專利名稱：光盤裝置和參數(shù)選擇方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光盤裝置和參數(shù)選擇方法，例如，合適于裝入個(gè)人計(jì) 算機(jī)中的光盤裝置的參數(shù)選擇方法。
背景技術(shù)：
先前由于光盤裝置在裝入的個(gè)人計(jì)算機(jī)中的固定狀況，使根據(jù)光 盤的不平衡的光盤裝置的自振不同，廣泛使用在將光盤裝置裝入個(gè)人 計(jì)算機(jī)中后，檢測(cè)光盤的不平衡的量，測(cè)定光盤裝置的自振，根據(jù)振 動(dòng)量，限制光盤的轉(zhuǎn)速的技術(shù)。
作為這種技術(shù)，在專利文獻(xiàn)1中公開了具有在可改寫振動(dòng)檢測(cè)門
限值(threshold value)的區(qū)域中進(jìn)行存儲(chǔ)的門限值存儲(chǔ)裝置，當(dāng)更新 門限值時(shí)，控制光盤旋轉(zhuǎn)裝置，以任意的轉(zhuǎn)速旋轉(zhuǎn)時(shí)振動(dòng)檢測(cè)裝置的 檢測(cè)值為基礎(chǔ)，決定新的門限值，并存儲(chǔ)在門限值存儲(chǔ)裝置中。 [專利文獻(xiàn)l]:日本專利特開2003-132620號(hào)公報(bào)。

發(fā)明內(nèi)容
現(xiàn)在伴隨筆記本型個(gè)人計(jì)算機(jī)的小型化、輕量化，在個(gè)人計(jì)算機(jī) 中裝入光盤裝置的復(fù)雜化等，即使光盤裝置為同一種類的光盤裝置，， 而且作為光盤裝置交付目的地的顧客相同，也需要根據(jù)裝入的個(gè)人計(jì) 算機(jī)的種類不同，必需利用光盤裝置內(nèi)不同的固件檢測(cè)光盤的不平衡。
因此，在光盤裝置中，根據(jù)每種裝入的個(gè)人計(jì)算機(jī)的種類，存在 多個(gè)固件的狀況。
在這種情況下，在光盤裝置的供給方和作為光盤裝置交付目的地 的顧客雙方，必需根據(jù)每種裝入的個(gè)人計(jì)算機(jī)對(duì)光盤裝置進(jìn)行管理， 存在光盤裝置的管理煩雜的問題。
本發(fā)明是考慮上述問題而提出的，提出使光盤裝置的管理容易的 光盤裝置和參數(shù)選擇方法。
為了解決這個(gè)問題，在本發(fā)明的光盤裝置是裝入個(gè)人計(jì)算機(jī)中的 光盤裝置，其特征在于，具有信息作成部分，根據(jù)從個(gè)人計(jì)算機(jī)發(fā) 送的命令，作成識(shí)別個(gè)人計(jì)算機(jī)的種類的識(shí)別信息；和參數(shù)選擇部分， 根據(jù)信息作成部分作成的識(shí)別信息，根據(jù)個(gè)人計(jì)算機(jī)的種類，對(duì)預(yù)先 決定的表示光盤不平衡的量的參數(shù)進(jìn)行切換選擇。
因此，不用對(duì)于系統(tǒng)不同的多種個(gè)人計(jì)算機(jī)裝入根據(jù)該多種個(gè)人 計(jì)算機(jī)的各個(gè)而設(shè)定參數(shù)的固件的光盤裝置，而是僅通過裝入一種固 件的光盤裝置就可以與多種個(gè)人計(jì)算機(jī)相對(duì)應(yīng)。
另外，在本發(fā)明中， 一種參數(shù)選擇方法，是裝入個(gè)人計(jì)算機(jī)中的 光盤裝置的參數(shù)選擇方法，其特征在于，具有下列步驟第一步驟， 根據(jù)從所述個(gè)人計(jì)算機(jī)發(fā)送的命令，作成識(shí)別所述個(gè)人計(jì)算機(jī)的種類 的識(shí)別信息；和第二步驟，根據(jù)在所述第一步驟中作成的所述識(shí)別信 息，根據(jù)所述個(gè)人計(jì)算機(jī)的種類，對(duì)預(yù)先決定的表示光盤的不平衡的 量的參數(shù)進(jìn)行切換選擇。
因此，不用對(duì)于系統(tǒng)不同的多種個(gè)人計(jì)算機(jī)裝入根據(jù)該多種個(gè)人 計(jì)算機(jī)的各個(gè)而設(shè)定參數(shù)的固件的光盤裝置，而是僅通過裝入一種固 件的光盤裝置就可以與多種個(gè)人計(jì)算機(jī)相對(duì)應(yīng)。
發(fā)明的效果
采用本發(fā)明可以實(shí)現(xiàn)容易管理的光盤裝置和參數(shù)選擇方法。


圖1為表示本實(shí)施方式的個(gè)人計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的大致結(jié)構(gòu)的方框圖2為表示光盤裝置的大致結(jié)構(gòu)的方框圖3為供閃速存儲(chǔ)器說明的概念圖4為表示個(gè)人計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的電源接通時(shí)的處理時(shí)的流程的流程
圖5為表示根據(jù)光盤的不平衡轉(zhuǎn)速限制處理的流程的流程圖； 圖6為表示根據(jù)光盤的不平衡轉(zhuǎn)速限制處理的流程的流程圖； 圖7為表示不平衡檢測(cè)參數(shù)選擇處理的流程的流程圖； 符號(hào)說明
1、個(gè)人計(jì)算機(jī)系統(tǒng) 2、個(gè)人計(jì)算機(jī)
