專利名稱：具有評價盤的圖案的光盤的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光盤、向該光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄方法及數(shù)據(jù)記錄裝置和從光盤再生數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)再生方法及數(shù)據(jù)再生裝置，特別是記錄了可以檢測傾斜量的檢測信號的光盤、將傾斜量檢測信號與數(shù)據(jù)一起向該光盤記錄的記錄方法及數(shù)據(jù)記錄裝置和從光盤檢測傾斜量檢測信號再生數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)再生方法及數(shù)據(jù)再生裝置。
另外，本發(fā)明涉及具有評價測試圖案的光盤、將再生數(shù)據(jù)與評價測試數(shù)據(jù)一起向該光盤記錄的記錄方法及數(shù)據(jù)記錄裝置和從光盤讀出評價數(shù)據(jù)評價光盤的方法及裝置，特別是記錄了可以判斷制造的光盤合格與否的評價測試圖案的光盤、將評價測試數(shù)據(jù)與再生數(shù)據(jù)一起向該光盤記錄的記錄方法及其裝置和從光盤檢測評價測試圖案信號判斷制造的光盤合格與否的方法及其裝置。
如所周知，在作為一種信息記錄再生裝置的以光學(xué)方式記錄信息的光盤裝置中，盤再生面與物鏡面的相對的傾斜量越大，再生信號的頻率特性越壞，最后，數(shù)據(jù)讀出時的誤碼率也越差。該相對的傾斜量取決于盤的物理彎曲引起的傾斜和光頭的物鏡的物理傾斜引起的傾斜。
以往，為了解決這些問題，如所周知，采用的方法是機(jī)械地使光頭傾斜，以消除盤再生面與物鏡面的相對的傾斜，例如，特開平3-142723等所記載的方法。該先有的裝置具有將光讀寫頭支持為可以傾動并通過齒輪與作為傾動源的電機(jī)機(jī)械連接的機(jī)構(gòu)。在該裝置中，檢測盤的傾斜量，電機(jī)根據(jù)該傾斜量轉(zhuǎn)動，通過齒輪使光讀寫頭傾斜，控制物鏡與光盤間的相對的傾斜量。利用這樣的控制系統(tǒng)，消除盤再生面與物鏡面的相對的傾斜。
在采用這種先有的控制方式的裝置中，由于在控制系統(tǒng)內(nèi)存在電機(jī)、齒輪等機(jī)械部件，所以，在高頻區(qū)域，傾斜修正控制困難，只能在直流成分附近的控制頻帶內(nèi)進(jìn)行傾斜修正，另外，由于使用機(jī)械部件，所以，裝置的小型化困難。特別是在正在開發(fā)可以以高密度記錄大容量的信息的光盤的今天，為了再生信息，直流成分區(qū)域的傾斜修正已不夠充分，迫切希望開發(fā)不僅在直流成分區(qū)域而且在高頻區(qū)域也可以正確地進(jìn)行傾斜修正的方式。
另外，在作為信息記錄再生裝置的一種的以光學(xué)方式記錄信息的光盤裝置中，數(shù)據(jù)以高精度記錄到光盤中就是以高精度再生數(shù)據(jù)的前提。例如，如果在光盤上形成的凹槽(hit)的成形性差，可以預(yù)想，當(dāng)然再生信號就不能以高精度、換言之就是不能以低誤碼率從該凹槽進(jìn)行再生，從而就不能再生數(shù)據(jù)。同樣，如果再生信號的頻率特性差，最終數(shù)據(jù)讀出時的誤碼率就差，另外，大家知道，如果來自相鄰的凹槽串的串音成分大，對于檢索對象，就不能從凹槽串獲得檢索數(shù)據(jù)。
以往，雖然希望出現(xiàn)以高精度判斷制造的光盤是否合格的方式，但是，在存儲容量不太大的光盤中，在實際的再生系統(tǒng)中只要確認(rèn)了記錄數(shù)據(jù)，對判斷該數(shù)據(jù)的記錄是否良好已足夠了。然而，在正在開發(fā)可以以高密度記錄大容量的信息的光盤的今天，就要求以更高的精度判斷數(shù)據(jù)的記錄是否良好，從而便要求開發(fā)這樣的判斷方式。
本發(fā)明的第1個目的旨在提供即使發(fā)生其再生面與物鏡面的相對的傾斜也可以使再生信號的特性最佳的光盤。
另外，本發(fā)明的第2個目的旨在提供即使發(fā)生其再生面與物鏡面的相對的傾斜也可以使再生信號的特性最佳的將測試圖案與數(shù)據(jù)一起向光盤記錄的記錄方法。
另外，本發(fā)明的第3個目的旨在提供即使發(fā)生其再生面與物鏡面的相對的傾斜也可以使再生信號的特性最佳的將測試圖案與數(shù)據(jù)一起向光盤記錄的記錄裝置。
另外，本發(fā)明的第4個目的旨在提供即使發(fā)生其再生面與物鏡面的相對的傾斜也可以使再生信號的特性最佳的測試圖案從光盤再生從而從可以使再生數(shù)據(jù)最佳的從光盤再生數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)再生方法。
另外，本發(fā)明的第5個目的旨在提供即使發(fā)生其再生面與物鏡面的相對的傾斜也可以從光盤再生使再生信號的特性最佳的測試圖案從而從可以使再生數(shù)據(jù)最佳的從光盤再生數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)再生裝置。
本發(fā)明的第6個目的旨在提供記錄了可以以高精度判斷記錄的數(shù)據(jù)是否良好的評價圖案的光盤。
另外，本發(fā)明的第7個目的旨在提供將可以以高精度判斷記錄的數(shù)據(jù)是否良好的評價圖案與再生數(shù)據(jù)一起向光盤記錄的方法。
另外，本發(fā)明的第8個目的旨在提供將可以以高精度判斷記錄的數(shù)據(jù)是否良好的評價圖案與再生數(shù)據(jù)一起向光盤記錄的裝置。
另外，本發(fā)明的第9個目的旨在提供再生可以以高精度判斷記錄的數(shù)據(jù)是否良好的評價圖案從而判斷光盤是否良好的方法。
另外，本發(fā)明的第10個目的旨在提供再生可以以高精度判斷記錄的數(shù)據(jù)是否良好的評價圖案從而判斷光盤是否良好的裝置。
據(jù)本發(fā)明，可以提供具有數(shù)據(jù)區(qū)域和測試圖案區(qū)域的光盤。設(shè)溝道凹槽長為T，n和m是整數(shù)，凹槽具有最短凹槽長(mT)、最長凹槽長(nT)和最短凹槽長(mT)與最長凹槽長(nT)間的指定凹槽長的某一種凹槽長，非凹槽具有最短非凹槽長(*mT)、最長非凹槽長(*nT)和最短非凹槽長(*mT)與最長非凹槽長(*nT)間的指定的非凹槽長的某一種非凹槽長，數(shù)據(jù)區(qū)域利用該凹槽和非凹槽的排列記錄數(shù)據(jù)；測試圖案區(qū)域設(shè)在該數(shù)據(jù)區(qū)域之外，記錄上述短凹槽及最短非凹槽反復(fù)組合的最短凹槽串、上述最長凹槽及最長非凹槽反復(fù)組合的最長凹槽串和具有最短凹槽長(mT)與最長凹槽長(nT)間的指定凹槽長的凹槽及與該凹槽對應(yīng)的非凹槽反復(fù)組合的指定凹槽串排列的測試圖案。
另外，按照本發(fā)明，具有提供具有讀出裝置、檢測裝置和修正裝置的光盤再生裝置。讀出裝置從具有根據(jù)記錄數(shù)據(jù)排列凹槽及非凹槽的數(shù)據(jù)區(qū)域及根據(jù)預(yù)定的排列規(guī)則排列上述凹槽及非凹槽的測試圖案的光盤中光學(xué)地讀出測試圖案及數(shù)據(jù)作為再生信號。檢測裝置從根據(jù)上述測試圖案讀出的再生信號中檢測對裝置固有的修正系數(shù)；修正裝置用該修正系數(shù)修正從上述數(shù)據(jù)區(qū)域讀出的再生信號。
另外，按照本發(fā)明，可以提供具有讀出步驟、檢測步驟和修正步驟的光盤的再生方法。讀出步驟從具有根據(jù)記錄數(shù)據(jù)排列凹槽及非凹槽的數(shù)據(jù)區(qū)域及根據(jù)預(yù)定的排列規(guī)則排列上述凹槽及非凹槽的測試圖案的光盤中光學(xué)地讀出測試圖案及數(shù)據(jù)作為再生信號。檢測步驟從根據(jù)上述測試圖案讀出的再生信號中檢測對裝置固有的修正系數(shù)修正步驟用該修正系數(shù)修正從上述數(shù)據(jù)區(qū)域讀出的再生信號。
另外，按照本發(fā)明，可以提供具有數(shù)據(jù)變換步驟、發(fā)生測試信號的步驟和記錄步驟的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄方法。設(shè)溝道凹槽長為T，n和m是整數(shù)，凹槽具有最短凹槽長(mT)、最長凹槽長(nT)和最短凹槽槽具有最短非凹槽長(*mT)、最長非凹槽長(*nT)和最短非凹槽長(*mT)與最長非凹槽長(*nT)間的指定的非凹槽長的某一種非凹槽長，數(shù)據(jù)變換步驟將應(yīng)記錄的數(shù)據(jù)變換為與該凹槽和非凹槽的排列對應(yīng)的凹槽數(shù)據(jù)；測試信號發(fā)生步驟發(fā)生與上述最短凹槽及最短非凹槽反復(fù)組合的最短凹槽串、上述最長凹槽及最長非凹槽反復(fù)組合的最長凹槽串和具有最短凹槽長(mT)與最長凹槽長(nT)間的指定凹槽長的凹槽及與該凹槽對應(yīng)的非凹槽反復(fù)組合的指定凹槽串排列的測試圖案相當(dāng)?shù)臏y試信號；記錄步驟以凹槽和非凹槽的排列將上述凹槽數(shù)據(jù)記錄到光盤的數(shù)據(jù)區(qū)域，將上述測試信號記錄到與光盤的數(shù)據(jù)區(qū)域不同的測試圖案區(qū)域。
另外，按照本發(fā)明，可以提供具有數(shù)據(jù)變換裝置、測試信號發(fā)生裝置和記錄機(jī)構(gòu)的將數(shù)據(jù)向光盤記錄的記錄裝置。設(shè)溝道凹槽長為T，n和m是整數(shù)，凹槽具有最短凹槽長(mT)、最長凹槽長(nT)和最短凹槽長(mT)與最長凹槽長(nT)間的指定凹槽長的某一種凹槽長，非凹槽具有最短非凹槽長(*mT)、最長非凹槽長(*nT)和最短非凹槽長(*mT)與最長非凹槽長(*nT)間的指定的非凹槽長的某一種非凹槽長，數(shù)據(jù)變換裝置將應(yīng)記錄的數(shù)據(jù)變換為與該凹槽和非凹槽的排列對應(yīng)的凹槽數(shù)據(jù)；測試信號發(fā)生裝置發(fā)生與上述最短凹槽及最短非凹槽反復(fù)組合的最短凹槽串、上述最長凹槽及最長非凹槽反復(fù)組合的最長凹槽串和具有最短凹槽長(mT)與最長凹槽長(nT)間的指定凹槽長的凹槽及與該凹槽對應(yīng)的非凹槽反復(fù)組合的指定凹槽串排列的測試圖案相當(dāng)?shù)臏y試信號；記錄機(jī)構(gòu)以凹槽和非凹槽的排列將上述凹槽數(shù)據(jù)記錄到光盤的數(shù)據(jù)區(qū)域，將上述測試信號記錄到與光盤的數(shù)據(jù)區(qū)域不同的測試圖案區(qū)域。
在上述光盤中，即使光盤再生面與物鏡間發(fā)生相對的傾斜，也可以根據(jù)該量利用修正系數(shù)使再生信號為最佳。因此，可以使再生信號的頻率特性總是最佳的，從而可以提高再生信號特性。于是，最終便可改善數(shù)據(jù)讀出時的誤碼率。
另外，按照本發(fā)明，可以提供具有數(shù)據(jù)區(qū)域和測試圖案區(qū)域的光盤。設(shè)溝道凹槽長為T，n和m是整數(shù)，凹槽具有最短凹槽長(mT)、最長凹槽長(nT)和最短凹槽長(mT)與最長凹槽長(nT)間的指定凹槽長的某一種凹槽長，非凹槽具有最短非凹槽長(*mT)、最長非凹槽長(*nT)和最短非凹槽長(*mT)與最長非凹槽長(*nT)間的指定的非凹槽長的某一種非凹槽長，數(shù)據(jù)區(qū)域利用該凹槽和非凹槽的排列記錄數(shù)據(jù)；測試圖案區(qū)域設(shè)在該數(shù)據(jù)區(qū)域之外，形成用于判斷記錄從具有上述最短凹槽及最短非凹槽和最短凹槽長(mT)與最長凹槽長(nT)間的指定凹槽長的凹槽中選擇的凹槽及與該凹槽對應(yīng)的非凹槽的組合的測試圖案的光盤的記錄狀態(tài)的測試圖案。
另外，按照本發(fā)明，可以提供具有讀出裝置和檢測裝置的光盤的評價裝置。讀出裝置從具有根據(jù)記錄數(shù)據(jù)排列凹槽及非凹槽的數(shù)據(jù)區(qū)域及根據(jù)預(yù)定的排列規(guī)則排列上述凹槽及非凹槽的測試圖案的光盤中光學(xué)地讀出測試圖案及數(shù)據(jù)作為再生信號；檢測裝置從根據(jù)上述測試圖案讀出的再生信號中檢測對光盤固有的評價數(shù)據(jù)。
另外，按照本發(fā)明，可以提供具有讀出步驟、檢測步驟和判斷步驟的光判的評價方法。讀出步驟從具有根據(jù)記錄數(shù)據(jù)排列凹槽及非凹槽的數(shù)據(jù)區(qū)域及根據(jù)預(yù)定的排列規(guī)則排列上述凹槽及非凹槽的測試圖案的光盤中光學(xué)地讀出測試圖案及數(shù)據(jù)作為再生信號。檢測步驟從根據(jù)上述測試圖案讀出的再生信號中檢測對光盤固有的評價數(shù)據(jù)；判斷步驟根據(jù)該評價數(shù)據(jù)判斷光盤是否良好。
另外，按照本發(fā)明，可以提供具有數(shù)據(jù)變換步驟、測試信號發(fā)生步驟和記錄步驟的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄方法。設(shè)溝道凹槽長為T，n和m是整數(shù)，凹槽具有最短凹槽長(mT)、最長凹槽長(nT)和最短凹槽長(mT)與最長凹槽長(nT)間的指定凹槽長的某一種凹槽長，非凹槽具有最短非凹槽長(*mT)、最長非凹槽長(*nT)和最短非凹槽長(*mT)與最長非凹槽長(*nT)間的指定的非凹槽長的某一種非凹槽長，數(shù)據(jù)變換步驟將應(yīng)記錄的數(shù)據(jù)變換為與該凹槽和非凹槽的排列對應(yīng)的凹槽數(shù)據(jù)；測試信號發(fā)生步驟發(fā)生與從具有上述最短凹槽及最短非凹槽和最短凹槽長(mT)與最長凹槽長(nT)間的指定凹槽長的凹槽中選擇的凹槽及與該凹槽對應(yīng)的非凹槽的組合的測試圖案相當(dāng)?shù)臏y試信號；記錄步驟以凹槽和非凹槽的排列將上述凹槽數(shù)據(jù)記錄到光盤的數(shù)據(jù)區(qū)域，將上述測試信號記錄到與光盤的數(shù)據(jù)區(qū)域不同的測試圖案區(qū)域。
另外，按照本發(fā)明，可以提供具有數(shù)據(jù)變換裝置、測試信號發(fā)生裝置和記錄機(jī)構(gòu)的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄裝置。設(shè)溝道凹槽長為T，n和m是整數(shù)，凹槽具有最短凹槽長(mT)、最長凹槽長(nT)和最短凹槽長(mT)與最長凹槽長(nT)間的指定凹槽長的某一種凹槽長，非凹槽具有最短非凹槽長(*mT)、最長非凹槽長(*nT)和最短非凹槽長(*mT)與最長非凹槽長(*nT)間的指定的非凹槽長的某一種非凹槽長，數(shù)據(jù)變換裝置將應(yīng)記錄的數(shù)據(jù)變換為與該凹槽和非凹槽的排列對應(yīng)的凹槽數(shù)據(jù)；測試信號發(fā)生裝置發(fā)生與從具有上述最短凹槽及最短非凹槽和最短凹槽長(mT)與最長凹槽長(nT)間的指定凹槽長的凹槽中選擇的凹槽及與該凹槽對應(yīng)的非凹槽的組合的測試圖案相當(dāng)?shù)臏y試信號；記錄機(jī)構(gòu)以凹槽和非凹槽的排列將上述凹槽數(shù)據(jù)記錄到光盤的數(shù)據(jù)區(qū)域，將上述測試信號記錄到與光盤的數(shù)據(jù)區(qū)域不同的測試圖案區(qū)域。
在上述光盤中，檢測最短凹槽及最短非凹槽的凹槽串和最長凹槽及最長非凹槽的凹槽串的再生信號，通過評價該信號便可判斷凹槽的成形性。另外，利用具有最長凹槽長(nT)的凹槽與非凹槽反復(fù)排列的凹槽串(nT＋*nT)、具有最短凹槽長(mT)的凹槽與非凹槽反復(fù)排列的凹槽串(mT＋*mT)和具有與從最短凹槽長串(mT＋*mT)到指定凹槽長串[(m＋8)T＋*(m＋8)T]之間相當(dāng)?shù)脑谠搮^(qū)間都無倍數(shù)關(guān)系的凹槽長(m＋1)T、(m＋2)T、(m＋4)T及(m＋8)T的凹槽與非凹槽反復(fù)排列的凹槽串[(m＋1)T＋*(m＋1)T]、[(m＋2)T＋*(m＋2)T]、[(m＋4)T＋*(m＋4)T]、[(m＋8)T＋*(m＋8)T]的測試圖案的再生信號便可評價再生信號的頻率特性。此外，最短凹槽長串(mT＋*mT)沿光盤的1周反復(fù)排列，對于與和中心道相當(dāng)?shù)脑撟疃贪疾坶L串(mT＋*mT)相鄰的道，利用凹槽長串[(m＋1)T＋*(m＋1)T]與凹槽長串[(m＋2)T＋*(m＋2)T]沿光盤的1周反復(fù)排列的測試圖案的再生信號，可以評價再生信號的串音特性。
