化鎢歐姆膜的柵電極的薄層電阻高大約80 %以上,原因 在于當(dāng)?shù)o膜和鎢膜形成在鈦膜上時(shí)由于鈦膜而導(dǎo)致鎢膜中的鎢顆粒尺 寸變小。因此,包括鈦或氮化鈦的歐姆膜的柵電極具有相對(duì)高的薄層電阻, 使得包括該柵電極的半導(dǎo)體器件不具有期望的電性能。
發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面,提供了形成在襯底上的柵結(jié)構(gòu)。柵結(jié)構(gòu)包括在 襯底上的絕緣層,在絕緣層上的第一導(dǎo)電層圖案,在第一導(dǎo)電層圖案上的金 屬歐姆層圖案,在金屬歐姆層圖案上的防擴(kuò)散層圖案,在防擴(kuò)散層圖案上的 非晶層圖案,和在非晶層圖案上的第二導(dǎo)電層圖案。
在本發(fā)明實(shí)施例中,第一導(dǎo)電層圖案可包括多晶硅,第二導(dǎo)電層圖案可 包括金屬。例如,第二導(dǎo)電層圖案可包括鎢,非晶層圖案可包括金屬硅化物 (MSix)。另外,防擴(kuò)散層圖案可包括鎢氮化物(WNX),金屬歐姆層圖案可 包括鈦(Ti)。這里,防擴(kuò)散層圖案中的x值可在約0.2至約0.9范圍內(nèi)。
在本發(fā)明實(shí)施例中,防擴(kuò)散層圖案的氮含量可基本大于按重量計(jì)約20%。
在本發(fā)明實(shí)施例中,非晶層圖案可包括鎢硅化物(WSix)、鈦硅化物 (TiSix)、鉬硅化物(MoSix)、鉭硅化物(TaSix)等。
在本發(fā)明實(shí)施例中,歐姆層的厚度可基本小于約50A。 根據(jù)本發(fā)明另一方面,提供了襯底上的柵結(jié)構(gòu)。柵結(jié)構(gòu)包括在襯底上的 隧道絕緣層,在所述隧道絕緣層上的浮置柵極,在浮置柵極上的介電層圖案, 在介電層圖案上的控制柵。這里,控制柵包括在介電層圖案上的第一導(dǎo)電層 圖案,在第一導(dǎo)電層圖案上的金屬歐姆層圖案,在金屬歐姆層圖案上的防擴(kuò) 散層圖案,在防擴(kuò)散層圖案上的非晶層圖案,和在非晶層圖案上的第二導(dǎo)電層圖案。
在本發(fā)明實(shí)施例中,第一導(dǎo)電層圖案可包括多晶硅,第二導(dǎo)電層圖案可 包括鎢。此外,非晶層圖案可包括鵠硅化物,防擴(kuò)散層圖案可包括鎢氮化物。 在本發(fā)明實(shí)施例中,浮置柵極還可包括在隧道絕緣層上的附加第 一導(dǎo)電
層圖案,在附加第一導(dǎo)電層圖案上的附加金屬歐姆層圖案,在附加金屬歐姆 層圖案上的附加防擴(kuò)散層圖案,在附加防擴(kuò)散層圖案上的附加非晶層圖案, 和在附加非晶層圖案上的附加第二導(dǎo)電層圖案。這里附加第一導(dǎo)電層圖案可 包括多晶硅,附加第二導(dǎo)電層圖案可包括鴒。此外,附加非晶層圖案可包括 鴒硅化物,附加防擴(kuò)散層圖案可包括鴒氮化物。
根據(jù)本發(fā)明又一方面,提供了襯底上的柵結(jié)構(gòu)。柵結(jié)構(gòu)包括在襯底上的 隧道絕緣層,在隧道絕緣層上的電荷俘獲層圖案,在電荷俘獲層圖案上的阻 擋層圖案,和在阻擋層圖案上的柵電極。柵電極包括在阻擋層圖案上的第一 導(dǎo)電層圖案,在第一導(dǎo)電層圖案上的金屬歐姆層圖案,在金屬歐姆層圖案上 的防擴(kuò)散層圖案,在防擴(kuò)散層圖案上的非晶層圖案,和在非晶層圖案上的第 二導(dǎo)電層圖案。
根據(jù)本發(fā)明又一方面,提供了柵結(jié)構(gòu)的形成方法。在柵結(jié)構(gòu)的形成方法 中,絕緣層形成在襯底上,第一導(dǎo)電層圖案形成在絕緣層上。在第一導(dǎo)電層 圖案上形成金屬歐姆層圖案之后,防擴(kuò)散層圖案形成在金屬歐姆層圖案上。 非晶層圖案形成在防擴(kuò)散層圖案上,然后第二導(dǎo)電層圖案形成在非晶層圖案 上。
在本發(fā)明實(shí)施例中,第二導(dǎo)電層圖案可采用鎢形成,非晶層圖案可采用 鴒硅化物形成。此外,防擴(kuò)散層圖案可采用鴒氮化物形成。 在本發(fā)明實(shí)施例中,金屬歐姆層圖案可采用鈦形成。
在本發(fā)明實(shí)施例中,雜質(zhì)可還注入到非晶層圖案中以改善非晶層圖案的 非晶性能。
根據(jù)本發(fā)明又一方面,提供了柵結(jié)構(gòu)的形成方法。在柵結(jié)構(gòu)的形成方法 中,隧道絕緣層形成在襯底上,浮置柵極形成在隧道絕緣層上。介電層圖案 形成在浮置柵極上,控制柵形成在介電層圖案上。在控制柵的形成中,第一 導(dǎo)電層圖案形成在介電層圖案上,金屬歐姆層圖案形成在第一導(dǎo)電層圖案 上。此外,防擴(kuò)散層圖案形成在金屬歐姆層圖案上,非晶層圖案形成在防擴(kuò) 散層圖案上,第二導(dǎo)電層圖案形成在非晶層圖案上。在本發(fā)明實(shí)施例中,第二導(dǎo)電層圖案可采用鎢形成,非晶層圖案可采用 鵠硅化物形成。此外,防擴(kuò)散層圖案可采用鴒氮化物形成,金屬歐姆層圖案 可采用鈦形成。
在浮置柵極的形成中,附加第一導(dǎo)電層圖案可形成在隧道絕緣層上,附 加金屬歐姆層圖案可形成在附加第一導(dǎo)電層圖案上。在附加防擴(kuò)散層圖案形 成在附加金屬歐姆層圖案上之后,附加非晶層圖案可形成在附加防擴(kuò)散層圖 案上。附加第二導(dǎo)電層圖案可形成在附加非晶層圖案上。這里,附加第一導(dǎo) 電層圖案可采用多晶硅形成,附加第二導(dǎo)電層圖案可采用鴒形成。此外,附 加非晶層圖案可采用鴒硅化物形成,附加防擴(kuò)散層圖案可采用鴒氮化物形 成。
根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例,柵結(jié)構(gòu)包括在第二導(dǎo)電層圖案和防擴(kuò)散層圖案之間 的非晶層圖案,使得柵結(jié)構(gòu)可具有低的薄層電阻以及在第二導(dǎo)電層圖案與防 擴(kuò)散層圖案之間的均勻分界面。當(dāng)柵結(jié)構(gòu)應(yīng)用于半導(dǎo)體器件時(shí),半導(dǎo)體器件 可具有期望的電性能,例如,高響應(yīng)速度、4是高的可靠性、低能耗等。此外, 金屬歐姆層圖案包括具有高熔點(diǎn)的金屬,且具有期望的厚度,使得柵結(jié)構(gòu)可 確保良好的熱和電穩(wěn)定性。
通過后文結(jié)合附圖的詳細(xì)描述,本發(fā)明的實(shí)施例將變得更加易于理解。
圖1至圖22表示這里所描述的非限制實(shí)施例。
圖1為說明常規(guī)柵電極中由氮化硅的凝聚而引起的不規(guī)則分界面的掃描
電子顯微鏡(SEM)圖片;
圖2為說明另一常規(guī)柵電極中相對(duì)均勻的分界面的SEM圖片;
圖3為說明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的柵結(jié)構(gòu)的截面圖4為說明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的柵結(jié)構(gòu)的薄層電阻的曲線圖5為說明根據(jù)本發(fā)明一些實(shí)施例柵結(jié)構(gòu)的薄層電阻相對(duì)于氮的重量比
率的曲線圖6為說明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的柵結(jié)構(gòu)的反電容(inversion capacitance ) 的曲線圖7為說明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另一柵結(jié)構(gòu)的截面圖; 圖8為說明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的又一柵結(jié)構(gòu)的截面圖;圖9至圖13為說明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的柵結(jié)構(gòu)的制造方法的截面圖; 圖14至圖16為說明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的柵結(jié)構(gòu)的另一制造方法的截面
圖17至圖19為說明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的柵結(jié)構(gòu)的又一制造方法的截面
圖20為說明具有根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的柵結(jié)構(gòu)的易失性半導(dǎo)體器件的截 面圖;。