3、光盤裝置 11、光盤
21、閃速存儲(chǔ)器， 52、主程序
54、數(shù)據(jù)改寫區(qū)域 61、不平衡檢
62、不平衡檢測(cè)用參照數(shù)據(jù) 62D、不平衡檢測(cè)參數(shù)(直接參照用)欄
具體實(shí)施例方式
以下根據(jù)附圖，詳述本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方式。
圖1為本實(shí)施方式的個(gè)人計(jì)算機(jī)系統(tǒng)1的簡圖。個(gè)人計(jì)算機(jī)系統(tǒng)1 通過將光盤裝置3裝入個(gè)人計(jì)算機(jī)(PC) 2中構(gòu)成。
當(dāng)將光盤裝置3裝入個(gè)人計(jì)算機(jī)2中時(shí)，本實(shí)施方式的個(gè)人計(jì)算 機(jī)系統(tǒng)1通過切換由個(gè)人計(jì)算機(jī)2的種類預(yù)定的不平衡檢測(cè)參數(shù)，提 供設(shè)定光盤11 (后述)的轉(zhuǎn)速的結(jié)構(gòu)。所謂不平衡檢測(cè)參數(shù)為表示檢 測(cè)的光盤11的不平衡的量的值的閾值的參數(shù)。根據(jù)該不平衡檢側(cè)參數(shù) 的值，可限制光盤ll的轉(zhuǎn)速。
具體地是，當(dāng)將光盤裝置3裝入個(gè)人計(jì)算機(jī)2中時(shí)，個(gè)人計(jì)算機(jī)2 發(fā)出數(shù)據(jù)寫入命令，送至光盤裝置3。光盤裝置3在閃速存儲(chǔ)器21上 有數(shù)據(jù)改寫區(qū)域54 (后述)，根據(jù)數(shù)據(jù)寫入命令，從個(gè)人計(jì)算機(jī)2寫入 特定的數(shù)據(jù)。光盤裝置3根據(jù)該后述的特定的數(shù)據(jù)，從預(yù)先存放在光 盤裝置3中的所選擇的初期值的不平衡檢測(cè)參數(shù)，將不平衡檢測(cè)參數(shù) 切換選擇為與檢測(cè)后的光盤11的不平衡的量對(duì)應(yīng)的不平衡檢測(cè)參數(shù)。
這樣，在個(gè)人計(jì)算機(jī)系統(tǒng)l中，在系統(tǒng)A的個(gè)人計(jì)算機(jī)、系統(tǒng)B 的個(gè)人計(jì)算機(jī)等系統(tǒng)不同的多種個(gè)人計(jì)算機(jī)2中，不用對(duì)根據(jù)該多種 個(gè)人計(jì)算機(jī)2而設(shè)定了不平衡檢測(cè)參數(shù)的固件的光盤裝置3進(jìn)行組裝， 只通過裝入一種固件的光盤裝置3，而可以與多種個(gè)人計(jì)算機(jī)2對(duì)應(yīng)。
下面說明本實(shí)施方式的個(gè)人計(jì)算機(jī)2和光盤裝置3的結(jié)構(gòu)。
個(gè)人計(jì)算機(jī)2為具有CPU (中央處理單元)，存儲(chǔ)器等(圖中沒有 示出)信息處理資源的計(jì)算機(jī)裝置，例如為筆記本型個(gè)人計(jì)算機(jī)等。 另外，個(gè)人計(jì)算機(jī)2具有鍵盤，開關(guān)或指示裝置，麥克風(fēng)等信息輸入 裝置(圖中沒有示出)和監(jiān)視顯示器或揚(yáng)聲器等信息輸出裝置(圖中
18、控制電路 53、表
測(cè)參數(shù)表
沒有示出)。在個(gè)人計(jì)算機(jī)2的存儲(chǔ)器中預(yù)先放置數(shù)據(jù)寫入程序。以后 說明數(shù)據(jù)寫入程序的詳細(xì)情況。
圖2為本實(shí)施方式的光盤裝置3的結(jié)構(gòu)圖。光盤裝置3由旋轉(zhuǎn)驅(qū) 動(dòng)光盤11的主軸馬達(dá)12，驅(qū)動(dòng)主軸馬達(dá)12的馬達(dá)驅(qū)動(dòng)器13，光拾取 器14，驅(qū)動(dòng)光拾取器14內(nèi)的促動(dòng)器(圖中沒有示出)的促動(dòng)器驅(qū)動(dòng)器 15，前置處理器16，數(shù)字信號(hào)處理器(DSP: Digital Signal Processor) 17，控制電路(CPU) 18，與個(gè)人計(jì)算機(jī)2連接的主I/F (Hostl/F) 19, DRAM (動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器Dynamic Random Access Memory) 20， 閃速存儲(chǔ)器(Flash Memory) 21和SRAM (靜態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器Static Random Access Memory) 22構(gòu)成。
前置處理器16處理從光拾取器14讀取的信號(hào)作為再現(xiàn)信號(hào)。前 置處理器16由從再現(xiàn)信號(hào)檢測(cè)聚焦誤差信號(hào)的聚焦誤差信號(hào)檢測(cè)電路 31，從再現(xiàn)信號(hào)檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)電路32，從再 現(xiàn)信號(hào)檢測(cè)透鏡誤差信號(hào)的透鏡誤差信號(hào)檢測(cè)電路33和放大再現(xiàn)信 號(hào)，作為RF信號(hào)輸出的RF放大電路34構(gòu)成。
