專利名稱：在自一測試和掃描一測試期間檢測或查找交叉時(shí)鐘域故障的多一捕獲為測試而設(shè)計(jì)的系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明一般涉及嵌入為測試而設(shè)計(jì)(DFT)技術(shù)的集成電路或電路組件中的邏輯設(shè)計(jì)的測試。尤其，本發(fā)明涉及在集成電路或電路組件的自—測試或掃描—測試期間檢測和查找每個(gè)時(shí)鐘域中的邏輯故障和與任何兩個(gè)時(shí)鐘域交叉的邏輯故障。
背景技術(shù)：
在本說明書中，使用術(shù)語集成電路來描述嵌入為測試而設(shè)計(jì)(DFT)技術(shù)的芯片或MCM(多芯片模塊)。認(rèn)為術(shù)語電路組件和印制電路板是可互換的。術(shù)語電路組件包括印制電路板以及其它類型的電路組件。電路組件是集成電路的組合。制造所產(chǎn)生的組合以形成物理或功能單元。
一般，集成電路或電路組件包含兩個(gè)或多個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘，每個(gè)時(shí)鐘控制被稱為時(shí)鐘域的一個(gè)模塊或邏輯塊。每個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘或是直接來自基本輸入(邊緣引腳/連接器)或是在內(nèi)部產(chǎn)生。這些系統(tǒng)時(shí)鐘可以在完全無關(guān)的頻率(時(shí)鐘速度)上、在相互的分諧波上、在相同頻率但是不同時(shí)鐘移位上或在上述的混合上進(jìn)行操作。由于在這些系統(tǒng)時(shí)鐘之間的時(shí)鐘移位，當(dāng)使用自—測試或掃描—測試之類的為測試而設(shè)計(jì)技術(shù)時(shí)，與兩個(gè)時(shí)鐘域之間的功能相關(guān)聯(lián)的故障(被稱為交叉時(shí)鐘域故障)極可能變得難于測試。在最壞的情況中，當(dāng)這些交叉時(shí)鐘域故障蔓延到接收時(shí)鐘域時(shí)，可能完全阻塞該時(shí)鐘域中所有故障的檢測或查找。因此，為了解決故障蔓延問題，建議為測試而設(shè)計(jì)方法來接管所有系統(tǒng)時(shí)鐘的控制，并重新配置它們作為捕獲時(shí)鐘。
在本領(lǐng)域中測試交叉時(shí)鐘域故障以及在每個(gè)時(shí)鐘域中的故障的現(xiàn)有技術(shù)的為測試而設(shè)計(jì)方法集中于使用孤立的為測試而設(shè)計(jì)、成比值的為測試而設(shè)計(jì)以及one-hot為測試而設(shè)計(jì)技術(shù)。它們都是指單個(gè)捕獲的為測試而設(shè)計(jì)技術(shù)，因?yàn)樵谧浴獪y試或掃描—測試期間的每個(gè)捕獲周期中，它們都不可能提供多個(gè)移位捕獲時(shí)鐘(或捕獲時(shí)鐘的排序序列)。
在使用孤立的為測試而設(shè)計(jì)技術(shù)中，通過把與時(shí)鐘域交叉的和流到接收時(shí)鐘域的所有邊界信號中的每一個(gè)強(qiáng)制到預(yù)定的邏輯值0或1而完全阻塞或禁止它們。見Nadeau-Dostie等人發(fā)布(2001)的美國專利第6,327,684號。一般，這種方法可以允許并行地測試所有時(shí)鐘域。這種方法的主要缺點(diǎn)在于它需要在時(shí)鐘域之間插入捕獲禁止的邏輯，以及每個(gè)與一個(gè)時(shí)鐘域相關(guān)聯(lián)的所有掃描使能信號都必須高速操作。要作出重大努力才能改變設(shè)計(jì)，并且可能影響正常模式的操作。使所有掃描使能信號高速運(yùn)行需要把它們安排成使用規(guī)劃時(shí)鐘樹合成(CTS)的時(shí)鐘信號。此外，由于邊界信號可以穿過在兩個(gè)方向上的兩個(gè)時(shí)鐘域，這種方法需要在兩個(gè)或多個(gè)測試期間測試交叉時(shí)鐘域故障。這實(shí)質(zhì)上可能增加所需要的測試時(shí)間，并甚至可能使捕獲禁止的邏輯的實(shí)施比預(yù)期更復(fù)雜。
在使用成比值的為測試而設(shè)計(jì)技術(shù)中，必須在一個(gè)基準(zhǔn)時(shí)鐘的分諧波上操作所有時(shí)鐘域。例如，假定設(shè)計(jì)包含分別運(yùn)行在150MHz、80MHz和45MHz的3個(gè)時(shí)鐘域。在測試期間，3個(gè)時(shí)鐘域可以在150MHz、75MHz和37.5MHz上操作。見Nadeau-Dostie等人發(fā)布(1994)的美國專利第5,349,587號。這種方法減少測試多頻率設(shè)計(jì)的復(fù)雜性，并且避免潛在的空轉(zhuǎn)或定時(shí)妨礙交叉時(shí)鐘域。它還允許并行地測試所有時(shí)鐘域。然而，由于時(shí)鐘域工作頻率的變化，這種方法在它們的額定時(shí)鐘速度處(高速)失去了測試多頻率設(shè)計(jì)的自—測試或掃描—測試的意圖，并且在對所有時(shí)鐘域進(jìn)行再定時(shí)(或同步)上可能需要重大的設(shè)計(jì)和規(guī)劃方面的努力。功率損耗還可能是另一個(gè)嚴(yán)重的問題，因?yàn)槊扛魩讉€(gè)周期同時(shí)觸發(fā)所有掃描存儲(chǔ)單元(存儲(chǔ)器單元)。
在使用one-hot為測試而設(shè)計(jì)技術(shù)中，首先必須使流入交叉時(shí)鐘域的接收時(shí)鐘域的每個(gè)交叉時(shí)鐘域信號初始化或保持在0或1的邏輯值。通常通過把預(yù)定的邏輯值移入所有時(shí)鐘域以致強(qiáng)迫所有交叉時(shí)鐘域信號都處于已知狀態(tài)而完成初始化。然后進(jìn)行一個(gè)域一個(gè)域的測試，因此，稱之為one-hot測試。見Bhawmik等人提出的美國專利第5,680,543號(1997)。使用這種方法的主要益處是它仍可以檢測或查找交叉時(shí)鐘域故障而不需要插入禁止邏輯，尤其，在臨界路徑交叉時(shí)鐘域中。然而，不象孤立的或成比值的為測試而設(shè)計(jì)方法，本方法要求串行地測試所有的時(shí)鐘域，導(dǎo)致較長的測試時(shí)間。在對于所有時(shí)鐘域的再定時(shí)(或同步)上，本方法還要求重大的設(shè)計(jì)和布局努力。
已經(jīng)建議了兩種另外的現(xiàn)有技術(shù)的為測試而設(shè)計(jì)方法，一種用于掃描—測試，另一種用于自—測試。把兩種方法都稱為多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)技術(shù)，因?yàn)樵趻呙琛獪y試或自—測試期間的每個(gè)捕獲周期中，它們可以提供多個(gè)移位的捕獲時(shí)鐘(或捕獲時(shí)鐘的排序序列)。
第一現(xiàn)有技術(shù)多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)方法是在掃描—測試模式中測試每個(gè)時(shí)鐘域中的故障或兩個(gè)時(shí)鐘域之間的故障。見Buch等人提出的美國專利第6,070,260號(2000)以及Ruiz等人提出的美國專利第6,195,776號(2001)。這些方法依靠使用多個(gè)移位的掃描時(shí)鐘或多個(gè)移位的捕獲事件，在ATE(自動(dòng)測試設(shè)備)中，每個(gè)事件在相同的降低的時(shí)鐘速度上工作以檢測故障。使用組合的ATPG(自動(dòng)測試圖案產(chǎn)生)來產(chǎn)生掃描—測試圖案，并且創(chuàng)建ATE測試程序來檢測集成電路中的故障。不幸地，當(dāng)前可得到的ATPG工具只假設(shè)一個(gè)時(shí)鐘脈沖(時(shí)鐘周期)應(yīng)用于每個(gè)時(shí)鐘域。因此，這些方法只檢測在掃描—測試模式中的猶豫故障。對于全—掃描或部分—掃描設(shè)計(jì)，沒有現(xiàn)有技術(shù)建議使用多個(gè)移位的捕獲時(shí)鐘來測試要求兩個(gè)或多個(gè)捕獲時(shí)鐘脈沖的延誤或猶豫故障。
第二現(xiàn)有技術(shù)的多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)方法是在自—測試模式中測試在每個(gè)時(shí)鐘域中的故障和在兩個(gè)時(shí)鐘域之間的故障。見Hetherington等人共同著作的文章(1999)。整個(gè)方法依靠使用多個(gè)被捕獲跟隨的移位時(shí)鐘，在一個(gè)可編程捕獲窗口中，每個(gè)時(shí)鐘在它的工作頻率處操作，以高速檢測故障。需要在捕獲窗口中的時(shí)鐘抑制、復(fù)雜的掃描使能(SE)、定時(shí)波形以及移位時(shí)鐘脈沖來控制捕獲操作。這些移位時(shí)鐘脈沖還可能需要精確的時(shí)間對準(zhǔn)。結(jié)果，對于在全部不相關(guān)的頻率(例如，133MHz和60MHz)處操作的包括時(shí)鐘域的設(shè)計(jì)，執(zhí)行高速自—測試變得十分困難。
因此，存在對于改進(jìn)的方法、設(shè)備或計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)(CAD)系統(tǒng)的一種需求，以允許使用簡單的多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)技術(shù)，在時(shí)鐘域中或任何兩個(gè)時(shí)鐘域之間以高速或低速測試故障。本發(fā)明的方法和設(shè)備將控制在自—測試或掃描—測試中的捕獲時(shí)鐘的多—捕獲操作。不需要使用在捕獲窗口中的移位時(shí)鐘脈沖、在正常模式中插入捕獲禁止的邏輯、在捕獲時(shí)鐘脈沖上施加時(shí)鐘抑制以及在掃描使能(SE)信號上編復(fù)雜的定時(shí)波形。此外，本發(fā)明的CAD(計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì))系統(tǒng)進(jìn)一步包括執(zhí)行多—捕獲的自—測試或掃描合成、組合故障仿真以及組合ATPG(自動(dòng)測試圖案產(chǎn)生)的計(jì)算機(jī)—執(zhí)行的—步驟，在使用多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)技術(shù)的CAD領(lǐng)域中，當(dāng)前是不可得到的這些的。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的主要目的是提供執(zhí)行多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)技術(shù)的一種改進(jìn)的多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)系統(tǒng)。這種為測試而設(shè)計(jì)系統(tǒng)將包括一種方法和設(shè)備，用于允許以高速/低速對在集成電路或電路組件中的所有時(shí)鐘域中的故障以及交叉時(shí)鐘域的故障進(jìn)行檢測或查找。在本發(fā)明中，可以實(shí)現(xiàn)所述方法或設(shè)備，并放置在集成電路或電路組件內(nèi)部或外部。
在本發(fā)明中還包括計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)(CAD)系統(tǒng)，它綜合這種為測試而設(shè)計(jì)系統(tǒng)和產(chǎn)生所要求的硬件描述語言(HDL)測試裝置和自動(dòng)測試設(shè)備(ATE)測試程序。用于表示集成電路的硬件描述語言(HDL)包括，但是不限于，Verilog或VHDL。ATE是集成電路測試儀或任何設(shè)備，它實(shí)現(xiàn)多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)系統(tǒng)，并且在所測試的集成電路或電路組件的外部。
本發(fā)明的焦點(diǎn)在于用于自—測試和掃描—測試的多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)系統(tǒng)。在自—測試環(huán)境中，一個(gè)自—測試周期經(jīng)常包括3個(gè)主要的操作移位、捕獲和壓縮(compact)。在每個(gè)自—測試周期期間，移位和壓縮可以同時(shí)發(fā)生。為了增加電路的故障覆蓋，經(jīng)常需要包括掃描—測試周期來執(zhí)行結(jié)束的自動(dòng)測試圖案產(chǎn)生。一個(gè)掃描—測試周期經(jīng)常包括掃描—測試環(huán)境中的3個(gè)主要操作移位、捕獲和比較。在每個(gè)掃描—測試周期期間，移位和比較操作可以同時(shí)發(fā)生。在自—測試和掃描—測試混合環(huán)境中，掃描—測試周期可以執(zhí)行壓縮操作而不是比較操作。因此，在本發(fā)明中，自—測試周期進(jìn)一步包括移位、捕獲和比較操作，而掃描—測試周期進(jìn)一步包括移位、捕獲和壓縮操作。
本發(fā)明的多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)系統(tǒng)進(jìn)一步包括任何方法或設(shè)備，用于在每個(gè)自—測試或掃描—測試周期期間，同時(shí)執(zhí)行移位和壓縮或移位和比較操作?？梢杂糜跍y試包括N個(gè)時(shí)鐘域的任何集成電路或電路組件，其中，N＞1。每個(gè)捕獲時(shí)鐘控制一個(gè)時(shí)鐘域，當(dāng)需要時(shí)，可以按它的額定時(shí)鐘速度(高速)或降低的時(shí)鐘速度(低速)進(jìn)行操作。
在移位操作期間，多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)系統(tǒng)首先在(裝載)N個(gè)偽隨機(jī)或預(yù)定的激勵(lì)中同時(shí)產(chǎn)生和移位到所有時(shí)鐘域中的所有掃描存儲(chǔ)單元。移位頻率與高速測試不相關(guān)。根據(jù)需要，可以使用較低頻率來降低測試施加時(shí)間。多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)系統(tǒng)必須等待，直到已經(jīng)把所有激勵(lì)裝載或移位到所有掃描存儲(chǔ)單元。此時(shí)，每個(gè)與一個(gè)時(shí)鐘域相關(guān)聯(lián)的所有掃描使能(SE)信號將從移位操作切換到捕獲操作。在完成捕獲操作之后，所有掃描使能(SE)信號將從捕獲操作切換到移位操作?？梢院唵蔚厥褂靡粋€(gè)全局掃描使能(GSE)信號來驅(qū)動(dòng)這些掃描使能信號。
本發(fā)明的多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)系統(tǒng)進(jìn)一步包括任何方法和設(shè)備，用于在每個(gè)時(shí)鐘域中按任何選擇時(shí)鐘速度執(zhí)行移位操作，以及對于高速或低速測試只使用一個(gè)全局掃描使能(GSE)信號來驅(qū)動(dòng)所有掃描使能(SE)信號。還可以按它所選擇的降低的時(shí)鐘速度使全局掃描使能(GSE)信號操作。因此，不需要通過選擇路由傳遞這些掃描使能(SE)信號作為使用布局時(shí)鐘樹合成(CTS)的時(shí)鐘信號。本發(fā)明應(yīng)用于在捕獲周期中需要多捕獲時(shí)鐘脈沖(不包括移位時(shí)鐘脈沖)的任何自—測試或掃描—測試方法。
在完成移位操作之后，把捕獲時(shí)鐘的經(jīng)排序的序列施加到所有時(shí)鐘域。在捕獲操作期間，每個(gè)經(jīng)排序的序列包括N個(gè)捕獲時(shí)鐘，其中，一次只有一個(gè)或少數(shù)幾個(gè)有效。移位時(shí)鐘脈沖不存在于每個(gè)捕獲周期中。現(xiàn)在施加兩個(gè)連續(xù)的捕獲時(shí)鐘脈沖(雙捕獲)，而不是使用被捕獲跟隨的移位時(shí)鐘脈沖，來執(zhí)行高速的延誤故障測試。在捕獲周期中執(zhí)行多捕獲使延遲測試無效以及假路徑的危險(xiǎn)性降低，所述延遲測試無效以及假路徑是由于用偽隨機(jī)或預(yù)定激勵(lì)填充掃描存儲(chǔ)單元而導(dǎo)致掃描存儲(chǔ)單元中的不合規(guī)定的狀態(tài)而可能發(fā)生的。