圖21為說明具有根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的柵結(jié)構(gòu)的非易失性半導(dǎo)體器件的 截面圖22為說明具有根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的柵結(jié)構(gòu)的另一非易失性半導(dǎo)體器 件的截面圖23為說明包括根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的柵結(jié)構(gòu)的存儲(chǔ)器系統(tǒng)的方框圖; 圖24為說明包括根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的柵結(jié)構(gòu)的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的方框圖。
具體實(shí)施例方式
將參考其中顯示本發(fā)明實(shí)施例的附圖在其后更加全面地描述本發(fā)明不
同實(shí)施例。然而,本發(fā)明可以以許多不同的形式實(shí)現(xiàn)且不應(yīng)解釋為限于這里 闡述的實(shí)施例。而是,提供這些實(shí)施例使得本公開充分和完整,且向那些本 領(lǐng)域的技術(shù)人員全面地傳達(dá)本發(fā)明的范圍。在附圖中,為了清晰夸大了層和 區(qū)域的尺寸和相對(duì)尺寸。
可以理解當(dāng)元件或?qū)颖环Q為在另一元件或?qū)?上"、"連接到"和/或"耦 合到',另一元件或?qū)訒r(shí),它可以直接在其他元件或?qū)由匣蛑苯舆B接到、耦合 到另一元件或?qū)?,或者可以存在中間的元件或?qū)印O喾?,?dāng)元件被稱為"直 接"在其他元件"上"、"直接連接到"和/或"直接耦合到"另一元件或?qū)訒r(shí), 則沒有中間元件或?qū)哟嬖?。在整個(gè)說明書中,相似的附圖標(biāo)記表示相似的元 件。這里所用的術(shù)語"和/或"包括相關(guān)列舉項(xiàng)目的一個(gè)或更多的任何和所有 組合。
可以理解雖然術(shù)語第 一、第二和第三可以用于此來描述各種元件、部件、 區(qū)域、層和/或部分,這些元件、部件、區(qū)域、層和/或部分應(yīng)不受這些術(shù)語 限制。這些術(shù)語只用于區(qū)分一個(gè)元件、部件、區(qū)域、層或部分與其他元件、 部件、區(qū)域、層或部分。因此,以下討論的第一元件、部件、區(qū)域、層或部分可以被稱為第二元件、部件、區(qū)域、層或部分,而不背離本發(fā)明的教導(dǎo)。
在這里為了描述的方便,可以使用空間相對(duì)術(shù)語,諸如"下面"、"下方"、 "下"、"上方"、"上"等,來描述一個(gè)元件或特征和其他元件或特征如圖中 所示的關(guān)系??梢岳斫饪臻g相對(duì)術(shù)語旨在包含除了在圖中所繪的方向之外的 裝置在使用或操作中的不同方向。例如,如果在圖中的裝置被翻轉(zhuǎn),被描述 為在其他元件或特征的"下方"或"下面"的元件則應(yīng)取向在所述其他元件 或特征的"上方"。因此,示范性術(shù)語"下方"可以包含下方和上方兩個(gè)方 向。裝置也可以有其它取向(旋轉(zhuǎn)90度或其它取向)且相應(yīng)地解釋這里所 使用的空間相對(duì)描述語。
這里所使用的術(shù)語是只為了描述特別的實(shí)施例的目的且不旨在限制本 發(fā)明。如這里所用,單數(shù)形式也旨在包括復(fù)數(shù)形式,除非內(nèi)容清楚地指示另 外的意思??梢赃M(jìn)一步理解當(dāng)在此說明書中使用時(shí)術(shù)語"包括,,和/或"包含" 說明所述特征、整體、步驟、操作、元件和/或組分的存在,但是不排除存在 或添加一個(gè)或更多其他特征、整體、步驟、操作、元件、組分和/或其組。
參考橫截面圖示在這里描述了本發(fā)明的實(shí)施例,該圖示是本發(fā)明的理想 實(shí)施例(和中間結(jié)構(gòu))的示意圖。因此,可以預(yù)期由于例如制造技術(shù)和/或公 差引起的圖示的形狀的變化。因此,本發(fā)明的實(shí)施例不應(yīng)解釋為限于這里所 示的特別的區(qū)域形狀,而是包括由于例如由制造引起的形狀的偏離。例如, 被示為矩形的注入?yún)^(qū)將通常具有修圓或彎曲的特征和/或在其邊緣具有注入 濃度的梯度而不是從注入?yún)^(qū)到非注入?yún)^(qū)的二元變化。相似地,由注入形成的 埋入?yún)^(qū)可以引起埋入?yún)^(qū)與通過其進(jìn)行注入的表面之間的區(qū)域中的某些注入。 因此,圖中示出的區(qū)域本質(zhì)上是示意性的且它們的形狀不旨在示出器件區(qū)域 的實(shí)際形狀且不旨在限制本發(fā)明的范圍。
除非另有界定,這里使用的所有術(shù)語(包括技術(shù)和科學(xué)術(shù)語)具有本發(fā) 明屬于的領(lǐng)域的普通技術(shù)人員共同理解的相同的意思。還可以理解諸如那些 在共同使用的字典中定義的術(shù)語應(yīng)解釋為 一種與在相關(guān)技術(shù)和本公開的背 景中的它們的涵義一致的涵義,而不應(yīng)解釋為理想化或過度正式的意義,除 非在這里明確地如此界定。
圖3為說明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的柵結(jié)構(gòu)的截面圖。
參考圖3,柵結(jié)構(gòu)可包括柵絕緣層110、第一導(dǎo)電層圖案125、金屬歐姆 層圖案135、防擴(kuò)散層圖案145、非晶層圖案155和第二導(dǎo)電層圖案165。柵結(jié)構(gòu)設(shè)置在襯底100上。襯底100可包括半導(dǎo)體襯底,例如,硅(Si) 襯底、鍺(Ge)襯底、硅-鍺(Si-Ge)襯底等??商鎿Q地,襯底100包括 絕緣體上硅(SOI)襯底、絕纟彖體上鍺(GOI)襯底等。
在本發(fā)明實(shí)施例中,襯底100可為含P型或N型雜質(zhì)的阱。也就是,P 型或N型雜質(zhì)可被摻雜到襯底100中,從而在襯底100的期望部分設(shè)置阱。
柵絕緣層110可包括具有高介電常數(shù)的氧化物或金屬氧化物。例如,柵 絕緣層110可包括硅氧化物(SiOx)、鉿氧化物(HfOx)、鋯氧化物(ZrOx)、 鉭氧化物(TaOx)、鋁氧化物(A10x)等。這些可以單獨(dú)^吏用或組合使用。
第一導(dǎo)電層圖案125可包括摻雜有雜質(zhì)的多晶硅。例如,第一導(dǎo)電層圖 案125可包括摻雜有P型雜質(zhì)的多晶硅。這里,P型雜質(zhì)可包括硼(B)、銦 (In)、鎵(Ga)等。可替換地,第一導(dǎo)電層圖案125可包括摻雜有N型雜 質(zhì)諸如磷(P)、砷(As)、銻(Sn)等的多晶硅。
在一些實(shí)施例中,第一導(dǎo)電層圖案125可包括金屬和/或金屬化合物。例 如,第一導(dǎo)電層圖案125可包括鎢(W)、鈦(Ti)、鋁(Al)、鎳(Ni)、鉭 (Ta)、鴒氮化物(WNX)、鴒硅化物(WSix)、鈦氮化物(TiNx)、鈦硅化物 (TiSix)、鋁氮化物(AlNx)、鈦鋁氮化物(TiAlxNy)、鎳硅化物(NiSix)、 鈷硅化物(CoSix)等。這些可以單獨(dú)使用或組合使用。
金屬歐姆層圖案135可包括具有低電阻和高熔點(diǎn)的金屬。例如,金屬歐 姆層圖案135可包括鈦、鉭、鴒、鉬(Mo)等??商鎿Q地,金屬歐姆層圖 案135可包括含鈦、鉭、鴒和鉬中的至少一種的合金。金屬歐姆層圖案135 可防止第一導(dǎo)電層圖案125與第二導(dǎo)電層圖案165之間的界面電阻增大。在 本發(fā)明實(shí)施例中,金屬歐姆層圖案135基于第一導(dǎo)電層圖案125的上表面可 具有低于約50A的厚度。
可以理解的是,這里使用的術(shù)語"歐姆層"涉及這樣一個(gè)層,在基本上 所有預(yù)期的運(yùn)行頻率下,與該層有關(guān)的阻抗基本由阻抗=V/I的關(guān)系給出, 其中V是穿過該層的電壓,I是電流(即,與歐姆層有關(guān)的阻抗在所有運(yùn)行 頻率下基本相同)。例如,在根據(jù)本發(fā)明的一些實(shí)施例中,歐姆層圖案能具 有小于約10 e-03 ohm-cm2的特定電阻,在一些實(shí)施例中小于約10 e-04 ohm-cm2。因此,具有高特定電阻,例如,大于約10 e-03 ohm-cm2的高特定 電阻的材料或者正被調(diào)整的材料不是這里所用的術(shù)語所指代的歐姆層。
