專利名稱:一種光盤及其記錄/再生設備的制作方法
技術(shù)領域:
本發(fā)明涉及一種可記錄/可再生光盤,其中設置了一些在堤跡道和槽跡道之間擺動的扇區(qū)地址住信息坑斑陳列;還涉及一種用來執(zhí)行該光盤的記錄和/或再生的光盤記錄/再生設備。
背景技術(shù):
光盤具有極佳的可移動性/可攜帶性和隨機訪問性能。因此在各種信息設備領域例如個人計算機中把光盤用作存儲器變得愈來愈流行。其結(jié)果是,出現(xiàn)了對提高光盤記錄容量的日益增漲的需求。
通常在可重寫光盤上形成一些用于跡道跟蹤控制的導槽,使得可以把這些導槽用作跡道來記錄和再生數(shù)據(jù)。此外,為了能逐個扇區(qū)地進行數(shù)據(jù)管理,一個跡道被分成多個扇區(qū)。因此,在生產(chǎn)這種光盤時,通常在形成導槽時對每一扇區(qū)以一些坑斑的形式形成地址信息。
在當前流行的可重寫光盤中,用來記錄數(shù)據(jù)的跡道或者是制作光盤時所形成的凹槽(槽)或者是各條凹槽之間的空間(堤)。另一方面,已經(jīng)提出了能夠同時在槽和堤上記錄數(shù)據(jù)的堤-槽記錄型光盤。
圖22示出一個典型的堤-槽記錄型光盤。如圖22所示,這里把比較靠近光盤表面的部分叫做“槽”,把比較遠離光盤表面的部分叫做“堤”。應該指出,“堤”和“槽”僅僅是一種稱謂;因此也可以把比較靠近光盤表面的部分叫做“堤”,而把比較遠離光盤表面的部分叫做“槽”。
堤-槽記錄型光盤需要堤和槽兩者的扇區(qū)地址。為了實現(xiàn)在光盤上形成地址坑斑的處理,研究了一種中間地址方法,其中的地址坑斑形成在相鄰的堤和槽之間,使同一地址可被相鄰跡道共用(日本專利公開號6-176404)。
下面將參考
中間地址、一種從光盤讀出信息的(跡道)跟蹤控制方法,以及一種從中間地址讀出信號的方法。
圖23是示出一個具有扇區(qū)結(jié)構(gòu)的光盤的示意圖。在圖23中,代號200代表光盤;代號201代表跡道;代號202代表扇區(qū);代號203代表扇區(qū)地址區(qū);以及代號204代表數(shù)據(jù)區(qū)。圖24是扇區(qū)地址區(qū)的放大圖,其中示意地示出了一個普通的中間地址。在圖24中,代號206代表地址坑斑;代號207代表記錄標記;代號208代表槽跡道;代號209代表堤跡道;以及代號210代表光斑。
在圖24所示的光盤中,槽208和堤209都被用作跡道??梢酝ㄟ^在槽208和堤209上形成一些記錄標記207來記錄數(shù)據(jù)信號。槽208和堤209有相同的跡道寬度(節(jié)距)Tp。各個地址坑斑206的中心沿著徑向偏離槽跡道208中心Tp/2的距離。換言之,各個地址坑斑206的中心位在槽208和堤209之間的分界線上。雖然地址坑斑206的長度或間距是受地址信號調(diào)制的,但圖24只是示意性地示出了地址坑斑206的形狀。
圖25是說明普通用于從光盤讀出信號的(跡道)跟蹤控制和信號處理的方框圖。
下面將說明圖25所示的結(jié)構(gòu)。在圖25中,代號200代表光盤;代號201代表跡道;代號210代表光斑;代號211代表用來轉(zhuǎn)動光盤200的光盤電機。一個光學頭212以光學方式再生光盤200上的信號。光學頭212含有一個半導體激光器213、一個準直透鏡214、一個物鏡215、一個半反鏡216、光敏部分217a和217b、以及一個驅(qū)動器218。一個跟蹤誤差信號探測部分220探測跟蹤誤差信號,該信號指明了光斑210和跡道201之間沿著徑向的錯位量。跟蹤誤差信號探測部分220含有一個差分電路221和一個LPF(低通濾波器)222。一個相位補償部分223根據(jù)跟蹤誤差信號產(chǎn)生一個驅(qū)動信號,以驅(qū)動光學頭。一個頭驅(qū)動部分224根據(jù)該驅(qū)動信號驅(qū)動光學頭212內(nèi)的驅(qū)動器218。
一個地址再生部分234含有一個加法電路225、一個波形平衡部分226、一個數(shù)據(jù)分割部分227、一個PLL(鎖相環(huán))228、一個AM(地址標記)探測部分229、一個解調(diào)器230、一個轉(zhuǎn)接器231、和一個誤差探測部分232。加法電路225把來自光敏部分217a和217b的信號相加起來。波形平衡部分226防止一個再生信號的符號間干擾。數(shù)據(jù)分割部分227按預定的分割電平使再生信號數(shù)字化。PLL228產(chǎn)生一個與數(shù)字化信號相同步的時鐘。AM探測部分229探測AM。解調(diào)器230解調(diào)再生的信號。轉(zhuǎn)接器231把解調(diào)的信號分解成數(shù)據(jù)和地址。誤差探測部分232對地址信號進行誤差判斷。一個誤差校正部分233校正數(shù)據(jù)信號中的誤差。
下面將說明跟蹤控制操作。從半導體激光器213發(fā)出的激光被準直透鏡214準直,并通過物鏡215會聚在光盤200上。從光盤200反射的激光通過半反鏡216返回到光敏部分217a和217b上,在那里以電信號的形式探測出光量分布,該電信號取決于光盤上光斑210和跡道201之間的相對位置。對于采用分成兩個部分的光敏部分217a和217b的情況,跟蹤誤差信號是通過利用差分電路221探測出兩個光敏部分217a和217b這間的差別并利用LPF222提取出差分信號中的低頻成分來探測的。為了保證光斑210能跟蹤跡道201,在相位補償部分223中產(chǎn)生一個能使跟蹤誤差信號變?yōu)?(即光敏部分217a和217b有相同的光量分布)的驅(qū)動信號,驅(qū)動器218被頭驅(qū)動部分224按照驅(qū)動信號移動,由此便控制了物鏡215的位置。
另一方面,當光斑210跟蹤上了跡道201時,由于光的干涉,在跡道上的記錄標記207處和地址坑斑206處的反射光光量減小,從而降低了光敏部分217a和217b的輸出;而對于不存在坑斑的地點,反射光光量增大,從而光敏部分217a和217b的輸出增大。對應于記錄標記207和地址坑斑206的兩個光敏部分的總輸出光量由加法電路225導出,導出的信號被引導通過波形平衡部分226以除去再生信號的符號間干擾,再在數(shù)據(jù)分割部分227按一個預定的分割電平被數(shù)字化,轉(zhuǎn)換成一個“0”和“1”的信號序列。PLL228從該數(shù)字化信號中提取出數(shù)據(jù)和一個讀出時鐘。解調(diào)器230對經(jīng)調(diào)制的記錄數(shù)據(jù)進行解調(diào),把它轉(zhuǎn)換成可以進行處部處理的數(shù)據(jù)格式。如果解調(diào)的數(shù)據(jù)是數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)的信號,則在誤差校正部分233中校正數(shù)據(jù)中的誤差,由此得到數(shù)據(jù)信號。另一方面,如果AM探測部分229探測到一個用來識別不斷地從PLL288輸出的信號序列中的地址部分的AM信號,則轉(zhuǎn)接器231將轉(zhuǎn)接到一種把解調(diào)的數(shù)據(jù)作為地址信號進行處理的狀態(tài)。誤差探測部分232將判斷剛讀出的地址信號是否含有誤差,如果沒有誤差,則該地址信號將作為地址數(shù)據(jù)輸出。
圖26示出了當光斑210在通過上述構(gòu)形中的扇區(qū)地址區(qū)203時的再生信號(RF信號)和跟蹤誤差信號(TE信號)的狀況。雖然光斑210在數(shù)據(jù)區(qū)204是位于跡道中心的,但在緊接著光斑210進入到扇區(qū)地址區(qū)203之后,在光斑210和地址坑斑206之間卻出現(xiàn)了明顯的錯位,由此造成了TE信號電平的很大起伏。光斑210不能很快地跟蹤上地址坑斑,但能如圖中虛線所示那樣逐漸地接近地址坑斑。然而,由于扇區(qū)地址區(qū)203比較短,從而在光斑210能完全跟蹤上地址坑斑之前就到達了數(shù)據(jù)區(qū)205,于是將執(zhí)行跟蹤控制以使跟蹤偏離在槽區(qū)變?yōu)榱?。扇區(qū)地址區(qū)最后部分中的跟蹤偏離量定義為Xadr。此外,由于光斑210的一部分位在地址坑斑207上,故將得到圖26所示的RF信號。RF信號幅度Aadr隨著光斑210與地址坑斑206之間的距離變化。具體地說,Aadr隨著該距離的增大而減小,隨著該距離的減小而增大。本發(fā)明的公開內(nèi)容對于僅在沿徑向的一個方向上提供中間地址的地址坑斑的情況,當光斑中心偏離數(shù)據(jù)區(qū)的跡道中心時光斑與地址坑斑之間的距離在扇區(qū)地址區(qū)中也可能改變。其結(jié)果是存在這樣一個問題雖然如果光斑移近地址坑斑則地址坑斑區(qū)中的再生信號振幅將會增大,但如果光斑移離地址坑斑則地址坑斑區(qū)中的再生信號振幅將會減小,由此將造成地址讀出不夠充分。
還有一個問題是,由于讀出時鐘的同步化和數(shù)字化分割電平的設定是準備在地址區(qū)的始端部分進行的,所以該始端部分的再生必須穩(wěn)定,否則即使從某處獲得了再生信號也不能進行恰當?shù)慕庹{(diào)。
