專利名稱：信息記錄設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及信息記錄介質(zhì)，用于自動(dòng)判斷關(guān)于如光盤等的信息記錄介質(zhì)的記錄功率，并在該介質(zhì)上記錄信息。
有一種一次寫入(WOWrite Once)類型的光盤，其中，可利用有機(jī)顏料(organic pigment)的狀態(tài)變化將信息僅一次寫到相同位置，這種光盤作為能夠記錄附言(postscript-writing)的光記錄介質(zhì)。
例如，在使用有機(jī)顏料用于記錄膜(film)的一次寫入型光盤中，三苯甲烷型(triphenyl-methane type)顏料、熒烷型(fluoran type)顏料、花青型(cyanine type)顏料等用作記錄材料。利用這些記錄材料，由后部流設(shè)備(rear flow mechanism)形成凹坑，在該后部流設(shè)備中，由記錄材料制成的記錄部分表面附近的蒸氣壓力通過照射光束等來增加，該蒸氣壓力使一熔化部分向周圍擴(kuò)展，從而對(duì)應(yīng)于數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)“1”或“0”。
此外，在使用有機(jī)型顏料的光盤中，引入上述后部流的溫度根據(jù)記錄材料的不同而不同。這樣，用以形成凹坑的照射光束的功率(電功率)對(duì)每一種光盤都不同。
因此，為使用有機(jī)型顏料將信息記錄到光盤上，對(duì)每種類型的光盤最優(yōu)的激光功率被編碼并記錄在光盤的一部分上，例如，記錄在控制軌道或引入?yún)^(qū)上。
然而，在許多情況下，即使使用相同的記錄材料，各個(gè)不同的盤的性能也略有不同。鑒于此，如果將激光功率均勻地施加到每一種類型的光盤上，則照射到單個(gè)光盤上的不會(huì)是最佳的激光功率。
也就是說，如果象在傳統(tǒng)技術(shù)中一樣將激光功率均勻地施加到相同類型的光盤上，則由周圍環(huán)境的變化、每個(gè)光盤的記錄/再現(xiàn)性能的變化所造成的影響會(huì)導(dǎo)致信息不能被穩(wěn)定記錄的問題。
因此，可在實(shí)際開始記錄操作之前進(jìn)行激光功率的校準(zhǔn)。在此校準(zhǔn)過程中，通過逐漸改變激光功率而將測(cè)試信號(hào)記錄在準(zhǔn)備于光盤上的一測(cè)試記錄區(qū)，并再現(xiàn)所記錄的測(cè)試信號(hào)。然后，信息實(shí)際上以通過校準(zhǔn)而得到的一記錄功率被記錄，該記錄功率對(duì)于記錄設(shè)備和記錄介質(zhì)的組合是最佳的。
然而，所述記錄設(shè)備可能有由裂紋、灰塵等所致的缺陷。在寫入測(cè)試信號(hào)的位置上的這種缺陷會(huì)導(dǎo)致一個(gè)問題，即，不能正確檢驗(yàn)記錄信號(hào)(即，測(cè)試信號(hào))的信號(hào)質(zhì)量。
簡(jiǎn)言之，即便測(cè)試信號(hào)以假定為量佳的記錄功率被記錄，當(dāng)上述缺陷出現(xiàn)在記錄位置時(shí)，也不容許用于測(cè)試信號(hào)的再現(xiàn)信號(hào)為最佳信號(hào)。這樣，用于記錄此測(cè)試信號(hào)的測(cè)試功率不設(shè)定為最佳記錄功率。相反，盡管測(cè)試信號(hào)不以最佳記錄功率被記錄，所述缺陷也可以使用于此測(cè)試信號(hào)的再現(xiàn)信號(hào)被接納為最佳信號(hào)，并使非最佳記錄功率錯(cuò)誤地設(shè)定為最佳記錄功率。結(jié)果，即便進(jìn)行了上述的校準(zhǔn)，也可以出現(xiàn)信息實(shí)際上不以對(duì)記錄設(shè)備和記錄介質(zhì)的組合為最佳的記錄功率被記錄的情況。
另一方面，以最佳記錄功率進(jìn)行的記錄操作不僅可以在所述缺陷存在于所述記錄位置的情況下執(zhí)行，也可以在進(jìn)行記錄時(shí)在伺服系統(tǒng)中產(chǎn)生異常狀態(tài)、例如外部故障的情況下執(zhí)行。
本發(fā)明是鑒于上述問題而提出的。因此，本發(fā)明的目的是提供一種信息記錄設(shè)備，不管在信息記錄介質(zhì)的測(cè)試記錄區(qū)中的缺陷的存在或不存在，并且在產(chǎn)生外部故障的情況下，該設(shè)備都能夠設(shè)定最佳記錄功率。
本發(fā)明的上述目的可通過第一個(gè)信息記錄設(shè)備來實(shí)現(xiàn)，在該第一個(gè)信息記錄設(shè)備中，在通過照射光束將信息記錄到一信息記錄介質(zhì)上之前，以多個(gè)不同的記錄功率對(duì)形成信息記錄介質(zhì)上的一測(cè)試記錄區(qū)的多個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)中的每一個(gè)記錄一測(cè)試信號(hào)，然后再現(xiàn)記錄在每一個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)中的測(cè)試信號(hào)，并根據(jù)再現(xiàn)的測(cè)試信號(hào)的狀態(tài)來選擇光束的最佳記錄功率。所述第一信息記錄設(shè)備設(shè)有一可重寫存儲(chǔ)裝置，用于存儲(chǔ)功率設(shè)定值，以便對(duì)應(yīng)于用于識(shí)別各個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)的位置信息，分別獲得多個(gè)不同的記錄功率；一記錄裝置，用于基于恒定的記錄時(shí)鐘信號(hào)將測(cè)試信號(hào)記錄在測(cè)試記錄區(qū)中；一位置信息產(chǎn)生裝置，用于在對(duì)應(yīng)于每一個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)的記錄時(shí)間的周期處產(chǎn)生位置信息；一記錄控制裝置，用于根據(jù)所產(chǎn)生的位置信息讀出存儲(chǔ)在所述可重寫存儲(chǔ)裝置中的功率設(shè)定值，然后將所讀出的功率設(shè)定值輸出給所述記錄裝置；一缺陷檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)各個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)中的缺陷，其中由所述記錄裝置執(zhí)行一記錄操作；和一功率設(shè)定值存儲(chǔ)裝置，用于將所述功率設(shè)定值存儲(chǔ)在所述可重寫存儲(chǔ)裝置中，所述功率設(shè)定值是根據(jù)一個(gè)位置信息由所述記錄控制裝置在檢測(cè)到所述缺陷時(shí)讀出的，以便所存儲(chǔ)的功率設(shè)定值對(duì)應(yīng)于與所述一個(gè)位置信息不同的另一個(gè)位置信息。
根據(jù)第一個(gè)信息記錄設(shè)備，首先，在對(duì)應(yīng)于每一個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)的記錄時(shí)間的周期處，由所述位置信息產(chǎn)生裝置產(chǎn)生識(shí)別各個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)的位置信息。然后，由所述記錄控制裝置根據(jù)所產(chǎn)生的位置信息，讀出存儲(chǔ)在所述可重寫存儲(chǔ)裝置中的功率設(shè)定值，并將該功率設(shè)定值輸出到所述記錄裝置。然后，由所述記錄裝置基于一恒定的記錄時(shí)鐘信號(hào)，以基于用于每一個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)的功率設(shè)定值的記錄功率，來記錄所述測(cè)試信號(hào)，所述單元測(cè)試記錄區(qū)由準(zhǔn)備在所述信息記錄介質(zhì)上的測(cè)試記錄區(qū)中的位置信息來識(shí)別。由于所述功率設(shè)定值設(shè)定成能獲得對(duì)每一個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)不同的記錄功率，因此，通過在以上述方式記錄測(cè)試信號(hào)之后再現(xiàn)用于每一個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)的測(cè)試信號(hào)，能夠根據(jù)相應(yīng)的記錄功率估計(jì)所述測(cè)試信號(hào)的再現(xiàn)狀態(tài)，以便能夠根據(jù)該估計(jì)來選擇光束的最佳記錄功率。此外，當(dāng)由所述缺陷檢測(cè)裝置在執(zhí)行所述記錄操作的單元測(cè)試記錄區(qū)中檢測(cè)到缺陷時(shí)，由所述功率設(shè)定值存儲(chǔ)裝置將所述功率設(shè)定值存儲(chǔ)到所述可重寫存儲(chǔ)裝置中，所述功率設(shè)定值是由所述記錄控制裝置根據(jù)識(shí)別所述單元測(cè)試記錄區(qū)的一個(gè)位置信息讀出的，以使所存儲(chǔ)的功率設(shè)定值對(duì)應(yīng)于與這一個(gè)位置信息不同的另一個(gè)位置信息。即便是根據(jù)對(duì)應(yīng)于一個(gè)位置信息的預(yù)定功率設(shè)定值將所述測(cè)試信號(hào)記錄在由這一個(gè)位置信息識(shí)別的單元測(cè)試記錄區(qū)中，由于在這個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)中存在缺陷，因此，所述測(cè)試信號(hào)的再現(xiàn)狀態(tài)在這里不能正確反映對(duì)應(yīng)于這一個(gè)位置信息的預(yù)定功率設(shè)定值。然而，對(duì)應(yīng)于這一個(gè)位置信息的預(yù)定功率設(shè)定值存儲(chǔ)在所述可重寫存儲(chǔ)裝置中，作為對(duì)應(yīng)于與這一個(gè)位置信息不同的另一個(gè)位置信息的預(yù)定功率設(shè)定值。因此，在不存在缺陷的由所述另一個(gè)位置信息識(shí)別的單元測(cè)試記錄區(qū)中，執(zhí)行基于所述預(yù)定功率設(shè)定值的測(cè)試信號(hào)的記錄。因此，通過在不存在缺陷的由所述另一個(gè)位置信息識(shí)別的單元測(cè)試記錄區(qū)中再現(xiàn)測(cè)試信號(hào)，能夠根據(jù)所述預(yù)定功率設(shè)定值正確地估計(jì)對(duì)應(yīng)于所述記錄功率的測(cè)試信號(hào)的再現(xiàn)狀態(tài)。如上所述，根據(jù)本發(fā)明的所述第一個(gè)信息記錄設(shè)備，即使在單元測(cè)試記錄區(qū)中存在缺陷，也能夠根據(jù)各個(gè)功率設(shè)定值正確地估計(jì)對(duì)應(yīng)于記錄功率的測(cè)試信號(hào)的再現(xiàn)狀態(tài)，以便能夠根據(jù)該估計(jì)結(jié)果來選擇光束的最佳記錄功率。
此外，由于僅當(dāng)檢測(cè)到缺陷時(shí)才改變測(cè)試信號(hào)的記錄區(qū)，因此，記錄在通常的測(cè)試記錄區(qū)上的測(cè)試信號(hào)能夠有效地用于最佳記錄功率的估計(jì)，從而節(jié)約測(cè)試記錄區(qū)。而且，即使檢測(cè)到缺陷，也不總是重寫所有的測(cè)試信號(hào)。因此，能夠縮短功率校準(zhǔn)過程所需的時(shí)間。
在本發(fā)明的第一個(gè)信息記錄設(shè)備的一個(gè)方面中，N(N自然數(shù))個(gè)不同的功率設(shè)定值存儲(chǔ)在所述可重寫存儲(chǔ)裝置中，以對(duì)應(yīng)于用于分別識(shí)別N個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)的N個(gè)位置信息；并且，當(dāng)檢測(cè)到所述缺陷時(shí)，所述功率設(shè)定值存儲(chǔ)裝置將所述功率設(shè)定值存儲(chǔ)在所述可重寫存儲(chǔ)裝置中，以使所存儲(chǔ)的功率設(shè)定值對(duì)應(yīng)于所述位置信息，所述位置信息識(shí)別第M(M≥N+1)個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)。
根據(jù)本發(fā)明的這個(gè)方面，從所述可重寫存儲(chǔ)裝置中讀出所述N個(gè)不同的功率設(shè)定值，這N個(gè)不同的功率設(shè)定值分別對(duì)應(yīng)于用于識(shí)別N個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)的N個(gè)位置信息。然后，以基于不同的功率設(shè)定值的記錄功率將測(cè)試信號(hào)記錄在第1到第N個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)中。此外，在檢測(cè)到缺陷時(shí)讀出的所述功率設(shè)定值由所述功率設(shè)定值存儲(chǔ)裝置存儲(chǔ)在所述可重寫存儲(chǔ)裝置中，以使該功率設(shè)定值對(duì)應(yīng)于識(shí)別第M(M≥N+1)個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)的位置信息。因此，由于當(dāng)檢測(cè)到缺陷時(shí)基于讀出的功率設(shè)定值而進(jìn)行的對(duì)測(cè)試信號(hào)的記錄，是在不存在缺陷的第M(M≥N+1)個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)進(jìn)行的，因而能夠根據(jù)功率設(shè)定值正確地估計(jì)測(cè)試信號(hào)。
在本發(fā)明的第一個(gè)信息記錄設(shè)備的另一方面中，N(N自然數(shù))個(gè)不同的功率設(shè)定值存儲(chǔ)在所述可重寫存儲(chǔ)裝置中，以分別對(duì)應(yīng)于用于識(shí)別N個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)的N個(gè)位置信息；并且，當(dāng)檢測(cè)到所述缺陷時(shí)，所述功率設(shè)定值存儲(chǔ)裝置將所述功率設(shè)定值存儲(chǔ)在所述可重寫存儲(chǔ)裝置中，以使所存儲(chǔ)的功率設(shè)定值對(duì)應(yīng)于所述位置信息，所述位置信息識(shí)別緊接著檢測(cè)到所述缺陷的一個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)的另一個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)。