在本發(fā)明中，多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)系統(tǒng)使用菊花鏈時(shí)鐘觸發(fā)或令牌環(huán)時(shí)鐘使能技術(shù)來產(chǎn)生一個(gè)接一個(gè)的捕獲時(shí)鐘，以及進(jìn)行排序。使用這種方法的一個(gè)主要的優(yōu)點(diǎn)是不管每個(gè)捕獲時(shí)鐘將使用什么時(shí)鐘速度，測試結(jié)果總是可重復(fù)的。問題是對于測試時(shí)鐘域之間的延誤故障，兩個(gè)相鄰捕獲時(shí)鐘之間的相對時(shí)鐘延遲可能難于精確地控制。
作為一個(gè)例子，假定捕獲周期包括4個(gè)捕獲時(shí)鐘，CK1、CK2、CK3和CK4。(進(jìn)一步的說明請參考附圖部分詳細(xì)說明中的圖3和10)。菊花鏈時(shí)鐘觸發(fā)技術(shù)暗示移位周期的完成觸發(fā)全局掃描使能(GSE)信號，使之從移位周期切換到捕獲周期，這依次觸發(fā)CK1，最后的CK1脈沖的上升沿觸發(fā)CK2，最后的CK2脈沖的上升沿觸發(fā)CK3，以及最后的CK3脈沖的上升沿觸發(fā)CK4。最終，最后CK4脈沖的上升沿觸發(fā)全局掃描使能(GSE)信號，使之從捕獲周期切換到移位周期。
令牌環(huán)時(shí)鐘使能技術(shù)暗示移位周期的完成使全局掃描使能(GSE)信號從移位周期切換到捕獲周期，這依次啟動(dòng)CK1，CK1脈沖的完成啟動(dòng)CK2，CK2脈沖的完成啟動(dòng)CK3，CK3脈沖的完成啟動(dòng)CK4。最終，CK4脈沖的完成啟動(dòng)全局掃描使能(GSE)信號，使之從捕獲周期切換到移位周期。
這兩種技術(shù)之間的僅有的差別是前者使用時(shí)鐘邊緣來觸發(fā)下一個(gè)操作，而后者使用信號電平來啟動(dòng)下一個(gè)操作。實(shí)際上，可以使用混合方法。由于使用菊花鏈或令牌環(huán)方法，所以多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)系統(tǒng)允許當(dāng)特定頻域不能以高速操作時(shí)按降低的時(shí)鐘速度測試任何頻域。這在測試諸如微處理器和網(wǎng)絡(luò)芯片之類的高速集成電路中是極普通的，其中以不同的價(jià)格來銷售不同的時(shí)鐘速度。此外，由于它是容易控制的，所以這種方法進(jìn)一步允許簡單地使用內(nèi)部再配置的捕獲時(shí)鐘進(jìn)行高速掃描—測試。因此，除了高速自—測試之外，對于高速的掃描—測試，可以使用低成本的測試儀(自動(dòng)測試設(shè)備ATE)。
本發(fā)明的多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)系統(tǒng)進(jìn)一步包括在捕獲操作(周期)中應(yīng)用經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列，并以所選擇的時(shí)鐘速度操作每個(gè)捕獲時(shí)鐘。使用菊花鏈時(shí)鐘觸發(fā)或令牌環(huán)時(shí)鐘使能技術(shù)，把經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列一個(gè)一個(gè)地施加到在測試的電路中。當(dāng)需要增加電路的故障覆蓋時(shí)，這些捕獲時(shí)鐘的排序是可以進(jìn)一步編程的。還可以禁止或選擇每個(gè)捕獲時(shí)鐘，以促進(jìn)故障診斷。此外，當(dāng)兩個(gè)時(shí)鐘域相互不交互作用時(shí)，可以對它們同時(shí)進(jìn)行測試，以縮短捕獲周期時(shí)間。
本發(fā)明的每個(gè)捕獲時(shí)鐘進(jìn)一步包括一個(gè)或多個(gè)時(shí)鐘脈沖。時(shí)鐘脈沖的數(shù)目是可以進(jìn)一步編程的。當(dāng)使用自—測試時(shí)，通常把多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)系統(tǒng)放置在集成電路內(nèi)，因此，所有捕獲時(shí)鐘是在內(nèi)部產(chǎn)生的。當(dāng)使用掃描—測試時(shí)，通常使多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)系統(tǒng)駐留在自動(dòng)測試設(shè)備中，因此，從外部控制所有捕獲時(shí)鐘。然而，對于高速掃描—測試，經(jīng)常需要使用它在每個(gè)時(shí)鐘域中的相應(yīng)工作頻率來捕獲輸出響應(yīng)。本發(fā)明進(jìn)一步包括任何方法和設(shè)備，用于允許使用供高速掃描—測試或自—測試的內(nèi)部產(chǎn)生的或受外部控制的捕獲時(shí)鐘。
在完成捕獲操作之后，在內(nèi)部壓縮所有掃描存儲(chǔ)單元處捕獲的所有輸出響應(yīng)，以進(jìn)行簽名或移位輸出到多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)系統(tǒng)，用于直接進(jìn)行比較。壓縮或比較操作與移位操作同時(shí)發(fā)生，并且移位、捕獲以及壓縮/比較操作將繼續(xù)進(jìn)行，直到到達(dá)諸如完成所有的自—測試或掃描—測試周期之類的預(yù)定限制標(biāo)準(zhǔn)。最終，當(dāng)在自—測試或掃描—測試期間使用壓縮操作時(shí)，多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)系統(tǒng)將對照預(yù)期的簽名而比較簽名。這種比較可以用內(nèi)部比較器在集成電路中完成，或在自動(dòng)測試設(shè)備中使最終簽名移位輸出而供分析用。
在本發(fā)明中，使用自—測試和掃描—測試兩種技術(shù)來檢測或查找猶豫(stuck-at)或延誤故障。猶豫故障進(jìn)一步包括其它猶豫類型的故障，諸如開路和短路故障。延誤故障進(jìn)一步包括諸如過渡(門延遲)、多周期延誤以及路徑延誤故障之類的其它非猶豫類型的延誤故障。此外，每個(gè)掃描存儲(chǔ)單元可以是一個(gè)經(jīng)多路復(fù)用的D觸發(fā)器或是一個(gè)電平敏感的鎖存器，而在測試的集成電路或電路組件可以是全—掃描或部分掃描設(shè)計(jì)的。
一般，只需要分別施加一個(gè)時(shí)鐘脈沖和兩個(gè)連續(xù)的時(shí)鐘脈沖來測試一個(gè)時(shí)鐘域中的猶豫故障和延誤故障。在一個(gè)時(shí)鐘域中和時(shí)鐘域之間存在多周期路徑，然而，為了捕獲，需要等待許多時(shí)鐘周期。為了測試在時(shí)鐘域中的多周期路徑，本發(fā)明進(jìn)一步包括只施加一個(gè)時(shí)鐘脈沖來測試每個(gè)時(shí)鐘域中的這些多周期路徑，這是通過把該域的捕獲時(shí)鐘速度的頻率降低到一個(gè)程度，使之只在它指定的特定額定時(shí)鐘速度處一次捕獲一個(gè)相等周期等待(周期延遲)的路徑而實(shí)現(xiàn)的。為了測試兩個(gè)時(shí)鐘域之間的多周期路徑，本發(fā)明進(jìn)一步包括把沿路徑的相對時(shí)鐘延遲調(diào)節(jié)到一個(gè)程度，使之在它指定的額定時(shí)鐘速度處捕獲交叉邊界多周期路徑。
概括起來，本發(fā)明集中于以降低的時(shí)鐘速度使用一個(gè)全局掃描使能(GSE)信號來驅(qū)動(dòng)所有掃描使能(SE)信號，并施加經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列來捕獲自—測試和掃描—測試兩種模式中的輸出響應(yīng)。本發(fā)明假定集成電路或電路組件必須包括兩個(gè)或多個(gè)時(shí)鐘域，每個(gè)時(shí)鐘域受到一個(gè)捕獲時(shí)鐘的控制。在自—測試期間，每個(gè)捕獲時(shí)鐘應(yīng)包括一個(gè)或多個(gè)時(shí)鐘脈沖，而在掃描—測試期間，捕獲時(shí)鐘中之一必須包括兩個(gè)或多個(gè)時(shí)鐘脈沖。
由于容易控制掃描使能信號和捕獲時(shí)鐘信號，現(xiàn)在可以通過一種設(shè)備容易地實(shí)現(xiàn)以及使用計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)(CAD)工具綜合本發(fā)明的多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)系統(tǒng)。本發(fā)明進(jìn)一步包括如此的CAD系統(tǒng)，用于綜合設(shè)備以及在自—測試或掃描—測試模式中使用組合的故障仿真和組合的自動(dòng)測試圖案產(chǎn)生來驗(yàn)證它的正確性。
附圖簡述當(dāng)研究下列說明書和附圖時(shí)，對本發(fā)明的上述的以及其它的目的、優(yōu)點(diǎn)和特征將更為明了，其中

圖1示出具有4個(gè)時(shí)鐘域和4個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘的全掃描或部分掃描設(shè)計(jì)的一個(gè)例子，其中，在自—測試或掃描—測試模式中以降低的時(shí)鐘速度使用根據(jù)本發(fā)明的多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)系統(tǒng)來檢測或查找猶豫故障。
圖2示出根據(jù)本發(fā)明的具有多個(gè)PRPG-MISR對的多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)系統(tǒng)，在圖1給出的設(shè)計(jì)中在自—測試或掃描—測試模式中以降低的時(shí)鐘速度使用它來檢測或查找猶豫故障。
圖3示出根據(jù)本發(fā)明的圖1中給出的全掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，其中，在自—測試模式中使用經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列來檢測或查找每個(gè)時(shí)鐘域中的猶豫故障以及交叉時(shí)鐘域的猶豫故障。還示出控制事件的鏈。
圖4示出根據(jù)本發(fā)明的圖1中給出的全掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，其中，在自—測試模式中使用經(jīng)縮短又經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列來檢測或查找每個(gè)時(shí)鐘域中的猶豫故障以及交叉時(shí)鐘域的猶豫故障。
圖5示出根據(jù)本發(fā)明的圖1中給出的全掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，其中，在自—測試或掃描—測試模式中使用經(jīng)加長又經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列來檢測或查找每個(gè)時(shí)鐘域中的其它猶豫類型故障以及交叉時(shí)鐘域的其它猶豫類型故障。
圖6示出根據(jù)本發(fā)明的圖1中給出的部分掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，其中，在自—測試或掃描—測試模式中使用經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列來檢測或查找每個(gè)時(shí)鐘域中的猶豫故障以及交叉時(shí)鐘域的猶豫故障。
圖7示出具有4個(gè)時(shí)鐘域和4個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘的全掃描或部分掃描設(shè)計(jì)的一個(gè)例子，其中，在自—測試或掃描—測試模式中以它所要求的時(shí)鐘速度使用根據(jù)本發(fā)明的多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)系統(tǒng)來檢測或查找猶豫、延誤以及多周期延誤故障。
圖8示出根據(jù)本發(fā)明的具有多個(gè)PRPG-MISR對的多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)系統(tǒng)，在圖7給出的設(shè)計(jì)中在自—測試或掃描—測試模式中以它所要求的時(shí)鐘速度使用它來檢測或查找猶豫、延誤以及多周期延誤故障。
圖9示出根據(jù)本發(fā)明的圖7中給出的全掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，其中，在自—測試模式中使用經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列來檢測或查找每個(gè)時(shí)鐘域中的猶豫故障以及交叉時(shí)鐘域的猶豫故障。
圖10示出根據(jù)本發(fā)明的圖7中給出的全掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，其中，在自—測試或掃描—測試模式中使用經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列來檢測或查找每個(gè)時(shí)鐘域中的延誤故障以及交叉時(shí)鐘域的猶豫故障。
圖11示出根據(jù)本發(fā)明的圖7中給出的全掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，其中，在自—測試或掃描—測試模式中使用經(jīng)縮短又經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列來檢測或查找每個(gè)時(shí)鐘域中的延誤故障以及交叉時(shí)鐘域的猶豫故障。
圖12示出根據(jù)本發(fā)明的圖7中給出的全掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，其中，在自—測試或掃描—測試模式中使用經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列來檢測或查找每個(gè)時(shí)鐘域中的猶豫故障以及交叉時(shí)鐘域的延誤故障。
圖13示出根據(jù)本發(fā)明的圖7中給出的部分掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，其中，在自—測試或掃描—測試模式中使用經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列來檢測或查找每個(gè)時(shí)鐘域中的延誤故障以及交叉時(shí)鐘域的延誤故障。
圖14示出根據(jù)本發(fā)明的圖7中給出的部分掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，其中，在自—測試或掃描—測試模式中使用經(jīng)再排序的捕獲時(shí)鐘序列來檢測或查找每個(gè)時(shí)鐘域中的延誤故障以及交叉時(shí)鐘域的猶豫故障。
圖15示出根據(jù)本發(fā)明的圖7中的全掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，其中，在自—測試或掃描—測試模式中使用經(jīng)加長又經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列來檢測或查找每個(gè)時(shí)鐘域中的另外的延誤故障以及交叉時(shí)鐘域的另外的猶豫故障。
圖16示出根據(jù)本發(fā)明的圖7中的全掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，其中，在自—測試或掃描—測試模式中使用經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列來檢測或查找每個(gè)時(shí)鐘域中的2-周期延誤故障以及交叉時(shí)鐘域的猶豫故障。
圖17示出根據(jù)本發(fā)明的圖7中的全掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，其中，在自—測試或掃描—測試模式中使用經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列來檢測或查找每個(gè)時(shí)鐘域中的2-周期延誤故障以及交叉時(shí)鐘域的2-周期猶豫故障。
圖18示出根據(jù)本發(fā)明的圖7中的部分掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，其中，在自—測試或掃描—測試模式中使用經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列來檢測或查找每個(gè)時(shí)鐘域中的猶豫故障以及交叉時(shí)鐘域的猶豫故障。