數(shù)字信號(hào)處理器17由如下部分構(gòu)成根據(jù)聚焦誤差信號(hào)形成聚焦 控制信號(hào)的聚焦伺服電路41，根據(jù)跟蹤誤差信號(hào)形成跟蹤控制信號(hào)的 跟蹤伺服電路42，均衡器(Equalizer) 43，對(duì)均衡器43的輸出信號(hào)進(jìn) 行解調(diào)處理的解調(diào)電路44，通過馬達(dá)驅(qū)動(dòng)器13形成控制主軸馬達(dá)12 的旋轉(zhuǎn)的主軸控制信號(hào)的旋轉(zhuǎn)控制電路45，從馬達(dá)驅(qū)動(dòng)器13，根據(jù)頻 率發(fā)生器(Frequency Generator)信號(hào)檢測(cè)主軸馬達(dá)3的轉(zhuǎn)速的轉(zhuǎn)速檢 測(cè)電路46構(gòu)成。
控制電路18為進(jìn)行全體光盤裝置3的控制的微型計(jì)算機(jī)?？刂齐?路18根據(jù)從透鏡誤差檢測(cè)電路33發(fā)生的透鏡誤差信號(hào)，或從解調(diào)電 路44發(fā)生的解調(diào)信息，或從轉(zhuǎn)速檢測(cè)電路46發(fā)出的轉(zhuǎn)速信息形成控 制信號(hào)，輸出至前置處理器16和數(shù)字信號(hào)處理器17。
圖3為本實(shí)施方式的閃速存儲(chǔ)器21的簡圖。在閃速存儲(chǔ)器21中 存放頭部51，主程序52和表53。
主程序52由，控制光盤裝置3的控制程序，作為光盤裝置3的交 付目的地的面向顧客的固件，及其他各種程序構(gòu)成。
表53由不平衡檢測(cè)參數(shù)表61，和其他各種表構(gòu)成。不平衡檢測(cè)參 數(shù)表61由不平衡檢測(cè)參數(shù)欄61A構(gòu)成，不平衡檢測(cè)參數(shù)欄61A用于 存儲(chǔ)，對(duì)于每個(gè)A公司，B公司，C公司等的顧客，如果必要，還根 據(jù)B1， B2等每個(gè)顧客的每種個(gè)人計(jì)算機(jī)2，而預(yù)先設(shè)定的不平衡檢測(cè)參數(shù)。
另外，在不平衡檢測(cè)參數(shù)表61中，對(duì)于每個(gè)顧客決定初期值，當(dāng) 從光盤裝置3的供給方交付給顧客時(shí)，設(shè)定為該顧客的初期值的不平 衡檢測(cè)參數(shù)。例如，在光盤裝置3中，在將該光盤裝置3交付給A公 司的情況下，設(shè)定為A公司用(初期值)的不平衡檢測(cè)參數(shù)。
另外，在閃速存儲(chǔ)器21中具有數(shù)據(jù)改寫區(qū)域54，保存不平衡檢測(cè) 用參照數(shù)據(jù)62和其他各種數(shù)據(jù)。不平衡檢測(cè)用參照數(shù)據(jù)由有效/無效識(shí) 別碼欄62A，顧客識(shí)別碼欄62B， PC識(shí)別碼欄62C，不平衡檢測(cè)參數(shù) (直接參照用)欄62D構(gòu)成。在交付給顧客時(shí)，不平衡檢測(cè)用參照數(shù) 據(jù)62在各識(shí)別碼欄62A 62D中存放"FFh"。
不平衡檢測(cè)用參照數(shù)據(jù)62是，為了參照不平衡檢測(cè)參數(shù)表61的 不平衡檢測(cè)參數(shù)欄61A的不平衡檢測(cè)參數(shù)，而必要的數(shù)據(jù)。
有效/無效識(shí)別碼欄62A存放不平衡檢測(cè)用參照數(shù)據(jù)62為有效或 無效的信息。例如，在光盤裝置3中，在有效/無效識(shí)別碼欄62A中存 放"55h"這樣的代碼的情況下，判斷不平衡檢測(cè)用參照數(shù)據(jù)62為有 效，在有效/無效識(shí)別碼欄62A中存放"55h"以外的代碼的情況下， 判斷不平衡檢測(cè)用參照數(shù)據(jù)62無效。
顧客識(shí)別碼欄62B存放與顧客對(duì)應(yīng)的識(shí)別碼。例如，在光盤裝置 3中，在顧客識(shí)識(shí)別碼檢62B中存放"01h"的情況下，表示顧客為A 公司的；在顧客識(shí)別碼欄62B中存放"02h"的情況下，表示顧客為B 公司的；在顧客識(shí)別碼欄62B中存放"03h"的情況下，表示顧客為C 公司的。
這里，例如在光盤裝置3中，使由主程序52的面向顧客的固件管 理的顧客識(shí)別碼，和存放在顧客識(shí)別碼欄62B中的顧客識(shí)別碼一致。
又例如，在光盤裝置3中，在顧客識(shí)別碼欄62B中存放"42h"的 情況下，不參照不平衡檢測(cè)參數(shù)表61的不平衡檢測(cè)參數(shù)欄61A的不平衡檢測(cè)參數(shù)，而參照不平衡檢測(cè)參數(shù)(直接參照用)欄62D的不平衡
檢測(cè)參數(shù)。
PC識(shí)別碼欄62C存放識(shí)別由顧客識(shí)別碼設(shè)定的顧客的個(gè)人計(jì)算機(jī) 2的種類的識(shí)別碼。例如，在光盤裝置3中，在顧客識(shí)別碼欄62B中 存放"01h"，在PC識(shí)別碼欄62C中存放"01h"的情況下，表示A公 司的A1-PC個(gè)人計(jì)算機(jī)2。