還有一個問題是,由于光斑在扇區(qū)地址區(qū)是偏離地址坑斑的,所以在跟蹤誤差信號中將出現(xiàn)并非代表實際跡道偏離量的大的電平起伏。由于跟蹤控制是利用這個跟蹤誤差信號來進行的,所以當光斑通過了扇區(qū)地址區(qū)后將可能出現(xiàn)跟蹤偏離。
還有一個問題是,由于對于相鄰的堤跡道和槽跡道讀出的是同樣的地址坑斑,所以不可能識別出當時所跟蹤的跡道是堤跡道還是槽跡道。
考慮到上述一些問題,本發(fā)明的一個目的是提供一種光盤,它具有一種新型的扇區(qū)地址區(qū)內(nèi)的地址坑斑布局,該布局能減小因跟蹤偏離所造成的地址信號讀出不充分和通過扇區(qū)地址區(qū)后的跟蹤偏離,該光盤還能識別堤跡道和槽跡道;一種使用這種光盤的光盤記錄/再生設備;以及一種含有一個關(guān)于光盤的ID(識別符)探測電路的光盤記錄/再生設備,該電路能精確地探測ID部分的位置和極性。
光盤記錄/再生設備包括用于在光盤上記錄數(shù)據(jù)的設備;用于再生記錄在光盤上的數(shù)據(jù)的設備;以及用于在光盤上記錄數(shù)據(jù)并再生記錄在光盤上的數(shù)據(jù)的設備。
根據(jù)本發(fā)明的光盤是一種堤-槽型光盤,它帶有多個含有一個扇區(qū)地址區(qū)和一個數(shù)據(jù)區(qū)的扇區(qū),扇區(qū)地址指明了扇區(qū)的位置,其中的扇區(qū)地址含有多個地址塊,多個地址塊中的至少4個地址塊各含有一個地址號和一個重疊序列號;多個地址塊的這至少4個地址塊中的每兩個地址塊組成一組;并且各個地址塊組按下述方式交替排列從跡道中心出發(fā)沿徑向分別向內(nèi)周側(cè)和外周側(cè)移動基本上等于半個跡道寬度的距離。其結(jié)果是可以達到上述目的。
扇區(qū)地址可以含有一個包含了除地址號和重疊序列號以外的信息的數(shù)據(jù)塊;這個數(shù)據(jù)塊可以設置在從跡道中心出發(fā)沿徑向向內(nèi)周側(cè)或外周側(cè)移動基本上等于半個跡道寬度的距離處。
扇區(qū)地址可以含有至少兩個包含了除地址號和重疊序列號以外的信息的數(shù)據(jù)塊;這兩個塊可以這樣設置,即分別設置在從跡道中心出發(fā)沿徑向向內(nèi)周側(cè)和外周側(cè)移動基本上等于半個跡道寬度的距離處。
每個地址塊的第一個圖式和最后一個圖式最好是無地址坑斑數(shù)據(jù)。
多個地址塊中的至少4個地址塊可以含有一個時鐘同步信號數(shù)據(jù);并且含在每個地址塊組的第一個地址塊中的時鐘同步信號數(shù)據(jù)的長度可以長于含在該地址塊組的其余地址塊中的時鐘同步信號數(shù)據(jù)的長度。
一種光盤記錄/再生設備含有一個光學頭,用來在上述光盤上照射一個光束和接收從光盤上反射的光,以輸出再生信號;一個地址信號再生部分,用來在再生光盤扇區(qū)地址時讀出地址號和重疊序列號;以及一個地址校正部分,用來對每個地址塊根據(jù)讀出的重疊序列號去校正讀出的地址號。其結(jié)果是達到了上述目的。
根據(jù)本發(fā)明的另一種光盤記錄/再生設備含有上述的光盤;一個跟蹤誤差信號探測部分,用來探測代表跡道與光斑之間的偏離量的跟蹤誤差信號;一個時標發(fā)生部分,用來產(chǎn)生與扇區(qū)地址的各個地址塊相同步的門信號;一個外周值采樣保持部分,用來與門信號同步地采樣和保持關(guān)于設置在外周側(cè)的地址塊的跟蹤誤差信號電平;一個內(nèi)周值采樣保持部分,用來采樣和保持關(guān)于設置在內(nèi)周側(cè)的地址塊的跟蹤誤差信號電平;一個差分電路,用來導出外周值采樣保持部分的值與內(nèi)周值采樣保持部分的值之間的差值;以及增益轉(zhuǎn)換部分,用于把差分電路的輸出轉(zhuǎn)換成一個預定信號的電平。其結(jié)果是達到了上述目的。
根據(jù)本發(fā)明的又一種光盤記錄/再生設備含有上述的光盤;一個反射光光量信號探測部分,用來探測從光盤反射的光量;一個時標發(fā)生部分,用來產(chǎn)生與扇區(qū)地址的各個地址塊相同步的門信號;一個外周值采樣保持部分,用來與門信號相同步地采樣和保持關(guān)于設置在外周側(cè)的地址塊的反射光光量信號電平;一個內(nèi)周值采樣保持部分,用來采樣和保持關(guān)于設置在內(nèi)周側(cè)的地址塊的反射光光量信號電平;一個差分電路,用來導出外周值采樣保持部分的值與內(nèi)周值采樣保持部分的值之間的差值;以及增益轉(zhuǎn)換部分,用來把差分電路和的輸出轉(zhuǎn)換成一個預定信號的電平。其結(jié)果是達到了上述目的。
根據(jù)本發(fā)明的一種含有一個關(guān)于光盤的ID探測電路的光學記錄/再生設備含有一個跟蹤誤差探測電路,它又含有一些用來獲得對上述光盤的跟蹤誤差信號的分離探測器和一個寬帶差分放大器,后者用來輸出作為跟蹤誤差信號的各分離探測器所探測到的信號之間的差分成分;一個包絡探測電路,它又含有一個用來提取跟蹤誤差信號的高頻成分的高通濾波器,一個用來對該高頻成分進行全波整流的全波整流器,一個用來提取經(jīng)全波整流的高頻成分中的低頻起伏成分的第一低通濾波器,和一個用來比較該低頻起伏成分與一個參考電壓以輸出一個ID包絡信號的第一比較器;一個極性探測電路,它又含有一個用來從跟蹤誤差信號提取第二低頻成分的第二低通濾波器、一個從跟蹤誤差信號提取第三低頻成分的第三低通濾波器,其中第三低頻成分的帶寬比第二低頻成分的小、和一個用來比較第二低頻成分和第三低頻成分以輸出一個ID極性信號的第二比較器;以及一個邏輯電路,用來根據(jù)包絡信號和極性信號輸出一個讀出門和一個堤-槽識別信號。其結(jié)果是達到了上述目的。
附圖的簡單說明圖1是說明根據(jù)例1的一個光盤的示意圖。
圖2是說明扇區(qū)地址格式的圖。
圖3A是示出數(shù)據(jù)區(qū)的一部分和一個扇區(qū)地址區(qū)的圖。
圖3B是說明在一個扇區(qū)地址區(qū)中的RF信號和TE信號的圖。
圖4A是說明光斑跟蹤偏離和RF信號的圖。
圖4B是說明光斑跟蹤偏離和RF信號的圖。
圖5A是說明根據(jù)例2的地址塊布局的圖。
圖5B是說明根據(jù)例2的地址塊布局的圖。
圖6A是說明根據(jù)例3的地址塊布局的圖。
圖6B是說明根據(jù)例3的地址塊布局的圖。
圖7A是說明兩地址組中的連續(xù)坑斑的示意圖。
圖7B是說明兩地址組中的連續(xù)坑斑的示意圖。
圖8A是說明當光斑再生堤跡道時對坑斑的讀出操作的圖。
圖8B是說明當光斑再生堤跡道時對坑斑的讀出操作的圖。
圖9A示出一個典型的數(shù)據(jù)波形。
圖9B示出一個典型的數(shù)據(jù)波形。
圖9C示出一個典型的數(shù)據(jù)波形。
圖9D示出一個典型的數(shù)據(jù)波形。
圖10是說明一個地址塊內(nèi)的數(shù)據(jù)布局的圖。
圖11是說明一種典型情況的圖,其中各扇區(qū)地址上加上了地址號。
圖12是說明一個示范性光盤記錄/再生設備的方框圖。
圖13是說明一個地址校正部分的方框圖。
圖14是說明一個示范性光盤記錄/再生設備的方框圖。
圖15A是說明跟蹤誤差信號(TE信號)隨扇區(qū)地址區(qū)5中的跟蹤偏離的變化的示意圖。
圖15B是說明當光斑沿跡道2上的軌跡(a)通過時的TE信號的圖。
圖15C是說明當光斑沿跡道2上的軌跡(b)通過時的TE信號的圖。
圖15D是說明當光斑沿跡道2上的軌跡(c)通過時的TE信號的圖。
圖16A是示出數(shù)據(jù)區(qū)的一部分和一個扇區(qū)地址區(qū)的圖。
圖16B是說明時標發(fā)生部分中產(chǎn)生門信號的時序圖。
圖16C是說明時標發(fā)生部分中產(chǎn)生門信號的時序圖。
圖17是說明根據(jù)例8的一種光盤記錄/再生設備的方框圖。
圖18是說明一種含有一個ID探測電路的光盤記錄/再生設備的方框圖。
圖19A是說明一個以對稱方式設置在一條堤與一條槽之間的中央位置處的ID部分的圖。
圖19B是說明當用一個光束掃描時所得到的跟蹤誤差信號的圖。
圖19C是說明當跟蹤誤差信號通過了一個高通濾波器之后得到的信號的圖。
圖19D是說明當用一個全波整流器對通過了高通濾波器后的信號進行全波整流所得到的信號的圖。
圖19E是說明當經(jīng)全波整流的信號通過了第一低通濾波器后所得到的信號的圖。
圖19F是說明通過了第二和第三低通濾波器后的信號的圖。
圖19G是說明ID部分中的一個包絡信號的圖。
圖19H是說明一個極性信號的圖。
圖20A是說明一個以對稱方式設置在一條堤和一條槽之間的中央位置處的ID部分的圖。
圖20B是說明當用一個光束掃描時所得到的跟蹤誤差信號的圖。
圖20C是說明當跟蹤誤差信號通過了一個高通濾波器后得到的信號的圖。
20D是說明當用一個全波整流器對通過了高通濾波器的信號進行全波整流所得到的信號的圖。
圖20E是說明當經(jīng)全波整流的信號通過了第一低通濾波器后所得到的信號的圖。