圖19示出根據(jù)本發(fā)明的圖7中的部分掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，其中，在自—測試或掃描—測試模式中使用經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列來檢測或查找每個(gè)時(shí)鐘域中的延誤故障以及交叉時(shí)鐘域的猶豫故障。
圖20示出根據(jù)本發(fā)明的圖7中的部分掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，其中，在自—測試或掃描—測試模式中使用經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列來檢測或查找每個(gè)時(shí)鐘域中的2-周期延誤故障以及交叉時(shí)鐘域的猶豫故障。
圖21示出根據(jù)本發(fā)明的圖7中的全掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，其中，在自—測試或掃描—測試模式中，選擇在捕獲周期期間的捕獲時(shí)鐘CK2，以診斷CK2捕獲的故障。
圖22示出根據(jù)本發(fā)明的圖7中的全掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，其中，在自—測試或掃描—測試模式中，選擇在捕獲周期期間的捕獲時(shí)鐘CK1和CK3，以診斷CK1和CK3捕獲的故障。
圖23示出根據(jù)本發(fā)明的圖1中的全掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，其中，使移位周期期間的所有捕獲時(shí)鐘都偏移，以降低功率損耗。
圖24示出根據(jù)本發(fā)明的多—捕獲CAD(計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì))系統(tǒng)，其中，使用CAD系統(tǒng)來執(zhí)行自—測試模式中的全掃描或部分掃描上的多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)技術(shù)。
圖25示出根據(jù)本發(fā)明的多—捕獲CAD(計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì))系統(tǒng)，其中，使用CAD系統(tǒng)來執(zhí)行掃描—測試模式中的全掃描或部分掃描上的多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)技術(shù)。
具體的實(shí)施方式下面的說明是實(shí)施本發(fā)明的當(dāng)前設(shè)想的最佳模式。本說明沒有限制的意思，而只是為了說明本發(fā)明的原理的目的。應(yīng)該參考所附的權(quán)利要求書來確定本發(fā)明的范圍。
圖1示出具有多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)系統(tǒng)的全掃描或部分掃描設(shè)計(jì)的一個(gè)例子。設(shè)計(jì)133包括4個(gè)時(shí)鐘域，CD1102到CD4105，以及4個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘，CK1111到CK4120。每個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘控制一個(gè)時(shí)鐘域。CD1102和CD2103相互通過交叉時(shí)鐘域邏輯塊CCD1106進(jìn)行通信；CD2103和CD3104相互通過交叉時(shí)鐘域邏輯塊CCD2107進(jìn)行通信；而CD3104和CD4105相互通過交叉時(shí)鐘域邏輯塊CCD3108進(jìn)行通信。
原始設(shè)計(jì)4個(gè)時(shí)鐘域，CD1102到CD4105，分別運(yùn)行在150MHz、100MHz、100MHz和66MHz。然而，在本例子中，由于只使用為測試而設(shè)計(jì)(自—測試或掃描—測試)技術(shù)來檢測或查找設(shè)計(jì)133中的猶豫故障，所以再配置所有系統(tǒng)時(shí)鐘，CK1111到CK4120，使之在10MHz處操作。把再配置的系統(tǒng)時(shí)鐘稱為捕獲時(shí)鐘。
在自—測試或掃描—測試期間，多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)系統(tǒng)101將接管對所有激勵(lì)，109、112、115和118，所有系統(tǒng)時(shí)鐘，CK1111到CK4120，以及所有輸出響應(yīng)，110、113、116和119的控制。
在移位操作期間，多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)系統(tǒng)101首先通過109、112、115和118產(chǎn)生偽隨機(jī)或預(yù)定激勵(lì)，以及同時(shí)移位到4個(gè)時(shí)鐘域，CD1102到CD4105，中所有掃描鏈SCN中的所有掃描存儲(chǔ)單元SC。多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)系統(tǒng)101應(yīng)該等待，直到已經(jīng)使所有激勵(lì)，109、112、115和118移位到所有掃描存儲(chǔ)單元SC。應(yīng)該注意，在移位操作期間，可以使捕獲時(shí)鐘在它的額定時(shí)鐘速度(高速)或所要求的時(shí)鐘速度處工作。
在完成移位操作之后，把經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列施加到所有時(shí)鐘域，CD1102到CD4105。在捕獲操作期間，每個(gè)捕獲時(shí)鐘可以工作于它的額定時(shí)鐘速度(高速)或降低的速度(低速)，而且所述捕獲時(shí)鐘可以在內(nèi)部產(chǎn)生或從外部控制。在本例子中，再配置所有系統(tǒng)時(shí)鐘，CK1111到CK4120，使之在10MHz的降低頻率處工作。
在完成捕獲操作之后，使在所有掃描存儲(chǔ)單元SC處捕獲的輸出響應(yīng)都通過響應(yīng)110、113、116和119移位輸出到多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)系統(tǒng)101，用于在壓縮操作期間進(jìn)行壓縮或直接在比較操作期間進(jìn)行比較。
根據(jù)圖1，使用在圖3到圖6中給出的定時(shí)圖來說明，通過使捕獲時(shí)鐘序列正確地排序，以及通過調(diào)節(jié)相對時(shí)鐘間延遲，可以在自—測試或掃描—測試中檢測或查找在每個(gè)時(shí)鐘域中的以及交叉時(shí)鐘域的猶豫故障。請注意，用不同方式對捕獲時(shí)鐘序列進(jìn)行排序和對相對時(shí)鐘間延遲進(jìn)行調(diào)節(jié)，將導(dǎo)致檢測或查找到不同的故障。
圖2示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的具有3個(gè)PRPG-MISR對的多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)系統(tǒng)，用于檢測或查找在自—測試中圖1給出的設(shè)計(jì)133中的猶豫故障。
使用偽隨機(jī)圖案發(fā)生器(PRPG)，211到213，來產(chǎn)生偽隨機(jī)圖案。使用移相器，214到216，來斷開偽隨機(jī)圖案發(fā)生器(PRPG)的不同輸出之間的相關(guān)性。來自移相器的位流成為測試激勵(lì)，109、112、115和118。
使用空間壓縮器，217到219，來減少測試響應(yīng)110、113、116和119中的位流數(shù)目?？臻g壓縮器是任選的，只有當(dāng)MISR的額外開銷變成一種憂慮時(shí)才使用。然后通過多輸入簽名寄存器(MISR)，220到222，對空間壓縮器的輸出進(jìn)行壓縮。在施加所有測試激勵(lì)之后，多輸入簽名寄存器(MISR)的內(nèi)容就變成簽名，236到238。然后，比較器，223到225，對簽名與相應(yīng)的預(yù)期值進(jìn)行比較。使用誤差指示器226來組合各個(gè)通過/失敗信號，242到244，全局通過/失敗信號245。另一方面，可以使多輸入簽名寄存器(MISR)220到222中的簽名移位到設(shè)計(jì)的外面，用于通過單元223、239、224、240、225和241組成的單個(gè)掃描鏈進(jìn)行比較。
中央自—測試控制器202通過操縱各個(gè)掃描使能信號，204到207，以及通過使捕獲時(shí)鐘，CK1111到CK4120，再配置而控制整個(gè)測試過程。尤其，可以通過一個(gè)全局掃描使能(GSE)信號201來控制掃描使能信號，204到207，所述全局掃描使能(GSE)信號201是一個(gè)慢信號，其中，它不需要在施加到任何時(shí)鐘域的任何時(shí)鐘的半個(gè)周期中穩(wěn)定下來。需要某些另外的控制信號203來進(jìn)行其它的控制任務(wù)。
在相同頻率工作的時(shí)鐘域103和104共享相同的PRPG212和MISR221對。應(yīng)該注意，應(yīng)該正確地管理時(shí)鐘CK2114和CK3117之間的偏移，以防止移位操作期間的任何定時(shí)違規(guī)以及捕獲操作期間的任何競爭。
可以把在PRPG，211到213，以及MISR，220到222，中的所有存儲(chǔ)單元連接到掃描鏈，可以從所述掃描鏈移位輸入用于再活化(reseed)的預(yù)定圖案，并且可以使經(jīng)計(jì)算的簽名移位輸出，供分析用。這種配置有助于增加故障覆蓋以及促進(jìn)故障診斷。
圖3示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的在圖1中給出的全掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，用于在自—測試模式中用經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列來檢測或查找在每個(gè)時(shí)鐘域中的猶豫故障和交叉時(shí)鐘域的猶豫故障。定時(shí)圖300示出在相同頻率上操作的4個(gè)捕獲時(shí)鐘，CK1111到CK4120，的波形的序列。
在每個(gè)移位周期310期間，把一系列10MHz的脈沖通過捕獲時(shí)鐘，CK1111到CK4120，施加到移位激勵(lì)到所有時(shí)鐘域，CD1102到CD4105中的所有掃描存儲(chǔ)單元。
在每個(gè)捕獲周期311期間，按下列次序施加4組捕獲時(shí)鐘脈沖第一，把一個(gè)捕獲脈沖施加到CK1111以檢測或查找時(shí)鐘域CD1102中的猶豫故障。第二，把一個(gè)捕獲脈沖施加到CK2114以檢測或查找時(shí)鐘域CD2103中的猶豫故障。第三，把一個(gè)捕獲脈沖施加到CK3117以檢測或查找時(shí)鐘域CD3104中的猶豫故障。第四，把一個(gè)捕獲脈沖施加到CK4120以檢測或查找時(shí)鐘域CD4105中的猶豫故障。
此外，如果滿足下列條件，則還同時(shí)檢測或查找可以分別從交叉時(shí)鐘域邏輯塊CCD1106到CCD3108中的線121、125和129到達(dá)的猶豫故障必須調(diào)節(jié)CK1111的捕獲脈沖的上升沿和CK2114的捕獲脈沖的上升沿之間的相對時(shí)鐘延遲307，以致不會(huì)發(fā)生競爭或定時(shí)違規(guī)，同時(shí)通過交叉時(shí)鐘域邏輯塊CCD1106捕獲輸出響應(yīng)123。
相同的原理應(yīng)用于CK2114和CK3117之間的相對時(shí)鐘延遲308，以及CK3117和CK4120之間的相對時(shí)鐘延遲309，用于分別通過CCD2107和CCD3108捕獲輸出響應(yīng)127和131。
應(yīng)該注意，一般在每個(gè)移位周期期間，允許任何捕獲時(shí)鐘在它所要求的或降低的時(shí)鐘速度上操作。此外，不需要所有捕獲時(shí)鐘都必須在相同的時(shí)鐘速度上操作。此外，為了降低移位周期期間的峰值功率消耗，可以使所有捕獲時(shí)鐘偏移，以致在任何給定的時(shí)刻，只有一個(gè)時(shí)鐘域中的掃描存儲(chǔ)單元可以改變狀態(tài)。當(dāng)再請求時(shí)，還可以使用工作在降低時(shí)鐘速度的一個(gè)全局掃描使能(GSE)信號201，以把測試操作從移位周期切換到捕獲周期，反之亦然。
按如下的方式使用菊花鏈時(shí)鐘觸發(fā)技術(shù)來產(chǎn)生一個(gè)接一個(gè)的捕獲時(shí)鐘序列和進(jìn)行排序在移位周期中的最后脈沖的上升沿把0施加到全局掃描使能(GSE)信號201而觸發(fā)事件301，使測試操作從移位周期切換到捕獲周期。GSE201的下降沿把一個(gè)捕獲脈沖施加于CK1111而觸發(fā)事件302。相似地，CK1111的捕獲脈沖的上升沿把一個(gè)捕獲脈沖施加到CK2114而觸發(fā)事件303，CK2114的捕獲脈沖的上升沿把一個(gè)捕獲脈沖施加到CK3117而觸發(fā)事件304，CK3117的捕獲脈沖的上升沿把一個(gè)捕獲脈沖施加到CK4120而觸發(fā)事件305。最終，CK4120的捕獲脈沖的上升沿把1施加到全局掃描使能(GSE)信號201而觸發(fā)事件306，把測試操作從捕獲周期切換到移位周期。在圖4到圖6中還使用這個(gè)菊花鏈時(shí)鐘觸發(fā)技術(shù)對捕獲時(shí)鐘序列進(jìn)行排序。
圖4示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的在圖1中示出的全掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，用于在自—測試模式中用經(jīng)縮短又經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列檢測或查找在每個(gè)時(shí)鐘域中的猶豫故障以及交叉時(shí)鐘域的猶豫故障，定時(shí)圖400示出在相同頻率上工作的4個(gè)捕獲時(shí)鐘，CK1111到CK4120，的波形序列。
在每個(gè)移位周期402期間，通過捕獲時(shí)鐘，CK1111到CK4120，把一系列10MHz的時(shí)鐘脈沖施加到移位激勵(lì)，所述移位激勵(lì)是到所有時(shí)鐘域，CD1102到CD4105，中的所有掃描存儲(chǔ)單元的。
在每個(gè)捕獲周期403期間，按下列次序施加兩組捕獲時(shí)鐘脈沖第一，把一個(gè)捕獲脈沖同時(shí)施加到CK1111和CK3117以分別檢測或查找時(shí)鐘域CD1102和CD3104中的猶豫故障。第二，把一個(gè)捕獲脈沖同時(shí)施加到CK2114和CK4120以分別檢測或查找時(shí)鐘域CD2103和CD4105中的猶豫故障。
此外，如果滿足下列條件，則還同時(shí)檢測或查找可以從交叉時(shí)鐘域邏輯塊CCD1106到CCD3108中的線121、128和129到達(dá)的猶豫故障必須調(diào)節(jié)CK1111和CK3117的捕獲脈沖的上升沿和CK2114和CK4120的捕獲脈沖的上升沿之間的相對時(shí)鐘延遲401，以致不會(huì)發(fā)生競爭或定時(shí)違規(guī)，同時(shí)通過交叉時(shí)鐘域邏輯塊CCD1106到CCD3108捕獲輸出響應(yīng)123、126和131。
圖5示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的在圖1中示出的全掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，用于在自—測試或掃描—測試模式中用經(jīng)加長又經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列檢測或查找在每個(gè)時(shí)鐘域中的其它猶豫故障以及交叉時(shí)鐘域的其它猶豫故障，定時(shí)圖500示出在相同頻率上工作的4個(gè)捕獲時(shí)鐘，CK1111到CK4120，的波形序列。
