基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法和系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)在線檢測(cè)方法和系統(tǒng)，其中，基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法，包括以下步驟：在被測(cè)器件處于動(dòng)態(tài)測(cè)試中時(shí)，在預(yù)設(shè)的讀取頻率下對(duì)被測(cè)器件中的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)進(jìn)行讀取，得到當(dāng)前數(shù)據(jù)；在當(dāng)前數(shù)據(jù)與鏡像器件中相同單元地址處的備份更改數(shù)據(jù)不同且當(dāng)前數(shù)據(jù)與對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)相同時(shí)，確定單粒子效應(yīng)為外圍電路引起的錯(cuò)誤。本發(fā)明簡(jiǎn)便、易實(shí)現(xiàn)、對(duì)比性和通用性強(qiáng)，克服了傳統(tǒng)單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法在動(dòng)態(tài)測(cè)試中無(wú)法區(qū)分存儲(chǔ)區(qū)翻轉(zhuǎn)和外圍電路引起的錯(cuò)誤的問(wèn)題，對(duì)于存儲(chǔ)類對(duì)象，可實(shí)現(xiàn)復(fù)雜存儲(chǔ)圖形的單粒子效應(yīng)敏感性檢測(cè)。
【專利說(shuō)明】
基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法和系統(tǒng)
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及集成電路輻射效應(yīng)測(cè)試領(lǐng)域，特別是涉及一種基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法和系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]空間飛行器運(yùn)行于惡劣的天然輻射環(huán)境中，銀河宇宙射線、太陽(yáng)宇宙射線和地磁場(chǎng)俘獲帶中的高能質(zhì)子、α粒子和重離子在空間電子學(xué)系統(tǒng)中產(chǎn)生的單粒子效應(yīng)(SingleEvent Effects，SEE)嚴(yán)重威脅航天器的安全運(yùn)行。據(jù)美國(guó)國(guó)家地球物理數(shù)據(jù)中心統(tǒng)計(jì)，自1971年至1986年間，美國(guó)發(fā)射的39顆同步衛(wèi)星中由各種原因造成的故障總數(shù)共1589次，其中由單粒子翻轉(zhuǎn)(Single Event Upset，SEU)引起的故障達(dá)621次，占故障總數(shù)的39%。中國(guó)空間科學(xué)技術(shù)研究院統(tǒng)計(jì)了我國(guó)6顆同步衛(wèi)星中的故障原因，空間輻射環(huán)境引起的故障在總故障中的比例達(dá)到了40%。美國(guó)國(guó)家航空航天局(Nat1nal Aeronautics and SpaceAdministrat1n，NASA)馬歇爾太空飛行中心(Marshall Space Flight Center，MSFC)將一百多次空間環(huán)境引起的衛(wèi)星異常分為七大類，分別為等離子體、輻射、空間碎片和流星體、大氣、太陽(yáng)、熱和地磁場(chǎng)。2011年，法國(guó)國(guó)家空間研究中心使用NASA MSFC的分類方法，并按照物理起因，將太陽(yáng)引起的異常劃分入等離子體、輻射或地磁范疇，各類別所占比例如圖1所示。由圖1可見，輻射效應(yīng)是引起飛行器工作異常的主要原因，所占比例達(dá)到45%。圖2進(jìn)一步將輻射效應(yīng)分類，給出各種輻射效應(yīng)引起空間飛行器異常所占的比例。由圖2可見，相比于總劑量效應(yīng)和太陽(yáng)電池板退化，單粒子效應(yīng)是最主要的異常起因，所占比例達(dá)到86%，圖2中單粒子翻轉(zhuǎn)包括單粒子瞬態(tài)脈沖(Single Event Transient，SET)的貢獻(xiàn)。單粒子效應(yīng)日益成為制約現(xiàn)代先進(jìn)電子元器件航天應(yīng)用的瓶頸問(wèn)題。
[0003]除此之外，大氣中子在航電系統(tǒng)、地面基站、超算等設(shè)備中引起的單粒子效應(yīng)越來(lái)越受到行業(yè)的關(guān)注，對(duì)設(shè)備的安全可靠運(yùn)行造成威脅。核電站、核爆等環(huán)境中的輻射粒子也會(huì)導(dǎo)致電子設(shè)備發(fā)生單粒子效應(yīng)。
[0004]可見，單粒子效應(yīng)是輻射環(huán)境下電子元器件面臨的主要可靠性問(wèn)題之一，應(yīng)用前必須對(duì)其單粒子效應(yīng)敏感性進(jìn)行評(píng)價(jià)和針對(duì)性加固。單粒子效應(yīng)檢測(cè)技術(shù)是評(píng)價(jià)電子元器件單粒子效應(yīng)敏感性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)之一，而電子元器件門類多、功能復(fù)雜，加上單粒子效應(yīng)的特殊性(如偶發(fā)性、類型多、表征難、效應(yīng)與器件種類相關(guān)等)，單粒子效應(yīng)檢測(cè)技術(shù)一直是行業(yè)關(guān)注的研究熱點(diǎn)。尤其隨著微電子器件工藝尺寸的持續(xù)減小、集成度的持續(xù)增高、器件功能的不斷增多等，超大規(guī)模集成電路的單粒子效應(yīng)檢測(cè)成為行業(yè)難點(diǎn)。
[0005]在實(shí)現(xiàn)過(guò)程中，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)傳統(tǒng)技術(shù)中至少存在如下問(wèn)題:目前，行業(yè)常用的單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法多數(shù)基于單個(gè)被測(cè)器件，將輻照下的輸出信號(hào)與基準(zhǔn)信號(hào)相對(duì)比而實(shí)現(xiàn)判另IJ。上述傳統(tǒng)方法需要特殊性設(shè)計(jì)，通用性和可擴(kuò)展性差，并且傳統(tǒng)檢測(cè)方法在動(dòng)態(tài)測(cè)試中無(wú)法區(qū)分存儲(chǔ)區(qū)翻轉(zhuǎn)和外圍電路引起的錯(cuò)誤。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]基于此，有必要針對(duì)傳統(tǒng)單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法在動(dòng)態(tài)測(cè)試中無(wú)法區(qū)分存儲(chǔ)區(qū)翻轉(zhuǎn)和外圍電路引起的錯(cuò)誤的問(wèn)題，提供一種基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)在線檢測(cè)方法和系統(tǒng)。