圖20F是說明通過了第二和第三低通濾波器后的信號的圖。
圖20G是說明ID部分中的一個包絡信號的圖。
圖20H是說明一個極性信號的圖。
圖21是說明一個邏輯電路的圖。
圖22是說明一個示范性堤一槽記錄型光盤的圖。
圖23是說明一個記錄/再生光盤的跡道結(jié)構(gòu)的圖。
圖24是說明普通扇區(qū)地址的示意圖。
圖25是說明一個普通光盤記錄/再生設備的方框圖。
圖26是說明在一個普通例子中的RF信號和TE信號的圖。
實現(xiàn)本發(fā)明的最佳模式下面將參考各
本發(fā)明的一些例子。(例1)圖1示出根據(jù)本發(fā)明例1的一個光盤的概貌。在圖1中,代號1代表光盤;代號2代表跡道;代號3代表扇區(qū)地址;代號4代表扇區(qū);代號5代表扇區(qū)地址區(qū);以及代號6代表數(shù)據(jù)區(qū)。
根據(jù)預定的物理格式,多個扇區(qū)被沿著跡道2相繼地設置在光盤1上,每個扇區(qū)定義一個單元。每個扇區(qū)4都由一個指明了該扇區(qū)在光盤上的位置的扇區(qū)地址區(qū)5和一個實際記錄數(shù)據(jù)區(qū)6組成。
圖2示出一個扇區(qū)地址的示范性邏輯格式。一個扇區(qū)地址含有多個地址塊。每個地址塊都有一個地址號和一個重疊序列號。地址號和重疊序列號都由可識別的信息組成。在重疊序列號上寫入了對每個地址塊都是獨有的一個值。
在本例中,每個扇區(qū)地址都含有4個采用同樣格式的地址塊。從扇區(qū)地址的始端開始,這4個地址塊分別用ID1至ID4表示。
在圖2中,代號10代表時鐘同步信號(VFO);代號11代表地址標記(AM);代號12代表重疊序列號(ID號);代號13代表扇區(qū)的地址號;代號14代表誤差探測碼(EDC);代號15代表后綴符(PA)。代號16、17、18、19分別代表各個地址塊。每個地址塊都含有VFO10、AM11、ID號12、地址號碼13、EDC14、和PA15。
在VFO10中記錄了一個時種同步信號,它具有連續(xù)重復的圖式,以保證即使在光盤轉(zhuǎn)動可能出現(xiàn)起伏時也可獲得地址信號的再生。用于讀出數(shù)據(jù)的時鐘通過把一個PLL(鎖相環(huán))鎖定在這個圖式上來產(chǎn)生。在AM11中記錄了一個由用來指明地址數(shù)據(jù)開始點的特定代碼圖式所組成的地址標記。在ID號12中記錄了一個對每個地址塊都是獨有的號碼(重疊序列號)。在地址號13中記錄了地址數(shù)據(jù),該數(shù)據(jù)指明了對應于該地址號的某些或所有扇區(qū)在光盤上的位置。在EDC14中記錄了一個根據(jù)地址號和ID號產(chǎn)生的誤差探測代碼。PA15是一個后綴符,用來保證誤差探測代碼的最后數(shù)據(jù)在記錄時符合調(diào)制碼的規(guī)則。
在本例中,每個地址塊都具有圖2所示的格式。只要根據(jù)本發(fā)明的地址塊含有如地址號和重疊序列號(ID號)這樣的最不可缺少的信息,它們便可以具有任何的格式。此外,根據(jù)本發(fā)明的地址塊還可以含有如同前述的時鐘同步信號、地址標記、重疊序列號、地址號、誤差探測碼、和后綴符那樣的另外的信息。
圖3A示出一個扇區(qū)地址區(qū)中的地址塊布局。代號5代表扇區(qū)地址區(qū),而代號6和7代表數(shù)據(jù)區(qū)。代號21和23代表槽跡道;代號22代表堤跡道;代號24代表光斑;代號25代表地址坑斑;代號26代表記錄標記。假定了堤跡道和槽跡道的跡道寬度都是Tp。還假定了地址塊ID1和ID2組成一個地址組,地址塊ID3和ID4組成另一個地址組。每個地址組都相對于跡道中心沿徑向偏移了Tp/2。具體地說,一個地址組向光盤中心(內(nèi)周側(cè))移動了Tp/2,而另一個地址組離開光盤中心(外周側(cè))移動了Tp/2?;蛘咭部梢允牵粋€地址組離開光盤中心移動Tp/2,而另一個地址組則向光盤中心移動Tp/2。
圖3B示出當光斑再生一個扇區(qū)地址區(qū)時得到的再生信號(RF信號)波形和跟蹤誤差信號(TE信號)波形。一般,RF信號的振幅值基本上正比于光斑24在地址坑斑25上所占的面積。例如,當光斑24位于跡道中央時,光斑24照明地址塊ID1和ID2的地址坑斑25的面積基本上等同于照明地址塊ID3和ID4的地址坑斑25的面積。因此,如圖3B所示,可以得到具有基本相同振幅的RF信號。
在槽跡道的數(shù)據(jù)區(qū)6和7中,TE信號的值正比于光斑24與槽跡道之間的偏離量。類似地,在由一些坑斑構(gòu)成的扇區(qū)地址區(qū)5中,TE信號的值正比于光斑24與這些坑斑之間的偏離量。此外,TE信號的極性取決于坑斑25是位在光斑24的內(nèi)周側(cè)還是外周側(cè)。所以如圖3B所示,隨著地址塊的位置不同,得到的TE信號的極性也不同。
圖4A和4B示出當光斑處于偏離跡道的狀態(tài)時,扇區(qū)地址區(qū)中的RF信號情況。
圖4A示出當光斑24向跡道內(nèi)周側(cè)偏移時扇區(qū)地址區(qū)5中的RF信號。圖4B示出當光斑24向跡道外周側(cè)偏移時的RF信號。在圖4A中,在地址塊ID1和ID2內(nèi)由于光斑24通過時比較靠近地址塊16和17,所以RF信號有較大的振幅;但在地址塊ID3和ID4內(nèi)由于光斑24通過時比較遠離地址塊18和19,所以RF信號有較小的振幅。因此在ID3和ID4中地址信號變得難以讀出。不過,在一個扇區(qū)地址區(qū)中只要至少能正確地讀出一個地址信號就可以了。在圖4A的例子中,對應于ID1和ID2的RF信號是大的,由此能容易地讀出ID1和ID2的地址。這樣就讀到了扇區(qū)地址區(qū)的地址。
類似地,在圖4B中,雖然因ID1和ID2的RF信號振幅比較小而難以讀出地址,但相反地因ID3和ID4中的RF信號振幅是比較大的,所以讀出地址比較容易。換言之,不論光斑相對于跡道中央是向內(nèi)周側(cè)偏離還是向外周側(cè)偏離,扇區(qū)地址區(qū)中地址的可讀出性都不會降低。
通過相對于ID3和ID4以交替的方式設置ID1和ID2,對于堤跡道和槽跡道的地址可讀出性都不會降低。
此外,如圖3B所示,TE信號的電平對每個地址組交替地跳變,即變成正的或負的。然而,隨著使各地址組來回擺動,電平跳變的頻率增加了。具體地說,從光斑通過一個扇區(qū)地址區(qū)通常所需的時間周期(100μs或更小)來看,TE信號電平跳變的頻率為10kHz或更高,這大為超出了光斑能跟蹤目標跡道的控制頻帶。因此難以保證光斑能夠?qū)@樣的TE信號電平跳變作出響應。不過,由于各地址組的布局使得每個地址組向內(nèi)周側(cè)或外周側(cè)擺動相同的量,所以電平變化的平均值基本上為零,從而不可能出現(xiàn)光斑因直流成分而發(fā)生偏離的情況。其結(jié)果是,剛通過扇區(qū)地址區(qū)后跟蹤偏離被最小化了,從而可以減小對后續(xù)數(shù)據(jù)區(qū)的跟蹤控制的干擾。
雖然本例說明了在一個扇區(qū)地址區(qū)中設有4個地址塊的情況,但這個數(shù)目并沒有限制。對于均衡地在內(nèi)周側(cè)和外周側(cè)設置偶數(shù)個地址塊的情況,都能得到防止通過地址區(qū)后對跡道控制的干擾的效果。對于設置奇數(shù)個地址塊的情況,則因TE信號的電平跳變將出現(xiàn)直流成分,但由于TE信號電平跳變的頻率高于跡道控制頻帶,所以其影響很小。從地址的可讀出性和跡道控制的穩(wěn)定性來說,希望均衡地在內(nèi)周側(cè)和外周側(cè)設置偶數(shù)個地址塊。
雖然在本例中多余地提供了4個地址塊,但只要在扇區(qū)地址與準備記錄于各個地址塊中的地址號之間存在對應關(guān)系,不一定需要所有的地址號都是相同的。(例2)下面將參考圖5A和5B說明本發(fā)明的例2。例2涉及一種光盤,其中在一個扇區(qū)地址區(qū)5中加上了非地址的附加信息。
圖5A和5B示出了扇區(qū)地址區(qū)中的信息塊布局。在圖5A和5B中,代號107、108、109代表附加信息塊,其中記錄的信息不是地址號信息。地址塊16、17、18、19各自都含有用來根據(jù)ID號識別出地址號的地址信息。地址塊16、17、18、19與圖2所示例1中說明的地址塊相似。
與例1中地址塊16、17、18、19的情況相同,記錄附加信息塊也按沿徑向移動約Tp/2的距離設置。
特別地,對于附加信息塊比地址塊短或者不可能分割附加信息的情況,則如圖5A所示,附加信息塊107或者設置在內(nèi)周側(cè)(圖中虛線所示),或者設置在外周側(cè)(圖中實線所示)。
對于附加信息塊比較長的情況,則如圖5B所示它可以被分割成兩個可識別的單元108和109,并且交替地設置在跡道的內(nèi)周側(cè)和外周側(cè)。通過采用上述構(gòu)形,有可能像例1一樣地改善跟蹤偏離時的地址信息和附加信息的可讀出性以及通過扇區(qū)地址區(qū)時和通過扇區(qū)地址后的跡道控制穩(wěn)定性。