防擴(kuò)散層圖案145可防止或甚至顯著減 包括在第一導(dǎo)電層圖案125中的雜質(zhì)擴(kuò)散到第二導(dǎo)電層圖案165中。防止擴(kuò)散層圖案145可包括金屬氮化 物。例如,防擴(kuò)散層圖案145可包括鴒氮化物、鈦氮化物、鉭氮化物、鉬氮 化物、鋁氮化物等。這些可以單獨(dú)使用或組合使用。在本發(fā)明實(shí)施例中,包 括在防擴(kuò)散層圖案145中的金屬可與金屬歐姆層圖案135中的金屬基本相同 或基本相似。
在本發(fā)明實(shí)施例中,防擴(kuò)散層圖案145可包括鎢氮化物,由化學(xué)式WNx 表示。這里,x可以在約0.2至約0.9的范圍。當(dāng)防擴(kuò)散層圖案145中的氮含 量在此范圍中時(shí),防擴(kuò)散層圖案145可具有良好的熱穩(wěn)定性。此外,防擴(kuò)散 層圖案145中的氮相對(duì)于金屬的重量比可根據(jù)柵結(jié)構(gòu)的電性能而變化。例如, 防擴(kuò)散層圖案145中的氮的重量比可在基本大于約20% (按重量計(jì)算)的范 圍中。
非晶層圖案155可包括具有高熔點(diǎn)的非晶硅或非晶金屬硅化物。當(dāng)非晶 層圖案155包括非晶金屬硅化物時(shí),柵結(jié)構(gòu)可具有相對(duì)低的接觸電阻。在本 發(fā)明實(shí)施例中,非晶層圖案155可包括非晶鎢硅化物(WSix)、非晶鈦硅化 物(TiSix)、非晶鉬硅化物(MoSix)、非晶鉭硅化物(TaSix)等。這些可以 單獨(dú)使用或組合使用。例如,非晶層圖案155可包括非晶鴒硅化物以及非晶 鈦硅化物、非晶鉬硅化物和非晶鉭硅化物中的其中 一種。
由于含有金屬的金屬歐姆層圖案135,非晶層圖案155可防止第二導(dǎo)電 層圖案165的薄層電阻增大。例如,當(dāng)金屬歐姆層圖案135包括鈦時(shí),非晶 層圖案155可防止第二導(dǎo)電層圖案165中的鴒的顆粒尺寸減小。因此,第二 導(dǎo)電層圖案165可具有減小的薄層電阻。
第二導(dǎo)電層圖案165可包括具有高熔點(diǎn)的金屬,使得第二導(dǎo)電層圖案 165可耐受高溫下進(jìn)行的熱處理工藝。例如,第二導(dǎo)電層圖案165可包括鵠、 鈦、鉭、鉬、鎳、鋁等??商鎿Q地,第二導(dǎo)電層圖案165可包括含有鎢、鈦、 鉭、鉬、鎳和鋁的至少一種的合金。
參考圖4至圖6描述具有上述結(jié)構(gòu)的柵結(jié)構(gòu)的電性能。
圖4為說明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的柵結(jié)構(gòu)的薄層電阻的曲線圖。在圖4中, 第一柵結(jié)構(gòu)包括順序形成在多晶硅層圖案上的鎢硅化物層圖案、鈦氮化物層 圖案和鴒層圖案。因此,第二柵結(jié)構(gòu)具有相繼堆疊在多晶硅層圖案上的鈦層 圖案、鎢氮化物層圖案和鎢層圖案。此外,第三柵結(jié)構(gòu)包括順序堆疊在多晶 硅層圖案上的鈦層圖案、鴒氮化物層圖案、鴒硅化物層圖案和鵠層圖案。這里,第三柵結(jié)構(gòu)的鴒硅化物層圖案由物理氣相沉積(PVD)工藝獲得。
參考圖4,具有鈦、鴒氮化物、鎢硅化物和鎢層圖案的第三柵結(jié)構(gòu)的薄
層電阻顯著低于具有鈦、鵠氮化物和鴒層圖案的第二柵結(jié)構(gòu)的薄層電阻。此 外,第三柵結(jié)構(gòu)的薄層電阻可以大幅地小于具有鴒硅化物、鈦氮化物和鎢層 圖案的第一柵結(jié)構(gòu)。這里,第二柵結(jié)構(gòu)的薄層電阻可與第一柵結(jié)構(gòu)的薄層電 阻基本相似。
圖5為說明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的其他柵結(jié)構(gòu)的薄層電阻相對(duì)于氮的重量 比的曲線圖。在圖5中,T,表示相對(duì)于第四柵結(jié)構(gòu)中氮含量的第四柵結(jié)構(gòu) 的薄層電阻,"II"表示相對(duì)于第五柵結(jié)構(gòu)中氮含量的第五柵結(jié)構(gòu)的薄層電 阻。第四柵結(jié)構(gòu)包括相繼形成在多晶硅層圖案上的鴒氮化物層圖案、非晶鎢 硅化物層圖案和鴒層圖案。第五柵結(jié)構(gòu)具有相繼堆疊在多晶硅層圖案上的非 晶鴒硅化物層圖案、鵠氮化物層圖案和鎢層圖案。
如圖5所示,具有鵪氮化物、非晶鴒硅化物和鴒層圖案的第四柵結(jié)構(gòu)的 薄層電阻可小于具有非晶鎢硅化物、鎢氮化物和鎢層圖案的第五柵結(jié)構(gòu)的薄 層電阻。即,當(dāng)?shù)谒臇沤Y(jié)構(gòu)具有插置在鴒氮化物層圖案與鎢層圖案之間的非 晶鴒硅化物層圖案時(shí),第四柵結(jié)構(gòu)的薄層電阻可小于第五柵結(jié)構(gòu)的薄層電 阻,該第五柵結(jié)構(gòu)具有形成在鴒氮化物層圖案下面的非晶鴒硅化物層圖案。 因此,當(dāng)非晶金屬硅化物層位于金屬的導(dǎo)電層下面時(shí),金屬導(dǎo)電層中的金屬 顆粒尺寸可減小。也就是,設(shè)置在鎢層圖案下面的非晶鵠硅化物層圖案可對(duì) 鴒層圖案中的金屬顆粒尺寸產(chǎn)生直接影響。此外,根據(jù)第四和第五柵結(jié)構(gòu)中 的氮的重量比率,第四柵結(jié)構(gòu)的薄層電阻可變得顯著低于第五柵結(jié)構(gòu)的薄層 電阻。
當(dāng)用作防擴(kuò)散層圖案145的鎢氮化物層圖案中氮的重量比率基本大于 40%時(shí),在防擴(kuò)散層45與金屬歐姆層圖案135之間包括非晶層圖案155的 柵結(jié)構(gòu)的薄層電阻可稍微降低。然而,在防擴(kuò)散層圖案145與第二導(dǎo)電層圖 案165之間包括非晶層圖案155的柵結(jié)構(gòu)的薄層電阻可具有顯著降低的薄層 電阻。
圖6是說明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的柵結(jié)構(gòu)的反電容的曲線圖。在圖6中, 第六柵結(jié)構(gòu)包括順序設(shè)置在多晶硅層圖案上的鎢硅化物層圖案、鎢氮化物層 圖案和鎢層圖案,第七柵結(jié)構(gòu)包括順序形成在多晶硅層圖案上的鈦層圖案、 鴒氮化物層圖案和鎢層圖案。
13參考圖6,雖然包括鴒硅化物層圖案、鴿氮化物層圖案和鎢層圖案的第 六柵結(jié)構(gòu)具有相對(duì)恒定的反電容,但是包括鈦層圖案、鴒氮化物層圖案和鴒 層圖案的第七柵結(jié)構(gòu)的反電容可隨著鈦層圖案的厚度減小而減小。即,當(dāng)用
作金屬歐姆層圖案135的鈦層圖案的厚度增大時(shí),第七柵結(jié)構(gòu)的反電容惡化。 在本發(fā)明實(shí)施例中,用作金屬歐姆層圖案135的鈦層圖案的厚度可在低于約 50A的范圍中。
如上文所述,根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的柵結(jié)構(gòu)可包括設(shè)置在防擴(kuò)散層圖案 145與第二導(dǎo)電層圖案165之間的非晶層圖案155,使得柵結(jié)構(gòu)可具有低薄 層電阻,用于需要高響應(yīng)速度的半導(dǎo)體器件。因此,金屬歐姆層圖案135可 包括具有高熔點(diǎn)的金屬,諸如鈦,并且可以具有期望的厚度,使得包括金屬 歐姆層圖案135的柵結(jié)構(gòu)可具有良好的熱穩(wěn)定性和電性能。 圖7為說明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另一柵結(jié)構(gòu)的截面圖。 參考圖7,柵結(jié)構(gòu)設(shè)置在襯底200上。柵結(jié)構(gòu)包括順序形成在襯底200 上的隧道絕緣層210、浮置^冊(cè)才及225、介電層圖案235、第一導(dǎo)電層圖案245、 金屬歐姆層圖案255、防擴(kuò)散層圖案265、非晶層圖案275和第二導(dǎo)電層圖 案285。
在本發(fā)明實(shí)施例中,第一導(dǎo)電層圖案245、金屬歐姆層圖案255、防擴(kuò) 散層圖案265、非晶層圖案275和第二導(dǎo)電層圖案285可用作非易失性半導(dǎo) 體器件中的控制柵。