[0007]為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明技術(shù)方案的實(shí)施例為:
[0008]一方面，提供了一種基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法，包括以下步驟:
[0009]在被測(cè)器件處于動(dòng)態(tài)測(cè)試中時(shí)，在預(yù)設(shè)的讀取頻率下對(duì)被測(cè)器件中的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)進(jìn)行讀取，得到當(dāng)前數(shù)據(jù);其中，被測(cè)器件為存儲(chǔ)類器件，存儲(chǔ)類器件包括存儲(chǔ)器和內(nèi)嵌式存儲(chǔ)單元;存儲(chǔ)數(shù)據(jù)為被測(cè)器件根據(jù)寫入的指定測(cè)試圖形形成的初始數(shù)據(jù);指定測(cè)試圖形為根據(jù)測(cè)試要求設(shè)置的包含數(shù)據(jù)信息的圖形；
[0010]在當(dāng)前數(shù)據(jù)與鏡像器件中相同單元地址處的備份更改數(shù)據(jù)不同且當(dāng)前數(shù)據(jù)與對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)相同時(shí)，確定單粒子效應(yīng)為外圍電路引起的錯(cuò)誤;其中，鏡像器件為與被測(cè)器件相對(duì)應(yīng)的寫入了指定測(cè)試圖形的器件;備份更改數(shù)據(jù)為在上一個(gè)當(dāng)前數(shù)據(jù)與備份數(shù)據(jù)不同時(shí)，根據(jù)上一個(gè)當(dāng)前數(shù)據(jù)對(duì)備份數(shù)據(jù)進(jìn)行更改，得到的與上一個(gè)當(dāng)前數(shù)據(jù)相同的數(shù)據(jù);備份數(shù)據(jù)為鏡像器件根據(jù)寫入的指定測(cè)試圖形形成的初始數(shù)據(jù)。
[0011]另一方面，提供了一種基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)系統(tǒng)，包括:
[0012]讀取數(shù)據(jù)模塊，用于在被測(cè)器件處于動(dòng)態(tài)測(cè)試中時(shí)，在預(yù)設(shè)的讀取頻率下對(duì)被測(cè)器件中的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)進(jìn)行讀取，得到當(dāng)前數(shù)據(jù);其中，被測(cè)器件為存儲(chǔ)類器件，存儲(chǔ)類器件包括存儲(chǔ)器和內(nèi)嵌式存儲(chǔ)單元;存儲(chǔ)數(shù)據(jù)為被測(cè)器件根據(jù)寫入的指定測(cè)試圖形形成的初始數(shù)據(jù);指定測(cè)試圖形為根據(jù)測(cè)試要求設(shè)置的包含數(shù)據(jù)信息的圖形；
[0013]第一確定模塊，用于在當(dāng)前數(shù)據(jù)與鏡像器件中相同單元地址處的備份更改數(shù)據(jù)不同且當(dāng)前數(shù)據(jù)與對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)相同時(shí)，確定單粒子效應(yīng)為外圍電路引起的錯(cuò)誤;其中，鏡像器件為與被測(cè)器件相對(duì)應(yīng)的寫入了指定測(cè)試圖形的器件;備份更改數(shù)據(jù)為在上一個(gè)當(dāng)前數(shù)據(jù)與備份數(shù)據(jù)不同時(shí)，根據(jù)上一個(gè)當(dāng)前數(shù)據(jù)對(duì)備份數(shù)據(jù)進(jìn)行更改，得到的與上一個(gè)當(dāng)前數(shù)據(jù)相同的數(shù)據(jù);備份數(shù)據(jù)為鏡像器件根據(jù)寫入的指定測(cè)試圖形形成的初始數(shù)據(jù)。
[0014]上述技術(shù)方案具有如下有益效果:
[0015]本發(fā)明的基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法和系統(tǒng)，對(duì)于存儲(chǔ)類對(duì)象，結(jié)合使用動(dòng)態(tài)測(cè)試和出錯(cuò)時(shí)修改鏡像器件備份數(shù)據(jù)的方案，可實(shí)現(xiàn)區(qū)分存儲(chǔ)區(qū)翻轉(zhuǎn)和外圍電路引起的錯(cuò)誤的目的，此外通過(guò)對(duì)比被測(cè)器件和鏡像器件的狀態(tài)、輸出結(jié)果等，還可實(shí)現(xiàn)單粒子效應(yīng)的判別。本發(fā)明簡(jiǎn)便、易實(shí)現(xiàn)、對(duì)比性和通用性強(qiáng)，克服了傳統(tǒng)單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法在動(dòng)態(tài)測(cè)試中無(wú)法區(qū)分存儲(chǔ)區(qū)翻轉(zhuǎn)和外圍電路引起的錯(cuò)誤的問(wèn)題，對(duì)于存儲(chǔ)類對(duì)象，可實(shí)現(xiàn)復(fù)雜存儲(chǔ)圖形的單粒子效應(yīng)敏感性檢測(cè)。
【附圖說(shuō)明】
[0016]圖1為空間環(huán)境引起的飛行器異常占比示意圖；
[0017]圖2為輻射效應(yīng)引起的飛行器異常占比示意圖；
[0018]圖3為本發(fā)明基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法實(shí)施例1的流程示意圖；
[0019]圖4為本發(fā)明基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法實(shí)施例1中鏡像器件的示意圖；
[0020]圖5為本發(fā)明基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法一具體實(shí)施例中動(dòng)態(tài)測(cè)試的流程不意圖；
[0021]圖6為本發(fā)明基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法一具體實(shí)施例中靜態(tài)測(cè)試的流程不意圖；
[0022]圖7為本發(fā)明基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法一具體實(shí)施例中功能類器件測(cè)試的流程示意圖；
