專利名稱：刻錄脈沖寬度參數(shù)的調(diào)整方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及激光刻錄技術(shù)，特別涉及一種刻錄脈沖寬度參數(shù)的調(diào)整方法及裝置。
背景技術(shù)：
刻錄機(jī)刻錄數(shù)據(jù)的方式是將普通數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成二進(jìn)制數(shù)據(jù)，并將其依據(jù)8-14調(diào)制(EFM， Eight to Fourteen Modulation)方式調(diào)變后，將二進(jìn)制數(shù)據(jù)刻錄成光盤上的岸(Land)與 坑(Pit) 。 EFM調(diào)變就是根據(jù)DVD規(guī)格書的定義將原本8位(1字節(jié))的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為14位，通過 加長(zhǎng)數(shù)據(jù)的長(zhǎng)度，使數(shù)據(jù)更易于使用激光刻錄與讀取。經(jīng)過EFM調(diào)變后的數(shù)據(jù)可表示為3T至 11T以及14T，其中T代表刻錄1位數(shù)據(jù)所需的時(shí)間長(zhǎng)度，最短的坑/岸長(zhǎng)度需為3T，最長(zhǎng)為 14T。以1倍速讀取DVD為例，1T為38. 23ns，以4倍速讀取DVD為例，1T則為9. 56 ns 。
圖1所示為一組EFM數(shù)據(jù)及將其刻錄到光盤上所形成軌道的示意圖。激光頭讀取光盤數(shù)據(jù) 時(shí)，在坑或者岸上，其反射系數(shù)不變，都讀成"0"，坑和岸的長(zhǎng)度決定"0"的個(gè)數(shù)。在坑 和岸的交界處，其反射系數(shù)發(fā)生變化，即坑的前后沿讀為"1"。
就可刻錄的光盤而言，可分為單次刻錄與多次覆寫。單次刻錄之光盤，如CD-R、 DVD-R ，利用激光加熱破壞光盤軌道上染料的物理結(jié)構(gòu)產(chǎn)生坑，而未被破壞的部分則為岸；多次覆 寫的光盤，如DVD-RW、 DVD-RAM，則是利用激光控制光盤軌道上的溫度使其產(chǎn)生相變，進(jìn)而 產(chǎn)生虛擬的坑與岸。由于刻錄原理的不同，覆寫式光盤是以多脈沖(Multi-Pulse)的波形來 刻錄資料，而單次刻錄的光盤則大多是以非多脈沖(Non-Multi Pulse)波形刻錄。
刻錄時(shí)，準(zhǔn)確控制岸與坑的長(zhǎng)度對(duì)于數(shù)據(jù)正確性有直接影響，其主要參數(shù)包括激光功率 、脈沖寬度以及脈沖波形的控制，規(guī)格書將其定義為刻錄參數(shù)。圖2為非多脈沖方式中EFM數(shù) 據(jù)與刻錄脈沖波形的對(duì)應(yīng)示意圖。所述刻錄脈沖包括前脈沖(Ttop， Top Pulse)、后脈沖 (Tlast， Last Pulse)和底脈沖(Tp)。采用前脈沖和后脈沖刻錄數(shù)據(jù)時(shí)的刻錄功率較高 ，采用底脈沖刻錄數(shù)據(jù)時(shí)的刻錄功率較低。這樣，在刻錄一個(gè)坑時(shí)，在坑兩頭采用較高激 光功率，而中間部分因?yàn)闊醾鬟f的原因，只需采用較低功率刻錄即可。圖2中，T0PRnP和 TLASTnP為刻錄參數(shù)。TOPRnP用于控制長(zhǎng)度為nT的坑的刻錄脈沖的前脈沖的上升緣(Front Edge)位置，TLASTnP用于控制長(zhǎng)度為nT的坑的刻錄脈沖的后脈沖的下降緣(Rear Edge)位 置，3《n《14。
