內(nèi)存條的電壓測試裝置及方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種內(nèi)存條的電壓測試裝置及方法。所述方法包括：電腦設(shè)置示波器及信號發(fā)生器所需的初始設(shè)置參數(shù)；信號發(fā)生器發(fā)生一初始脈沖信號給內(nèi)存條的電壓輸入端；電腦接收示波器發(fā)送的電壓輸出端的初始測試參數(shù)及電壓輸入端的初始信號電壓值，發(fā)送一當(dāng)前電壓偏移值及一當(dāng)前電壓波動范圍值給示波器，并發(fā)送一當(dāng)前信號電壓值給信號發(fā)生器；信號發(fā)生器發(fā)送一當(dāng)前脈沖信號給電壓輸入端；示波器獲取內(nèi)存條的電壓輸入端及電壓輸出端的一段時間內(nèi)的電壓值而生成兩個電壓波形；電腦顯示兩個電壓波形及兩個電壓波形對應(yīng)的波形電壓值。
【專利說明】內(nèi)存條的電壓測試裝置及方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種電壓測試裝置及方法，特別是涉及一種內(nèi)存條的電壓測試裝置及方法。
【背景技術(shù)】
[0002]內(nèi)存條是連接CPU和其他設(shè)備的通道，起到緩沖和數(shù)據(jù)交換作用。內(nèi)存條在出廠之間需進(jìn)行性能測試。傳統(tǒng)的測試裝置一般是利用專用的示波器及信號發(fā)生器對電源供應(yīng)器進(jìn)行測試，并記錄各項測試數(shù)據(jù)，但是，測試項目的切換需要人工控制，測試成本高，且在無人的情況下，測試設(shè)備只能暫停使用，測試設(shè)備資源的利用率低。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種自動測試內(nèi)存條的電壓的裝置及方法。
[0004]一種內(nèi)存條的電壓測試裝置，包括一電腦、一信號發(fā)生器、一示波器，所述示波器用于連接一內(nèi)存條的一電壓輸入端及一電壓輸出端，所述電腦連接所述信號發(fā)生器及所述示波器，所述信號發(fā)生器用于連接所述電壓輸入端，所述電腦包括一控制模塊、一調(diào)節(jié)模塊及一顯示模塊，所述示波器包括一控制單元、一獲取單元、一存儲單元及一波形生成單元，所述信號發(fā)生器包括一控制子單元及一信號生成單元，所述控制模塊用于發(fā)送設(shè)置的示波器初始設(shè)置參數(shù)給所述控制單元，發(fā)送設(shè)置的信號發(fā)生器初始設(shè)置參數(shù)給所述控制子單元，所述控制單元用于將所述示波器初始設(shè)置參數(shù)存儲于所述存儲單元，所述獲取單元用于在所述信號生成單兀輸出一初始脈沖信號給所述電壓輸入端時獲取所述電壓輸入端的初始信號電壓值及所述電壓輸出端的初始測試參數(shù)，所述控制單元還用于將所述初始測試參數(shù)及所述初始信號電壓值發(fā)送給所述調(diào)節(jié)模塊，所述調(diào)節(jié)模塊用于根據(jù)初始測試參數(shù)發(fā)送一當(dāng)前電壓偏移值及一當(dāng)前電壓波動范圍值給所述控制單元，根據(jù)所述初始信號電壓值發(fā)送一當(dāng)前信號電壓值給所述控制子單元，所述獲取單元還用于在所述存儲單元存儲有所述當(dāng)前電壓偏移值及所述當(dāng)前電壓波動范圍值后及在所述信號生成單元根據(jù)所述當(dāng)前信號電壓值生成一當(dāng)前脈沖信號給所述電壓輸入端后，獲取所述電壓輸出端及所述電壓輸入端的一段時間的電壓值，所述波形生成單元用于根據(jù)所述電壓值生產(chǎn)兩個電壓波形并傳送所述兩個電壓波形及所述兩個電壓波形對應(yīng)的波形電壓值給所述控制模塊，所述控制模塊還用于顯示所述波形電壓值及所述兩個電壓波形于所述顯示模塊上。
[0005]一實施例中，所述電腦還包括一存儲模塊，所述存儲模塊用于存儲所述當(dāng)前電壓偏移值、所述當(dāng)前電壓波動范圍值及所述當(dāng)前信號電壓值。
[0006]—實施例中，所述示波器初始設(shè)置參數(shù)包括初始電壓偏移量及初始電壓波動范圍值。
