專利名稱：記錄條件或再生條件的確定方法、集成電路及光盤裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種在對光記錄介質(zhì)照射激光來進行數(shù)據(jù)的記錄及再生的記錄再生 裝置中，通過進行測試記錄來確定記錄條件及再生條件的技術(shù)。
背景技術(shù)：
專利文獻1中揭示了一種對形成有多個記錄層的光盤，通過光拾取器的激光照 射來進行數(shù)據(jù)再生的光盤裝置。該光盤裝置將通過具有放大器的電氣電路來控制光拾取 器，確定每一記錄層的上述放大器在數(shù)據(jù)再生時的增益。專利文獻2中揭示了一種對具有多個記錄區(qū)域的記錄介質(zhì)，進行數(shù)據(jù)記錄的光 盤裝置。該光盤裝置在上述多個記錄區(qū)域中的記錄/再生特性最佳的區(qū)域，進行用于確 定記錄條件的測試記錄。專利文獻1 日本特開2001-319332號公報專利文獻2 日本特開2007-179656號公報關(guān)于如通過專利文獻1的光盤裝置所再生的光盤那樣的、形成有多個記錄層的 光記錄介質(zhì)，一般，各記錄層具有測試記錄區(qū)域和用戶數(shù)據(jù)區(qū)域，為了確定各記錄層的 記錄條件及再生條件，在該記錄層的測試記錄區(qū)域進行測試記錄。一般來說，其形成為 測試記錄區(qū)域比用戶數(shù)據(jù)區(qū)域小的結(jié)構(gòu)。因此，如果對一個記錄層的測試記錄區(qū)域進行反復(fù)測試記錄時，測試記錄區(qū)域 的剩余容量就會變小，從而導(dǎo)致不能再次進行測試記錄。其結(jié)果，將導(dǎo)致不能確定該記 錄層中的記錄條件或再生條件。尤其對于追記型BD-R (Blu-ray Disc Recordable)盤(藍光盤)等的追記型盤，在
記錄小單位的多數(shù)文件的情況下，由于對每一文件進行測試記錄，從而易于導(dǎo)致測試記 錄區(qū)域的剩余容量變小。另外，還可能出現(xiàn)下述情況，即，小單位的多數(shù)文件被記錄于 某一記錄層中而測試記錄區(qū)域的剩余容量變小，而另一方，大單位的文件以較少的次數(shù) 記錄于其他的記錄層中而測試記錄區(qū)域余留下較大的容量。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明鑒于上述缺點，其目的在于，在對光記錄介質(zhì)進行數(shù)據(jù)的記錄及再生的 記錄再生裝置中，防止發(fā)生由于測試記錄區(qū)域的剩余容量不足而導(dǎo)致不能確定記錄條件 及再生條件的情況。為了解決上述課題，本發(fā)明用于在記錄再生裝置中，對在多個記錄層中的任一 個的記錄對象記錄層進行用戶數(shù)據(jù)的記錄時的記錄條件以及再生上述記錄對象記錄層的 數(shù)據(jù)時的再生條件中的至少一者進行確定的處理，其中，上述記錄再生裝置通過對光記 錄介質(zhì)照射激光來進行數(shù)據(jù)的記錄及再生，上述光記錄介質(zhì)形成有上述多個記錄層，并 且上述光記錄介質(zhì)記錄有表示上述多個記錄層中的已記錄區(qū)域的記錄管理數(shù)據(jù)，上述多 個記錄層分別具有測試記錄區(qū)域和用戶數(shù)據(jù)區(qū)域，本發(fā)明的特征在于包括，剩余容量取得處理，基于上述記錄管理數(shù)據(jù)，取得每一記錄層的上述測試記錄區(qū)域的剩余容量； 測試記錄層確定處理，基于在上述剩余容量取得處理中所取得的每一記錄層的測試記錄 區(qū)域的剩余容量，將進行測試記錄的記錄層確定為測試記錄層；測試記錄處理，對上述 測試記錄層確定處理中所確定的測試記錄層的測試記錄區(qū)域進行測試記錄；條件確定處 理，基于上述測試記錄處理中進行了測試記錄的區(qū)域的記錄品質(zhì)，對上述記錄條件及上 述再生條件中的至少一者進行確定。由此，即使在記錄對象記錄層中的測試記錄區(qū)域的剩余容量不足的情況下，也 能夠基于每一記錄層的測試記錄區(qū)域的剩余容量，將與記錄對象記錄層不同的記錄層確 定為測試記錄層，以所確定的測試記錄層的測試記錄區(qū)域進行測試記錄。所以，能夠防 止發(fā)生因測試記錄區(qū)域的剩余容量不足而導(dǎo)致不能確定記錄條件及再生條件的情況。另 外，由于能有效地利用測試記錄區(qū)域，所以能夠增大追記次數(shù)。(發(fā)明效果)基于本發(fā)明，即使在記錄對象記錄層中的測試記錄區(qū)域的剩余容量不足的情況 下，也由于能夠通過其他記錄層的測試記錄區(qū)域來進行測試記錄，所以，可以防止發(fā)生 因測試記錄區(qū)域的剩余容量不足而導(dǎo)致不能確定記錄條件及再生條件的情況。另外，由 于能有效地利用測試記錄區(qū)域，所以能夠增大追記次數(shù)。