在每個(gè)移位周期503期間，通過捕獲時(shí)鐘，CK1111到CK4120，把一系列10MHz的時(shí)鐘脈沖施加到移位激勵(lì)，所述移位激勵(lì)是到所有時(shí)鐘域，CD1102到CD4105，中的所有掃描存儲(chǔ)單元的。
在每個(gè)捕獲周期504期間，按下列次序施加兩組捕獲時(shí)鐘脈沖第一，把兩個(gè)捕獲脈沖同時(shí)施加到CK1111和CK3117。第二，把一個(gè)捕獲脈沖同時(shí)施加到CK2114和CK4120。如果滿足下列條件，則可以檢測或查找從121到123、從124到122、從125到127、從128到126、從129到131、從132到130的所有交叉時(shí)鐘域組合中的猶豫故障必須調(diào)節(jié)CK1111和CK3117的第一捕獲脈沖的上升沿和CK2114和CK4120的捕獲脈沖的上升沿之間的相對時(shí)鐘延遲501，以致不會(huì)發(fā)生競爭或定時(shí)違規(guī)，同時(shí)分別通過交叉時(shí)鐘域邏輯塊CCD1106到CCD3108捕獲輸出響應(yīng)123、126和131。必須調(diào)節(jié)CK2114和CK4120的捕獲脈沖的上升沿和CK1111和CK3117的第二捕獲脈沖的上升沿之間的相對時(shí)鐘延遲502，以致不會(huì)發(fā)生競爭或定時(shí)違規(guī)，同時(shí)分別通過交叉時(shí)鐘域邏輯塊CCD1106到CCD3108捕獲輸出響應(yīng)122、127和130。
圖6示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的在圖1中示出的向前饋送部分掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，用于在自—測試或掃描—測試模式中用經(jīng)縮短又經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列檢測或查找在每個(gè)時(shí)鐘域中的猶豫故障以及交叉時(shí)鐘域的猶豫故障。假定時(shí)鐘域CD1102到CD4105包括形成不大于2的序列深度的許多未掃描存儲(chǔ)單元。定時(shí)圖600示出在相同頻率上工作的4個(gè)捕獲時(shí)鐘，CK1111到CK4120，的波形序列。
在每個(gè)移位周期606期間，通過捕獲時(shí)鐘，CK1111到CK4120，把一系列10MHz的時(shí)鐘脈沖施加到移位激勵(lì)，所述移位激勵(lì)是到所有時(shí)鐘域，CD1102到CD4105，中的所有掃描存儲(chǔ)單元的。
在每個(gè)捕獲周期607期間，按下列次序施加兩組捕獲時(shí)鐘脈沖第一，把3個(gè)10MHz的脈沖(兩個(gè)是功能脈沖，而一個(gè)是捕獲脈沖)同時(shí)施加到CK1111和CK3117以分別檢測或查找時(shí)鐘域CD1102和CD3104中的猶豫故障。第二，把3個(gè)10MHz的脈沖(兩個(gè)是功能脈沖，而一個(gè)是捕獲脈沖)同時(shí)施加到CK2114和CK4120以分別檢測或查找時(shí)鐘域CD2103和CD4105中的猶豫故障。
此外，如果滿足下列條件，則還同時(shí)檢測或查找可以從交叉時(shí)鐘域邏輯塊CCD1106到CCD3108中的線121、128和129到達(dá)的猶豫故障必須調(diào)節(jié)CK1111和CK3117的捕獲脈沖的上升沿和CK2114和CK4120的捕獲脈沖的上升沿之間的相對時(shí)鐘延遲603，以致不會(huì)發(fā)生競爭或定時(shí)違規(guī)，同時(shí)通過交叉時(shí)鐘域邏輯塊CCD1106到CCD3108捕獲輸出響應(yīng)123、126和131。
圖7示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的具有多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)系統(tǒng)的全掃描或部分掃描設(shè)計(jì)的例子。設(shè)計(jì)733與圖1中給出的設(shè)計(jì)133相同。與圖1相同，原始設(shè)計(jì)4個(gè)時(shí)鐘域，CD1102到CD4105，分別運(yùn)行在150MHz、100MHz、100MHz和66MHz。與圖1的唯一不同之處在于將直接使用這些時(shí)鐘頻率而無需變換，以便執(zhí)行每個(gè)時(shí)鐘域以及交叉時(shí)鐘域中的猶豫故障、延誤故障、以及多周期延誤故障的高速自—測試或掃描—測試。
根據(jù)圖7，使用圖9到20給出的定時(shí)圖來說明，通過使捕獲時(shí)鐘序列正確地排序以及通過調(diào)節(jié)相對的時(shí)鐘之間延遲，在自—測試或掃描—測試模式中可以得到對于每個(gè)時(shí)鐘域以及交叉時(shí)鐘域中的猶豫故障、延誤故障、以及多周期延誤故障的高速檢測或查找。請注意，以不同方法使捕獲時(shí)鐘序列排序以及調(diào)節(jié)相對時(shí)鐘之間延遲將導(dǎo)致檢測或查找到不同的故障。
圖8示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的具有3個(gè)PRPG-MISR對的多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)系統(tǒng)，用于在自—測試或掃描—測試模式中檢測或查找圖7給出的設(shè)計(jì)中的猶豫故障、延誤故障、以及多周期延誤故障。多—捕獲為測試而設(shè)計(jì)系統(tǒng)的組成和操作基本上與圖2中給出的那個(gè)系統(tǒng)相同。有兩個(gè)主要的差別一個(gè)差別是，在本例子中，直接使用原始時(shí)鐘頻率，150MHz、100MHz、100MHz和66MHz，而無需變換，以便執(zhí)行高速自—測試或掃描—測試。另一個(gè)差別是，在本例子中，對于掃描鏈等的物理設(shè)計(jì)需要特別的當(dāng)心。
在相同頻率上工作的時(shí)鐘域703和704共享PRPG812和MISR821的相同對應(yīng)該注意，必須正確地管理時(shí)鐘CK2714和CK3717之間的偏移，以防止移位操作期間的任何定時(shí)違規(guī)以及捕獲操作期間的任何競爭。
可以把在PRPG811到813以及MISR820到822中的所有存儲(chǔ)單元連接到掃描鏈，可以從所述掃描鏈移位輸入用于再活化(reseed)的預(yù)定圖案，并且可以使經(jīng)計(jì)算的簽名移位輸出，供分析用。這種配置有助于增加故障覆蓋以及促進(jìn)故障診斷。
圖9示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的在圖7中給出的全掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，用于在自—測試模式中用經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列檢測或查找在每個(gè)時(shí)鐘域中的猶豫故障以及交叉時(shí)鐘域的猶豫故障。定時(shí)圖900示出在不同頻率上工作的4個(gè)捕獲時(shí)鐘，CK1711到CK4720，的波形序列。這個(gè)定時(shí)圖基本上與圖3給出的定時(shí)圖相同，除了在移位和捕獲兩種周期中，捕獲時(shí)鐘，CK1711到CK4720，分別運(yùn)行于150MHz、100MHz、100MHz以及66MHz而不是圖3中的10MHz之外。
圖10示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的在圖7中給出的全掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，用于在自—測試或掃描—測試模式中用經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列檢測或查找在每個(gè)時(shí)鐘域中的猶豫故障以及交叉時(shí)鐘域的猶豫故障。定時(shí)圖1000示出在不同頻率上工作的4個(gè)捕獲時(shí)鐘，CK1711到CK4720，的波形序列。
在每個(gè)移位周期1014期間，通過捕獲時(shí)鐘，CK1111到CK4120，把一系列150MHz、100MHz、100MHz以及66MHz等不同頻率的時(shí)鐘脈沖施加到移位激勵(lì)，所述移位激勵(lì)是到所有時(shí)鐘域，CD1702到CD4705，中的所有掃描存儲(chǔ)單元的。
在每個(gè)捕獲周期1015期間，按下列次序施加4組捕獲時(shí)鐘脈沖第一，把兩個(gè)150MHz的捕獲脈沖施加到CK1711以檢測或查找時(shí)鐘域CD1702中的延誤故障。第二，把兩個(gè)100MHz的捕獲脈沖施加到CK2714以檢測或查找時(shí)鐘域CD2703中的延誤故障。第三，把兩個(gè)100MHz的捕獲脈沖施加到CK3717以檢測或查找時(shí)鐘域CD3704中的延誤故障。第四，把兩個(gè)66MHz的捕獲脈沖施加到CK4720以檢測或查找時(shí)鐘域CD4705中的延誤故障。
此外，如果滿足下列條件，則還同時(shí)檢測或查找可以分別從交叉時(shí)鐘域邏輯塊CCD1706到CCD3708中的線721、725和729到達(dá)的猶豫故障必須調(diào)節(jié)CK1711的第二捕獲脈沖的上升沿和CK2714的第一捕獲脈沖的上升沿之間的相對時(shí)鐘延遲1008，以致不會(huì)發(fā)生競爭或定時(shí)違規(guī)，同時(shí)通過交叉時(shí)鐘域邏輯塊CCD1706捕獲輸出響應(yīng)723。
把相同的原理施加于CK2714和CK3717之間的相對時(shí)鐘延遲1010以及CK3717和CK4720之間的相對時(shí)鐘延遲1012，分別通過CCD2707和CCD3708捕獲輸出響應(yīng)727和731。
按下列方法使用菊花鏈時(shí)鐘觸發(fā)技術(shù)產(chǎn)生和排列一個(gè)接一個(gè)的捕獲時(shí)鐘序列在移位周期中的最后脈沖的上升沿把0施加到全局掃描使能(GSE)信號801而觸發(fā)事件1001，使測試操作從移位周期切換到捕獲周期。GSE801的下降沿把兩個(gè)捕獲脈沖施加于CK1711而觸發(fā)事件1002。相似地，CK1711的第二捕獲脈沖的上升沿把兩個(gè)捕獲脈沖施加到CK2714而觸發(fā)事件1003，CK2714的第二捕獲脈沖的上升沿把兩個(gè)捕獲脈沖施加到CK3717而觸發(fā)事件1004，CK3717的第二捕獲脈沖的上升沿把兩個(gè)捕獲脈沖施加到CK4720而觸發(fā)事件1005。最終，CK4720的第二捕獲脈沖的上升沿把1施加到全局掃描使能(GSE)信號801而觸發(fā)事件1006，把測試操作從捕獲周期切換到移位周期。在圖9和圖11中還使用這個(gè)菊花鏈時(shí)鐘觸發(fā)技術(shù)對捕獲時(shí)鐘序列進(jìn)行排序。
圖11示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的在圖7中給出的全掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，用于在自—測試或掃描—測試模式中用經(jīng)縮短又經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列檢測或查找在每個(gè)時(shí)鐘域中的延誤故障以及交叉時(shí)鐘域的猶豫故障。定時(shí)圖1100示出在不同頻率上工作的4個(gè)捕獲時(shí)鐘，CK1711到CK4720，的波形序列。
在每個(gè)移位周期1108期間，通過捕獲時(shí)鐘，CK1711到CK4720，把一系列150MHz、100MHz、100MHz以及66MHz等不同頻率的時(shí)鐘脈沖施加到移位激勵(lì)，所述移位激勵(lì)是到所有時(shí)鐘域，CD1702到CD4705，中的所有掃描存儲(chǔ)單元的。
在每個(gè)捕獲周期1109期間，按下列次序施加4組捕獲時(shí)鐘脈沖第一，把兩個(gè)頻率150MHz的捕獲脈沖施加到CK1711，同時(shí)把兩個(gè)頻率100MHz的時(shí)鐘脈沖施加到CK3717，以分別檢測或查找時(shí)鐘域CD1702和CD3704中的延誤故障。第二，把兩個(gè)頻率100MHz的捕獲脈沖施加到CK2714，同時(shí)把兩個(gè)頻率66MHz的捕獲脈沖施加到CK4720，以分別檢測或查找時(shí)鐘域CD2703和CD4705中的延誤故障。
此外，如果滿足下列條件，則還同時(shí)檢測或查找可以分別從交叉時(shí)鐘域邏輯塊CCD1706到CCD3708中的線721、728和729到達(dá)的猶豫故障必須調(diào)節(jié)CK1711的第二捕獲脈沖的上升沿和CK2714的第一捕獲脈沖的上升沿之間的相對時(shí)鐘延遲1102，以致不會(huì)發(fā)生競爭或定時(shí)違規(guī)，同時(shí)通過交叉時(shí)鐘域邏輯塊CCD1706捕獲輸出響應(yīng)723。
把相同的原理施加于CK3717和CK2714之間的相對時(shí)鐘延遲1104以及CK3717和CK4720之間的相對時(shí)鐘延遲1106，分別通過CCD2707和CCD3708捕獲輸出響應(yīng)726和731。
圖12示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的在圖7中給出的全掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，用于在自—測試或掃描—測試模式中用經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列檢測或查找在每個(gè)時(shí)鐘域中的猶豫故障以及交叉時(shí)鐘域的延誤故障。定時(shí)圖1200示出在不同頻率上工作的4個(gè)捕獲時(shí)鐘，CK1711到CK4720，的波形序列。
在每個(gè)移位周期1204期間，通過捕獲時(shí)鐘，CK1711到CK4720，把一系列150MHz、100MHz、100MHz以及66MHz等不同頻率的時(shí)鐘脈沖施加到移位激勵(lì)，所述移位激勵(lì)是到所有時(shí)鐘域，CD1702到CD4705，中的所有掃描存儲(chǔ)單元的。
在每個(gè)捕獲周期1205期間，按下列次序施加4組捕獲時(shí)鐘脈沖第一，把一個(gè)150MHz的捕獲脈沖施加到CK1711，以檢測或查找時(shí)鐘域CD1702中的猶豫故障。第二，把一個(gè)100MHz的捕獲脈沖施加到CK2714，以檢測或查找時(shí)鐘域CD2703中的猶豫故障。第三，把一個(gè)100MHz的捕獲脈沖施加到CK3717，以檢測或查找時(shí)鐘域CD3704中的猶豫故障。第四，把一個(gè)66MHz的捕獲脈沖施加到CK4720，以檢測或查找時(shí)鐘域CD4705中的猶豫故障。
此外，如果滿足下列條件，則還同時(shí)檢測或查找可以分別從交叉時(shí)鐘域邏輯塊CCD1706到CCD3708中的線721、725和729到達(dá)的延誤故障必須調(diào)節(jié)CK1711的捕獲脈沖的上升沿和CK2714的捕獲脈沖的上升沿之間的相對時(shí)鐘延遲1201，使之符合從721到723的路徑的高速定時(shí)要求。相似地，必須調(diào)節(jié)CK2714和CK3717之間的相對時(shí)鐘延遲1202以及CK3717和CK4720之間的相對時(shí)鐘延遲1203，使之分別符合從725到727的路徑以及從729到731的路徑的高速定時(shí)要求。
圖13示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的在圖7中給出的全掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，用于在自—測試或掃描—測試模式中用經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列檢測或查找在每個(gè)時(shí)鐘域中的延誤故障以及交叉時(shí)鐘域的延誤故障。定時(shí)圖1300示出在不同頻率上工作的4個(gè)捕獲時(shí)鐘，CK1711到CK4720，的波形序列。
在每個(gè)移位周期1308期間，通過捕獲時(shí)鐘，CK1711到CK4720，把一系列150MHz、100MHz、100MHz以及66MHz等不同頻率的時(shí)鐘脈沖施加到移位激勵(lì)，所述移位激勵(lì)是到所有時(shí)鐘域，CD1702到CD4705，中的所有掃描存儲(chǔ)單元的。