在本發(fā)明一些實(shí)施例中,浮置柵極225可包括附加第一導(dǎo)電層圖案、附 加金屬歐姆層圖案、附加防擴(kuò)散層圖案、附加非晶層圖案和附加第二導(dǎo)電層 圖案。這里,附加第一導(dǎo)電層圖案、附加金屬歐姆層圖案、附加防擴(kuò)散層圖 案、附加非晶層圖案和附加第二導(dǎo)電層圖案可包括與第一導(dǎo)電層圖案245、 金屬歐姆層圖案255、防擴(kuò)散層圖案265、非晶層圖案275和第二導(dǎo)電層圖 案285的材料基本相同或基本相似的材料。
襯底200可包括硅襯底、4者襯底、硅-鍺襯底、SOI襯底、GOI襯底等。 在本發(fā)明實(shí)施例中,襯底200可具有由摻雜了 P型雜質(zhì)或N型雜質(zhì)而形成的 阱。
隧道絕緣層210形成在襯底200上,作為襯底200與浮置柵-極225之間 的電荷隧穿的能量勢(shì)壘層。隧道絕緣層210可包括氧化物,諸如硅氧化物, 或者氮氧化物,如硅氮氧化物??商鎿Q地,隧道絕緣層210可包括摻入雜質(zhì)的硅氧化物或者低介電材料。
浮置柵極225可存儲(chǔ)從襯底200傳遞的電荷。浮置4冊(cè)極225可包括一參入 雜質(zhì)的多晶硅、具有高功函數(shù)的金屬和/或金屬化合物。例如,浮置柵極225 可包括鴒、鈦、鈷、鎳、鴒氮化物、鴒硅化物、鈦氮化物、鈦硅化物、鈷硅 化物、鎳硅化物等。這些可單獨(dú)使用或組合使用。
介電層圖案235可具有ONO結(jié)構(gòu),該ONO結(jié)構(gòu)包括下氧化物膜、氮 化物膜和上氧化物膜。這里,下氧化物膜和上氧化物膜可包括硅氧化物,氮 化物膜可包括硅氮化物??商鎿Q地,介電層圖案235可包括具有高介電常數(shù) 的金屬氧化物,從而增大電容和減小漏電流。介電層圖案235中的金屬氧化 物的實(shí)例可包括鉿氧化物、鈦氧化物、鉭氧化物、鋯氧化物、鋁氧化物等。 這些可單獨(dú)使用或組合使用。
第一導(dǎo)電層圖案245可包括摻入雜質(zhì)的多晶硅。例如,第一導(dǎo)電層圖案 245可包括摻入P型雜質(zhì)如硼、銦、鎵等的多晶硅??商鎿Q地,第一導(dǎo)電層 圖案245可包括摻入N型雜質(zhì)如磷、砷、銻等的多晶硅。在本發(fā)明一些實(shí)施 例中,第一導(dǎo)電層圖案245可包括金屬和/或金屬化合物。例如,第一導(dǎo)電層 圖案245可包括鴒、鈦、紹、鎳、鉭、鴒氮化物、鎢硅化物、鈦氮化物、鈦 硅化物、鋁氮化物、鈦鋁氮化物、鎳硅化物、鈷硅化物等。這些可單獨(dú)使用 或組合使用。
金屬歐姆層圖案255可包括具有低電阻和高熔點(diǎn)的金屬,諸如,鈦、鉭、 鎢、鉬等??商鎿Q地,金屬歐姆層圖案255可包括含有鈦、鉭、鎢和鉬的至 少一種的合金。金屬歐姆層圖案255可防止第一導(dǎo)電層圖案245與第二導(dǎo)電 層圖案285之間的界面電阻增大。
防擴(kuò)散層圖案265可包括金屬氮化物,諸如,鴒氮化物、鈦氮化物、鉭 氮化物、鉬氮化物、鋁氮化物等。防擴(kuò)散層圖案265可防止包括在第一導(dǎo)電 層圖案245中的雜質(zhì)擴(kuò)散到第二導(dǎo)電層圖案285中。在本發(fā)明實(shí)施例中,包 括在防擴(kuò)散層圖案265中的金屬與金屬歐姆層圖案255中的金屬基本相同或 基本相似。
非晶層圖案275可包括非晶硅或具有高熔點(diǎn)的非晶金屬硅化物,諸如, 非晶鴒硅化物、非晶鈦硅化物、非晶鉬硅化物、非晶鉭硅化物等。非晶層圖 案275可包括含有非晶鵠硅化物、非晶鈦硅化物、非晶鉬硅化物、非晶鉭硅 化物中的其中一種的合成物材料。非晶層材料275可防止由金屬歐姆層圖案255引起的第二導(dǎo)電層圖案285的薄層電阻增大。
第二導(dǎo)電層圖案285可包括具有高熔點(diǎn)的金屬,諸如,鎢、鈦、鉭、鉬、 鎳、鋁等。可替換地,第二導(dǎo)電層圖案285可包括含有鎢、鈦、鉭、鉬、鎳 和鋁的至少一種的合金。第二導(dǎo)電層圖棄285可耐受高溫?zé)崽幚砉に嚒?br>
根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的柵結(jié)構(gòu)可用作控制柵??刂茤趴砂ǖ谝粚?dǎo)電層圖 案245、金屬歐姆層圖案255、防擴(kuò)散層圖案265、非晶層圖案275和第二導(dǎo) 電層圖案285。因此,用作控制柵的柵結(jié)構(gòu)可具有低的薄層電阻和良好的熱 穩(wěn)定性。
當(dāng)柵結(jié)構(gòu)包括第一導(dǎo)電層圖案245、金屬歐姆層圖案255、防擴(kuò)散層圖 案265和第二導(dǎo)電層圖案285時(shí),柵結(jié)構(gòu)可確保期望的熱和電性能,諸如, 低薄層電阻、提高的熱穩(wěn)定性、增強(qiáng)的可靠性等。
圖8為說明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另一柵結(jié)構(gòu)的截面圖。
參考圖8,柵結(jié)構(gòu)包括隧道絕緣層310、電荷俘獲層圖案325、阻擋層圖 案335、第一導(dǎo)電層圖案345、金屬歐姆層圖案355、防擴(kuò)散層圖案365、非 晶層圖案375和第二導(dǎo)電層圖案385,這些層順序堆疊在襯底300上。
第一導(dǎo)電層圖案345、金屬歐姆層圖案355、防擴(kuò)散層圖案365、非晶層 圖案375和第二導(dǎo)電層圖案385可與參考圖3或圖7描述的那些層基本相同 或基本相似。此外,第一導(dǎo)電層圖案345、金屬歐姆層圖案355、防擴(kuò)散層 圖案365、非晶層圖案375和第二導(dǎo)電層圖案385可用作半導(dǎo)體器件中的柵 電極。
襯底300可包括半導(dǎo)體襯底或具有半導(dǎo)體層的襯底,諸如,SOI襯底、 GOI襯底等。隧道絕緣層310可包括氧化物、氮氧化物、摻入雜質(zhì)的硅氧化 物、低介電材料等。隧道絕緣層310可具有基于襯底300上表面的相對(duì)薄的厚度。
電荷俘獲層圖案325可存儲(chǔ)從村底300移動(dòng)的電荷。電荷俘獲層圖案325 可包括氮化物,諸如,硅氮化物。可替換地,電荷俘獲層圖案325可具有多 層結(jié)構(gòu),其包括至少一層氧化物膜和至少一層氮化物膜。例如,電荷俘獲層 圖案325可包括順序形成在隧道絕緣層310上的氧化物膜和氮化物膜??商?換地,電荷俘獲層圖案325可具有下氮化物膜、氧化物膜和上氮化物膜。
阻擋層圖案335可包括氧化物,諸如,硅氧化物??商鎿Q地,阻擋層圖 案325可包括具有高介電常數(shù)的金屬氧化物。例如,阻擋層圖案325可包括鉿氧化物、鈦氧化物、鉭氧化物、鋯氧化物、鋁氧化物等。
根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例,如上所述,柵結(jié)構(gòu)還可確保低的薄層電阻和良好的 熱穩(wěn)定性,因?yàn)闁沤Y(jié)構(gòu)包括如上所述的第一導(dǎo)電層圖案345、金屬歐姆層圖
案355、防擴(kuò)散層圖案365、非晶層圖案375和第二導(dǎo)電層圖案385。
圖9至圖13為說明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的柵結(jié)構(gòu)的制造方法的截面圖。 參考圖9,柵才及絕緣層110和第一導(dǎo)電層120形成在襯底100上。襯底
100可包括半導(dǎo)體村底、SOI襯底、GOI襯底等。雜質(zhì)可被摻入到襯底100
的預(yù)定部分以形成含有雜質(zhì)的阱。例如,P型或N型雜質(zhì)可通過離子注入工
藝摻入到襯底100的預(yù)定部分。
柵極絕緣層110可通過化學(xué)氣相沉積(CVD )工藝、原子層沉積(ALD )
工藝、濺射工藝、熱氧化工藝、脈沖激光沉積(PLD)工藝等來形成。此外,
柵極絕緣層110可采用硅氧化物、鉿氧化物、鋯氧化物、鉭氧化物和/或鋁氧
化物來形成。
在本發(fā)明實(shí)施例中,第一導(dǎo)電層120可通過CVD工藝、等離子體增強(qiáng) 化學(xué)氣相沉積(PECVD)工藝、低壓化學(xué)氣相沉積(LPCVD)工藝等采用 多晶硅形成。當(dāng)?shù)谝粚?dǎo)電層120包括多晶硅時(shí),在初始多晶硅層形成在柵極 絕緣層110上之后,雜質(zhì)可被摻入到初始多晶硅層中??商鎿Q地,在柵極絕 緣層110上形成初始多晶硅層的同時(shí),雜質(zhì)可被注入到初始多晶硅層中。例 如,雜質(zhì)可由原位摻雜工藝來摻入。這里,雜質(zhì)可包括P型雜質(zhì),諸如,硼、 銦、鎵等??商鎿Q地,雜質(zhì)可包括N型雜質(zhì),如,磷、砷、銻等。