圖1是表示本發(fā)明的實施方式1的光盤裝置的構(gòu)成的框圖。圖2是表示BD-R盤的格式(format)的說明圖。圖3是表示記錄條件及再生條件的確定方法的流程圖。圖4是表示在圖3的(S1000)中的處理的流程圖。圖5是表示在圖3的(S2000)中的處理的流程圖。圖6是表示在BD-R盤形成記錄標記時，驅(qū)動單元輸出的驅(qū)動波形和柵極信號的 曲線圖。圖7是表示BD-R盤的PIC區(qū)域的構(gòu)成的說明圖。圖8是表示對BD-R盤的記錄有單一模式(pattern)數(shù)據(jù)的區(qū)域進行再生時所取 得的再生信號的電平的曲線圖。圖9(a)是表示光輸出級別與調(diào)制度之間關(guān)系的曲線圖。圖9(b)是表示光輸出 級別和將調(diào)制度乘以光輸出級別所得到的值之間關(guān)系的曲線圖。圖10是表示在圖3的(S3000)中的處理的流程圖。圖11是用于說明在(S3003) (S3007)中進行測試記錄的方法的說明圖。圖12是表示通過本發(fā)明的實施方式2的光盤裝置進行圖3的(S2000)中的處理 的流程圖。圖13是表示通過本發(fā)明的實施方式3的光盤裝置進行圖3的(S2000)中的處理 的流程圖。圖14是表示通過本發(fā)明的實施方式4的光盤裝置進行圖3的(S2000)中的處理 的流程圖。圖15是表示通過本發(fā)明的實施方式5的光盤裝置進行圖3的(S2000)中的處理
7的流程圖。圖16是表示通過本發(fā)明的實施方式6的光盤裝置進行代替圖3的(S0008)的處 理所進行的處理的流程圖。圖17是表示DVD+R(Dual Layer)盤的格式的說明圖。圖18是表示記錄有多個區(qū)段(session)的DVD+R盤的格式的說明圖。符號的說明100-光頭，106-物鏡，200-集成電路，221-剩余容量取得單元，222-測試記 錄層確定單元，223-記錄/再生條件確定單元(條件確定單元)，224-測試記錄單元， 700-BD-R盤(光記錄介質(zhì))。
具體實施例方式以下，關(guān)于本發(fā)明的實施方式，參照附圖進行說明。(實施方式1)如圖1所示，本發(fā)明的實施方式1涉及的光盤裝置(記錄再生裝置)包括光 頭100、集成電路200、用于存儲計算機程序的存儲器元件300、驅(qū)動單元400、盤電動機 500及移送電動機600，該光盤裝置用于對裝入的二層構(gòu)造的BD-R盤700進行數(shù)據(jù)的記 錄及再生。<BD-R盤的格式>首先，參照圖2來說明本實施方式的光盤裝置的記錄對象即BD-R盤700的格 式。BD-R盤700具有一般的BD-R盤的格式。如圖2所示，BD-R盤700具有LO層和L 1層，在各層中，半徑為24.00mm(毫 米)的內(nèi)周配置有引入?yún)^(qū)，在半徑為24.00mm 58.00mm的范圍，配置有用戶數(shù)據(jù)區(qū) 域，在半徑為58.00mm的外周配置有引出區(qū)域。用戶數(shù)據(jù)區(qū)域能用于記錄任意的用戶數(shù) 據(jù)，在引入、引出區(qū)域預(yù)先記錄有盤信息等。另夕卜，在每一記錄層，作為測試記錄區(qū)域存在有OPC (Optimum Power Control
最適功率控制)區(qū)域，如圖2所示，LO層的OPC區(qū)域(OPCO)為半徑23.329mm到 23.647mm之間的區(qū)域，Ll層的OPC區(qū)域(OPCl)為半徑22.740mm到23.067mm之間的
區(qū)域。在此，測試記錄表示為了恰當?shù)卣{(diào)整用戶數(shù)據(jù)記錄時的光輸出級別或光脈沖寬度 而進行的記錄動作。另夕卜，BD-R盤700中存在有，作為記錄管理區(qū)域的臨時盤管理區(qū)域(Temporary DiscManagementArea)(圖2中以“TDMA”來標示)，在LO層配置有作為TDMA區(qū)域的 TDMAO (從半徑23.647mm起的2048個物理簇(cluster))、TDMA2 (從半徑24.00mm起的 ηX 256個物理簇，但最大為4096個物理簇)以及TDMA3 (半徑到58.00mm為止的ηX 256 物理簇)。另一方面，在L 1層配置有作為TDMA區(qū)域的TDMAl (從半徑23.329mm起 的2048個物理簇)、TDMA4(半徑到58.00mm為止的ηX 256個物理簇)以及TDMA5(從 半徑24.00mm起的nX 256個物理簇，但最大為4096個物理簇)。在此，按照TDMA0、 TDMAl、TDMA2、TDMA3、TDMA4、TDMA5的順序，對TDMA區(qū)域進行記錄表示 在OPC區(qū)域及用戶數(shù)據(jù)區(qū)域中的已記錄區(qū)域的記錄管理數(shù)據(jù)。另外，不論對OPC區(qū)域 或用戶數(shù)據(jù)區(qū)域的記錄是在哪個層，TDMA區(qū)域都是按照TDMAO、TDMAU TDMA2、TDMA3、TDMA4、TDMA5的順序來予以使用。因此，即使在Ll層進行對OPC區(qū)域或
用戶數(shù)據(jù)區(qū)域的記錄，也可能在LO層的TDMAO對上述記錄管理數(shù)據(jù)進行記錄的情況。 光盤裝置通過對TDMA區(qū)域的上述記錄管理數(shù)據(jù)進行再生，就能檢測出OPC區(qū)域和用戶 數(shù)據(jù)區(qū)域的使用狀況。另外，在LO層的半徑為22.512mm的外周側(cè)，配置有用于對盤屬性和用 于表示記錄時的推薦功率及光脈沖寬度等的盤信息進行了記錄的PIC (Permanent Information&Control Data 固有信息及控制數(shù)據(jù))區(qū)域。關(guān)于PIC區(qū)域，將在后面詳述。< 光頭 100>光頭100對BD-R盤700照射激光。具體而言，光頭100具有半導(dǎo)體激光器 101、準直透鏡102、偏振光束分光器(PBS polarization beam splitter) 103、前光檢測器 104、波長板105、物鏡106、致動器(actuator) 107、檢測透鏡108以及士 1次光檢測器 109。