[0023]圖8為本發(fā)明基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)系統(tǒng)實(shí)施例1的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0024]為了便于理解本發(fā)明，下面將參照相關(guān)附圖對(duì)本發(fā)明進(jìn)行更全面的描述。附圖中給出了本發(fā)明的首選實(shí)施例。但是，本發(fā)明可以以許多不同的形式來(lái)實(shí)現(xiàn)，并不限于本文所描述的實(shí)施例。相反地，提供這些實(shí)施例的目的是使對(duì)本發(fā)明的公開內(nèi)容更加透徹全面。
[0025]除非另有定義，本文所使用的所有的技術(shù)和科學(xué)術(shù)語(yǔ)與屬于本發(fā)明的技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員通常理解的含義相同。本文中在本發(fā)明的說(shuō)明書中所使用的術(shù)語(yǔ)只是為了描述具體的實(shí)施例的目的，不是旨在于限制本發(fā)明。本文所使用的術(shù)語(yǔ)“及/或”包括一個(gè)或多個(gè)相關(guān)的所列項(xiàng)目的任意的和所有的組合。
[0026]為了詳細(xì)闡述本發(fā)明的技術(shù)方案，特對(duì)本發(fā)明中出現(xiàn)的縮略語(yǔ)和關(guān)鍵術(shù)語(yǔ)進(jìn)行定義:
[0027]單粒子效應(yīng)(Single Event Effects，SEE):指具有一定能量的單個(gè)粒子(包括重離子、質(zhì)子、α粒子、中子等)在半導(dǎo)體器件中產(chǎn)生的效應(yīng)，包括單粒子翻轉(zhuǎn)、多位翻轉(zhuǎn)、單粒子鎖定、單粒子硬錯(cuò)誤、單粒子功能中斷、單粒子燒毀、單粒子?xùn)糯瘟Ｗ铀矐B(tài)脈沖等。
[0028]單粒子翻轉(zhuǎn)(Single Event Upset，SEU):指單粒子福射引起電路邏輯狀態(tài)發(fā)生變化，即邏輯“I”變成邏輯“O”，或邏輯“O”變成邏輯“I”，造成電路邏輯功能混亂。
[0029]單粒子功能中斷(Single Event Funct1n Interrupt，SEFI):通常發(fā)生在復(fù)雜集成電路中，如FPGA、DSP、Flash、SDRAM等，指單個(gè)粒子引起的集成電路某些功能丟失，需要重新配置或斷電重啟才能恢復(fù)。
[0030]單粒子鎖定(Single Event Latchup，SEL):體娃CMOS器件中，源極P+、N講和P講形成寄生PNP晶體管，源極N+、P阱和N阱形成寄生NPN晶體管，兩者構(gòu)成可控硅結(jié)構(gòu)。高能粒子入射可以觸發(fā)可控硅導(dǎo)通，進(jìn)入大電流再生狀態(tài)，產(chǎn)生單粒子鎖定。單粒子鎖定會(huì)導(dǎo)致器件工作電流增大，如果不及時(shí)切斷供電，甚至可能導(dǎo)致器件的永久損壞。
[0031]靜態(tài)測(cè)試:一種單粒子效應(yīng)測(cè)試模式。指粒子輻照時(shí)，被測(cè)器件處于加電預(yù)設(shè)狀態(tài)，但測(cè)試系統(tǒng)不對(duì)被測(cè)器件進(jìn)行操作。輻照結(jié)束后，讀回錯(cuò)誤信息。
[0032]動(dòng)態(tài)測(cè)試:一種單粒子效應(yīng)測(cè)試模式。指粒子輻照時(shí)，測(cè)試系統(tǒng)對(duì)被測(cè)器件循環(huán)動(dòng)態(tài)測(cè)試，實(shí)時(shí)檢測(cè)錯(cuò)誤信息。
[0033]本發(fā)明基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法實(shí)施例1:
[0034]為了解決傳統(tǒng)單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法在動(dòng)態(tài)測(cè)試中無(wú)法區(qū)分存儲(chǔ)區(qū)翻轉(zhuǎn)和外圍電路引起的錯(cuò)誤的問(wèn)題，本發(fā)明提供了一種基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法實(shí)施例1，圖3為本發(fā)明基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法實(shí)施例1的流程示意圖；如圖3所示，可以包括以下步驟:
[0035]步驟S310:在被測(cè)器件處于動(dòng)態(tài)測(cè)試中時(shí)，在預(yù)設(shè)的讀取頻率下對(duì)被測(cè)器件中的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)進(jìn)行讀取，得到當(dāng)前數(shù)據(jù);其中，被測(cè)器件為存儲(chǔ)類器件，存儲(chǔ)類器件包括存儲(chǔ)器和內(nèi)嵌式存儲(chǔ)單元;存儲(chǔ)數(shù)據(jù)為被測(cè)器件根據(jù)寫入的指定測(cè)試圖形形成的初始數(shù)據(jù);指定測(cè)試圖形為根據(jù)測(cè)試要求設(shè)置的包含數(shù)據(jù)信息的圖形；
[0036]步驟S320:在當(dāng)前數(shù)據(jù)與鏡像器件中相同單元地址處的備份更改數(shù)據(jù)不同且當(dāng)前數(shù)據(jù)與對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)相同時(shí)，確定單粒子效應(yīng)為外圍電路引起的錯(cuò)誤;其中，鏡像器件為與被測(cè)器件相對(duì)應(yīng)的寫入了指定測(cè)試圖形的器件;備份更改數(shù)據(jù)為在上一個(gè)當(dāng)前數(shù)據(jù)與備份數(shù)據(jù)不同時(shí)，根據(jù)上一個(gè)當(dāng)前數(shù)據(jù)對(duì)備份數(shù)據(jù)進(jìn)行更改，得到的與上一個(gè)當(dāng)前數(shù)據(jù)相同的數(shù)據(jù);備份數(shù)據(jù)為鏡像器件根據(jù)寫入的指定測(cè)試圖形形成的初始數(shù)據(jù)。
[0037]具體而言，根據(jù)被測(cè)器件的特點(diǎn)，可以將被測(cè)器件的單粒子效應(yīng)測(cè)試分為兩類:存儲(chǔ)類對(duì)象的測(cè)試和功能類對(duì)象的測(cè)試；其中，存儲(chǔ)類對(duì)象主要包括:I)存儲(chǔ)器，例如SRAM(Static Random Access Memory:靜態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器)、SDRAM(Synchronous DynamicRandom Access Memory:同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器)等;2)內(nèi)嵌存儲(chǔ)單元，例如緩存、片上存儲(chǔ)資源等。此外，鏡像器件的類型可與被測(cè)器件不同，一般可以使用讀寫速度快、可隨機(jī)讀取的SRAM作為鏡像器件。