又例如，在光盤裝置3中，在顧客識(shí)別碼欄62B中存放"02h"， 在PC識(shí)別碼欄62C中存放"01h"的情況下，表示為B公司的B1-PC 個(gè)人計(jì)算機(jī)2。在顧客識(shí)別碼欄62B中存放"02h"，在PC識(shí)別碼欄 62C中存放"02h"的情況下，表示為B公司的B2-PC個(gè)人計(jì)算機(jī)2。
又例如，在光盤裝置3中，在顧客識(shí)別碼欄62B中存放"03h"， 在PC識(shí)別碼欄62C中存放"01h"的情況下，表示為C公司的C1-PC 個(gè)人計(jì)算機(jī)2。在顧客識(shí)別碼欄62B中存放"03h"，在PC識(shí)別碼欄 62C中存放"02h"的情況下，表示為C公司的C2-PC個(gè)人計(jì)算機(jī)2。
在不平衡檢測(cè)參數(shù)(直接參照用)欄62D不參照不平衡檢測(cè)參數(shù) 表61的不平衡檢測(cè)參數(shù)欄61A的不平衡檢測(cè)參數(shù)，直接參照不平衡檢 測(cè)參數(shù)的情況下，存放不平衡檢測(cè)參數(shù)。
其次，說明本實(shí)施方式的個(gè)人計(jì)算機(jī)系統(tǒng)1的電源接通時(shí)的處理 流程。
圖4為表示個(gè)人計(jì)算機(jī)系統(tǒng)1的電源接通時(shí)的處理的，個(gè)人計(jì)算 機(jī)2的CPU、光盤裝置3的控制電路18的具體的處理順序的流程圖的 一個(gè)例子。
例如，通過個(gè)人計(jì)算機(jī)2的管理者的操作或在規(guī)定的時(shí)間，個(gè)人 計(jì)算機(jī)2的CPU發(fā)出接通個(gè)人計(jì)算機(jī)2的電源的指示，并供給電源時(shí)， 接通個(gè)人計(jì)算機(jī)2的電源(SP1)，其次接通光盤裝置3的電源(SP2)。
當(dāng)供給電源時(shí)，光盤裝置3的控制電路18進(jìn)行光盤3的自診斷， 發(fā)出表示自診斷結(jié)束的結(jié)束通知，送至個(gè)人計(jì)算機(jī)2。
當(dāng)從光盤裝置3發(fā)送自診斷結(jié)束通知時(shí)，個(gè)人計(jì)算機(jī)2的CPU結(jié) 束光盤裝置3的認(rèn)識(shí)。
接著，通過執(zhí)行存放在存儲(chǔ)器中的數(shù)據(jù)寫入程序，個(gè)人計(jì)算機(jī)2 的CPU發(fā)出數(shù)據(jù)寫入命令，送至光盤裝置3 (SP3)。
數(shù)據(jù)寫入命令由個(gè)人計(jì)算機(jī)2的顧客識(shí)別碼，PC識(shí)別碼等構(gòu)成。
在不參照不平衡檢測(cè)參數(shù)表61的不平衡檢測(cè)參數(shù)欄61A中的不平衡檢 測(cè)參數(shù)，而直接參照不平衡檢測(cè)參數(shù)的情況下，也包含不平衡檢測(cè)參 數(shù)。
這樣，在光盤裝置3中，在不參照不平衡檢測(cè)參數(shù)表61的不平衡 檢測(cè)參數(shù)欄61A中的不平衡檢測(cè)參數(shù)，而直接參照不平衡檢測(cè)參數(shù)的 情況下，通過發(fā)出包含不平衡檢測(cè)參數(shù)的數(shù)據(jù)寫入命令，送至光盤裝 置3，可以在光盤裝置3中選擇任意的不平衡檢測(cè)參數(shù)。
光盤裝置3的控制電路18根據(jù)從個(gè)人計(jì)算機(jī)2發(fā)送的數(shù)據(jù)寫入命 令作成不平衡檢測(cè)用參照數(shù)據(jù)62，檢査是否存在與閃速存儲(chǔ)器21中相 同的不平衡檢測(cè)用參照數(shù)據(jù)62 (SP4)。
然后，當(dāng)在閃速存儲(chǔ)器21中沒有相同的不平衡檢測(cè)用參照數(shù)據(jù)62 的情況下(SP4: NO)，光盤裝置3的控制電路18通過寫入，將制作 的不平衡檢測(cè)用參照數(shù)據(jù)62存放在閃速存儲(chǔ)器中(SP5)。
與此相對(duì)，當(dāng)在閃速存儲(chǔ)器21中存在相同的不平衡檢測(cè)用參照數(shù) 據(jù)62的情況下(SP4: YES)，光盤裝置3的控制電路18進(jìn)行步驟SP6。
這樣，當(dāng)在閃速存儲(chǔ)器21中存在相同的不平衡檢測(cè)用參照數(shù)據(jù)62 的情況下，在光盤裝置3中由于不將不平衡檢測(cè)用參照數(shù)據(jù)62存放在 閃速存儲(chǔ)器21中，可減少向閃速存儲(chǔ)器21的改寫次數(shù)，可以延長閃 速存儲(chǔ)器21的壽命。
光盤裝置3的控制電路18發(fā)出表示基于數(shù)據(jù)寫入命令的處理結(jié)束 的結(jié)束通知，送至個(gè)人計(jì)算機(jī)2 (SP6)。
其次說明本實(shí)施方式的個(gè)人計(jì)算機(jī)系統(tǒng)1的光盤裝置3中的根據(jù) 光盤11的不平衡而進(jìn)行的限制轉(zhuǎn)速的處理。