根據(jù)本發(fā)明的這個(gè)方面，從所述可重寫存儲(chǔ)裝置中讀出所述N個(gè)不同的功率設(shè)定值，這N個(gè)不同的功率設(shè)定值分別對(duì)應(yīng)于用于識(shí)別N個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)的N個(gè)位置信息。然后，以基于不同的功率設(shè)定值的記錄功率將測(cè)試信號(hào)記錄在第1到第N個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)中。此外，在檢測(cè)到缺陷時(shí)讀出的所述功率設(shè)定值由所述功率設(shè)定值存儲(chǔ)裝置存儲(chǔ)在所述可重寫存儲(chǔ)裝置中，以使該功率設(shè)定值對(duì)應(yīng)于識(shí)別緊接著檢測(cè)到所述缺陷的單元測(cè)試記錄區(qū)的下一個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)的位置信息。因此，由于當(dāng)檢測(cè)到缺陷時(shí)基于讀出的功率設(shè)定值而進(jìn)行的對(duì)測(cè)試信號(hào)的記錄，是在不存在缺陷的下一個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)中進(jìn)行的，因而能夠根據(jù)功率設(shè)定值正確地估計(jì)測(cè)試信號(hào)。
本發(fā)明的上述目的還可通過第二個(gè)信息記錄設(shè)備來實(shí)現(xiàn)，在該第二個(gè)信息記錄設(shè)備中，在通過照射光束將信息記錄到一信息記錄介質(zhì)上之前，以多個(gè)不同的記錄功率來對(duì)形成信息記錄介質(zhì)上的一測(cè)試記錄區(qū)的多個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)中的每一個(gè)記錄一測(cè)試信號(hào)，然后再現(xiàn)記錄在每一個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)中的測(cè)試信號(hào)，并根據(jù)再現(xiàn)的測(cè)試信號(hào)的狀態(tài)來選擇光束的最佳記錄功率。所述第二信息記錄設(shè)備設(shè)有一可重寫存儲(chǔ)裝置，用于存儲(chǔ)功率設(shè)定值，以便對(duì)應(yīng)于用于識(shí)別各個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)的位置信息，分別獲得多個(gè)不同的記錄功率；一記錄裝置，用于基于恒定的記錄時(shí)鐘信號(hào)將測(cè)試信號(hào)記錄在測(cè)試記錄區(qū)中；一位置信息產(chǎn)生裝置，用于在對(duì)應(yīng)于每一個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)的記錄時(shí)間的周期處產(chǎn)生位置信息；一記錄控制裝置，用于根據(jù)所產(chǎn)生的位置信息來讀出存儲(chǔ)在所述可重寫存儲(chǔ)裝置中的功率設(shè)定值，然后將所讀出的功率設(shè)定值輸出給所述記錄裝置；一判斷裝置，用于讀出用于各個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)的記錄內(nèi)容，并判斷是否由所述記錄裝置執(zhí)行正常的記錄操作；和一功率設(shè)定值存儲(chǔ)裝置，如果所述判斷裝置判斷出不在其中進(jìn)行正常的記錄操作，則該功率設(shè)定值存儲(chǔ)裝置根據(jù)對(duì)應(yīng)于單元測(cè)試記錄區(qū)的一個(gè)位置信息來從所述可重寫存儲(chǔ)裝置中讀出所述功率設(shè)定值，并將所讀出的功率設(shè)定值存儲(chǔ)在所述可重寫存儲(chǔ)裝置中，以使所存儲(chǔ)的功率設(shè)定值對(duì)應(yīng)于與所述一個(gè)位置信息不同的另一個(gè)位置信息。
根據(jù)第二個(gè)信息記錄設(shè)備，首先，在對(duì)應(yīng)于每一個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)的記錄時(shí)間的周期處，由所述位置信息產(chǎn)生裝置產(chǎn)生識(shí)別各個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)的位置信息。然后，由所述記錄控制裝置根據(jù)所產(chǎn)生的位置信息，讀出存儲(chǔ)在所述可重寫存儲(chǔ)裝置中的功率設(shè)定值，并將該功率設(shè)定值輸出到所述記錄裝置。然后，由所述記錄裝置基于一恒定的記錄時(shí)鐘信號(hào)，以基于用于每一個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)的功率設(shè)定值的記錄功率，來記錄所述測(cè)試信號(hào)，所述單元測(cè)試記錄區(qū)由準(zhǔn)備在所述信息記錄介質(zhì)上的測(cè)試記錄區(qū)中的位置信息來識(shí)別。由于所述功率設(shè)定值設(shè)定成能獲得對(duì)每一個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)不同的記錄功率，因此，通過在以上述方式記錄測(cè)試信號(hào)之后再現(xiàn)用于每一個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)的測(cè)試信號(hào)，能夠根據(jù)相應(yīng)的記錄功率來估計(jì)所述測(cè)試信號(hào)的再現(xiàn)狀態(tài)，以便根據(jù)該估計(jì)能夠選擇光束的最佳記錄功率。此外，所述判斷裝置判斷在要進(jìn)行記錄的單元測(cè)試記錄區(qū)是否執(zhí)行了正常的記錄操作。當(dāng)所述判斷裝置判斷出從未執(zhí)行正常的記錄操作時(shí)，由所述記錄控制裝置根據(jù)識(shí)別所述單元測(cè)試記錄區(qū)的位置信息而讀出的所述功率設(shè)定值，由所述功率設(shè)定值存儲(chǔ)裝置存儲(chǔ)在所述可重寫存儲(chǔ)裝置中，以使所存儲(chǔ)的功率設(shè)定值對(duì)應(yīng)于與這一個(gè)位置信息不同的另一個(gè)位置信息。即便是根據(jù)對(duì)應(yīng)于一個(gè)位置信息的預(yù)定功率設(shè)定值將所述測(cè)試信號(hào)記錄在由這一個(gè)位置信息識(shí)別的單元測(cè)試記錄區(qū)中，由于由外部故障、缺陷等而導(dǎo)致的在此單元測(cè)試記錄區(qū)中從未執(zhí)行正常的記錄操作，所述測(cè)試信號(hào)的再現(xiàn)狀態(tài)在這里不能正確反映對(duì)應(yīng)于這一個(gè)位置信息的預(yù)定功率設(shè)定值。然而，對(duì)應(yīng)于這一個(gè)位置信息的預(yù)定功率設(shè)定值存儲(chǔ)在所述可重寫存儲(chǔ)裝置中，作為對(duì)應(yīng)于與這一個(gè)位置信息不同的另一個(gè)位置信息的預(yù)定功率設(shè)定值。因此，在不存在缺陷的由所述另一個(gè)位置信息識(shí)別的單元測(cè)試記錄區(qū)中，執(zhí)行基于該預(yù)定功率設(shè)定值的測(cè)試信號(hào)的記錄。因此，通過在不存在缺陷的由所述另一個(gè)位置信息識(shí)別的單元測(cè)試記錄區(qū)中再現(xiàn)測(cè)試信號(hào)，能夠根據(jù)所述預(yù)定功率設(shè)定值正確地估計(jì)對(duì)應(yīng)于所述記錄功率的測(cè)試信號(hào)的再現(xiàn)狀態(tài)。如上所述，根據(jù)本發(fā)明的所述第二個(gè)信息記錄設(shè)備，即使在單元測(cè)試記錄區(qū)沒有從未正常的記錄操作，也能夠根據(jù)各個(gè)功率設(shè)定值正確地估計(jì)對(duì)應(yīng)于記錄功率的測(cè)試信號(hào)的再現(xiàn)狀態(tài)，以便能夠根據(jù)該估計(jì)結(jié)果來選擇光束的最佳記錄功率。
此外，根據(jù)本發(fā)明的第二個(gè)信息記錄設(shè)備，不僅在檢測(cè)到缺陷的時(shí)候，而且在由于伺服系統(tǒng)的異常等(例如，產(chǎn)生外部故障)而在DVD-R的測(cè)試記錄區(qū)中沒有執(zhí)行正常的記錄操作的時(shí)候，根據(jù)與用在記錄時(shí)的功率設(shè)定值相同的功率設(shè)定值，執(zhí)行對(duì)測(cè)試信號(hào)的記錄，以便能夠正常進(jìn)行對(duì)最佳功率的選擇。
在本發(fā)明的第二個(gè)信息記錄設(shè)備的一個(gè)方面中，所述記錄控制裝置還包括一裝置，該裝置用于讀出所述功率設(shè)定值，并將所述讀出的功率設(shè)定值分別輸出到對(duì)應(yīng)于所述多個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)的所述記錄裝置，該裝置還用于在所述判斷裝置判斷出沒有進(jìn)行所述正常記錄操作時(shí)，執(zhí)行所述功率設(shè)定值的再讀出操作和到所述記錄裝置的再輸出操作，并且，所述判斷裝置包括一裝置，該裝置用于讀出用于各個(gè)所述單元測(cè)試記錄區(qū)的記錄內(nèi)容，并在所述記錄裝置完成對(duì)于所述多個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)的記錄操作后由所述記錄裝置進(jìn)行判斷。
根據(jù)本發(fā)明的這個(gè)方面，由所述記錄控制裝置讀出所述功率設(shè)定值，并將該功率設(shè)定值分別輸出到對(duì)應(yīng)于所述多個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)的所述記錄裝置。結(jié)果，由所述記錄裝置執(zhí)行將所述功率設(shè)定值分別記錄到所述多個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)的數(shù)據(jù)記錄操作。當(dāng)由所述記錄裝置執(zhí)行的關(guān)于單元測(cè)試記錄區(qū)的數(shù)據(jù)的記錄操作完成時(shí)，所述判斷裝置讀出各個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)的記錄內(nèi)容，并判斷是否執(zhí)行了正常的記錄操作。結(jié)果，如果所述判斷裝置判斷出從未執(zhí)行正常的記錄操作，則由所述記錄控制裝置再次讀出所述功率設(shè)定值，并將其再次輸出到所述記錄裝置。如上所述，如果所述判斷裝置判斷出從未執(zhí)行正常的記錄操作，則所述功率設(shè)定值存儲(chǔ)裝置根據(jù)對(duì)應(yīng)于此單元測(cè)試記錄區(qū)的位置信息從所述可重寫存儲(chǔ)裝置讀出功率設(shè)定值，并將其存儲(chǔ)在所述可重寫存儲(chǔ)裝置中，以使所存儲(chǔ)的功率設(shè)定值對(duì)應(yīng)于與這一個(gè)位置信息不同的另一個(gè)位置信息。因此，與上面所述的再讀出操作有關(guān)的功率設(shè)定值包括存儲(chǔ)在所述可重寫存儲(chǔ)裝置中的功率設(shè)定值，該功率設(shè)定值對(duì)應(yīng)于與這一個(gè)位置信息不同的另一個(gè)位置信息。結(jié)果，用于其中從未進(jìn)行正常記錄操作的單元測(cè)試記錄區(qū)的功率設(shè)定值，被用于記錄由所述另一個(gè)位置信息識(shí)別的單元測(cè)試記錄區(qū)中的測(cè)試信號(hào)。結(jié)果，通過再現(xiàn)該測(cè)試信號(hào)，能夠根據(jù)功率設(shè)定值正確地估計(jì)對(duì)應(yīng)于記錄功率的測(cè)試信號(hào)的再現(xiàn)狀態(tài)。
下面是對(duì)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的詳細(xì)描述，通過結(jié)合下面簡(jiǎn)要描述的附圖而閱讀這些詳細(xì)描述，本發(fā)明的特性、應(yīng)用和進(jìn)一步的特征將變得更加清楚。


圖1是說明用在本發(fā)明的實(shí)施例中的一DVD-R的記錄層結(jié)構(gòu)的透視圖；圖2是說明DVD-R中的溝槽軌跡、要寫到該溝槽軌跡上的同步幀系統(tǒng)數(shù)據(jù)、和形成在平坦部分(land)軌跡上的預(yù)凹坑(pre-pit)之間的關(guān)系的圖；圖3是說明作為本發(fā)明第一個(gè)實(shí)施例的信息記錄設(shè)備的概略配置的方框圖；圖4是說明圖3的信息記錄設(shè)備的各個(gè)部分的操作波形的時(shí)序圖；圖5是說明圖3的信息記錄設(shè)備的定時(shí)產(chǎn)生器的詳細(xì)配置的方框圖；圖6是說明圖5的定時(shí)產(chǎn)生器中各個(gè)部分的信號(hào)的輸出定時(shí)的時(shí)序圖；圖7是說明圖3的信息記錄設(shè)備中的功率設(shè)定存儲(chǔ)器的詳細(xì)配置的方框圖；圖8是說明圖7的功率設(shè)定存儲(chǔ)器的操作的時(shí)序圖；圖9是說明圖3的信息記錄設(shè)備中的記錄模式產(chǎn)生器、策略電路(strategycircuit)、記錄電流產(chǎn)生器等的操作的時(shí)序圖；圖10是說明圖3的信息記錄設(shè)備中的不對(duì)稱測(cè)量部分的詳細(xì)配置的方框圖；圖11是說明輸入到圖10的不對(duì)稱測(cè)量部分的用于每一個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)的再現(xiàn)信號(hào)；圖12是說明圖11的一個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)中的各種信號(hào)的波形的時(shí)序圖；圖13是對(duì)每一個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)描繪不對(duì)稱性的圖，該不對(duì)稱性是根據(jù)來自圖10的不對(duì)稱測(cè)量部分的輸出結(jié)果而計(jì)算的；圖14是說明圖13的信息記錄設(shè)備中的缺陷檢測(cè)器的詳細(xì)配置的方框圖；圖15A是說明在本發(fā)明的第一個(gè)實(shí)施例中，在功率校準(zhǔn)過程中輸出功率設(shè)定數(shù)據(jù)的過程中的主程序的流程圖；圖15B是說明在本發(fā)明的第一個(gè)實(shí)施例中，當(dāng)檢測(cè)到缺陷時(shí)在功率校準(zhǔn)過程中輸出功率設(shè)定數(shù)據(jù)的過程中的中斷程序的流程圖；圖16是說明在本發(fā)明的第一個(gè)實(shí)施例中，在輸出功率設(shè)定數(shù)據(jù)的過程中的功率設(shè)定存儲(chǔ)器的操作的時(shí)序圖；圖17是說明在圖3的信息記錄設(shè)備中的功率設(shè)定存儲(chǔ)器的配置的另一個(gè)例子的方框圖；圖18是說明在本發(fā)明的第二個(gè)實(shí)施例中，在功率校準(zhǔn)過程中輸出功率設(shè)定數(shù)據(jù)的過程的流程圖；圖19是說明在本發(fā)明的第二個(gè)實(shí)施例中，在控制判斷部分中存儲(chǔ)的功率設(shè)定值表的圖；圖20是說明在本發(fā)明的第二個(gè)實(shí)施例中，在輸出功率設(shè)定數(shù)據(jù)的過程中的功率設(shè)定存儲(chǔ)器的操作的時(shí)序圖；圖21是說明作為本發(fā)明第三個(gè)實(shí)施例的信息記錄設(shè)備的概略配置的方框圖；和圖22是說明在圖21的信息記錄設(shè)備中進(jìn)行的激光功率校準(zhǔn)過程的時(shí)序圖。