在每個(gè)捕獲周期1309期間，按下列次序施加4組捕獲時(shí)鐘脈沖第一，把兩個(gè)150MHz的捕獲脈沖施加到CK1711，以檢測或查找時(shí)鐘域CD1702中的延誤故障。第二，把兩個(gè)100MHz的捕獲脈沖施加到CK2714，以檢測或查找時(shí)鐘域CD2703中的延誤故障。第三，把兩個(gè)100MHz的捕獲脈沖施加到CK3717，以檢測或查找時(shí)鐘域CD3704中的延誤故障。第四，把兩個(gè)66MHz的捕獲脈沖施加到CK4720，以檢測或查找時(shí)鐘域CD4705中的延誤故障。
此外，如果滿足下列條件，則還同時(shí)檢測或查找可以分別從交叉時(shí)鐘域邏輯塊CCD1706到CCD3708中的線721、725和729到達(dá)的延誤故障必須調(diào)節(jié)CK1711的第二捕獲脈沖的上升沿和CK2714的第一捕獲脈沖的上升沿之間的相對時(shí)鐘延遲1302，使之符合從721到723的路徑的高速定時(shí)要求。相似地，必須調(diào)節(jié)CK2714和CK3717之間的相對時(shí)鐘延遲1304以及CK3717和CK4720之間的相對時(shí)鐘延遲1306，使之分別符合從725到727的路徑以及從729到731的路徑的高速定時(shí)要求。
圖14示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的在圖7中給出的全掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，用于在自—測試或掃描—測試模式中用經(jīng)再排序的捕獲時(shí)鐘序列檢測或查找在每個(gè)時(shí)鐘域中的延誤故障以及交叉時(shí)鐘域的猶豫故障。定時(shí)圖1400示出在不同頻率上工作的4個(gè)捕獲時(shí)鐘，CK1711到CK4720，的波形序列。
在每個(gè)移位周期1408期間，通過捕獲時(shí)鐘，CK1711到CK4720，把一系列150MHz、100MHz、100MHz以及66MHz等不同頻率的時(shí)鐘脈沖施加到移位激勵(lì)，所述移位激勵(lì)是到所有時(shí)鐘域，CD1702到CD4705，中的所有掃描存儲(chǔ)單元的。
在每個(gè)捕獲周期1409期間，按下列次序施加4組捕獲時(shí)鐘脈沖第一，把兩個(gè)66MHz的捕獲脈沖施加到CK4720，以檢測或查找時(shí)鐘域CD4705中的延誤故障。第二，把兩個(gè)100MHz的捕獲脈沖施加到CK3717，以檢測或查找時(shí)鐘域CD3704中的延誤故障。第三，把兩個(gè)100MHz的捕獲脈沖施加到CK2714，以檢測或查找時(shí)鐘域CD2703中的延誤故障。第四，把兩個(gè)150MHz的捕獲脈沖施加到CK1711，以檢測或查找時(shí)鐘域CD1702中的延誤故障。
此外，如果滿足下列條件，則還同時(shí)檢測或查找可以分別從交叉時(shí)鐘域邏輯塊CCD1706到CCD3708中的線724、728和732到達(dá)的猶豫故障必須調(diào)節(jié)CK4720的第二捕獲脈沖的上升沿和CK3717的第一捕獲脈沖的上升沿之間的相對時(shí)鐘延遲1402，以致不會(huì)發(fā)生競爭或定時(shí)違規(guī)，同時(shí)通過交叉時(shí)鐘域邏輯塊CCD3708捕獲輸出響應(yīng)730。
相同的原理應(yīng)用于CK3717和CK2714之間的相對時(shí)鐘延遲1404，以及CK2714和CK1711之間的相對時(shí)鐘延遲1406，用于分別通過CCD2707和CCD1706捕獲輸出響應(yīng)726和722。
圖15示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的在圖7中給出的全掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，用于在自—測試或掃描—測試模式中用經(jīng)加長又經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列檢測或查找在每個(gè)時(shí)鐘域中的延誤故障以及交叉時(shí)鐘域的猶豫故障。定時(shí)圖1500示出在不同頻率上工作的4個(gè)捕獲時(shí)鐘，CK1711到CK4720，的波形序列。
在每個(gè)移位周期1514期間，通過捕獲時(shí)鐘，CK1711到CK4720，把一系列150MHz、100MHz、100MHz以及66MHz等不同頻率的時(shí)鐘脈沖施加到移位激勵(lì)，所述移位激勵(lì)是到所有時(shí)鐘域，CD1702到CD4705，中的所有掃描存儲(chǔ)單元的。
在每個(gè)捕獲周期1515期間，按下列次序施加7組雙捕獲脈沖第一，把兩個(gè)150MHz的捕獲脈沖施加到CK1711。第二，把兩個(gè)100MHz的捕獲脈沖施加到CK2714。第三，把兩個(gè)100MHz的捕獲脈沖施加到CK3717。第四，把兩個(gè)66MHz的捕獲脈沖施加到CK4720。第五，把兩個(gè)100MHz的捕獲脈沖施加到CK3717。第六，把兩個(gè)100MHz的捕獲脈沖施加到CK2714。第七，把兩個(gè)150MHz的捕獲脈沖施加到CK1711。
對于捕獲時(shí)鐘CK1711，使用第二脈沖和第三脈沖來激勵(lì)檢測或查找時(shí)鐘域CD1702中的延誤故障所需要的轉(zhuǎn)換。由于通過兩個(gè)接近功能的圖案產(chǎn)生轉(zhuǎn)換，所以激勵(lì)假路徑的危險(xiǎn)性較小。此外，可以通過轉(zhuǎn)換來檢測或查找時(shí)鐘域CD1702中的另外的延誤故障。還可以把相同的結(jié)果應(yīng)用于時(shí)鐘域CD2703和CD3704。
此外，如果滿足下列條件，則還同時(shí)檢測或查找可以分別從交叉時(shí)鐘域邏輯塊CCD1706到CCD3708中的線724、728和732到達(dá)的猶豫故障必須調(diào)節(jié)CK4720的第二捕獲脈沖的上升沿和CK3717的第一捕獲脈沖的上升沿之間的相對時(shí)鐘延遲1508，以致不會(huì)發(fā)生競爭或定時(shí)違規(guī)，同時(shí)通過交叉時(shí)鐘域邏輯塊CCD3708捕獲輸出響應(yīng)730。
相同的原理應(yīng)用于CK3717和CK2714之間的相對時(shí)鐘延遲1510，以及CK2714和CK1711之間的相對時(shí)鐘延遲1512，用于分別通過CCD2707和CCD1706捕獲輸出響應(yīng)726和722。
圖16示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的在圖7中給出的全掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，用于在自—測試或掃描—測試模式中用經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列檢測或查找在每個(gè)時(shí)鐘域中的2-周期延誤故障以及交叉時(shí)鐘域的猶豫故障。假定時(shí)鐘域，CD1702到CD4705，中的某些路徑需要兩個(gè)周期來使信號通過。定時(shí)圖1600示出在不同頻率上工作的4個(gè)捕獲時(shí)鐘，CK1711到CK4720，的波形序列。
在每個(gè)移位周期1608期間，通過捕獲時(shí)鐘，CK1711到CK4720，把一系列150MHz、100MHz、100MHz以及66MHz等不同頻率的時(shí)鐘脈沖施加到移位激勵(lì)，所述移位激勵(lì)是到所有時(shí)鐘域，CD1702到CD4705，中的所有掃描存儲(chǔ)單元的。
在每個(gè)捕獲周期1609期間，按下列次序施加4組捕獲時(shí)鐘脈沖第一，把兩個(gè)75MHz(150MHz的一半)的捕獲脈沖施加到CK1711，以檢測或查找時(shí)鐘域CD1702中的2-周期延誤故障。第二，把兩個(gè)50MHz(100MHz的一半)的捕獲脈沖施加到CK2714，以檢測或查找時(shí)鐘域CD2703中的2-周期延誤故障。第三，把兩個(gè)50MHz(100MHz的一半)MHz的捕獲脈沖施加到CK3717，以檢測或查找時(shí)鐘域CD3704中的2-周期延誤故障。第四，把兩個(gè)33MHz(66MHz的一半)的捕獲脈沖施加到CK4720，以檢測或查找時(shí)鐘域CD4705中的2-周期延誤故障。
此外，如果滿足下列條件，則還同時(shí)檢測或查找可以分別從交叉時(shí)鐘域邏輯塊CCD1706到CCD3708中的線721、725和729到達(dá)的猶豫故障必須調(diào)節(jié)CK1711的第二捕獲脈沖的上升沿和CK2714的第一捕獲脈沖的上升沿之間的相對時(shí)鐘延遲1602，以致不會(huì)發(fā)生競爭或定時(shí)違規(guī)，同時(shí)通過交叉時(shí)鐘域邏輯塊CCD1706捕獲輸出響應(yīng)723。
相同的原理應(yīng)用于CK2714和CK3717之間的相對時(shí)鐘延遲1604，以及CK3717和CK4720之間的相對時(shí)鐘延遲1606，用于分別通過CCD2707和CCD3708捕獲輸出響應(yīng)727和731。
圖17示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的在圖7中給出的全掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，用于在自—測試或掃描—測試模式中用經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列檢測或查找在每個(gè)時(shí)鐘域中的2-周期延誤故障以及交叉時(shí)鐘域的2-周期延誤故障。假定時(shí)鐘域，CD1702到CD4705，以及交叉時(shí)鐘域邏輯塊，CCD1706到CCD3708，中的某些路徑需要兩個(gè)周期來使信號通過。定時(shí)圖1700示出在不同頻率上工作的4個(gè)捕獲時(shí)鐘，CK1711到CK4720，的波形序列。
在每個(gè)移位周期1708期間，通過捕獲時(shí)鐘，CK1711到CK4720，把一系列150MHz、100MHz、100MHz以及66MHz等不同頻率的時(shí)鐘脈沖施加到移位激勵(lì)，所述移位激勵(lì)是到所有時(shí)鐘域，CD1702到CD4705，中的所有掃描存儲(chǔ)單元的。
在每個(gè)捕獲周期1709期間，按下列次序施加4組捕獲時(shí)鐘脈沖第一，把兩個(gè)75MHz(150MHz的一半)的捕獲脈沖施加到CK1711，以檢測或查找時(shí)鐘域CD1702中的2-周期延誤故障。第二，把兩個(gè)50MHz(100MHz的一半)的捕獲脈沖施加到CK2714，以檢測或查找時(shí)鐘域CD2703中的2-周期延誤故障。第三，把兩個(gè)50MHz(100MHz的一半)的捕獲脈沖施加到CK3717，以檢測或查找時(shí)鐘域CD3704中的2-周期延誤故障。第四，把兩個(gè)33MHz(66MHz的一半)的捕獲脈沖施加到CK4720，以檢測或查找時(shí)鐘域CD4705中的2-周期延誤故障。
此外，如果滿足下列條件，則還同時(shí)檢測或查找可以分別從交叉時(shí)鐘域邏輯塊CCD1706到CCD3708中的線721、725和729到達(dá)的2-周期延誤故障必須調(diào)節(jié)CK1711的第二捕獲脈沖的上升沿和CK2714的第一捕獲脈沖的上升沿之間的相對時(shí)鐘延遲1702，使之符合從721到723的路徑的2-周期定時(shí)要求。相似地，必須調(diào)節(jié)CK2714和CK3717之間的相對時(shí)鐘延遲1704以及CK3717和CK4720之間的相對時(shí)鐘延遲1706，使之分別符合從725到727的路徑以及從729到731的路徑的2-周期定時(shí)要求。
圖18示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的在圖7中給出的向前饋送部分掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，用于在自—測試或掃描—測試模式中用經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列檢測或查找在每個(gè)時(shí)鐘域中的猶豫故障以及交叉時(shí)鐘域的猶豫故障。假定時(shí)鐘域，CD1702到CD4705，中包括形成不大于2的序列深度的許多未掃描的存儲(chǔ)器存儲(chǔ)單元。定時(shí)圖1800示出在不同頻率上工作的4個(gè)捕獲時(shí)鐘，CK1711到CK4720，的波形序列。
在每個(gè)移位周期1812期間，通過捕獲時(shí)鐘，CK1711到CK4720，把一系列150MHz、100MHz、100MHz以及66MHz等不同頻率的時(shí)鐘脈沖施加到移位激勵(lì)，所述移位激勵(lì)是到所有時(shí)鐘域，CD1702到CD4705，中的所有掃描存儲(chǔ)單元的。
在每個(gè)捕獲周期1813期間，按下列次序施加4組捕獲時(shí)鐘脈沖第一，把三個(gè)150MHz的捕獲脈沖(兩個(gè)是功能脈沖，一個(gè)是捕獲脈沖)施加到CK1711，以檢測或查找時(shí)鐘域CD1702中的猶豫故障。第二，把三個(gè)100MHz的捕獲脈沖(兩個(gè)是功能脈沖，一個(gè)是捕獲脈沖)施加到CK2714，以檢測或查找時(shí)鐘域CD2703中的猶豫故障。第三，把三個(gè)100MHz的捕獲脈沖(兩個(gè)是功能脈沖，一個(gè)是捕獲脈沖)施加到CK3717，以檢測或查找時(shí)鐘域CD3704中的猶豫故障。第四，把三個(gè)66MHz的捕獲脈沖(兩個(gè)是功能脈沖，一個(gè)是捕獲脈沖)施加到CK4717，以檢測或查找時(shí)鐘域CD4705中的猶豫故障。
此外，如果滿足下列條件，則還同時(shí)檢測或查找可以分別從交叉時(shí)鐘域邏輯塊CCD1706到CCD3708中的線721、725和729到達(dá)的猶豫故障必須調(diào)節(jié)CK1711的第二捕獲脈沖的上升沿和CK2714的第一捕獲脈沖的上升沿之間的相對時(shí)鐘延遲1803，以致不會(huì)發(fā)生競爭或定時(shí)違規(guī)，同時(shí)通過交叉時(shí)鐘域邏輯塊CCD1706捕獲輸出響應(yīng)723。
相同的原理應(yīng)用于CK2714和CK3717之間的相對時(shí)鐘延遲1806，以及CK3717和CK4720之間的相對時(shí)鐘延遲1809，用于分別通過CCD2707和CCD3708捕獲輸出響應(yīng)727和731。
圖19示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的在圖7中給出的向前饋送部分掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，用于在自—測試或掃描—測試模式中用經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列檢測或查找在每個(gè)時(shí)鐘域中的延誤故障以及交叉時(shí)鐘域的猶豫故障。假定時(shí)鐘域，CD1702到CD4705，中包括形成不大于2的序列深度的許多未掃描的存儲(chǔ)器存儲(chǔ)單元。定時(shí)圖1900示出在不同頻率上工作的4個(gè)捕獲時(shí)鐘，CK1711到CK4720，的波形序列。
在每個(gè)移位周期1916期間，通過捕獲時(shí)鐘，CK1711到CK4720，把一系列150MHz、100MHz、100MHz以及66MHz等不同頻率的時(shí)鐘脈沖施加到移位激勵(lì)，所述移位激勵(lì)是到所有時(shí)鐘域，CD1702到CD4705，中的所有掃描存儲(chǔ)單元的。
在每個(gè)捕獲周期1917期間，按下列次序施加4組捕獲時(shí)鐘脈沖第一，把四個(gè)150MHz的脈沖(兩個(gè)是功能脈沖，兩個(gè)是捕獲脈沖)施加到CK1711，以檢測或查找時(shí)鐘域CD1702中的延誤故障。第二，把四個(gè)100MHz的脈沖(兩個(gè)是功能脈沖，兩個(gè)是捕獲脈沖)施加到CK2714，以檢測或查找時(shí)鐘域CD2703中的延誤故障。第三，把四個(gè)100MHz的脈沖(兩個(gè)是功能脈沖，兩個(gè)是捕獲脈沖)施加到CK3717，以檢測或查找時(shí)鐘域CD3704中的延誤故障。第四，把四個(gè)66MHz的脈沖(兩個(gè)是功能脈沖，兩個(gè)是捕獲脈沖)施加到CK4720，以檢測或查找時(shí)鐘域CD4705中的延誤故障。