另外，按照本發(fā)明，可以提供具有數(shù)據(jù)區(qū)域和測試圖案區(qū)域的光盤。設(shè)溝道凹槽長為T、作為整數(shù)倍的凹槽和凹槽間表面，3＜n＜m＜k，n、m、k是整數(shù)，凹槽具有最短凹槽長(3T)、最長凹槽長(kT)和最短凹槽長(3T)與最長凹槽長(kT)間的凹槽長的某一凹槽長，非凹槽具有最短非凹槽長(*3T)、最長非凹槽長(*kT)和最短非凹槽長(*3T)與最長非凹槽長(*kT)間的非凹槽長的某一非凹槽長，數(shù)據(jù)區(qū)域利用該凹槽和非凹槽的排列組合記錄數(shù)據(jù)；測試圖案區(qū)域設(shè)在該數(shù)據(jù)區(qū)域之外，記錄從具有長度3T、mT、nT內(nèi)的某一凹槽長的凹槽、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的另一個凹槽間表面長的凹槽間表面、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的其余的1個凹槽長的凹槽、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的某一凹槽間表面長的凹槽間表面、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的另一個凹槽長的凹槽和具有長度3T、mT、nT內(nèi)的其余的1個凹槽間表面長的凹槽間表面中選擇的凹槽及凹槽間表面的反復(fù)排列。
另外，按照本發(fā)明，可以提供具有讀出裝置、檢測裝置和修正裝置的光盤再生裝置。讀出裝置從具有根據(jù)記錄數(shù)據(jù)排列凹槽及非凹槽的數(shù)據(jù)區(qū)域及根據(jù)預(yù)定的排列規(guī)則排列上述凹槽及非凹槽的測試圖案的光盤中光學(xué)地讀出測試圖案及數(shù)據(jù)作為再生信號。檢測裝置根據(jù)上述測試圖案讀出的再生信號的誤碼率；修正裝置修正再生信號以使上述誤碼率成為最小。
另外，按照本發(fā)明，可以提供具有讀出步驟、檢測步驟和修正步驟的光盤的再生方法。讀出步驟從具有根據(jù)記錄數(shù)據(jù)排列凹槽及非凹槽的數(shù)據(jù)區(qū)域及根據(jù)預(yù)定的排列規(guī)則排列上述凹槽及非凹槽的測試圖案的光盤中光學(xué)地讀出測試圖案及數(shù)據(jù)作為再生信號。檢測步驟從根據(jù)上述測試圖案讀出的再生信號中檢測其誤碼率；修正步驟修正從上述數(shù)據(jù)區(qū)域讀出的再生信號以使誤碼率成為最小。
另外，按照本發(fā)明，可以提供具有數(shù)據(jù)區(qū)域和測試圖案區(qū)域的光盤的再生方法。設(shè)溝道凹槽長為T、作為整數(shù)倍的凹槽和凹槽間表面，3＜n＜m＜k，n、m、k是整數(shù)，凹槽具有最短凹槽長(3T)、最長凹槽長(kT)和最短凹槽長(3T)與最長凹槽長(kT)間的凹槽長的某一凹槽長，非凹槽具有最短非凹槽長(*3T)、最長非凹槽長(*kT)和最短非凹槽長(*3T)與最長非凹槽長(*kT)間的非凹槽長的某一非凹槽長，數(shù)據(jù)區(qū)域利用該凹槽和非凹槽的排列組合記錄數(shù)據(jù)；測試圖案區(qū)域設(shè)在該數(shù)據(jù)區(qū)域之外，記錄從具有長度3T、mT、nT內(nèi)的某一凹槽長的凹槽、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的另一個凹槽間表面長的凹槽間表面、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的其余的1個凹槽長的凹槽、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的某一凹槽間表面長的凹槽間表面、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的另一個凹槽長的凹槽和具有長度3T、mT、nT內(nèi)的其余的1個凹槽間表面長的凹槽間表面中選擇的凹槽及凹槽間表面的反復(fù)排列。
另外，按照本發(fā)明，權(quán)利要求91所述的光盤的再生方法的特征在于上述凹槽與凹槽間表面的反復(fù)排列在m＝6和n＝7時具有從3T-*6T-7T-*3T-*6T-7T、3T-7T-6T-3T-7T-6T、6T-3T-7T-6T-3T-7T、7T-3T-6T-7T-3T-6T、6T-7T-3T-6T-7T-3T、7T-6T-3T-7T-6T-3T的組中選擇的1個排列。
按照本發(fā)明，可以提供具有數(shù)據(jù)變換步驟和記錄步驟的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄方法。設(shè)溝道凹槽長為T、是整數(shù)倍的凹槽和凹槽間表面，3＜n＜m＜k，n、m、k是整數(shù)，凹槽具有最短凹槽長(3T)、最長凹槽長(kT)和最短凹槽長(3T)與最長凹槽長(kT)間的凹槽長的某一凹槽長，非凹槽具有最短非凹槽長(*3T)、最長非凹槽長(*kT)和最短非凹槽長(*3T)與最長非凹槽長(*kT)間的非凹槽長的某一非凹槽長，數(shù)據(jù)變換步驟將應(yīng)記錄的數(shù)據(jù)變換為與該凹槽和非凹槽的排列的組合相當(dāng)?shù)陌疾蹟?shù)據(jù)；記錄步驟以從具有長度3T、mT、nT內(nèi)的某一凹槽長的凹槽、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的另一個凹槽間表面長的凹槽間表面、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的其余的1個凹槽長的凹槽、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的某一凹槽間表面長的凹槽間表面、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的另一個凹槽長的凹槽和具有長度3T、mT、nT內(nèi)的其余的1個凹槽間表面長的凹槽間表面中選擇的凹槽及凹槽間表面的反復(fù)排列進(jìn)行記錄。
另外，按照本發(fā)明，可以提供具有數(shù)據(jù)變換裝置和記錄機(jī)構(gòu)的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄裝置。設(shè)溝道凹槽長為T、是整數(shù)倍的凹槽和凹槽間表面，3＜n＜m＜k，n、m、k是整數(shù)，凹槽具有最短凹槽長(3T)、最長凹槽長(kT)和最短凹槽長(3T)與最長凹槽長(kT)間的凹槽長的某一凹槽長，非凹槽具有最短非凹槽長(*3T)、最長非凹槽長(*kT)和最短非凹槽長(*3T)與最長非凹槽長(*kT)間的非凹槽長的某一非凹槽長，數(shù)據(jù)變換裝置將應(yīng)記錄的數(shù)據(jù)變換為與該凹槽和非凹槽的排列的組合相當(dāng)?shù)陌疾蹟?shù)據(jù)；記錄機(jī)構(gòu)以從具有長度3T、mT、nT內(nèi)的某一凹槽長的凹槽、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的另一個凹槽間表面長的凹槽間表面、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的其余的1個凹槽長的凹槽、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的某一凹槽間表面長的凹槽間表面、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的另一個凹槽長的凹槽和具有長度3T、mT、nT內(nèi)的其余的1個凹槽間表面長的凹槽間表面中選擇的凹槽及凹槽間表面的反復(fù)排列進(jìn)行記錄。
圖1是表示本發(fā)明的一個實施例的光盤裝置的概略的框圖。
圖2是表示圖1所示的盤驅(qū)動裝置的詳細(xì)結(jié)構(gòu)的框圖。
圖3是概略地示出圖1所示的光盤的結(jié)構(gòu)的斜視圖。
圖4是表示圖1和圖3所示的光盤的平面圖。
圖5A是表示作為在圖4所示的光盤上形成的測試圖案的最長凹槽串的平面圖。
圖5B是表示從圖5A所示的最長凹槽串再生的再生信號波形的波形圖。
圖6A是表示作為在圖4所示的光盤上形成的測試圖案的最短凹槽串的平面圖。
圖6B是表示該最短凹槽串再生的再生信號波形的波形圖。
圖7是表示根據(jù)作為測試圖案的最短凹槽串及最長凹槽串和具有它們之間的不同的凹槽長的凹槽串再現(xiàn)的MTF信號的曲線圖。
圖8是表示作為測試圖案的中心凹槽串和相鄰凹槽串的平面圖。
圖9A是表示根據(jù)作為測試圖案的最短凹槽串3T及最長凹槽串11T和具有它們之間的不同的凹槽長5T、7T、9T的凹槽串再現(xiàn)的MTF信號的曲線圖。
圖9B和9C是表示作為測試圖案的最短凹槽串3T和最長凹槽串11T的再生信號的波形圖。
圖10是表示組裝到圖1所示的光盤裝置中的利用測試信號修正再生信號的傾斜修正電路的框圖。
圖11是表示對于測試圖案理想的再生信號的頻率特性的曲線圖。圖12是表示包含對于測試圖案傾斜成分的實際的再生信號的頻率特性的曲線圖。
圖13A是表示包含傾斜成分的再生信號的頻率特性的曲線圖。圖13B是表示橫向濾波器的頻率特性的曲線圖。
圖13C是表示將包含傾斜成分的再生信號的頻率特性與橫向濾波器的頻率特性合成的合成頻率特性的曲線圖。
圖14A是表示本發(fā)明其他實施例的評價圖案的凹槽串的平面圖。
圖14B是表示根據(jù)圖14A所示的凹槽串再生的再生信號的波形圖。
圖15是表示圖14A所示的評價圖案的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的概略圖。
圖16是表示組裝到圖1所示的光盤裝置中的利用評價圖案修正再生信號的傾斜修正電路的框圖。
圖17是表示利用圖14A所示的評價圖案由圖16所示的修正電路修正再生信號的順序的流程圖。
圖18是表示將圖像數(shù)據(jù)編碼、建立圖像文件的編碼系統(tǒng)的框圖。
圖19是表示圖18所示的編碼系統(tǒng)的編碼處理的流程圖。
圖20是將利用圖19所示的流程編碼的主圖像數(shù)據(jù)、聲音數(shù)據(jù)和副圖像數(shù)據(jù)組合、建立圖像數(shù)據(jù)的文件的流程圖。
圖21和22是分別表示用于將格式化的圖像文件向光盤記錄的盤格式器的系統(tǒng)的框圖。
圖23是生成用于向圖21和22所示的盤格式器中的盤上記錄的邏輯數(shù)據(jù)的流程圖。
圖24是根據(jù)邏輯數(shù)據(jù)生成用于向盤記錄的物理數(shù)據(jù)的流程圖。圖25是用于說明載波電平與噪音電平之比的C/N比的曲線圖。
圖26是表示再生系統(tǒng)對于第3組的測試圖案的凹槽串的頻率特性的曲線圖。
圖27是用于說明串音特性的曲線圖。
下面，參照


本發(fā)明實施例的光盤和光盤再生裝置。
圖1是從本發(fā)明的一個實施例的光盤再生數(shù)據(jù)的光盤再生裝置的框圖，圖2是驅(qū)動圖1所示的光盤的盤驅(qū)動部的框圖，圖3和圖4是圖1和圖2所示的光盤的結(jié)構(gòu)。
圖1所示的光盤再生裝置具有鍵操作/顯示器4、監(jiān)視器6和揚(yáng)聲器8。這里，用戶通過操作鍵操作/顯示器4，便可從光盤10再生記錄數(shù)據(jù)。記錄數(shù)據(jù)包括圖像數(shù)據(jù)、副圖像數(shù)據(jù)和聲音數(shù)據(jù)，這些數(shù)據(jù)變換為視頻信號和音頻信號。監(jiān)視器6根據(jù)視頻信號顯示圖像，揚(yáng)聲器8根據(jù)音頻信號發(fā)生聲音。
如所周知，光盤10有各種結(jié)構(gòu)。對于光盤10，例如，如圖3所示的那樣，有以高密度記錄數(shù)據(jù)的讀出專用盤。如圖3所示，光盤10由一對復(fù)合層18和介于該復(fù)合層18之間的粘接層20構(gòu)成。各復(fù)合盤層18由透明基板14和記錄層即光反射層16構(gòu)成。該盤層18配置為光反射層16與粘接層20接觸。在該光盤10上設(shè)置中心孔22，在其兩面的中心孔22的周圍設(shè)置在其轉(zhuǎn)動時用于可以壓住該光盤10的夾緊區(qū)域24。光盤19裝入到光盤裝置中時，圖2所示的主軸電機(jī)12的主軸插入到中心孔22內(nèi)，在盤轉(zhuǎn)動的期間，光盤10在該夾緊區(qū)域24被夾緊。
如圖3所示，光盤10在其兩面的夾緊區(qū)域24的周圍具有可以向光盤10上記錄信息的信息區(qū)域25。各信息區(qū)域25將其外周區(qū)域規(guī)定為通常不記錄信息的讀出區(qū)域26，將與夾緊區(qū)域24相鄰的其內(nèi)周區(qū)域規(guī)定為同樣通常不記錄信息的讀入?yún)^(qū)域27，此外，將該讀出區(qū)域26與讀入?yún)^(qū)域27之間的區(qū)域規(guī)定為數(shù)據(jù)記錄區(qū)域28。數(shù)據(jù)記錄區(qū)域28具有以該光盤固有的規(guī)格確定的指定的邏輯格式。關(guān)于其詳細(xì)情況，在向歐洲申請的專利號96101282.0，filed Janurary30，199、Kikuchi et.al中有詳細(xì)介紹。關(guān)于邏輯格式的詳細(xì)情況，請參見其說明書。
如圖4所示，在讀出區(qū)域26之外與該區(qū)域26相鄰的外側(cè)的區(qū)域部分29B和讀入?yún)^(qū)域27之外與該區(qū)域相鄰的內(nèi)側(cè)的區(qū)域部分29A這兩個區(qū)域部分或至少其中一個區(qū)域部分，作為用于評價在光盤10上形成的凹槽串的測試圖案的1例，形成如下4組凹槽串。如后面所述，當(dāng)這4組測試圖案不同于圖像數(shù)據(jù)等再生對象數(shù)據(jù)從外部的信號發(fā)生器作為評價數(shù)據(jù)記錄到光盤上時，記錄到讀入?yún)^(qū)域27之外與該區(qū)域27相鄰的內(nèi)側(cè)的區(qū)域部分29A內(nèi)。然而，當(dāng)將評價數(shù)據(jù)設(shè)在圖像數(shù)據(jù)等再生對象數(shù)據(jù)的開頭、記錄評價數(shù)據(jù)和其后的再生對象數(shù)據(jù)時，也可以記錄到讀入?yún)^(qū)域27內(nèi)。如后面作為其他實施例參照圖14A、圖14B和圖15說明的那樣，3T-6T-7T圖案的評價數(shù)據(jù)記錄到讀入?yún)^(qū)域27內(nèi)。
在與4組測試圖案相當(dāng)?shù)陌疾鄞恼f明中，T表示溝道凹槽長，n和m為整數(shù)(□T)，凹槽長和(*□T)表示與相鄰的凹槽間的間隔相當(dāng)?shù)姆前疾坶L。這里，在圖1和2所示的再生裝置中，光盤10根據(jù)其半徑方向的位置改變其轉(zhuǎn)動速度，由于道是用光束以一定的線速度掃描的線速度一定的CLV(Constant Linear Velocity)式的，所以，凹槽長nT、mT分別從光盤10的內(nèi)周到外周以一定長形成。(a)作為具有圖5A所示的最長凹槽長(nT)的凹槽和非凹槽反復(fù)的凹槽串(nT＋*nT)的最長凹槽長串的第1組；(b)作為具有圖6A所示的最短凹槽長(mT)的凹槽和非凹槽反復(fù)的凹槽串(mT＋*mT)的最短凹槽長串的第2組；(c)與最短凹槽長串(mT＋*mT)到指定凹槽長串[(m＋8)T＋*(m＋8)T]之間相當(dāng)?shù)脑谠搮^(qū)間都無倍數(shù)關(guān)系的具有下面所示的凹槽長串的凹槽和非凹槽反復(fù)排列的反復(fù)凹槽長串的第3組；[(mT＋*mT)]的[p次反復(fù)]，[(m＋1)T＋*(m＋1)T]的[q次反復(fù)]，[(m＋2)T＋*(m＋2)T]的[r次反復(fù)]，[(m＋4)T＋*(m＋4)T]的[s次反復(fù)]，[(m＋8)T＋*(m＋8)T]的[t次反復(fù)]。
這里，(p＞q＞r＞s＞t)的關(guān)系成立，選定再生p、q、r、s、t次的反復(fù)凹槽串所需要的時間基本上一定。另外，[(m＋8)T＋*(m＋8)T]具體地說就相當(dāng)于最長凹槽串(nT＋*nT)。(d)如圖8所示，最短凹槽長串(mT＋*mT)沿光盤10的1周反復(fù)排列、作為與和中心道相當(dāng)?shù)脑撟疃贪疾坶L串(mT＋*mT)相鄰的道凹槽長串[(m＋1)T＋*(m＋1)T]沿光盤10的內(nèi)側(cè)的1周反復(fù)排列、凹槽長串[(m＋2)T＋*(m＋2)T]與最短凹槽長串(mT＋*mT)相鄰地沿光盤10的下1周反復(fù)排列的凹槽長串的第4組。
在第4組中，如圖8所示，凹槽長串[(m＋1)T＋*(m＋1)T]作為內(nèi)周的道、凹槽長串(mT＋*mT)作為中心道、凹槽長串[(m＋2)T＋*(m＋2)T]作為外周道沿光盤10的半徑方向配置。然而，也可以將凹槽長串[(m＋2)T＋*(m＋2)T]作為內(nèi)周的道、凹槽長串(mT＋*mT)作為中心道、凹槽長串[(m＋1)T＋*(m＋1)T]作為外周道沿光盤10的半徑方向配置，取代圖8所示的配置。
從上述第1組到第4組的凹槽長串，具體地說，就是相當(dāng)于(m＝3)和(n＝11)，成為如下關(guān)系。
(a)第1組具有最長凹槽長(11T)的凹槽和非凹槽反復(fù)的凹槽串(11T＋*11T)；
(b)第2組具有最短凹槽長(3T)的凹槽和非凹槽反復(fù)的凹槽串(3T＋*3T)；(c)第3組下面所示的凹槽長串的反復(fù)排列串，(3T＋*3T)的[p次反復(fù)]，(4T＋*4T)的[q次反復(fù)]，(6T＋*6T)的[r次反復(fù)]，(7T＋*7T)的[s次反復(fù)]，(11T＋*11T)的[t次反復(fù)]。