半導(dǎo)體激光器101是一種光源，其與來自驅(qū)動單元400的電流輸出對應(yīng)地出射在 再生及記錄時所需光強度的光束，例如出射波長為405nm的激光。致動器107，進行使物鏡106沿著聚焦方向及軌道方向移動的控制以及使物鏡 106相對于記錄面發(fā)生傾斜的控制。從半導(dǎo)體激光器101出射的激光(出射光)通過準直透鏡102而形成平行光，并 通過PBS103進行分離。接著，分離后的光經(jīng)過波長板105，并通過物鏡106而聚光于 BD-R盤700，該聚光位置為光束聚點(Spot)。此時，入射到PBS103的一部分激光由前 光檢測器104檢測到并轉(zhuǎn)換成電信號。另一方面，來自BD-R盤700的反射光經(jīng)過物鏡106及波長板105后，通過 PBS103而與出射光的光路分離，進而被引導(dǎo)至檢測透鏡108。檢測透鏡108將聚焦錯誤信號檢測用+1次光和跟蹤錯誤信號檢測用-1次光導(dǎo)至 士 1次光檢測器109。士 1次光檢測器109將通過檢測透鏡108所導(dǎo)入的+1次光以及_1 次光轉(zhuǎn)換成電信號后輸出。<集成電路200>集成電路200具有伺服控制單元201、光檢測單元202、再生單元203、檢波 單元204、再生信號品質(zhì)評價單元210及微機220。再生信號品質(zhì)評價單元210具有抖 動(jitter)計算單元211、非對稱(asymmetry)計算單元212及調(diào)制度計算單元213。微 機220具有剩余容量取得單元221、測試記錄層確定單元222、記錄/再生條件確定單 元223及測試記錄單元224。伺服控制單元201根據(jù)通過士 1次光檢測器109所輸出的電信號來進行聚焦控制 及跟蹤控制。這些聚焦控制及跟蹤控制是通過對致動器107的驅(qū)動來進行的。另外，伺 服控制單元201將根據(jù)來自微機220 (后述)的記錄/再生條件確定單元223及測試記錄 單元224的命令，來變更聚焦控制及跟蹤控制的目標位置(聚焦偏移及跟蹤偏移)以及變 更物鏡106的傾斜度(傾角)及像差。光檢測單元202基于士 1次光檢測器109所輸出的電信號的一部分或全部，生成 用于再生BD-R盤700所記錄的數(shù)據(jù)(地址信息、用戶數(shù)據(jù)等)的再生信號。再生單元203對光檢測單元202所生成的再生信號，進行通過均衡電路的均衡處
9理等的信號處理。檢波單元204對通過前光檢測器104所取得的電信號進行檢波處理，并輸出對應(yīng) 于再生狀態(tài)或記錄狀態(tài)的光輸出級別。再生信號品質(zhì)評價單元210對再生單元203進行的信號處理后的再生信號的品質(zhì) 進行評價。具體而言，再生信號品質(zhì)評價單元210具有用于算出抖動值的抖動計算單 元211、用于算出非對稱值的非對稱計算單元212以及用于算出調(diào)制度的調(diào)制度計算單元 213。剩余容量取得單元221接受由再生單元203進行信號處理后的再生信號，并對每 一記錄層，基于由該再生信號所示的上述記錄管理數(shù)據(jù)(從TDMA區(qū)域讀出的數(shù)據(jù))來 取得BD-R盤700的OPC區(qū)域的剩余容量(在OPC區(qū)域中的可記錄區(qū)域的剩余容量)。 另外，剩余容量取得單元221輸出用于使光束聚點(Spot)移動至OPC區(qū)域、PIC區(qū)域、 TDMA區(qū)域或用戶數(shù)據(jù)區(qū)域的驅(qū)動信號。測試記錄層確定單元222基于通過剩余容量取得單元221所取得的各記錄層的 OPC區(qū)域的剩余容量，將進行測試記錄的記錄層確定為測試記錄層。記錄/再生條件確定單元223基于在再生信號品質(zhì)評價單元210中所算出的抖動 值、非對稱值以及調(diào)制度(進行了測試記錄的區(qū)域的記錄品質(zhì))，來確定在多個記錄層中 的任一個的記錄對象記錄層進行用戶數(shù)據(jù)的記錄時的記錄條件以及再生上述記錄對象記 錄層的數(shù)據(jù)時的再生條件。具體而言，作為記錄條件，確定出光頭100對BD-R盤700 所照射的激光的光輸出級別及光脈沖寬度，并基于該確定結(jié)果進行對驅(qū)動單元400的命 令。作為再生條件，確定出聚焦控制及跟蹤控制的目標位置(偏移)、物鏡106的傾斜 度、伺服控制單元201內(nèi)部的增益、以及像差，并基于該確定結(jié)果進行對伺服控制單元 201的命令。另外，作為再生條件，進一步確定出再生單元203的均衡電路的增強值(增 益)及截止頻率等，并基于該確定結(jié)果進行對再生單元203的命令。測試記錄單元224為了根據(jù)再生狀態(tài)或記錄狀態(tài)，來控制半導(dǎo)體激光器101的光 輸出級別及光脈沖寬度，向驅(qū)動單元400輸出激光驅(qū)動命令及脈沖命令。另外，測試記 錄單元224通過對驅(qū)動單元400及移送電動機600進行控制而間接地控制光頭100，使得 在測試記錄層確定單元222所確定的測試記錄層的OPC區(qū)域進行測試記錄。微機220的上述各單元的功能可通過執(zhí)行被存儲在存儲器元件300中的計算機程 序來實現(xiàn)。另外，存儲器元件300能夠根據(jù)來自微機220的命令來啟動計算機程序。驅(qū)動單元400根據(jù)由集成電路200的測試記錄單元224所輸出的激光驅(qū)動命令及 脈沖命令來輸出電流。驅(qū)動單元400使輸出電流的電流量發(fā)生變化，以達到使得半導(dǎo)體 激光器101能對BD-R盤700照射在再生及記錄時所需強度的出射光。盤電動機500以所設(shè)定的轉(zhuǎn)數(shù)使BD-R盤700進行旋轉(zhuǎn)。移送電動機600能夠根據(jù)微機220的剩余容量取得單元221及測試記錄單元224 所輸出的驅(qū)動信號，通過使光頭100向橫切BD-R盤700的軌道的方向進行移動，從而能 夠?qū)⒐忸^100配置到所設(shè)定的位置。在此，關(guān)于通過如上所述地構(gòu)成的光盤裝置來確定的記錄條件及再生條件的確 定方法，參照圖3的流程圖來進行說明。另外，圖3所示的記錄條件及再生條件的確定 動作，是在對多個記錄層中的任一個記錄層(以下稱之為“記錄對象記錄層”)進行用戶
