專利名稱：記憶卡測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型是一種測試工具，特別是指一種記憶卡測試裝置，其不 僅可以提升效率，而且能降低組件損壞機(jī)率、加強(qiáng)測試人員的操作準(zhǔn)確 性。
背景技術(shù)：
現(xiàn)今各種記憶卡在數(shù)字設(shè)備及各式產(chǎn)品之中的使用愈來愈廣泛，但 是在數(shù)字設(shè)備及產(chǎn)品中的記憶卡系統(tǒng)卻存在各自無法兼容的問題(比較
普遍的規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)包括SD、 MS、 XD、 MicroSD、 miniSD等)，也造成若 干設(shè)備使用上的困擾-
如第l圖圖例中所示是一種市場上的數(shù)字相框系統(tǒng)，特別指一種利 用記憶卡IO提供數(shù)字相框本體11內(nèi)部數(shù)據(jù)，且在數(shù)字相框本體11的屏 幕上不斷變化顯示照片內(nèi)容的設(shè)計，以往數(shù)字相框本體11會在側(cè)面制作 出記憶卡10的插槽12，并且僅能適用于其中一種標(biāo)準(zhǔn)的記憶卡10，如 此，不但使用者更換數(shù)字相機(jī)時會造成不同記憶卡傳輸連接標(biāo)準(zhǔn)間的沖 突，且會連帶造成數(shù)字相框本體11的不再適用。
為了突破前述問題，廠商研發(fā)出一種可以同時安裝不同標(biāo)準(zhǔn)記憶卡 IO的插槽，有效突破以往受限于記憶卡傳輸連接標(biāo)準(zhǔn)的問題；但是此種 設(shè)計卻會在生產(chǎn)測試時產(chǎn)生以下困擾
其一，由于一個插槽必須適用數(shù)種標(biāo)準(zhǔn)的記憶卡，所以測試人員就 必須不斷拔插不同測試用記憶卡，在插拔次數(shù)頻繁的動作之下，測試工 作沒有效率；
其二，插拔次數(shù)頻繁的動作之下，不僅數(shù)字產(chǎn)品的插槽容易損壞， 而且各個用來測試的記憶卡也十分容易減損壽命，造成無謂的成本浪費(fèi)；
其三，由于測試種類至少有二種，又在插拔次數(shù)頻繁的動作之下， 測試人員十分容易混淆，造成認(rèn)錯已經(jīng)測試過了記憶卡或尚未測試的記 憶卡。
為了能夠有效解決前述相關(guān)議題，本創(chuàng)作人基于過去在數(shù)字相框產(chǎn) 品、記憶卡組件領(lǐng)域所累積的研發(fā)技術(shù)與經(jīng)驗(yàn)，從有效測試、避免混淆 的實(shí)用角度下手，終于研發(fā)出一種創(chuàng)新的記憶卡測試裝置。
本實(shí)用新型的記憶卡測試裝置可以應(yīng)用在各類型的數(shù)字設(shè)備或是產(chǎn)
品上，例如數(shù)字相機(jī)、計算機(jī)設(shè)備、隨身數(shù)字產(chǎn)品或手機(jī)等等，說明 書中提出的數(shù)字相框僅是舉例說明之用，并非局限本實(shí)用新型可以應(yīng)用 的范圍。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的，是在提供一種記憶卡測試裝置，其可以大幅減 少在數(shù)字產(chǎn)品上拔插記憶卡的動作及次數(shù)，有效提升測試人員的工作效 率。
本實(shí)用新型是一種記憶卡測試裝置包含有一本體、 一測試端、至少 二記憶卡插座及至少一控制開關(guān)，該控制開關(guān)切換記憶卡插座與該測試