由于各光盤廠的染料配方不盡相同，因此各種光盤的刻錄脈沖調(diào)整參數(shù)皆無(wú)法共享。目前，刻錄機(jī)廠商在刻錄機(jī)量產(chǎn)前，會(huì)針對(duì)市面上的光盤人工制作刻錄脈沖參數(shù)調(diào)整的動(dòng)作， 并將各種光盤的刻錄脈沖調(diào)整參數(shù)儲(chǔ)存在刻錄機(jī)的固件中。當(dāng)用戶放入光盤時(shí)，刻錄機(jī)即可 通過光盤上的識(shí)別碼，在固件中找到相對(duì)應(yīng)的刻錄脈沖調(diào)整參數(shù)，進(jìn)而成功刻錄該光盤。上 述方法的缺點(diǎn)在于，必須浪費(fèi)許多的人力與時(shí)間成本來調(diào)整刻錄脈沖調(diào)整參數(shù)，且當(dāng)需要更 換不同的光學(xué)讀取頭或控制芯片時(shí)，就必須再重新調(diào)整全部的刻錄脈沖調(diào)整參數(shù)。此外，若 光盤廠所生產(chǎn)的光盤質(zhì)量不一致，或遇到尚未內(nèi)建刻錄脈沖調(diào)整參數(shù)的新光盤時(shí)，則所刻錄 出來的光盤質(zhì)量就會(huì)很差，甚至于無(wú)法成功刻錄該光盤。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，有必要提供一種刻錄脈沖寬度參數(shù)的調(diào)整方法。 此外，還有必要提供一種刻錄脈沖寬度參數(shù)的調(diào)整裝置。
一種刻錄脈沖寬度參數(shù)的調(diào)整方法，刻錄脈沖包括前脈沖、后脈沖和位于前脈沖與后脈 沖之間的底脈沖；光盤驅(qū)動(dòng)器中存儲(chǔ)有第一脈沖寬度參數(shù)初始值、測(cè)試數(shù)據(jù)和第一標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度 ;所述刻錄脈沖寬度參數(shù)的調(diào)整方法包括如下步驟
將所述第一脈沖寬度參數(shù)初始值轉(zhuǎn)化為多個(gè)不同的第一脈沖寬度參數(shù)調(diào)整值，并分別使 用所述多個(gè)不同的第一脈沖寬度參數(shù)調(diào)整值刻錄所述測(cè)試數(shù)據(jù)到光盤上；
分別檢測(cè)并計(jì)算出刻錄到所述光盤上的各組測(cè)試數(shù)據(jù)中多個(gè)岸的平均長(zhǎng)度與所述第一標(biāo) 準(zhǔn)長(zhǎng)度的差值，得到多個(gè)差值；
將所述多個(gè)差值與所述多個(gè)不同的第一脈沖寬度參數(shù)調(diào)整值根據(jù)公式Y(jié)二aX+b進(jìn)行一次線 性擬合，得到線性擬合參數(shù)a、 b;定義Y為所述差值，X為所述第一脈沖寬度參數(shù)調(diào)整值；
計(jì)算所述第一脈沖寬度參數(shù)的最佳值-b/a;
存儲(chǔ)所述第一脈沖寬度參數(shù)的最佳值-b/a，以利用其對(duì)所述光盤進(jìn)行刻錄。 一種刻錄脈沖寬度參數(shù)的調(diào)整裝置，刻錄脈沖包括前脈沖、后脈沖和位于前脈沖與后脈 沖之間的底脈沖；所述刻錄脈沖寬度參數(shù)的調(diào)整裝置包括
存儲(chǔ)單元，用于存儲(chǔ)脈沖寬度參數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度及測(cè)試數(shù)據(jù)信息； 控制單元，用于根據(jù)獲得的脈沖寬度參數(shù)信息控制光學(xué)讀取頭的刻錄工作； 檢測(cè)單元，用于檢測(cè)試刻在光盤上的測(cè)試數(shù)據(jù)的坑和岸的長(zhǎng)度信息；
初始參數(shù)轉(zhuǎn)換單元，用于將存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)單元中的脈沖寬度參數(shù)初始值轉(zhuǎn)化為多個(gè)不 同的脈沖寬度參數(shù)調(diào)整值；