10數(shù)據(jù)的一連串記錄動作開始時所進行的動作。BD-R盤700裝入光盤裝置中時，光盤裝置就啟動。其后，通過伺服控制而成 為從半導(dǎo)體激光器101出射的激光聚光于BD-R盤700的規(guī)定位置的狀態(tài)。接著，微機 220根據(jù)對BD-R盤700的數(shù)據(jù)記錄狀況等，判斷是否要執(zhí)行測試記錄。所涉及的判斷， 例如是基于上次記錄的用戶數(shù)據(jù)大小、上次記錄的用戶數(shù)據(jù)是否是通過相同光盤裝置記 錄的數(shù)據(jù)來進行判斷的。在判斷為需要執(zhí)行測試記錄的情況下，開始進行圖3的流程圖 所示的動作。首先，在(S1000)中，光盤裝置取得BD-R盤700的各記錄層的OPC區(qū)域的剩
余容量。圖4是詳細說明在(S1000)中的處理的流程圖。在(S1000)中，光盤裝置執(zhí)行下述步驟，即，首先在(S1001)中，將初始值設(shè)為 0，在(S1002)中，使光頭100進行尋找(seek)以使得光束聚點位于TDMAn的位置，并 對TDMA η的數(shù)據(jù)進行再生。在(S1003)中，判斷TDMA η的全部是否為已記錄。接 著，TDMA η的全部為已記錄的情況下，在(S1004)中，判斷是否滿足η = 5，如果滿足η =5，就結(jié)束處理，如果不滿足η = 5，則在(S1005)中，使η = η+1，并返回到(S1002) 的處理。具體而言，光盤裝置最初對TDMAO的數(shù)據(jù)進行再生，判斷TDMAO的全部是否 已記錄，如果為已記錄的情況，則進一步對TDMAl的數(shù)據(jù)進行再生。然后，直到出現(xiàn)有 不是已記錄的TDMA區(qū)域或者直到對TDMA5進行再生為止進行反復(fù)的動作。然后，光 盤裝置的剩余容量取得單元221根據(jù)從TDMA區(qū)域中所讀出的記錄管理數(shù)據(jù)，取得OPCO 及OPCl的剩余容量。接著，在圖3的(S2000)中，測試記錄層確定單元222根據(jù)在(S1000)中所取得 的各記錄層的OPC區(qū)域的剩余容量，確定是否在任一個的記錄層的OPC區(qū)域中進行測試 記錄。也就是說，確定出用于進行測試記錄的記錄層作為測試記錄層。圖5是詳細地說明在(S2000)中的處理的流程圖。在(S2000)中，測試記錄層確定單元222執(zhí)行下述步驟，S卩，首先在(S2001) 中，判斷上述記錄對象記錄層是LO層還是Ll層，如果是LO層，在(S2002)中，對OPCO 的剩余容量是否大于規(guī)定值Thl進行判斷。如果OPCO的剩余容量為規(guī)定值Thl以下， 進入到(S2003)的處理。而如果OPCO的剩余容量大于規(guī)定值Thl時，在(S2004)中， 確定出用于進行測試記錄的OPC區(qū)域為OPCO，艮卩，LO層的OPC區(qū)域。在(S2003)中， 對OPCl的剩余容量是否小于規(guī)定值Thl進行判斷。如果OPCl的剩余容量為規(guī)定值Thl 以上，在(S2005)中，確定出用于進行測試記錄的OPC區(qū)域為OPC1，即，Ll層的OPC 區(qū)域。另一方面，如果OPCl的剩余容量小于規(guī)定值Thl時，在(S2004)中，確定出用 于進行測試記錄的OPC區(qū)域為OPCO，即，LO層的OPC區(qū)域。另一方面，在(S2001)中判斷出記錄對象記錄層為Ll層的情況下，在(S2006) 中，對OPCl的剩余容量是否大于規(guī)定值Thl進行判斷。如果OPCl的剩余容量為規(guī)定 值Thl以下，進入到(S2007)的處理。而如果OPCl的剩余容量大于規(guī)定值Thl，則在 (S2005)中，確定出用于進行測試記錄的OPC區(qū)域為OPC1，即，Ll層的OPC區(qū)域。在 (S2007)中，對OPCO的剩余容量是否小于規(guī)定值Thl進行判斷。如果OPCO的剩余容 量小于規(guī)定值Thl，在(S2005)中，確定出用于進行測試記錄的OPC區(qū)域為OPC1，艮口，Ll層的OPC區(qū)域。另一方面，如果OPCl的剩余容量為規(guī)定值Thl以上時，在(S2004) 中，確定出用于進行測試記錄的OPC區(qū)域為OPCO，S卩，LO層的OPC區(qū)域。在圖3的(SOOOl)中，光盤裝置對(S2000)中所確定的測試記錄層的OPC區(qū)域