如上所述，(4T＋*4T)、(6T＋*6T)和(7T＋*7T)的凹槽串相當(dāng)于從最短凹槽長串(3T＋*3T)到指定凹槽長串(11T＋*11T)之間，它們都不是倍數(shù)關(guān)系。
(d)最短凹槽長串(4T＋*4T)沿光盤10的1周反復(fù)排列、作為與和中心道相當(dāng)?shù)脑撟疃贪疾坶L串(4T＋*4T)相鄰的道凹槽長串(5T＋*5T)沿光盤10的內(nèi)側(cè)的1周反復(fù)排列、凹槽長串(6T＋*6T)與最短凹槽長串(4T＋*4T)相鄰地沿光盤10的下1周反復(fù)排列的凹槽長串的第4組。
另外，作為測試圖案的其他例子，也可以形成如下凹槽串。(a)具有作為圖5A所示的最長凹槽串(nT)的凹槽和非凹槽反復(fù)的凹槽串(nT＋*nT)的最長凹槽長串的第1組；(b)作為具有圖6A所示的最短凹槽長(mT)的凹槽和非凹槽反復(fù)的凹槽串(mT＋*mT)的最短凹槽長串的第2組；作為其他例子，可以是如下的關(guān)系。
(c)與從最短凹槽長串(mT＋*mT)到指定凹槽長串[(m＋14)T＋*(m＋14)T]之間相當(dāng)?shù)脑搮^(qū)間的凹槽串都無倍數(shù)關(guān)系的下面所示的凹槽長串反復(fù)排列的反復(fù)凹槽長串的第3組；[(mT＋*mT)]的[p次反復(fù)]，[(m＋1)T＋*(m＋1)T]的[q次反復(fù)]，[(m＋3)T＋*(m＋3)T]的[r次反復(fù)]，[(m＋7)T＋*(m＋7)T]的[s次反復(fù)]，[(m＋14)T＋*(m＋14)T]的[t次反復(fù)]。
這里，(p＞q＞r＞s＞t)的關(guān)系成立，選定再生p、q、r、s、t次的反復(fù)凹槽串所需要的時間基本上一定。另外，[(m＋14)T＋*(m＋14)T]具體地說就相當(dāng)于最長凹槽串(nT＋*nT)。(d)如圖8所示，最短凹槽長串(mT＋*mT)沿光盤10的1周反復(fù)排列、作為與和中心道相當(dāng)?shù)脑撟疃贪疾坶L串(mT＋*mT)相鄰的道凹槽長串[(m＋1)T＋*(m＋1)T]沿光盤10的內(nèi)側(cè)的1周反復(fù)排列、凹槽長串[(m＋2)T＋*(m＋2)T]與最短凹槽長串(mT＋*mT)相鄰地沿光盤10的下1周反復(fù)排列的凹槽長串的第4組。
上述其他例子的第1組到第4組的凹槽長串，具體地說就是相當(dāng)于(n＝18)和(m＝4)，成為如下關(guān)系。
(a)第1組具有最長凹槽長(4T)的凹槽和非凹槽反復(fù)的凹槽串(18T＋*18T)；(b)第2組具有最短凹槽長(4T)的凹槽和非凹槽反復(fù)的凹槽串(4T＋*4T)；(c)第3組下面所示的凹槽長串的反復(fù)排列串，(4T＋*4T)的[p次反復(fù)]，(5T＋*5T)的[q次反復(fù)]，(7T＋*7T)的[r次反復(fù)]，(11T＋*11T)的[s次反復(fù)]，(18T＋*18T)的[t次反復(fù)]。
同樣，(5T＋*5T)、(7T＋*7T)和(11T＋*11T)的凹槽串相當(dāng)于從最短凹槽長串(4T＋*4T)到指定凹槽長串(18T＋*18T)之間，它們都不是倍數(shù)關(guān)系。
(d)最短凹槽長串(4T＋*4T)沿光盤10的1周反復(fù)排列、作為與和中心道相當(dāng)?shù)脑撟疃贪疾坶L串(4T＋*4T)相鄰的道凹槽長串(5T＋*5T)沿光盤10的內(nèi)側(cè)的1周反復(fù)排列、凹槽長串(6T＋*6T)與最短凹槽長串(4T＋*4T)相鄰地沿光盤10的下1周反復(fù)排列的凹槽長串的第4組。
當(dāng)檢測到從具有圖5A所示的第1組的最長凹槽長(nT)的凹槽串反射的反射光束并變換為再生信號時，便可獲得圖5B所示的再生信號。另外，當(dāng)檢測到從具有圖6A所示的第2組的最短凹槽長(mT)的凹槽串反射的反射光束并變換為再生信號時，便可獲得圖6B所示的再生信號。
如后面所述，根據(jù)圖5B和圖6B所示的第1和第2組的再生波形評價根據(jù)模子即原盤形成的光盤10的凹槽的成形性。另外，利用光束將第3組的凹槽串變換為再生信號時，便可獲得圖7所示的MTF(Modulation Transfer Function)信號。在該MTF信號中，凹槽長越小，再生信號的振幅就越小，凹槽長越大，再生信號的振幅就越大。根據(jù)圖7所示的MTF信號特性可以評價根據(jù)凹槽再生的再生信號的頻率特性。
此外，如圖8所示，第4組的凹槽串形成為與中心道相當(dāng)?shù)陌疾坶L串(mT＋*mT)和與相鄰道相當(dāng)?shù)陌疾坶L串[(m＋1)T＋*(m＋1)T]及[(m＋2)T＋*(m＋2)T]，所以，可以評價在再生信號中包含的來自相鄰道的串音。這里，串音量Ct與從再生道的振幅At(與中心道相當(dāng))中減去相鄰的道的振幅Br后的值相當(dāng)(Ct＝Br-At(dB))。
另外，在讀出區(qū)域26和讀入?yún)^(qū)域27或者至少其中一方除了用于評價在光盤10上形成的凹槽串的第1組到第4組的凹槽串外，進(jìn)而作為第5組的凹槽串還形成用于修正光盤10的再生面與物鏡34之間相對的傾斜量的第2測試圖案。第5組的凹槽串，從最短凹槽長串(mT＋*mT)到最長凹槽長串(nT＋*nT)，各凹槽串的反復(fù)排列按其凹槽長順序排列。
在第5組的第1例中，是(m＝3、n＝11)，排列具有從3T到11T的凹槽長的凹槽串。另外，作為第5組的其他例子，是(m＝4、n＝18)，排列具有從4T到18T的凹槽長的凹槽串。在第5組的第1例中，當(dāng)再生該第2測試圖案時，就再生圖9A、圖9B和圖9C所示的MTF信號。如后面詳細(xì)所述，利用該MTF信號可以修正光盤10的再生面與物鏡34之間的相對的傾斜量。由圖9A可知，各凹槽串的反復(fù)次數(shù)，和第3組的反復(fù)次數(shù)(從p到t)相同地，選定為使再生該反復(fù)的凹槽串所需要的時間基本上一定。另外，圖9A所示的MTF信號，根據(jù)表示將其信號波形放大的信號波形的圖9B和圖9C的信號波形可知，是對各凹槽的信號波形的集合。
下面，參照圖1和圖2說明從這樣的光盤10再生數(shù)據(jù)的光盤再生裝置。在光盤再生裝置中，在驅(qū)動光盤的盤驅(qū)動部30中，利用光束檢索光盤10。即，如圖2所示，光盤10置于由電機(jī)驅(qū)動電路11驅(qū)動的主軸電機(jī)12上，隨該主軸電機(jī)12以線速度恒定地轉(zhuǎn)動。在光盤10的下方，設(shè)置將光束即激光束聚焦到該光盤10上的光頭即光讀寫頭32。為了檢索信息記錄區(qū)域25特別是數(shù)據(jù)記錄區(qū)域28，該光頭32設(shè)置在導(dǎo)向機(jī)構(gòu)(圖中未示出)上，可以沿光盤10的半徑方向移動，利用由驅(qū)動電路37的驅(qū)動信號所驅(qū)動的饋送電機(jī)33向光盤10的半徑方向移動。光盤10上，物鏡34保持為可以沿其光軸移動，響應(yīng)聚焦驅(qū)動電路36的驅(qū)動信號沿其光軸方向移動，物鏡34總是保持為聚焦?fàn)顟B(tài)，在記錄層16上形成微小光束斑點。另外，該物鏡34保持為可以沿光盤10的半徑方向微動，根據(jù)道驅(qū)動電路38的驅(qū)動信號進(jìn)行微動，總是保持為跟蹤狀態(tài)，用光束追蹤光盤10的記錄層16上的道。
光頭32檢測從光盤10上反射的光束，檢測的該檢測信號從光頭32通過前置放大器40供給伺服處理電路44。在伺服處理電路44中，根據(jù)檢測信號生成聚焦信號、跟蹤信號和電機(jī)控制信號，并將這些信號分別供給驅(qū)動電路36、38、11。因此，物鏡34保持為聚焦?fàn)顟B(tài)和跟蹤狀態(tài)，另外，主軸電機(jī)12按指定的轉(zhuǎn)數(shù)轉(zhuǎn)動，利用光束例如以線速度一定地追蹤記錄層16上的道。當(dāng)作為訪問信號的控制信號從系統(tǒng)CPU部50供給伺服處理電路44時，移動信號就從伺服處理電路44供給驅(qū)動電路37，光頭32就沿光盤10的半徑方向移動，訪問記錄層16的指定的扇區(qū)，再生數(shù)據(jù)由前置放大器40放大后，從盤驅(qū)動部30輸出。輸出的再生數(shù)據(jù)通過由記錄在系統(tǒng)用ROM和RAM部52內(nèi)的程序控制的系統(tǒng)CPU部50和系統(tǒng)處理器部54存儲到數(shù)據(jù)RAM部56內(nèi)。該存儲的再生數(shù)據(jù)由系統(tǒng)處理器部54處理，分為圖像數(shù)據(jù)、聲音數(shù)據(jù)和副圖像數(shù)據(jù)，圖像數(shù)據(jù)、聲音數(shù)據(jù)和副圖像數(shù)據(jù)分別輸出到圖像譯碼器部58、聲音譯碼器部60和副圖像譯碼器部62進(jìn)行譯碼。譯碼后的圖像數(shù)據(jù)、聲音數(shù)據(jù)和副圖像數(shù)據(jù)由D/A和再生處理電路64變換為作為模擬信號的視頻信號、音頻信號和副圖像信號，同時進(jìn)行混合處理，視頻信號和副圖像信號供給監(jiān)視器6，音頻信號供給揚(yáng)聲器8。結(jié)果，在監(jiān)視器6上便顯示出圖像，同時從揚(yáng)聲器8再現(xiàn)出聲音。
如上所述，在圖1和圖2所示的光盤再生裝置中，伴隨再生動作的開始，檢索光盤10的讀入?yún)^(qū)域27之外與該區(qū)域27相鄰的內(nèi)側(cè)的區(qū)域部分29A和讀出區(qū)域26之外與該區(qū)域26相鄰的外側(cè)的區(qū)域部分29B的雙方或者至少其中的一方，為了檢測傾斜量，檢索與第2測試圖案相當(dāng)?shù)牡?組的凹槽串，其再生信號讀入圖2的數(shù)據(jù)處理電路42。根據(jù)該檢測的傾斜量按如下方式檢索數(shù)據(jù)區(qū)域25時，實際上就除去了該再生信號包含的傾斜成分。
數(shù)據(jù)處理電路42中包含的用于該傾斜修正的傾斜修正電路示于圖10。如前所述，利用光頭32讀取記錄在光盤10上的信息，模擬再生信號輸出到前置放大器40。該模擬再生信號由前置放大器40放大后，供給由延遲電路121、122、123、124構(gòu)成的5抽頭結(jié)構(gòu)的橫向濾波器104，如后所述，該信號波形修正后供給2值化電路105。在2值化電路105中，再生信號進(jìn)行2值化處理，該數(shù)字化的數(shù)字再生信號在PLL電路106中進(jìn)行時鐘再生，該進(jìn)行過時鐘再生的信號在解調(diào)電路107中進(jìn)行解調(diào)后，順序傳送給數(shù)據(jù)處理器108進(jìn)行處理。
如上所述，在光盤10上，如圖4所示的那樣形成作為屬于第5組的第2測試圖案的凹槽串，在進(jìn)行再生時，開始便先檢測屬于該第5組的凹槽串。這里，以從4T到18T的凹槽串為例進(jìn)行說明。當(dāng)一個接一個地再生作為測試圖案的4T到18T的凹槽串時，就再生了MTF信號，該MTF信號由A/D變換器109進(jìn)行A/D變換。在系統(tǒng)CPU部50中，根據(jù)該數(shù)字化的MTF信號求把第2測試圖案的各4T到18T的凹槽串修正為具有圖11所示的理想的振幅特性的修正系數(shù)，該修正系數(shù)存儲到系統(tǒng)用ROM和RAM部52內(nèi)。
通常，如圖10所示，在光盤10的轉(zhuǎn)動期間，當(dāng)在光盤10與光頭32之間發(fā)生相對的傾斜例如發(fā)生傾斜角θrad時，如圖12中的實線所示，再生信號的電平便周期性地衰減。通過修正該電平衰減的修正系數(shù)與修正對象的凹槽串的再生信號相乘，便可獲得圖12中虛線所示的理想的信號波形。即，在系統(tǒng)CPU部50中，將由于傾斜而其一部分衰減的第2測試圖案的數(shù)字化的MTF信號與對于各凹槽串的理想的基準(zhǔn)信號電平即振幅進(jìn)行比較，求出兩者之差。當(dāng)各凹槽串的實際的信號電平與基準(zhǔn)信號電平一致時，該修正系數(shù)就取為1，當(dāng)兩者有差別時，就確定與實際的信號電平相乘的修正系數(shù)，以使之成為基準(zhǔn)電平。對4T到18T的各凹槽串求該修正系數(shù)，對于裝入該再生裝置中的光盤10作為固有的傾斜修正系數(shù)即再生系統(tǒng)的頻率特性存儲到系統(tǒng)用ROM和RAM部52內(nèi)。
該傾斜修正系數(shù)也可以利用在讀入?yún)^(qū)域27和讀出區(qū)域26的某一方形成的第5組的凹槽串的第2測試圖案決定，或者也可以由兩者決定傾斜修正系數(shù)。另外，如圖4所示，也可以當(dāng)以數(shù)據(jù)區(qū)域25的中心70為基準(zhǔn)檢索內(nèi)周一側(cè)的區(qū)域27的道時，就使用內(nèi)周側(cè)傾斜修正系數(shù)，當(dāng)以數(shù)據(jù)區(qū)域25的中心70為基準(zhǔn)檢索外周一側(cè)的區(qū)域74的道時，就使用外周側(cè)傾斜修正系數(shù)。顯而易見，這時，內(nèi)周側(cè)傾斜修正系數(shù)由在讀入?yún)^(qū)域27形成的第5組的凹槽串的第2測試圖案決定，外周側(cè)傾斜修正系數(shù)由在讀出區(qū)域26形成的第5組的凹槽串的第2測試圖案決定。此外，該傾斜修正系數(shù)通常隨著檢索區(qū)域從內(nèi)周向外周變化而增大，所以，要根據(jù)檢索的區(qū)域或者道的序號進(jìn)而決定對修正系數(shù)進(jìn)行位置修正的系數(shù)修正系數(shù)，并將其存儲到系統(tǒng)用ROM和RAM部52內(nèi)，與檢索位置對應(yīng)的修正系數(shù)也可以從系統(tǒng)CPU部50輸出。
在圖10所示的電路中，在掌握再生系統(tǒng)的頻率特性后，便開始檢索來自數(shù)據(jù)區(qū)域25的數(shù)據(jù)。即，為了使由光頭32檢測的數(shù)據(jù)區(qū)域25的再生信號的頻率特性成為最佳的頻率特性，修正系數(shù)作為修正數(shù)據(jù)從系統(tǒng)CPU部50傳送給橫向濾波器104。在橫向濾波器104中，從系統(tǒng)CPU部50傳送來的數(shù)據(jù)由D/A變換器111、112、113、114、115變換為模擬量，由乘法器116、117、118、119、120與橫向濾波器104的各抽頭輸出相乘。例如，當(dāng)傾斜量發(fā)生5mrad時，第2測試圖案的再生信號便成為例如圖13A所示的頻率特性，為了使之成為圖13C所示的最佳特性，可以輸出圖13B所示的修正系數(shù)特性，從決定橫向濾波器104的各抽頭系數(shù)值的系統(tǒng)CPU部50分別向D/A變換器111、112、113、114、115輸出例如系數(shù)值10H、20H、FFH、20H、10H。這樣，即使光盤10發(fā)生傾斜，從而再生信號的頻率特性惡化，通過利用橫向濾波器104的頻率特性修正再生信號，便可進(jìn)行正常的再生動作。
在圖13A、13B和13C中，λ表示光束即激光束的波長，NA表示物鏡34的數(shù)值孔經(jīng)。
下面，參照圖14 A、圖14B和圖15說明本發(fā)明的其他實施例的評價圖案。在光盤10進(jìn)行再生時最初檢索的圖4所示的讀入?yún)^(qū)域27內(nèi)，作為用于評價在光盤10上形成的凹槽串的測試圖案的其他例子，如圖14A所示，凹槽和凹槽間表面按照3T、mT、nT的反復(fù)周期作為評價數(shù)據(jù)進(jìn)行記錄。即，在讀入?yún)^(qū)域27內(nèi)，如圖15所示，在記述物理扇區(qū)地址的標(biāo)題66之后，凹槽長3T的凹槽、具有凹槽間表面長*mT的凹槽間表面、凹槽長nT的凹槽、凹槽間表面長*3T的凹槽間表面、凹槽長m T的凹槽和凹槽間表面長*nT的凹槽間表面反復(fù)作為評價數(shù)據(jù)68記錄到1物理扇區(qū)內(nèi)。包含該評價數(shù)據(jù)的1物理扇區(qū)在某一道中可以設(shè)置至少1個或多個。另外，也可以在不同的道中設(shè)置多個包含評價數(shù)據(jù)的物理扇區(qū)。這里，m、n≥6，m≤n，并且n≤14(＝k)。另外，凹槽或凹槽間表面長3T、*3T與最小凹槽長或凹槽間表面長相當(dāng)，凹槽或凹槽間表面長14T、*14T(kT、*kT)與最大凹槽長或凹槽間表面長相當(dāng)。當(dāng)利用光束檢索圖14A所示的評價數(shù)據(jù)時，就檢測到圖14B所示的反射光電平。
在評價數(shù)據(jù)的具體例子中，m＝6、n＝7，作為評價數(shù)據(jù)，反復(fù)記錄凹槽長3T的凹槽、具有凹槽間表面長* T的凹槽間表面、凹槽長7T的凹槽、凹槽間表面長*3T的凹槽間表面、凹槽長6T的凹槽和凹槽間表面長*7T的凹槽間表面。該一組3-6-7的凹槽長和凹槽間表面長用以16位表示的代碼表示，相當(dāng)于“001 000001 0000001”， 該16位代碼相當(dāng)于8位的172H的數(shù)據(jù)符號。即，該16位代碼通過8/16變換，變換為8位的數(shù)據(jù)符號172H。