[0038]在一個(gè)具體的實(shí)施例中，在步驟S310之前還可以包括步驟:
[0039]將指定測(cè)試圖形按照單元地址寫入被測(cè)器件中，得到包含存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的被測(cè)器件；
[0040]將指定測(cè)試圖形按照單元地址對(duì)應(yīng)的寫入鏡像器件中，得到包含備份數(shù)據(jù)的鏡像器件；
[0041]對(duì)包含存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的被測(cè)器件進(jìn)行輻照測(cè)試;輻照測(cè)試為靜態(tài)測(cè)試或動(dòng)態(tài)測(cè)試。
[0042]具體而言，本發(fā)明中的制定測(cè)試圖形可以為根據(jù)測(cè)試要求設(shè)置的包含數(shù)據(jù)信息的圖形;在一個(gè)具體的實(shí)施例中，指定測(cè)試圖形可以根據(jù)測(cè)試要求設(shè)置為全“I”、全“O”或棋盤格等，具體可以如圖4所示，圖4為本發(fā)明基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法實(shí)施例1中鏡像器件的示意圖。此外，對(duì)于本發(fā)明中的備份數(shù)據(jù)可以指鏡像器件中的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)，即指定測(cè)試圖形;對(duì)于被測(cè)器件中的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)而言，在被測(cè)器件未受輻照前即是指定測(cè)試圖形，但在輻照過(guò)程中，存儲(chǔ)數(shù)據(jù)可能發(fā)生改變，因此通過(guò)對(duì)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)進(jìn)行讀取獲得的當(dāng)前數(shù)據(jù)，可能出現(xiàn)與存儲(chǔ)數(shù)據(jù)不相同的情況(即出現(xiàn)了單粒子效應(yīng))。在輻照測(cè)試過(guò)程中，應(yīng)該將被測(cè)器件暴露在輻射粒子下;而鏡像器件應(yīng)遠(yuǎn)離輻射粒子，避免被輻照。
[0043]此外，輻照測(cè)試可以分為動(dòng)態(tài)測(cè)試和靜態(tài)測(cè)試兩種測(cè)試模式:對(duì)于動(dòng)態(tài)測(cè)試，輻照過(guò)程中，持續(xù)將被測(cè)器件中的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)讀出，并與鏡像器件中相同地址處的備份數(shù)據(jù)相比較，若發(fā)現(xiàn)讀出數(shù)據(jù)與備份數(shù)據(jù)不同，則記錄出現(xiàn)單粒子效應(yīng)，報(bào)告錯(cuò)誤地址、讀出數(shù)據(jù)和讀出時(shí)間;對(duì)于靜態(tài)測(cè)試，輻照過(guò)程中，不對(duì)被測(cè)器件進(jìn)行任何操作，輻照結(jié)束后，將被測(cè)器件中的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)讀出，與鏡像器件中的備份數(shù)據(jù)進(jìn)行逐地址比較，若發(fā)現(xiàn)讀出的數(shù)據(jù)與備份數(shù)據(jù)不一致，則記錄出現(xiàn)單粒子效應(yīng)，報(bào)告錯(cuò)誤地址、讀出數(shù)據(jù)和讀出時(shí)間。
[0044]在一個(gè)具體的實(shí)施例中，上述對(duì)包含存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的被測(cè)器件進(jìn)行輻照測(cè)試的步驟之前還包括步驟:
[0045]對(duì)被測(cè)器件的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)進(jìn)行讀取，得到讀取數(shù)據(jù)；
[0046]在讀取數(shù)據(jù)與備份數(shù)據(jù)不同時(shí)，返回將指定測(cè)試圖形按照單元地址寫入被測(cè)器件和鏡像器件中的步驟。
[0047]具體而言，可以通過(guò)對(duì)比上述讀取數(shù)據(jù)與備份數(shù)據(jù)的不同，判斷寫入過(guò)程中，是否將與寫入被測(cè)器件的指定測(cè)試圖形相同的測(cè)試圖形按單元地址一一對(duì)應(yīng)的寫入鏡像器件，避免由于寫入過(guò)程出錯(cuò)導(dǎo)致后續(xù)的單粒子效應(yīng)檢測(cè)的結(jié)果不準(zhǔn)確。
[0048]在一個(gè)具體的實(shí)施例中，在步驟S310之后還可以包括步驟:
[0049]在當(dāng)前數(shù)據(jù)與備份數(shù)據(jù)或備份更改數(shù)據(jù)不同時(shí)，確定出現(xiàn)單粒子效應(yīng)；
[0050]記錄出現(xiàn)單離子效應(yīng)時(shí)的當(dāng)前的單元地址、讀取的數(shù)據(jù)和讀取時(shí)間。
[0051]具體而言，在輻照測(cè)試后，可以通過(guò)對(duì)比被測(cè)器件和鏡像器件的狀態(tài)、輸出結(jié)果等，實(shí)現(xiàn)單粒子效應(yīng)的判別。
[0052]在動(dòng)態(tài)測(cè)試中出現(xiàn)讀出數(shù)據(jù)與備份數(shù)據(jù)不同的情況時(shí)，可以采取兩種處理方案:
[0053]方案一:更改鏡像器件中的備份數(shù)據(jù)，使之與讀出數(shù)據(jù)相同；
[0054]或
[0055]方案二:更改被測(cè)器件中的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)，使之與備份數(shù)據(jù)相同。
[0056]在一個(gè)具體的實(shí)施例中，步驟S320之后還可以包括步驟:
[0057]增大預(yù)設(shè)的讀取頻率，在當(dāng)前數(shù)據(jù)與備份更改數(shù)據(jù)不同且讀取數(shù)據(jù)與對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)相同的現(xiàn)象的出現(xiàn)概率也相應(yīng)增大時(shí)，確定單粒子效應(yīng)為外圍電路引起的錯(cuò)誤。
[0058]具體而言，即采用動(dòng)態(tài)測(cè)試中的處理方案一，結(jié)合下述兩種條件可以實(shí)現(xiàn)分辨存儲(chǔ)區(qū)翻轉(zhuǎn)和外圍電路引起的錯(cuò)誤的目的:
[0059]條件1:在某一地址處發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤時(shí)，更改鏡像器件中的備份數(shù)據(jù)，使該備份數(shù)據(jù)與當(dāng)前數(shù)據(jù)相同后，若在后續(xù)的錯(cuò)誤報(bào)告中發(fā)現(xiàn)該地址處又出現(xiàn)一次錯(cuò)誤，且被測(cè)器件讀出的當(dāng)前數(shù)據(jù)為初始寫入測(cè)試圖形的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)；
[0060]條件2:條件I中描述現(xiàn)象的出現(xiàn)概率與被測(cè)器件的讀取頻率相關(guān):讀取頻率增高時(shí)，此類現(xiàn)象出現(xiàn)的概率增大。
[0061 ]若滿足上述兩種條件或其一，就可判斷為外圍電路引起的錯(cuò)誤，其余情況為存儲(chǔ)區(qū)翻轉(zhuǎn)。
[0062]本發(fā)明的基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)在線檢測(cè)方法實(shí)施例1，簡(jiǎn)便、易實(shí)現(xiàn)、對(duì)比性強(qiáng)、通用性強(qiáng)。對(duì)于存儲(chǔ)類對(duì)象，可實(shí)現(xiàn)復(fù)雜存儲(chǔ)圖形的單粒子效應(yīng)敏感性檢測(cè)；同時(shí)結(jié)合使用動(dòng)態(tài)測(cè)試和出錯(cuò)時(shí)修改鏡像器件備份數(shù)據(jù)的方案，可實(shí)現(xiàn)區(qū)分存儲(chǔ)區(qū)翻轉(zhuǎn)和外圍電路引起的錯(cuò)誤的目的。通過(guò)對(duì)比被測(cè)器件和鏡像器件的狀態(tài)、輸出結(jié)果等，實(shí)現(xiàn)單粒子效應(yīng)的判別。
[0063]本發(fā)明基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法一具體實(shí)施例:
[0064]為了詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法的技術(shù)方案，特以囊括了存儲(chǔ)類對(duì)象和功能類對(duì)象的被測(cè)器件為例，說(shuō)明本發(fā)明基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法的具體實(shí)現(xiàn)過(guò)程:
[0065]一、存儲(chǔ)類對(duì)象的測(cè)試
[0066]測(cè)試步驟可以包括如下步驟:
[0067]I)將指定測(cè)試圖形寫入被測(cè)器件，其中指定測(cè)試圖形可根據(jù)測(cè)試要求設(shè)置，可為全“I”、全“O”或棋盤格等，具體如圖4所示；
[0068]2)將相同的指定測(cè)試圖形按地址一一對(duì)應(yīng)寫入鏡像器件，其中，鏡像器件的類型可與被測(cè)器件不同，一般使用讀寫速度快、可隨機(jī)讀取的SRAM作為鏡像器件；
[0069]3)輻照測(cè)試時(shí)，將被測(cè)器件暴露在輻射粒子下;鏡像器件應(yīng)遠(yuǎn)離輻射粒子，避免被輻照；
[0070]4)輻照測(cè)試過(guò)程中，可以分為動(dòng)態(tài)測(cè)試和靜態(tài)測(cè)試兩種測(cè)試模式:
[0071]a)對(duì)于動(dòng)態(tài)測(cè)試，輻照過(guò)程中，持續(xù)將被測(cè)器件中的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)讀出，并與鏡像器件中相同地址處的備份數(shù)據(jù)相比較，若發(fā)現(xiàn)讀出數(shù)據(jù)與備份數(shù)據(jù)不同，則記錄一次單粒子效應(yīng)，報(bào)告錯(cuò)誤地址、讀出數(shù)據(jù)和讀出時(shí)間；之后，分兩種處理方案，方案一:更改鏡像器件中的備份數(shù)據(jù)，使之與讀出數(shù)據(jù)相同；或方案二:更改被測(cè)器件中的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)，使之與備份數(shù)據(jù)相同；動(dòng)態(tài)測(cè)試流程圖如圖5所示，圖5為本發(fā)明基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法一具體實(shí)施例中動(dòng)態(tài)測(cè)試的流程示意圖；
[0072]b)對(duì)于靜態(tài)測(cè)試，輻照過(guò)程中，不對(duì)被測(cè)器件進(jìn)行任何操作，輻照結(jié)束后，將被測(cè)器件中的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)讀出，與鏡像器件中的備份數(shù)據(jù)進(jìn)行逐地址比較，若發(fā)現(xiàn)不一致，則記錄一次單粒子效應(yīng)，同時(shí)報(bào)告錯(cuò)誤地址、讀出數(shù)據(jù)和讀出時(shí)間;靜態(tài)測(cè)試流程圖如圖6所示，圖6為本發(fā)明基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法一具體實(shí)施例中靜態(tài)測(cè)試的流程示意圖。
[0073]5)結(jié)合使用下述兩種方法可實(shí)現(xiàn)分辨存儲(chǔ)區(qū)翻轉(zhuǎn)和外圍電路引起的錯(cuò)誤的目的:
[0074]A)采用動(dòng)態(tài)測(cè)試中的處理方案一，在某一地址處發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤時(shí)，更改鏡像器件中的備份數(shù)據(jù)，使之與讀出數(shù)據(jù)相同后，若在后續(xù)的錯(cuò)誤報(bào)告中發(fā)現(xiàn)該地址處又出現(xiàn)一次錯(cuò)誤，且讀出數(shù)據(jù)為初始寫入測(cè)試圖形的；
[0075]B)A中描述的現(xiàn)象的出現(xiàn)概率與被測(cè)器件的讀取頻率相關(guān)，如靜態(tài)測(cè)試時(shí)(認(rèn)為讀取頻率為OHz)，無(wú)此類現(xiàn)象;讀取頻率增高時(shí)，此類現(xiàn)象出現(xiàn)概率增大。
[0076]若滿足上述A和B兩種條件或其一，則可判斷為外圍電路引起的錯(cuò)誤，其余為存儲(chǔ)區(qū)翻轉(zhuǎn)。
[0077]二、功能類對(duì)象的測(cè)試
[0078]功能類的被測(cè)器件主要可以包括ASIC(Applicat1n Specific IntegratedCircuits，專用集成電路)、FPGA(Field — Programmable Gate Array，現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列)、CPU(Central Processing Unit，中央處理器)、DSP(數(shù)字信號(hào)處理芯片)、SoC(系統(tǒng)級(jí)芯片)等或在所述器件中執(zhí)行某種指定功能的單個(gè)模塊或多個(gè)模塊資源等。