下面將參照附圖解釋本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例。
(I)第一實(shí)施例((DVD-R))首先描述DVD-R的結(jié)構(gòu)。圖1是說明用在本發(fā)明的實(shí)施例中使用的DVD-R結(jié)構(gòu)的一個(gè)例子的透視圖；在圖1中，DVD-R1是顏料型DVD-R，具有顏料膜5，信息可僅一次寫入顏料膜5。DVD-R1上設(shè)有溝槽軌跡2，用作信息記錄軌跡的一個(gè)例子；以及平坦部分軌跡3，用作引導(dǎo)軌跡的一個(gè)例子，將諸如激光束等光束B導(dǎo)入溝槽軌跡2，光束B用作再現(xiàn)光或記錄光的一個(gè)例子。
此外，DVD-R1上還設(shè)有用于保護(hù)它們的保護(hù)膜7；和鍍金表面6，用于在再現(xiàn)記錄信息時(shí)反射光束B。然后，對(duì)應(yīng)于DVD-R1的預(yù)信息的預(yù)凹坑4形成在平坦部分軌跡3上。預(yù)凹坑4在制作DVD-R1的過程中事先形成。
此外，在DVD-R1中，溝槽軌跡2以對(duì)應(yīng)于DVD-R1的旋轉(zhuǎn)速度的頻率擺動(dòng)。在制作DVD-R1的過程中，事先進(jìn)行通過溝槽軌跡2的擺動(dòng)而進(jìn)行的記錄旋轉(zhuǎn)控制信息的操作，類似于預(yù)凹坑4。
然后，當(dāng)記錄信息(下文中，此信息意味著原始記錄的信息，如視頻信息等，而不是預(yù)信息)在記錄在DVD-R1上時(shí)，后面描述的信息記錄設(shè)備檢測(cè)溝槽軌跡2的擺動(dòng)頻率，由此獲得旋轉(zhuǎn)控制信息，以便以預(yù)定的旋轉(zhuǎn)速度控制DVD-R1的旋轉(zhuǎn)。信息記錄設(shè)備還檢測(cè)預(yù)凹坑4，由此事先獲得DVD-R1的預(yù)信息，以便根據(jù)包含在預(yù)信息中的最佳輸出信息設(shè)定光束B的最佳輸出等，該光束B用作記錄光的一個(gè)例子。信息記錄設(shè)備還根據(jù)包含在預(yù)信息中的地址信息而在相應(yīng)記錄位置上記錄記錄信息。
當(dāng)記錄記錄信息時(shí)，該記錄信息是通過照射光束B記錄的，以使光束的中心與溝槽軌跡2的中心一致，然后在溝槽軌跡2上形成對(duì)應(yīng)于記錄信息的記錄信息凹坑。此時(shí)，設(shè)定光斑SP的大小，以使其一部分照射到平坦部分軌跡3以及溝槽軌跡2，如圖1所示。
照射到此溝槽軌跡2和平坦部分軌跡3上的光斑SP的反射光用來檢測(cè)復(fù)合信號(hào)，其中使用推挽方法(即，使用由平行于DVD-R1的旋轉(zhuǎn)方向的分割線而劃分的光檢測(cè)器的推挽方法(下文中稱為徑向推挽法))將預(yù)凹坑信號(hào)疊加在擺動(dòng)信號(hào)上。此外，得到從復(fù)合信號(hào)中的預(yù)凹坑信號(hào)分量中檢測(cè)的預(yù)信息。并且，從擺動(dòng)信號(hào)分量中得到用于旋轉(zhuǎn)控制和記錄控制的時(shí)鐘信號(hào)。
接下來，將參照?qǐng)D2描述在本實(shí)施例中事先記錄在DVD-R1上的旋轉(zhuǎn)控制信息和預(yù)信息的記錄格式。在圖2中，上半部分示出了記錄信息中的格式，而下半部分的波形表示溝槽軌跡2的擺動(dòng)狀態(tài)，用于記錄記錄信息(對(duì)應(yīng)于溝槽軌跡2的平面圖)，溝槽軌跡2的擺動(dòng)狀態(tài)和記錄信息之間的每一個(gè)向上的箭頭圖解地指示預(yù)凹坑4形成的位置。這里，在圖2中，為了便于理解，溝槽軌跡2的擺狀態(tài)使用大于實(shí)際幅度的幅度來指示，并且記錄信息記錄在溝槽軌跡2的中心線上。
如圖2所示，在本實(shí)施例中，對(duì)用作信息單元的一個(gè)例子的每一個(gè)同步幀，都事先劃分要記錄到DVD-R1上的記錄信息。然后，一個(gè)記錄扇區(qū)由26個(gè)同步幀組成。而且，一個(gè)ECC(糾錯(cuò)碼)塊由16個(gè)記錄扇區(qū)組成。此外，一個(gè)同步幀的長(zhǎng)度等于對(duì)應(yīng)于1位間隔的單元長(zhǎng)度(下文中稱為T)的1488T倍(1488T)，所述間隔是在記錄記錄信息時(shí)由記錄格式規(guī)定的。此外，對(duì)每個(gè)同步幀同步所必需的同步信息SY記錄在對(duì)應(yīng)于一個(gè)同步幀的前14T的長(zhǎng)度部分上。
另一方面，在本實(shí)施例中，對(duì)每個(gè)同步幀記錄要記錄在DVD-R1上的預(yù)信息。當(dāng)使用預(yù)凹坑4記錄預(yù)信息時(shí)，指示預(yù)信息中的同步信號(hào)的一個(gè)預(yù)凹坑4總是形成在平坦部分軌跡3上，與記錄記錄信息的每一個(gè)同步幀中的同步信息SY的區(qū)域相鄰。此外，帶有要記錄的預(yù)信息內(nèi)容(地址信息等)的一個(gè)或兩個(gè)預(yù)凹坑4形成在平坦部分軌跡3上，與同步幀中的除同步信息SY之外的前半部分相鄰(此外，還有一種情況，根據(jù)要記錄的預(yù)信息的內(nèi)容，預(yù)凹坑4不形成在同步幀中的除同步信息SY之外的前半部分中)。
此時(shí)，在本實(shí)施例中，在一個(gè)記錄扇區(qū)中，預(yù)凹坑4只形成在偶數(shù)同步幀(下文中稱為偶數(shù)幀)上或只形成在奇數(shù)同步幀(下文中稱為奇數(shù)幀)上，然后記錄預(yù)信息。也就是說，在圖2中，如果預(yù)凹坑4形成在偶數(shù)幀(由圖2中的向上的實(shí)線箭頭指示)上，預(yù)凹坑4不形成在偶數(shù)幀之前或之后的奇數(shù)幀上。
另一方面，在溝槽軌跡2上，擺動(dòng)在所有的同步幀上以140kHz的標(biāo)準(zhǔn)擺動(dòng)頻率f0(即，一個(gè)同步幀對(duì)應(yīng)于8個(gè)波的頻率)進(jìn)行。然后，由后面所述的預(yù)格式檢測(cè)器檢測(cè)用于主軸電機(jī)的旋轉(zhuǎn)控制的信號(hào)和用于記錄信息的記錄控制的信號(hào)，以便從旋轉(zhuǎn)光盤檢測(cè)擺動(dòng)頻率和預(yù)凹坑信號(hào)。
((信息記錄設(shè)備))接下來，下面將參照?qǐng)D3至圖5描述在本發(fā)明的第一實(shí)施例中的信息記錄設(shè)備。
如圖3所示，本實(shí)施例中的信息記錄設(shè)備設(shè)有光拾取器10、激光二極管11、預(yù)格式檢測(cè)器12、定時(shí)產(chǎn)生器13、功率設(shè)定存儲(chǔ)器14、記錄模式產(chǎn)生器15、策略電路16、記錄電流產(chǎn)生器17、非對(duì)稱測(cè)量部分18、控制判斷部分19、采樣保持電路20和缺陷檢測(cè)器21。
光拾取器10是具有偏振光束分離器、物鏡、光檢測(cè)器等(未示出)的器件，并將激光二極管11輸出的光束B照射到DVD-R1的信息記錄表面，以使記錄數(shù)字信息被記錄。此外，光拾取器10根據(jù)來自DVD-R1的光束B的反射光，利用徑向推挽法提取復(fù)合信號(hào)CX，該復(fù)合信號(hào)CX包含與預(yù)凹坑4和溝槽軌跡2的擺動(dòng)頻率相應(yīng)的信息，然后將該信號(hào)CX輸出到預(yù)格式檢測(cè)器12。該復(fù)合信號(hào)CX是溝槽軌跡2的擺動(dòng)信號(hào)和平坦部分軌跡3上與溝槽軌跡2相鄰的基于預(yù)凹坑4的預(yù)凹坑信號(hào)的疊加信號(hào)，如圖4的信號(hào)(a)所示。此外，光拾取器10將來自信息記錄表面的光束B的反射光的和信號(hào)輸出到非對(duì)稱測(cè)量部分18和缺陷檢測(cè)器21，作為再現(xiàn)信號(hào)RF，如圖4中的信號(hào)(b)所示。
在圖4中，示出了光拾取器10輸出的復(fù)合信號(hào)CX(a)、預(yù)格式檢測(cè)器12輸出的預(yù)凹坑檢測(cè)信號(hào)LPP(b)、預(yù)格式檢測(cè)器12輸出的抽取的擺動(dòng)信號(hào)Wb(c)、定時(shí)產(chǎn)生器13輸出的時(shí)鐘信號(hào)CK(d)、光拾取器10輸出的再現(xiàn)信號(hào)RF(e)和缺陷檢測(cè)器21輸出的缺陷檢測(cè)信號(hào)DF(f)。
預(yù)格式檢測(cè)器12上設(shè)有一擺動(dòng)檢測(cè)器(未示出)，包括將標(biāo)準(zhǔn)擺動(dòng)頻率f0作為中心頻率的一帶通濾波器等；以及一比較器(未示出)，用于將擺動(dòng)檢測(cè)器檢測(cè)的擺動(dòng)信號(hào)轉(zhuǎn)換為二進(jìn)制值。預(yù)格式檢測(cè)器12根據(jù)光拾取器10輸出的復(fù)合信號(hào)CX，輸出如圖4(c)所示的抽取的擺動(dòng)信號(hào)Wb。此外，預(yù)格式檢測(cè)器12上還設(shè)有一預(yù)凹坑信號(hào)檢測(cè)器(未示出)，并根據(jù)光拾取器10輸出的復(fù)合信號(hào)CX來檢測(cè)預(yù)凹坑信號(hào)，并且還將所檢測(cè)的預(yù)凹坑信號(hào)作為如圖4(b)所示的預(yù)凹坑檢測(cè)信號(hào)LPP輸出。
如圖5所示，定時(shí)產(chǎn)生器13上設(shè)有同步檢測(cè)器30；擺動(dòng)PLL(Phase LockedLoop，鎖相環(huán))電路31；同步門產(chǎn)生器32；N元自激計(jì)數(shù)器(N-ary free runningcounter，F(xiàn)RC)33；計(jì)數(shù)器34；和非門35。定時(shí)產(chǎn)生器13根據(jù)預(yù)格式檢測(cè)器12輸出的抽取擺動(dòng)信號(hào)Wb和預(yù)凹坑檢測(cè)信號(hào)LPP產(chǎn)生時(shí)鐘信號(hào)CK和位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM，然后將時(shí)鐘信號(hào)CK輸出到策略電路16和記錄模式產(chǎn)生器15，并且將位置定時(shí)信號(hào)TM輸出到功率設(shè)定存儲(chǔ)器14和控制判斷部分19。
圖5所示的同步檢測(cè)器30具有一觸發(fā)器電路(未示出)等，然后利用這樣的事實(shí)用于產(chǎn)生與一個(gè)記錄扇區(qū)的引導(dǎo)同步幀相應(yīng)的同步信號(hào)的三個(gè)預(yù)凹坑4，在溝槽軌跡2的擺動(dòng)的最大幅度位置連續(xù)形成，由此檢測(cè)表示所述一個(gè)記錄扇區(qū)的引導(dǎo)的預(yù)凹坑4，并產(chǎn)生檢測(cè)同步信號(hào)Sdt。簡(jiǎn)言之，當(dāng)預(yù)格式檢測(cè)器12向同步檢測(cè)器30輸出如圖6的信號(hào)(a)所指示的預(yù)凹坑檢測(cè)信號(hào)LPP時(shí)，如果同步檢測(cè)器30連續(xù)地檢測(cè)從低電平到高電平上升的三個(gè)預(yù)凹坑檢測(cè)信號(hào)LPP，則同步檢測(cè)器30產(chǎn)生從低電平到高電平上升的檢測(cè)同步信號(hào)Sdt，如圖6的信號(hào)(b)所示，并將該信號(hào)Sdt輸出到同步門產(chǎn)生器32。
在圖6中，示出了發(fā)送到同步檢測(cè)器的預(yù)凹坑檢測(cè)信號(hào)LPP(a)、由同步檢測(cè)器輸出的檢測(cè)同步信號(hào)Sdt(b)、由同步門產(chǎn)生器輸出的扇區(qū)同步信號(hào)Ss(c)、由N元自激計(jì)數(shù)器輸出的進(jìn)位信號(hào)CR(d)和由計(jì)數(shù)器輸出的位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM(e)。
同步門產(chǎn)生器32上設(shè)有一觸發(fā)器電路、一計(jì)數(shù)器等(這些都沒有示出)，然后在檢測(cè)同步信號(hào)Sdt從高電平降到低電平的定時(shí)處，啟動(dòng)對(duì)擺動(dòng)PLL電路31輸出的時(shí)鐘信號(hào)CK進(jìn)行計(jì)數(shù)的操作，并且，當(dāng)計(jì)數(shù)值達(dá)到38037T時(shí)，輸出從低電平到高電平上升的扇區(qū)同步信號(hào)Ss，如圖6(c)所示。值38037T是其中從一個(gè)記錄扇區(qū)的周期(1488T×26)中減去與抽取擺動(dòng)信號(hào)Sb的周期的3.5倍相等的651T所得的值。預(yù)凹坑4在一個(gè)記錄扇區(qū)的引導(dǎo)同步幀中連續(xù)形成。在預(yù)凹坑信號(hào)LPP對(duì)應(yīng)于所述三個(gè)預(yù)凹坑4中的引導(dǎo)預(yù)凹坑4輸出之后，直到檢測(cè)同步信號(hào)Sdt由同步檢測(cè)器30輸出之前的時(shí)間周期，被設(shè)定成與抽取擺動(dòng)信號(hào)Wb的周期(186T)的3.5倍相等的651T。這樣，同步門檢測(cè)器32計(jì)數(shù)38037T，38037T是其中從對(duì)應(yīng)于一個(gè)記錄扇區(qū)的周期(1488T×26)中減去651T所得的時(shí)間周期，并且相應(yīng)地估計(jì)一個(gè)記錄扇區(qū)的引導(dǎo)的定時(shí)，然后在該定時(shí)輸出扇區(qū)同步信號(hào)Ss。