圖14A所示的評價數(shù)據(jù)由具有和圖10基本上相同的電路結(jié)構(gòu)的圖16所示的誤碼率修正電路進(jìn)行檢測，決定誤碼率修正系數(shù)，使字節(jié)誤碼率成為最小。即，在圖17所示的S50，當(dāng)光盤再生裝置開始再生動作時，在S51便檢索光盤10的讀入?yún)^(qū)域27，在S52檢索包含圖15所示的評價數(shù)據(jù)即測試信號的扇區(qū)。當(dāng)判明包含測試圖案的扇區(qū)時，在S54，系統(tǒng)CPU部50就對作為補(bǔ)償器的橫向濾波器104的乘法器116、117、118、119、120設(shè)定缺省的抽頭系數(shù)，同時，從該判明的扇區(qū)讀出具有圖14A所示的3·6·7圖案的測試圖案，并輸出到前置放大器40。該測試圖案信號由前置放大器40放大后，通過由延遲電路121、122、123、124構(gòu)成的5抽頭結(jié)構(gòu)的橫向濾波器104供給2值化電路105。在2值化電路105中，再生信號進(jìn)行2值化處理，該數(shù)字化的數(shù)字再生信號在PLL電路106中進(jìn)行時鐘再生。這里，如果沒有誤碼，在解調(diào)電路107中，就以用16位表示的代碼輸出“001 000001 0000001”。如果讀取時發(fā)生了誤碼，從解調(diào)電路107就輸出包含誤碼的其他代碼。該代碼供給系統(tǒng)處理器54，變換為數(shù)據(jù)符號，該變換結(jié)果輸出到系統(tǒng)CPU部50。在系統(tǒng)CPU部50中，確認(rèn)代碼與數(shù)據(jù)符號172H是否一致。同樣，在S54，為了測定字節(jié)誤碼率，一個一個地將3·6·7圖案變換為代碼，在系統(tǒng)CPU部50中確認(rèn)是否發(fā)生了誤碼，計算對某一指定數(shù)的3·6·7圖案的字節(jié)誤碼率。在S55，當(dāng)該字節(jié)誤碼率大于10-5時，就返回到S54，系統(tǒng)CPU部50對作為補(bǔ)償器的橫向濾波器104的乘法器116、117、118、119、120設(shè)定其他抽頭系數(shù)，再次執(zhí)行S54和S55。在S55，當(dāng)字節(jié)誤碼率收斂到10-5以內(nèi)時，就固定該抽頭系數(shù)，并在S56開始通常的再生動作。
在上述其他實施例的具體例中，評價數(shù)據(jù)采用具有m＝6和n＝7的3-6-7凹槽和凹槽間表面的反復(fù)排列。然而，評價數(shù)據(jù)也可以采用3-7-6、6-3-7、7-3-6、6-7-3和7-6-3的凹槽和凹槽間表面反復(fù)排列中的任意一種。這里，在3-7-6的凹槽和凹槽間表面反復(fù)排列中，和3-6-7凹槽和凹槽間表面反復(fù)排列一樣，成為凹槽長3T的凹槽、具有凹槽間表面長*7T的凹槽間表面、凹槽長6T的凹槽、凹槽間表面長*3T的凹槽間表面、凹槽長7T的凹槽和凹槽間表面長*6T的凹槽間表面的排列；在6-3-7的凹槽和凹槽間表面反復(fù)排列中，成為凹槽長6T的凹槽、具有凹槽間表面長*3T的凹槽間表面、凹槽長7T的凹槽、凹槽間表面長*6T的凹槽間表面、凹槽長3T的凹槽和凹槽間表面長*7T的凹槽間表面的排列。其他反復(fù)圖案也一樣，成為其數(shù)字的排列的順序。
下面，參照圖18～圖24說明將評價數(shù)據(jù)與圖像數(shù)據(jù)和用于再生該圖像數(shù)據(jù)的管理數(shù)據(jù)一起向光盤10記錄的方法和應(yīng)用該記錄方法的記錄系統(tǒng)。
圖18是將圖像數(shù)據(jù)編碼并生成某一標(biāo)題集合84的圖像文件88的編碼系統(tǒng)。在圖18所示的系統(tǒng)中，作為主圖像數(shù)據(jù)、聲音數(shù)據(jù)和副圖像數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)源，例如采用錄像機(jī)(VTR)201、錄音機(jī)(ATR)202和副圖像再生器203。它們在系統(tǒng)控制器(Syscon)205的控制下發(fā)生主圖像數(shù)據(jù)、聲音數(shù)據(jù)和副圖像數(shù)據(jù)，這些數(shù)據(jù)分別供給圖像編碼器(VENC)206、聲音編碼器(AENC)207和副圖像編碼器(SPENC)208，同樣，在系統(tǒng)控制器205的控制下，由這些編碼器206、207、208進(jìn)行A/D變換，同時，以各自的壓縮方式進(jìn)行編碼，作為編碼后的主圖像數(shù)據(jù)、聲音數(shù)據(jù)和副圖像數(shù)據(jù)存儲到存儲器210、211、212內(nèi)。這里，在進(jìn)行編碼時，例如利用按照MPEG2(Moving Picture Expert Group)的規(guī)格確定的壓縮方式進(jìn)行壓縮，編碼數(shù)據(jù)相當(dāng)于組件化的圖像、聲音和副圖像組件數(shù)據(jù)。
該主圖像數(shù)據(jù)、聲音數(shù)據(jù)和副圖像數(shù)據(jù)在系統(tǒng)控制器205的控制下輸出到文件格式器(FFMT)214，變換為系統(tǒng)的圖像數(shù)據(jù)的文件結(jié)構(gòu)，同時，各數(shù)據(jù)的設(shè)定條件和屬性等管理信息作為文件在系統(tǒng)控制器205的控制下存儲到存儲器216內(nèi)。
下面，說明用于根據(jù)圖像數(shù)據(jù)建立文件的系統(tǒng)控制器205的編碼處理的標(biāo)準(zhǔn)的流程。
按照圖19所示的流程，將主圖像數(shù)據(jù)和聲音數(shù)據(jù)編碼，作成編碼主圖像和聲音數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)。即，當(dāng)開始進(jìn)行編碼處理時，在圖19的S70，設(shè)定主圖像數(shù)據(jù)和聲音數(shù)據(jù)編碼所需要的參量。該設(shè)定的參量的一部分保存到系統(tǒng)控制器205內(nèi)，同時，在文件格式器214中利用。在S71，利用參量對主圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)編碼，計算最佳的符號量的分配。在S72，根據(jù)預(yù)編碼得到的符號量分配進(jìn)行主圖像的編碼。這時，也同時進(jìn)行聲音數(shù)據(jù)的編碼。在S73，如果需要，就進(jìn)行主圖像數(shù)據(jù)的部分的再編碼，可以置換再編碼部分的主圖像數(shù)據(jù)。通過這一系列的處理步驟，就對主圖像數(shù)據(jù)和聲音數(shù)據(jù)進(jìn)行了編碼。另外，在S74和S75，對副圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行編碼，作成編碼副圖像數(shù)據(jù)。即，同樣設(shè)定將副圖像數(shù)據(jù)編碼所需要的參量。在S74，設(shè)定的參量的一部分保存到系統(tǒng)控制器205內(nèi)，在文件格式器214中利用。根據(jù)該參量對副圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行編碼。通過這些處理，就對副圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行了編碼。
按照圖20所示的流程，將編碼后的主圖像數(shù)據(jù)、聲音數(shù)據(jù)和副圖像數(shù)據(jù)組合，變換為特定的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。即，在S76，設(shè)定作為多個圖像、聲音和副圖像組件排列的圖像數(shù)據(jù)的最小單位的數(shù)據(jù)單元，作成用于再生各數(shù)據(jù)單元的再生信息。其次，在S77，設(shè)定構(gòu)成連接多個按單元的再生順序配置的各程序的程序鏈的單元的結(jié)構(gòu)、主圖像、副圖像和聲音屬性等(這些屬性信息的一部分可以利用各數(shù)據(jù)編碼時得到的信息。)，根據(jù)該單元信息作成管理單元的再生的單元再生管理信息。編碼后的主圖像數(shù)據(jù)、聲音數(shù)據(jù)和副圖像數(shù)據(jù)細(xì)分為一定的組件，為了可以按照各數(shù)據(jù)的時間代碼順序進(jìn)行再生，對每個指定單位在其開頭配置控制組件的再生的導(dǎo)引組件，并配置各數(shù)據(jù)單位，由各數(shù)據(jù)單位構(gòu)成單元。然后，構(gòu)成由多個單元構(gòu)成的圖像目標(biāo)，格式化為再生與該圖像目標(biāo)的集合相當(dāng)?shù)哪骋粯?biāo)題的圖像的標(biāo)題集合的結(jié)構(gòu)。
圖21和圖22是用于將按上述方式進(jìn)行格式化的標(biāo)題集合向光盤記錄的盤格式器的系統(tǒng)。如圖21和圖22所示，在盤格式器系統(tǒng)中，這些文件數(shù)據(jù)從存儲作成的標(biāo)題集合的存儲器220、222供給卷格式器(VFMT)226。在卷格式器226中，從標(biāo)題集合84、86中抽出管理信息，作成管理標(biāo)題集合的圖像管理程序，并作成按指定的排列順序應(yīng)向光盤10記錄的狀態(tài)的邏輯數(shù)據(jù)。在盤格式器(DFMT)228中，將誤碼修正用的數(shù)據(jù)附加到由卷格式器226作成的邏輯數(shù)據(jù)上，再變換為向光盤記錄的物理數(shù)據(jù)。在解調(diào)器230中，將由盤格式器228作成的物理數(shù)據(jù)變換為實際向光盤記錄的記錄數(shù)據(jù)，該經(jīng)過解調(diào)處理的記錄數(shù)據(jù)由記錄器232記錄到光盤10上。
關(guān)于參照圖5A～圖9C說明的測試圖案，在圖21所示的格式器系統(tǒng)中，在記錄數(shù)據(jù)向光盤10記錄之前，記錄器232通過開關(guān)236與測試圖案信號發(fā)生器234連接。從該測試圖案信號發(fā)生器234發(fā)生已說明過的第1到第5組的凹槽串的第1和第2測試圖案的測試圖案信號。按照該發(fā)生的測試圖案信號，第1到第5組的測試圖案記錄到讀入?yún)^(qū)域27及其附近。記錄測試圖案之后，切換開關(guān)236，記錄器232與解調(diào)器230連接，將物理數(shù)據(jù)記錄到數(shù)據(jù)區(qū)域28內(nèi)。當(dāng)記錄完該物理數(shù)據(jù)時，再次切換開關(guān)236，記錄器232通過開關(guān)236與測試圖案信號發(fā)生器234連接，再次將第1到第5組的凹槽串向光盤10上記錄。
關(guān)于參照圖14A～圖15說明的3·6·7圖案，如圖22所示，準(zhǔn)備如圖15所示的那樣預(yù)先存儲3·6·7圖案與扇區(qū)地址連續(xù)的評價數(shù)據(jù)的存儲器221，開始先將該評價數(shù)據(jù)供給卷格式器226，然后，將文件數(shù)據(jù)從文件數(shù)據(jù)存儲器220、222供給卷格式器226。因此，在讀入?yún)^(qū)域27的指定的扇區(qū)地址中，記錄3·6·7圖案與扇區(qū)地址連續(xù)的評價數(shù)據(jù)，從而圖像數(shù)據(jù)等記錄數(shù)據(jù)作為物理數(shù)據(jù)記錄到數(shù)據(jù)區(qū)域28內(nèi)。
下面，參照圖23和圖24說明用于作成上述邏輯數(shù)據(jù)和物理數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)的流程。圖23是作成用于向光盤10記錄的邏輯數(shù)據(jù)的流程。即，在S80，先設(shè)定圖像數(shù)據(jù)文件的數(shù)、排列順序、各圖像數(shù)據(jù)文件的大小等參量。其次，在S81，根據(jù)設(shè)定的參量和各圖像標(biāo)題集合72的圖像標(biāo)題集合信息作成圖像管理程序。然后，在S82，數(shù)據(jù)按照圖像管理程序71、圖像標(biāo)題集合72的順序沿著相應(yīng)的邏輯塊序號配置，作成用于向光盤10記錄的邏輯數(shù)據(jù)。如前所述，3·6·7圖案與邏輯數(shù)據(jù)的172H相當(dāng)，邏輯數(shù)據(jù)的172H連續(xù)地變換為物理數(shù)據(jù)。
然后，執(zhí)行圖24所示的作成用于向光盤記錄的物理數(shù)據(jù)的流程。即，在S83，邏輯數(shù)據(jù)分割為一定字節(jié)數(shù)，生成誤碼修正用的數(shù)據(jù)。其次，在S84，將分割為一定字節(jié)數(shù)的邏輯數(shù)據(jù)和生成的誤碼修正用的數(shù)據(jù)合并，作成物理扇區(qū)。然后，在S85，將物理扇區(qū)合并，作成物理數(shù)據(jù)。這樣，按照圖25所示的流程，對生成的物理數(shù)據(jù)根據(jù)一定規(guī)則進(jìn)行調(diào)制處理，作成記錄數(shù)據(jù)。然后，將該記錄數(shù)據(jù)記錄到光盤10上。將該光盤10作為原盤，根據(jù)該原盤復(fù)制大量的光盤。
在上述實施例中，第1組到第5組的凹槽串也可以不按照其順序記錄到讀入?yún)^(qū)域27和讀出區(qū)域28內(nèi)，只要能夠從物理進(jìn)行區(qū)分，按照什么順序進(jìn)行記錄都可以。另外，當(dāng)不進(jìn)行下面所述的制造的光盤10的評價時，第1組到第4組的凹槽串也可以不記錄到光盤10上，另外，只以光盤10的評價為對象而不需要傾斜修正時，也可以不形成第5組的凹槽串。
下面，說明評價按上述方法制作的光盤的方法。首先，將上述制造的光盤10裝入再生裝置，獲得其第1測試圖案的第1組到第4組的再生信號，根據(jù)這些信號波形按如下那樣評價制造的光盤10是否合格。根據(jù)與最長凹槽(nT＋*nT)相當(dāng)?shù)男盘柌ㄐ卧u價各凹槽的成形性。即，只要各凹槽是正確地成形的，則與最長凹槽(nT＋*nT)相當(dāng)?shù)男盘柌ㄐ伪闳鐖D5B所示的那樣，脈沖寬度比較大，其前沿和后沿間的電平變化小、而且其前沿和后沿清晰明了。因此，當(dāng)該信號波形被中途切斷、不清晰明了時，便可視為凹槽成形性有問題，從而可以判定制造的光盤10是不合格產(chǎn)品。另外，根據(jù)與最短凹槽(mT＋*mT)相當(dāng)?shù)男盘柌ㄐ卧u價凹槽相對于凹槽間的非凹槽區(qū)域是否形成為可以明確地區(qū)分的凹槽。即，根據(jù)圖6B所示的再生信號如圖25所示求噪音電平(N)和與再生信號的峰值電平相當(dāng)?shù)妮d波電平(C)，根據(jù)該C/N比判斷凹槽串的成形性。當(dāng)該C/N比小時，由于不能區(qū)分與凹槽相當(dāng)?shù)妮d波和與光盤10上的缺陷等相當(dāng)?shù)脑胍?，所以，?dāng)該C/N比小于指定值時，就視為凹槽串的成形性有問題，而判定制造的光盤10是不合格產(chǎn)品。此外，當(dāng)利用光束將第3組的凹槽串變換為再生信號時，便可獲得圖7所示的MTF信號，如前所述，根據(jù)該MTF信號，可以獲得圖26所示的再生系統(tǒng)對第3組的凹槽串的頻率特性。當(dāng)光盤10發(fā)生彎曲或偏心等不良現(xiàn)象時，該頻率特性就變壞。因此，通過判斷該頻率特性，便可判斷光盤10的物理特性是否良好。
另外，由于第4組的凹槽串如圖8所示，形成與中心道相當(dāng)?shù)陌疾坶L串(mT＋*mT)及與相鄰道相當(dāng)?shù)陌疾坶L串[(m＋1)T＋*(m＋1)T]和[(m＋2)T＋*(m＋2)T]，所以，可以評價在再生信號中包含的來自相鄰道的串音。這里，串音量Ct相當(dāng)于從再生道的振幅At(與中心道相當(dāng))減去相鄰道的振幅Br后的值(Ct＝Br-At(dB))。即，再生與中心道相當(dāng)?shù)陌疾坶L串(mT＋*mT)時，如圖27所示，便出現(xiàn)與相鄰道相當(dāng)?shù)陌疾坶L串[(m＋1)T＋*(m＋1)T]和[(m＋2)T＋*(m＋2)T]的頻率fr1、fr2，從而便可將具有頻率fc的凹槽長串(mT＋*mT)的主信號電平和與具有這些頻率fr1、fr2的相鄰道相當(dāng)?shù)陌疾坶L串[(m＋1)T＋*(m＋1)T]和[(m＋2)T＋*(m＋2)T]的相鄰信號電平之差作為串音量進(jìn)行檢測。該串音量大時，可以充分判別檢索道與相鄰道，該串音量小時，就不能判別檢索道與相鄰道。當(dāng)串音量小于指定值時，就判定光盤10為不合格產(chǎn)品。
利用其他實施例的3.6.7評價圖案評價光盤10時，在圖17所示的流程圖的S55，即使改變橫向濾波器104的抽頭系數(shù)，誤碼率也收斂不到10-5以內(nèi)時，該光盤就判定為不合格產(chǎn)品。
如上所述，即使發(fā)生盤再生面與物鏡間的相對的傾斜，通過根據(jù)該量使再生等效電路(橫向濾波器)的各抽頭系數(shù)成為最佳，便可使再生等效電路的頻率特性為最佳，從而可以提高再生信號特性。因此，最終便可改善數(shù)據(jù)讀出時的誤碼率。此外，由于在控制系統(tǒng)內(nèi)不存在電機(jī)、齒輪等機(jī)械部件，所以，容易實現(xiàn)高頻帶化，從而可以獲得寬的控制頻帶，并且適合于裝置的小型化。
