專利名稱:使集成電路可承受高壓靜電放電的氧化銦錫走線方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明是關(guān)于一種使集成電路(IC)可承受高伏特靜電壓放電的氧化銦錫(ITO)走線方法。
背景技術(shù):
按,在這個資訊爆炸的時代里,如何讓各種訊息以最簡便的方式,在最短的時間里,傳達(dá)至消費者身上,相信是消費者所重視的,諸如股市行情或隨時隨地得到最新的消費訊息等皆是,而在行動電話使用率幾乎達(dá)到人手一機的狀況下,行動電話-這個擁有顯示幕的電子機具,即為各工商界運用的最佳媒介;但,凡熟悉此項技術(shù)者均知,行動電話的顯示幕之所以可以顯示各項訊息,主要是一個與其顯示幕連結(jié)的IC配合以氧化銦錫(ITO)走線構(gòu)成的電路及相關(guān)微電元件所連結(jié)構(gòu)成。
而常用ITO電路因?qū)щ娦约?,又利于加工于玻璃板上,故?yīng)用于行動電話時,固利于工商業(yè)界由行動電話傳輸大量復(fù)雜訊息。但卻因液晶顯示模塊(LCD Module)內(nèi)氧化錮錫(ITO)走線常用的設(shè)計,使液晶顯示模塊(LCD Module),在晶粒黏著于玻璃(COG type)時,對高伏特靜電壓放電仍有大幅改善的必要,因液晶顯示模塊(LCD Module)無法承受高伏特靜電壓放電導(dǎo)致行動電話顯示幕動作異常的缺弊。而在玻璃上加電容或杭靜電元件雖是解決方式之一,但是除可應(yīng)用空間有限(相對易造成玻璃破損)外,制程不易及成本高亦是其缺失。如何提高液晶顯示模塊(LCDModule)組裝于客戶端產(chǎn)品時,能提高靜電放電(Electro Static Dischargr,ESD)防護(hù)功能,及針對電子零件的特性,設(shè)計出讓液晶顯示驅(qū)動IC(LCDDriverIC)可抵抗高伏特靜電壓的電路,即相關(guān)業(yè)界開發(fā)的首要。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種使IC可承受高伏特靜電壓放電的ITO走線方法,其主要步驟包括液晶顯示模塊,在晶粒黏著于玻璃上的驅(qū)動積體電路的黏著處與模塊介面處,針對各模塊介面輸出腳位的功能與用途設(shè)計出適合的線阻抗與布線方式;以提高液晶顯示模塊組裝于客戶端產(chǎn)品時,能提高靜電放電防護(hù)功能。
所述的方法,其中將該IC底部所有VDD或VSS接腳全部連接在一起,連接VSS或VDD后的ITO走線寬度要在不影響其他接腳走線下布滿IC底部,讓進(jìn)入模塊介面處的靜電,可由大面積的ITO涂布設(shè)計,讓靜電放電有效疏導(dǎo)消散,提高IC對靜電放電的防護(hù)能力。
所述的方法,其中串接一極高阻抗值(3K-50KΩ)于重置指令控制接腳中。
所述的方法,其中提高資料總線的氧化銦錫線阻抗值(100-1000Ω);例如CS1.D/C,WR,RD,D0-D7,C86。
請參閱以下有關(guān)本發(fā)明一較佳實施例的詳細(xì)說明及其附圖,將可進(jìn)一步了解本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容及其目的功效;有關(guān)該實施例的附圖為圖1為本發(fā)明液晶顯示模塊中驅(qū)動IC處的ITO走線示意圖圖2為傳統(tǒng)方式ITO走線示意圖,其為一規(guī)則性的INTERFACEPIN寬度;以及圖3為本發(fā)明ITO走線示意圖,針對各INTERFACEPIN的功能與用途而設(shè)計不同的氧化銦錫線阻抗值與走線方式。
具體實施例方式