在輸入扇區(qū)同步信號(hào)Ss后，N元自激計(jì)數(shù)器33啟動(dòng)對(duì)擺動(dòng)PLL電路31輸出的時(shí)鐘信號(hào)CK(周期T)進(jìn)行計(jì)數(shù)的操作。之后，N元自激計(jì)數(shù)器33在每次計(jì)數(shù)值到達(dá)1488T時(shí)清零，并重復(fù)計(jì)數(shù)操作。然后，當(dāng)計(jì)數(shù)值到達(dá)1488T時(shí)，輸出從低電平到高電平上升的進(jìn)位信號(hào)CR，如圖6(d)所示。簡(jiǎn)言之，該進(jìn)位信號(hào)CR的輸出定時(shí)表示每一個(gè)同步幀的引導(dǎo)定時(shí)。
計(jì)數(shù)器34是n位的二進(jìn)制計(jì)數(shù)器。它在每次進(jìn)位信號(hào)CR從高電平降到低電平時(shí)進(jìn)行計(jì)數(shù)操作。然后，在通過反相器35輸出的扇區(qū)同步信號(hào)Ss從低電平上升到高電平時(shí)的定時(shí)處對(duì)計(jì)數(shù)值清零。這樣，在本實(shí)施例中，每當(dāng)進(jìn)位信號(hào)CR從高電平降到低電平時(shí)，計(jì)數(shù)器34就輸出指示0到25的5位的位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM，如圖6(e)所示。如上所述，進(jìn)位信號(hào)CR在每個(gè)同步幀的引導(dǎo)定時(shí)處輸出。因此，位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM表示作為每個(gè)同步幀的位置信息的數(shù)目。
擺動(dòng)PLL電路31上設(shè)有一相位比較器、一低通濾波器、一VCO(VoltageControlled Oscillator，壓控振蕩器)和一分頻器(divider)(這些都沒有示出)，并以周期T輸出時(shí)鐘信號(hào)CK。相位比較器比較抽取擺動(dòng)信號(hào)Wb的相位和其中將抽取擺動(dòng)信號(hào)Wb分配為輸入的一信號(hào)的相位，然后輸出對(duì)應(yīng)于這兩個(gè)比較信號(hào)之間的相位差的誤差信號(hào)。低通濾波器允許該誤差信號(hào)中的低頻分量通過。VCO基于低通濾波器的輸出而改變振蕩頻率，然后輸出時(shí)鐘信號(hào)CK。分頻器對(duì)振蕩輸出時(shí)鐘信號(hào)CK分頻，然后產(chǎn)生與抽取擺動(dòng)信號(hào)Wb的頻率相等的一信號(hào)，并將其輸出到相位比較器的其它輸入端。這樣，由這樣的擺動(dòng)PLL電路31輸出的時(shí)鐘信號(hào)CK是其相位與抽取擺動(dòng)信號(hào)Wb的相位同步的一信號(hào)。并且，時(shí)鐘信號(hào)CK的周期設(shè)定為T(T對(duì)應(yīng)于8-16調(diào)制之后的數(shù)據(jù)系統(tǒng)中的一位(一通道位)間隔)。時(shí)鐘信號(hào)CK不僅發(fā)送到定時(shí)產(chǎn)生器13中的各個(gè)電路，而且還發(fā)送到記錄模式產(chǎn)生器15和策略電路16，如圖3所示，并用作記錄時(shí)的標(biāo)準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)。如上所述，在本實(shí)施例中，位置信息產(chǎn)生器上設(shè)有同步檢測(cè)器30、擺動(dòng)PLL電路31、同步門檢測(cè)器32、N元自激計(jì)數(shù)器33和計(jì)數(shù)器34。
再回到圖3，描述功率設(shè)定存儲(chǔ)器14。功率設(shè)定存儲(chǔ)器14上設(shè)有計(jì)數(shù)器40、非門41、選擇器42和雙端口存儲(chǔ)器43，如圖7所示。根據(jù)位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM輸出用于DVD-R1上的單元測(cè)試記錄區(qū)中每一個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)的記錄功率設(shè)定值。并且，控制判斷部分19連接到功率設(shè)定存儲(chǔ)器。此外，當(dāng)檢測(cè)到缺陷時(shí)，按照控制判斷部分19的控制，將記錄功率設(shè)定值存儲(chǔ)在雙端口存儲(chǔ)器43的存儲(chǔ)區(qū)。
用作存儲(chǔ)裝置的一個(gè)例子的雙端口存儲(chǔ)器43上設(shè)有兩個(gè)端口，即端口P1和端口P2。數(shù)據(jù)可獨(dú)立寫入各個(gè)端口和從各個(gè)端口讀出。在本實(shí)施例中，通過端口P1讀出數(shù)據(jù)，并通過端口P2寫入數(shù)據(jù)。本實(shí)施例的配置為上述位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM發(fā)送到端口P1的地址端。當(dāng)讀出信號(hào)從控制判斷部分19輸出到端口P1的讀出端時(shí)，存儲(chǔ)在由位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM表示的地址中的功率設(shè)定值作為功率設(shè)定數(shù)據(jù)PD從端口P1的數(shù)據(jù)端輸出。并且，功率設(shè)定數(shù)據(jù)PD由控制判斷部分19讀取。此外，本實(shí)施例還配置為選擇器42的輸出端連接到端口P2的地址端，并且選擇信號(hào)從控制判斷部分19發(fā)送到選擇器42的選擇端。如果選擇信號(hào)是在高電平，選擇器42的H輸入端變?yōu)橛行В⑶椅恢枚〞r(shí)數(shù)據(jù)TM發(fā)送到端口P2的地址端。并且，數(shù)據(jù)從控制判斷部分19輸出到端口P2的數(shù)據(jù)端。這樣，Step(級(jí))1到Step16的功率設(shè)定值從控制判斷部分19輸出，并且，更新由定時(shí)產(chǎn)生器13輸出的位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM。此時(shí)，寫信號(hào)從控制判斷部分19輸出到端口P2的寫入端。因此，在雙端口存儲(chǔ)器43中，Step1到Step16的功率設(shè)定值被寫入由位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM所表示的地址值的存儲(chǔ)區(qū)。此外，雙端口存儲(chǔ)器43具有由地址值0到25指定的存儲(chǔ)區(qū)。因此，地址值0到15的存儲(chǔ)區(qū)是寫入正常的功率設(shè)定值的區(qū)，而地址值16到25的存儲(chǔ)區(qū)是當(dāng)檢測(cè)到缺陷時(shí)的保存區(qū)。寫入到雙端口存儲(chǔ)器43的存儲(chǔ)區(qū)的Step1到Step16的這樣的功率設(shè)定值，是當(dāng)激光二極管11的記錄功率劃分為16級(jí)或階段時(shí)的值，并且事先存儲(chǔ)在控制判斷部分19的存儲(chǔ)器(未示出)中。此外，如果選擇信號(hào)是在低電平，選擇器42的L輸入端變?yōu)橛行?，并且來自?jì)數(shù)器40的輸出發(fā)送到端口P2的地址端。在缺陷檢測(cè)器21輸出的缺陷檢測(cè)信號(hào)DF從高電平降到低電平時(shí)，計(jì)數(shù)器40將計(jì)數(shù)值增1。在本實(shí)施例中，計(jì)數(shù)器40的初始值設(shè)為“16”。盡管在選擇信號(hào)變?yōu)榈碗娖綍r(shí)將計(jì)數(shù)器40的輸出發(fā)送到端口P2的地址端，但在缺陷檢測(cè)信號(hào)DF從低電平上升到高電平時(shí)的定時(shí)處，控制判斷部分19將選擇信號(hào)從高電平切換到低電平。在上述配置的情況下，如果輸出位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM 0到25，如圖8的數(shù)據(jù)(a)所示，則位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM發(fā)送到端口P1的地址端，如圖8的地址信號(hào)(b)所示。
在圖8中，示出了由定時(shí)產(chǎn)生器輸出的位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM的輸出值(a)、輸入到雙端口存儲(chǔ)器的端口1的地址信號(hào)的輸出值(b)、輸入到端口1的數(shù)據(jù)信號(hào)的輸出值(c)、輸入到端口2的地址信號(hào)的輸出值(d)、輸入到端口2的數(shù)據(jù)信號(hào)的輸出值(e)和由缺陷檢測(cè)器輸出的缺陷檢測(cè)信號(hào)DF的輸出值(f)。
然后，從端口P1的數(shù)據(jù)端讀出存儲(chǔ)在由相應(yīng)的位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM代表的地址值的存儲(chǔ)區(qū)中的功率設(shè)定值Step1到Step16，并將其作為功率設(shè)定數(shù)據(jù)PD輸出。這里，如果缺陷檢測(cè)數(shù)據(jù)DF在圖8(f)所示的時(shí)間t1從低電平上升到高電平，則控制判斷部分19將選擇信號(hào)切換到低電平，并使選擇器42的L輸入端有效。因此，將計(jì)數(shù)器40的輸出發(fā)送到端口P2的地址端。在t1時(shí)刻，從計(jì)數(shù)器40輸出的值為初始值“16”，如圖8(d)所示。然后，將值“16”發(fā)送到端口P2的地址端。并且，在t1時(shí)刻，從端口P1的數(shù)據(jù)端讀出的功率設(shè)定值為值Step2，如圖8(c)所示。因此，由于當(dāng)缺陷檢測(cè)數(shù)據(jù)DF在t2時(shí)刻從高電平降到低電平時(shí)，控制判斷部分19在t2時(shí)刻的定時(shí)處輸出寫信號(hào)到端口P2的寫入端，因此，值Step2寫入地址值16的區(qū)。并且，在當(dāng)缺陷檢測(cè)數(shù)據(jù)DF從高電平降到低電平時(shí)的t2時(shí)刻，計(jì)數(shù)器40的計(jì)數(shù)值增1，并變?yōu)椤?7”，如圖8(d)所示。此外，類似地，如圖8(f)所示，在當(dāng)缺陷檢測(cè)數(shù)據(jù)DF從低電平上升到高電平時(shí)的t3時(shí)刻，將該時(shí)刻讀出的數(shù)據(jù)Step5寫入地址值17的區(qū)。于是，計(jì)數(shù)器40的輸出值變?yōu)椤?8”。如上所述新寫入的地址值16和地址值17的數(shù)據(jù)在位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM的值變?yōu)?6和17時(shí)讀出，如圖8(b)和(c)所示，并作為功率設(shè)定數(shù)據(jù)PD輸出。如上所述，在本實(shí)施例中，如果不輸出缺陷檢測(cè)信號(hào)DF，則功率設(shè)定值Step1到Step16作為功率設(shè)定數(shù)據(jù)PD分別一次輸出一個(gè)。然而，在輸出缺陷檢測(cè)信號(hào)DF時(shí)要讀出的功率設(shè)定值后來再次作為功率設(shè)定數(shù)據(jù)PD輸出。
記錄模式產(chǎn)生器15是用于產(chǎn)生如圖9的數(shù)據(jù)(a)所示的記錄數(shù)據(jù)WD的電路。在本實(shí)施例中，記錄模式產(chǎn)生器15在對(duì)應(yīng)于一個(gè)同步幀的周期(即，一個(gè)循環(huán))內(nèi)產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于最短凹坑的3T數(shù)據(jù)和對(duì)應(yīng)于最長(zhǎng)凹坑的11T數(shù)據(jù)，作為測(cè)試記錄數(shù)據(jù)。上面所述的時(shí)鐘信號(hào)CD從定時(shí)產(chǎn)生器13發(fā)送到記錄模式產(chǎn)生器15。用該時(shí)鐘信號(hào)CD同步產(chǎn)生這些記錄數(shù)據(jù)。
在圖9中，示出了由記錄模式產(chǎn)生器15輸出的記錄數(shù)據(jù)WD(a)、由策略電路16輸出的激光調(diào)制信號(hào)MS(b)、由記錄電流產(chǎn)生器17輸出的記錄電流WC(c)、輸入到記錄電流產(chǎn)生器17的功率設(shè)定數(shù)據(jù)PD(d)、由光拾取器10輸出的再現(xiàn)信號(hào)RF(e)和采樣保持電路20的輸出信號(hào)Dsh(f)。
策略電路16是用于將記錄模式產(chǎn)生器15輸出的記錄數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為如圖9所示的激光調(diào)制信號(hào)MS的電路。然后，策略電路16對(duì)記錄數(shù)據(jù)執(zhí)行脈沖長(zhǎng)度控制、多脈沖劃分等，以便產(chǎn)生激光調(diào)制信號(hào)MS。如此轉(zhuǎn)換的主要目的是保護(hù)彼此相鄰的凹坑之間的熱干擾和熱累積，以減少包含在再現(xiàn)信號(hào)中的抖動(dòng)分量。