差值計(jì)算模塊，用于接收來自所述檢測(cè)單元的多個(gè)岸的長(zhǎng)度信息，計(jì)算所述多個(gè)岸的平 均長(zhǎng)度與所述標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度的差值；線性擬合單元，用于將接收到的多個(gè)差值與所述多個(gè)不同的脈沖寬度參數(shù)調(diào)整值根據(jù)公 式Y(jié)二aX+b進(jìn)行一次線性擬合，獲得線性擬合參數(shù)a、 b;定義Y為所述差值，X為所述脈沖寬度 參數(shù)調(diào)整值；
最佳參數(shù)計(jì)算單元，用于計(jì)算所述脈沖寬度參數(shù)的最佳值-b/a。
本發(fā)明所述的刻錄脈沖寬度參數(shù)的調(diào)整方法及裝置，可針對(duì)所放入光盤本身的特性自動(dòng) 調(diào)整出最佳的刻錄脈沖寬度參數(shù)，如此不僅可以提高盤片的刻錄品質(zhì)，亦可使刻壞光盤的機(jī) 率大幅降低。


圖1為刻錄時(shí)鐘與EFM數(shù)據(jù)示意圖。
圖2為非多脈沖方式中EFM數(shù)據(jù)與刻錄脈沖波形的對(duì)應(yīng)示意圖。
圖3A為實(shí)驗(yàn)量測(cè)到的岸的Jitter示意圖。
圖3B為實(shí)驗(yàn)量測(cè)到的坑的Jitter示意圖。
圖4A為一次實(shí)驗(yàn)量測(cè)到的眼孔圖樣示意圖。
圖4B為另 一次實(shí)驗(yàn)量測(cè)到的眼孔圖樣示意圖。
圖5為刻錄脈沖寬度參數(shù)的調(diào)整方法的流程圖。
圖6為 一較佳實(shí)施方式的刻錄脈沖寬度參數(shù)的調(diào)整方法的流程圖。
圖7為一較佳實(shí)施方式中調(diào)整TLASTnP時(shí)的刻錄脈沖波形變化示意圖。
圖8為一較佳實(shí)施方式中差值W與TLASTnP的關(guān)系圖。
圖9為一較佳實(shí)施方式中調(diào)整T0PRnP時(shí)的刻錄脈沖波形變化示意圖。
圖10為一較實(shí)施方式中差值w與T0PRnP的關(guān)系圖。
圖11為 一較佳實(shí)施方式的刻錄脈沖寬度參數(shù)的調(diào)整裝置架構(gòu)圖。
具體實(shí)施例方式
在介紹刻錄脈沖寬度參數(shù)的調(diào)整方法之前，首先就相關(guān)參數(shù)名稱加以說明。為方便說明 ，在下文中直接用T表示T時(shí)間內(nèi)激光在光盤上移動(dòng)的距離。
1.抖動(dòng)值(Jitter) : Jitter用于量化刻錄的坑或岸長(zhǎng)度的集中度，其定義為 2. 5T 3. 5T間所有長(zhǎng)度的坑或岸出現(xiàn)次數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)差。Jitter值越小表示該刻錄質(zhì)量越好。由 于光盤染料的物理特性，以及讀取頭控制激光脈沖的穩(wěn)定度，使得刻錄到光盤上的坑( Land)與岸(Pit)長(zhǎng)度不可能全部都標(biāo)準(zhǔn)，實(shí)際狀況會(huì)呈現(xiàn)出一種常態(tài)分布的情形。如圖 3A和圖3B所示，其中橫軸為量測(cè)到的岸與坑的長(zhǎng)度，單位為T，縱軸為該長(zhǎng)度出現(xiàn)次數(shù)r的對(duì) 數(shù)。如圖3中，A點(diǎn)表示3T岸之總次數(shù)為1(^2個(gè)，B點(diǎn)表示5T坑之總次數(shù)為1(^7個(gè)，可見，3T坑和岸的數(shù)目是最多的。2. 