進行測試記錄。接著，在(S0002)中，光盤裝置使光頭100尋找到(SOOOl)中進行測試記錄的 OPC區(qū)域。其次，在(S0003)中，記錄/再生條件確定單元223根據(jù)再生信號品質(zhì)評價單元 210中算出的抖動值、非對稱值及調(diào)制度(進行了測試記錄的區(qū)域的記錄品質(zhì))，來計算 出伺服控制單元201內(nèi)部的調(diào)整參數(shù)。在此，所算出的調(diào)整參數(shù)，為聚焦控制及跟蹤控 制的目標位置、物鏡106的傾斜度、伺服控制單元201內(nèi)部的增益、及像差等。而且，在(S0004)中，光盤裝置再次使光頭100尋找到(SOOOl)中進行測試記錄 的OPC區(qū)域。然后，在(S0005)中，記錄/再生條件確定單元223根據(jù)再生信號品質(zhì)評價單元 210中算出的抖動值、非對稱值及調(diào)制度(進行了測試記錄的區(qū)域的記錄品質(zhì))，來計算 出再生單元203內(nèi)部的調(diào)整參數(shù)。在此，所算出的調(diào)整參數(shù)，為對通過光檢測單元202 所生成的再生信號即用戶數(shù)據(jù)的再生所取得的再生信號進行均衡處理的均衡電路的電路 常數(shù)、再生信號的振幅電平等。另外，增強值(增益)及截止頻率等作為均衡電路的電 路常數(shù)而被算出。接著，在(S3000)中，基于再生信號品質(zhì)評價單元210中所算出的調(diào)制度(進行 了測試記錄的區(qū)域的記錄品質(zhì))，記錄/再生條件確定單元223算出如圖6所示的光輸出 級別Ppeak、Pspace> PcooL Pbias及光脈沖寬度。圖6是表示在BD-R盤700形成記錄 標記時，驅(qū)動單元400輸出給半導(dǎo)體激光器101的驅(qū)動波形、以及在記錄狀態(tài)及再生狀態(tài) 下的柵極信號的波形的曲線圖。在對BD-R盤700進行記錄的情況下，如果不恰當?shù)卦O(shè) 定光輸出級別及光脈沖寬度，就有可能形成不可再生的記錄標記。記錄/再生條件確定單元223利用以下式⑴ (4)算出光輸出級別Ppeak、 Pspace、Pcool 以及 Pbias。Ppeak = PthX κ X ρ ...⑴Pspace = PpeakX ε s ... (2)Pcool = PpeakX ε c... (3)Pbias = PpeakX ε bw... (4)這些系數(shù)κ、ρ、ε s、ε c、ε bw是通過對圖2所示的PIC區(qū)域的信息進行 再生所取得的。圖 是表示BD-R盤700的PIC區(qū)域的構(gòu)成的說明圖。PIC區(qū)域是由5 個信息標簽(IF)構(gòu)成。各信息標簽是由544個物理簇構(gòu)成，各物理簇含有32個ID信息 (ID),各ID信息分別由112字節(jié)(Byte)構(gòu)成。在該ID信息的50 54字節(jié)上，記錄有 上述式⑴至⑷所示的系數(shù)κ、ρ、ε s、ε c以及ε bw。因此，光盤裝置能夠在算 出光輸出級別時，通過對PIC區(qū)域的再生來取得系數(shù)κ、ρ、ε s、ε c以及ε bw。在此，對調(diào)制度進行說明。圖8是表示對BD-R盤700的、記錄有單一模式 (pattern)數(shù)據(jù)的區(qū)域進行再生時所取得的再生信號的電平的曲線圖，即光檢測單元202的 輸出級別的曲線圖。另外，士 1次光檢測器109的輸出電平也為同樣的波形?？v軸上的“0”表示未記錄區(qū)域的信號電平。調(diào)制度可由以下的式(5)算出。調(diào)制度=(a_b)(a+b)··· (5)圖9(a)是，橫軸表示光輸出級別Ppeak、縱軸表示在該光輸出級別下基于所記 錄的記錄標記的再生信號而計算出的調(diào)制度m的曲線圖。圖9(b)是，橫軸表示光輸出級 別Ppeak、縱軸表示將圖9 (a)的縱軸所示的調(diào)制度m乘以光輸出級別Ppeak所得到的值 m X Ppeak的曲線圖。光盤裝置使光輸出級別Ppeak進行變化的同時進行測試記錄，并對進行了該測試 記錄的區(qū)域進行再生而取得再生信號，基于所取得的再生信號來計算出與各光輸出級別 對應(yīng)的調(diào)制度，由此得到圖9(a)所示的光輸出級別Ppeak與調(diào)制度m之間的關(guān)系。而 且，進行將縱軸的值轉(zhuǎn)換成mXPpeak的運算，并將光輸出級別Ppeak與mXPpeak之間 的關(guān)系近似為1次近似式。如圖9(b)所示，將表示該近似式的曲線圖的χ軸的截取部分 的值確定為Pth。通過將如此確定的Pth代入上述的式(1)至式(4)，即可計算出光輸出 級另ij Ppeak> Pspace> PcooL Pbias。圖10是詳細說明在(S3000)中的光輸出級別的計算處理的流程圖。首先在(S3001)中，光盤裝置使光頭100在PIC區(qū)域進行尋找，取得在光輸出 調(diào)整時所需的系數(shù)K、P、ε S、ε C以及ε bw。接著，在(S3002)中，使光頭100在 (S2000)所確定的測試記錄層的OPC區(qū)域進行尋找。而在(S3003)中，將內(nèi)部變量η復(fù) 位為0。接著，在(S3004)中，將光輸出級別Ppeak設(shè)定成Ppeak (η)，在(S3005)中進 行測試記錄。在(S3006)中，判斷是否為n^ptn-1，如果不滿足n^ptn-l，在(S3007)中 將η加上1，如果滿足n^ptn-Ι就前進到(S3008)。由此，在(S3003) (S3007)中，以 ptn種類的光輸出級別來進行測試記錄。例如，光盤裝置在(S3003) (S3007)中將ptn設(shè)定成13，進行測試記錄，使得 進行測試記錄的BD-R盤700的地址和光輸出級別Ppeak之間的關(guān)系成為如圖11所示那 樣。