用作記錄裝置的一個(gè)例子的記錄電流產(chǎn)生器17，是用于根據(jù)功率設(shè)定存儲(chǔ)器14輸出的功率設(shè)定數(shù)據(jù)PD來調(diào)制策略電路16所輸出的激光調(diào)制信號(hào)MS的幅度的電路。因此，如果功率設(shè)定數(shù)據(jù)PD指示如圖9(d)所示的值Step1，則記錄電流產(chǎn)生器17輸出的記錄電流WC具有對(duì)應(yīng)于圖9(c)所示的值Step1的電流值。如果功率設(shè)定數(shù)據(jù)PD指示如圖9(d)所示的值Step2，則記錄電流產(chǎn)生器17輸出的記錄電流WC具有對(duì)應(yīng)于圖9(c)所示的值Step2的電流值。因此，激光二極管11的功率電平在當(dāng)激光調(diào)制信號(hào)MS處于高電平時(shí)的周期中變?yōu)閷?duì)應(yīng)于功率設(shè)定數(shù)據(jù)PD的記錄功率電平，并在激光調(diào)制信號(hào)MS處于低電平的周期中變?yōu)楹愣ǖ牡碗娖?即，再現(xiàn)功率電平)。
非對(duì)稱測(cè)量部分18是這樣的電路用于為每個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)，對(duì)于由上述相應(yīng)電路寫入到DVD-R1的測(cè)試記錄區(qū)的記錄數(shù)據(jù)的再現(xiàn)信號(hào)，測(cè)量峰值和谷值(bottom value)，然后其轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)，并將其輸出到控制判斷部分19。非對(duì)稱測(cè)量部分18上設(shè)有峰值保持電路50、谷值保持電路51和A/D(模擬至數(shù)字)轉(zhuǎn)換電路52和53，如圖10所示。然后，再現(xiàn)信號(hào)RF的峰值由峰值保持電路50測(cè)量，再現(xiàn)信號(hào)RF的谷值由谷值保持電路51測(cè)量，峰值和谷值分別由A/D轉(zhuǎn)換電路52和53轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)PK和BM。如果測(cè)試信號(hào)記錄在對(duì)應(yīng)于一個(gè)同步幀的單元測(cè)試記錄區(qū)(其區(qū)號(hào)碼為從0到25)上并在其后被再現(xiàn)，則輸出如圖11所示的再現(xiàn)信號(hào)RF，所述測(cè)試信號(hào)具有如上所述的3T和11T周期，并被根據(jù)對(duì)應(yīng)于功率設(shè)定值Step1到Step16的電流值進(jìn)行了幅度調(diào)制。
在圖12中，示出了對(duì)應(yīng)于單元測(cè)試記錄區(qū)的用作再現(xiàn)信號(hào)的基礎(chǔ)的記錄數(shù)據(jù)WD(a)、再現(xiàn)信號(hào)RF(b)和位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM(c)。
圖12(b)示出了在圖11所示的一個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)中的放大的再現(xiàn)信號(hào)RF。如圖12(b)所示，對(duì)每一個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)產(chǎn)生短凹坑塊和長(zhǎng)凹坑塊中的相應(yīng)再現(xiàn)信號(hào)RF。這些再現(xiàn)信號(hào)RF對(duì)每個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)具有不同的值，這點(diǎn)可從圖11中理解到。原因如下。如上所述，每當(dāng)改變位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM(從0到25)時(shí)，不同的功率設(shè)定值Step1到Step16作為功率設(shè)定數(shù)據(jù)PD輸出，并根據(jù)該功率設(shè)定數(shù)據(jù)PD對(duì)記錄數(shù)據(jù)WD的幅度進(jìn)行調(diào)制，以記錄測(cè)試信號(hào)。因此，在每一個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)中，在預(yù)定條件下確定在短凹坑塊和長(zhǎng)凹坑塊中的相應(yīng)再現(xiàn)信號(hào)RF的再現(xiàn)狀態(tài)，以便對(duì)這兩個(gè)塊選擇在最佳狀態(tài)下再現(xiàn)的單元測(cè)試記錄區(qū)。此外，從雙端口存儲(chǔ)器43讀出用于記錄在單元測(cè)試記錄區(qū)上的功率設(shè)定數(shù)據(jù)PD的功率設(shè)定值，以便選擇對(duì)信息記錄設(shè)備和DVD-R1的組合為最佳的記錄功率的功率設(shè)定值。在本實(shí)施例中，在短凹坑塊中的峰值PK1和谷值BM1以及在長(zhǎng)凹坑塊中的峰值PK2和谷值BM2從非對(duì)稱測(cè)量部分18輸出到控制判斷部分19。然后，控制判斷部分19計(jì)算在短凹坑塊中的峰值PK1和谷值BM1的平均值A(chǔ)VE1以及在長(zhǎng)凹坑塊中的峰值PK2和谷值BM2的平均值A(chǔ)VE2，然后計(jì)算在短凹坑塊中的平均值A(chǔ)VE1和長(zhǎng)凹坑塊中的平均值A(chǔ)VE2之間的差值(即，非對(duì)稱值)，并選擇作為最佳功率設(shè)定值的用于記錄在差值(即，非對(duì)稱值)為0的單元測(cè)試記錄區(qū)上的一功率設(shè)定值。圖13是對(duì)每一個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)描繪在短凹坑塊中的平均值A(chǔ)VE1和長(zhǎng)凹坑塊中的平均值A(chǔ)VE2之間的這種差值(即，非對(duì)稱值)的圖。在本實(shí)施例中，其中所述差值(即，非對(duì)稱值)為0的、在記錄再現(xiàn)信號(hào)中使用的記錄功率被選擇為最佳記錄功率。因此，在圖13的情況下，在區(qū)號(hào)碼為8的單元測(cè)試記錄區(qū)上進(jìn)行記錄時(shí)使用的功率設(shè)定值Step9被定義為最佳功率設(shè)定值。然而，本發(fā)明不限于這樣的配置。因此，可通過事先測(cè)量所述差值(即，非對(duì)稱值)和包含在再現(xiàn)信號(hào)中的抖動(dòng)分量之間的關(guān)系來選擇最佳功率，然后盡可能減少抖動(dòng)分量。
用作記錄控制裝置和功率設(shè)定值存儲(chǔ)裝置的一個(gè)例子的控制判斷部分19根據(jù)非對(duì)稱測(cè)量部分18輸出的測(cè)量值來計(jì)算非對(duì)稱值，如上所述，控制判斷部分19還選擇功率設(shè)定的最佳值?？刂婆袛嗖糠?9控制功率設(shè)定存儲(chǔ)器14，以使功率設(shè)定數(shù)據(jù)根據(jù)位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM的輸出定時(shí)來輸出。此外，當(dāng)檢測(cè)到缺陷時(shí)，控制判斷部分19在此時(shí)將用于位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM的功率設(shè)定值存儲(chǔ)到雙端口存儲(chǔ)器中，作為用于另一個(gè)位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM的功率設(shè)定值。此外，控制判斷部分19將寫數(shù)據(jù)WR輸出到記錄電流產(chǎn)生器17，以執(zhí)行記錄操作。
采樣保持(S/H)電路20是這樣的電路用于在記錄數(shù)據(jù)WD處于低電平的時(shí)間周期中對(duì)再現(xiàn)信號(hào)RF采樣，如圖9(e)和(f)所示，并在記錄數(shù)據(jù)WD處于高電平的時(shí)間周期中保持所采樣值。以此方式，僅當(dāng)激光二極管11的輸出功率處于再現(xiàn)電平時(shí)才對(duì)再現(xiàn)信號(hào)RF采樣。以此方式，在本實(shí)施例中，位于間隔部分(space portion)但不位于產(chǎn)生凹坑的標(biāo)記部分處的再現(xiàn)信號(hào)RF用作用于檢測(cè)缺陷的再現(xiàn)信號(hào)RF。即便缺陷出現(xiàn)在該間隔部分，反射的降低也會(huì)使再現(xiàn)信號(hào)RF的電平減小，這就能使缺陷被檢測(cè)到。
缺陷檢測(cè)器21是用于根據(jù)采樣保持電路20的輸出信號(hào)Dsh來檢測(cè)缺陷的電路。詳細(xì)講，如圖14所示，缺陷檢測(cè)器21上設(shè)有峰值保持電路60；峰值保持電路61，其時(shí)間常數(shù)比峰值保持電路60的時(shí)間常數(shù)大；電平調(diào)節(jié)部分62；用于調(diào)節(jié)峰值保持電路61的輸出信號(hào)的幅度電平；和比較器63，用于比較峰值保持電路61的輸出信號(hào)的電平和電平調(diào)節(jié)部分62的輸出信號(hào)的電平。
峰值保持電路60僅對(duì)相應(yīng)于設(shè)定時(shí)間常數(shù)的周期保持來自采樣保持電路20的輸出信號(hào)Dsh的峰值電平。根據(jù)本發(fā)明，這樣的時(shí)間常數(shù)是根據(jù)需要補(bǔ)償?shù)娜毕莸淖钚∪毕輥泶_定的。例如，該時(shí)間常數(shù)設(shè)定為大約幾個(gè)微秒。由于設(shè)定了此時(shí)間常數(shù)，其中幅度電平緊隨著缺陷的出現(xiàn)而降落的輸出信號(hào)Dsh的包絡(luò)信號(hào)E1，從峰值保持電路60輸出到比較器63的反向輸入端。
另一方面，峰值保持電路61的時(shí)間常數(shù)足夠長(zhǎng)地大于峰值保持電路60的時(shí)間常數(shù)，并足以由后面描述的檢測(cè)方法檢測(cè)到。例如，該時(shí)間常數(shù)設(shè)定為大約幾個(gè)毫秒。由于設(shè)定了此時(shí)間常數(shù)，輸出信號(hào)Dsh的包絡(luò)信號(hào)E2(其中隨著缺陷的出現(xiàn)而在足夠的延遲后發(fā)生幅度電平的降落)，從峰值保持電路61輸出到電平調(diào)節(jié)部分62。
電平調(diào)節(jié)部分62執(zhí)行調(diào)節(jié)，以使峰值保持電路61輸出的包絡(luò)信號(hào)E2的幅度電平在沒有引入缺陷的情況下略低于峰值保持電路60輸出的包絡(luò)信號(hào)E1的幅度電平，之后，電平調(diào)節(jié)部分62向比較器63的非反向輸入端輸出包絡(luò)信號(hào)E3，在該包絡(luò)信號(hào)E3上執(zhí)行了這樣的調(diào)節(jié)。
然后，比較器63將相應(yīng)的發(fā)送的包絡(luò)信號(hào)E1和E3互相比較。如果不引入缺陷，則峰值保持電路60和61兩者都繼續(xù)保持輸出信號(hào)Dsh的峰值。然而，峰值保持電路61輸出的包絡(luò)信號(hào)E2的幅度電平由電平調(diào)節(jié)部分62設(shè)定得略低于包絡(luò)信號(hào)E1的幅度電平。這樣，低電平信號(hào)由比較器63輸出。
另一方面，如果引起了缺陷，則由于如上所述峰值保持電路60的時(shí)間常數(shù)短，因此包絡(luò)信號(hào)E1的幅度電平隨著缺陷的出現(xiàn)而立即下降。然而，即使引起缺陷，包絡(luò)信號(hào)E3的幅度電平也不隨著缺陷的出現(xiàn)而立即下降，這是由于峰值保持電路61的足夠長(zhǎng)的時(shí)間常數(shù)。因此，由比較器63輸出與引起缺陷的周期(從時(shí)刻t10到時(shí)刻t11)相應(yīng)的高電平的缺陷檢測(cè)信號(hào)DF，如圖4(f)所示。
這樣的缺陷檢測(cè)信號(hào)DF輸出到控制判斷部分19和功率設(shè)定存儲(chǔ)器14，如上所述。然后，執(zhí)行功率設(shè)定值的重寫過程。
((激光功率校準(zhǔn)過程))接下來，下面將參照?qǐng)D15A和15B中的流程圖和圖16中的時(shí)序圖描述由如上所述的本實(shí)施例的信息記錄設(shè)備所執(zhí)行的激光功率校準(zhǔn)過程。
在圖16中，示出了發(fā)送到雙端口存儲(chǔ)器43的位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM(a)、輸入到雙端口存儲(chǔ)器43的端口2的地址信號(hào)(b)、輸入到端口2的數(shù)據(jù)信號(hào)(c)、輸入到端口1的地址信號(hào)(d)、輸入到端口1的數(shù)據(jù)信號(hào)(e)、輸入到選擇器42的選擇信號(hào)SEL(f)、輸入到端口1的寫信號(hào)(g)、輸入到端口1的讀出信號(hào)(h)、輸入到控制判斷部分19的缺陷檢測(cè)信號(hào)(i)和用作輸入到端口2的地址信號(hào)的一個(gè)例子的計(jì)數(shù)器40的輸出值(j)。
在本實(shí)施例的DVD-R1中，在程序區(qū)進(jìn)行通常的記錄和再現(xiàn)信息的操作，而本實(shí)施例中的激光功率校準(zhǔn)過程是在引導(dǎo)區(qū)中存在的測(cè)試記錄區(qū)中進(jìn)行的。此外，本實(shí)施例中的測(cè)試記錄區(qū)的大小相應(yīng)于一個(gè)記錄扇區(qū)，即，26個(gè)同步幀，并且，每個(gè)測(cè)試記錄區(qū)都由大小相應(yīng)于一個(gè)同步幀的單元測(cè)試記錄區(qū)組成。從區(qū)號(hào)碼0到區(qū)號(hào)碼15的單元測(cè)試記錄區(qū)是其中測(cè)試信號(hào)的測(cè)試記錄與檢測(cè)缺陷的存在或不存在無關(guān)地進(jìn)行的區(qū)域。并且，區(qū)號(hào)碼16到區(qū)號(hào)碼25的單元測(cè)試記錄區(qū)是保存區(qū)。因此，僅當(dāng)檢測(cè)到缺陷時(shí)，其功率設(shè)定值與要記錄在檢測(cè)到缺陷的、從區(qū)號(hào)碼0到區(qū)號(hào)碼15的單元測(cè)試記錄區(qū)上的記錄數(shù)據(jù)的功率設(shè)定值相同的記錄數(shù)據(jù)記錄在那些保存區(qū)中。
此外，在接通信息記錄設(shè)備的電源的初始設(shè)定時(shí)期，或在按下記錄按鈕(未示出)時(shí)，激光功率校準(zhǔn)過程主要在控制判斷部分19的控制下進(jìn)行。圖15A和15B示出由控制判斷部分19執(zhí)行的控制流程。