眼孔圖樣(Eye Pattern):由于刻錄到光盤上的激光功率的變化，以及光盤染料對(duì) 激光溫度的反應(yīng)各有不同，使得激光頭讀取各個(gè)數(shù)據(jù)時(shí)所產(chǎn)生的振幅也隨之不同，若將所有 讀取不同長(zhǎng)度的坑和岸時(shí)產(chǎn)生的波形圖連在一起將形成眼孔圖樣。從眼孔圖樣的物理意義可 以看出，當(dāng)刻錄的坑/岸長(zhǎng)度都非常標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，如圖4A所示，其曲線會(huì)非常清晰，表示Jitter 值也非常?。环粗?，當(dāng)刻錄的坑/岸較雜亂，刻錄質(zhì)量也較差時(shí)，如圖4B所示，其曲線越模 糊，表示Jitter值越高。3. 刻錄脈沖的脈沖寬度參數(shù)其包括前脈沖前緣參數(shù)TOPRnP和后脈沖后緣參數(shù) TLASTnP， 3《n《14。每個(gè)刻錄脈沖都包括前脈沖(Ttop， Top Pulse)、后脈沖(Tlast， Last Pulse)和底脈沖(Tp)。前脈沖前緣參數(shù)TOPRnP用于調(diào)整長(zhǎng)度為nT的坑的刻錄脈沖的 前脈沖的上升緣位置。后脈沖后緣參數(shù)TLASTnP用于調(diào)整長(zhǎng)度為nT的坑的刻錄脈沖的后脈沖 的下降緣位置。光盤驅(qū)動(dòng)器中都會(huì)預(yù)先存儲(chǔ)有刻錄脈沖的脈沖寬度參數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度和至少一組測(cè)試數(shù)據(jù) 信息。該脈沖寬度參數(shù)的取值可根據(jù)不同光盤驅(qū)動(dòng)器的硬件架構(gòu)有所不同。 請(qǐng)參閱圖5， 一種刻錄脈沖寬度參數(shù)的調(diào)整方法包括以下步驟步驟S101，將一個(gè)脈沖寬度參數(shù)的初始值XK)轉(zhuǎn)化為c個(gè)不同的脈沖寬度參數(shù)調(diào)整值Xn、 X12、 . . . Xlc， c為大于l的自然數(shù)。其中，將脈沖寬度參數(shù)的初始值XK)轉(zhuǎn)化為多個(gè)不同的 脈沖寬度參數(shù)調(diào)整值的轉(zhuǎn)換方法是對(duì)初始值Xn)進(jìn)行增減變換。例如，將脈沖寬度參數(shù)初始 值乂1()=0. 1T通過增減變換得到5個(gè)調(diào)整值-0. 2T， -0. 1T， 0T， 0. 2T和0. 3T。該刻錄脈沖寬度參數(shù)可以是前脈沖前緣參數(shù)TOPRnP，也可以是后脈沖后緣參數(shù)TLASTnP步驟S103，從光盤驅(qū)動(dòng)器中獲得測(cè)試數(shù)據(jù)，并分別使用上述c個(gè)不同的脈沖寬度參數(shù)調(diào) 整值Xn、 X12、 . . . Xk刻錄測(cè)試數(shù)據(jù)到光盤上。步驟S105，分別檢測(cè)并計(jì)算出刻錄到光盤上的測(cè)試數(shù)據(jù)中多個(gè)岸的平均長(zhǎng)度與預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn) 長(zhǎng)度的差值，得到c個(gè)差值。其中，檢測(cè)刻錄到光盤上的c組測(cè)試數(shù)據(jù)中多個(gè)岸的長(zhǎng)度時(shí)，僅檢測(cè)長(zhǎng)度在一定范圍的 岸的長(zhǎng)度，而預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度為對(duì)應(yīng)上述長(zhǎng)度范圍的標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度。