雖然根據(jù)本例附加信息塊是設置在每個扇區(qū)地址區(qū)的最后端處的,但附加信息塊也可以設置在其他位置處而不會影響根據(jù)本例所達到的效果。雖然在圖5B中位在內(nèi)周側(cè)的附加信息塊108是在地址塊19之后讀出的,但例2也可改為在地址塊19之后讀出位在外周側(cè)的附加信息塊,然后再讀出位在內(nèi)周側(cè)的附加信息塊。(例3)下面將參考圖6至9說明本發(fā)明的例3。
圖6A和6B示出扇區(qū)地址區(qū)中地址塊的布局。在圖6A和6B中,代號110和112代表槽跡道;代號111代表堤跡道;代號113、114、115、116、117、118、119和120代表地址塊;以及代號24代表光斑。在圖6A中先形成槽跡道(槽)110和設置在其兩側(cè)的地址塊113、114、115、116。然后在一個主光盤旋轉(zhuǎn)一周之后,形成槽跡道112和設置在其兩側(cè)的地址塊117、118、119、120。
在例3中,如圖6B所示,光肋上數(shù)據(jù)的布置使得每個地址塊中的最后圖式不是坑斑,并且下一個地址塊中的始端圖式也不是坑斑。
特別地,切割主光盤時在地址塊的最后圖式和始端圖式中制作了比旋轉(zhuǎn)精度(Δx)長的無坑斑數(shù)據(jù)。
下面說明為什么光盤上的數(shù)據(jù)要布置得在每個地址塊中的最后圖式和下一個地址塊中的始端圖式都不是坑斑的理由。
首先將簡單地說明一種形成跡道和地址坑斑的方法。一般,跡道和地址坑斑是通過把切割激光照射到一個轉(zhuǎn)動的主光盤上來形成的。當激光連續(xù)照射時,將得到一條連續(xù)的凹槽,這個凹槽就是一條跡道(即本例中的槽)。通過根據(jù)一個代表地址的記錄信號來接通和切斷激光照射從而得到不連續(xù)的照射激光,就在被激光照射的部分形成了一些坑斑,從而記錄了地址信號。換言之,對于含有扇區(qū)地址的光盤,跡道和地址是這樣形成的在光盤的每一周完整的轉(zhuǎn)動中,在以主光盤每轉(zhuǎn)動一周切割激光沿徑向移動一個跡道寬度的方式移動切割激光的同時,把切割激光的照射控制在凹槽部分和地址坑斑部分上。
根據(jù)例1和例2的擺動的地址也是用類似于上述形成跡道和地址坑斑的方法形成的。具體地說,槽跡道(槽)是用激光形成的,而地址坑斑是以分開的方式設置的,即或者設置在跡道的內(nèi)周側(cè)或者設置在跡道的外周側(cè)。因此在扇區(qū)地址區(qū)中,切割激光一方面被接通和切斷,一方面其中心又對每個地址塊向光盤中心或背向光盤中心移動Tp/2。
圖7A和7B是示出兩個地址組連接在一起的那一部分的示意圖。具體地說,這兩個圖說明了兩個地址塊共中一個連續(xù)的坑斑陣列的情況。
圖7A示出希望有的坑斑構(gòu)形。地址塊114的最后一個坑斑和地址塊115的第一個坑斑形成在離每個地址塊中心有一個預定距離的位置處。由于地址坑斑是在切割主光盤的同時移動地址區(qū)中的激光來形成的,對于要在一個連接著地址塊114和地址塊115的部分中形成坑斑的情況,在沿徑向移動切割激光的同時該激光仍照射著光盤。其結(jié)果是如圖7B所示,將形成不正確的斑坑,從而不可能再生出正確的數(shù)據(jù)。
由于主光盤的旋轉(zhuǎn)精度等有一些起伏,同一ID號中不同地址塊(例如圖6A中的地址塊113和117)沿著圓周邊方向的位置不一定相同。如果如圖6A所示它們的位置偏離為Δx,則由于地址塊118的尾端與地址塊115的始端互相重疊了一個距離Δx,所以有可能在再生堤跡道111時不能精確地探測出再生(RF)信號。
圖8A和8B是說明在光斑24再生堤跡道111時對坑斑的讀出操作的圖。圖8A示出當位在兩個地址塊之間的連接部分中的坑斑陣列不能分辨時的地址塊118和地址塊115。具體地說,圖8A示出的情況是,地址塊118和地址塊115在物理意義上和時間上互相重疊了Δx的切割精度,并且地址塊115的始端是坑斑數(shù)據(jù)。
在該情況中,如果地址塊118尾端處的無坑斑數(shù)據(jù)與115始端的坑斑數(shù)據(jù)相重疊,則從光盤讀出的再生信號將被認為是表明有坑斑存在,所以記錄在地址塊118中的數(shù)據(jù)將不能被正確地再生。
圖8B是說明當?shù)刂穳K的始端和尾端都是無坑斑數(shù)據(jù)時的示意圖。在再生圖8B中的地址塊118時,如果地址塊118的最后數(shù)據(jù)中的無坑斑數(shù)據(jù)與地址塊115始端中的無坑斑數(shù)據(jù)相重疊,則再生信號將是無坑斑數(shù)據(jù),所以記錄在地址塊118中的數(shù)據(jù)可以正確地再生。另一方面,在再生記錄于地址塊115中的數(shù)據(jù)時,地址塊115始端中的無坑斑數(shù)據(jù)的數(shù)目不能被正確地讀出。然而,一般來說一個地址塊的始端是一個VFO區(qū),并且由于只要能夠在VFO區(qū)后面的AM區(qū)中重新建立起同步再讀出記錄在地址數(shù)據(jù)區(qū)中的數(shù)據(jù),使得能正確地識別地址號與誤差探測碼(EDC)就可以避免對地址塊讀出操作的固有問題,所以并不總是有必要再生出所有記錄在VFO區(qū)中的數(shù)據(jù)。
圖9A至9D示出一些典型的數(shù)據(jù)波形。
圖9A和9B各自示出位在地址塊始端的一個VFO(時鐘同步信號)圖式。根據(jù)記錄修改的碼由NRZ(非回零)代表。在碼“1”處記錄信號的電平被反轉(zhuǎn)。圖9A和9B中的圖式是一種每隔4T反轉(zhuǎn)一次的圖式,其中T代表記錄碼的周期。這保證了這種重復性圖式的始端點是以一個空格開始。
圖9C和9D各自示出位在地址塊尾端的一個后綴符(PA)圖式。在該后綴符中,由于在記錄時誤差探測碼的最后數(shù)據(jù)必須符合修改碼的規(guī)則,后綴符前面部分中的圖式隨著它所跟隨的是一個標記還是一個空格而不同。這保證了后綴符的隨后部分總是空格。
這樣,通過如圖9A至9D所示那樣保證了每個扇區(qū)地址塊的始端圖式和最后圖式都是空格,就變得可能防止在地址塊以擺動方式布設時因主光盤切割中的不正確斑坑形成和扇區(qū)地址再生時各地址塊的重疊所造成的地址數(shù)據(jù)讀出誤差。在本例中,即使對于地址塊重疊高達4T長度的情況也不會出現(xiàn)誤差。
形成凹槽和地址坑斑的方法并不局限于上述方法。例如,作為另一種方法,可以在主光盤的一周旋轉(zhuǎn)中只有Tp/2的移動,并按照依次在內(nèi)周側(cè)形成地址組,然后形成凹槽、再在外周側(cè)形成地址組的次序操作。在此情形下,由于擺動的各個地址是在不同的旋轉(zhuǎn)周中切割的,所以不會出現(xiàn)因斑坑連接而造成的畸形;然而,因旋轉(zhuǎn)精度誤差所造成的地址塊重疊仍可能發(fā)生。所以,本例中的結(jié)構(gòu),即光盤上數(shù)據(jù)的布局面使得每個地址塊的最后圖式不是坑斑并且接著的地址塊的開始圖式也不是坑斑,仍然是有效的。在這種切割方法中,每三周旋轉(zhuǎn)形成一條凹槽。
或者,還有可能使用一組三個激光束分別切割出跡道槽、內(nèi)周側(cè)的地址坑斑、和外周側(cè)的地址坑斑,也就是說,一個激光束用來形成跡道槽,一個激光束用來形成內(nèi)周側(cè)的地址坑斑、一個激光束用來形成外周側(cè)的地址坑斑,并且各個激光束在各個預定的位置處被接通或切斷。在此情形中,由于擺動的各個地址是在不同的旋轉(zhuǎn)周中切割的,所以不會出現(xiàn)因坑斑連接而造成的畸形;但因激光定位精度誤差所造成的地址塊重疊仍可能發(fā)生。所以,本例中的結(jié)構(gòu),即光盤上數(shù)據(jù)的布局使得每個地址塊的最后圖式不是坑斑并且接著的地址塊的開始圖式也不是坑斑,仍然是有效的。這種切割方法使用了復雜的切割設備。(例4)下面將參考圖10說明本發(fā)明的例4。
圖10示出了扇區(qū)地址塊中的數(shù)據(jù)布局。與例1相同,代號110和112代表槽跡道;代號111代表堤跡道;代號113、114、115、116、117、118、119和120代表地址塊;以及代號24代表光斑。ID1中的地址塊113含有以下數(shù)據(jù)VFO1、地址標記(AM)、ID號、地址號、EDC、和后綴符(PA)。ID2中的地址塊114含有以下數(shù)據(jù)VFO2、地址標記(AM)、ID號、地址號、EDC、和后綴符(PA)。跟在ID1和ID2后面的ID3和ID4也含有類似數(shù)據(jù)。每個地址中各數(shù)據(jù)的排列次序與例1中的相同。
與例1的區(qū)別是,ID1和ID3地址塊的VFO1長度比ID2和ID4地址塊的VFO2長度長。
當用光斑24再生一個扇區(qū)地址區(qū)時,依次地再生出記錄在ID1和ID2地址塊中的數(shù)據(jù)。