首先，當(dāng)啟動(dòng)激光功率校準(zhǔn)過程時(shí)，高電平的信號(hào)從控制判斷部分19發(fā)送到功率設(shè)定存儲(chǔ)器14的選擇器42的選擇端(參見圖7)，如圖15A所示(步驟S1)。因此，由定時(shí)產(chǎn)生器13輸出的位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM發(fā)送到雙端口存儲(chǔ)器43的端口2的地址端。接下來，判斷位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM是否被更新(步驟S2)。定時(shí)產(chǎn)生器13的計(jì)數(shù)器34(參照?qǐng)D5)在來自同步門產(chǎn)生器32(參照?qǐng)D5)的一個(gè)記錄扇區(qū)的引導(dǎo)定時(shí)處清零，即，在表示測(cè)試記錄區(qū)的引導(dǎo)定時(shí)的扇區(qū)同步信號(hào)Ss的高電平引導(dǎo)邊緣被清零。因此，如果判斷出位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM被更新(步驟S2是)，則在t20時(shí)刻(當(dāng)位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM變?yōu)?時(shí))，如圖16所示，將0輸出到雙端口存儲(chǔ)器43的端口2的地址端(參照?qǐng)D16(b)中的時(shí)刻t20的時(shí)序)。接下來，判斷位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM是否等于或大于16(步驟S3)。這里，如果位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM為0(步驟S3否)，則控制判斷部分19輸出功率設(shè)定值到連接到雙端口存儲(chǔ)器43的端口2的數(shù)據(jù)端的數(shù)據(jù)總線(步驟S4)。功率設(shè)定值對(duì)應(yīng)于位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM0到15劃分為從值Step1到Step16的16個(gè)級(jí)或階段，并存儲(chǔ)在控制判斷部分19的存儲(chǔ)器中。如果位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM為0，則輸出值Step1，作為功率設(shè)定值(參照?qǐng)D16(c)中的時(shí)刻t20的時(shí)序)。然后，上升到高電平的寫信號(hào)輸出到雙端口存儲(chǔ)器43的寫入端(參照?qǐng)D16(g)中的時(shí)刻t20的時(shí)序，在步驟S5)。因此，值Step1寫入到雙端口存儲(chǔ)器43的地址值0的區(qū)域，作為功率設(shè)定值(參照?qǐng)D7)。此時(shí)，位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM的值0也輸出到端口1的地址端(參照?qǐng)D16(d)中的時(shí)刻t20的時(shí)序)。因此，在寫入功率設(shè)定值之后經(jīng)歷預(yù)定時(shí)間后的時(shí)刻t21(參照?qǐng)D16)，要發(fā)送到端口1的讀出端的讀出信號(hào)設(shè)定為高電平的允許狀態(tài)(步驟S6)。因此，存儲(chǔ)在地址值0的區(qū)域中的功率設(shè)定值Step1被讀出到端口1的數(shù)據(jù)端(參照?qǐng)D16(e))，并作為功率設(shè)定值PD輸出到記錄電流產(chǎn)生器17。結(jié)果，記錄數(shù)據(jù)WD以相應(yīng)于功率設(shè)定值Step1的記錄功率記錄到區(qū)號(hào)碼為0的單元測(cè)試記錄區(qū)。端口1的數(shù)據(jù)端的該輸出還發(fā)送到控制判斷部分19。由控制判斷部分19判斷要讀出的功率設(shè)定值是否存儲(chǔ)在雙端口存儲(chǔ)器43中(步驟S7)。原因是如果功率設(shè)定值不存儲(chǔ)在雙端口存儲(chǔ)器43的地址值16到25的區(qū)域中，則停止從雙端口存儲(chǔ)器43的讀出操作。然而，如果值Step1作為功率設(shè)定值被存儲(chǔ)(步驟S7是)，則重復(fù)從步驟S2開始的過程。因此，如果沒有檢測(cè)到缺陷，則在此后根據(jù)位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM被從1更新到15的事實(shí)，將功率設(shè)定值Step2到Step16寫入雙端口存儲(chǔ)器43的地址值1到15的區(qū)域，或從該區(qū)域讀出，并將其輸出到記錄電流產(chǎn)生器17。結(jié)果，記錄數(shù)據(jù)WD以相應(yīng)于那些功率設(shè)定值的記錄功率記錄到區(qū)號(hào)碼從1到15的單元測(cè)試記錄區(qū)。如果位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM更新為17(步驟S2是)，則在步驟S3中判斷為“是”。在步驟S4和S5不執(zhí)行寫入功率設(shè)定值的過程。因此，雙端口存儲(chǔ)器43的地址值16到25的區(qū)域保持在初始設(shè)定值0。結(jié)果，在步驟S7判斷出要讀出的功率設(shè)定值不從端口1的數(shù)據(jù)端輸出(步驟S7否)。要輸出到端口1的數(shù)據(jù)端的讀出信號(hào)切換為低電平并設(shè)定為禁止?fàn)顟B(tài)，并結(jié)束將記錄數(shù)據(jù)記錄到測(cè)試記錄區(qū)上的操作。然后，以此方式，再現(xiàn)記錄數(shù)據(jù)，該記錄數(shù)據(jù)用作記錄到區(qū)號(hào)碼0到15的各個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)上的測(cè)試信號(hào)。再現(xiàn)信號(hào)RF發(fā)送到非對(duì)稱測(cè)量部分18。相對(duì)于每個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)中的3T和11T數(shù)據(jù)的再現(xiàn)信號(hào)RF的峰值和谷值分別由非對(duì)稱測(cè)量部分18測(cè)量。由控制判斷部分19將用于記錄在非對(duì)稱測(cè)量部分18變?yōu)?的單元測(cè)試記錄區(qū)上的功率設(shè)定值選擇為最佳功率設(shè)定值。
另一方面，如果由缺陷檢測(cè)器21檢測(cè)到缺陷，并且上升到高電平的缺陷檢測(cè)信號(hào)DF輸出到控制判斷部分19(參照?qǐng)D16(i)中的時(shí)刻t22的時(shí)序)，則執(zhí)行中斷過程，如圖15B所示。首先，要發(fā)送到選擇器42的選擇端的選擇信號(hào)切換到低電平(參照?qǐng)D16(f)中的時(shí)刻t22的時(shí)序，在步驟S10)。結(jié)果，不是位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM，而是計(jì)數(shù)器40的輸出值被發(fā)送到端口2的地址端。由于計(jì)數(shù)器40的輸出值為初始值16(參照?qǐng)D16(j))，因此將16輸出到端口2的地址端(參照?qǐng)D16(b)中的時(shí)刻t22的時(shí)序)。然后，此時(shí)從端口1的數(shù)據(jù)端讀出此時(shí)的功率設(shè)定值(步驟S11)，并將該值設(shè)定給端口2的數(shù)據(jù)端(步驟S12)，然后將上升到高電平的寫信號(hào)輸出到端口2的寫入端(參照?qǐng)D16(g)中的時(shí)刻t23的時(shí)序，在步驟S13)。結(jié)果，要寫入到雙端口存儲(chǔ)器43的地址值1的區(qū)域的功率設(shè)定值Step2不僅寫入到地址值1的區(qū)域，還寫入地址值16的區(qū)域。然而，由于此時(shí)位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM1輸出到端口1的地址端，因此要讀出的功率設(shè)定值僅僅是寫入到地址值1的區(qū)域中的功率設(shè)定值。寫入到地址值16的區(qū)域的功率設(shè)定值在位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM的值變?yōu)?6時(shí)讀出(參照?qǐng)D16中的時(shí)刻t25的時(shí)序)。結(jié)果，記錄數(shù)據(jù)以相應(yīng)于功率設(shè)定值Step2的記錄功率被記錄在區(qū)號(hào)碼為16的單元測(cè)試記錄區(qū)上。此外，在如上所述將功率設(shè)定值Step2寫入地址值16的區(qū)域之后，要輸出到選擇器42的選擇端的選擇信號(hào)切換回高電平(參照?qǐng)D16(f)中的時(shí)刻t24的時(shí)序，在步驟S14)，并結(jié)束中斷過程。此外，在缺陷檢測(cè)信號(hào)DF降到低電平的時(shí)刻，計(jì)數(shù)器40的輸出值計(jì)數(shù)到達(dá)17(參照?qǐng)D16(j)中的時(shí)刻t26的時(shí)序)。在圖16的例子中，這樣的中斷過程還在位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM變?yōu)?時(shí)執(zhí)行。此時(shí)，功率設(shè)定值Step5不僅寫入地址值4的區(qū)域，還寫入地址值17的區(qū)域。
如上所述，在本實(shí)施例中，如果檢測(cè)到缺陷，那時(shí)的功率設(shè)定值不僅寫入到作為雙端口存儲(chǔ)器43的基本寫入?yún)^(qū)的地址值0到15的區(qū)域，還寫入到作為保存區(qū)的地址值16到25的區(qū)域。結(jié)果，記錄數(shù)據(jù)不僅以相應(yīng)于那時(shí)的功率設(shè)定值的記錄功率被記錄在其中檢測(cè)到缺陷的單元測(cè)試記錄區(qū)中，而且還寫入到作為保存區(qū)的區(qū)號(hào)碼為16到25的單元測(cè)試記錄區(qū)中。如果從其上已執(zhí)行這種記錄操作的測(cè)試記錄區(qū)中進(jìn)行再現(xiàn)，則由于缺陷的影響，不能從存在缺陷的單元測(cè)試記錄區(qū)上獲得對(duì)應(yīng)于該功率設(shè)定值的正確的再現(xiàn)信號(hào)。然而，可從用作不存在缺陷的保存區(qū)的一個(gè)例子的單元測(cè)試記錄區(qū)中獲得相應(yīng)于功率設(shè)定值的正確的再現(xiàn)信號(hào)。例如，在圖16的例子的情況下，即使從存在缺陷的區(qū)號(hào)碼為1的單元測(cè)試記錄區(qū)中進(jìn)行再現(xiàn)，也不能獲得相應(yīng)于功率設(shè)定值Step2的再現(xiàn)信號(hào)RF。然而，可從不存在缺陷的區(qū)號(hào)碼為16的單元測(cè)試記錄區(qū)中獲得相應(yīng)于功率設(shè)定值Step2的再現(xiàn)信號(hào)RF。因此，即使存在缺陷，也可以正確估計(jì)功率設(shè)定值，從而選擇對(duì)信息記錄設(shè)備和記錄介質(zhì)為最佳的功率設(shè)定值。此外，在測(cè)試記錄區(qū)中的保存區(qū)上進(jìn)行記錄的操作僅限于存在缺陷的情況。而且，不存在缺陷的單元測(cè)試記錄區(qū)的記錄數(shù)據(jù)用于原樣估計(jì)。因此，可在預(yù)定的短測(cè)試記錄區(qū)中進(jìn)行激光功率校準(zhǔn)過程，從而節(jié)約測(cè)試記錄區(qū)。也有可能縮短激光功率校準(zhǔn)過程所必需的時(shí)間。
在上面的描述中，如果存在缺陷，則從端口P1輸出寫脈沖信號(hào)，該寫脈沖信號(hào)用作要讀出要記錄在雙端口存儲(chǔ)器43中的測(cè)試記錄區(qū)中的保存區(qū)上的數(shù)據(jù)的信號(hào)的一個(gè)例子，將該寫脈沖信號(hào)寫入端口P2，并將其寫入雙端口存儲(chǔ)器43的寫入端，上面這些操作都由控制判斷部分19執(zhí)行。然而，在上述的配置下，控制判斷部分19需要很快的處理速度。為減輕控制判斷部分19的負(fù)擔(dān)，功率設(shè)定存儲(chǔ)器14可具有如圖17所示的配置。
圖17是說明相應(yīng)于圖7的功率設(shè)定存儲(chǔ)器14的另一種配置的方框圖。與圖7所示的配置不同的是，圖17的功率設(shè)定存儲(chǔ)器14上設(shè)有寫脈沖產(chǎn)生器44、選擇器45、選擇器46和讀脈沖產(chǎn)生器47。寫脈沖產(chǎn)生器44是用于與缺陷檢測(cè)信號(hào)DF從低電平上升到高電平的時(shí)刻同步地產(chǎn)生用作寫脈沖的一個(gè)例子的、具有預(yù)定寬度的寫脈沖的電路。由寫脈沖產(chǎn)生器44輸出的寫脈沖信號(hào)發(fā)送到連接到計(jì)數(shù)器40的反向器電路41和選擇器46的高輸入端。由控制判斷部分19輸出的寫脈沖信號(hào)發(fā)送到選擇器46的另一個(gè)低輸入端。根據(jù)類似地從控制判斷部分19輸出到選擇器46的選擇信號(hào)來選擇要發(fā)送到任何一個(gè)輸入端的寫脈沖信號(hào)，然后將該寫脈沖信號(hào)發(fā)送到雙端口存儲(chǔ)器43的寫入端。在圖17所示的配置中，在緊接著接通電源之后的初始設(shè)定時(shí)間或類似時(shí)間，低電平的選擇信號(hào)從控制判斷部分19輸出到選擇器46。寫脈沖信號(hào)向雙端口存儲(chǔ)器43的寫入端的提供是由控制判斷部分19執(zhí)行的。另一方面，在通常操作的時(shí)候，高電平的選擇信號(hào)從控制判斷部分19輸出到選擇器46。因此，寫脈沖信號(hào)向雙端口存儲(chǔ)器43的寫入端的提供是由寫脈沖產(chǎn)生器44執(zhí)行的。
選擇器45是用于選擇提供到雙端口存儲(chǔ)器43中的端口P2的數(shù)據(jù)端的數(shù)據(jù)提供源的電路。來自控制判斷部分19的數(shù)據(jù)作為提供源數(shù)據(jù)發(fā)送到選擇器45的低輸入端。此外，雙端口存儲(chǔ)器43中端口P1的輸出數(shù)據(jù)也發(fā)送到選擇器45的高輸入端。從控制判斷部分19發(fā)送到選擇器45的選擇信號(hào)與發(fā)送到選擇器46的選擇信號(hào)共用。因此，如果在緊接著接通電源之后的初始設(shè)定時(shí)間或類似時(shí)間，將低電平的選擇信號(hào)從控制判斷部分19輸出到選擇器45，則由控制判斷部分19執(zhí)行將數(shù)據(jù)提供到雙端口存儲(chǔ)器43的數(shù)據(jù)端。在通常操作的時(shí)候，高電平的選擇信號(hào)從控制判斷部分19輸出到選擇器45。因此，雙端口存儲(chǔ)器43的端口P1的輸出數(shù)據(jù)原樣發(fā)送到雙端口存儲(chǔ)器43的端口P2的數(shù)據(jù)端。