權(quán)利要求
1.一種光盤，特征在于具有數(shù)據(jù)區(qū)域和測試圖案區(qū)域，設(shè)溝道凹槽長為T，n和m是整數(shù)，凹槽具有最短凹槽長(mT)、最長凹槽長(nT)和最短凹槽長(mT)與最長凹槽長(nT)間的指定凹槽長的某一種凹槽長，非凹槽具有最短非凹槽長(*mT)、最長非凹槽長(*nT)和最短非凹槽長(*mT)與最長非凹槽長(*nT)間的指定的非凹槽長的某一種非凹槽長，數(shù)據(jù)區(qū)域利用該凹槽和非凹槽的排列記錄數(shù)據(jù)；測試圖案區(qū)域設(shè)在該數(shù)據(jù)區(qū)域之外，記錄上述短凹槽及最短非凹槽反復(fù)組合的最短凹槽串、上述最長凹槽及最長非凹槽反復(fù)組合的最長凹槽串和具有最短凹槽長(mT)與最長凹槽長(nT)間的指定凹槽長的凹槽及與該凹槽對應(yīng)的非凹槽反復(fù)組合的指定凹槽串排列的測試圖案。
2.按權(quán)利要求1所述的光盤，特征在于上述數(shù)據(jù)區(qū)域規(guī)定在內(nèi)周區(qū)域的讀入?yún)^(qū)域和外周區(qū)域的讀出區(qū)域之間，上述測試圖案區(qū)域設(shè)置在上述讀入?yún)^(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的內(nèi)側(cè)區(qū)域部分和讀出區(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的外側(cè)區(qū)域部分的至少一方的區(qū)域部分內(nèi)。
3.按權(quán)利要求1所述的光盤，特征在于上述數(shù)據(jù)區(qū)域規(guī)定在內(nèi)周區(qū)域的讀入?yún)^(qū)域和外周區(qū)域的讀出區(qū)域之間，上述測試圖案區(qū)域設(shè)置在上述讀入?yún)^(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的內(nèi)側(cè)區(qū)域部分和讀出區(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的外側(cè)區(qū)域部分中的任一區(qū)域部分內(nèi)。
4.按權(quán)利要求1所述的光盤，特征在于凹槽具有最短凹槽長(3T)、最長凹槽長(11T)和最短凹槽長(3T)與最長凹槽長(11T)之間的指定凹槽長(4T、5T、6T、7T、8T、9T、10T)中的某一凹槽長；非凹槽具有最短非凹槽長(*3T)、最長非凹槽長(*11T)和最短非凹槽長(*3T)與最長非凹槽長(*11T)之間的指定非凹槽長(*4T、*5T、*6T、*7T、*8T、*9T、*10T)中的某一非凹槽長。
5.按權(quán)利要求1所述的光盤，特征在于凹槽具有最短凹槽長(4T)、最長凹槽長(18T)和最短凹槽長(4T)與最長凹槽長(18T)之間的指定凹槽長(5T、6T、7T、8T、9T、10T、11T、12T、13T、14T、15T、16T、17T)中的某一凹槽長；非凹槽具有最短非凹槽長(*4T)、最長非凹槽長(*18T)和最短非凹槽長(*4T)與最長非凹槽長(*18T)之間的指定非凹槽長(*5T、*6T、*7T、*8T、*9T、*10T、*11T、*12T、*13T、*14T、*15T、*16T、*17T)中的某一非凹槽長。
6.一種光盤再生裝置，特征在于具有讀出裝置、檢測裝置和修正裝置。讀出裝置從具有根據(jù)記錄數(shù)據(jù)排列凹槽及非凹槽的數(shù)據(jù)區(qū)域及根據(jù)預(yù)定的排列規(guī)則排列上述凹槽及非凹槽的測試圖案的光盤中光學(xué)地讀出測試圖案及數(shù)據(jù)作為再生信號。檢測裝置從根據(jù)上述測試圖案讀出的再生信號中檢測對裝置固有的修正系數(shù)；修正裝置用該修正系數(shù)修正從上述數(shù)據(jù)區(qū)域讀出的再生信號。
7.按權(quán)利要求6所述的光盤再生裝置，特征在于上述檢測裝置包含根據(jù)測試圖案的再生信號檢測MTF信號的電路；上述修正裝置包含使再生信號為最佳的均衡濾波器，具有根據(jù)上述MTF信號的頻率特性使上述數(shù)據(jù)再生信號為最佳的濾波裝置。
8.按權(quán)利要求6所述的光盤再生裝置，特征在于上述光盤具有數(shù)據(jù)區(qū)域和測試圖案區(qū)域。設(shè)溝道凹槽長為T，n和m是整數(shù)，凹槽具有最短凹槽長(mT)、最長凹槽長(nT)和最短凹槽長(mT)與最長凹槽長(nT)間的指定凹槽長的某一種凹槽長，非凹槽具有最短非凹槽長(*mT)、最長非凹槽長(*nT)和最短非凹槽長(*mT)與最長非凹槽長(*nT)間的指定的非凹槽長的某一種非凹槽長，數(shù)據(jù)區(qū)域利用該凹槽和非凹槽的排列記錄數(shù)據(jù)；測試圖案區(qū)域設(shè)在該數(shù)據(jù)區(qū)域之外，記錄上述短凹槽及最短非凹槽反復(fù)組合的最短凹槽串、上述最長凹槽及最長非凹槽反復(fù)組合的最長凹槽串和具有最短凹槽長(mT)與最長凹槽長(nT)間的指定凹槽長的凹槽及與該凹槽對應(yīng)的非凹槽反復(fù)組合的指定凹槽串排列的測試圖案。
9.按權(quán)利要求8所述的光盤再生裝置，特征在于上述數(shù)據(jù)區(qū)域規(guī)定在內(nèi)周區(qū)域的讀入?yún)^(qū)域和外周區(qū)域的讀出區(qū)域之間，上述測試圖案區(qū)域設(shè)置在上述讀入?yún)^(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的內(nèi)側(cè)區(qū)域部分和讀出區(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的外側(cè)區(qū)域部分的至少一方的區(qū)域部分內(nèi)。
10.按權(quán)利要求9所述的光盤再生裝置，特征在于上述讀出裝置從上述讀入?yún)^(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的內(nèi)側(cè)區(qū)域部分和讀出區(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的外側(cè)區(qū)域部分的至少一方的區(qū)域部分內(nèi)讀出測試圖案，然后，從數(shù)據(jù)區(qū)域讀出數(shù)據(jù)。
11.按權(quán)利要求8所述的光盤再生裝置，特征在于上述數(shù)據(jù)區(qū)域規(guī)定在內(nèi)周區(qū)域的讀入?yún)^(qū)域和外周區(qū)域的讀出區(qū)域之間，上述測試圖案區(qū)域設(shè)置在上述讀入?yún)^(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的內(nèi)側(cè)區(qū)域部分和讀出區(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的外側(cè)區(qū)域部分中的任一區(qū)域部分內(nèi)。
12.按權(quán)利要求11所述的光盤再生裝置，特征在于上述讀出裝置從上述讀入?yún)^(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的內(nèi)側(cè)區(qū)域部分和讀出區(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的外側(cè)區(qū)域部分中的任一區(qū)域部分內(nèi)讀出測試圖案，然后，從數(shù)據(jù)區(qū)域讀出數(shù)據(jù)；上述檢測裝置根據(jù)從上述讀入?yún)^(qū)域外的內(nèi)側(cè)區(qū)域部分的測試圖案讀出的再生信號檢測裝置固有的第1修正系數(shù)，同時根據(jù)從上述讀出區(qū)域外的外側(cè)區(qū)域部分的測試圖案讀出的再生信號檢測裝置固有的第2修正系數(shù)；上述修正裝置利用該第1和第2修正系數(shù)修正從上述數(shù)據(jù)區(qū)域讀出的再生信號。
13.按權(quán)利要求11所述的光盤再生裝置，特征在于上述修正裝置利用第1修正系數(shù)修正從上述數(shù)據(jù)區(qū)域的第1區(qū)域讀出的再生信號，利用第2修正系數(shù)修正從除上述數(shù)據(jù)區(qū)域的第1區(qū)域外的其他區(qū)域讀出的再生信號。
14.一種光盤的再生方法，特征在于具有從具有根據(jù)記錄數(shù)據(jù)排列的凹槽及非凹槽的數(shù)據(jù)區(qū)域及根據(jù)預(yù)定的排列規(guī)則排列上述凹槽及非凹槽的測試圖案的光盤中光學(xué)地讀出測試圖案及數(shù)據(jù)作為再生信號的讀出步驟、從根據(jù)上述測試圖案讀出的再生信號中檢測對裝置固有的修正系數(shù)的檢測步驟和用該修正系數(shù)修正從上述數(shù)據(jù)區(qū)域讀出的再生信號的修正步驟。
15.按權(quán)利要求14所述的光盤的再生方法，特征在于上述檢測步驟包括根據(jù)測試圖案的再生信號檢測MTF信號的步驟；上述修正步驟包括根據(jù)上述MTF信號的頻率特性使上述數(shù)據(jù)再生信號的頻率特性為最佳的濾波步驟。
16.按權(quán)利要求14所述的光盤的再生方法，特征在于述光盤具有數(shù)據(jù)區(qū)域和測試圖案區(qū)域。設(shè)溝道凹槽長為T，n和m是整數(shù)，凹槽具有最短凹槽長(mT)、最長凹槽長(nT)和最短凹槽長(mT)與最長凹槽長(nT)間的指定凹槽長的某一種凹槽長，非凹槽具有最短非凹槽長(*mT)、最長非凹槽長(*nT)和最短非凹槽長(*mT)與最長非凹槽長(*nT)間的指定的非凹槽長的某一種非凹槽長，數(shù)據(jù)區(qū)域利用該凹槽和非凹槽的排列記錄數(shù)據(jù)；測試圖案區(qū)域設(shè)在該數(shù)據(jù)區(qū)域之外，記錄上述最短凹槽及最短非凹槽反復(fù)組合的最短凹槽串、上述最長凹槽及最長非凹槽反復(fù)組合的最長凹槽串和具有最短凹槽長(mT)與最長凹槽長(nT)間的指定凹槽長的凹槽及與該凹槽對應(yīng)的非凹槽反復(fù)組合的指定凹槽串排列的測試圖案。
17.按權(quán)利要求16所述的光盤的再生方法，特征在于上述數(shù)據(jù)區(qū)域規(guī)定在內(nèi)周區(qū)域的讀入?yún)^(qū)域和外周區(qū)域的讀出區(qū)域之間，上述測試圖案區(qū)域設(shè)置在上述讀入?yún)^(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的內(nèi)側(cè)區(qū)域部分和讀出區(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的外側(cè)區(qū)域部分的至少一方的區(qū)域部分內(nèi)。
18.按權(quán)利要求17所述的光盤的再生方法，特征在于上述讀出裝置從上述讀入?yún)^(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的內(nèi)側(cè)區(qū)域部分和讀出區(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的外側(cè)區(qū)域部分的至少一方的區(qū)域部分內(nèi)讀出測試圖案，然后，從數(shù)據(jù)區(qū)域讀出數(shù)據(jù)。
19.按權(quán)利要求17所述的光盤的再生方法，特征在于上述數(shù)據(jù)區(qū)域規(guī)定在內(nèi)周區(qū)域的讀入?yún)^(qū)域和外周區(qū)域的讀出區(qū)域之間，上述測試圖案區(qū)域設(shè)置在上述讀入?yún)^(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的內(nèi)側(cè)區(qū)域部分和讀出區(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的外側(cè)區(qū)域部分中的任一區(qū)域部分內(nèi)。
20.按權(quán)利要求19所述的光盤的再生方法，特征在于在上述讀出步驟中，從上述讀入?yún)^(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的內(nèi)側(cè)區(qū)域部分和讀出區(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的外側(cè)區(qū)域部分中的任一區(qū)域部分內(nèi)讀出測試圖案，然后，從數(shù)據(jù)區(qū)域讀出數(shù)據(jù)；在上述檢測步驟中，根據(jù)從上述讀入?yún)^(qū)域外的內(nèi)側(cè)區(qū)域部分的測試圖案讀出的再生信號檢測裝置固有的第1修正系數(shù)，同時根據(jù)從上述讀出區(qū)域外的外側(cè)區(qū)域部分的測試圖案讀出的再生信號檢測裝置固有的第2修正系數(shù)；在上述修正步驟中，利用該第1和第2修正系數(shù)修正從上述數(shù)據(jù)區(qū)域讀出的再生信號。
21.按權(quán)利要求20所述的光盤的再生方法，特征在于在上述修正步驟中，利用第1修正系數(shù)修正從上述數(shù)據(jù)區(qū)域的第1區(qū)域讀出的再生信號，利用第2修正系數(shù)修正從除上述數(shù)據(jù)區(qū)域的第1區(qū)域外的其他區(qū)域讀出的再生信號。
22.一種向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄方法，特征在于具有數(shù)據(jù)變換步驟、發(fā)生測試信號的步驟和記錄步驟。設(shè)溝道凹槽長為T，n和m是整數(shù)，凹槽具有最短凹槽長(mT)、最長凹槽長(nT)和最短凹槽長(mT)與最長凹槽長(nT)間的指定凹槽長的某一種凹槽長，非凹槽具有最短非凹槽長(*mT)、最長非凹槽長(*nT)和最短非凹槽長(*mT)與最長非凹槽長(*nT)間的指定的非凹槽長的某一種非凹槽長，數(shù)據(jù)變換步驟將應(yīng)記錄的數(shù)據(jù)變換為與該凹槽和非凹槽的排列對應(yīng)的凹槽數(shù)據(jù)；測試信號發(fā)生步驟發(fā)生與上述最短凹槽及最短非凹槽反復(fù)組合的最短凹槽串、上述最長凹槽及最長非凹槽反復(fù)組合的最長凹槽串和具有最短凹槽長(mT)與最長凹槽長(nT)間的指定凹槽長的凹槽及與該凹槽對應(yīng)的非凹槽反復(fù)組合的指定凹槽串排列的測試圖案相當(dāng)?shù)臏y試信號；記錄步驟以凹槽和非凹槽的排列將上述凹槽數(shù)據(jù)記錄到光盤的數(shù)據(jù)區(qū)域，將上述測試信號記錄到與光盤的數(shù)據(jù)區(qū)域不同的測試圖案區(qū)域。
23.按權(quán)利要求22所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄方法，特征在于上述數(shù)據(jù)區(qū)域規(guī)定在內(nèi)周區(qū)域的讀入?yún)^(qū)域和外周區(qū)域的讀出區(qū)域之間，上述測試圖案區(qū)域設(shè)置在上述讀入?yún)^(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的內(nèi)側(cè)區(qū)域部分和讀出區(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的外側(cè)區(qū)域部分的至少一方的區(qū)域部分內(nèi)。
24.按權(quán)利要求22所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄方法，特征在于上述數(shù)據(jù)區(qū)域規(guī)定在內(nèi)周區(qū)域的讀入?yún)^(qū)域和外周區(qū)域的讀出區(qū)域之間，上述測試圖案區(qū)域設(shè)置在上述讀入?yún)^(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的內(nèi)側(cè)區(qū)域部分和讀出區(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的外側(cè)區(qū)域部分中的任一區(qū)域部分內(nèi)。
25.按權(quán)利要求22所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄方法，特征在于凹槽具有最短凹槽長(3T)、最長凹槽長(11T)和最短凹槽長(3T)與最長凹槽長(11T)之間的指定凹槽長(4T、5T、6T、7T、8T、9T、10T)中的某一凹槽長；非凹槽具有最短非凹槽長(*3T)、最長非凹槽長(*11T)和最短非凹槽長(*3T)與最長非凹槽長(*11T)之間的指定非凹槽長(*4T、*5T、*6T、*7T、*8T、*9T、*10T)中的某一非凹槽長。