數(shù)據(jù)區(qū)6由一個跡道構(gòu)成,但扇區(qū)地址區(qū)5卻由一個其中形成有地址坑斑的鏡面構(gòu)成,該鏡面相對于跡道中心偏移了Tp/2。因此如圖4所示,作為數(shù)據(jù)區(qū)6中的再生信號的RF信號的直流信號成分(直流電平)與扇區(qū)地址區(qū)5的RF信號的直流信號成分(直流電平)不同。所以當光斑24剛從數(shù)據(jù)區(qū)6移動到扇區(qū)地址區(qū)5時,RF信號的電平有很大的變化。因此,為了使數(shù)據(jù)(VFO1)的相位匹配于記錄/再生設備在讀出記錄于ID1中的數(shù)據(jù)時所使用的數(shù)據(jù)讀出時鐘,鎖定PLL所需的時間要比沒有電平變化的情況多。然而,當光斑24從ID1移動到ID2時,由于RF信號的電平?jīng)]有變化,所以為了使數(shù)據(jù)(VFO2)的相位匹配于記錄/再生設備在讀出記錄于ID2中的數(shù)據(jù)時所使用的數(shù)據(jù)讀出時鐘,鎖定PLL所需的時間要比有電平變化的情況少。其結(jié)果是,可以讓VFO1的長度比VFO1的長度短。
當再生堤跡道的扇區(qū)地址區(qū)時,對前一個地址組(ID1、ID2)的再生時鐘不一定要與對后一個地址組(ID3、ID4)的再生時鐘相一致。這是因為前一個地址組是與位在該堤跡道的外周側(cè)的相鄰槽跡道同時記錄的,而后一個地址組則是與位在該堤跡道的內(nèi)周側(cè)的相鄰槽跡道同時記錄的,所以在形成外周側(cè)的槽跡道與形成內(nèi)周側(cè)的槽跡道之間可能發(fā)生轉(zhuǎn)動變化和/或頻率變化。因此,在后一地址組的第一個地址塊(ID3)的VFO1處記錄/再生設備將重新鎖定PLL。較長的VFO1可提供較穩(wěn)定的鎖定。
對于所有地址塊的數(shù)據(jù)長度都相同的情況,可以使ID2和ID4中的VFO1長度與記錄/再生設備為了能正確地再生記錄在ID1和ID3中的數(shù)據(jù)所需要的VFO1長度相等。不過,這個方法使ID2和ID4中的VFO1不必要地長,而長的VFO1將造成浪費。
因此,只要能確保每個地址塊所需的VFO長度,可以讓ID2和ID4中的VFO1長度短于ID1和ID3中的VFO1長度。其結(jié)果是,有可能在保持地址可讀出性的同時,減少冗余的數(shù)據(jù)。
通過把ID1中的VFO1長度設定得與ID3中的VFO1長度相等,并把ID2中的VFO1長度設定得與ID4中的VFO1長度相等,則所有地址組中的數(shù)據(jù)長度也將變得相等,于是與例1中的情況相同,基本上不會對扇區(qū)地址區(qū)中跟蹤誤差信號的平均值有任何影響。(例5)下面將參考圖11說明本發(fā)明的例5。
圖11示出一個例子,其中給例1所述光盤的扇區(qū)地址區(qū)設定地址號。代號5代表扇區(qū)地址區(qū);代號6和7代表數(shù)據(jù)區(qū);代號51、53、61、63代表槽跡道;代號52和62代表堤跡道;以及代號54、55、56、57、64、65、66、和67代表地址塊。
現(xiàn)在將說明本例中所采用的一種設定地址的方法。假定準備記錄在扇區(qū)地址區(qū)5中的地址代表后繼數(shù)據(jù)區(qū)7的扇區(qū)。還假定各個槽跡道和堤跡道是逐個跡道地交替排列的,并依次地給它們指定扇區(qū)地址。在一組地址塊(ID1至ID4)中只設定槽跡道一個扇區(qū)的地址值,使得同一個值被重復地記錄。假定槽跡道61的扇區(qū)地址為#n,槽跡道51的扇區(qū)地址為#(n-1)。則#n被作為地址塊54、55、56、57的地址值被記錄在各個地址區(qū)(圖2中的地址13)中。假定堤跡道52的扇區(qū)地址為#(n+k-1);則堤跡道62的為#(n+k);槽跡道53的為#(n+2k-1);槽跡道63的為#(n+2k),這里每過一周跡道跡道號將增加k。作為地址塊64、65、66、67的地址值,記錄了#(n+2k)。(例6)圖12是說明根據(jù)例6的光盤記錄/再生設備在讀出例1光盤扇區(qū)地址方面的方框圖。在圖12中,代號31代表光盤;代號32代表光盤電機;代號33代表光學頭;代號34代表地址再生部分。地址再生部分34含有一個加法電路35、一個波形平衡部分36、一個數(shù)據(jù)分割部分37、一個PLL38、一個解調(diào)器39、一個AM探測部分40、一個轉(zhuǎn)接器41、以及一個誤差探測部分42。代號43代表誤差校正部分,而代號44代表地址校正部分。
雖然進行了光斑沿聚焦方向的位置控制處理,但由于是用普通的聚焦控制方法實現(xiàn)的,所以這里略去對聚焦控制的說明。
下面將說明圖12的光盤記錄/再生設備在讀出記錄于一個扇區(qū)地址區(qū)中的數(shù)據(jù)時的操作,該扇區(qū)地址區(qū)中含有如圖11所示的地址塊布局。
光學頭33把激光照射到光盤31上,由此根據(jù)從光盤31反射的光量探測到兩個再生信號。這兩個再生信號被加法電路35相加,給出一個RF信號,然后該RF信號被引導通過波形平衡部分36、數(shù)據(jù)分割部分37、PLL38、解調(diào)器39、轉(zhuǎn)接器41、和誤差探測部分42,從而對每個地址塊提取出一個地址號和一個ID號。提取地址號和ID號的操作與前面對普通例子所說明的操作相同。
當光斑24再生槽跡道51到61時,在扇區(qū)地址區(qū)中得到的地址信號分別是(#n,1)、(#n,2)、(#n,3)、和(#n,4),這里成對的符號是(地址號,ID號)。這些值被輸入給地址校正部分44(見圖13)。
另一方面,當光斑24再生堤跡道52到62時,在扇區(qū)地址區(qū)中得到的地址信號分別是(#n+2k,1)、(#n+2k,2)、(#n,3)、和(#n,4),這些值被依次地輸入給地址校正部分44。
在地址校正部分44中,根據(jù)各對再生的地址號和ID號來判斷扇區(qū)的地址值。這一判斷利用了格式的規(guī)則,在該格式中給每個地址塊指定了一個地址值。本例中采用的是圖11所示的格式。根據(jù)這樣的格式規(guī)則,當被再生的是一個槽扇區(qū)時,所有4個再生的地址值都相同,而當被再生的是一個堤扇區(qū)時,變得只是同一個地址組內(nèi)的地址值才是相同的。兩個地址組的地址值之差是2k,對應于兩周跡道的扇區(qū)數(shù)目。
圖13示出根據(jù)一個例子的地址校正部分。在圖13中,代號71、72、73、74代表存儲器;代號75和76代表比較器;代號77代表判斷電路;代號78代表加法器;代號79代表除法器。已在圖12所示的誤差探測部分42中被判定沒有誤差的地址號和ID號被輸送給地址校正部分44。在圖13所示的地址校正部分中,在各個ID區(qū)中再生的地址號分別被存儲在對應于相應ID號的存儲器71、72、73、74中。比較器75比較存儲在存儲器71和72中的分別來自ID1和ID2區(qū)的兩個地址號。如果它們相符合,則判定這地址號被正確地再生,從而向判斷電路輸出一個“符合”信號,并把該地址號輸送給加法器78。
類似地,比較器76比較存儲在存儲器73和74中的分別來自ID3區(qū)和ID4區(qū)的兩個地址號。如果它們相符合,則判定該地址號被正確地再生,從而向判斷電路輸出一個“符合”信號,并把該地址號輸送給加法器78。加法器78相加這兩個地址號,然后把結(jié)果輸送給除法器79。除法器79把輸入值除以2,再把結(jié)果作為探測到的地址號輸出。判斷電路77根據(jù)來自比較器75和76的“符合”信號判斷所得到的地址號是否正確。
下面將說明一種讀出存儲在含有圖11所示地址塊的扇區(qū)地址區(qū)中的數(shù)據(jù)的方法。當光斑24再生槽跡道51到61時,在扇區(qū)地址區(qū)中得到的地址號分別是(#n,1)、(#n,2)、(#n,3)、和(#n,4),這里成對的符號表示(地址號,ID號)。這樣,所有的地址值都一致,所以判斷電路77將判定它是正確地址,同時進行上述的數(shù)學操作以得到地址值,由此得到扇區(qū)地址#n。當光斑24再生堤跡道52到62時,在扇區(qū)地址區(qū)中得到的地址號分別是(#n+2k,1)、(#n+2K,2)、(#n,3)、和(#n,4)。比較器75和76也各自輸出一個“符合”信號。判斷電路77判定它們是正確地址,同時進行上述的數(shù)學操作以得到地址值,由此得到扇區(qū)地址#(n+k)。
根據(jù)本例,沒有必要去識別一個扇區(qū)是屬于槽跡道的還是堤道的,所以總是可以用同樣的數(shù)學操作來得到扇區(qū)地址。
不過,根據(jù)本例的地址校正方法也適用于下述情況,其中例如由于系統(tǒng)控制的目的而需要區(qū)分槽地址和堤地址。自比校器75和76輸出的地址號也被提供給判斷電路77,并在那里判斷它們的符合性。如果它們相符合,則判斷電路77將判定它們代表一個槽扇區(qū)的地址,如果它們不符合,則將判定它們代表一個堤扇區(qū)的地址。如果判斷電路77通過比較這兩個地址號并發(fā)現(xiàn)它們的差值為2k時才判定它們屬于堤扇區(qū),則能得到更為嚴格的判斷。
雖然本例只說明了所有地址塊ID1至ID4都被無誤差地再生的情況,但本發(fā)明并不局限于此。例如對于在誤差探測部分42中探測到了一個誤差的情況,即使來自一個比較器的信號表明“不符合”,但仍可以把與有誤差地址塊位于同一地址組中那個無誤差地再生的地址塊的地址用作為地址號。