[0079]測(cè)試步驟如圖7所示，圖7為本發(fā)明基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法一具體實(shí)施例中功能類器件測(cè)試的流程示意圖(圖7中“是與“否對(duì)應(yīng)，“否2”與“否2”對(duì)應(yīng)，S卩若由“是進(jìn)入判別框，則判別框產(chǎn)生的“否”執(zhí)行“否，判別框產(chǎn)生的“是”執(zhí)行“是12”，其它由此類推):
[0080]I)上電初始化被測(cè)器件和鏡像器件；
[0081]2)配置被測(cè)器件，使該被測(cè)器件執(zhí)行某種指定功能，通常根據(jù)實(shí)際測(cè)試要求、應(yīng)用要求或特殊需求設(shè)定，執(zhí)行的功能應(yīng)有輸出結(jié)果；
[0082]3)配置鏡像器件，使其執(zhí)行相同的功能;鏡像器件的類型一般與被測(cè)器件相同，也可不同；若不同，鏡像器件應(yīng)具備執(zhí)行指定功能的能力；
[0083]4)輻照測(cè)試時(shí)，將被測(cè)器件暴露在輻射粒子下;鏡像器件應(yīng)遠(yuǎn)離輻射粒子，避免被輻照；
[0084]5)輻照測(cè)試過(guò)程中，實(shí)時(shí)判比被測(cè)器件的輸出結(jié)果與鏡像器件的輸出結(jié)果(若被測(cè)器件突然無(wú)輸出，則將被測(cè)器件輸出結(jié)果記錄為NULL)，若發(fā)現(xiàn)不同，則記錄出現(xiàn)一次單粒子效應(yīng)，分別報(bào)告被測(cè)器件和鏡像器件的輸出結(jié)果、出錯(cuò)時(shí)間等信息;若被測(cè)器件突然無(wú)輸出，則也記錄出現(xiàn)一次單粒子效應(yīng)；
[0085]6)讀出被測(cè)器件內(nèi)部寄存器、片上存儲(chǔ)等可訪問(wèn)資源的狀態(tài)信息，并與鏡像器件相比較，若發(fā)現(xiàn)不同，報(bào)告被測(cè)器件出錯(cuò)模塊的狀態(tài)信息、鏡像器件對(duì)應(yīng)模塊的狀態(tài)信息等，用于后續(xù)分析；
[0086]7)按照步驟2中的方法重新配置被測(cè)器件，若功能恢復(fù)正常，則繼續(xù)進(jìn)行輻照試驗(yàn);若無(wú)法恢復(fù)正常，則斷電重啟被測(cè)器件。
[0087]本發(fā)明的基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)在線檢測(cè)方法的一具體實(shí)施例，方法簡(jiǎn)便、易實(shí)現(xiàn)、對(duì)比性強(qiáng)、通用性強(qiáng)。對(duì)于存儲(chǔ)類對(duì)象，可實(shí)現(xiàn)復(fù)雜存儲(chǔ)圖形的單粒子效應(yīng)敏感性檢測(cè);對(duì)于功能類對(duì)象，可實(shí)現(xiàn)被測(cè)器件的全功能、全參數(shù)、多模塊敏感性評(píng)價(jià)。對(duì)于存儲(chǔ)類對(duì)象，結(jié)合使用動(dòng)態(tài)測(cè)試和出錯(cuò)時(shí)修改鏡像器件備份數(shù)據(jù)的方案，可實(shí)現(xiàn)區(qū)分存儲(chǔ)區(qū)翻轉(zhuǎn)和外圍電路引起的錯(cuò)誤的目的。
[0088]本發(fā)明基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)系統(tǒng)實(shí)施例1:
[0089]基于上述基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)在線檢測(cè)方法的技術(shù)思想，同時(shí)為了解決傳統(tǒng)單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法在動(dòng)態(tài)測(cè)試中無(wú)法區(qū)分存儲(chǔ)區(qū)翻轉(zhuǎn)和外圍電路引起的錯(cuò)誤的問(wèn)題，本發(fā)明還提供了一種基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)系統(tǒng)實(shí)施例1;圖8為本發(fā)明基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)系統(tǒng)實(shí)施例1的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖8所示，可以包括:
[0090]讀取數(shù)據(jù)模塊810，用于在被測(cè)器件處于動(dòng)態(tài)測(cè)試中時(shí)，在預(yù)設(shè)的讀取頻率下對(duì)被測(cè)器件中的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)進(jìn)行讀取，得到當(dāng)前數(shù)據(jù);其中，被測(cè)器件為存儲(chǔ)類器件，存儲(chǔ)類器件包括存儲(chǔ)器和內(nèi)嵌式存儲(chǔ)單元;存儲(chǔ)數(shù)據(jù)為被測(cè)器件根據(jù)寫入的指定測(cè)試圖形形成的初始數(shù)據(jù);指定測(cè)試圖形為根據(jù)測(cè)試要求設(shè)置的包含數(shù)據(jù)信息的圖形；
[0091]第一確定模塊820，用于在當(dāng)前數(shù)據(jù)與鏡像器件中相同單元地址處的備份更改數(shù)據(jù)不同且當(dāng)前數(shù)據(jù)與對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)相同時(shí)，確定單粒子效應(yīng)為外圍電路引起的錯(cuò)誤;其中，鏡像器件為與被測(cè)器件相對(duì)應(yīng)的寫入了指定測(cè)試圖形的器件;備份更改數(shù)據(jù)為在上一個(gè)當(dāng)前數(shù)據(jù)與備份數(shù)據(jù)不同時(shí)，根據(jù)上一個(gè)當(dāng)前數(shù)據(jù)對(duì)備份數(shù)據(jù)進(jìn)行更改，得到的與上一個(gè)當(dāng)前數(shù)據(jù)相同的數(shù)據(jù);備份數(shù)據(jù)為鏡像器件根據(jù)寫入的指定測(cè)試圖形形成的初始數(shù)據(jù)。
[0092]在一個(gè)具體的實(shí)施例中，本發(fā)明基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)系統(tǒng)實(shí)施例1還可以包括:
[0093]增大頻率模塊830，用于增大預(yù)設(shè)的讀取頻率；由第一確定模塊810在當(dāng)前數(shù)據(jù)與備份更改數(shù)據(jù)不同且讀取數(shù)據(jù)與對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)相同的現(xiàn)象的出現(xiàn)概率也相應(yīng)增大時(shí)，確定單粒子效應(yīng)為外圍電路引起的錯(cuò)誤。
[0094]在一個(gè)具體的實(shí)施例中，本發(fā)明基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)系統(tǒng)實(shí)施例1還可以包括:
[0095]寫入模塊840，用于將指定測(cè)試圖形按照單元地址寫入被測(cè)器件中，得到包含存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的被測(cè)器件；以及將指定測(cè)試圖形按照單元地址對(duì)應(yīng)的寫入鏡像器件中，得到包含備份數(shù)據(jù)的鏡像器件；
[0096]輻照測(cè)試模塊850，用于對(duì)被測(cè)器件進(jìn)行輻照測(cè)試;輻照測(cè)試為靜態(tài)測(cè)試或動(dòng)態(tài)測(cè)試。
[0097]在一個(gè)具體的實(shí)施例中，讀取數(shù)據(jù)模塊820，用于對(duì)被測(cè)器件的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)進(jìn)行讀取，得到讀取數(shù)據(jù)；
[0098]寫入模塊840，用于在讀取數(shù)據(jù)與備份數(shù)據(jù)不同時(shí)，再次將指定測(cè)試圖形按照單元地址寫入被測(cè)器件和鏡像器件中。
[0099]在一個(gè)具體的實(shí)施例中，本發(fā)明基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)系統(tǒng)實(shí)施例1還可以包括:
[0100]第二確定模塊860，用于在當(dāng)前數(shù)據(jù)與備份數(shù)據(jù)或備份更改數(shù)據(jù)不同時(shí)，確定出現(xiàn)單粒子效應(yīng)。
[0101]記錄模塊870，用于記錄出現(xiàn)單離子效應(yīng)時(shí)的當(dāng)前的單元地址、讀取的數(shù)據(jù)和讀取時(shí)間。
[0102]本發(fā)明的基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)系統(tǒng)實(shí)施例1，對(duì)于存儲(chǔ)類對(duì)象，結(jié)合使用動(dòng)態(tài)測(cè)試和出錯(cuò)時(shí)修改鏡像器件備份數(shù)據(jù)的方案，可實(shí)現(xiàn)區(qū)分存儲(chǔ)區(qū)翻轉(zhuǎn)和外圍電路引起的錯(cuò)誤的目的，此外通過(guò)對(duì)比被測(cè)器件和鏡像器件的狀態(tài)、輸出結(jié)果等，還可實(shí)現(xiàn)單粒子效應(yīng)的判別。本發(fā)明簡(jiǎn)便、易實(shí)現(xiàn)、對(duì)比性和通用性強(qiáng)，克服了傳統(tǒng)單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法在動(dòng)態(tài)測(cè)試中無(wú)法區(qū)分存儲(chǔ)區(qū)翻轉(zhuǎn)和外圍電路引起的錯(cuò)誤的問(wèn)題，對(duì)于存儲(chǔ)類對(duì)象，可實(shí)現(xiàn)復(fù)雜存儲(chǔ)圖形的單粒子效應(yīng)敏感性檢測(cè)。
[0103]以上所述實(shí)施例的各技術(shù)特征可以進(jìn)行任意的組合，為使描述簡(jiǎn)潔，未對(duì)上述實(shí)施例中的各個(gè)技術(shù)特征所有可能的組合都進(jìn)行描述，然而，只要這些技術(shù)特征的組合不存在矛盾，都應(yīng)當(dāng)認(rèn)為是本說(shuō)明書記載的范圍。
[0104]以上所述實(shí)施例僅表達(dá)了本發(fā)明的幾種實(shí)施方式，其描述較為具體和詳細(xì)，但并不能因此而理解為對(duì)發(fā)明專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。因此，本發(fā)明專利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法，其特征在于，包括以下步驟: 在被測(cè)器件處于動(dòng)態(tài)測(cè)試中時(shí)，在預(yù)設(shè)的讀取頻率下對(duì)所述被測(cè)器件中的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)進(jìn)行讀取，得到當(dāng)前數(shù)據(jù);其中，所述被測(cè)器件為存儲(chǔ)類器件，所述存儲(chǔ)類器件包括存儲(chǔ)器和內(nèi)嵌式存儲(chǔ)單元;所述存儲(chǔ)數(shù)據(jù)為所述被測(cè)器件根據(jù)寫入的指定測(cè)試圖形形成的初始數(shù)據(jù);所述指定測(cè)試圖形為根據(jù)測(cè)試要求設(shè)置的包含數(shù)據(jù)信息的圖形； 在所述當(dāng)前數(shù)據(jù)與鏡像器件中相同單元地址處的備份更改數(shù)據(jù)不同且所述當(dāng)前數(shù)據(jù)與對(duì)應(yīng)的所述存儲(chǔ)數(shù)據(jù)相同時(shí)，確定單粒子效應(yīng)為外圍電路引起的錯(cuò)誤;其中，所述鏡像器件為與所述被測(cè)器件相對(duì)應(yīng)的寫入了所述指定測(cè)試圖形的器件;所述備份更改數(shù)據(jù)為在上一個(gè)當(dāng)前數(shù)據(jù)與備份數(shù)據(jù)不同時(shí)，根據(jù)所述上一個(gè)當(dāng)前數(shù)據(jù)對(duì)所述備份數(shù)據(jù)進(jìn)行更改，得到的與所述上一個(gè)當(dāng)前數(shù)據(jù)相同的數(shù)據(jù);所述備份數(shù)據(jù)為所述鏡像器件根據(jù)寫入的所述指定測(cè)試圖形形成的初始數(shù)據(jù)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法，其特征在于，在所述當(dāng)前數(shù)據(jù)與鏡像器件中相同單元地址處的備份更改數(shù)據(jù)不同且所述當(dāng)前數(shù)據(jù)與對(duì)應(yīng)的所述存儲(chǔ)數(shù)據(jù)相同時(shí)，確定單粒子效應(yīng)為外圍電路引起的錯(cuò)誤的步驟之后還包括步驟: 增大所述預(yù)設(shè)的讀取頻率，在所述當(dāng)前數(shù)據(jù)與所述備份更改數(shù)據(jù)不同且所述讀取數(shù)據(jù)與對(duì)應(yīng)的所述存儲(chǔ)數(shù)據(jù)相同的現(xiàn)象的出現(xiàn)概率也相應(yīng)增大時(shí)，確定所述單粒子效應(yīng)為外圍電路引起的錯(cuò)誤。