在圖7所示的配置中也提供選擇器42，用于選擇作為雙端口存儲(chǔ)器43中的端口P2的地址數(shù)據(jù)源的數(shù)據(jù)。雖然將計(jì)數(shù)器40的輸出值和位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM的值中的一個(gè)選擇為圖7所示的配置中的地址數(shù)據(jù)，但在圖17所示的配置中，計(jì)數(shù)器40的輸出值和由控制判斷部分19輸出的地址數(shù)據(jù)中的一個(gè)被選擇作為雙端口存儲(chǔ)器43中的端口P2的地址數(shù)據(jù)。此外，從控制判斷部分19發(fā)送到選擇器42的選擇信號(hào)與上面所述的發(fā)送到選擇器45和46的選擇信號(hào)共用。因此，如果在緊接著接通電源之后的初始設(shè)定時(shí)間或類似時(shí)間，將低電平的選擇信號(hào)從控制判斷部分19輸出到選擇器42，則由控制判斷部分19執(zhí)行將地址數(shù)據(jù)提供到雙端口存儲(chǔ)器43的地址端。在通常操作的時(shí)候，高電平的選擇信號(hào)從控制判斷部分19輸出到選擇器42。因此，計(jì)數(shù)器16的輸出值發(fā)送到雙端口存儲(chǔ)器43中的端口P2的地址端。
讀脈沖產(chǎn)生器47是這樣的電路用于檢測(cè)位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM值的切換，然后與所檢測(cè)的定時(shí)同步地產(chǎn)生讀脈沖信號(hào)。每當(dāng)更新位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM的值時(shí)，讀脈沖產(chǎn)生器47就讀取由地址值所代表的區(qū)域中的功率設(shè)定值，該地址值是位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM的值。相應(yīng)地，該功率設(shè)定值從端口P1的數(shù)據(jù)端輸出。
在具有上述如圖17所示的配置的功率設(shè)定存儲(chǔ)器14中，在緊接著接通電源之后的初始設(shè)定時(shí)間或類似時(shí)間，低電平的選擇信號(hào)從控制判斷部分19發(fā)送到選擇器42、45和46。因此，在這種情況下，根據(jù)由控制判斷部分19輸出的寫脈沖信號(hào)、地址數(shù)據(jù)和寫數(shù)據(jù)，功率設(shè)定值Step1到Step16從雙端口存儲(chǔ)器43中的端口P2寫入。
另一方面，在通常操作的時(shí)候，高電平的選擇信號(hào)從控制判斷部分19發(fā)送到選擇器42、45和46。因此，在這種情況下，如果上升到高電平的寫脈沖信號(hào)由寫脈沖產(chǎn)生器44輸出，即，僅當(dāng)檢測(cè)到缺陷時(shí)，則將數(shù)據(jù)寫入雙端口存儲(chǔ)器43中的端口P2。相反，根據(jù)位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM，讀脈沖信號(hào)從讀脈沖產(chǎn)生器47輸出到端口P1的讀取端。因此，功率設(shè)定值Step1到Step16作為功率設(shè)定數(shù)據(jù)PD從端口P1的數(shù)據(jù)端輸出，并且，數(shù)據(jù)以相應(yīng)于該功率設(shè)定值的記錄功率記錄到記錄區(qū)，用于測(cè)試DVD-R1。然而，如果檢測(cè)到缺陷，寫脈沖信號(hào)由寫脈沖產(chǎn)生器44輸出。此時(shí)，端口P1的輸出數(shù)據(jù)原樣發(fā)送到端口P2的數(shù)據(jù)端。然后，計(jì)數(shù)器40的輸出值發(fā)送到端口P2的地址端。例如，當(dāng)位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM為“1”時(shí)，根據(jù)功率設(shè)定值Step2在光盤上執(zhí)行寫操作。然而，如果此時(shí)檢測(cè)到缺陷，則此時(shí)從端口P1的數(shù)據(jù)端輸出的值Step2的功率設(shè)定數(shù)據(jù)PD輸出到端口P2的數(shù)據(jù)端，并且功率設(shè)定值Step2寫入地址16的區(qū)域，16是計(jì)數(shù)器40的初始值。以此方式，在沒有控制判斷部分19的干預(yù)的情況下，由硬件電路執(zhí)行當(dāng)檢測(cè)到缺陷時(shí)的每個(gè)信號(hào)和數(shù)據(jù)到雙端口存儲(chǔ)器43的輸出。因此，有可能減輕控制判斷部分19的處理負(fù)擔(dān)。
(II)第二實(shí)施例下面將參照?qǐng)D18到20描述本發(fā)明的第二個(gè)實(shí)施例。
在本實(shí)施例中，當(dāng)檢測(cè)到缺陷時(shí)，基于預(yù)定功率設(shè)定值的記錄數(shù)據(jù)不記錄在測(cè)試記錄區(qū)中的保存區(qū)中。該記錄數(shù)據(jù)記錄在與檢測(cè)到缺陷的單元測(cè)試記錄區(qū)相鄰的單元測(cè)試記錄區(qū)中。
在本實(shí)施例中，功率設(shè)定值Step1到Step16響應(yīng)于地址值而存儲(chǔ)在控制判斷部分19的存儲(chǔ)器中，如圖19所示。此外，控制判斷部分19還設(shè)計(jì)成將存儲(chǔ)器的一部分用作指針(pointer)，然后讀出與該指針?biāo)淼闹狄恢碌牡刂分档墓β试O(shè)定值，再將其輸出到雙端口存儲(chǔ)器43中的端口2的數(shù)據(jù)端。
此外，在本實(shí)施例中，略去了圖7所示的計(jì)數(shù)器40和選擇器42，并且，位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM輸出到雙端口存儲(chǔ)器43中的端口2的地址端。下面將參照?qǐng)D18的流程圖描述在本實(shí)施例中保存功率設(shè)定值的過程。
當(dāng)啟動(dòng)功率校準(zhǔn)過程時(shí)，首先，控制判斷部分19將指針的值初始化為“0”(步驟S20)。接下來，判斷是否更新了位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM(步驟S21)。如果更新了位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM(步驟S21是)，則判斷標(biāo)志是否為“1”(步驟S22)。當(dāng)缺陷檢測(cè)信號(hào)DF上升到高電平時(shí)，該標(biāo)志設(shè)定為“1”，如圖20的時(shí)刻t30的時(shí)序所示。
在圖20中，示出了發(fā)送到雙端口存儲(chǔ)器43的位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM(a)、輸入到雙端口存儲(chǔ)器43的端口2的地址信號(hào)(b)、輸入到端口2的數(shù)據(jù)信號(hào)(c)、輸入到端口1的地址信號(hào)(d)、輸入到端口1的數(shù)據(jù)信號(hào)(e)、輸入到端口1的寫信號(hào)(f)、輸入到端口1的讀出信號(hào)(g)、輸入到控制判斷部分19的缺陷檢測(cè)信號(hào)DF(h)和在控制判斷部分19中操作的標(biāo)志(i)。
如果標(biāo)志不為“1”(步驟S22否)，則指針的值加1(步驟S23)。與該指針值相等的地址值的功率設(shè)定值從內(nèi)部存儲(chǔ)器讀出，并設(shè)定給端口1的數(shù)據(jù)總線(步驟S24)。例如，在圖20的例子中，由于在時(shí)刻t40的定時(shí)處標(biāo)志不為“1”，設(shè)定存儲(chǔ)在與指針值相等的地址值0的區(qū)域中的功率設(shè)定值Step1，并將其寫入到雙端口存儲(chǔ)器43的地址值0的區(qū)域(步驟S25)。然后，清除標(biāo)志(步驟S26)。這里，標(biāo)志保持為0。接下來，要輸出到端口1的讀取端的讀出信號(hào)切換到高電平，并設(shè)定為處于允許狀態(tài)(參照?qǐng)D20中的時(shí)刻t40的時(shí)序)。因此，類似于第一實(shí)施例，與功率設(shè)定值Step1相應(yīng)的記錄功率的記錄數(shù)據(jù)記錄在區(qū)號(hào)碼為0的單元測(cè)試記錄區(qū)中。類似地，如果位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM變?yōu)?，則功率設(shè)定值Step2寫入雙端口存儲(chǔ)器43中的地址值為1的區(qū)域，并且，與功率設(shè)定值Step2相應(yīng)的記錄功率的記錄數(shù)據(jù)記錄在區(qū)號(hào)碼為1的單元測(cè)試記錄區(qū)中。然而，如果如圖20所示在當(dāng)記錄記錄數(shù)據(jù)時(shí)的時(shí)刻t30的定時(shí)處檢測(cè)到缺陷，并且缺陷檢測(cè)信號(hào)DF上升到高電平，則標(biāo)志設(shè)定為“1”。如果位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM更新為2(步驟S21是)，則在步驟S22中判斷為“是”，步驟S22是判斷標(biāo)志的程序，并且設(shè)定功率設(shè)定值(步驟S24)。由于此時(shí)略去了將指針值增1的步驟S23，指針值保持為2。因此，功率設(shè)定值保持為值Step2。然后，功率設(shè)定值Step2寫入雙端口存儲(chǔ)器43中的地址值為2的區(qū)域(步驟S25)。因此，由于以此方式讀出寫入到地址值為2的區(qū)域中的功率設(shè)定值Step2，所以，記錄數(shù)據(jù)以相應(yīng)于功率設(shè)定值Step2的記錄功率寫入到區(qū)號(hào)碼為2的單元測(cè)試記錄區(qū)和區(qū)號(hào)碼為1的單元測(cè)試記錄區(qū)中。此外，在功率設(shè)定值寫入雙端口存儲(chǔ)器43后清除標(biāo)志(參照?qǐng)D20中的時(shí)刻t31的時(shí)序，在步驟S26)。
此后，將重復(fù)上面所述的過程。然后，到達(dá)值Step16的功率設(shè)定值寫入雙端口存儲(chǔ)器43。并且，記錄數(shù)據(jù)以相應(yīng)于每一個(gè)功率設(shè)定值的記錄功率記錄在每一個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)中。在圖20的例子中，在時(shí)刻t32的定時(shí)處又檢測(cè)到缺陷，并且在時(shí)刻t33的定時(shí)處將功率設(shè)定值Step4寫入到雙端口存儲(chǔ)器43中的地址值為5的區(qū)域。此外，記錄數(shù)據(jù)以相應(yīng)于功率設(shè)定值Step4的記錄功率記錄在區(qū)號(hào)碼為5的單元測(cè)試記錄區(qū)上。當(dāng)位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM變?yōu)?8時(shí)，指針的值變?yōu)?7。然而，功率設(shè)定值不存在于與此值相應(yīng)的地址值中。因此，控制判斷部分19向端口1的數(shù)據(jù)總線輸出0。結(jié)果，判斷出沒有功率設(shè)定值可讀出(步驟S28)。因此，禁止讀出信號(hào)(步驟S29)，并結(jié)束讀出功率設(shè)定值的過程。
本實(shí)施例具有上述的配置。因此，即使在預(yù)定單元測(cè)試記錄區(qū)上存在缺陷，記錄數(shù)據(jù)也能以基于預(yù)定功率設(shè)定值的記錄功率記錄在與該單元測(cè)試記錄區(qū)相鄰的單元測(cè)試記錄區(qū)中，并能正確選擇最佳功率設(shè)定值。而且，能夠節(jié)約測(cè)試記錄區(qū)并能夠縮短校準(zhǔn)過程。
上面所述的各個(gè)實(shí)施例具有這樣的配置其中在功率設(shè)定值寫入到雙端口存儲(chǔ)器之后立即讀出功率設(shè)定值。然而，本發(fā)明不限于此。例如，在啟動(dòng)功率校準(zhǔn)過程之前的初始設(shè)定時(shí)間或類似時(shí)間，在功率設(shè)定值Step1到Step16都寫入雙端口存儲(chǔ)器之后，在缺陷檢測(cè)時(shí)僅在功率校準(zhǔn)過程中執(zhí)行讀出功率設(shè)定值的操作和保存過程。此外，將功率設(shè)定值劃分為16級(jí)或階段的值的方式僅僅是一個(gè)例子。劃分方式可適當(dāng)改變。
(III)第三實(shí)施例接下來，將參照?qǐng)D21的方框圖和圖22的流程圖解釋本發(fā)明的第三實(shí)施例。在每一個(gè)上面所述的實(shí)施例中，盡管僅在檢測(cè)到缺陷時(shí)將功率設(shè)定值保存到雙端口存儲(chǔ)器中的保存區(qū)，以利用該功率設(shè)定值將數(shù)據(jù)記錄在DVD-R上的保存區(qū)，但是，不僅在檢測(cè)到缺陷時(shí)，而且在記錄數(shù)據(jù)過程中在伺服系統(tǒng)中產(chǎn)生異常狀態(tài)，例如外部故障時(shí)，都不在測(cè)試記錄區(qū)中以最佳記錄功率進(jìn)行記錄操作。因此，在本實(shí)施例中，不僅在檢測(cè)到缺陷時(shí)，而且在產(chǎn)生外部故障時(shí)，都執(zhí)行將功率設(shè)定值保存到雙端口存儲(chǔ)器的保存區(qū)和利用該功率設(shè)定值將數(shù)據(jù)記錄到DVD-R上的保存區(qū)。
此外，在本實(shí)施例中，記錄數(shù)據(jù)到測(cè)試記錄區(qū)和讀取數(shù)據(jù)不是并行進(jìn)行的。相反，本發(fā)明構(gòu)造成在結(jié)束將數(shù)據(jù)記錄到所有的測(cè)試記錄區(qū)后，執(zhí)行從相應(yīng)的測(cè)試記錄區(qū)讀出數(shù)據(jù)的操作并檢測(cè)外部故障或缺陷，以便在檢測(cè)到故障或缺陷時(shí)對(duì)保存區(qū)執(zhí)行再記錄操作。