此外，如果滿足下列條件，則還同時(shí)檢測或查找可以分別從交叉時(shí)鐘域邏輯塊CCD1706到CCD3708中的線721、725和729到達(dá)的猶豫故障必須調(diào)節(jié)CK1711的第二捕獲脈沖的上升沿和CK2714的第一捕獲脈沖的上升沿之間的相對時(shí)鐘延遲1904，以致不會(huì)發(fā)生競爭或定時(shí)違規(guī)，同時(shí)通過交叉時(shí)鐘域邏輯塊CCD1706捕獲輸出響應(yīng)723。
相同的原理應(yīng)用于CK2714和CK3717之間的相對時(shí)鐘延遲1908，以及CK3717和CK4720之間的相對時(shí)鐘延遲1912，用于分別通過CCD2707和CCD3708捕獲輸出響應(yīng)727和731。
圖20示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的在圖7中給出的向前饋送部分掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，用于在自—測試或掃描—測試模式中用經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列檢測或查找在每個(gè)時(shí)鐘域中的2-周期延誤故障以及交叉時(shí)鐘域的猶豫故障。假定時(shí)鐘域，CD1702到CD4705，中包括形成不大于2的序列深度的許多未掃描的存儲(chǔ)器存儲(chǔ)單元。還假定時(shí)鐘域，CD1702到CD4705，中的某些路徑需要兩個(gè)周期來使信號通過。定時(shí)圖2000示出在不同頻率上工作的4個(gè)捕獲時(shí)鐘，CK1711到CK4720，的波形序列。
在每個(gè)移位周期2016期間，通過捕獲時(shí)鐘，CK1711到CK4720，把一系列150MHz、100MHz、100MHz以及66MHz等不同頻率的時(shí)鐘脈沖施加到移位激勵(lì)，所述移位激勵(lì)是到所有時(shí)鐘域，CD1702到CD4705，中的所有掃描存儲(chǔ)單元的。
在每個(gè)捕獲周期2017期間，按下列次序施加4組捕獲時(shí)鐘脈沖第一，把四個(gè)脈沖(兩個(gè)是150MHz的功能脈沖，兩個(gè)是75MHz(150MHz的一半)的捕獲脈沖)施加到CK1711，以檢測或查找時(shí)鐘域CD1702中的2-周期延誤故障。第二，把四個(gè)的脈沖(兩個(gè)是100MHz的功能脈沖，兩個(gè)是50MHz(100MHz的一半)的捕獲脈沖)施加到CK2714，以檢測或查找時(shí)鐘域CD2703中的2-周期延誤故障。第三，把四個(gè)脈沖(兩個(gè)是100MHz的功能脈沖，兩個(gè)是50MHz(100MHz的一半)的捕獲脈沖)施加到CK3717，以檢測或查找時(shí)鐘域CD3704中的2-周期延誤故障。第四，把四個(gè)脈沖(兩個(gè)是66MHz的功能脈沖，兩個(gè)是33MHz(66MHz的一半)的捕獲脈沖)施加到CK4720，以檢測或查找時(shí)鐘域CD4705中的2-周期延誤故障。
此外，如果滿足下列條件，則還同時(shí)檢測或查找可以分別從交叉時(shí)鐘域邏輯塊CCD1706到CCD3708中的線721、725和729到達(dá)的猶豫故障必須調(diào)節(jié)CK1711的第二捕獲脈沖的上升沿和CK2714的第一捕獲脈沖的上升沿之間的相對時(shí)鐘延遲2004，以致不會(huì)發(fā)生競爭或定時(shí)違規(guī)，同時(shí)通過交叉時(shí)鐘域邏輯塊CCD1706捕獲輸出響應(yīng)723。
相同的原理應(yīng)用于CK2714和CK3717之間的相對時(shí)鐘延遲2008，以及CK3717和CK4720之間的相對時(shí)鐘延遲2012，用于分別通過CCD2707和CCD3708捕獲輸出響應(yīng)727和731。
圖21示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的在圖7中給出的全掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，其中，選擇在捕獲周期期間的捕獲時(shí)鐘CK2在自—測試或掃描—測試模式中診斷CK2捕獲的故障。
故障診斷是一種查找故障的過程。為了達(dá)到這個(gè)目的，經(jīng)常需要使用一種方法，在所述方法中，測試圖案只檢測部分故障，并且保證沒有其它故障檢測到。如果測試圖案沒有產(chǎn)生與觀察到的響應(yīng)相匹配的響應(yīng)，則它可以宣布該部分必定包括至少一個(gè)實(shí)際故障。然后以相同于部分故障的方法進(jìn)一步查找實(shí)際故障。
定時(shí)圖2100示出促進(jìn)這種方法的一種方式。在捕獲周期2107中，只把兩個(gè)100MHz的捕獲脈沖施加到捕獲時(shí)鐘CK2714，同時(shí)使其它三個(gè)捕獲時(shí)鐘保持無效。結(jié)果，對于延誤故障，只有在時(shí)鐘域CD2703中的那些可檢測到。此外，對于猶豫故障，只有在交叉時(shí)鐘域邏輯塊CCD1706和CCD2707中的那些可檢測到。顯然，這種時(shí)鐘定時(shí)有助于故障診斷。
圖22示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的在圖7中給出的全掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，其中，選擇在捕獲周期期間的捕獲時(shí)鐘CK1和CK3在自—測試或掃描—測試模式中診斷CK1和CK3捕獲的故障。
定時(shí)圖2200示出有助于如在圖21的說明中所述的故障診斷的又一個(gè)定時(shí)方案。在捕獲周期2208中，把兩個(gè)150MHz的捕獲脈沖施加到捕獲時(shí)鐘CK1711，以及把兩個(gè)100MHz的捕獲脈沖施加到捕獲時(shí)鐘CK3717，同時(shí)使其它兩個(gè)捕獲時(shí)鐘保持無效。結(jié)果，對于延誤故障，只有在時(shí)鐘域CD1702和CD3704中的那些可檢測到。此外，對于猶豫故障，只有在交叉時(shí)鐘域邏輯塊CCD1706到CCD3708中的以及時(shí)鐘域CD1702和CD3703中的那些可檢測到。顯然，這種時(shí)鐘定時(shí)有助于故障診斷。
圖23示出根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的在圖1中給出的全掃描設(shè)計(jì)的定時(shí)圖，其中，在移位周期期間使所有捕獲時(shí)鐘都偏移，以降低功率消耗。定時(shí)圖2300只示出移位周期期間捕獲時(shí)鐘CK1111到CK4120的波形。對于捕獲周期，可以施加在本專利中要求的任何捕獲定時(shí)控制方法。
在移位周期2305期間，通過正確地設(shè)置時(shí)鐘CK1111和CK2114的移位脈沖之間的延遲2301、時(shí)鐘CK2114和CK3117的移位脈沖之間的延遲2302、時(shí)鐘CK3117和CK4120的移位脈沖之間的延遲2303、時(shí)鐘CK4120和CK1111的移位脈沖之間的延遲2304而使時(shí)鐘CK1111到CK4120偏移。結(jié)果，使峰值功率消耗和平均功率消耗兩者降低。此外，在圖2中的共享的PRPG-MISR對228中，在捕獲周期期間，時(shí)鐘CK2114，第一到達(dá)捕獲時(shí)鐘，驅(qū)動(dòng)PRPG212，而時(shí)鐘CK3117，最后到達(dá)捕獲時(shí)鐘，驅(qū)動(dòng)MISR221。因此，當(dāng)對于自—測試模式中的多個(gè)時(shí)鐘域使用共享的PRPG-MISR對時(shí)，經(jīng)排序的捕獲序列保證正確的捕獲操作。
圖24示出本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的流程圖。多捕獲自—測試計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)(CAD)系統(tǒng)2400接受用戶提供的HDL代碼或網(wǎng)表2402以及自—測試控制文件2401和所選擇的造型程序庫2403。自—測試控制文件2401包括編譯2404、自—測試規(guī)則檢查2406、自—測試規(guī)則修復(fù)2507以及多捕獲自—測試合成2408所需要的所有設(shè)置信息和腳本。結(jié)果，產(chǎn)生一個(gè)等效的組合電路模型2409。然后，可以執(zhí)行組合故障仿真2410。最終，使用后—處理2411來產(chǎn)生最后的自—測試HDL代碼或網(wǎng)表2412以及HDL測試基準(zhǔn)和自動(dòng)測試設(shè)備程序2413。把所有報(bào)告和誤差存儲(chǔ)在報(bào)告文件2414中。
多捕獲自—測試合成2408使用分層的方法，在所述方法中，對于每個(gè)獨(dú)立的時(shí)鐘域或組合的時(shí)鐘域，它合成多個(gè)PRPG-MISR對，一次一個(gè)，然后合成包括誤差指示器的中央自—測試控制器，最終，使中央自—測試控制器與合成的PRPG-MISR對接合。每個(gè)PRPG-MISR對包括PRPG、任選的移相器、任選的空間壓縮器、MISR以及比較器。此外，在PRPG-MISR合成期間，可以把許多備用掃描存儲(chǔ)單元插入所選擇的時(shí)鐘域。結(jié)果，中央自—測試控制器可以保持完整無缺，即使當(dāng)以后階段對于電路修改的需要增長時(shí)。
圖25示出本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的流程圖。多捕獲掃描計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)(CAD)系統(tǒng)2500接受用戶提供的HDL代碼或網(wǎng)表2502以及掃描控制文件2501和所選擇的造型程序庫2503。掃描控制文件2501包括編譯2504、掃描規(guī)則檢查2506、掃描規(guī)則修復(fù)2507以及多捕獲掃描合成2508所需要的所有設(shè)置信息和腳本。結(jié)果，產(chǎn)生一個(gè)等效的組合電路模型2509。然后，可以執(zhí)行組合ATPG(自動(dòng)測試圖案產(chǎn)生)2510。最終，使用后—處理2511來產(chǎn)生最后的掃描HDL網(wǎng)表2512以及HDL測試基準(zhǔn)和自動(dòng)測試設(shè)備程序2513。把所有報(bào)告和誤差存儲(chǔ)在報(bào)告文件2514中。
因此，已經(jīng)描述了本發(fā)明的當(dāng)前較佳實(shí)施例，現(xiàn)在可以理解，已經(jīng)充分達(dá)到本發(fā)明的目標(biāo)。熟悉本領(lǐng)域技術(shù)的人員會(huì)理解，將建議結(jié)構(gòu)和電路中的許多改變以及本發(fā)明的充分不同的實(shí)施例和應(yīng)用都不偏離本發(fā)明的精神和范圍。打算把這里的揭示和說明作為示例，而不存在任何限制本發(fā)明的意思，由這里所附的權(quán)利要求書以及它們的等效物更佳地定義本發(fā)明的范圍。
權(quán)利要求
1.一種方法，用于提供經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘，以在自—測試模式中，在集成電路或電路組件中檢測或查找N個(gè)時(shí)鐘域中的故障和交叉任何兩個(gè)時(shí)鐘域的故障，其中，N＞1，并且每個(gè)域具有多個(gè)掃描存儲(chǔ)單元，所述方法包括下列步驟(a)在移位操作期間，在所述集成電路或電路組件中產(chǎn)生N個(gè)偽隨機(jī)激勵(lì)，并裝載到在所述N個(gè)時(shí)鐘域中的所有所述掃描存儲(chǔ)單元；(b)在捕獲操作期間，把經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列施加到所述N個(gè)時(shí)鐘域中的所有所述掃描存儲(chǔ)單元；(c)在壓縮操作期間，把所有所述掃描存儲(chǔ)單元的N個(gè)輸出響應(yīng)壓縮成簽名；以及(d)重復(fù)步驟(a)-(c)，直到到達(dá)預(yù)定的限制標(biāo)準(zhǔn)，其中，(a)和(c)實(shí)質(zhì)上同時(shí)發(fā)生。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，每個(gè)所述捕獲時(shí)鐘是可編程的，以包括一個(gè)或多個(gè)時(shí)鐘脈沖，用于在一個(gè)所述時(shí)鐘域中的所有所述掃描存儲(chǔ)單元上執(zhí)行所述移位/壓縮和捕獲操作；其中，所述捕獲時(shí)鐘單獨(dú)地控制所述時(shí)鐘域；所述捕獲時(shí)鐘可以在內(nèi)部產(chǎn)生或受到外部的控制，而且可以以它的額定時(shí)鐘速度(高速)操作或以所選擇的時(shí)鐘速度操作。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，進(jìn)一步包括提供每個(gè)在一個(gè)所述時(shí)鐘域中的N個(gè)掃描使能(SE)信號；其中，使用所述掃描使能(SE)信號使操作從移位/壓縮切換到捕獲，反之亦然；進(jìn)一步，所述掃描使能(SE)信號可以在內(nèi)部產(chǎn)生或受外部控制，而且可以在額定時(shí)鐘速度(高速)操作或以所選擇的時(shí)鐘速度操作。
4.如權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述提供N個(gè)掃描使能(SE)信號進(jìn)一步包括使用一個(gè)全局掃描使能(GSE)信號來驅(qū)動(dòng)所述N個(gè)掃描使能(SE)信號；其中，在所選擇的降低時(shí)鐘速度上操作所述全局掃描使能(GSE)信號。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述產(chǎn)生和裝載N個(gè)偽隨機(jī)激勵(lì)進(jìn)一步包括在所選擇的時(shí)鐘速度上或在相同的時(shí)鐘速度上操作所有捕獲時(shí)鐘，當(dāng)在相同的時(shí)鐘速度上操作時(shí)，使所有所述捕獲時(shí)鐘偏移，以致在任何給定時(shí)刻只使在一個(gè)所述時(shí)鐘域中的掃描存儲(chǔ)單元改變狀態(tài)以降低功率消耗。
6.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，進(jìn)一步包括在到達(dá)所述預(yù)定限制標(biāo)準(zhǔn)之后，為了誤差指示而對所述簽名與它們的預(yù)期簽名進(jìn)行比較的步驟；其中對所述簽名與它們預(yù)期的簽名進(jìn)行比較的所述步驟進(jìn)一步包括在集成電路或電路組件內(nèi)比較所述簽名，或移位輸出所述簽名，用于在自動(dòng)測試設(shè)備中進(jìn)行比較。
7.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述產(chǎn)生和裝載N個(gè)偽隨機(jī)激勵(lì)進(jìn)一步包括使用多個(gè)偽隨機(jī)圖案發(fā)生器(PRPG)和移相器。
8.如權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，每個(gè)所述偽隨機(jī)圖案發(fā)生器(PRPG)進(jìn)一步包括使用一個(gè)有限狀態(tài)機(jī)自動(dòng)地產(chǎn)生許多測試圖案；其中，通過移相器把所述測試圖案施加到多個(gè)時(shí)鐘域。
9.如權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，每個(gè)所述移相器進(jìn)一步包括使用組合的邏輯網(wǎng)絡(luò)對所述測試圖案進(jìn)行去壓縮成為所述偽隨機(jī)激勵(lì)。
10.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述施加經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列進(jìn)一步包括在沒有任何邏輯塊相互交叉的多個(gè)時(shí)鐘域上同時(shí)執(zhí)行所述捕獲操作。
11.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述施加經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列進(jìn)一步包括按所選擇的次序施加所述捕獲時(shí)鐘，用于檢測或查找在所述集成電路或電路組件中的另外的故障。