例如，預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度采用3T的 標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度時(shí)，僅檢測(cè)長(zhǎng)度在0.5T到3.5T范圍的岸的長(zhǎng)度，而預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度采用4T的標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng) 度時(shí)，僅檢測(cè)長(zhǎng)度在3.5T到4.5T范圍的岸的長(zhǎng)度，以此類推。由于在實(shí)際刻錄中，長(zhǎng)度為3T的坑和岸的數(shù)目是最多的，因此在較佳實(shí)施方式中，預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度采用3T的標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度，檢測(cè)時(shí)僅檢測(cè)長(zhǎng)度在O. 5T到3. 5T范圍的岸的長(zhǎng)度。
步驟S107，將步驟S105得到的c個(gè)差值與上述c個(gè)不同的脈沖寬度參數(shù)調(diào)整值Xn、 X12、 ...Xk進(jìn)行一次線性擬合，獲得線性擬合參數(shù)^、 ln，并求出上述差值為O時(shí)，該脈沖寬
度參數(shù)的值-tnAn。 -lnAn代表著該脈沖寬度參數(shù)的最佳值。
其中，上述線性擬合是根據(jù)公式i^^v+ln進(jìn)行的，定義u為所述差值，v為所述脈沖寬度 參數(shù)調(diào)整值。
步驟si09，存儲(chǔ)該脈沖寬度參數(shù)的最佳值-lnAn，以利用其對(duì)所述光盤進(jìn)行刻錄。
下面以調(diào)整5T坑(即11=5)的刻錄脈沖的寬度為例闡述上述調(diào)整方法，流程圖如圖6所示 。其余3T、 4T及6T至14T坑的刻錄脈沖的調(diào)整方法與5T坑的完全相同。在較佳實(shí)施方式中， 考慮到7T以上的坑的刻錄脈沖受溫度的影響特別小，因此為了減少調(diào)整的參數(shù)，僅調(diào)整
3T 7T坑的脈沖寬度參數(shù)即可，7T以上的坑的脈沖寬度參數(shù)只要與7T的相同即可。 設(shè)定刻錄倍數(shù)為2，光盤驅(qū)動(dòng)器中預(yù)設(shè)有如表l所示的脈沖寬度參數(shù)初始值。 表l 2刻錄倍數(shù)下之脈沖寬度參數(shù)初始值
脈沖寬度參數(shù)的名稱刻錄倍數(shù)為2時(shí)脈沖寬度參數(shù)初始值
T0PR3P-O.05T
T0PR4P…14P0T
TLAST3P…14P0T
本較佳實(shí)施方式中，刻錄脈沖寬度參數(shù)的調(diào)整方法包括如下步驟
步驟S202，選擇表1中參數(shù)TLAST5P的初始值X^0T，以每次的調(diào)整幅度為O. 1T增減出5個(gè)
TLAST5P的調(diào)整值-0. 1T， 0. 1T， 0. 2T， 0. 3T， 0. 4T。
步驟S204，采用TLAST5P^0. 1T試刻一組隨機(jī)的EFM測(cè)試數(shù)據(jù)在光盤上。 檢測(cè)刻錄到光盤上的測(cè)試數(shù)據(jù)中長(zhǎng)度L符合以下三個(gè)條件的岸0.5T《L《3.5T， 0. 5T《 Tj，p《3. 5T，(n-O. 5) T《Tk，P《(n+0. 5) T。其中，定義Tj，p為長(zhǎng)度為L(zhǎng)的岸之后的坑的長(zhǎng)度 ，定義Tk，p為長(zhǎng)度為L(zhǎng)的岸之前的坑的長(zhǎng)度。由于本較佳實(shí)施方式是以調(diào)整5T坑(即!!=5)的 刻錄脈沖的寬度為例說明的，因此上面的第三個(gè)條件中，4.5T《Tk，p《5.5T。 計(jì)算出所有符合條件的岸的平均長(zhǎng)度與3T的標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度的差值。