在本發(fā)明一些實(shí)施例中,第一導(dǎo)電層120可通過CVD工藝、ALD工藝、 PLD工藝、、踐射工藝、蒸發(fā)工藝等采用金屬和/或金屬化合物來形成。例如, 第一導(dǎo)電層120可采用鴒、鈦、鋁、鎳、鉭、鎢氮化物、鎢硅化物、鈦氮化 物、鈥硅化物、鋁氮化物、鈦鋁氮化物、鎳珪化物和/或鈷硅化物來形成。
參考圖10,金屬歐姆層130和防擴(kuò)散層140順序形成在第一導(dǎo)電層120上。
金屬歐姆層130可采用具有低電阻率和高熔點(diǎn)的金屬通過CVD工藝、 ALD工藝、PLD工藝、濺射工藝、蒸發(fā)工藝、PECVD工藝等來形成。例如, 金屬歐姆層130可采用鈦、鉭、鴒和/或鉬來形成??商鎿Q地,金屬歐姆層 130可采用包括鈦、鉭、鎢和鉬中至少一種的合金來形成。
在本發(fā)明實(shí)施例中,金屬歐姆層130可具有小于約50A的薄厚度,該薄厚度從第一導(dǎo)電層120的上表面測(cè)量得到??商鎿Q地,在第一導(dǎo)電層120上 形成金屬歐姆層130的同時(shí),當(dāng)金屬歐姆層130中的金屬與第一導(dǎo)電層120 中的硅反應(yīng)時(shí),金屬硅化物膜可在第一導(dǎo)電層120和金屬歐姆層130之間產(chǎn) 生。
防擴(kuò)散層140可采用金屬氮化物通過CVD工藝、ALD工藝、濺射工藝、 PECVD工藝、PLD工藝、蒸發(fā)工藝等來形成。防擴(kuò)散層140可采用金屬氮 化物來形成,在該金屬氮化物中金屬與包括在第二導(dǎo)電層160中的金屬基本 相同(見圖12)??商鎿Q地,防擴(kuò)散層140可采用金屬氮化物來形成,在該 金屬氮化物中的金屬與包括在金屬歐姆層130中的金屬基本相同。例如,防 擴(kuò)散層140可采用鴒氮化物、鈦氮化物、鉭氮化物、鉬氮化物、鋁氮化物等 來形成。
在本發(fā)明實(shí)施例中,防擴(kuò)散層140可包括鎢氮化物(WNX),其中x的 值可在約0.2至約0.9的范圍。當(dāng)防擴(kuò)散層140采用鴒氮化物形成時(shí),鎢氮 化物中的氮的重量比可以考慮到柵結(jié)構(gòu)的電性能而改變。例如,防擴(kuò)散層140 中的氮的重量比可基本大于約20% (按重量計(jì))。防擴(kuò)散層圖案140可防止 第一導(dǎo)電層120中的雜質(zhì)在后續(xù)工藝中朝向第二導(dǎo)電層160擴(kuò)散。
參考圖11,非晶層150形成在防擴(kuò)散層140上。非晶層150通過CVD 工藝、ALD工藝、PECVD工藝等來形成。此外,非晶層150可釆用非晶硅 或非晶金屬硅化物來形成。非晶層150采用非晶硅或非晶金屬硅化物形成。 例如,非晶層150可采用非晶鴒硅化物形成。在本發(fā)明一些實(shí)施例中,非晶 層150可采用具有高熔點(diǎn)的金屬硅化物來形成,例如,非晶鈦硅化物、非晶 鉬硅化物、非晶鉭硅化物和/或非晶鵠硅化物。
在本發(fā)明一些實(shí)施例中,雜質(zhì)可被摻入到非晶層150中以提高非晶層 150的非晶性能。這里,雜質(zhì)可包括具有相對(duì)高的分子量的元素。例如,雜 質(zhì)可包括氳、氖、氮等。
參考圖12,第二導(dǎo)電層160形成在非晶層150上。第二導(dǎo)電層160可采 用具有高熔點(diǎn)的金屬通過CVD工藝、PECVD工藝、ALD工藝、蒸發(fā)工藝、 濺射工藝、PLD工藝等來形成。例如,第二導(dǎo)電層160可采用鎢、鈦、鉭、 鉬等形成??商鎿Q地,第二導(dǎo)電層160可采用包括鎢、鈦、鉭、鉬、鎳和鋁 中至少 一種的合金來形成。
參考圖13,第二導(dǎo)電層160、非晶層150、防擴(kuò)散層140、金屬歐姆層
18130和第一導(dǎo)電層120被部分地蝕刻,使得第一導(dǎo)電層圖案125、金屬歐姆 層圖案135、防擴(kuò)散層圖案145、非晶層圖案155和第二導(dǎo)電層圖案165順 序形成在柵絕緣層110上。在本發(fā)明實(shí)施例中,將掩模設(shè)置在第二導(dǎo)電層160 上之后,第二導(dǎo)電層160、非晶層150、防擴(kuò)散層140、金屬歐姆層130和第 一導(dǎo)電層120可采用該掩模來蝕刻。掩??砂ǖ铩⒌趸?、光致抗 蝕劑等。
在一些實(shí)例實(shí)施例中,間隔體可形成在第一導(dǎo)電層圖案125、金屬歐姆 層圖案135、防擴(kuò)散層圖案145、非晶層圖案155和第二導(dǎo)電層圖案165的 側(cè)壁上。在形成間隔體時(shí),間隔體形成層可形成在柵絕緣層IIO上以覆蓋第 二導(dǎo)電層圖案165。間隔體形成層可沿著第一導(dǎo)電層圖案145、金屬歐姆層 圖案135、防擴(kuò)散層圖案145、非晶層圖案155和第二導(dǎo)電層圖案165的輪 廓共形地形成。間隔體形成層可采用氮化物或氮氧化物通過CVD工藝、 PECVD工藝等來形成。間隔體可通過各向異性蝕刻間隔體形成層來獲得。
隨著第二導(dǎo)電層圖案165的形成,柵結(jié)構(gòu)設(shè)置在襯底100上。如上所述, 通過簡(jiǎn)單的工藝可獲得具有增強(qiáng)的電性能的4冊(cè)結(jié)構(gòu)。
圖14至圖16為說明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的柵結(jié)構(gòu)的另一制造方法的截面圖。
參考圖14,隧道絕緣層(tunnel insulation layer ) 210、下導(dǎo)電層KO和 介電層230形成在襯底200上。
隧道絕緣層210可采用氧化物、氮氧化物或低介電材料通過熱氧化工藝、 CVD工藝、ALD工藝、PECVD工藝、賊射工藝等來形成。例如,隧道絕緣 層210可采用硅氧化物、硅氮氧化物、硅酸鹽、有機(jī)硅酸鹽等來形成。
下導(dǎo)電層220可通過CVD工藝、PECVD工藝、ALD工藝、濺射工藝、 蒸發(fā)工藝等來形成。此外,下導(dǎo)電層220可采用多晶硅、具有高功函數(shù)的金 屬或金屬化合物來形成。例如,下介電層220可采用摻有雜質(zhì)的多晶硅、鎢、 鈦、鈷、鎳、鴒硅化物、鴒氮化物、鈦硅化物、鈦氮化物、鈷硅化物、鎳硅 化物等來形成。
介電層230可通過CVD工藝、PECVD工藝、濺射工藝、PLD工藝、 ALD工藝等形成在下導(dǎo)電層220上。介電層230可采用氧化物、氮化物和/ 或具有高介電常數(shù)的金屬氧化物來形成。例如,介電層230可采用硅氧化物、 硅氮化物、鉿氧化物、鋁氧化物、鉭氧化物、鋯氧化物等來形成。在本發(fā)明一些實(shí)施例中,介電層230可形成為具有多層結(jié)構(gòu)。例如,下 氧化物膜、氮化物膜和上氧化物膜可順序形成在下電極層220上,這樣便設(shè) 置了介電層230。
參考圖15,控制柵層形成在介電層230上??刂茤艑影樞蛐纬稍诮?電層230上的第一導(dǎo)電膜240、金屬歐姆層250、防擴(kuò)散膜260、非晶膜270 和第二導(dǎo)電膜280。這里,第一導(dǎo)電膜240、金屬歐姆膜250、防擴(kuò)散膜260、 非晶膜270和第二導(dǎo)電膜280可通過與參考圖9至12描述的工藝基本相同 或基本相似的工藝來形成。
在本發(fā)明一些實(shí)施例中,雜質(zhì)可摻入到非晶膜270中以提高非晶膜270 到非晶性能。這里,雜質(zhì)可包括具有相對(duì)高的分子量的元素,例如,氬、氖、 氮等。
參考圖16,第二導(dǎo)電膜280、非晶膜270、防擴(kuò)散膜260、金屬歐姆膜 250、第一導(dǎo)電膜240、介電層230和下導(dǎo)電層220被部分蝕刻,這樣浮置柵 極225、介電層圖案235、第一導(dǎo)電膜圖案245、金屬歐姆膜圖案255、防擴(kuò) 散膜圖案265、非晶膜圖案275和第二導(dǎo)電膜圖案285順序形成在隧道絕緣 層210上。在本發(fā)明實(shí)施例中,通過利用設(shè)置在第二導(dǎo)電膜280上的掩模來 構(gòu)圖下導(dǎo)電層220、介電層230、第一導(dǎo)電膜240、金屬歐姆膜250、防擴(kuò)散 膜260、非晶膜270和第二導(dǎo)電膜280來形成浮置柵極225、介電層235、第 一導(dǎo)電膜圖案245、金屬歐姆膜圖案255、防擴(kuò)散膜圖案265、非晶膜圖案 275和第二導(dǎo)電膜圖案285。這里,掩模可包括氮化物、氮氧化物、光致抗 蝕劑等。
根據(jù)浮置柵極225、介電層圖案235、第一導(dǎo)電膜圖案245、金屬歐姆膜 圖案255、防擴(kuò)散膜圖案265、非晶膜圖案275和第二導(dǎo)電膜圖案285的形 成,柵結(jié)構(gòu)設(shè)置在襯底200上。