在該例中，在IAU的區(qū)域中，進行與1種類的光輸出級別對應(yīng)的測試記錄。首先， 最初將Ppeak設(shè)定為PpeakO，在OPC區(qū)域的最初的地址AUO進行測試記錄。接著，將 Ppeak變更成Ppeakl，在第2地址AUl進行測試記錄。如此，直到Ppeakl2為止，反復(fù) 進行這樣的測試記錄。另外，PpeakO Ppeakl2的范圍是在考慮了半導(dǎo)體激光器101的特性偏差、 BD-R盤700的記錄特性偏差的基礎(chǔ)上而設(shè)定的。例如，在半導(dǎo)體激光器101的特性或 BD-R盤700的記錄特性的偏差較小的情況下，也可使PpeakO Ppeakl2的幅寬減小。 另外，記錄/再生條件確定單元223的目標調(diào)整精度較低的情況下，也可使PpeakCn) Ppeak(n+1)的幅寬增大。因此，ptn的值并不僅限于13。其后，在(S3008)中，光盤裝置使光頭100在(S3003) (S3007)中進行了測試 記錄的區(qū)域進行尋找，在(S3009)中，計算出該區(qū)域的調(diào)制度。具體而言，調(diào)制度是在 圖11所示的AUO至AU12的區(qū)間對每一 AU，利用上述的式(5)來計算出的。另外，光 輸出級別Ppeak也可以不必一定設(shè)定為如圖11所示的臺階狀。還有，也可以不必一定對 每IAU來進行測試記錄，也可對其他單位區(qū)域來進行。接著，在(S3010)中，記錄/再生條件確定單元223，參照圖9(a)及圖9(b)并 如上所述那樣，基于光輸出級別Ppeak和mXPpeak的關(guān)系算出Pth，通過再將算出的Pth
13代入到式(1)至式⑷而算出光輸出級別Ppeak、Pspace> Pcool以及Pbias。其次，在圖3的(S0006)中，記錄/再生條件確定單元223對于在(S2000)中所 確定的測試記錄層是否是與上述記錄對象記錄層相一致進行判斷。當在(S2000)中所確 定的測試記錄層與上述記錄對象記錄層相一致的情況下，在(S0007)中，記錄/再生條件 確定單元223將(S0003)及(S0005)中所算出的調(diào)整參數(shù)確定為在對記錄對象記錄層的數(shù) 據(jù)進行再生時的再生條件，并將在(S3000)中所算出的光輸出級別及光脈沖寬度確定為 在將用戶數(shù)據(jù)記錄于記錄對象記錄層時的記錄條件。另一方面，在圖3的(S0006)中，記錄/再生條件確定單元223判斷出在(S2000) 中所確定的測試記錄層與上述記錄對象記錄層為不一致的情況下，進入到(S0008)的處 理。并且，在(S0008)中，對在(S0003)及(S0005)以及(S3000)中所算出的調(diào)整參 數(shù)、光輸出級別及光脈沖寬度進行補正。具體而言，利用以下的表1上側(cè)2層中所示的 值，來補正在(S0003)中所算出的聚焦控制目標位置及物鏡106的傾斜度、在(S0005)中 所算出的均衡電路的增強值(boostvalue)及截止頻率、在(S3000)中所算出的光輸出級別 Ppeak、Pspace> Pcool以及Pbias。光盤裝置預(yù)先保存有表1的值。(表 1)
權(quán)利要求
1.一種記錄條件或再生條件的確定方法，用于在記錄再生裝置中，對在多個記錄層 中的任一個記錄對象記錄層記錄用戶數(shù)據(jù)時的記錄條件以及再生上述記錄對象記錄層的 數(shù)據(jù)時的再生條件中的至少一者進行確定，其中，上述記錄再生裝置通過對光記錄介質(zhì) 照射激光來進行數(shù)據(jù)的記錄及再生，上述光記錄介質(zhì)形成有分別具有測試記錄區(qū)域和用 戶數(shù)據(jù)區(qū)域的上述多個記錄層，并且上述光記錄介質(zhì)記錄有表示上述多個記錄層中的已 記錄區(qū)域的記錄管理數(shù)據(jù)，該記錄條件或再生條件的確定方法包括剩余容量取得步驟，基于上述記錄管理數(shù)據(jù)，取得每一記錄層的上述測試記錄區(qū)域 的剩余容量；測試記錄層確定步驟，基于在上述剩余容量取得步驟中所取得的每一記錄層的測試 記錄區(qū)域的剩余容量，將進行測試記錄的記錄層確定為測試記錄層；測試記錄步驟，對上述測試記錄層確定步驟中所確定的測試記錄層的測試記錄區(qū)域 進行測試記錄；及條件確定步驟，基于上述測試記錄步驟中進行了測試記錄的區(qū)域的記錄品質(zhì)，對上 述記錄條件及上述再生條件中的至少一者進行確定。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的記錄條件或再生條件的確定方法，其特征在于在上述測試記錄層確定步驟中，當上述記錄對象記錄層的測試記錄區(qū)域的剩余容量 大于規(guī)定值時，將該記錄對象記錄層確定為上述測試記錄層。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的記錄條件或再生條件的確定方法，其特征在于在上述測試記錄層確定步驟中，將上述測試記錄區(qū)域的剩余容量為最大的記錄層即 剩余容量最大記錄層確定為上述測試記錄層。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的記錄條件或再生條件的確定方法，其特征在于在上述測試記錄層確定步驟中，當上述剩余容量最大記錄層存在有多個時，將上述 剩余容量最大記錄層中最接近上述記錄對象記錄層的記錄層確定為上述測試記錄層。