圖5和圖6為表示個(gè)人計(jì)算機(jī)系統(tǒng)1的光盤裝置3中的根據(jù)光盤 11的不平衡的轉(zhuǎn)速限制處理的，光盤裝置3的控制電路18的具體的處 理順序的流程圖的一個(gè)例子。
例如，當(dāng)插入光盤11并從個(gè)人計(jì)算機(jī)2接收數(shù)據(jù)的讀命令時(shí)，光 盤裝置3的控制電路18通過執(zhí)行主程序52的控制程序，根據(jù)圖5和 圖6所示的根據(jù)光盤11的不平衡的轉(zhuǎn)速限制處理順序RT1，基于光盤 ll的光盤信息，檢査是否執(zhí)行不平衡的檢測(cè)處理(SPll)。
10
在不執(zhí)行不平衡檢測(cè)處理的情況下(SP11: NO)，光盤裝置3的
控制電路18不限制光盤11的轉(zhuǎn)速，然后，結(jié)束圖5和圖6所示的根 據(jù)光盤ll的不平衡的轉(zhuǎn)速限制處理順序RT1 (SP23)。
在光盤11為視頻光盤或8cm盤的情況下，由于可從光盤信息另外 限制轉(zhuǎn)速，光盤裝置3的控制電路18不進(jìn)行根據(jù)光盤11的不平衡的 轉(zhuǎn)速限制處理。
與此相對(duì)，在執(zhí)行不平衡檢測(cè)處理的情況下(SP11: YES)，光盤 裝置3的控制電路18進(jìn)行不平衡檢測(cè)參數(shù)選擇處理(后述)(RT2)。
接著，光盤裝置3的控制電路18，通過發(fā)送控制信號(hào)并驅(qū)動(dòng)主軸 馬達(dá)12旋轉(zhuǎn)，開始使光盤ll的旋轉(zhuǎn)加速(SP12)。
接著，光盤裝置3的控制電路18根據(jù)從透鏡誤差檢測(cè)信號(hào)33發(fā) 出的透鏡誤差信號(hào)以及從轉(zhuǎn)速檢測(cè)電路46發(fā)出的轉(zhuǎn)速信息，取得作為 表示光盤11的不平衡的量的值的不平衡數(shù)據(jù)(PS13)。
接著，光盤裝置3的控制電路18檢査光盤11的轉(zhuǎn)速是否達(dá)到目 標(biāo)轉(zhuǎn)速(SP14)。
光盤裝置3的控制電路18設(shè)定目標(biāo)轉(zhuǎn)速，使得在45Hz 75HZ中， 每隔5HZ逐級(jí)提高。g卩，光盤裝置3的控制電路18將最初的目標(biāo)轉(zhuǎn)速 設(shè)定為45HZ，以后設(shè)定為50HZ， 55HZ…75HZ。
在光盤11的轉(zhuǎn)速?zèng)]有達(dá)到目標(biāo)轉(zhuǎn)速的情況下(SP14: NO)，光盤 裝置3的控制電路18返回至步驟SP13，再次取得不平衡數(shù)據(jù)(SP13)。
與此相對(duì)，在光盤11的轉(zhuǎn)速達(dá)到目標(biāo)轉(zhuǎn)速的情況下(SP14: YES)， 光盤裝置3的控制電路18檢查是否檢測(cè)出不平衡數(shù)據(jù)(SP15)。
另外，當(dāng)該轉(zhuǎn)速下沒有檢測(cè)出不平衡數(shù)據(jù)的情況下(SP15: NO)， 光盤裝置3的控制電路18進(jìn)至步驟SP18。
與此相對(duì)，當(dāng)該轉(zhuǎn)速下檢測(cè)出不平衡數(shù)據(jù)的情況下(SP15: YES)， 光盤裝置3的控制電路18參照由不平衡參數(shù)選擇處理(RT2)選擇的 不平衡檢測(cè)參數(shù)，檢查所檢測(cè)的不平衡數(shù)據(jù)是否為該不平衡檢測(cè)參數(shù) 的最大值以上(SP16)。
接著，在所檢測(cè)的不平衡數(shù)據(jù)不是該不平衡檢測(cè)參數(shù)的最大值以 上的情況下(SP16: NO)，光盤裝置3的控制電路18通過寫入，將所 檢測(cè)的不平衡數(shù)據(jù)存放在SRAM22中(SP17)。
光盤裝置3的控制電路18檢査是否結(jié)束了在全部的目標(biāo)轉(zhuǎn)速下的
不平衡數(shù)據(jù)的取得(SP18)。
在沒有結(jié)束在全部的目標(biāo)轉(zhuǎn)速下的不平衡數(shù)據(jù)的取得的情況下
(SP18: NO)，光盤裝置3的控制電路18返回至步驟SP13,再取得 不平衡數(shù)據(jù)(SP13)，然后，重復(fù)與上述情況同樣的處理(SP14 SP18)。
與此相對(duì)，在結(jié)束了在全部的目標(biāo)轉(zhuǎn)速下的不平衡數(shù)據(jù)的取得的 情況下(SP18: YES)，光盤裝置3的控制電路18檢査是否檢測(cè)出不 平衡數(shù)據(jù)(SP19)。
接著，在對(duì)全部的目標(biāo)轉(zhuǎn)速?zèng)]有檢測(cè)出不平衡數(shù)據(jù)的情況下 (SP19: NO)，光盤裝置3的控制電路18進(jìn)至步驟SP22。
與此相對(duì)，在對(duì)全部的目標(biāo)轉(zhuǎn)速下的1個(gè)以上位置檢測(cè)出不平衡 數(shù)據(jù)的情況下(SP19: YES)，光盤裝置3的控制電路18在存放于 SRAM22的不平衡數(shù)據(jù)中檢索最大值的不平衡數(shù)據(jù)，參照與最大值的 不平衡數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的不平衡的不平衡檢測(cè)參數(shù)，將光盤11的轉(zhuǎn)速設(shè)定為 該不平衡檢測(cè)參數(shù)的轉(zhuǎn)速(SP20)。