根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例,柵結(jié)構(gòu)可確保增強(qiáng)的電性能,因?yàn)闁沤Y(jié)構(gòu)具有低的 薄層電阻以及在金屬歐姆膜圖案255、防擴(kuò)散膜圖案265、非晶膜圖案275 和第二導(dǎo)電膜圖案285之間的均勻分界面而不產(chǎn)生硅氮化物的凝聚。
圖17至圖19為說明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的柵結(jié)構(gòu)的另一制造方法的截面圖。
參考圖17,隧道絕緣層310、電荷俘獲層320和阻擋層330順序形成在 襯底300上。隧道絕緣層310可通過與參考圖14描述的形成隧道絕^^層210的工藝 基本相同或基本相似的工藝來形成。
電荷-f孚獲層320可通過CVD工藝、PECVD工藝、ALD工藝、賊射工 藝、蒸發(fā)工藝等來形成。電荷俘獲層320可釆用氮化物諸如硅氮化物來形成。 可替換地,電荷俘獲層320可采用至少一層氧化物膜和至少一層氮化物膜形 成。例如,電荷俘獲層320可具有多層結(jié)構(gòu),其包括順序形成在隧道絕緣層 310上的氧化物膜和氮化物膜??商鎿Q地,電荷俘獲層320可具有另一多層 結(jié)構(gòu),其包括順序形成在隧道絕緣層310上的下氮化物膜、氧化物膜和上氮 化物膜。
阻擋層330可釆用氧化物通過CVD工藝、PECVD工藝、LPCVD工藝 等形成。例如,阻擋層330可包括硅氧化物??商鎿Q地,阻擋層330可采用 具有高介電常數(shù)的金屬氧化物,例如,鉿氧化物、鈦氧化物、鉭氧化物、鋯 氧化物、鋁氧化物等來形成。這里,阻擋層330可通過CVD工藝、PECVD 工藝、ALD工藝、濺射工藝、PLD工藝、蒸發(fā)工藝等形成。
參考圖18,柵電極層形成在阻擋層330上。柵電極層可包括順序形成在 阻擋層330上的第一導(dǎo)電膜340、金屬歐姆膜350、防擴(kuò)散膜360、非晶膜 370和第二導(dǎo)電膜380。這里,.第一導(dǎo)電膜340、金屬歐姆膜350、防擴(kuò)散膜 360、非晶膜370和第二導(dǎo)電膜380可通過與參考圖9至圖12描述的形成第 一導(dǎo)電層120、金屬歐姆層130、防擴(kuò)散層140、非晶層150和第二導(dǎo)電層 160的工藝基本相同或基本相似的工藝來形成。
參考圖19,第二導(dǎo)電膜380、非晶膜370、防擴(kuò)散膜360、金屬歐姆膜 350、第一導(dǎo)電膜340、阻擋層330和電荷俘獲層320被部分蝕刻,由此在隧 道絕緣層310上形成電荷俘獲層圖案325、阻擋層圖案335、第一導(dǎo)電膜圖 案345、金屬歐姆膜圖案355、防擴(kuò)散膜圖案365、非晶膜圖案375和第二導(dǎo) 電膜圖案385。
在本發(fā)明一些實(shí)施例中,間隔體可形成在電荷俘獲層圖案325、阻擋層 335、第一導(dǎo)電膜圖案345、金屬歐姆膜圖案355、防擴(kuò)散膜圖案365、非晶 膜圖案375和第二導(dǎo)電膜圖案385的側(cè)壁上。間隔體可采用氮化物或氮氧化 物形成。例如,間隔體可采用硅氮化物或硅氮氧化物形成。此外,間隔體可 通過各向異性蝕刻工藝來獲得。
根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例,柵結(jié)構(gòu)可具有低的薄層電阻以及在柵結(jié)構(gòu)的膜圖案之間的均勻分界面而不產(chǎn)生氮化物的凝聚。
圖20為說明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例具有柵結(jié)構(gòu)的易失性半導(dǎo)體器件的截面
圖。雖然圖20中說明DRAM器件,但是柵結(jié)構(gòu)可應(yīng)用于其他易失性半導(dǎo)體 器件,例如,SRAM器件。
參考圖20,半導(dǎo)體器件包括設(shè)置在襯底400上的柵結(jié)構(gòu)475、第一雜質(zhì) 區(qū)407、第二雜質(zhì)區(qū)409和電容器580。
隔離層(isolation layer) 405位于襯底400上以限定有源區(qū)和場(chǎng)區(qū)。隔 離層405可包括氧化物,諸如,旋涂玻璃(SOG )、未4參雜硅化物玻璃(USG )、 高密度等離子體-化學(xué)氣相沉積(HDP - CVD )氧化物、正硅酸乙酯(TEOS )、 等離子體增強(qiáng)-TEOS ( PE-TEOS )、易流動(dòng)氧化物(FOX, flowable oxide )、 東燃硅氮烷(Tonen silazane, TOSZ )等。絕緣層405可通過CVD工藝、PECVD 工藝、HDP-CVD工藝、旋涂工藝等形成。
柵結(jié)構(gòu)475包括介電層圖案415、第一導(dǎo)電層圖案425、金屬歐姆層圖 案435、防擴(kuò)散層圖案445、非晶層圖案455和第二導(dǎo)電層圖案465。
在本發(fā)明實(shí)施例中,多個(gè)柵結(jié)構(gòu)可沿第一方向形成在襯底400上,然而 每個(gè)柵結(jié)構(gòu)可沿第二方向延伸。這里,第二方向可基本垂直于第一方向。
柵掩模485形成在柵結(jié)構(gòu)475上,間隔體495設(shè)置在柵結(jié)構(gòu)475和柵掩 模485的側(cè)壁上。柵掩模485可包括關(guān)于柵結(jié)構(gòu)475具有蝕刻選擇性的材料。 例如,柵掩模485可采用硅氮化物、硅氮氧化物、石圭氧化物等形成。間隔體 495可采用關(guān)于柵結(jié)構(gòu)475也具有蝕刻選擇性的材料形成。例如,間隔體495 可采用硅氮化物、硅氮氧化物等形成。
第一雜質(zhì)區(qū)407和第二雜質(zhì)區(qū)409位于襯底400的靠近才冊(cè)結(jié)構(gòu)475的部 分處。第一雜質(zhì)區(qū)407和第二雜質(zhì)區(qū)409可通過將N型或P型雜質(zhì)摻入襯底 400的該部分而形成。第一雜質(zhì)區(qū)407和第二雜質(zhì)區(qū)409可用作晶體管中的 源才及區(qū)禾口漏4及區(qū)。
第一絕緣層500形成在襯底400上以覆蓋對(duì)冊(cè)結(jié)構(gòu)475。第一絕緣層500 可包括氧化物諸如硅氧化物。例如,第一絕緣層500可采用硼-磷硅酸鹽玻 璃(BPSG)、 USG、 SOG、 TEOS、 PE-TEOS、 TOSZ、 FOX等形成。第一絕 緣層500可被平坦化以具有水平上表面。例如,第一絕緣層500可通過化學(xué) 機(jī)械拋光(CMP)工藝和/或回蝕工藝被部分去除直到暴露出柵掩模485。
第一接觸507和第二接觸509穿過第一絕緣層500而形成在第一雜質(zhì)區(qū)407和第二雜質(zhì)區(qū)409上。第一接觸507和第二接觸509可包括金屬、金屬 化合物和/或摻雜的多晶硅。例如,第一接觸507和第二接觸509的每個(gè)可采 用鴒、鴒氮化物、鋁、鋁氮化物、銅、鈦、鈦氮化物、鉭、鉭氮化物等形成。 這些可單獨(dú)使用或組合使用。
位線(未示出)設(shè)置在第一絕緣層500上。位線與第一接觸507接觸。 位線可包括金屬、金屬化合物和/或摻雜的多晶硅。例如,位線可采用鴒、鎢 氮化物、鋁、鋁氮化物、銅、鈦、鈦氮化物、鉭、鉭氮化物等形成。在本發(fā) 明實(shí)施例中,多條位線可沿著第二方向形成。每條位線可具有多層結(jié)構(gòu),該 多層結(jié)構(gòu)具有位線電極、位線掩沖莫和位線間隔體。
第二絕緣層510位于第一絕緣層500上以覆蓋位線。第二絕緣層510可 包括氧化物,諸如,BPSG、 USG、 TEOS、 PE-TEOS、 FOX、 TOSZ、 SOG、 HDP-CVD氧化物等。第二絕緣層510可通過CVD工藝、旋涂工藝、PECVD 工藝、HDP-CVD工藝等形成。第二絕緣層510可通過CMP工藝和/或回蝕 工藝被部分去除直到暴露出位線,這樣第二絕緣層510可具有平坦上表面。
第三絕緣層520形成在第二絕緣層510上。第三絕緣層520可包括氧化 物,例如,BPSG、 FOX、 USG、 TEOS、 PE-TEOS、 TOSZ、 SOG、 HDP-CVD 氧化物等??商鎿Q地,第三絕緣層520可通過CVD工藝、旋涂工藝、PECVD 工藝、HDP-CVD工藝等形成。