12.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述施加經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列進(jìn)一步包括選擇地施加比所述經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列較長或較短的另一個(gè)經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列，用于檢測或查找在所述集成電路或電路組件中的另外的故障。
13.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述施加經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列進(jìn)一步包括禁止一個(gè)或多個(gè)捕獲時(shí)鐘以促進(jìn)故障診斷。
14.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述施加經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列進(jìn)一步包括按所選擇的時(shí)鐘速度選擇地操作所述捕獲時(shí)鐘，用于檢測或查找在所述捕獲時(shí)鐘控制的時(shí)鐘域中的猶豫故障。
15.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述施加經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列進(jìn)一步包括按捕獲時(shí)鐘的額定時(shí)鐘速度選擇地操作所述捕獲時(shí)鐘，用于檢測或查找在所述捕獲時(shí)鐘控制的時(shí)鐘域中的延誤故障。
16.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述施加經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列進(jìn)一步包括使所述捕獲時(shí)鐘速度降低到一個(gè)程度，以致在預(yù)定的額定時(shí)鐘速度上測試到延誤故障，所述延誤故障是與在時(shí)鐘域的相等周期等待的所有多周期路徑相關(guān)聯(lián)的。
17.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述施加經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列進(jìn)一步包括按所選擇的時(shí)鐘速度選擇地操作兩個(gè)所述捕獲時(shí)鐘，用于檢測或查找交叉兩個(gè)所述時(shí)鐘域的猶豫故障。
18.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述施加經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列進(jìn)一步包括選擇地調(diào)節(jié)按所選擇時(shí)鐘速度操作的兩個(gè)所述捕獲時(shí)鐘的相對時(shí)鐘延遲，用于檢測或查找交叉兩個(gè)所述時(shí)鐘域的猶豫故障。
19.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述施加經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列進(jìn)一步包括選擇地調(diào)節(jié)兩個(gè)所述捕獲時(shí)鐘的相對時(shí)鐘延遲到一個(gè)程度，以致在預(yù)定的額定時(shí)鐘速度上測試到延誤故障，所述延誤故障是與交叉兩個(gè)所述時(shí)鐘域的相等周期等待的所有多周期路徑相關(guān)聯(lián)的。
20.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述施加經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列進(jìn)一步包括在所述集成電路或電路組件內(nèi)部或外部控制任何兩個(gè)相鄰捕獲時(shí)鐘之間的相對時(shí)鐘延遲。
21.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述壓縮N個(gè)輸出響應(yīng)進(jìn)一步包括使用多個(gè)空間壓縮器和多輸入簽名寄存器(MISR)。
22.如權(quán)利要求21所述的方法，其特征在于，每個(gè)所述空間壓縮器進(jìn)一步包括使用組合的邏輯網(wǎng)絡(luò)來壓縮所述輸出響應(yīng)成為經(jīng)壓縮的輸出響應(yīng)。
23.如權(quán)利要求21所述的方法，其特征在于，每個(gè)所述多輸入簽名寄存器(MISR)進(jìn)一步包括使用一個(gè)有限狀態(tài)機(jī)來壓縮所述經(jīng)壓縮的輸出響應(yīng)成為簽名；所述MISR通過空間壓縮器壓縮所述輸出響應(yīng)成為所述簽名。
24.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，進(jìn)一步包括當(dāng)所述多個(gè)時(shí)鐘域的所有捕獲時(shí)鐘在相同的鐘速度上操作時(shí)，使用PRPG-MISR對來測試在多個(gè)時(shí)鐘域中的故障；使所有的所述捕獲時(shí)鐘偏移，以致在每個(gè)移位、捕獲或壓縮操作期間，消除競爭和定時(shí)違規(guī)。
25.如權(quán)利要求24所述的方法，其特征在于，所述PRPG-MISR對進(jìn)一步包括PRPG、任選的移相器、任選的空間壓縮器、MISR以及比較器。
26.如權(quán)利要求25所述的方法，其特征在于，所述PRPG-MISR對進(jìn)一包括在所述多個(gè)時(shí)鐘域中把所述PRPG連接到第一—到達(dá)捕獲時(shí)鐘以及把所述MISR連接到最后—到達(dá)捕獲時(shí)鐘。
27.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述壓縮N個(gè)輸出響應(yīng)進(jìn)一步包括選擇地直接對所述N個(gè)輸出響應(yīng)和它們的預(yù)期輸出響應(yīng)進(jìn)行比較，并使用比較操作立即指示誤差。
28.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述掃描存儲(chǔ)單元是多路復(fù)用的D觸發(fā)器或電平敏感的鎖存器，進(jìn)一步，其中在測試的所述集成電路或電路組件是全掃描或部分掃描設(shè)計(jì)。
29.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述故障進(jìn)一步包括猶豫故障和延誤故障；其中，所述猶豫故障進(jìn)一步包括其它猶豫故障，諸如開路和短路故障，其中，所述延誤故障進(jìn)一步包括其它非猶豫類型的延誤故障，諸如過渡(門延遲)、多周期延誤以及路徑延誤故障。
30.一種設(shè)備，用于提供經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘，以在自—測試模式中，在集成電路或電路組件中檢測或查找N個(gè)時(shí)鐘域中的故障和交叉任何兩個(gè)時(shí)鐘域的故障，其中，N＞1，并且每個(gè)域具有多個(gè)掃描存儲(chǔ)單元，所述設(shè)備包括(a)一種裝置，用于在移位操作期間，在所述集成電路或電路組件中產(chǎn)生N個(gè)偽隨機(jī)激勵(lì)，并裝載到在所述N個(gè)時(shí)鐘域中的所有所述掃描存儲(chǔ)單元；(b)一種裝置，用于在捕獲操作期間，把經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列施加到所述N個(gè)時(shí)鐘域中的所有所述掃描存儲(chǔ)單元；(c)一種裝置，用于在壓縮操作期間，把所有所述掃描存儲(chǔ)單元的N個(gè)輸出響應(yīng)壓縮成簽名；以及(d)一種裝置，用于重復(fù)步驟(a)-(c)，直到到達(dá)預(yù)定的限制標(biāo)準(zhǔn)，其中，(a)和(c)實(shí)質(zhì)上同時(shí)發(fā)生。
31.如權(quán)利要求30所述的設(shè)備，其特征在于，把所述(a)-(d)的所述裝置放置在所述集成電路或電路組件的內(nèi)部或外部。
32.一種方法，用于提供經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘，以在自—測試模式中，在集成電路或電路組件中檢測或查找N個(gè)時(shí)鐘域中的故障和交叉任何兩個(gè)時(shí)鐘域的故障，其中，N＞1，并且每個(gè)域具有多個(gè)掃描存儲(chǔ)單元，所述方法包括下列步驟(a)在移位輸入操作期間，把N個(gè)偽隨機(jī)激勵(lì)移位輸入到在所述集成電路或電路組件中的所述N個(gè)時(shí)鐘域中的所有所述掃描存儲(chǔ)單元；(b)在捕獲操作期間，把經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列施加到所述N個(gè)時(shí)鐘域中的所有所述掃描存儲(chǔ)單元；以及(c)在移位輸出操作期間，移位輸出所有所述掃描存儲(chǔ)單元的N個(gè)輸出響應(yīng)，用于進(jìn)行分析。
33.如權(quán)利要求32所述的方法，其特征在于，進(jìn)一步包括提供每個(gè)在一個(gè)所述時(shí)鐘域中的N個(gè)掃描使能(SE)信號；其中，使用所述掃描使能(SE)信號使操作從移位/壓縮切換到捕獲，反之亦然；進(jìn)一步，所述掃描使能(SE)信號可以在內(nèi)部產(chǎn)生或受外部控制，而且可以在額定時(shí)鐘速度(高速)操作或以所選擇的時(shí)鐘速度操作。
34.如權(quán)利要求33所述的方法，其特征在于，所述提供N個(gè)掃描使能(SE)信號進(jìn)一步包括使用一個(gè)全局掃描使能(GSE)信號來驅(qū)動(dòng)所述N個(gè)掃描使能(SE)信號；其中，在所選擇的降低時(shí)鐘速度上操作所述全局掃描使能(GSE)信號。
35.如權(quán)利要求32所述的方法，其特征在于，所述施加經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列進(jìn)一步包括用于產(chǎn)生經(jīng)排序的捕獲序列的任何裝置；其中，所述經(jīng)排序的捕獲序列不包括所述捕獲操作期間的任何移位時(shí)鐘脈沖。
36.一種計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)(CAD)系統(tǒng)，用于提供經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘，以在自—測試模式中，在集成電路或電路組件中檢測或查找N個(gè)時(shí)鐘域中的故障和交叉任何兩個(gè)時(shí)鐘域的故障，其中，N＞1，并且每個(gè)域具有多個(gè)掃描存儲(chǔ)單元，所述CAD系統(tǒng)包括計(jì)算機(jī)執(zhí)行的下列步驟(a)把以物理形式表示的所述集成電路或電路組件的HDL代碼或網(wǎng)表編譯到一個(gè)設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)庫；(b)執(zhí)行自—測試規(guī)則檢查，用于檢查所述設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)庫是否包括任何多捕獲自—測試規(guī)則的違規(guī)；(c)執(zhí)行自—測試規(guī)則修復(fù)，直到已經(jīng)確定所有所述多捕獲自—測試規(guī)則的違規(guī)；(d)執(zhí)行多捕獲自—測試合成，用于產(chǎn)生自—測試HDL代碼或網(wǎng)表；以及(e)產(chǎn)生HDL測試基準(zhǔn)以及自動(dòng)測試設(shè)備測試程序，用于驗(yàn)證所述自—測試HDL代碼或網(wǎng)表的正確性。
37.如權(quán)利要求36所述的CAD系統(tǒng)，其特征在于，所述步驟(a)-(e)接受用戶提供的自—測試控制信息，并報(bào)告結(jié)果和誤差，如果有的話。
38.如權(quán)利要求36所述的CAD系統(tǒng)，其特征在于，所述執(zhí)行自—測試規(guī)則檢查進(jìn)一步包括確自—測試所需要的定時(shí)鐘域以及捕獲時(shí)鐘的數(shù)目，同時(shí)待測時(shí)鐘域、待施加于自—測試的經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列以及在額定時(shí)鐘速度或所選擇的時(shí)鐘速度上待操作的捕獲時(shí)鐘。
39.如權(quán)利要求36所述的CAD系統(tǒng)，其特征在于，所述執(zhí)行多捕獲自—測試合成進(jìn)一步包括分層的計(jì)算機(jī)執(zhí)行步驟(a)對于每個(gè)獨(dú)立的時(shí)鐘域或組合的時(shí)鐘域，合成多個(gè)PRPG-MISR對，一次一個(gè)，其中，每個(gè)所述PRPG-MISR對進(jìn)一步包括PRPG、任選的移相器、任選的空間壓縮器、MISR以及比較器；以及(b)與所述PRPG-MISR對一起合成中央自—測試控制器。
40.如權(quán)利要求39所述的CAD系統(tǒng)，其特征在于，所述一個(gè)域一個(gè)域地合成多個(gè)PRPG-MISR對進(jìn)一步包括把備用掃描存儲(chǔ)單元插入所選擇的時(shí)鐘域。
41.如權(quán)利要求36所述的CAD系統(tǒng)，其特征在于，所述執(zhí)行多捕獲自—測試合成使用權(quán)利要求1的所述方法實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求30的所述設(shè)備。
42.如權(quán)利要求36所述的CAD系統(tǒng)，其特征在于，所述產(chǎn)生HDL測試基準(zhǔn)和自動(dòng)測試設(shè)備測試程序進(jìn)一步包括下列步驟根據(jù)所述經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列把所述設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)庫轉(zhuǎn)換成等效的組合電路模型，以及執(zhí)行組合的故障仿真，以計(jì)算電路的輸出響應(yīng)、簽名和故障覆蓋。
43.一種方法，用于提供經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘，以在掃描—測試模式中，在集成電路或電路組件中檢測或查找N個(gè)時(shí)鐘域中的故障和交叉任何兩個(gè)時(shí)鐘域的故障，其中，N＞1，并且每個(gè)域具有多個(gè)掃描存儲(chǔ)單元，所述方法包括下列步驟(a)在移位操作期間，在所述集成電路或電路組件中產(chǎn)生N個(gè)預(yù)定激勵(lì)，并裝載到在所述N個(gè)時(shí)鐘域中的所有所述掃描存儲(chǔ)單元；(b)把經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列施加到所述N個(gè)時(shí)鐘域中的所有所述掃描存儲(chǔ)單元，其中，在捕獲操作期間，一個(gè)或多個(gè)捕獲時(shí)鐘必須包括兩個(gè)或多個(gè)時(shí)鐘脈沖；(c)在比較操作期間，對于在所述N個(gè)時(shí)鐘域中的所有所述掃描存儲(chǔ)單元，將N個(gè)輸出響應(yīng)與它們的預(yù)期輸出響應(yīng)直接進(jìn)行比較，并立即指示誤差；以及(d)重復(fù)步驟(a)-(c)，直到到達(dá)預(yù)定的限制標(biāo)準(zhǔn)，其中，(a)和(c)實(shí)質(zhì)上同時(shí)發(fā)生。
44.如權(quán)利要求43所述的方法，其特征在于，每個(gè)所述捕獲時(shí)鐘是可編程的，以包括一個(gè)或多個(gè)時(shí)鐘脈沖，用于在一個(gè)所述時(shí)鐘域中的所有所述掃描存儲(chǔ)單元上執(zhí)行所述移位/比較和捕獲操作；其中，所述捕獲時(shí)鐘單獨(dú)地控制所述時(shí)鐘域；所述捕獲時(shí)鐘可以在內(nèi)部產(chǎn)生或受到外部的控制，而且可以以它的額定時(shí)鐘速度(高速)操作或以所選擇的時(shí)鐘速度操作。