另一方面，在所檢測(cè)的不平衡數(shù)據(jù)為利用不平衡檢測(cè)參數(shù)選擇處 理(RT2)選擇的不平衡檢測(cè)參數(shù)的最大值以上的情況下(SP16: YES)， 光盤裝置3的控制電路18將光盤11的轉(zhuǎn)速設(shè)定為該不平衡檢測(cè)參數(shù) 的轉(zhuǎn)速(SP21)。
此時(shí)，光盤裝置3的控制電路18將結(jié)束光盤11的旋轉(zhuǎn)(SP22), 然后，結(jié)束圖5和圖6所示的根據(jù)光盤11的不平衡的轉(zhuǎn)速限制處理順 序RT1 (SP23)。
其次說明本實(shí)施方式的個(gè)人計(jì)算機(jī)系統(tǒng)1的光盤裝置3的不平衡 檢測(cè)參數(shù)的選擇處理。
圖7為表示個(gè)人計(jì)算機(jī)系統(tǒng)1的光盤裝置3的不平衡檢測(cè)參數(shù)選 擇處理的、光盤裝置3的控制電路18的具體的處理順序的流程圖的一 個(gè)例子。
在執(zhí)行不平衡檢測(cè)處理的情況下(SP11: YES)，光盤裝置3的控 制電路18通過執(zhí)行主程序52的控制程序，根據(jù)圖7所示的不平衡檢 測(cè)參數(shù)選擇處理順序RT2，檢查不平衡檢測(cè)用參照數(shù)據(jù)62的有效/無效 識(shí)別碼欄62A中的有效/無效識(shí)別碼是否為有效(SP31)。
伊lj如，具體地，光盤裝置3的控制電路18檢查在有效/無效識(shí)別碼
欄62A中是否存放"55h"的代碼。
另外，在有效/無效識(shí)別碼欄62A的有效/無效識(shí)別碼為無效的情況 下(SP31: NO)，光盤裝置3的控制電路18由于不平衡檢測(cè)用參照數(shù) 據(jù)62為無效，因此使該不平衡檢測(cè)參數(shù)選擇處理為錯(cuò)誤，根據(jù)由主程 序52的面向顧客的固件管理的顧客識(shí)別碼，不從與該顧客識(shí)別碼對(duì)應(yīng) 的顧客初期值的不平衡檢測(cè)參數(shù)切換參照的不平衡檢測(cè)參數(shù)，仍選擇 該不平衡檢測(cè)參數(shù)(SP32)，然后結(jié)束圖7所示的不平衡檢測(cè)參數(shù)的選 擇處理順序RT2 (SP39)。
例如，具體地，在有效/無效識(shí)別碼欄62A中存放"55h"以外， 主程序52的面向顧客的固件為面向B公司的固件的情況下，光盤裝置 3的控制電路18選擇為，不從作為預(yù)先選擇的不平衡檢測(cè)參數(shù)表61 的初期值的B公司B1-PC用不平衡檢測(cè)參數(shù)切換參照的不平衡檢測(cè)參 數(shù)。
與此相對(duì)，在有效/無效識(shí)別碼欄62A中的有效/無效識(shí)別碼為有效 的情況下(SP31: YES)，光盤裝置3的控制電路18檢查由主程序52 的面向顧客的固件進(jìn)行管理的顧客識(shí)別碼，和不平衡檢測(cè)用參照數(shù)據(jù) 62的識(shí)別碼欄62B中存放的顧客別碼是否一致(SP33)。
在顧客識(shí)別碼不一致的情況下(SP33: NO)，光盤裝置3的控制 電路18檢查存放在不平衡檢測(cè)用參照數(shù)據(jù)62的顧客識(shí)別碼欄62B中 的顧客識(shí)別碼是否為用于選擇不平衡檢測(cè)用參照數(shù)據(jù)62的不平衡檢測(cè) 參數(shù)的代碼(SP34)。
在存放在顧客識(shí)別碼欄62B中的顧客識(shí)別碼不是用于選擇不平衡 檢測(cè)用參照數(shù)據(jù)62的不平衡檢測(cè)參數(shù)的的代碼情況下(SP34: NO)， 光盤裝置3的控制電路18進(jìn)至步驟SP32，執(zhí)行與上述同樣的處理 (SP32)然后，結(jié)束圖7所示的不平衡檢測(cè)參數(shù)選擇處理順序RT2 (SP39)。
與此相對(duì)，在存放在顧客識(shí)別碼欄62B中的顧客識(shí)別碼是用于選 擇不平衡檢測(cè)用參照數(shù)據(jù)62的不平衡檢測(cè)參數(shù)的代碼的情況下(SP34: YES)，光盤裝置3的檢測(cè)電路18，將參照的不平衡檢測(cè)參數(shù)從不平衡 檢測(cè)參數(shù)表61的初期值的不平衡檢測(cè)參數(shù)切換選擇為存放在不平衡檢
測(cè)參數(shù)(直接參照用)欄62D中的不平衡檢測(cè)參數(shù)，(SP35)，然后， 結(jié)束圖7所示的不平衡檢測(cè)參數(shù)的選擇處理順序RT2 (SP39)。
例如，具體地，在光盤裝置3中檢査是否將"42h"存放在顧客識(shí) 別碼欄62B中。
另外，在主程序52的面向顧客的固件為面向B公司的固件，在不 平衡檢測(cè)用參照數(shù)據(jù)62的顧客識(shí)別碼欄62B中存放"42h"的情況下， 光盤裝置3從預(yù)先選擇的不平衡檢測(cè)參數(shù)表61的初期值的B公司 B1-PC用不平衡檢測(cè)參數(shù)，將參照的不平衡檢測(cè)參數(shù)切換選擇為存放 在不平衡檢測(cè)用參照數(shù)據(jù)62的不平衡檢測(cè)參數(shù)(直接參照用)欄62D 中的不平衡檢測(cè)參數(shù)。