第三接觸530穿過第二絕緣層510和第三絕緣層520設(shè)置在第二接觸 509上。第三接觸530可包括金屬、金屬化合物和/或摻雜的多晶硅。例如, 第三接觸530可采用鴒、鴒氮化物、鋁、鋁氮化物、銅、鈦、鈦氮化物、鉭、 鉭氮化物等形成。這些可單獨(dú)使用或以混合物使用。
電容器580位于第三絕緣層520上以與第三接觸530相接觸。電容器580 包括下電極550、介電層560和上電極570。下電極550和上電極570的每 個(gè)可包括金屬、金屬化合物和/或摻雜的多晶硅。例如,下電極550和上電極 570的每個(gè)可采用鎢、鴒氮化物、鎢硅化物、鋁、鋁氮化物、銅、鈦、鈦氮 化物、鈦硅化物、鉭、鉭氮化物、鉭硅化物、鈷硅化物、鎳硅化物等形成。 這些可單獨(dú)使用或以混合物使用。
介電層560可采用氧化物、氮化物和/或具有高介電常熟的金屬化合物形 成。例如,介電層可包括硅氧化物、硅氮化物、鉭氧化物、鉿氧化物、鋁氧 化物、鋯氧化物等??商鎿Q地,介電層560可具有多層結(jié)構(gòu),該多層結(jié)構(gòu)包括至少 一層氧化物膜、至少 一層氮化物膜和/或至少 一層金屬化合物膜。
在本發(fā)明實(shí)施例中,蝕刻停止層540設(shè)置在第三絕緣層520上。蝕刻停 止層540可采用氮化物通過CVD工藝、PECVD工藝、LPCVD工藝等來形 成。例如,蝕刻停止層540可包括石圭氮化物。
柵結(jié)構(gòu)475可具有低的薄層電阻和良好的熱穩(wěn)定性,使得包括柵結(jié)構(gòu) 475的易失性半導(dǎo)體器件可確保高響應(yīng)速度和提高的可靠性。例如,當(dāng)易失 性半導(dǎo)體器件具有低于約70納米的臨界尺寸時(shí),包括柵結(jié)構(gòu)475的易失性 半導(dǎo)體器件可具有增強(qiáng)的電性能。
圖21為說明具有根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的柵結(jié)構(gòu)的非易失性半導(dǎo)體器件的 截面圖。圖21可說明浮置柵型閃存器件。
參考圖21,非易失性半導(dǎo)體器件包括設(shè)置在襯底600上的柵結(jié)構(gòu)695、 第一雜質(zhì)區(qū)605、第二雜質(zhì)區(qū)607、第三雜質(zhì)區(qū)609、公共源極線(CSL ) 730 和位線760。
柵結(jié)構(gòu)695具有隧道絕緣層615、浮置柵625、介電層圖案635、第一導(dǎo) 電多晶硅層圖案645、金屬歐姆層圖案655、防擴(kuò)散層圖案665、非晶層圖案 675和第二導(dǎo)電層圖案685。 4冊(cè)結(jié)構(gòu)695可沿第二方向延伸,然而,多個(gè)柵 結(jié)構(gòu)可沿著基本垂直于第二方向的第一方向形成。在本發(fā)明實(shí)施例中,柵結(jié) 構(gòu)可用作非易失性半導(dǎo)體器件中的字線、串選擇線(SSL, string selection line ) 和接地選4奪線(GSL)。
間隔體705形成在柵結(jié)構(gòu)695的側(cè)壁上,保護(hù)層710位于4冊(cè)結(jié)構(gòu)695和 間隔體705上。間隔體705和保護(hù)層710的每個(gè)可包括氮化物,例如,硅氮 化物。
第一至第三雜質(zhì)區(qū)605、607和609通過將N型或P型雜質(zhì)摻入襯底600 的預(yù)定部分來形成。第一雜質(zhì)區(qū)605可設(shè)置于在一行中的字線、SSL和GSL 之間。第二雜質(zhì)區(qū)607和第三雜質(zhì)區(qū)609可位于兩行之間。
第一絕緣層740設(shè)置在襯底600上以覆蓋柵結(jié)構(gòu)695和保護(hù)層710。第 一絕緣層740可采用氧化物來形成,例如,硅氧化物。CSL730穿過第一絕 緣層740形成在第二雜質(zhì)區(qū)607上。CSL 730可包括金屬、金屬化合物和/ 或摻雜的多晶硅。
第二絕緣層750位于第一絕緣層740和GSL 730上。第二絕緣層750可 包括氧化物,諸如,BPSG、 USG、 SOG、 TEOS、 PE國TEOS、 FOX、 TOSZ、
24HDP-CVD氧化物等。
位線接觸720穿過第一絕緣層740和第二絕緣層750形成在第二雜質(zhì)區(qū) 607上。位線接觸750可包括金屬、金屬化合物和/或摻雜的多晶硅。例如, 位線接觸750可采用鴒、鎢氮化物、鎢硅化物、鋁、鋁氮化物、銅、鈦、鈦 氮化物、鈦硅化物、鉭、鉭氮化物、鉭硅化物、鈷硅化物、鎳硅化物等形成。 這些可單獨(dú)4吏用或以混合物4吏用。
位線760設(shè)置在第二絕緣層750上以與位線接觸720相接觸。位線760 可沿著第一方向延伸。位線760可包括金屬、金屬化合物和/或摻雜的多晶硅。
由于柵結(jié)構(gòu)695可具有低的薄層電阻和期望的熱穩(wěn)定性,因此具有柵結(jié) 構(gòu)695的非易失性半導(dǎo)體器件可確保增強(qiáng)的電性能,諸如,高響應(yīng)速度、提 高的可靠性、低的運(yùn)行能耗等。
圖22為說明具有根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的柵結(jié)構(gòu)的另一非易失性半導(dǎo)體器 件的截面圖。圖22可說明電荷俘獲型閃存器件。
參考圖22,非易失性半導(dǎo)體器件包括設(shè)置在襯底800上的柵結(jié)構(gòu)895、 第一雜質(zhì)區(qū)805、第二雜質(zhì)區(qū)807、第三雜質(zhì)區(qū)809、公共源極線(common source line, CSL ) 930和位線960。
柵結(jié)構(gòu)895包括隧道絕緣層815、浮置柵極825、介電層圖案835、第一 導(dǎo)電層圖案845、金屬歐姆層圖案855、防擴(kuò)散層圖案865、非晶層圖案875 和第二導(dǎo)電層圖案885。
間隔體905附加地設(shè)置在柵結(jié)構(gòu)895的側(cè)壁上,保護(hù)層910形成在4冊(cè)結(jié) 構(gòu)895和間隔體905上。第一絕纟彖層940、第二絕纟彖層950和位線接觸920 形成在襯底800、 4冊(cè)結(jié)構(gòu)895和保護(hù)層910上。
在本發(fā)明實(shí)施例中,多個(gè)柵結(jié)構(gòu)可形成在非易失性半導(dǎo)體器件的單元區(qū) 域中,可設(shè)置在非易失性半導(dǎo)體器件的外圍高壓區(qū)域中。
圖23為說明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例包括柵結(jié)構(gòu)的存儲(chǔ)器系統(tǒng)的方框圖。
參考圖23,存儲(chǔ)系統(tǒng)1000可包括存儲(chǔ)器件1010和電連接到存儲(chǔ)器件 1010的控制器1020。
存儲(chǔ)器件1010可包括具有根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的柵結(jié)構(gòu)的易失性半導(dǎo)體
器件和/或包括具有根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的柵結(jié)構(gòu)的非易失性半導(dǎo)體器件。非易
控制器1020可提供輸入信號(hào)以控制存儲(chǔ)器件1010的運(yùn)行。當(dāng)控制器1020如圖21和圖22所示應(yīng)用于NAND型閃存器件時(shí),控制器1020可提供 命令信號(hào)(CMD)和尋址信號(hào)(ADD)。當(dāng)控制器1020用在NOR型閃存器 件時(shí),控制器1020可提供命令信號(hào)、尋址信號(hào)、輸入/輸出信號(hào)(DQ)和高 電壓(VPP)。也就是,控制器1020可提供各種信號(hào)以控制存儲(chǔ)器件1010。 圖24為說明包括根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的柵結(jié)構(gòu)的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的方框圖。 參考圖24,計(jì)算機(jī)系統(tǒng)1100可包括存儲(chǔ)器件1120和電連接到存儲(chǔ)器件 1120的中央處理器(CPU)。例如,計(jì)算機(jī)系統(tǒng)1100可包括個(gè)人計(jì)算機(jī)或個(gè) 人數(shù)據(jù)助理。存儲(chǔ)器件1120可直接連接到CPU 1110或通過BUS連接到CPU 1110。