45.如權(quán)利要求43所述的方法，其特征在于，進(jìn)一步包括提供每個(gè)在一個(gè)所述時(shí)鐘域中的N個(gè)掃描使能(SE)信號；其中，使用所述掃描使能(SE)信號使操作從移位/壓縮切換到捕獲，反之亦然；進(jìn)一步，所述掃描使能(SE)信號可以在內(nèi)部產(chǎn)生或受外部控制，而且可以在額定時(shí)鐘速度(高速)操作或以所選擇的時(shí)鐘速度操作。
46.如權(quán)利要求45所述的方法，其特征在于，所述提供N個(gè)掃描使能(SE)信號進(jìn)一步包括使用一個(gè)全局掃描使能(GSE)信號來驅(qū)動(dòng)所述N個(gè)掃描使能(SE)信號；其中，在所選擇的降低時(shí)鐘速度上操作所述全局掃描使能(GSE)信號。
47.如權(quán)利要求43所述的方法，其特征在于，所述產(chǎn)生和裝載N個(gè)預(yù)定激勵(lì)進(jìn)一步包括在所選擇的時(shí)鐘速度上或在相同的時(shí)鐘速度上操作所有捕獲時(shí)鐘，當(dāng)在相同的時(shí)鐘速度上操作時(shí)，使所有所述捕獲時(shí)鐘偏移，以致在任何給定時(shí)刻只使在一個(gè)所述時(shí)鐘域中的掃描存儲(chǔ)單元改變狀態(tài)以降低功率消耗。
48.如權(quán)利要求43所述的方法，其特征在于，所述施加經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列進(jìn)一步包括在沒有任何邏輯塊相互交叉的多個(gè)時(shí)鐘域上同時(shí)執(zhí)行所述捕獲操作。
49.如權(quán)利要求43所述的方法，其特征在于，所述施加經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列進(jìn)一步包括按所選擇的次序施加所述捕獲時(shí)鐘，用于檢測或查找在所述集成電路或電路組件中的另外的故障。
50.如權(quán)利要求43所述的方法，其特征在于，所述施加經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列進(jìn)一步包括選擇地施加比所述經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列較長或較短的另一個(gè)經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列，用于檢測或查找在所述集成電路或電路組件中的另外的故障。
51.如權(quán)利要求43所述的方法，其特征在于，所述施加經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列進(jìn)一步包括禁止一個(gè)或多個(gè)捕獲時(shí)鐘以促進(jìn)故障診斷。
52.如權(quán)利要求43所述的方法，其特征在于，所述施加經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列進(jìn)一步包括按所選擇的時(shí)鐘速度選擇地操作所述捕獲時(shí)鐘，用于檢測或查找在所述捕獲時(shí)鐘控制的時(shí)鐘域中的猶豫故障。
53.如權(quán)利要求43所述的方法，其特征在于，所述施加經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列進(jìn)一步包括按捕獲時(shí)鐘的額定時(shí)鐘速度選擇地操作所述捕獲時(shí)鐘，用于檢測或查找在所述捕獲時(shí)鐘控制的時(shí)鐘域中的延誤故障。
54.如權(quán)利要求43所述的方法，其特征在于，所述施加經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列進(jìn)一步包括使所述捕獲時(shí)鐘速度降低到一個(gè)程度，以致在預(yù)定的額定時(shí)鐘速度上測試到延誤故障，所述延誤故障是與在時(shí)鐘域的相等周期等待的所有多周期路徑相關(guān)聯(lián)的。
55.如權(quán)利要求43所述的方法，其特征在于，所述施加經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列進(jìn)一步包括按所選擇的時(shí)鐘速度選擇地操作兩個(gè)所述捕獲時(shí)鐘，用于檢測或查找交叉兩個(gè)所述時(shí)鐘域的猶豫故障。
56.如權(quán)利要求43所述的方法，其特征在于，所述施加經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列進(jìn)一步包括選擇地調(diào)節(jié)按所選擇時(shí)鐘速度操作的兩個(gè)所述捕獲時(shí)鐘的相對時(shí)鐘延遲，用于檢測或查找交叉兩個(gè)所述時(shí)鐘域的延誤故障。
57.如權(quán)利要求43所述的方法，其特征在于，所述施加經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列進(jìn)一步包括選擇地調(diào)節(jié)兩個(gè)所述捕獲時(shí)鐘的相對時(shí)鐘延遲到一個(gè)程度，以致在預(yù)定的額定時(shí)鐘速度上測試到延誤故障，所述延誤故障是與交叉兩個(gè)所述時(shí)鐘域的相等周期等待的所有多周期路徑相關(guān)聯(lián)的。
58.如權(quán)利要求43所述的方法，其特征在于，所述施加經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列進(jìn)一步包括在所述集成電路或電路組件內(nèi)部或外部控制任何兩個(gè)相鄰捕獲時(shí)鐘之間的相對時(shí)鐘延遲。
59.如權(quán)利要求43所述的方法，其特征在于，所述對N個(gè)輸出響應(yīng)直接與它們的預(yù)期輸出響應(yīng)進(jìn)行比較進(jìn)一步包括使用壓縮操作選擇地壓縮所述N個(gè)輸出響應(yīng)成為簽名。
60.如權(quán)利要求59所述的方法，其特征在于，所述壓縮N個(gè)輸出響應(yīng)成為簽名進(jìn)一步包括在到達(dá)所述預(yù)定限制標(biāo)準(zhǔn)之后，對所述簽名與它們的預(yù)期簽名進(jìn)行比較；其中，對所述簽名與它們的預(yù)期簽名進(jìn)行的所述比較進(jìn)一步包括在所述集成電路內(nèi)部比較所述簽名，或移位輸出所述簽名用于在自動(dòng)測試設(shè)備中進(jìn)行比較。
61.如權(quán)利要求43所述的方法，其特征在于，所述掃描存儲(chǔ)單元是多路復(fù)用的D觸發(fā)器或電平敏感的鎖存器，進(jìn)一步，其中在測試的所述集成電路或電路組件是全掃描或部分掃描設(shè)計(jì)。
62.如權(quán)利要求43所述的方法，其特征在于，所述故障進(jìn)一步包括猶豫故障和延誤故障；其中，所述猶豫故障進(jìn)一步包括其它猶豫故障，諸如開路和短路故障，其中，所述延誤故障進(jìn)一步包括其它非猶豫類型的延誤故障，諸如過渡(門延遲)、多周期延誤以及路徑延誤故障。
63.一種設(shè)備，用于提供經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘，以在掃描—測試模式中，在集成電路或電路組件中檢測或查找N個(gè)時(shí)鐘域中的故障和交叉任何兩個(gè)時(shí)鐘域的故障，其中，N＞1，并且每個(gè)域具有多個(gè)掃描存儲(chǔ)單元，所述設(shè)備包括(a)一種裝置，用于在移位操作期間，在所述集成電路或電路組件中產(chǎn)生N個(gè)預(yù)定激勵(lì)，并裝載到在所述N個(gè)時(shí)鐘域中的所有所述掃描存儲(chǔ)單元；(b)一種裝置，用于在捕獲操作期間，把經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列施加到所述N個(gè)時(shí)鐘域中的所有所述掃描存儲(chǔ)單元，其中一個(gè)或多個(gè)捕獲時(shí)鐘必須包括兩個(gè)或多個(gè)時(shí)鐘脈沖；(c)一種裝置，用于在比較操作期間，把所述N個(gè)時(shí)鐘域中的所有所述掃描存儲(chǔ)單元的N個(gè)輸出響應(yīng)直接與它們的預(yù)期輸出響應(yīng)進(jìn)行比較，并立即指示誤差；以及(d)一種裝置，用于重復(fù)步驟(a)-(c)，直到到達(dá)預(yù)定的限制標(biāo)準(zhǔn)，其中，(a)和(c)實(shí)質(zhì)上同時(shí)發(fā)生。
64.如權(quán)利要求63所述的設(shè)備，其特征在于，把所述(a)-(d)的所述裝置放置在所述集成電路或電路組件的內(nèi)部或外部。
65.一種方法，用于提供經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘，以在掃描—測試模式中，在集成電路或電路組件中檢測或查找N個(gè)時(shí)鐘域中的故障和交叉任何兩個(gè)時(shí)鐘域的故障，其中，N＞1，并且每個(gè)域具有多個(gè)掃描存儲(chǔ)單元，所述方法包括下列步驟(a)在移位輸入操作期間，把N個(gè)預(yù)定激勵(lì)移位輸入到在所述集成電路或電路組件中的所述N個(gè)時(shí)鐘域中的所有所述掃描存儲(chǔ)單元；(b)在捕獲操作期間，把經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列施加到所述N個(gè)時(shí)鐘域中的所有所述掃描存儲(chǔ)單元，其中一個(gè)或多個(gè)捕獲時(shí)鐘必須包括兩個(gè)或多個(gè)時(shí)鐘脈沖；以及(c)在移位輸出操作期間，移位輸出所有所述掃描存儲(chǔ)單元的N個(gè)輸出響應(yīng)，用于進(jìn)行分析。
66.如權(quán)利要求65所述的方法，其特征在于，進(jìn)一步包括提供每個(gè)在一個(gè)所述時(shí)鐘域中的N個(gè)掃描使能(SE)信號；其中，使用所述掃描使能(SE)信號使操作從移位/壓縮切換到捕獲，反之亦然；進(jìn)一步，所述掃描使能(SE)信號可以在內(nèi)部產(chǎn)生或受外部控制，而且可以在額定時(shí)鐘速度(高速)操作或以所選擇的時(shí)鐘速度操作。
67.如權(quán)利要求66所述的方法，其特征在于，所述提供N個(gè)掃描使能(SE)信號進(jìn)一步包括使用一個(gè)全局掃描使能(GSE)信號來驅(qū)動(dòng)所述N個(gè)掃描使能(SE)信號；其中，在所選擇的降低時(shí)鐘速度上操作所述全局掃描使能(GSE)信號。
68.如權(quán)利要求65所述的方法，其特征在于，所述施加經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列進(jìn)一步包括用于產(chǎn)生經(jīng)排序的捕獲序列的任何裝置；其中，所述經(jīng)排序的捕獲序列不包括所述捕獲操作期間的任何移位時(shí)鐘脈沖。
69.一種計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)(CAD)系統(tǒng)，用于提供經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘，以在掃描—測試模式中，在集成電路或電路組件中檢測或查找N個(gè)時(shí)鐘域中的故障和交叉任何兩個(gè)時(shí)鐘域的故障，其中，N＞1，并且每個(gè)域具有多個(gè)掃描存儲(chǔ)單元，所述CAD系統(tǒng)包括計(jì)算機(jī)執(zhí)行的下列步驟(a)把以物理形式表示的所述集成電路或電路組件的HDL代碼或網(wǎng)表編譯到一個(gè)設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)庫；(b)執(zhí)行掃描規(guī)則檢查，用于檢查所述設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)庫是否包括任何多捕獲掃描規(guī)則的違規(guī)；(c)執(zhí)行掃描規(guī)則修復(fù)，直到已經(jīng)確定所有所述多捕獲掃描規(guī)則的違規(guī)；(d)執(zhí)行多捕獲掃描合成，用于產(chǎn)生掃描HDL網(wǎng)表；以及(e)產(chǎn)生HDL測試基準(zhǔn)以及自動(dòng)測試設(shè)備測試程序，其中一個(gè)或多個(gè)捕獲時(shí)鐘必須包括兩個(gè)或多個(gè)時(shí)鐘脈沖，用于驗(yàn)證所述掃描HDL網(wǎng)表的正確性。
70.如權(quán)利要求69所述的CAD系統(tǒng)，其特征在于，所述步驟(a)-(e)接受用戶提供的掃描控制信息，并報(bào)告結(jié)果和誤差，如果有的話。
71.如權(quán)利要求69所述的CAD系統(tǒng)，其特征在于，所述執(zhí)行掃描規(guī)則檢查進(jìn)一步包括確定掃描—測試所需要的時(shí)鐘域和捕獲時(shí)鐘的數(shù)目，同時(shí)待測時(shí)鐘域、待施加于掃描—測試的經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列以及在額定時(shí)鐘速度或所選擇的時(shí)鐘速度上待操作的捕獲時(shí)鐘。
72.如權(quán)利要求69所述的CAD系統(tǒng)，其特征在于，所述執(zhí)行多捕獲掃描合成進(jìn)一步包括把備用掃描存儲(chǔ)單元插入所選擇的時(shí)鐘域。
73.如權(quán)利要求69所述的CAD系統(tǒng)，其特征在于，所述執(zhí)行多捕獲自—測試合成使用權(quán)利要求43的所述方法實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求63的所述設(shè)備。
74.如權(quán)利要求69所述的CAD系統(tǒng)，其特征在于，所述產(chǎn)生HDL測試基準(zhǔn)和自動(dòng)測試設(shè)備測試程序進(jìn)一步包括下列步驟根據(jù)所述經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列把所述設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)庫轉(zhuǎn)換成等效的組合電路模型，以及執(zhí)行組合的ATPG(自動(dòng)測試圖案產(chǎn)生)，以產(chǎn)生電路的測試圖案以及報(bào)告它的故障覆蓋。
75.如權(quán)利要求69所述的CAD系統(tǒng)，其特征在于，所述產(chǎn)生HDL測試基準(zhǔn)和自動(dòng)測試設(shè)備測試程序進(jìn)一步包括當(dāng)使用壓縮操作來壓縮所述電路的輸出響應(yīng)時(shí)，執(zhí)行在所述組合的電路模型上的組合的邏輯仿真，以計(jì)算所述電路的簽名。
全文摘要
一種方法和設(shè)備，用于提供經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘(111，114，117，120)，以在自－測試或掃描－測試模式中在集成電路或電路組件(133)中檢測或查找在N個(gè)時(shí)鐘域(CD1，CD2，CD3，CD4)中的故障以及交叉任何兩個(gè)時(shí)鐘域(CCD1，CCD2，CCD3，CCD4)的故障，其中N＞1，以及每個(gè)域具有多個(gè)掃描存儲(chǔ)單元(SC)。所述方法和設(shè)備允許在位移操作期間產(chǎn)生N個(gè)偽隨機(jī)或預(yù)定激勵(lì)(109)，并裝載到集成電路或電路組件中的N個(gè)時(shí)鐘域中的所有掃描存儲(chǔ)單元，在捕獲操作期間把經(jīng)排序的捕獲時(shí)鐘序列(CK1，CK2，CK3，CK4)施加到N個(gè)時(shí)鐘域中的所有掃描存儲(chǔ)單元，在壓縮/比較操作期間，壓縮或比較所有掃描存儲(chǔ)單元的N個(gè)輸出響應(yīng)(110)，用于進(jìn)行分析，以及重復(fù)上述過程，直到到達(dá)預(yù)定的限制標(biāo)準(zhǔn)。進(jìn)一步開發(fā)一種計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)(CAD)系統(tǒng)，以實(shí)現(xiàn)方法和合成設(shè)備。
文檔編號H01L21/82GK1623098SQ02804826
公開日2005年6月1日 申請日期2002年2月13日 優(yōu)先權(quán)日2001年2月15日
發(fā)明者王榮騰, 許博清, 高士嘉, 林孟祺, 王信博, 趙浩然, 溫曉青 申請人:美國華騰科技股份有限公司