[0007]—實施例中，所述信號發(fā)生器初始設(shè)置參數(shù)包括脈沖頻率、高電平電壓、低電平電壓及回轉(zhuǎn)率。
[0008]一實施例中，所述初始測試參數(shù)包括一第二段時間內(nèi)的電壓波動的最大值與最小值。
[0009]一種內(nèi)存條的電壓測試方法，應(yīng)用于一內(nèi)存條的電壓測試裝置中，所述電壓測試裝置包括一電腦、一示波器及一信號發(fā)生器，所述示波器連接一內(nèi)存條的電壓輸入端及電壓輸出端，所述信號發(fā)生器連接所述電壓輸入端；所述內(nèi)存條的電壓測試測試方法包括如下步驟:
所述電腦設(shè)置所述示波器所需的示波器初始設(shè)置參數(shù)及所述信號發(fā)生器所需的信號發(fā)生器初始設(shè)置參數(shù)；
所述信號發(fā)生器發(fā)生一初始脈沖信號給所述電壓輸入端；
所述電腦接收所述示波器發(fā)送的所述電壓輸出端的初始測試參數(shù)及所述電壓輸入端的初始信號電壓值，根據(jù)所述初始測試參數(shù)發(fā)送一當(dāng)前電壓偏移值及一當(dāng)前電壓波動范圍值給所述示波器，并根據(jù)所述初始信號電壓值發(fā)送一當(dāng)前信號電壓值給所述信號發(fā)生器；所述示波器獲取所述內(nèi)存條的電壓輸入端及電壓輸出端的一段時間內(nèi)的電壓值，將所述電壓值生成兩個電壓波形，并將所述兩個電壓波形及所述兩個電壓波形對應(yīng)的波形電壓值發(fā)送給所述電腦；
所述電腦顯示所述兩個電壓波形及所述波形電壓值。
[0010]一實施例中，所述電腦存儲所述當(dāng)前電壓偏移值、所述當(dāng)前電壓波動范圍值及所述當(dāng)前信號電壓值。
[0011 ] 一實施例中,所述初始設(shè)置參數(shù)包括初始電壓偏移量及初始電壓波動范圍值。
[0012]一實施例中，所述信號發(fā)生器初始設(shè)置參數(shù)包括脈沖頻率、高電平電壓、低電平電壓及回轉(zhuǎn)率。
[0013]一實施例中，所述初始測試參數(shù)包括一第二段時間內(nèi)的電壓波動的最大值與最小值。
[0014]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明內(nèi)存條的電壓測試裝置及方法通過電腦自動調(diào)節(jié)所述示波器及所述信號發(fā)生器并檢測內(nèi)存條的電壓輸出，從而實現(xiàn)對內(nèi)存條的電壓自動測試。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0015]圖1為本發(fā)明內(nèi)存條的電壓測試裝置的一較佳實施方式中的示意圖。
[0016]圖2為本發(fā)明內(nèi)存條的電壓測試方法的一較佳實施方式中的流程圖。
[0017]主要元件符號說明
【權(quán)利要求】
1.一種內(nèi)存條的電壓測試裝置，包括一電腦、一信號發(fā)生器、一示波器，所述示波器用于連接一內(nèi)存條的一電壓輸入端及一電壓輸出端，所述電腦連接所述信號發(fā)生器及所述示波器，所述信號發(fā)生器用于連接所述電壓輸入端，其特征在于:所述電腦包括一控制模塊、一調(diào)節(jié)模塊及一顯示模塊，所述示波器包括一控制單元、一獲取單元、一存儲單元及一波形生成單元，所述信號發(fā)生器包括一控制子單元及一信號生成單元，所述控制模塊用于發(fā)送設(shè)置的示波器初始設(shè)置參數(shù)給所述控制單元，發(fā)送設(shè)置的信號發(fā)生器初始設(shè)置參數(shù)給所述控制子單元，所述控制單元用于將所述示波器初始設(shè)置參數(shù)存儲于所述存儲單元，所述獲取單元用于在所述信號生成單元輸出一初始脈沖信號給所述電壓輸入端時獲取所述電壓輸入端的初始信號電壓值及所述電壓輸出端的初始測試參數(shù)，所述控制單元還用于將所述初始測試參數(shù)及所述初始信號電壓值發(fā)送給所述調(diào)節(jié)模塊，所述調(diào)節(jié)模塊用于根據(jù)初始測試參數(shù)發(fā)送一當(dāng)前電壓偏移值及一當(dāng