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的記錄條件或再生條件的確定方法，其特征在于在上述剩余容量取得步驟中，基于上述記錄管理數(shù)據(jù)，進一步取得每一記錄層的上 述用戶數(shù)據(jù)區(qū)域的剩余容量；在上述測試記錄層確定步驟中，基于上述每一記錄層的測試記錄區(qū)域的剩余容量和 在上述剩余容量取得步驟中所取得的每一記錄層的用戶數(shù)據(jù)區(qū)域的剩余容量，來確定上 述測試記錄層。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的記錄條件或再生條件的確定方法，其特征在于在上述測試記錄層確定步驟中，在上述記錄對象記錄層中的上述測試記錄區(qū)域的剩 余容量相對于上述用戶數(shù)據(jù)區(qū)域的剩余容量的比例大于規(guī)定值的情況下，將該記錄對象 記錄層確定為上述測試記錄層。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的記錄條件或再生條件的確定方法，其特征在于在上述測試記錄層確定步驟中，將上述測試記錄區(qū)域的剩余容量相對于上述用戶數(shù) 據(jù)區(qū)域的剩余容量的比例為最大的記錄層即比例最大記錄層確定為上述測試記錄層。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的記錄條件或再生條件的確定方法，其特征在于在上述測試記錄層確定步驟中，當上述比例最大記錄層存在有多個時，將上述比例最大記錄層中的最接近上述記錄對象記錄層的記錄層確定為上述測試記錄層。
9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的記錄條件或再生條件的確定方法，其特征在于在上述測試記錄層確定步驟中，將上述測試記錄區(qū)域的剩余容量相對于上述用戶數(shù) 據(jù)區(qū)域的剩余容量的比例大于規(guī)定值的記錄層中的最接近上述記錄對象記錄層的記錄層 確定為上述測試記錄層。
10.根據(jù)權(quán)利要求5所述的記錄條件或再生條件的確定方法，其特征在于在上述測試記錄層確定步驟中，當上述記錄對象記錄層的測試記錄區(qū)域的剩余容量 大于規(guī)定值的情況下，將該記錄對象記錄層確定為上述測試記錄層。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的記錄條件或再生條件的確定方法，其特征在于在上述條件確定步驟中，除了基于上述記錄品質(zhì)之外，還基于上述測試記錄層和上 述記錄對象記錄層的組合，來確定上述記錄條件及上述再生條件中的至少一者。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的記錄條件或再生條件的確定方法，其特征在于在上述條件確定步驟中，當上述測試記錄層與上述記錄對象記錄層不一致的情況 下，對上述記錄對象記錄層的測試記錄區(qū)域，以基于在上述測試記錄步驟中進行了測試 記錄的區(qū)域的記錄品質(zhì)而設(shè)定的多個種類的光輸出級別來進行測試記錄，并基于進行了 該測試記錄的區(qū)域的記錄品質(zhì)來確定上述記錄條件及上述再生條件中的至少一者。
13.根據(jù)權(quán)利要求1至12中任意一項所述的記錄條件或再生條件的確定方法，其特征 在于將上述激光的光輸出級別及光脈沖寬度中的至少一者確定為上述記錄條件。
14.根據(jù)權(quán)利要求1至12中的任意一項所述的記錄條件或再生條件的確定方法，其特 征在于將對再生用戶數(shù)據(jù)所得到的再生信號進行均衡處理的均衡電路的增強值、該均衡電 路的截止頻率、聚焦偏移、跟蹤偏移、用于使照射的激光聚光于上述光記錄介質(zhì)的物鏡 的傾斜度以及像差中的至少一者確定作為上述再生條件。
15.—種集成電路，其用于在記錄再生裝置中，對在多個記錄層中的任一個記錄對象 記錄層記錄用戶數(shù)據(jù)時的記錄條件以及再生上述記錄對象記錄層的數(shù)據(jù)時的再生條件中 的至少一者進行確定，其中，上述記錄再生裝置通過對光記錄介質(zhì)照射光頭產(chǎn)生的激光 來進行數(shù)據(jù)的記錄及再生，上述光記錄介質(zhì)形成有分別具有測試記錄區(qū)域和用戶數(shù)據(jù)區(qū) 域的上述多個記錄層，并且上述光記錄介質(zhì)記錄有表示上述多個記錄層中的已記錄區(qū)域 的記錄管理數(shù)據(jù)，該集成電路包括剩余容量取得單元，其基于上述記錄管理數(shù)據(jù)，取得每一記錄層的上述測試記錄區(qū) 域的剩余容量；測試記錄層確定單元，其基于由上述剩余容量取得單元取得的每一記錄層的測試記 錄區(qū)域的剩余容量，將進行測試記錄的記錄層確定為測試記錄層；測試記錄單元，其對上述光頭進行控制，使得對由上述測試記錄層確定單元所確定 的測試記錄層的測試記錄區(qū)域進行測試記錄；及條件確定單元，其基于由上述測試記錄單元進行了測試記錄的區(qū)域的記錄品質(zhì)，對 上述記錄條件及上述再生條件中的至少一者進行確定。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的集成電路，其特征在于當上述記錄對象記錄層的測試記錄區(qū)域的剩余容量大于規(guī)定值時，上述測試記錄層 確定單元將該記錄對象記錄層確定為上述測試記錄層。