此外,在本例中雖然保證了在再生槽跡道時可以讀到相同的地址號,但本例也適用于保證在再生堤跡道時可以讀到相同的地址號。雖然對一個槽跡道的一組地址塊(ID1至ID4)重復地設置了相同的地址號,但本發(fā)明并不局限于此。如果已知各個ID號和它們的記錄格式(規(guī)則),則可以根據(jù)ID號和它們的記錄格式(規(guī)則)來產(chǎn)生地址號,以此來代替上述的地址記錄格式(規(guī)則)。(例7)下面將參考14、15A至15D、和16A至16C來說明本發(fā)明的例7。例7涉及到一種用來探測光斑跟蹤偏差的設備。
圖14是說明根據(jù)例7的光盤記錄/再生設備的方框圖。在圖14中,代號31代表光盤;代號32代表光盤電機;代號33代表光學頭;代號34代表地址再生部分;代號81代表跟蹤誤差信號探測部分。跟蹤誤差信號探測部分81含有一個差分電路82和一個LPF(低通溏波器)83。代號84代表相位補償部分;代號85代表頭驅(qū)動部分;代號90代表時標發(fā)生部分;代號91代表外周值采樣保持部分;代號92代表內(nèi)周值采樣保持部分;代號93代表差分電路;以及代號94代表增益轉(zhuǎn)換電路。
下面將說明圖14的光盤記錄/再生設備在一個扇區(qū)地址區(qū)中探測光斑與跡道之間的偏離量(跟蹤偏離量)方面的操作,其中的扇區(qū)地址區(qū)具有如圖10所示布局的地址塊。
光學頭33把激光照射到光盤31上,由此根據(jù)反射光光量探測到兩個再生信號。這兩個再生信號被地址再生部分34轉(zhuǎn)換成一個RF信號,進而從該RF信號中對每個地址塊提取出一個地址號和一個ID號;這一操作與前面對普通例子所說明的操作相同。差分電路82導出兩個再生信號之間的差值,導出的差值被引導通過LPF83,以輸出一個TE信號。
圖15A是說明處于偏離跡道狀態(tài)時在扇區(qū)地址區(qū)5中的跟蹤誤差信號(TE信號)的變化的示意圖。如例1中所說明的,TE信號的電平偏移基本上正比于光斑與地址塊之間的距離,并且電平偏移的方向由光斑與地址塊之間的距離確定。這里假定當光斑24通過地址塊的外周側(cè)時TE信號取負值,當光斑24通過地址塊的內(nèi)周側(cè)時TE信號取正值。當光斑24沿跡道2中的軌跡(a)移動時,在ID1和ID2區(qū)中由于光斑24與地址塊之間的距離較小,所以TE信號的電平偏移VTE1取較小的負值。在ID3和ID4區(qū)中由于光斑24與地址塊之間的距離較大,所以TE信號的電平偏移VTE3取較大的正值。結(jié)果得到圖15B所示的TE信號。
當光斑24沿跡道2中的軌跡(b)移動時,由于光斑24與地址塊ID1至ID4之間的距離都相同,所以電平偏移量的大小也相同。在ID1和ID2區(qū)中電平偏移VTE1取負值,而在ID3和ID4區(qū)中電平偏移VTE3取正值。結(jié)果得到圖15C所示的TE信號。
當光斑24沿跡道2中的軌跡(c)移動時,在ID1和ID2區(qū)由于光斑24與地址塊之間的距離較大,所以TE信號的電平偏移量VTE1取一個較大的負值;而在ID3和ID4區(qū)由于光斑24與地址塊之間的距離較小,所以TE信號的電平偏移量VTE3取一個較小的正值。結(jié)果得到圖15D所示的TE信號。
如果15A至15D所示,VTE1和VTE3的變化取決于光斑24是沿跡道2中的哪個位置移動的,所以跟蹤偏離量可以根據(jù)兩個電平偏移量的差值來導出,也就是根據(jù)V跟蹤偏離=VTE1-VTE3導出。如果光斑24沿跡道2的中央軌跡(b)移動,則在扇區(qū)地址區(qū)5中VTE1-VTE3=0;如果光斑24沿跡道2中的軌跡(a)移動,則在扇區(qū)地址區(qū)5中VTE1-VTE3<0;如果光斑24沿跡道2中的軌跡(c)移動,則在扇區(qū)地址區(qū)5中VTE1-VTE3>0。這樣便可以得到跟蹤偏移的方向和大小。
下面將說明時標發(fā)生部分90在產(chǎn)生用來對TE信號采樣的時標信號時的操作。圖16A示出了數(shù)據(jù)區(qū)的一部分和一個扇區(qū)地址區(qū)。圖16B和16C是時標發(fā)生部分90中的門信號發(fā)生的時序圖。地址讀出信號從地址再生部分34輸入給時標發(fā)生部分90。根據(jù)地址讀出信號產(chǎn)生一個與內(nèi)周側(cè)地址塊相同步的門信號GT1和一個與外周側(cè)地址塊相同步的門信號GT2。門信號GT1是用來采樣內(nèi)周值采樣保持部分中的TE信號的信號。門信號GT2是用來采樣外周值采樣保持部分中的TE信號的信號。
圖16B示出當例7的記錄/再生設備已成功地讀出了ID1的一些典型門信號GT0、GT1和GT2。如果成功地讀出了ID1,則可以得知ID2、ID3和ID4出現(xiàn)的時刻。例如,倒7的記錄/再生設備可以產(chǎn)生與ID1的尾端相同步的信號GT0。當產(chǎn)生了與ID1尾端相同步的信號TG0后,就可以在產(chǎn)生門信號GT0的時刻基礎上延時T1產(chǎn)生門信號GT1;并在產(chǎn)生門信號GT0的時刻的基礎上延時T2產(chǎn)生門信號GT2。這樣就產(chǎn)生了用來采樣和保持位于內(nèi)周側(cè)的地址塊ID2中的TE信號的門信號GT1和用來采樣和保持位于外周側(cè)的地址塊ID3(或ID4,為了方便本例中假定為ID3)中的TE信號的門信號GT2。
圖16C示出了一個與一個扇區(qū)地址區(qū)相同步并代表該扇區(qū)地址區(qū)的典型門信號GT0,還示出了與門信號GT0相同步的門信號GT1和GT2。
假定代表扇區(qū)地址區(qū)的門信號GT0在該扇區(qū)地址區(qū)的緊前方上升。門信號GT1產(chǎn)生于比產(chǎn)生門信號GT0晚一個時間長度T3的時刻。門信號GT2產(chǎn)生于比產(chǎn)生門信號GT0晚一個時間長度T4的時刻。于是便產(chǎn)生了用來采樣和保持位于內(nèi)周側(cè)的地址塊ID2中的TE信號的門信號GT1和用來采樣和保持位于外周側(cè)的地址塊ID3(或ID4,為了方便本例中假定為ID3)中的TE信號的門信號GT2。
利用由時標發(fā)生部分90所產(chǎn)生的門信號GT1和TG2,則對于例如圖16B所示情況,位于外周側(cè)的地址塊ID3中的TE信號的電平VTE3將被與門信號GT2同步地存儲在外周值采樣保持部分91中,而位于內(nèi)周側(cè)的地址塊ID2中的TE信號的電平VTE1將被與門信號GT1同步地存儲在內(nèi)周值采樣保持部分92中。結(jié)果從差分電路93輸出一個值(VTE1-VTE3)。由于這個值對應于跟蹤偏離量,所以它可以在增益轉(zhuǎn)換部分94中通過把其電平調(diào)節(jié)到TE信號電平而進一步被轉(zhuǎn)換成跟蹤偏離信號(OFTR信號)。在跟蹤控制系統(tǒng)中,由于在跟蹤誤差信號探測部分81、相位補償部分84和頭驅(qū)動部分85中所產(chǎn)生的偏離成份等等,可能在跟蹤控制系統(tǒng)中出現(xiàn)TE信號被控制為零但光斑實際上并不位于跡道中央的情況。所以,通過把記錄/再生設備布局成具有圖14的結(jié)構(gòu),使它產(chǎn)生能用來校正跟蹤控制系統(tǒng)中的偏離的OFTR信號,就有可能把光斑定位到跡道中央。也有可能利用圖16C所示的門信號GT0、GT1和GT2把光斑定位到跡道中央。
門信號GT1應該被產(chǎn)生得同步于一個位于內(nèi)周側(cè)的地址塊,門信號GT2應該被產(chǎn)生得同步于一個位于外周側(cè)的地址塊。門信號GT1和GT2并不限定于某個特定的地址塊。
雖然時間長度T1和T2并不需要十分精確,但各個地址中的坑斑布局圖式最好用同樣的周期來測量。例如,在圖10所示的地址格式中,預先設定了地址塊ID1和ID3的時鐘同步信號(VFO1)要比其他區(qū)域長得多,所以這兩個區(qū)域因其再生信號變得穩(wěn)定(特別是在后面部分)而適合于用來采樣。
雖然在本例中在內(nèi)周側(cè)和外周側(cè)都只采樣了一個地址塊,但為了對付跡道有局部彎曲的情況,可以通過分別利用位于內(nèi)周側(cè)和外周側(cè)的多個地址塊的平均值來探測跟蹤偏離信號,從而得到平均性更好的值。(例8)下面將參考圖17說明本發(fā)明的例8。
圖17是說明根據(jù)例8的光盤記錄/再生設備的方框圖。在圖17中,代號31代表光盤;代號32代表光盤電機;代號33代表光學頭;代號34代表地址再生部分;代號81代表跟蹤誤差信號探測部分;代號84代表相位補償部分;以及代號85代表頭驅(qū)動部分。代號90代表時標發(fā)生部分;代號91代表外周值采樣保持部分;代號92代表內(nèi)周值采樣保持部分;代號93代表差分電路;以及代號94代表增益轉(zhuǎn)換電路。代號100代表反射光光量信號探測部分。反射光光量探測部分100含有一個加法電路101和一個LPF(低通濾波器)102。