)前電壓波動范圍值給所述控制單元，根據(jù)所述初始信號電壓值發(fā)送一當(dāng)前信號電壓值給所述控制子單元，所述獲取單元還用于在所述存儲單元存儲有所述當(dāng)前電壓偏移值及所述當(dāng)前電壓波動范圍值后及在所述信號生成單元根據(jù)所述當(dāng)前信號電壓值生成一當(dāng)前脈沖信號給所述電壓輸入端后，獲取所述電壓輸出端及所述電壓輸入端的一段時間的電壓值，所述波形生成單元用于根據(jù)所述電壓值生產(chǎn)兩個電壓波形并傳送所述兩個電壓波形及所述兩個電壓波形對應(yīng)的波形電壓值給所述控制模塊，所述控制模塊還用于顯示所述波形電壓值及所述兩個電壓波形于所述顯示模塊上。
2.如權(quán)利要求1所述的內(nèi)存條的電壓測試裝置，其特征在于:所述電腦還包括一存儲模塊，所述存儲模塊用于存儲所述當(dāng)前電壓偏移值、所述當(dāng)前電壓波動范圍值及所述當(dāng)前信號電壓值。
3.如權(quán)利要求1所述的內(nèi)存條的電壓測試裝置，其特征在于:所述示波器初始設(shè)置參數(shù)包括初始電壓偏移量及初始電壓波動范圍值。
4.如權(quán)利要求1所述的內(nèi)存條的電壓測試裝置，其特征在于:所述信號發(fā)生器初始設(shè)置參數(shù)包括脈沖頻率、高電平電壓、低電平電壓及回轉(zhuǎn)率。
5.如權(quán)利要求1所述的內(nèi)存條的電壓測試裝置，其特征在于:所述初始測試參數(shù)包括一第二段時間內(nèi)的電壓波動的最大值與最小值。
6.一種內(nèi)存條的電壓測試方法，應(yīng)用于一內(nèi)存條的電壓測試裝置中，所述電壓測試裝置包括一電腦、一示波器及一信號發(fā)生器，所述示波器連接一內(nèi)存條的電壓輸入端及電壓輸出端，所述信號發(fā)生器連接所述電壓輸入端；其特征在于:所述內(nèi)存條的電壓測試測試方法包括如下步驟: 所述電腦設(shè)置所述示波器所需的示波器初始設(shè)置參數(shù)及所述信號發(fā)生器所需的信號發(fā)生器初始設(shè)置參數(shù)； 所述信號發(fā)生器發(fā)送一初始脈沖信號給所述電壓輸入端； 所述電腦接收所述示波器發(fā)送的所述電壓輸出端的初始測試參數(shù)及所述電壓輸入端的初始信號電壓值，根據(jù)所述初始測試參數(shù)發(fā)送一當(dāng)前電壓偏移值及一當(dāng)前電壓波動范圍值給所述示波器，并根據(jù)所述初始信號電壓值發(fā)送一當(dāng)前信號電壓值給所述信號發(fā)生器； 所述信號發(fā)生器根據(jù)當(dāng)前信號電壓值發(fā)送一當(dāng)前脈沖信號給所述電壓輸入端； 所述示波器獲取所述內(nèi)存條的電壓輸入端及電壓輸出端的一段時間內(nèi)的電壓值，將所述電壓值生成兩個電壓波形，并將所述兩個電壓波形及所述兩個電壓波形對應(yīng)的波形電壓值發(fā)送給所述電腦； 所述電腦顯示所述兩個電壓波形及所述波形電壓值。
7.如權(quán)利要求6所述的內(nèi)存條的電壓測試方法，其特征在于:所述電腦存儲所述當(dāng)前電壓偏移值、所述當(dāng)前電壓波動范圍值及所述當(dāng)前信號電壓值。
8.如權(quán)利要求6所述的內(nèi)存條的電壓測試方法，其特征在于:所述初始設(shè)置參數(shù)包括初始電壓偏移量及初始電壓波動范圍值。
9.如權(quán)利要求6所述的內(nèi)存條的電壓測試方法，其特征在于:所述信號發(fā)生器初始設(shè)置參數(shù)包括脈沖頻率、高電平電壓、低電平電壓及回轉(zhuǎn)率。
10.如權(quán)利要求6所述的內(nèi)存條的電壓測試方法，其特征在于:所述初始測試參數(shù)包括一第二段時間內(nèi)的電壓波動的最大值與最小值。
【文檔編號】G11C29/56GK103915120SQ201310001879
【公開日】2014年7月9日 申請日期:2013年1月5日 優(yōu)先權(quán)日:2013年1月5日
【發(fā)明者】胡浩 申請人:鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司