請參閱圖3,本發(fā)明所提供的一種使IC可承受高伏特靜電壓放電的ITO走線方法,其主要步驟包括1、液晶顯示模塊,在晶粒黏著于玻璃上的驅(qū)動積體電路的黏著處與模塊介面處,針對各模塊介面輸出的腳位的功能與用途設(shè)計出適合的線阻抗與布線方式;以提高液晶顯示模塊組裝于客戶端產(chǎn)品時,能提高靜電放電防護(hù)功能;其中2、將該IC底部所有VDD或VSS接腳全部連接在一起,連接VSS或VDD后的ITO走線寬度要在不影響其他接腳走線下布滿IC底部。讓進(jìn)入模塊介面處的靜電放電,可由大面積的ITO涂布設(shè)計,讓靜電有效疏導(dǎo)消散,提高IC對靜電放電的防護(hù)能力。
3、串接一極高阻抗值(3K-50KΩ)于重置指令控制接腳中。
4、提高資料總線的ITO線阻抗值(100-1000Ω)。例如CS1.D/C,WR,RD,D0-D7,C86等。
圖中各代表符號的電壓及功能如下表所示
本發(fā)明所提供的一種使IC可承受高伏特靜電壓放電的ITO走線方法,與其他常用技術(shù)相互比較時,本發(fā)明由ITO走線以特殊面積分布函數(shù)涂布于IC底部,并且配合特殊輸出腳位的阻值設(shè)計,讓進(jìn)入IC的靜電放電,可由特殊的氧化銦錫(ITO)涂布設(shè)計,讓靜電有效疏導(dǎo)消散或阻隔部份靜電于模塊介面處;提高IC對靜電放電的防護(hù)能力,完全不增加額外的電容或抗靜電元件有效使成本降低。并提高液晶顯示模塊組裝于客戶端產(chǎn)品時,能提高靜電放電防護(hù)功能。
上列詳細(xì)說明是針對本發(fā)明的一可行實施例的具體說明,但該實施例并非用以限制本發(fā)明的專利范圍,凡未脫離本發(fā)明技術(shù)精神所為的等效實施或變更,均應(yīng)包含于本發(fā)明的專利范圍中。
權(quán)利要求
1.一種使集成電路可承受高壓靜電放電的氧化銦錫走線方法,其主要步驟包括液晶顯示模塊,在晶粒黏著于玻璃上的驅(qū)動積體電路的黏著處與模塊介面處,針對各模塊介面輸出腳位的功能與用途設(shè)計出適合的線阻抗與布線方式;以提高液晶顯示模塊組裝于客戶端產(chǎn)品時,能提高靜電放電防護(hù)功能。
2.按權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,其中將該IC底部所有VDD或VSS接腳全部連接在一起,連接VSS或VDD后的ITO走線寬度要在不影響其他接腳走線下布滿IC底部,讓進(jìn)入模塊介面處的靜電,可由大面積的ITO涂布設(shè)計,讓靜電放電有效疏導(dǎo)消散,提高IC對靜電放電的防護(hù)能力。
3.按權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,其中串接一極高阻抗值(3K-50KΩ)于重置指令控制接腳中。
4.按權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,其中提高資料總線的氧化銦錫線阻抗值(100-1000Ω);為CS1.D/C,WR,RD,D0-D7,C86。
全文摘要
本發(fā)明所提供的一種使集成電路(IC)可承受高壓靜電放電的氧化銦錫走線方法,其主要步驟包括液晶顯示模塊,在晶粒粘著于玻璃上的驅(qū)動集成電路的粘著處與模塊介面處,針對各模塊介面輸出腳位的功能與用途設(shè)計出適合的線阻抗與布線方式;以提高液晶顯示模塊組裝于客戶端產(chǎn)品時,能提高靜電放電防護(hù)功能;其中將該IC底部所有VDD或VSS接腳全部連接在一起,連接VSS或VDD后的ITO走線寬度要在不影響其他接腳走線下布滿IC底部。讓進(jìn)入模塊介面處的靜電放電有效疏導(dǎo)消散,可提高IC對靜電放電的防護(hù)能力。串接一極高阻抗值(3K-50KΩ)于重置指令控制接腳中。提高資料總線的ITO線阻抗值(100-1000Ω)。
文檔編號H01L23/58GK1501495SQ02150519
公開日2004年6月2日 申請日期2002年11月12日 優(yōu)先權(quán)日2002年11月12日
發(fā)明者王星發(fā) 申請人:勝華科技股份有限公司