根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例,柵結(jié)構(gòu)可包括在上導(dǎo)電層圖案和防擴(kuò)散層圖案之間 的非晶層圖案。因此,柵結(jié)構(gòu)可具有低的薄層電阻以及在上導(dǎo)電層圖案與防 擴(kuò)散層圖案之間的均勻分界面。當(dāng)柵結(jié)構(gòu)應(yīng)用于半導(dǎo)體器件中時(shí),半導(dǎo)體器 件可具有期望的電性能,例如,高響應(yīng)速度、提高的可靠性、低能耗等。此 外,金屬歐姆層圖案包括具有高熔點(diǎn)的金屬并且具有期望的厚度,使得柵結(jié) 構(gòu)可確保良好的熱和電穩(wěn)定性。
明的一些示范性實(shí)施例,但是本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員可以在在不脫離本發(fā)明 的發(fā)明教導(dǎo)和優(yōu)點(diǎn)的情況下,在實(shí)施例中可以進(jìn)行各種改進(jìn)。因此,所有這 些改進(jìn)都包括在由權(quán)利要求界定的本發(fā)明的范圍內(nèi)。在權(quán)利要求中,裝置加 功能的條款旨在覆蓋這里描述的結(jié)構(gòu)且執(zhí)行所描述的功能,而不僅僅是結(jié)構(gòu) 的等同物還是等同結(jié)構(gòu)。因此,可以理解的是,上文是對(duì)本發(fā)明實(shí)施例的說 明并非將本發(fā)明限定為公開的特定實(shí)施例,對(duì)公開對(duì)實(shí)施例的改進(jìn)以及其他 實(shí)施例都包括在權(quán)利要求的范圍內(nèi)。
本發(fā)明要求于2008年4月23日提交的韓國專利申請(qǐng)No. 2008-37556的 優(yōu)先權(quán),這里將其公開的內(nèi)容引入作為參考。
權(quán)利要求
1.一種柵結(jié)構(gòu),包括在襯底上的絕緣層;在所述絕緣層上的第一導(dǎo)電層圖案;在所述第一導(dǎo)電層圖案上的金屬歐姆層圖案;在所述金屬歐姆層圖案上的防擴(kuò)散層圖案;在所述防擴(kuò)散層圖案上的非晶層圖案;和在所述非晶層圖案上的第二導(dǎo)電層圖案。
2. 如權(quán)利要求1所述的柵結(jié)構(gòu),其中所述第一導(dǎo)電層圖案包括多晶硅, 所述第二導(dǎo)電層圖案包括金屬。
3. 如權(quán)利要求2所述的柵結(jié)構(gòu),其中所述第二導(dǎo)電層圖案、所述非晶層 圖案、所述防擴(kuò)散層圖案和所述金屬歐姆層圖案分別包括鴒(W)、金屬硅 化物(MSix)、鴒氮化物(WNx)和鈦(Ti)。
4. 如權(quán)利要求3所述的柵結(jié)構(gòu),其中所述防擴(kuò)散層圖案的氮含量大于以 重量計(jì)約20%。
5. 如權(quán)利要求3所述的柵結(jié)構(gòu),其中所述防擴(kuò)散層圖案中的x值在0.2 至0.9的范圍內(nèi)。
6. 如權(quán)利要求3所述的柵結(jié)構(gòu),其中所述非晶層圖案包括鎢硅化物 (WSix)、鈦硅化物(TiSix)、鉬硅化物(MoSix)或鉭硅化物(TaSix)。
7. 如權(quán)利要求3所述的柵結(jié)構(gòu),其中所述金屬歐姆層的厚度小于約50A。
8. —種柵結(jié)構(gòu),包括 在襯底上的隧道絕緣層;在所述隧道絕緣層上的浮置柵極; 在所迷浮置柵極上的介電層圖案;和 在所述介電層圖案上的控制柵,該控制柵包括在所述介電層圖案上的第一導(dǎo)電層圖案;在所述第一導(dǎo)電層圖案上的金屬歐姆層圖案;在所述金屬歐姆層圖案上的防擴(kuò)散層圖案;在所述防擴(kuò)散層圖案上的非晶層圖案;和在所述非晶層圖案上的第二導(dǎo)電層圖案。
9. 如權(quán)利要求8所述的柵結(jié)構(gòu),其中所述第一導(dǎo)電層圖案包括多晶硅, 所述第二導(dǎo)電層圖案包括鴒,所述非晶層圖案包括鎢硅化物,防所述擴(kuò)散層 圖案包括鴿氮化物。
10. 如權(quán)利要求8所述的柵結(jié)構(gòu),其中所述浮置柵極包括 在所述隧道絕緣層上的附加第 一導(dǎo)電層圖案; 在所述附加第 一導(dǎo)電層圖案上的附加金屬歐姆層圖案; 在所述附加金屬歐姆層圖案上的附加防擴(kuò)散層圖案; 在所述附加防擴(kuò)散層圖案上的附加非晶層圖案;和 在所述附加非晶層圖案上的附加第二導(dǎo)電層圖案。
11. 如權(quán)利要求9所述的柵結(jié)構(gòu),其中所述附加第一導(dǎo)電層圖案包括多晶 硅,所述附加第二導(dǎo)電層圖案包括鴒,所述附加非晶層圖案包括鎢硅化物, 所述附加防擴(kuò)散層圖案包括鴒氮化物。
12. —種4冊(cè)結(jié)構(gòu),包括 在襯底上的隧道絕緣層; 在所述隧道絕緣層上的電荷俘獲層圖案; 在所述電荷俘獲層圖案上的阻擋層圖案;和 在所述阻擋層圖案上的柵電極,該柵電極包括在所述阻擋層圖案上的第一導(dǎo)電層圖案; 在所述第一導(dǎo)電層圖案上的金屬歐姆層圖案; 在所述金屬歐姆層圖案上的防擴(kuò)散層圖案; 在所述防擴(kuò)散層圖案上的非晶層圖案;和 在所述非晶層圖案上的第二導(dǎo)電層圖案。
13. —種柵結(jié)構(gòu)的形成方法,包括 在襯底上形成絕緣層; 在所述絕緣層上形成第一導(dǎo)電層圖案; 在所述第一導(dǎo)電層圖案上形成金屬歐姆層圖案; 在所述金屬歐姆層圖案上形成防擴(kuò)散層圖案; 在所述防擴(kuò)散層圖案上形成非晶層圖案;和 在所述非晶層圖案上形成第二導(dǎo)電層圖案。
14. 如權(quán)利要求13所述的方法,其中所述第二導(dǎo)電層圖案采用鎢形成, 所述非晶.層圖案采用鴒硅化物形成,所述防擴(kuò)散層圖案采用鎢氮化物形成。
15. 如權(quán)利要求14所述的方法,其中所述金屬歐姆層圖案采用鈦形成。
16. 如權(quán)利要求13所述的方法,還包括將雜質(zhì)注入到所述非晶層圖案中 以改善所述非晶層圖案的非晶特性。
17. —種4冊(cè)結(jié)構(gòu)的形成方法,包括 在襯底上形成隧道絕緣層; 在所述隧道絕緣層形成浮置柵極; 在所述浮置柵極上形成介電層圖案;和通過在所述介電層圖案上形成第一導(dǎo)電層圖案、通過在所述第一導(dǎo)電層 圖案上形成金屬歐姆層圖案、通過在所述金屬歐姆層圖案上形成防擴(kuò)散層圖 案、通過在所述防擴(kuò)散層圖案上形成非晶層圖案以及通過在所述非晶層圖案 上形成第二導(dǎo)電層圖案而在所述介電層圖案上形成控制柵。
18. 如權(quán)利要求17所述的方法,其中所述第二導(dǎo)電層圖案采用鎢形成, 所述非晶層圖案采用鴒硅化物形成,所述防擴(kuò)散層圖案采用鎢氮化物形成, 所述金屬歐姆層圖案采用鈦形成。
19. 如權(quán)利要求17所述的方法,其中形成所述浮置柵極還包括 在所述隧道絕緣層上形成附加第一導(dǎo)電層圖案; 在所述附加第一導(dǎo)電層圖案上形成附加金屬歐姆層圖案; 在所述附加金屬歐姆層圖案上形成附加防擴(kuò)散層圖案; 在所述附加防擴(kuò)散層圖案上形成附加非晶層圖案;和 在所述附加非晶層圖案上形成附加第二導(dǎo)電層圖案。
20. 如權(quán)利要求19所述的方法,其中所述附加第一導(dǎo)電層圖案采用多晶 硅形成,所述附加第二導(dǎo)電層圖案采用鎢形成,所述附加非晶層圖案采用鎢 硅化物形成,所述附加防擴(kuò)散層圖案采用鎢氮化物形成。
全文摘要
本發(fā)明公開一種柵結(jié)構(gòu)及柵結(jié)構(gòu)的形成方法。該柵結(jié)構(gòu)包括在襯底上的絕緣層,在絕緣層上的第一導(dǎo)電層圖案,在第一導(dǎo)電層圖案上的金屬歐姆層圖案,在金屬歐姆層圖案上的防擴(kuò)散層圖案,在防擴(kuò)散層圖案上的非晶層圖案,和在非晶層圖案上的第二導(dǎo)電層圖案。該柵結(jié)構(gòu)可具有低的薄層電阻和期望的熱穩(wěn)定性。
文檔編號(hào)H01L21/336GK101567382SQ20091013540
公開日2009年10月28日 申請(qǐng)日期2009年4月23日 優(yōu)先權(quán)日2008年4月23日
發(fā)明者崔吉鉉, 樸嬉淑, 白宗玟, 車泰昊, 鄭圣熙, 金秉熙 申請(qǐng)人:三星電子株式會(huì)社