26.按權(quán)利要求22所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄方法，特征在于凹槽具有最短凹槽長(4T)、最長凹槽長(18T)和最短凹槽長(4T)與最長凹槽長(18T)之間的指定凹槽長(5T、6T、7T、8T、9T、10T、11T、12T、13T、14T、15T、16T、17T)中的某一凹槽長；非凹槽具有最短非凹槽長(*4T)、最長非凹槽長(*18T)和最短非凹槽長(*4T)與最長非凹槽長(*18T)之間的指定非凹槽長(*5T、*6T、*7T、*8T、*9T、*10T、*11T、*12T、*13T、*14T、*15T、*16T、*17T)中的某一非凹槽長。
27.一種向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄裝置，特征在于具有數(shù)據(jù)變換裝置、測試信號發(fā)生裝置和記錄機(jī)構(gòu)。設(shè)溝道凹槽長為T，n和m是整數(shù)，凹槽具有最短凹槽長(mT)、最長凹槽長(nT)和最短凹槽長(mT)與最長凹槽長(nT)間的指定凹槽長的某一種凹槽長，非凹槽具有最短非凹槽長(*mT)、最長非凹槽長(*nT)和最短非凹槽長(*mT)與最長非凹槽長(*nT)間的指定的非凹槽長的某一種非凹槽長，數(shù)據(jù)變換裝置將應(yīng)記錄的數(shù)據(jù)變換為與該凹槽和非凹槽的排列對應(yīng)的凹槽數(shù)據(jù)；測試信號發(fā)生裝置發(fā)生與上述最短凹槽及最短非凹槽反復(fù)組合的最短凹槽串、上述最長凹槽及最長非凹槽反復(fù)組合的最長凹槽串和具有最短凹槽長(mT)與最長凹槽長(nT)間的指定凹槽長的凹槽及與該凹槽對應(yīng)的非凹槽反復(fù)組合的指定凹槽串排列的測試圖案相當(dāng)?shù)臏y試信號；記錄機(jī)構(gòu)以凹槽和非凹槽的排列將上述凹槽數(shù)據(jù)記錄到光盤的數(shù)據(jù)區(qū)域，將上述測試信號記錄到與光盤的數(shù)據(jù)區(qū)域不同的測試圖案區(qū)域。
28.按權(quán)利要求27所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄裝置，特征在于上述數(shù)據(jù)區(qū)域規(guī)定在內(nèi)周區(qū)域的讀入?yún)^(qū)域和外周區(qū)域的讀出區(qū)域之間，上述測試圖案區(qū)域設(shè)置在上述讀入?yún)^(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的內(nèi)側(cè)區(qū)域部分和讀出區(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的外側(cè)區(qū)域部分的至少一方的區(qū)域部分內(nèi)。
29.按權(quán)利要求27所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄裝置，特征在于上述數(shù)據(jù)區(qū)域規(guī)定在內(nèi)周區(qū)域的讀入?yún)^(qū)域和外周區(qū)域的讀出區(qū)域之間，上述測試圖案區(qū)域設(shè)置在上述讀入?yún)^(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的內(nèi)側(cè)區(qū)域部分和讀出區(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的外側(cè)區(qū)域部分中的任一區(qū)域部分內(nèi)。
30.按權(quán)利要求27所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄裝置，特征在于凹槽具有最短凹槽長(3T)、最長凹槽長(11T)和最短凹槽長(3T)與最長凹槽長(11T)之間的指定凹槽長(4T、5T、6T、7T、8T、9T、10T)中的某一凹槽長；非凹槽具有最短非凹槽長(*3T)、最長非凹槽長(*11T)和最短非凹槽長(*3T)與最長非凹槽長(*11T)之間的指定非凹槽長(*4T、*5T、*6T、*7T、*8T、*9T、*10T)中的某一非凹槽長。
31.按權(quán)利要求27所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄裝置，特征在于凹槽具有最短凹槽長(4T)、最長凹槽長(18T)和最短凹槽長(4T)與最長凹槽長(18T)之間的指定凹槽長(5T、6T、7T、8T、9T、10T、11T、12T、13T、14T、15T、16T、17T)中的某一凹槽長；非凹槽具有最短非凹槽長(*4T)、最長非凹槽長(*18T)和最短非凹槽長(*4T)與最長非凹槽長(*18T)之間的指定非凹槽長(*5T、*6T、*7T、*8T、*9T、*10T、*11T、*12T、*13T、*14T、*15T、*16T、*17T)中的某一非凹槽長。
32.一種光盤，特征在于具有數(shù)據(jù)區(qū)域和測試圖案區(qū)域。設(shè)溝道凹槽長為T，n和m是整數(shù)，凹槽具有最短凹槽長(mT)、最長凹槽長(nT)和最短凹槽長(mT)與最長凹槽長(nT)間的指定凹槽長的某一種凹槽長，非凹槽具有最短非凹槽長(*mT)、最長非凹槽長(*nT)和最短非凹槽長(*mT)與最長非凹槽長(*nT)間的指定的非凹槽長的某一種非凹槽長，數(shù)據(jù)區(qū)域利用該凹槽和非凹槽的排列記錄數(shù)據(jù)；測試圖案區(qū)域設(shè)在該數(shù)據(jù)區(qū)域之外，形成用于判斷記錄了從具有上述最短凹槽及最短非凹槽和最短凹槽長(mT)與最長凹槽長(nT)間的指定凹槽長的凹槽中選擇的凹槽及與該凹槽對應(yīng)的非凹槽的組合的測試圖案的光盤的記錄狀態(tài)的測試圖案。
33.按權(quán)利要求32所述的光盤，特征在于測試圖案具有最長凹槽長(nT)的凹槽和非凹槽反復(fù)的凹槽串(nT＋*nT)。
34.按權(quán)利要求32所述的光盤，特征在于測試圖案具有最短凹槽長(mT)的凹槽和非凹槽反復(fù)的凹槽串(mT＋*mT)。
35.按權(quán)利要求32所述的光盤，特征在于測試圖案包括具有最長凹槽長(nT)的凹槽和非凹槽反復(fù)的凹槽串(nT＋*nT)、具有最短凹槽長(mT)的凹槽和非凹槽反復(fù)的凹槽串(mT＋*mT)和具有與從最短凹槽長串(mT＋*mT)到指定凹槽長串[(m＋8)T＋*(m＋8)T]之間相當(dāng)?shù)脑谠搮^(qū)間都無倍數(shù)關(guān)系的凹槽長(m＋1)T、(m＋2)T、(m＋4)T及(m＋8)T的凹槽與非凹槽反復(fù)排列的凹槽串[(m＋1)T＋*(m＋1)T]、[(m＋2)T＋*(m＋2)T]、[(m＋4)T＋*(m＋4)T]、[(m＋8)T＋*(m＋8)T]。
36.按權(quán)利要求32所述的光盤，特征在于作為測試圖案，最短凹槽長串(mT＋*mT)沿光盤的1周反復(fù)排列，作為與和中心道相當(dāng)?shù)脑撟疃贪疾坶L串(mT＋*mT)相鄰的道，凹槽長串[(m＋1)T＋*(m＋1)T]和凹槽長串[(m＋2)T＋*(m＋2)T]沿光盤的1周反復(fù)排列。
37.按權(quán)利要求32所述的光盤，特征在于上述數(shù)據(jù)區(qū)域規(guī)定在內(nèi)周區(qū)域的讀入?yún)^(qū)域和外周區(qū)域的讀出區(qū)域之間，上述測試圖案區(qū)域設(shè)置在上述讀入?yún)^(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的內(nèi)側(cè)區(qū)域部分和讀出區(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的外側(cè)區(qū)域部分的至少一方的區(qū)域部分內(nèi)。
38.按權(quán)利要求32所述的光盤，特征在于上述數(shù)據(jù)區(qū)域規(guī)定在內(nèi)周區(qū)域的讀入?yún)^(qū)域和外周區(qū)域的讀出區(qū)域之間，上述測試圖案區(qū)域設(shè)置在上述讀入?yún)^(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的內(nèi)側(cè)區(qū)域部分和讀出區(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的外側(cè)區(qū)域部分中的任一區(qū)域部分內(nèi)。
39.按權(quán)利要求32所述的光盤，特征在于凹槽具有最短凹槽長(3T)、最長凹槽長(11T)和最短凹槽長(3T)與最長凹槽長(11T)之間的指定凹槽長(4T、5T、6T、7T、8T、9T、10T)中的某一凹槽長；非凹槽具有最短非凹槽長(*3T)、最長非凹槽長(*11T)和最短非凹槽長(*3T)與最長非凹槽長(*11T)之間的指定非凹槽長(*4T、*5T、*6T、*7T、*8T、*9T、*10T)中的某一非凹槽長。
40.按權(quán)利要求32所述的光盤，特征在于凹槽具有最短凹槽長(4T)、最長凹槽長(18T)和最短凹槽長(4T)與最長凹槽長(18T)之間的指定凹槽長(5T、6T、7T、8T、9T、10T、11T、12T、13T、14T、15T、16T、17T)中的某一凹槽長；非凹槽具有最短非凹槽長(*4T)、最長非凹槽長(*18T)和最短非凹槽長(*4T)與最長非凹槽長(*18T)之間的指定非凹槽長(*5T、*6T、*7T、*8T、*9T、*10T、*11T、*12T、*13T、*14T、*15T、*16T、*17T)中的某一非凹槽長。
41.一種光盤的評價裝置，特征在于具有讀出裝置和檢測裝置，讀出裝置從具有根據(jù)記錄數(shù)據(jù)排列凹槽及非凹槽的數(shù)據(jù)區(qū)域及根據(jù)預(yù)定的排列規(guī)則排列上述凹槽及非凹槽的測試圖案的光盤中光學(xué)地讀出測試圖案及數(shù)據(jù)作為再生信號。檢測裝置從根據(jù)上述測試圖案讀出的再生信號中檢測對光盤固有的評價數(shù)據(jù)。
42.按權(quán)利要求41所述的光盤的評價裝置，特征在于上述光盤具有數(shù)據(jù)區(qū)域和測試圖案區(qū)域。設(shè)溝道凹槽長為T，n和m是整數(shù)，凹槽具有最短凹槽長(mT)、最長凹槽長(nT)和最短凹槽長(mT)與最長凹槽長(nT)間的指定凹槽長的某一種凹槽長，非凹槽具有最短非凹槽長(*mT)、最長非凹槽長(*nT)和最短非凹槽長(*mT)與最長非凹槽長(*nT)間的指定的非凹槽長的某一種非凹槽長，數(shù)據(jù)區(qū)域利用該凹槽和非凹槽的排列記錄數(shù)據(jù)；測試圖案區(qū)域設(shè)在該數(shù)據(jù)區(qū)域之外，形成用于判斷記錄了從具有上述最短凹槽及最短非凹槽和最短凹槽長(mT)與最長凹槽長(nT)間的指定凹槽長的凹槽中選擇的凹槽及與該凹槽對應(yīng)的非凹槽的組合的測試圖案的光盤的記錄狀態(tài)的測試圖案。
43.按權(quán)利要求42所述的光盤的評價裝置，特征在于測試圖案具有最長凹槽長(nT)的凹槽和非凹槽反復(fù)的凹槽串(nT＋*nT)。
44.按權(quán)利要求41所述的光盤的評價裝置，特征在于測試圖案具有最短凹槽長(mT)的凹槽和非凹槽反復(fù)的凹槽串(mT＋*mT)。
45.按權(quán)利要求41所述的光盤的評價裝置，特征在于測試圖案包括具有最長凹槽長(nT)的凹槽和非凹槽反復(fù)的凹槽串(nT＋*nT)、具有最短凹槽長(mT)的凹槽和非凹槽反復(fù)的凹槽串(mT＋*mT)和具有與從最短凹槽長串(mT＋*mT)到指定凹槽長串[(m＋8)T＋*(m＋8)T]之間相當(dāng)?shù)脑谠搮^(qū)間都無倍數(shù)關(guān)系的凹槽長(m＋1)T、(m＋2)T、(m＋4)T及(m＋8)T的凹槽與非凹槽反復(fù)排列的凹槽串[(m＋1)T＋*(m＋1)T]、[(m＋2)T＋*(m＋2)T]、[(m＋4)T＋*(m＋4)T]、[(m＋8)T＋*(m＋8)T]。
46.按權(quán)利要求41所述的光盤的評價裝置，特征在于作為測試圖案，最短凹槽長串(mT＋*mT)沿光盤的1周反復(fù)排列，作為與和中心道相當(dāng)?shù)脑撟疃贪疾坶L串(mT＋*mT)相鄰的道，凹槽長串[(m＋1)T＋*(m＋1)T]和凹槽長串[(m＋2)T＋*(m＋2)T]沿光盤的1周反復(fù)排列。
47.按權(quán)利要求41所述的光盤的評價裝置，特征在于上述數(shù)據(jù)區(qū)域規(guī)定在內(nèi)周區(qū)域的讀入?yún)^(qū)域和外周區(qū)域的讀出區(qū)域之間，上述測試圖案區(qū)域設(shè)置在上述讀入?yún)^(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的內(nèi)側(cè)區(qū)域部分和讀出區(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的外側(cè)區(qū)域部分的至少一方的區(qū)域部分內(nèi)。
48.按權(quán)利要求41所述的光盤的評價裝置，特征在于上述數(shù)據(jù)區(qū)域規(guī)定在內(nèi)周區(qū)域的讀入?yún)^(qū)域和外周區(qū)域的讀出區(qū)域之間，上述測試圖案區(qū)域設(shè)置在上述讀入?yún)^(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的內(nèi)側(cè)區(qū)域部分和讀出區(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的外側(cè)區(qū)域部分中的任一區(qū)域部分內(nèi)。
49.光盤的評價方法，特征在于具有讀出步驟、檢測步驟和判斷步驟，讀出步驟從具有根據(jù)記錄數(shù)據(jù)排列凹槽及非凹槽的數(shù)據(jù)區(qū)域及根據(jù)預(yù)定的排列規(guī)則排列上述凹槽及非凹槽的測試圖案的光盤中光學(xué)地讀出測試圖案及數(shù)據(jù)作為再生信號。檢測步驟從根據(jù)上述測試圖案讀出的再生信號中檢測對光盤固有的評價數(shù)據(jù)；判斷步驟根據(jù)該評價數(shù)據(jù)判斷光盤是否良好。
50.按權(quán)利要求49所述的光盤的評價方法，特征在于上述光盤具有數(shù)據(jù)區(qū)域和測試圖案區(qū)域。設(shè)溝道凹槽長為T，n和m是整數(shù)，凹槽具有最短凹槽長(mT)、最長凹槽長(nT)和最短凹槽長(mT)與最長凹槽長(nT)間的指定凹槽長的某一種凹槽長，非凹槽具有最短非凹槽長(*mT)、最長非凹槽長(*nT)和最短非凹槽長(*mT)與最長非凹槽長(*nT)間的指定的非凹槽長的某一種非凹槽長，數(shù)據(jù)區(qū)域利用該凹槽和非凹槽的排列記錄數(shù)據(jù)；測試圖案區(qū)域設(shè)在該數(shù)據(jù)區(qū)域之外，形成用于判斷記錄了從具有上述最短凹槽及最短非凹槽和最短凹槽長(mT)與最長凹槽長(nT)間的指定凹槽長的凹槽中選擇的凹槽及與該凹槽對應(yīng)的非凹槽的組合的測試圖案的光盤的記錄狀態(tài)的測試圖案。
51.按權(quán)利要求49所述的光盤的評價方法，特征在于測試圖案具有最長凹槽長(nT)的凹槽和非凹槽反復(fù)的凹槽串(nT＋*nT)。
52.按權(quán)利要求49所述的光盤的評價方法，特征在于測試圖案具有最短凹槽長(mT)的凹槽和非凹槽反復(fù)的凹槽串(mT＋*mT)。
53.按權(quán)利要求49所述的光盤的評價方法，特征在于測試圖案包括具有最長凹槽長(nT)的凹槽和非凹槽反復(fù)的凹槽串(nT＋*nT)、具有最短凹槽長(mT)的凹槽和非凹槽反復(fù)的凹槽串(mT＋*mT)和具有與從最短凹槽長串(mT＋*mT)到指定凹槽長串[(m＋8)T＋*(m＋8)T]之間相當(dāng)?shù)脑谠搮^(qū)間都無倍數(shù)關(guān)系的凹槽長(m＋1)T、(m＋2)T、(m＋4)T及(m＋8)T的凹槽與非凹槽反復(fù)排列的凹槽串[(m＋1)T＋*(m＋1)T]、[(m＋2)T＋*(m＋2)T]、[(m＋4)T＋*(m＋4)T]、[(m＋8)T＋*(m＋8)T]。
54.按權(quán)利要求49所述的光盤的評價方法，特征在于作為測試圖案，最短凹槽長串(mT＋*mT)沿光盤的1周反復(fù)排列，作為與和中心道相當(dāng)?shù)脑撟疃贪疾坶L串(mT＋*mT)相鄰的道，凹槽長串[(m＋1)T＋*(m＋1)T]和凹槽長串[(m＋2)T＋*(m＋2)T]沿光盤的1周反復(fù)排列。