另一方面，在與顧客識(shí)別碼一致的情況下(SP33: YES)，光盤裝 置3的控制電路18檢査存放在不平衡檢測(cè)用參照數(shù)據(jù)62的PC識(shí)別碼 欄62C中的PC識(shí)別碼是否在范圍內(nèi)(SP36)。
例如具體地，在光盤裝置3中，B公司的顧客識(shí)別碼為"02h"， B 公司的B1-PC個(gè)人計(jì)算機(jī)2的PC識(shí)別碼為"01h"， B公司的B2-PC 個(gè)人計(jì)算機(jī)2的PC識(shí)別碼為"02h"， B公司的B3-PC個(gè)人計(jì)算機(jī)2 的PC識(shí)別碼為"03h"。
這時(shí)，在光盤裝置3中，當(dāng)B公司的個(gè)人計(jì)算機(jī)2的PC識(shí)別碼 在上述PC識(shí)別碼以外不存在時(shí)，在將"02h"存放在不平衡檢測(cè)用參 照數(shù)據(jù)62的顧客識(shí)別碼欄62B中，"04h"存在在PC識(shí)別碼欄62C中 的情況下，PC識(shí)別碼不在范圍內(nèi)。
另夕卜，在光盤裝置3中，在"02h"存放在不平衡檢測(cè)用參照數(shù)據(jù) 62的顧客識(shí)別碼欄62B中，"03h"存放在PC識(shí)別碼欄62C中的情況 下，PC識(shí)別碼在范圍內(nèi)。
另外，在存放在PC識(shí)別碼欄62C中的PC識(shí)別碼不在范圍內(nèi)的情 況下(SP36: NO)，光盤裝置3的控制電路18進(jìn)行與上述步驟SP32 相同的處理(SP37)，然后，結(jié)束圖7所示的不平衡檢測(cè)參數(shù)的選擇處 理順序RT2 (SP39)。
與此相對(duì)，在存放在PC識(shí)別碼欄62C中的PC識(shí)別碼在范圍內(nèi)的 情況下(SP36: YES)，光盤裝置3的控制電路18將參照的不平衡檢 測(cè)參數(shù)從不平衡檢測(cè)參數(shù)表61的初期值的不平衡檢測(cè)參數(shù)切換選擇為
與不平衡檢測(cè)用參照數(shù)據(jù)62對(duì)應(yīng)的不平衡檢測(cè)參數(shù)(SP38)，然后， 結(jié)束圖7所示的不平衡檢測(cè)參數(shù)選擇處理順序RT2 (SP39)。
例如，具體地，在將"02h"存放在不平衡檢測(cè)用參照數(shù)據(jù)62的 顧客識(shí)別碼欄62B中，將"03h"存放在PC識(shí)別碼欄62C中的情況下， 光盤裝置3將參照的不平衡檢測(cè)參數(shù)從作為預(yù)先選擇的不平衡檢測(cè)參 數(shù)表61的初期值的B公司B1-PC用不平衡檢測(cè)參數(shù)切換選擇為B公 司B3-PC用不平衡檢測(cè)參數(shù)。
這樣，在個(gè)人計(jì)算機(jī)系統(tǒng)l中，個(gè)人計(jì)算機(jī)2發(fā)出數(shù)據(jù)寫入侖令， 送至光盤裝置3。光盤裝置3根據(jù)該數(shù)據(jù)寫入命令，作成不平衡檢測(cè)用 參照數(shù)據(jù)62，根據(jù)該不平衡檢測(cè)用參照數(shù)據(jù)62，將參照的不平衡檢測(cè) 參數(shù)從不平衡檢測(cè)參數(shù)表61的初期值的不平衡檢測(cè)參數(shù)切換選擇為與 不平衡檢測(cè)用參照數(shù)據(jù)62對(duì)應(yīng)的不平衡檢測(cè)參數(shù)。
因此，在個(gè)人計(jì)算機(jī)系統(tǒng)1中，對(duì)于系統(tǒng)的不同的多種個(gè)人計(jì)算 機(jī)2，不將設(shè)定不平衡檢測(cè)參數(shù)的固件的光盤裝置3裝入該多種的每個(gè) 個(gè)人計(jì)算機(jī)2中，只裝入一種固件的光盤裝置3，可以與多種個(gè)人計(jì)算 機(jī)2對(duì)應(yīng)，而且容易管理光盤裝置。
另外，在個(gè)人計(jì)算機(jī)系統(tǒng)1中，由于個(gè)人計(jì)算機(jī)2不設(shè)定或指定 不平衡檢測(cè)參數(shù)，只通過發(fā)送數(shù)據(jù)寫入命令，光盤裝置3可以根據(jù)個(gè) 人計(jì)算機(jī)2的種類，選擇不平衡檢測(cè)參數(shù)，因此可以更加減少放置在 個(gè)人計(jì)算機(jī)2中的程序的大小，還可以更加減輕個(gè)人計(jì)算機(jī)2的負(fù)荷。
在上述的實(shí)施方式中，說明了由每個(gè)顧客決定初期值的不平衡檢 測(cè)參數(shù)的情況，但本發(fā)明不限于此。例如，不論顧客如何，通過決定 不平衡檢測(cè)參數(shù)，通過對(duì)每個(gè)顧客只裝入一種固件的光盤裝置3，不但 可以與多種個(gè)人計(jì)算機(jī)2對(duì)應(yīng)，而且不論顧客如何，只通過裝入一種 固件的光盤裝置3，可以與多種個(gè)人計(jì)算機(jī)2對(duì)應(yīng)。
產(chǎn)業(yè)上利用的可能性
本發(fā)明可以在裝入個(gè)人計(jì)算機(jī)中的光盤裝置中廣泛使用。