端之間的連接； 一本體，為一PCB電路板，且其上設(shè)有印刷電路，而該 測試端凸出于本體，該測試端系供插入預(yù)設(shè)數(shù)字設(shè)備之插槽；二記憶卡 插座，二記憶卡插座皆與該本體的PCB電路連接；以及二控制開關(guān)分別 連接控制二切換記憶卡插座，且前述二控制開關(guān)采用單刀雙擲型設(shè)計； 二記憶卡插座分別制作有9個接點(diǎn)以符合SD記憶卡及MMC記憶卡標(biāo)準(zhǔn)， 且該本體的測試端制作有9個接點(diǎn)。
因此，本實(shí)用新型使用者可以利用上述控制開關(guān)切換記憶卡插座與 該測試端之間的連接，大幅減少在數(shù)字產(chǎn)品上拔插記憶卡的動作及次數(shù)， 不僅能降低組件損壞機(jī)率，并且提升測試人員的工作效率。
本實(shí)用新型的另一目的，是在提供一種記憶卡測試裝置，其能加強(qiáng) 測試人員的操作準(zhǔn)確性。
本實(shí)用新型記憶卡測試裝置的控制開關(guān)切換記憶卡插座與該測試端 之間的連接，且控制開關(guān)可以使用單一確認(rèn)工作時其余無法工作的設(shè)計； 因此，本實(shí)用新型使用者可以大幅減少工作人員操作混淆的機(jī)會，且能 加強(qiáng)測試人員的操作準(zhǔn)確性。
此外，由于記憶卡測試裝置的測試端可以同時連接至少二個以上的 記憶卡插座，且控制開關(guān)設(shè)計方向有多種現(xiàn)有技術(shù)設(shè)計可供選擇，所以 申請人:在此不特別限定數(shù)量及控制開關(guān)的模式，但若采二組記憶卡插座 時，其一為SD記憶卡標(biāo)準(zhǔn)、另一為醒C記憶卡標(biāo)準(zhǔn)，且二者皆為9接觸 點(diǎn)的系統(tǒng)，而前述控制開關(guān)則可以采用單刀雙擲型控制開關(guān)，并且利用 PCB本體上的印刷電路來進(jìn)行切換及測試；但是有關(guān)組件數(shù)量、控制開 關(guān)型態(tài)的變化僅是一般現(xiàn)有技術(shù)的變化，在此不多作贅述。
有關(guān)本案新型為達(dá)成上述目的、所采用的高度技術(shù)思想、手段，現(xiàn)
舉較佳可實(shí)施例并配合其它圖式詳細(xì)說明如下，相信本實(shí)用新型的目的、
特征及其它優(yōu)點(diǎn)，當(dāng)可由此得一深入而具體的了解。


圖l 現(xiàn)有技術(shù)產(chǎn)品示意圖； 圖2 本實(shí)用新型外觀側(cè)視圖； 圖3 本實(shí)用新型另一側(cè)視圖； 圖4 本實(shí)用新型實(shí)施示意圖； 圖5本實(shí)用新型PCB電路示意圖。
主要組件符號說明
記憶卡IO 數(shù)字相框本體ll
記憶卡插座30、 40 控制開關(guān)50、 60具體實(shí)施方式
首先請配合參閱第2至5圖所示，本新型所提供的一種記憶卡測試 裝置，是包括有一本體20、 一測試端21、 二記憶卡插座30、 40及二控 制開關(guān)50、 60，上述組件的特征是在于
該本體20，為一 PCB電路板，且其上設(shè)計有如第5圖圖中所示的 PCB印刷電路D(僅供參考)，而該測試端21凸出于本體20，且于測試端 21上制作有9個接點(diǎn)與該P(yáng)CB印刷電路D相連接，而該測試端21是供 插入該數(shù)字相框A的插槽Al;
該記憶卡插座30、 40，該記憶卡插座30是符合SD記憶卡B標(biāo)準(zhǔn)， 且記憶卡插座30與該P(yáng)CB電路相連接，該記憶卡插座40是符合MMC 記憶卡C標(biāo)準(zhǔn)，且此記憶卡插座40同樣與該本體20的PCB印刷電路D 相連接；以及