55.按權(quán)利要求49所述的光盤的評價方法，特征在于上述數(shù)據(jù)區(qū)域規(guī)定在內(nèi)周區(qū)域的讀入?yún)^(qū)域和外周區(qū)域的讀出區(qū)域之間，上述測試圖案區(qū)域設(shè)置在上述讀入?yún)^(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的內(nèi)側(cè)區(qū)域部分和讀出區(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的外側(cè)區(qū)域部分的至少一方的區(qū)域部分內(nèi)。
56.按權(quán)利要求49所述的光盤的評價方法，特征在于上述數(shù)據(jù)區(qū)域規(guī)定在內(nèi)周區(qū)域的讀入?yún)^(qū)域和外周區(qū)域的讀出區(qū)域之間，上述測試圖案區(qū)域設(shè)置在上述讀入?yún)^(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的內(nèi)側(cè)區(qū)域部分和讀出區(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的外側(cè)區(qū)域部分中的任一區(qū)域部分內(nèi)。
57.向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄方法，特征在于具有數(shù)據(jù)變換步驟、測試信號發(fā)生步驟和記錄步驟。設(shè)溝道凹槽長為T，n和m是整數(shù)，凹槽具有最短凹槽長(mT)、最長凹槽長(nT)和最短凹槽長(mT)與最長凹槽長(nT)間的指定凹槽長的某一種凹槽長，非凹槽具有最短非凹槽長(*mT)、最長非凹槽長(*nT)和最短非凹槽長(*mT)與最長非凹槽長(*nT)間的指定的非凹槽長的某一種非凹槽長，數(shù)據(jù)變換步驟將應(yīng)記錄的數(shù)據(jù)變換為與該凹槽和非凹槽的排列對應(yīng)的凹槽數(shù)據(jù)；測試信號發(fā)生步驟發(fā)生與從具有上述最短凹槽及最短非凹槽和最短凹槽長(mT)與最長凹槽長(nT)間的指定凹槽長的凹槽中選擇的凹槽及與該凹槽對應(yīng)的非凹槽的組合的測試圖案相當(dāng)?shù)臏y試信號；記錄步驟以凹槽和非凹槽的排列將上述凹槽數(shù)據(jù)記錄到光盤的數(shù)據(jù)區(qū)域，將上述測試信號記錄到與光盤的數(shù)據(jù)區(qū)域不同的測試圖案區(qū)域。
58.按權(quán)利要求57所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄方法，特征在于測試圖案具有最長凹槽長(nT)的凹槽和非凹槽反復(fù)的凹槽串(nT＋*nT)。
59.按權(quán)利要求57所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄方法，特征在于測試圖案具有最短凹槽長(mT)的凹槽和非凹槽反復(fù)的凹槽串(mT＋*mT)。
60.按權(quán)利要求57所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄方法，特征在于測試圖案包括具有最長凹槽長(nT)的凹槽和非凹槽反復(fù)的凹槽串(nT＋*nT)、具有最短凹槽長(mT)的凹槽和非凹槽反復(fù)的凹槽串(mT＋*mT)和具有與從最短凹槽長串(mT＋*mT)到指定凹槽長串[(m＋8)T＋*(m＋8)T]之間相當(dāng)?shù)脑谠搮^(qū)間都無倍數(shù)關(guān)系的凹槽長(m＋1)T、(m＋2)T、(m＋4)T及(m＋8)T的凹槽與非凹槽反復(fù)排列的凹槽串[(m＋1)T＋*(m＋1)T]、[(m＋2)T＋*(m＋2)T]、[(m＋4)T＋*(m＋4)T]、[(m＋8)T＋*(m＋8)T]。
61.按權(quán)利要求57所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄方法，特征在于作為測試圖案，最短凹槽長串(mT＋*mT)沿光盤的1周反復(fù)排列，作為與和中心道相當(dāng)?shù)脑撟疃贪疾坶L串(mT＋*mT)相鄰的道，凹槽長串[(m＋1)T＋*(m＋1)T]和凹槽長串[(m＋2)T＋*(m＋2)T]沿光盤的1周反復(fù)排列。
62.按權(quán)利要求57所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄方法，特征在于上述數(shù)據(jù)區(qū)域規(guī)定在內(nèi)周區(qū)域的讀入?yún)^(qū)域和外周區(qū)域的讀出區(qū)域之間，上述測試圖案區(qū)域設(shè)置在上述讀入?yún)^(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的內(nèi)側(cè)區(qū)域部分和讀出區(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的外側(cè)區(qū)域部分的至少一方的區(qū)域部分內(nèi)。
63.按權(quán)利要求57所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄方法，特征在于上述數(shù)據(jù)區(qū)域規(guī)定在內(nèi)周區(qū)域的讀入?yún)^(qū)域和外周區(qū)域的讀出區(qū)域之間，上述測試圖案區(qū)域設(shè)置在上述讀入?yún)^(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的內(nèi)側(cè)區(qū)域部分和讀出區(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的外側(cè)區(qū)域部分中的任一區(qū)域部分內(nèi)。
64.按權(quán)利要求57所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄方法，特征在于凹槽具有最短凹槽長(3T)、最長凹槽長(11T)和最短凹槽長(3T)與最長凹槽長(11T)之間的指定凹槽長(4T、5T、6T、7T、8T、9T、10T)中的某一凹槽長；非凹槽具有最短非凹槽長(*3T)、最長非凹槽長(*11T)和最短非凹槽長(*3T)與最長非凹槽長(*11T)之間的指定非凹槽長(*4T、*5T、*6T、*7T、*8T、*9T、*10T)中的某一非凹槽長。
65.按權(quán)利要求57所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄方法，特征在于凹槽具有最短凹槽長(4T)、最長凹槽長(18T)和最短凹槽長(4T)與最長凹槽長(18T)之間的指定凹槽長(5T、6T、7T、8T、9T、10T、11T、12T、13T、14T、15T、16T、17T)中的某一凹槽長；非凹槽具有最短非凹槽長(*4T)、最長非凹槽長(*18T)和最短非凹槽長(*4T)與最長非凹槽長(*18T)之間的指定非凹槽長(*5T、*6T、*7T、*8T、*9T、*10T、*11T、*12T、*13T、*14T、*15T、*16T、*17T)中的某一非凹槽長。
66.向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄裝置，特征在于具有數(shù)據(jù)變換裝置、測試信號發(fā)生裝置和記錄機(jī)構(gòu)。設(shè)溝道凹槽長為T，n和m是整數(shù)，凹槽具有最短凹槽長(mT)、最長凹槽長(nT)和最短凹槽長(mT)與最長凹槽長(nT)間的指定凹槽長的某一種凹槽長，非凹槽具有最短非凹槽長(*mT)、最長非凹槽長(*nT)和最短非凹槽長(*mT)與最長非凹槽長(*nT)間的指定的非凹槽長的某一種非凹槽長，數(shù)據(jù)變換裝置將應(yīng)記錄的數(shù)據(jù)變換為與該凹槽和非凹槽的排列對應(yīng)的凹槽數(shù)據(jù)；測試信號發(fā)生裝置發(fā)生與從具有上述最短凹槽及最短非凹槽和最短凹槽長(mT)與最長凹槽長(nT)間的指定凹槽長的凹槽中選擇的凹槽及與該凹槽對應(yīng)的非凹槽的組合的測試圖案相當(dāng)?shù)臏y試信號；記錄機(jī)構(gòu)以凹槽和非凹槽的排列將上述凹槽數(shù)據(jù)記錄到光盤的數(shù)據(jù)區(qū)域，將上述測試信號記錄到與光盤的數(shù)據(jù)區(qū)域不同的測試圖案區(qū)域。
67.按權(quán)利要求66所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄裝置，特征在于測試圖案具有最長凹槽長(nT)的凹槽和非凹槽反復(fù)的凹槽串(nT＋*nT)。
68.按權(quán)利要求66所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄裝置，特征在于測試圖案具有最短凹槽長(mT)的凹槽和非凹槽反復(fù)的凹槽串(mT＋*mT)。
69.按權(quán)利要求66所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄裝置，特征在于測試圖案包括具有最長凹槽長(nT)的凹槽和非凹槽反復(fù)的凹槽串(nT＋*nT)、具有最短凹槽長(mT)的凹槽和非凹槽反復(fù)的凹槽串(mT＋*mT)和具有與從最短凹槽長串(mT＋*mT)到指定凹槽長串[(m＋8)T＋*(m＋8)T]之間相當(dāng)?shù)脑谠搮^(qū)間都無倍數(shù)關(guān)系的凹槽長(m＋1)T、(m＋2)T、(m＋4)T及(m＋8)T的凹槽與非凹槽反復(fù)排列的凹槽串[(m＋1)T＋*(m＋1)T]、[(m＋2)T＋*(m＋2)T]、[(m＋4)T＋*(m＋4)T]、[(m＋8)T＋*(m＋8)T]。
70.按權(quán)利要求66所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄裝置，特征在于作為測試圖案，最短凹槽長串(mT＋*mT)沿光盤的1周反復(fù)排列，作為與和中心道相當(dāng)?shù)脑撟疃贪疾坶L串(mT＋*mT)相鄰的道，凹槽長串[(m＋1)T＋*(m＋1)T]和凹槽長串[(m＋2)T＋*(m＋2)T]沿光盤的1周反復(fù)排列。
71.按權(quán)利要求66所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄裝置，特征在于上述數(shù)據(jù)區(qū)域規(guī)定在內(nèi)周區(qū)域的讀入?yún)^(qū)域和外周區(qū)域的讀出區(qū)域之間， 上述測試圖案區(qū)域設(shè)置在上述讀入?yún)^(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的內(nèi)側(cè)區(qū)域部分和讀出區(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的外側(cè)區(qū)域部分的至少一方的區(qū)域部分內(nèi)。
72.按權(quán)利要求66所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄裝置，特征在于上述數(shù)據(jù)區(qū)域規(guī)定在內(nèi)周區(qū)域的讀入?yún)^(qū)域和外周區(qū)域的讀出區(qū)域之間，上述測試圖案區(qū)域設(shè)置在上述讀入?yún)^(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的內(nèi)側(cè)區(qū)域部分和讀出區(qū)域之外與該區(qū)域相鄰的外側(cè)區(qū)域部分中的任一區(qū)域部分內(nèi)。
73.按權(quán)利要求66所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄裝置，特征在于凹槽具有最短凹槽長(3T)、最長凹槽長(11T)和最短凹槽長(3T)與最長凹槽長(11T)之間的指定凹槽長(4T、5T、6T、7T、8T、9T、10T)中的某一凹槽長；非凹槽具有最短非凹槽長(*3T)、最長非凹槽長(*11T)和最短非凹槽長(*3T)與最長非凹槽長(*11T)之間的指定非凹槽長(*4T、*5T、*6T、*7T、*8T、*9T、*10T)中的某一非凹槽長。
74.按權(quán)利要求66所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄裝置，特征在于凹槽具有最短凹槽長(4T)、最長凹槽長(18T)和最短凹槽長(4T)與最長凹槽長(18T)之間的指定凹槽長(5T、6T、7T、8T、9T、10T、11T、12T、13T、14T、15T、16T、17T)中的某一凹槽長；非凹槽具有最短非凹槽長(*4T)、最長非凹槽長(*18T)和最短非凹槽長(*4T)與最長非凹槽長(*18T)之間的指定非凹槽長(*5T、*6T、*7T、*8T、*9T、*10T、*11T、*12T、*13T、*14T、*15T、*16T、*17T)中的某一非凹槽長。
75.光盤，特征在于具有數(shù)據(jù)區(qū)域和測試圖案區(qū)域。設(shè)溝道凹槽長為T、作為整數(shù)倍的凹槽和凹槽間表面，3＜n＜m＜k，n、m、k是整數(shù)，凹槽具有最短凹槽長(3T)、最長凹槽長(kT)和最短凹槽長(3T)與最長凹槽長(kT)間的凹槽長的某一凹槽長，非凹槽具有最短非凹槽長(*3T)、最長非凹槽長(*kT)和最短非凹槽長(*3T)與最長非凹槽長(*kT)間的非凹槽長的某一非凹槽長，數(shù)據(jù)區(qū)域利用該凹槽和非凹槽的排列組合記錄數(shù)據(jù)；測試圖案區(qū)域設(shè)在該數(shù)據(jù)區(qū)域之外，記錄從具有長度3T、mT、nT內(nèi)的某一凹槽長的凹槽、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的另一個凹槽間表面長的凹槽間表面、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的其余的1個凹槽長的凹槽、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的某一凹槽間表面長的凹槽間表面、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的另一個凹槽長的凹槽和具有長度3T、mT、nT內(nèi)的其余的1個凹槽間表面長的凹槽間表面中選擇的凹槽及凹槽間表面的反復(fù)排列。
76.按權(quán)利要求75所述的光盤，特征在于上述數(shù)據(jù)區(qū)域規(guī)定在內(nèi)周區(qū)域的讀入?yún)^(qū)域和外周區(qū)域的讀出區(qū)域之間，上述測試圖案區(qū)域設(shè)置在上述讀入?yún)^(qū)域內(nèi)。
77.按權(quán)利要求75所述的光盤，特征在于m、n≥6和m≤n，并且m、n≤14(＝k)。
78.按權(quán)利要求75所述的光盤，特征在于凹槽具有最短凹槽長(3T)、最長凹槽長(14T)和最短凹槽長(3T)與最長凹槽長(14T)之間的指定凹槽長(4T、5T、6T、7T、8T、9T、10T、11T、12T、13T)中的某一凹槽長；非凹槽具有最短非凹槽長(*3T)、最長非凹槽長(*11T)和最短非凹槽長(*3T)與最長非凹槽長(*11T)之間的指定非凹槽長(*4T、*5T、*6T、*7T、*8T、*9T、*10T、*11T、*12T、*13T)中的某一非凹槽長。
79.按權(quán)利要求75所述的光盤，特征在于在測試圖案區(qū)域，記錄凹槽長3T的凹槽、具有凹槽間表面長*6T(m＝6)的凹槽間表面、凹槽長7T(n＝7)的凹槽、凹槽間表面*3T的凹槽間表面、凹槽長6T(m＝6)的凹槽和凹槽間表面*7T(n＝7)的凹槽間表面的反復(fù)排列。
80.按權(quán)利要求79所述的光盤，特征在于凹槽長3T的凹槽、具有凹槽間表面長*6T(m＝6)的凹槽間表面和凹槽長7T(n＝7)的凹槽的排列相當(dāng)于代碼“0010000010000001”。
81.按權(quán)利要求75所述的光盤，特征在于上述凹槽與凹槽間表面的反復(fù)排列在m＝6和n＝7時具有從3T-*6T-7T-*3T-6T-*7T、3T-*7T-6T-*3T-7T-*6T、6T-*3T-7T-*6T-3T-*7T、7T-*3T-6T-*7T-3T-*6T、6T-*7T-3T-*6T-7T-*3T、7T-*6T-3T-*7T-6T-*3T的組中選擇的1個排列。
82.光盤再生裝置，特征在于具有讀出裝置、檢測裝置和修正裝置，讀出裝置從具有根據(jù)記錄數(shù)據(jù)排列凹槽及非凹槽的數(shù)據(jù)區(qū)域及根據(jù)預(yù)定的排列規(guī)則排列上述凹槽及非凹槽的測試圖案的光盤中光學(xué)地讀出測試圖案及數(shù)據(jù)作為再生信號。檢測裝置檢測上述測試圖案讀出的再生信號的誤碼率；修正裝置修正再生信號以使上述誤碼率成為最小。