權(quán)利要求
1. 一種光盤裝置，是裝入個(gè)人計(jì)算機(jī)中的光盤裝置，其特征在于，具有信息作成部分，根據(jù)從所述個(gè)人計(jì)算機(jī)發(fā)送的命令，作成識(shí)別所述個(gè)人計(jì)算機(jī)的種類的識(shí)別信息；和參數(shù)選擇部分，根據(jù)所述信息作成部分作成的所述識(shí)別信息，根據(jù)所述個(gè)人計(jì)算機(jī)的種類，對(duì)預(yù)先決定的表示光盤不平衡的量的參數(shù)進(jìn)行切換選擇。
2. 如權(quán)利要求l所述的光盤裝置，其特征在于，所述參數(shù)選擇部分將所述參數(shù)從預(yù)先存放在存儲(chǔ)器中并被選擇的 初期值的參數(shù)，切換選擇為與已識(shí)別的個(gè)人計(jì)算機(jī)的種類相對(duì)應(yīng)的、 預(yù)先存放在存儲(chǔ)器中的參數(shù)。
3. 如權(quán)利要求l所述的光盤裝置，其特征在于，所述識(shí)別信息包含不參照預(yù)先存放在存儲(chǔ)器中的參數(shù)，用于直接 參照參數(shù)的直接參照用參數(shù)；所述參數(shù)選擇部分，在判斷為不參照預(yù)先存放在存儲(chǔ)器中的參數(shù)， 而直接參照所述參數(shù)的情況下，將所述參數(shù)從預(yù)先存放在存儲(chǔ)器中并 被選擇的初期值的參數(shù)切換選擇為所述直接參照用參數(shù)。
4. 如權(quán)利要求l所述的光盤裝置，其特征在于，所述參數(shù)選擇部分，在判斷為所述識(shí)別信息無效的情況下，不切 換預(yù)先存放在存儲(chǔ)器中并被選擇的初期值的參數(shù)而選擇。
5. 如權(quán)利要求l所述的光盤裝置，其特征在于， 所述信息生成部分，將作成的所述識(shí)別信息存放在存儲(chǔ)器中，在已將相同的所述識(shí)別信息存放在存儲(chǔ)器中的情況下，不將作成 的所述識(shí)別信息存放在存儲(chǔ)器中。
6. —種參數(shù)選擇方法，是裝入個(gè)人計(jì)算機(jī)中的光盤裝置的參數(shù)選 擇方法，其特征在于，包括如下步驟第一步驟，根據(jù)從所述個(gè)人計(jì)算機(jī)發(fā)送的命令，作成識(shí)別所述個(gè) 人計(jì)算機(jī)的種類的識(shí)別信息；和第二步驟，根據(jù)在所述第一步驟中作成的所述識(shí)別信息，根據(jù)所 述個(gè)人計(jì)算機(jī)的種類，對(duì)預(yù)先決定的表示光盤的不平衡的量的參數(shù)進(jìn) 行切換選擇。
7. 如權(quán)利要求6所述的參數(shù)選擇方法，其特征在于，在所述第二步驟中，將所述參數(shù)從預(yù)先存放在存儲(chǔ)器中并被選擇 的初期值的參數(shù)，切換選擇為與已識(shí)別的個(gè)人計(jì)算機(jī)的種類對(duì)應(yīng)的、 預(yù)先存放在存儲(chǔ)器中的參數(shù)。
8. 如權(quán)利要求6所述的參數(shù)選擇方法，其特征在于， 所述識(shí)別信息包含不參照預(yù)先存放在存儲(chǔ)器中的參數(shù)，用于直接參照參數(shù)的直接參照用參數(shù)；在所述第二步驟中，在判斷為不參照預(yù)先存放在存儲(chǔ)器中的參數(shù)， 而直接參照所述參數(shù)的情況下，將所述參數(shù)從預(yù)先存放在存儲(chǔ)器中并 被選擇的初期值的參數(shù)切換選擇為所述直接參照用參數(shù)。
9. 如權(quán)利要求6所述的參數(shù)選擇方法，其特征在于， 在所述第二步驟中，在判斷為所述識(shí)別信息無效的情況下，不切換預(yù)先存放在存儲(chǔ)器中并被選擇的初期值的參數(shù)而選擇。
10. 如權(quán)利要求6所述的參數(shù)選擇方法，其特征在于， 在所述第一步驟中，將作成的所述識(shí)別信息存放在存儲(chǔ)器中，在已將相同的所述識(shí)別信息存放在存儲(chǔ)器中的情況下，不將作成 的所述識(shí)別信息存放在存儲(chǔ)器中。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種光盤裝置和參數(shù)選擇方法，提出了容易進(jìn)行管理的光盤裝置。其是裝入個(gè)人計(jì)算機(jī)中的光盤裝置，其特征在于，具有信息作成部分，根據(jù)從個(gè)人計(jì)算機(jī)發(fā)送的命令，作成識(shí)別個(gè)人計(jì)算機(jī)的種類的識(shí)別信息；和參數(shù)選擇部分，根據(jù)信息作成部分作成的識(shí)別信息，根據(jù)個(gè)人計(jì)算機(jī)的種類，對(duì)預(yù)先決定的表示光盤不平衡的量的參數(shù)進(jìn)行切換選擇。
文檔編號(hào)G11B19/28GK101377942SQ20081010883
公開日2009年3月4日 申請(qǐng)日期2008年5月29日 優(yōu)先權(quán)日2007年8月30日
發(fā)明者箕田博 申請(qǐng)人:日立樂金資料儲(chǔ)存股份有限公司