該控制開關(guān)50、 60，該控制開關(guān)50、 60分別連接控制該切換記憶 卡插座30、 40，且控制開關(guān)50、 60采用單刀雙擲型設(shè)計(其一開啟、另 一關(guān)閉)，利用上述控制開關(guān)50、 60配合控制該記憶卡插座30、 40兩者
插槽12
數(shù)位相框A SD記憶卡B 印刷電路D 本體20
插槽A1
MMC記憶卡C
測試端21
的切換；
以上所述，即為本新型的各個組件關(guān)系位置及相對關(guān)系，且逐一說 明各個組件的結(jié)構(gòu)、形狀及配置。
為求清楚說明本新型的實(shí)施，以下說明本新型的實(shí)施方式，并且請
一并參閱各圖所示
本實(shí)用新型測試人員進(jìn)行該數(shù)字相框A的出廠前測試時，首先將該
本體20的測試端21插入該插槽Al,并且分別將SD記憶卡B插入該記 憶卡插座30、該MMC記憶卡C插入該記憶卡插座40; 此時，利用單刀雙擲型的控制開關(guān)50、 60配合控制該記憶卡插座30、 40兩者的切換，測試人員測試過程無需拔插前述的SD記憶卡B及MMC 記憶卡C，該測試端21則在全部測試完成立后才需要自該插槽Al取出， 所以本實(shí)用新型使用者可以大幅減少在數(shù)字產(chǎn)品上拔插記憶卡的動作及 次數(shù)，不僅可以提升效率，而且能降低組件損壞機(jī)率、加強(qiáng)測試人員的 操作確認(rèn)性。
最后，由于本實(shí)用新型是一種專用用于測試的裝置，若是測試人員 大量測試相同類型的產(chǎn)品時，上述記憶卡完全無需取下，測試人員可以 直接運(yùn)用該本體20的測試端21拔插于不同產(chǎn)品的插槽之內(nèi)，有效避免 測試用設(shè)備及被測試設(shè)備的拔插損害。
權(quán)利要求1. 一種記憶卡測試裝置，其特征在于，包括有一本體、一測試端、至少二記憶卡插座及至少一控制開關(guān)，該各記憶卡插座分別符合相異的標(biāo)準(zhǔn)，且該本體設(shè)有電路供測試端連接各記憶卡插座，而該控制開關(guān)切換各個記憶卡插座與該測試端之間的連接。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的記憶卡測試裝置，其特征在于包括有一本體，為一PCB電路板，且其上設(shè)有印刷電路，而該測試端凸出于本體，該測試端系供插入預(yù)設(shè)數(shù)字設(shè)備之插槽；二記憶卡插座，二記憶卡插座皆與該本體的PCB電路連接；以及二控制開關(guān)分別連接控制二切換記憶卡插座，且前述二控制開關(guān)采 用單刀雙擲型設(shè)計。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的記憶卡測試裝置，其特征在于，二記憶卡插座分別制作有9個接點(diǎn)以符合SD記憶卡及醒C記憶卡標(biāo)準(zhǔn)，且該本體的測 試端制作有9個接點(diǎn)。
專利摘要本實(shí)用新型是一種記憶卡測試裝置，是供數(shù)字產(chǎn)品測試記憶卡讀取功能之用；該記憶卡測試裝置包含有一本體、一測試端、至少二記憶卡插座及至少一控制開關(guān)，該控制開關(guān)切換記憶卡插座與該測試端之間的連接；因此，本實(shí)用新型使用者可以大幅減少在數(shù)字產(chǎn)品上拔插記憶卡的動作及次數(shù)，不僅可以提升效率，而且能降低組件損壞幾率、加強(qiáng)測試人員的操作準(zhǔn)確性。
文檔編號H01R12/00GK201207295SQ200820114780
公開日2009年3月11日 申請日期2008年5月15日 優(yōu)先權(quán)日2008年5月15日
發(fā)明者龐國梁, 徐家祥 申請人:昆山致嘉電子科技有限公司