83.按權(quán)利要求82所述的光盤再生裝置，特征在于上述光盤具有數(shù)據(jù)區(qū)域和測試圖案區(qū)域。設(shè)溝道凹槽長為T、是整數(shù)倍的凹槽和凹槽間表面，3＜n＜m＜k，n、m、k是整數(shù)，凹槽具有最短凹槽長(3T)、最長凹槽長(kT)和最短凹槽長(3T)與最長凹槽長(kT)間的凹槽長的某一凹槽長，非凹槽具有最短非凹槽長(*3T)、最長非凹槽長(*kT)和最短非凹槽長(*3T)與最長非凹槽長(*kT)間的非凹槽長的某一非凹槽長，數(shù)據(jù)區(qū)域利用該凹槽和非凹槽的排列組合記錄數(shù)據(jù)；測試圖案區(qū)域設(shè)在該數(shù)據(jù)區(qū)域之外，記錄從具有長度3T、mT、nT內(nèi)的某一凹槽長的凹槽、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的另一個凹槽間表面長的凹槽間表面、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的其余的1個凹槽長的凹槽、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的某一凹槽間表面長的凹槽間表面、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的另一個凹槽長的凹槽和具有長度3T、mT、nT內(nèi)的其余的1個凹槽間表面長的凹槽間表面中選擇的凹槽及凹槽間表面的反復(fù)排列。
84.按權(quán)利要求83所述的光盤再生裝置，特征在于上述數(shù)據(jù)區(qū)域規(guī)定在內(nèi)周區(qū)域的讀入?yún)^(qū)域和外周區(qū)域的讀出區(qū)域之間，上述測試圖案區(qū)域設(shè)置在上述讀入?yún)^(qū)域內(nèi)。
85.按權(quán)利要求83所述的光盤再生裝置，特征在于m、n≥6和m≤n，并且m、n≤14(＝k)。
86.按權(quán)利要求84所述的光盤再生裝置，特征在于凹槽具有最短凹槽長(3T)、最長凹槽長(14T)和最短凹槽長(3T)與最長凹槽長(14T)之間的指定凹槽長(4T、5T、6T、7T、8T、9T、10T、11T、12T、13T)中的某一凹槽長；非凹槽具有最短非凹槽長(*3T)、最長非凹槽長(*14T)和最短非凹槽長(*3T)與最長非凹槽長(*14T)之間的指定非凹槽長(*4T、*5T、*6T、*7T、*8T、*9T、*10T、*11T、*12T、*13T)中的某一非凹槽長。
87.按權(quán)利要求83所述的光盤再生裝置，特征在于在測試圖案區(qū)域，記錄凹槽長3T的凹槽、具有凹槽間表面長*6T(m＝6)的凹槽間表面、凹槽長7T(n＝7)的凹槽、凹槽間表面*3T的凹槽間表面、凹槽長6T(m＝6)的凹槽和凹槽間表面*7T(n＝7)的凹槽間表面的反復(fù)排列。
88.按權(quán)利要求83所述的光盤再生裝置，特征在于凹槽長3T的凹槽、具有凹槽間表面長*6T(m＝6)的凹槽間表面和凹槽長7T(n＝7)的凹槽的排列相當(dāng)于代碼“0010000010000001”。
89.按權(quán)利要求83所述的光盤再生裝置，特征在于上述凹槽與凹槽間表面的反復(fù)排列在m＝6和n＝7時具有從3T-*6T-7T-*3T-6T-*7T、3T-*7T-6T-*3T-7T-*6T、6T-*3T-7T-*6T-3T-*7T、7T-*3T-6T-*7T-3T-*6T、6T-*7T-3T-*6T-7T-*3T、7T-*6T-3T-*7T-6T-*3T的組中選擇的1個排列。
90.光盤的再生方法，特征在于具有讀出步驟、檢測步驟和修正步驟。讀出步驟從具有根據(jù)記錄數(shù)據(jù)排列凹槽及非凹槽的數(shù)據(jù)區(qū)域及根據(jù)預(yù)定的排列規(guī)則排列上述凹槽及非凹槽的測試圖案的光盤中光學(xué)地讀出測試圖案及數(shù)據(jù)作為再生信號。檢測步驟從根據(jù)上述測試圖案讀出的再生信號中檢測其誤碼率；修正步驟修正從上述數(shù)據(jù)區(qū)域讀出的再生信號以使誤碼率成為最小。
91.按權(quán)利要求90所述的光盤的再生方法，特征在于上述光盤具有數(shù)據(jù)區(qū)域和測試圖案區(qū)域。設(shè)溝道凹槽長為T、作為整數(shù)倍的凹槽和凹槽間表面，3＜n＜m＜k，n、m、k是整數(shù)，凹槽具有最短凹槽長(3T)、最長凹槽長(kT)和最短凹槽長(3T)與最長凹槽長(kT)間的凹槽長的某一凹槽長，非凹槽具有最短非凹槽長(*3T)、最長非凹槽長(*kT)和最短非凹槽長(*3T)與最長非凹槽長(*kT)間的非凹槽長的某一非凹槽長，數(shù)據(jù)區(qū)域利用該凹槽和非凹槽的排列組合記錄數(shù)據(jù)；測試圖案區(qū)域設(shè)在該數(shù)據(jù)區(qū)域之外，記錄從具有長度3T、mT、nT內(nèi)的某一凹槽長的凹槽、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的另一個凹槽間表面長的凹槽間表面、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的其余的1個凹槽長的凹槽、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的某一凹槽間表面長的凹槽間表面、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的另一個凹槽長的凹槽和具有長度3T、mT、nT內(nèi)的其余的1個凹槽間表面長的凹槽間表面中選擇的凹槽及凹槽間表面的反復(fù)排列。
92.按權(quán)利要求90所述的光盤的再生方法，特征在于上述數(shù)據(jù)區(qū)域規(guī)定在內(nèi)周區(qū)域的讀入?yún)^(qū)域和外周區(qū)域的讀出區(qū)域之間，上述測試圖案區(qū)域設(shè)置在上述讀入?yún)^(qū)域內(nèi)。
93.按權(quán)利要求90所述的光盤的再生方法，特征在于m、n≥6和m≤n，并且m、n≤14(＝k)。
94.按權(quán)利要求93所述的光盤的再生方法，特征在于凹槽具有最短凹槽長(3T)、最長凹槽長(14T)和最短凹槽長(3T)與最長凹槽長(14T)之間的指定凹槽長(4T、5T、6T、7T、8T、9T、10T、11T、12T、13T)中的某一凹槽長；非凹槽具有最短非凹槽長(*3T)、最長非凹槽長(*11T)和最短非凹槽長(*3T)與最長非凹槽長(*11T)之間的指定非凹槽長(*4T、*5T、*6T、*7T、*8T、*9T、*10T、*11T、*12T、*13T)中的某一非凹槽長。
95.按權(quán)利要求90所述的光盤的再生方法，特征在于在測試圖案區(qū)域，記錄凹槽長3T的凹槽、具有凹槽間表面長*6T(m＝6)的凹槽間表面、凹槽長7T(n＝7)的凹槽、凹槽間表面*3T的凹槽間表面、凹槽長6T(m＝6)的凹槽和凹槽間表面*7T(n＝7)的凹槽間表面的反復(fù)排列。
96.按權(quán)利要求90所述的光盤的再生方法，特征在于凹槽長3T的凹槽、具有凹槽間表面長*6T(m＝6)的凹槽間表面和凹槽長7T(n＝7)的凹槽的排列相當(dāng)于代碼“0010000010000001”。
97.按權(quán)利要求90所述的光盤的再生方法，特征在于上述凹槽與凹槽間表面的反復(fù)排列在m＝6和n＝7時具有從3T-*6T-7T-*3T-6T-*7T、3T-*7T-6T-*3T-7T-*6T、6T-*3T-7T-*6T-3T-*7T、7T-*3T-6T-*7T-3T-*6T、6T-*7T-3T-*6T-7T-*3T、7T-*6T-3T-*7T-6T-*3T的組中選擇的1個排列。
98.向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄方法，特征在于具有數(shù)據(jù)變換步驟和記錄步驟。設(shè)溝道凹槽長為T、是整數(shù)倍的凹槽和凹槽間表面，3＜n＜m＜k，n、m、k是整數(shù)，凹槽具有最短凹槽長(3T)、最長凹槽長(kT)和最短凹槽長(3T)與最長凹槽長(kT)間的凹槽長的某一凹槽長，非凹槽具有最短非凹槽長(*3T)、最長非凹槽長(*kT)和最短非凹槽長(*3T)與最長非凹槽長(*kT)間的非凹槽長的某一非凹槽長，數(shù)據(jù)變換步驟將應(yīng)記錄的數(shù)據(jù)變換為與該凹槽和非凹槽的排列的組合相當(dāng)?shù)陌疾蹟?shù)據(jù)；記錄步驟以從具有長度3T、mT、nT內(nèi)的某一凹槽長的凹槽、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的另一個凹槽間表面長的凹槽間表面、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的其余的1個凹槽長的凹槽、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的某一凹槽間表面長的凹槽間表面、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的另一個凹槽長的凹槽和具有長度3T、mT、nT內(nèi)的其余的1個凹槽間表面長的凹槽間表面中選擇的凹槽及凹槽間表面的反復(fù)排列進(jìn)行記錄。
99.按權(quán)利要求98所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄方法，特征在于上述數(shù)據(jù)區(qū)域規(guī)定在內(nèi)周區(qū)域的讀入?yún)^(qū)域和外周區(qū)域的讀出區(qū)域之間，上述測試圖案區(qū)域設(shè)置在上述讀入?yún)^(qū)域內(nèi)。
100.按權(quán)利要求98所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄方法，特征在于m、n≥6和m≤n，并且m、n≤14(＝k)。
101.按權(quán)利要求98所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄方法，特征在于凹槽具有最短凹槽長(3T)、最長凹槽長(14T)和最短凹槽長(3T)與最長凹槽長(14T)之間的指定凹槽長(4T、5T、6T、7T、8T、9T、10T、11T、12T、13T)中的某一凹槽長；非凹槽具有最短非凹槽長(*3T)、最長非凹槽長(*14T)和最短非凹槽長(*3T)與最長非凹槽長(*14T)之間的指定非凹槽長(*4T、*5T、*6T、*7T、*8T、*9T、*10T、*11T、*12T、*13T)中的某一非凹槽長。
102.按權(quán)利要求98所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄方法，特征在于在測試圖案區(qū)域，記錄凹槽長3T的凹槽、具有凹槽間表面長*6T(m＝6)的凹槽間表面、凹槽長7T(n＝7)的凹槽、凹槽間表面*3T的凹槽間表面、凹槽長6T(m＝6)的凹槽和凹槽間表面*7T(n＝7)的凹槽間表面的反復(fù)排列。
103.按權(quán)利要求98所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄方法，特征在于凹槽長3T的凹槽、具有凹槽間表面長*6T(m＝6)的凹槽間表面和凹槽長7T(n＝7)的凹槽的排列相當(dāng)于代碼“0010000010000001”。
104.按權(quán)利要求98所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄方法，特征在于上述凹槽與凹槽間表面的反復(fù)排列在m＝6和n＝7時具有從3T-*6T-7T-*3T-6T-*7T、3T-*7T-6T-*3T-7T-*6T、6T-*3T-7T-*6T-3T-*7T、7T-*3T-6T-*7T-3T-*6T、6T-*7T-3T-*6T-7T-*3T、7T-*6T-3T-*7T-6T-*3T的組中選擇的1個排列。
105.向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄裝置，特征在于具有數(shù)據(jù)變換裝置和記錄機(jī)構(gòu)。設(shè)溝道凹槽長為T、是整數(shù)倍的凹槽和凹槽間表面，3＜n＜m＜k，n、m、k是整數(shù)，凹槽具有最短凹槽長(3T)、最長凹槽長(kT)和最短凹槽長(3T)與最長凹槽長(kT)間的凹槽長的某一凹槽長，非凹槽具有最短非凹槽長(*3T)、最長非凹槽長(*kT)和最短非凹槽長(*3T)與最長非凹槽長(*kT)間的非凹槽長的某一非凹槽長，數(shù)據(jù)變換裝置將應(yīng)記錄的數(shù)據(jù)變換為與該凹槽和非凹槽的排列的組合相當(dāng)?shù)陌疾蹟?shù)據(jù)；記錄機(jī)構(gòu)以從具有長度3T、mT、nT內(nèi)的某一凹槽長的凹槽、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的另一個凹槽間表面長的凹槽間表面、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的其余的1個凹槽長的凹槽、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的某一凹槽間表面長的凹槽間表面、具有長度3T、mT、nT內(nèi)的另一個凹槽長的凹槽和具有長度3T、mT、nT內(nèi)的其余的1個凹槽間表面長的凹槽間表面中選擇的凹槽及凹槽間表面的反復(fù)排列進(jìn)行記錄。
106.按權(quán)利要求105所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄裝置，特征在于上述數(shù)據(jù)區(qū)域規(guī)定在內(nèi)周區(qū)域的讀入?yún)^(qū)域和外周區(qū)域的讀出區(qū)域之間，上述測試圖案區(qū)域設(shè)置在上述讀入?yún)^(qū)域內(nèi)。
107.按權(quán)利要求105所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄裝置，特征在于m、n≥6和m≤n，并且m、n≤14(＝k)。
108.按權(quán)利要求105所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄裝置，特征在于凹槽具有最短凹槽長(3T)、最長凹槽長(14T)和最短凹槽長(3T)與最長凹槽長(14T)之間的指定凹槽長(4T、5T、6T、7T、8T、9T、10T、11T、12T、13T)中的某一凹槽長；非凹槽具有最短非凹槽長(*3T)、最長非凹槽長(*14T)和最短非凹槽長(*3T)與最長非凹槽長(*14T)之間的指定非凹槽長(*4T、*5T、*6T、*7T、*8T、*9T、*10T、*11T、*12T、*13T)中的某一非凹槽長。
109.按權(quán)利要求105所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄裝置，特征在于在測試圖案區(qū)域，記錄凹槽長3T的凹槽、具有凹槽間表面長*6T(m＝6)的凹槽間表面、凹槽長7T(n＝7)的凹槽、凹槽間表面*3T的凹槽間表面、凹槽長6T(m＝6)的凹槽和凹槽間表面*7T(n＝7)的凹槽間表面的反復(fù)排列。
110.按權(quán)利要求105所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄裝置，特征在于凹槽長3T的凹槽、具有凹槽間表面長*6T(m＝6)的凹槽間表面和凹槽長7T(n＝7)的凹槽的排列相當(dāng)于代碼“0010000010000001”。
111.按權(quán)利要求105所述的向光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄裝置，特征在于上述凹槽與凹槽間表面的反復(fù)排列在m＝6和n＝7時具有從3T-*6T-7T-*3T-6T-*7T、3T-*7T-6T-*3T-7T-*6T、6T-*3T-7T-*6T-3T-*7T、7T-*3T-6T-*7T-3T-*6T、6T-*7T-3T-*6T-7T-*3T、7T-*6T-3T-*7T-6T-*3T的組中選擇的1個排列。
全文摘要
在光盤10的內(nèi)周區(qū)域的讀入?yún)^(qū)域27內(nèi)，交替地形成作為評價光盤10的讀入誤碼率的測試圖案的凹槽長3T、凹槽間表面長*6T、凹槽長7T、凹槽間表面長3T、凹槽長6T、凹槽間表面長7T的凹槽和凹槽間表面。通過由再生系統(tǒng)再生該測試圖案數(shù)據(jù)，檢測誤碼率，求出用于使該誤碼率為最小的修正系數(shù)，利用該修正系數(shù)修正再生信號，所以，再生信號可以在誤碼率為最小的狀態(tài)下由再生系統(tǒng)進(jìn)行再生。
文檔編號G11B7/0037GK1150855SQ9619034
公開日1997年5月28日 申請日期1996年4月11日 優(yōu)先權(quán)日1995年4月14日
發(fā)明者藤本定也, 佐藤裕治 申請人:株式會社東芝