在圖17中,代號31、32、33、34、81、84、85、90、91、92和93所代表的內(nèi)容與例7的相同,因此這里略去對它們的操作的說明。在例7中為了探測跟蹤偏離量而采樣保持了TE信號,但在例8中跟蹤偏離量的探測是通過采樣保持由反射光光量信號探測部分100所探測到的反射光光量信號(AS信號)來實現(xiàn)的。
在反射光光量信號探測部分100中,光學頭33中的一個雙分離光敏元件的輸出在加法電路101中相加,然后相加的信號被引導通過LPF102(其頻帶為幾十kHz,該頻帶高于跟蹤控制頻帶但低于RF信號頻帶),以除去其中的高頻成分。結(jié)果探測到一個代表平均反射光光量的AS信號。
如例1中所說明的,隨著光斑24的通過位置不同RF信號分別如圖3B、4A和4B所示那樣地移動。圖4A示出當光斑24沿偏向內(nèi)周側(cè)的位置通過時的RF信號,圖4B示出當光斑24沿偏向外周側(cè)的位置通過時的RF信號。
由于AS信號代表RF信號的平均電平,所以AS信號隨著RF信號幅度的變化而變化。因此,通過與位于內(nèi)周側(cè)和外周側(cè)的地址塊相同步地采樣和保持AS信號并像例7那樣求出它們之間的差值,便可以探測到一個對應于跟蹤偏離量的信號。在例7中用于采樣保持的門信號GT1和GT2是由時標發(fā)生部分90產(chǎn)生的。但是就產(chǎn)生門脈沖信號的定時性來說,由于在地址塊中那些具有相同坑斑圖式的部分中采樣AS信號能夠獲得更精確的探測,所以最好采用從VFO部分、AM部分、或者一個專門設置的坑斑部分導出的AS信號。
此外,例8的光盤記錄/再生設備可以與例7一樣,使用利用AS信號探測到的跟蹤偏離信號(OFTR信號)來校正跟蹤控制系統(tǒng)中的偏離。(例9)下面將參考圖18、19A至19H、20A至20H和21來說明根據(jù)本發(fā)明例9的一種光盤記錄/再生設備。例9的光盤記錄/再生設備含有一個關(guān)于光盤的ID探測電路。
如圖19A所示,用于例9的光盤具有這樣的結(jié)構(gòu),其中在堤和槽之間的中間位置上以對稱的形式設置了一些ID部分?;蛘?,該ID部分也可以具有圖3A所示的結(jié)構(gòu)。例9提供了這樣一種功能,即根據(jù)從光盤再生的一個信號探測出ID部分的位置和極性,并輸出在光盤設備中用作讀出信號的參考的讀出門信號和堤槽識別信號。
圖18是說明本發(fā)明例9所示的含有一個對于光盤的ID探測電路的光盤記錄/再生設備的方框圖。在圖18中,跟蹤誤差探測電路101接收從光盤(未示出)反射的光束103。跟蹤誤差探測電路101含有用來探測跟蹤信息的分離式探測器102和一個寬帶工作的差分放大器104,后者用來輸出作為跟蹤誤差信號105的兩個分離探測器102的探測信號之間的差分成分。跟蹤誤差信號105被分別輸入給一個包絡探測電路106和一個極性探測電路122包絡探測電路106含有一個高通濾波器107,用于提取跟蹤誤差信號105中的高頻成分;一個全波整流器109,用于使高頻成分108受到全波整流;一個第一低通濾波器111,用于從經(jīng)全波整流后的高頻成分110中提取一個低頻起伏成分112;以及一個第一比較器114,用于對低頻起伏成分112與一個參考電壓113進行比較并輸出ID包絡信號115。極性探測電路112含有一個第二低通濾波器116,用于從跟蹤誤差信號105中提取一個第二低頻成分117;一個第三低通濾波器118,用于從跟蹤誤差信號105中提取一個第三低頻成分,其中第三低頻成分119的帶寬比第二低頻成分117的帶寬小;以及一個第二比較器120,用于對第二低頻成分117與第三低頻成分119進行比較并輸出ID極性信號121。
圖19A至19H是一些說明根據(jù)例9的各個部分的操作的信號波形圖。下面將參考圖19A至19H說明根據(jù)例9的操作。
圖19A是說明在再生槽跡道時掃過光盤上的一個槽跡道的光束的示意圖。圖19A中的符號○代表光束,陰影部分代表槽跡道。在堤和槽之間的中間位置上以對稱的方式設置了ID部分,這些ID部分是插入在各跡道之間的。
圖19B是說明用光束掃描所得到的跟蹤誤差信號105的圖。跟蹤誤差信號105是通過再生ID部分中的信號坑斑并利用寬帶差分放大器104取出高頻成分而得到的。對于記錄在非ID部分的槽跡道內(nèi)的任何信號,由于兩個分離探測器探測到的信號具有相同的相位,所以在差分放大器104中它們被互相抵消,于是不會作為跟蹤誤差信號被探測出來。
圖19C示出跟蹤誤差信號105通過了高通濾波器107之后得到的信號。跟蹤誤差信號105被輸入給高通濾波器107,然后輸出如圖19C所示的跟蹤誤差信號105的高頻成分108。其中兩個ID部分之間的跟蹤誤差信號間隙即直流成分和因伺服擾動造成的低頻起伏都被高頻濾波器107除去了。
圖19D示出通過高通濾波器107的信號被全波整流器109全波整流之后所得到的信號。在全波整流器109中高頻成分得到全波整流,然后被輸入給第一低通濾波器111。
圖19E示出經(jīng)過全波整流的信號通過第一低通濾波器111后所得到的信號。已被第一低通濾波器111平滑化后的低頻起伏成分112被第一比較器114根據(jù)其與圖19E中所示的參考電壓113這間的關(guān)系數(shù)字化,從而產(chǎn)生了如圖19G所示的ID包絡信號115。
另一方面,跟蹤誤差信號105被輸入給第二低通濾波器116和第三低通濾波器118,分別提取出第二低頻成分117和第三低頻成分119。如圖19F所示,兩個ID部分之間的跟蹤誤差信號間隙即直流成分在所提取的波形中被原樣地保留下來,并且由于第二和第三低通濾波器的頻帶差別,第二低頻成分117的幅度總是大于第三低頻成分119的幅度。而且,即使再生光束處于偏離跡道的狀態(tài),這種幅度之間的關(guān)系也總是成立的。結(jié)果,第二比較器120通過比較第二低頻成分和第三低頻成分將輸出一個表明ID部分位置改變的ID極性信號121(圖19H)。在本例中,在包絡信號有效的時期內(nèi)探測到一個作為極性信號的下降邊沿。
下面將說明在為了再生堤跡道而用光束掃描光盤的一個堤跡道時所得到的極性信號。
圖20A是說明為了再生堤跡道而用光束掃描光盤的一個堤跡道的示意圖。關(guān)于與上述例9中為得到極性信號所進行的槽跡道掃描操作相同的操作的說明將略去。
堤跡道掃描情況與槽跡道掃描情況在跡道誤差信號間隙位置(跟蹤誤差信號的相位)方面的差別示于圖20B,在從第二和第三低通濾波器輸出的信號相位方面的差別示于圖20F。與掃描槽跡道得到極性信號的情況相似,例9將在包絡信號有效期間探測出一個上升邊沿作為極性信號。
下面將指出在實現(xiàn)例9的包絡探測電路106和極性探測電路122時的一些優(yōu)選的參數(shù)。進行實驗的條件是光盤的再生線速度為6m/s;數(shù)據(jù)率為14Mbps(每秒兆比特);ID周期為0.4mm。盡管有一些輸出丟失(即信號的微小丟失),對于高通濾波器107的截止頻率約為1MHz和第一低通濾波器的截止頻率約為100kHz的情況,精確地探測到了包絡信號115。在同樣條件下,通過使第二和第三低通濾波器具有約10倍的頻帶差別,即第二低通濾波器的截止頻率約為10kHz和第三低頻濾波器的截止頻率約為10kHz,極性信號121的探測誤差變?yōu)榱?。所以對于光束偏離得到了極好的探測結(jié)果。
現(xiàn)在將說明圖21所示邏輯電路的一個具體例子。對該邏輯電路131的輸入信號是上述的包絡信號115和極性信號121;輸出信號是讀出門信號127和堤-槽識別信號128。極性信號121被輸入給一個下降邊沿探測電路130和一個上升邊沿探測電路123,這兩個電路將輸出邊沿脈沖。一個“與”門電路124僅當包絡信號115有效時才提取邊沿脈沖。提取到的邊沿脈沖被輸入給一個RS(復原/設置)觸發(fā)器125。RS觸發(fā)器125輸出堤-槽識別信號128。
下面將說明識別堤、槽的一種方法。
當一條槽跡道被跟蹤時,在包絡信號115有效期間將探測到極性信號121的下降邊沿,于是有一個復原(R)信號輸入給RS觸發(fā)器125,結(jié)果堤-槽識別信號128變?yōu)榈碗娖健?br>
另一方面,當一條堤跡道被跟蹤時,在包絡信號115的有效期間將探測到極性信號121的上升邊沿,于是有一引設置(S)信號輸入給RS觸發(fā)器125,結(jié)果堤-槽識別信號128變?yōu)楦唠娖健?br>
因此有可能根據(jù)堤-槽識別信號的高/低電平來探測到堤或槽。一個延時電路126和一個“與”門129除去包絡信號115中的不需要的脈沖噪聲,由此產(chǎn)生讀出門信號127,用作光盤驅(qū)動設備的信號讀出參考。
邏輯電路并不局限于上述的電路,而是還可以在根據(jù)ID包絡信號和極性信號產(chǎn)生讀出門信號和堤-槽識別信號時具有圖式匹配或誤差探測保護的功能。