17.根據(jù)權(quán)利要求15所述的集成電路，其特征在于上述測試記錄層確定單元將上述測試記錄區(qū)域的剩余容量為最大的記錄層即剩余容 量最大記錄層確定為上述測試記錄層。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的集成電路，其特征在于當上述剩余容量最大記錄層存在有多個時，上述測試記錄層確定單元將上述剩余容 量最大記錄層中的最接近上述記錄對象記錄層的記錄層確定為上述測試記錄層。
19.根據(jù)權(quán)利要求15所述的集成電路，其特征在于上述剩余容量取得單元基于上述記錄管理數(shù)據(jù)，進一步取得每一記錄層的上述用戶 數(shù)據(jù)區(qū)域的剩余容量；上述測試記錄層確定單元基于上述每一記錄層的測試記錄區(qū)域的剩余容量和由上述 剩余容量取得單元所取得的每一記錄層的用戶數(shù)據(jù)區(qū)域的剩余容量，來確定上述測試記 錄層。
20.根據(jù)權(quán)利要求19所述的集成電路，其特征在于上述測試記錄層確定單元，在上述記錄對象記錄層中的上述測試記錄區(qū)域的剩余容 量相對于上述用戶數(shù)據(jù)區(qū)域的剩余容量的比例大于規(guī)定值的情況下，將該記錄對象記錄 層確定為上述測試記錄層。
21.根據(jù)權(quán)利要求19所述的集成電路，其特征在于上述測試記錄層確定單元將上述測試記錄區(qū)域的剩余容量相對于上述用戶數(shù)據(jù)區(qū)域 的剩余容量的比例為最大的記錄層即比例最大記錄層確定為上述測試記錄層。
22.根據(jù)權(quán)利要求21所述的集成電路，其特征在于當上述比例最大記錄層存在有多個時，上述測試記錄層確定單元將上述比例最大記 錄層中的最接近上述記錄對象記錄層的記錄層確定為上述測試記錄層。
23.根據(jù)權(quán)利要求19所述的集成電路，其特征在于上述測試記錄層確定單元將上述測試記錄區(qū)域的剩余容量相對于上述用戶數(shù)據(jù)區(qū)域 的剩余容量的比例大于規(guī)定值的記錄層中的最接近上述記錄對象記錄層的記錄層確定為 上述測試記錄層。
24.根據(jù)權(quán)利要求19所述的集成電路，其特征在于上述測試記錄層確定單元，在上述記錄對象記錄層的測試記錄區(qū)域的剩余容量大于 規(guī)定值的情況下，將該記錄對象記錄層確定為上述測試記錄層。
25.根據(jù)權(quán)利要求15所述的集成電路，其特征在于上述條件確定單元除了基于上述記錄品質(zhì)之外，還基于上述測試記錄層和上述記錄 對象記錄層的組合，來確定上述記錄條件及上述再生條件中的至少一者。
26.根據(jù)權(quán)利要求15所述的集成電路，其特征在于在上述測試記錄層與上述記錄對象記錄層不一致的情況下，上述測試記錄單元對上述光頭進行控制，使得以基于在上述測試記錄層的進行了測 試記錄的區(qū)域的記錄品質(zhì)而設(shè)定的多個種類的光輸出級別來對上述記錄對象記錄層的測 試記錄區(qū)域進行測試記錄，并且上述條件確定單元基于在上述記錄對象記錄層的通過上述測試記錄單元進行了 測試記錄的區(qū)域的記錄品質(zhì)來確定上述記錄條件及上述再生條件中的至少一者。
27.根據(jù)權(quán)利要求15至26中任意一項所述的集成電路，其特征在于 將上述激光的光輸出級別及光脈沖寬度中的至少一者確定為上述記錄條件。
28.根據(jù)權(quán)利要求15至26中任意一項所述的集成電路，其特征在于將對再生用戶數(shù)據(jù)所得到的再生信號進行均衡處理的均衡電路的增強值、該均衡電 路的截止頻率、聚焦偏移、跟蹤偏移、用于使照射的激光聚光于上述光記錄介質(zhì)的物鏡 的傾斜度以及像差中的至少一者確定作為上述再生條件。
29.—種光盤裝置，其特征在于具有權(quán)利要求15至28中的任意一項所述的集成電路；和 上述光頭，且上述光記錄介質(zhì)為光盤。
全文摘要
本發(fā)明提供一種記錄條件或再生條件的確定方法。在記錄再生裝置中，對在多個記錄層中的任一個的記錄對象記錄層進行用戶數(shù)據(jù)的記錄時的記錄條件以及再生上述記錄對象記錄層的數(shù)據(jù)時的再生條件中的至少一者進行確定的處理，其中，上述記錄再生裝置通過對光記錄介質(zhì)照射激光來進行數(shù)據(jù)的記錄及再生，上述光記錄介質(zhì)形成有上述多個記錄層，并記錄有表示上述多個記錄層中的已記錄區(qū)域的記錄管理數(shù)據(jù)，上述多個記錄層分別具有測試記錄區(qū)域和用戶數(shù)據(jù)區(qū)域；基于上述記錄管理數(shù)據(jù)，取得每一記錄層的上述測試記錄區(qū)域的剩余容量；基于所取得的每一記錄層的測試記錄區(qū)域的剩余容量，將進行測試記錄的記錄層確定為測試記錄層；對所確定的測試記錄層的測試記錄區(qū)域進行測試記錄；基于進行了測試記錄的區(qū)域的記錄品質(zhì)，對上述記錄條件及上述再生條件中的至少一者進行確定。
文檔編號G11B7/0045GK102016989SQ20098011100
公開日2011年4月13日 申請日期2009年3月10日 優(yōu)先權(quán)日2008年3月28日
發(fā)明者出合孝行, 桑原雅彌, 永田圣記, 藪野寬之 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社