圖21示出了本實(shí)施例的信息記錄設(shè)備的方框圖。
如圖21所示，本發(fā)明的信息記錄設(shè)備與圖3所示的第一實(shí)施例的不同之處在于，圖21所示的信息記錄設(shè)備上設(shè)上用于對(duì)光拾取器10的輸出進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換的A/D轉(zhuǎn)換器70和用于存儲(chǔ)A/D轉(zhuǎn)換后的數(shù)據(jù)的RAM71。
下面將參照?qǐng)D21的方框圖和圖22的流程圖解釋本實(shí)施例中的激光功率校準(zhǔn)過程。
在本實(shí)施例中，功率設(shè)定值Step1到Step16與位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM同步地寫入到具有地址值為0到15的區(qū)域，并且基于那些功率設(shè)定值的記錄數(shù)據(jù)WD與位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM同步地記錄到DVD-R1的測(cè)試記錄區(qū)中，其方式與第一實(shí)施例中的方式相同，雖然在圖22中沒有示出。此外，在記錄時(shí)不進(jìn)行缺陷檢測(cè)。
當(dāng)上面所述的記錄操作完成時(shí)，CPU19將內(nèi)部計(jì)數(shù)器的值N初始化為0，如圖22所示(步驟S30)。然后，在遞增計(jì)數(shù)器N后(步驟S31)，初始化RAM71，例如，用以復(fù)位其中所有的值為0(步驟S32)。然后，啟動(dòng)測(cè)試記錄區(qū)的再現(xiàn)，光拾取器10的再現(xiàn)輸出RF通過A/D轉(zhuǎn)換器讀入，并且，記錄在測(cè)試記錄區(qū)中的所有數(shù)據(jù)都存儲(chǔ)到RAM71中(步驟S33)。
接下來，CPU19從RAM71順序讀取數(shù)據(jù)(步驟S34)，并判斷是否所有的數(shù)據(jù)都為0(步驟S35)。在記錄時(shí)，由于伺服系統(tǒng)的異常情況而使正常的記錄操作不能進(jìn)行時(shí)產(chǎn)生這樣的狀態(tài)。此外，當(dāng)產(chǎn)生顏料掉落的缺陷時(shí)也產(chǎn)生這種狀態(tài)。在這種狀態(tài)下，由于不能獲得正常的記錄數(shù)據(jù)，要相對(duì)于DVD-R1的保存區(qū)進(jìn)行再寫入或重試操作。在本實(shí)施例中，為謹(jǐn)慎起見，重試操作進(jìn)行3次(步驟S35是，到步驟S40否，到步驟S31)。重試操作在位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM又返回0之后開始，并重復(fù)上述從步驟S31到步驟S35的過程。
然后，即便已進(jìn)行3次重試操作后，如果判斷出所有數(shù)據(jù)都為0(步驟S35是，到步驟S40是)，則執(zhí)行再寫入操作(步驟S41)。執(zhí)行再寫入過程，以使功率設(shè)定值以與第一實(shí)施例中相同的方式、與位置定時(shí)數(shù)據(jù)TM同步地存儲(chǔ)在雙端口存儲(chǔ)器43中的保存區(qū)中。
另一方面，如果判斷出所有的數(shù)據(jù)不為0(步驟S35否)，則檢驗(yàn)存儲(chǔ)在RAM71中的數(shù)據(jù)中11T數(shù)據(jù)的谷值和峰值之間的差值(步驟S36)。如果執(zhí)行了正常的記錄操作，則11T數(shù)據(jù)的寬度具有如圖11所示的固定值。然而，當(dāng)產(chǎn)生了伺服系統(tǒng)的異常狀態(tài)等時(shí)，11T數(shù)據(jù)的寬度突然改變，致使僅有一個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)中的11T數(shù)據(jù)具有比另一個(gè)11T數(shù)據(jù)小得多的值?；蛘?，該11T數(shù)據(jù)的值在整個(gè)測(cè)試記錄區(qū)上為小。因此，通過檢驗(yàn)11T數(shù)據(jù)的這種突變的存在或不存在，或者通過檢測(cè)異常值的存在或不存在，能夠判斷是否執(zhí)行了正常的記錄操作。
更具體地講，構(gòu)造成使CPU19判斷如果11T數(shù)據(jù)的A/D轉(zhuǎn)換值是在關(guān)于A/D轉(zhuǎn)換的滿標(biāo)值(full-scale)的預(yù)定范圍內(nèi)，則執(zhí)行了正常的記錄操作。
作為上述檢驗(yàn)操作的結(jié)果，如果判斷出11T數(shù)據(jù)沒有正常記錄(步驟S37否)，則為謹(jǐn)慎起見，執(zhí)行3次重試操作(步驟S40)。然后，如果11T數(shù)據(jù)在3次重試操作之后沒有正常記錄(步驟S37否，到步驟S40是)，則以上面所述的方式進(jìn)行再寫入處理過程(步驟S41)。
接下來，如果判斷出正常記錄了11T數(shù)據(jù)(步驟S37是)，則根據(jù)采樣保持電路20的輸出值，以與第一實(shí)施例相同的方式，執(zhí)行對(duì)最佳功率的計(jì)算(步驟S38)。然后，如果在計(jì)算過程中進(jìn)行了上述對(duì)缺陷的檢測(cè)(步驟S39)，則執(zhí)行3次重試操作(步驟S40)。然后，如果在3次重試操作之后仍檢測(cè)到缺陷(步驟S39是，到步驟S40是)，則以上述方式進(jìn)行再寫入處理過程(步驟S41)。
如上所述，根據(jù)本實(shí)施例，不僅在檢測(cè)到缺陷時(shí)，而且在由于伺服系統(tǒng)中的異常狀態(tài)，例如外部故障而使DVD-R的測(cè)試記錄區(qū)中不能進(jìn)行正常的記錄操作時(shí)，都根據(jù)預(yù)定功率設(shè)定值對(duì)于DVD-R的保存區(qū)進(jìn)行記錄數(shù)據(jù)。因此，能夠進(jìn)行最佳功率的選擇。
已參照上面所述的實(shí)施例描述了其中可重寫DVD為有機(jī)型顏料類型的例子。然而，本發(fā)明可應(yīng)用于相變型或磁光盤型的可寫DVD。
權(quán)利要求
1.一種信息記錄設(shè)備，其中，在通過照射光束(B)將信息記錄到一信息記錄介質(zhì)(1)上之前，以多個(gè)不同的記錄功率對(duì)形成所述信息記錄介質(zhì)上的一測(cè)試記錄區(qū)的多個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)中的每一個(gè)記錄一測(cè)試信號(hào)，然后再現(xiàn)記錄在每一個(gè)所述單元測(cè)試記錄區(qū)中的所述測(cè)試信號(hào)，并根據(jù)所述再現(xiàn)的測(cè)試信號(hào)的狀態(tài)來選擇所述光束的最佳記錄功率，其特征在于，所述信息記錄設(shè)備包括可重寫存儲(chǔ)裝置(14、43)，用于存儲(chǔ)功率設(shè)定值，以便對(duì)應(yīng)于用于識(shí)別各個(gè)所述單元測(cè)試記錄區(qū)的位置信息，分別獲得所述多個(gè)不同的記錄功率；記錄裝置(15、16、17)，用于基于恒定的記錄時(shí)鐘信號(hào)將所述測(cè)試信號(hào)記錄在所述測(cè)試記錄區(qū)中；位置信息產(chǎn)生裝置(13、30、31、32、33、34)，用于在對(duì)應(yīng)于每一個(gè)所述單元測(cè)試記錄區(qū)的記錄時(shí)間的周期處產(chǎn)生所述位置信息；記錄控制裝置(19)，用于根據(jù)所述產(chǎn)生的位置信息來讀出存儲(chǔ)在所述可重寫存儲(chǔ)裝置中的所述功率設(shè)定值，然后將所述讀出的功率設(shè)定值輸出給所述記錄裝置；缺陷檢測(cè)裝置(21)，用于檢測(cè)各個(gè)所述單元測(cè)試記錄區(qū)中的缺陷，其中由所述記錄裝置執(zhí)行一記錄操作；和功率設(shè)定值存儲(chǔ)裝置(19)，用于將所述功率設(shè)定值存儲(chǔ)在所述可重寫存儲(chǔ)裝置中，所述功率設(shè)定值是根據(jù)一個(gè)位置信息由所述記錄控制裝置在檢測(cè)到所述缺陷時(shí)讀出的，以使所述存儲(chǔ)的功率設(shè)定值對(duì)應(yīng)于與所述一個(gè)位置信息不同的另一個(gè)位置信息。
2.如權(quán)利要求1所述的信息記錄設(shè)備，其特征在于N(N自然數(shù))個(gè)不同的功率設(shè)定值存儲(chǔ)在所述可重寫存儲(chǔ)裝置(14、43)中，以分別對(duì)應(yīng)于用于識(shí)別N個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)的N個(gè)位置信息；和當(dāng)檢測(cè)到所述缺陷時(shí)，所述功率設(shè)定值存儲(chǔ)裝置(19)將所述功率設(shè)定值存儲(chǔ)在所述可重寫存儲(chǔ)裝置中，以使所述存儲(chǔ)的功率設(shè)定值對(duì)應(yīng)于所述位置信息，所述位置信息識(shí)別第M(M≥N+1)個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)。
3.如權(quán)利要求1所述的信息記錄設(shè)備，其特征在于N(N自然數(shù))個(gè)不同的功率設(shè)定值存儲(chǔ)在所述可重寫存儲(chǔ)裝置(14、43)中，以分別對(duì)應(yīng)于用于識(shí)別N個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)的N個(gè)位置信息；和當(dāng)檢測(cè)到所述缺陷時(shí)，所述功率設(shè)定值存儲(chǔ)裝置(19)將所述功率設(shè)定值存儲(chǔ)在所述可重寫存儲(chǔ)裝置中，以使所述存儲(chǔ)的功率設(shè)定值對(duì)應(yīng)于所述位置信息，所述位置信息識(shí)別緊接著檢測(cè)到所述缺陷的一個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)的另一個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)。
4.一種信息記錄設(shè)備，其中，在通過照射光束(B)將信息記錄到一信息記錄介質(zhì)(1)上之前，以多個(gè)不同的記錄功率對(duì)形成所述信息記錄介質(zhì)上的一測(cè)試記錄區(qū)的多個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)中的每一個(gè)記錄一測(cè)試信號(hào)，然后再現(xiàn)記錄在每一個(gè)所述單元測(cè)試記錄區(qū)中的所述測(cè)試信號(hào)，并根據(jù)所述再現(xiàn)的測(cè)試信號(hào)的狀態(tài)來選擇所述光束的最佳記錄功率，其特征在于，所述信息記錄設(shè)備包括可重寫存儲(chǔ)裝置(14、43)，用于存儲(chǔ)功率設(shè)定值，以便對(duì)應(yīng)于用于識(shí)別各個(gè)所述單元測(cè)試記錄區(qū)的位置信息，分別獲得所述多個(gè)不同的記錄功率；記錄裝置(15、16、17)，用于基于恒定的記錄時(shí)鐘信號(hào)將所述測(cè)試信號(hào)記錄在所述測(cè)試記錄區(qū)中；位置信息產(chǎn)生裝置(13、30、31、32、33、34)，用于在對(duì)應(yīng)于每一個(gè)所述單元測(cè)試記錄區(qū)的記錄時(shí)間的周期處產(chǎn)生所述位置信息；記錄控制裝置(19)，用于根據(jù)所述產(chǎn)生的位置信息來讀出存儲(chǔ)在所述可重寫存儲(chǔ)裝置中的所述功率設(shè)定值，然后將所述讀出的功率設(shè)定值輸出給所述記錄裝置；判斷裝置(19、70、71)，用于讀出用于各個(gè)所述單元測(cè)試記錄區(qū)的記錄內(nèi)容，并判斷是否由所述記錄裝置執(zhí)行正常的記錄操作；和功率設(shè)定值存儲(chǔ)裝置(19)，如果所述判斷裝置判斷出沒有在其中進(jìn)行正常的記錄操作，則該功率設(shè)定值存儲(chǔ)裝置(19)根據(jù)對(duì)應(yīng)于所述單元測(cè)試記錄區(qū)的一個(gè)位置信息而從所述可重寫存儲(chǔ)裝置中讀出所述功率設(shè)定值，并將所述讀出的功率設(shè)定值存儲(chǔ)在所述可重寫存儲(chǔ)裝置中，以使所述存儲(chǔ)的功率設(shè)定值對(duì)應(yīng)于與所述一個(gè)位置信息不同的另一個(gè)位置信息。
5.如權(quán)利要求4所述的信息記錄設(shè)備，其特征在于所述記錄控制裝置(19)還包括一裝置，該裝置用于讀出所述功率設(shè)定值，并將所述讀出的功率設(shè)定值分別輸出到相應(yīng)于所述多個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)的所述記錄裝置，該裝置還用于在所述判斷裝置判斷出沒有進(jìn)行所述正常記錄操作時(shí)，執(zhí)行所述功率設(shè)定值的再讀出操作和向所述記錄裝置的再輸出操作；和所述判斷裝置(19、70、71)包括一裝置，該裝置用于讀出用于各個(gè)所述單元測(cè)試記錄區(qū)的記錄內(nèi)容，并在所述記錄裝置完成對(duì)于所述多個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)的記錄操作后由所述記錄裝置進(jìn)行判斷。
全文摘要
一種信息記錄設(shè)備,在通過照射光束記錄信息到記錄介質(zhì)前,以不同功率對(duì)每個(gè)單元測(cè)試記錄區(qū)記錄測(cè)試信號(hào),再現(xiàn)測(cè)試信號(hào)并選擇光束的最佳記錄功率。所述設(shè)備有:可重寫存儲(chǔ)裝置,存儲(chǔ)功率設(shè)定值;記錄裝置,記錄測(cè)試信號(hào);位置信息產(chǎn)生裝置,產(chǎn)生位置信息;記錄控制裝置,讀出可重寫存儲(chǔ)裝置中的功率設(shè)定值,將其輸出到記錄裝置;缺陷檢測(cè)裝置,檢測(cè)單元測(cè)試記錄區(qū)的缺陷;功率設(shè)定值存儲(chǔ)裝置,在可重寫存儲(chǔ)裝置中存儲(chǔ)功率設(shè)定值。
文檔編號(hào)G11B7/125GK1243308SQ99110689
公開日2000年2月2日 申請(qǐng)日期1999年7月27日 優(yōu)先權(quán)日1998年7月27日
發(fā)明者吉田昌義, 下田吉隆 申請(qǐng)人:日本先鋒公司