3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法，其特征在于，在被測(cè)器件處于動(dòng)態(tài)測(cè)試中時(shí)，在預(yù)設(shè)的讀取頻率下對(duì)所述被測(cè)器件中的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)進(jìn)行讀取，得到當(dāng)前數(shù)據(jù)的步驟之前還包括步驟: 將所述指定測(cè)試圖形按照單元地址寫入所述被測(cè)器件中，得到包含所述存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的被測(cè)器件； 將所述指定測(cè)試圖形按照單元地址對(duì)應(yīng)的寫入所述鏡像器件中，得到包含所述備份數(shù)據(jù)的鏡像器件； 對(duì)包含所述存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的被測(cè)器件進(jìn)行輻照測(cè)試;所述輻照測(cè)試為靜態(tài)測(cè)試或所述動(dòng)態(tài)測(cè)試。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法，其特征在于，對(duì)包含所述存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的被測(cè)器件進(jìn)行輻照測(cè)試的步驟之前還包括步驟: 對(duì)所述被測(cè)器件的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)進(jìn)行讀取，得到讀取數(shù)據(jù)； 在所述讀取數(shù)據(jù)與所述備份數(shù)據(jù)不同時(shí)，返回將指定測(cè)試圖形按照單元地址寫入所述被測(cè)器件和所述鏡像器件中的步驟。5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)方法，其特征在于，在被測(cè)器件處于動(dòng)態(tài)測(cè)試中時(shí)，在預(yù)設(shè)的讀取頻率下對(duì)所述被測(cè)器件中的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)進(jìn)行讀取，得到當(dāng)前數(shù)據(jù)的步驟之后還包括步驟: 在所述當(dāng)前數(shù)據(jù)與所述備份數(shù)據(jù)或所述備份更改數(shù)據(jù)不同時(shí)，確定出現(xiàn)單粒子效應(yīng)； 記錄出現(xiàn)所述單離子效應(yīng)時(shí)的當(dāng)前的單元地址、讀取的數(shù)據(jù)和讀取時(shí)間。6.一種基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，包括: 讀取數(shù)據(jù)模塊，用于在被測(cè)器件處于動(dòng)態(tài)測(cè)試中時(shí)，在預(yù)設(shè)的讀取頻率下對(duì)所述被測(cè)器件中的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)進(jìn)行讀取，得到當(dāng)前數(shù)據(jù);其中，所述被測(cè)器件為存儲(chǔ)類器件，所述存儲(chǔ)類器件包括存儲(chǔ)器和內(nèi)嵌式存儲(chǔ)單元;所述存儲(chǔ)數(shù)據(jù)為所述被測(cè)器件根據(jù)寫入的指定測(cè)試圖形形成的初始數(shù)據(jù);所述指定測(cè)試圖形為根據(jù)測(cè)試要求設(shè)置的包含數(shù)據(jù)信息的圖形；第一確定模塊，用于在所述當(dāng)前數(shù)據(jù)與鏡像器件中相同單元地址處的備份更改數(shù)據(jù)不同且所述當(dāng)前數(shù)據(jù)與對(duì)應(yīng)的所述存儲(chǔ)數(shù)據(jù)相同時(shí)，確定單粒子效應(yīng)為外圍電路引起的錯(cuò)誤;其中，所述鏡像器件為與所述被測(cè)器件相對(duì)應(yīng)的寫入了所述指定測(cè)試圖形的器件;所述備份更改數(shù)據(jù)為在上一個(gè)當(dāng)前數(shù)據(jù)與備份數(shù)據(jù)不同時(shí)，根據(jù)所述上一個(gè)當(dāng)前數(shù)據(jù)對(duì)所述備份數(shù)據(jù)進(jìn)行更改，得到的與所述上一個(gè)當(dāng)前數(shù)據(jù)相同的數(shù)據(jù);所述備份數(shù)據(jù)為所述鏡像器件根據(jù)寫入的所述指定測(cè)試圖形形成的初始數(shù)據(jù)。7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，還包括: 增大頻率模塊，用于增大所述預(yù)設(shè)的讀取頻率；由所述第一確定模塊在所述當(dāng)前數(shù)據(jù)與所述備份更改數(shù)據(jù)不同且所述讀取數(shù)據(jù)與對(duì)應(yīng)的所述存儲(chǔ)數(shù)據(jù)相同的現(xiàn)象的出現(xiàn)概率也相應(yīng)增大時(shí)，確定所述單粒子效應(yīng)為外圍電路引起的錯(cuò)誤。8.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，還包括: 寫入模塊，用于將所述指定測(cè)試圖形按照單元地址寫入所述被測(cè)器件中，得到包含所述存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的被測(cè)器件；以及將所述指定測(cè)試圖形按照單元地址對(duì)應(yīng)的寫入所述鏡像器件中，得到包含所述備份數(shù)據(jù)的鏡像器件； 輻照測(cè)試模塊，用于對(duì)所述被測(cè)器件進(jìn)行輻照測(cè)試;所述輻照測(cè)試為靜態(tài)測(cè)試或所述動(dòng)態(tài)測(cè)試。9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于， 所述讀取數(shù)據(jù)模塊，用于對(duì)所述被測(cè)器件的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)進(jìn)行讀取，得到讀取數(shù)據(jù)； 所述寫入模塊，用于在所述讀取數(shù)據(jù)與所述備份數(shù)據(jù)不同時(shí)，再次將指定測(cè)試圖形按照單元地址寫入所述被測(cè)器件和所述鏡像器件中。10.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的基于鏡像備份的單粒子效應(yīng)檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，還包括: 第二確定模塊，用于在所述當(dāng)前數(shù)據(jù)與所述備份數(shù)據(jù)或所述備份更改數(shù)據(jù)不同時(shí)，確定出現(xiàn)單粒子效應(yīng)。 記錄模塊，用于記錄出現(xiàn)所述單離子效應(yīng)時(shí)的當(dāng)前的單元地址、讀取的數(shù)據(jù)和讀取時(shí)間。
【文檔編號(hào)】G11C29/08GK105895163SQ201610186807
【公開日】2016年8月24日
【申請(qǐng)日】2016年3月28日
【發(fā)明人】張戰(zhàn)剛, 雷志鋒, 童騰, 恩云飛, 黃云
【申請(qǐng)人】工業(yè)和信息化部電子第五研究所