根據(jù)上述構(gòu)形,即使與本例中的光束情況不同,對于光束相對于跡道中心偏離(即跡道偏離狀態(tài))的情況,極性探測的精度也不會降低。結(jié)果,本例使得可能精確地判斷光束是在堤跡上還是在槽跡道上。工業(yè)應用性本發(fā)明的光盤含有以對稱方式設置在一個堤跡道與一個槽跡道之間中間位置處的ID部分。其結(jié)果是,即使對于再生光束發(fā)生偏離或者再生信號有輸出丟失的情況,也能夠高精度地探測出ID部分的位置和極性。所以,根據(jù)本發(fā)明,作為讀出參考的讀出門信號的產(chǎn)生和堤-槽的識別都變得穩(wěn)定,從而大為改善了光盤驅(qū)動設備的可靠性。
根據(jù)本發(fā)明的另一種光盤能夠在堤跡道和槽跡道上進行記錄/再生,并含有設置在相連跡道之間相對于中間位置有偏移處的扇區(qū)地址。組成一個扇區(qū)地址的多個地址塊被分成一些地址組,每一組至少包括兩個或多個址塊;各個地址組的設置使得它們相對于跡道中央沿徑向交替地向內(nèi)周側(cè)和外周側(cè)擺動。這樣,即使光斑偏離了跡道,也可以可靠地讀出扇區(qū)地址。此外,可以減少由于一個扇區(qū)地址區(qū)內(nèi)跟蹤誤差信號的電平變化所造成的跡道控制干擾。
在根據(jù)本發(fā)明的又一種光盤中,設置了一些地址組,其中每個地址組至少包括兩個或多個地址塊,在每個地址塊的始端部分都加上了一個時鐘同步信號,并且地址組的第一個地址塊的時鐘同步信號比其他地址塊的時鐘同步信號長。這樣可以穩(wěn)定地再生出地址組的始端部分。其結(jié)果是可以可靠地進行與讀出時鐘的同步和數(shù)字化切割電平的設定等等。有可能正確地解調(diào)記錄在比記錄時鐘同步信號的部分晚訪問的那些部分內(nèi)的數(shù)據(jù)。
在根據(jù)本發(fā)明的一種光盤記錄/再生設備中,當再生擺動的各個地址塊時,不論對于堤跡道和槽跡道都能夠根據(jù)各個重疊序列號來校正讀出的地址號。其結(jié)果是,可以對一個扇區(qū)地址中的各個地址塊讀出不同的地址號,從而得到精確的地址值。
在根據(jù)本發(fā)明的另一種光盤記錄/再生設備中,可以通過探測位于內(nèi)周側(cè)的地址塊中的跟蹤誤差信號或反射光光量信號與位于外周側(cè)的地址塊中的跡道誤差信號或反射光光量信號之間的差值,來探測光斑與跡道這間的真實跡道偏離量。此外,通過利用這個跟蹤偏離量來校正跟蹤誤差信號,可以實現(xiàn)一個能夠使光斑始終位于跡道中央的跟蹤控制系統(tǒng)。
這樣,在根據(jù)本發(fā)明的另一種光盤記錄/再生設備中,含有高頻成分的寬帶跟蹤誤差信號在一個跟蹤誤差探測電路中探測,而ID包絡信號則僅僅根據(jù)跟蹤誤差信號內(nèi)的ID部分利用一個高通濾波器、一個全波整流器、一個第一低通濾波器和一個第一比較器探測。這時,即使在再生記錄于跡道上非ID部分中的數(shù)據(jù)時,其振幅也不會出現(xiàn)在差分放大器所探測到的跟蹤誤差信號中,從而不會發(fā)生探測錯誤。
在根據(jù)本發(fā)明的又一種光盤記錄/再生設備中,對稱地設置于堤跡道和槽跡道之間的ID部分的極性由一個第二低通濾波器,一個第三低通濾波器和一個第二比較器探測。這時即使當光束處于跡道偏離狀態(tài)時跟蹤誤差信號會帶有幅度擾動,但由具有不同頻帶的第二和第三低通濾波器所產(chǎn)生的極性信號方向也不會改變。此外,由于讀出門信號是根據(jù)包絡信號產(chǎn)生的,并且極性信號的方向是在包絡信號有效期間中確定的,所以有可能識別光束是在跟蹤一個堤跡道還是一個槽跡道。
權(quán)利要求
1.一種堤-槽型光盤,它包括多個各自含有一個扇區(qū)地址和一個數(shù)據(jù)區(qū)的扇區(qū),扇區(qū)地址指明了扇區(qū)的位置,其中的扇區(qū)地址含有多個地址塊,多個地址塊中的至少4個地址塊各自含有一個地址號和一個重疊序列號;至少4個地址塊中的每兩個地址塊組成一組;以及各個地址塊組的排列方式是相對于跡道中央沿徑向交替地向內(nèi)周側(cè)和外周側(cè)偏移基本上等于半個跡道寬度的距離。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的光盤,其中的扇區(qū)地址包含一個含有除了地址號和重疊序列號以外的信息的數(shù)據(jù)塊;以及該數(shù)據(jù)塊的設置方式是,相對于跡道中央沿徑向向內(nèi)周側(cè)或外周側(cè)偏移基本上等于半個跡道寬度的距離。
3.根據(jù)權(quán)利要求1的光盤,其中的扇區(qū)地址包含至少兩個含有除了地址號和重疊序列號以外的信息的數(shù)據(jù)塊;以及這些數(shù)據(jù)塊的設置方式是,至少兩個數(shù)據(jù)塊中的一個數(shù)據(jù)塊相對于跡道中央沿徑向向內(nèi)周側(cè)偏移基本上等于半個跡道寬度的距離,另一個數(shù)據(jù)塊相對于跡道中央沿徑向向外周側(cè)偏移基本上等于半個跡道寬度的距離。
4.根據(jù)權(quán)利要求1的光盤,其中每個地址塊的第一個圖式和最后一個圖式包含非地址坑斑數(shù)據(jù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1的光盤其中多個地址塊中的至少4個地址塊含有時鐘同步信號數(shù)據(jù);以及含在每個地址塊組的第一個地址塊中的時鐘同步信號數(shù)據(jù)的長度比含在地址塊組的其他地址塊中的時鐘同步信號的長度長。
6.一種光盤記錄/再生設備,它包括一個光學頭,用來把一個光束照射到根據(jù)權(quán)利要求1的光盤上,并接收從光盤反射的光,以輸出一個再生信號;一個地址信號再生部分,用來在再生該光盤的扇區(qū)地址時讀出地址號和重疊序列號;以及一個地址校正部分,用來對每個地址塊根據(jù)已讀出的重疊序列號去校正讀出的地址號。
7.一種光盤記錄/再生設備,它包括一個根據(jù)權(quán)利要求1的光盤;一個跟蹤誤差信號探測部分,用來探測代表跡道與光斑之間的偏離量的跟蹤誤差信號;一個時標發(fā)生部分,用來產(chǎn)生分別與扇區(qū)地址的各個地址塊相同步的門信號;一個外周值采樣保持部分,用來與門信號相同步地采樣和保持關(guān)于位于外周側(cè)的地址塊的跟蹤誤差信號電平;一個內(nèi)周值采樣保持部分,用來采樣和保持關(guān)于位于內(nèi)周側(cè)的地址塊的跟蹤誤差信號電平;一個差分電路,用來導出外周值采樣保持部分的值與內(nèi)周值采樣保持部分的值之間的差值;以及增益轉(zhuǎn)換部分,用來把差分電路的輸出轉(zhuǎn)換成一個預定信號的電平。
8.一種光盤記錄/再生設備,它包括一個根據(jù)權(quán)利要求1的光盤;一個反射光光量信號探測部分,用來探測從光盤反射的光的光量;一個時標發(fā)生部分,用來產(chǎn)生分別與扇區(qū)地址中的各地址塊相同步的門信號;一個外周值采樣保持部分,用來與門信號相同步地采樣和保持關(guān)于位于外周側(cè)的地址塊的反射光光量信號的電平;一個內(nèi)周值采樣保持部分,用來采樣和保持關(guān)于位于內(nèi)周側(cè)的地址塊的反射光光量信號的電平;一個差分電路,用來導出外周值采樣保持部分的值與內(nèi)周值采樣保持部分的值之間的差值;以及增益轉(zhuǎn)換部分,用來把差分電路的輸出轉(zhuǎn)換成一個預定信號的電平。
9.一種含有一個關(guān)于光盤的ID探測電路的光學記錄/再生設備,它包括一個跟蹤誤差探測電路,該電路含有用來獲得關(guān)于根據(jù)權(quán)利要求1的光盤的跟蹤誤差信號的分離的探測器和用來把由分離的探測器所探測到的信號之間的差分成分作為跟蹤誤差信號輸出的寬帶差分放大器;一個包絡探測電路,該電路含有一個用來提取跟蹤誤差信號的高頻成分的高通濾波器、一個用來對該高頻成分進行全波整流的全波整流器、一個用來提取經(jīng)全波整流后的高頻成分的一個低頻起伏成分的第一低通濾波器、以及一個用來比較該低頻起伏成分與一個參考電壓以輸出一個ID包絡信號的第一比較器;一個極性探測電路,該電路含有一個用來從跟蹤誤差信號提取一個第二低頻成分的第二低通波濾器、一個用來從跟蹤誤差信號提取一個第三低頻成分的第三低通濾波器,該第三低頻成分的頻帶小于第二低頻成分的頻帶、以及一個用來比較第二低頻成分與第三低頻成分以輸出一個ID極性信號的第二比較器;以及一個邏輯電路,用來根據(jù)包絡信號和極性信號輸出一個讀出門信號和一個堤—槽識別信號。
全文摘要
地址組由地址塊16、17、18和19中的兩個地址塊組成,其中的地址塊16、17、18和19設置在一個扇區(qū)地址區(qū)5中并含有關(guān)于地址號13和重疊序列號14的可識別信息。各個地址組的設置方式是,各個地址組相對于跡道中央2沿徑向交替地向內(nèi)周側(cè)或外周側(cè)偏移基本上等于半個跡道寬的距離。
文檔編號G11B20/12GK1216139SQ97193818
公開日1999年5月5日 申請日期1997年4月15日 優(yōu)先權(quán)日1996年4月15日
發(fā)明者竹村佳也, 古宮成, 石田隆, 青木芳人, 大原俊次, 上岡優(yōu)一, 貝島豐治 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社