然后，分別采用其余四個(gè)TLAST5P調(diào)整值(0. 1T， 0. 2T， 0. 3T和0. 4T)試刻隨機(jī)的EFM測(cè) 試數(shù)據(jù)在光盤上，并分別按照上述方法計(jì)算出符合條件的岸的平均長(zhǎng)度與3T的標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度的差 值，得到四個(gè)差值。圖7所示為采用TLAST5P4.4T的刻錄脈沖的變化情況示意圖。
步驟S206，根據(jù)上述步驟可以得到五組TLAST5P調(diào)整值與對(duì)應(yīng)差值的組合，根據(jù)上述組合和公式W二a2Z+b2作一次線性擬合，得到線性擬合參數(shù)a2、 b2，并求出W為0時(shí)，Z的值-b2/a2 ，如圖9所示。定義W為得到的差值，Z為TLAST5P的調(diào)整值，則值-b2/a2代表著TLAST5P的最佳值。
步驟S208，采用步驟S206處得到的參數(shù)TLAST5P的最佳值-b2/a2在光盤上刻錄測(cè)試數(shù)據(jù) ，檢測(cè)刻錄的數(shù)據(jù)的刻錄品質(zhì)是否符合要求。如果符合，執(zhí)行步驟S210，否則跳到步驟 S202，以不同的調(diào)整幅度增減出多個(gè)TLAST5P的調(diào)整值，以重新確定該后脈沖后緣參數(shù)的最 佳值。
所述檢測(cè)刻錄品質(zhì)是否符合要求可通過檢測(cè)刻錄之?dāng)?shù)據(jù)的Jitter值和奇偶校驗(yàn) PI/PO (Parity Inner/Parity Outer)來確定，Jitter和PI/PO檢測(cè)都是DVD規(guī)格書規(guī)定的檢測(cè) 項(xiàng)目，不再贅述。
步驟S210，選擇表1中T0PR5P的初始值X^0T，以每次的調(diào)整幅度為O. 1T增減出5個(gè)調(diào)整 值-0. 1T， 0. 1T， 0.2T， 0.3T， 0. 4T。
步驟S212，分別采用上述5個(gè)調(diào)整值試刻隨機(jī)的EFM測(cè)試數(shù)據(jù)在光盤上。
與步驟S204類似地，分別檢測(cè)并計(jì)算出刻錄到光盤上的測(cè)試數(shù)據(jù)中符合以下條件的岸的 平均長(zhǎng)度與3T的標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度的差值，得到5個(gè)差值0. 5T《L《3. 5T， 0. 5T《Tj，P《3. 5T，( n-0.5) T《TK，P《(n+0.5) T。其中，定義Tj，p為長(zhǎng)度為L(zhǎng)的岸之前的坑的長(zhǎng)度，定義TK，p為長(zhǎng) 度為L(zhǎng)的岸之后的坑的長(zhǎng)度。
圖9所示為采用T0PR5P4. 4T的刻錄脈沖的變化情況示意圖。
步驟S214，根據(jù)步驟S212可以得到五組T0PR5P值與對(duì)應(yīng)差值的組合，根據(jù)上述組合和公 式^a3Z+b3作一次線性擬合，得到線性擬合參數(shù)a3、 b3，并求出當(dāng)^0時(shí)，z的值-b3/a3。定義 w為得到的差值，z為T0PR5P的調(diào)整值，則值-b3/a3代表著T0PR5P的最佳值。
步驟S216，采用步驟S214處得到的T0PR5P的最佳值-b3/a3在光盤上刻錄測(cè)試數(shù)據(jù)，檢測(cè) 刻錄的數(shù)據(jù)的刻錄品質(zhì)是否符合要求。如果符合，執(zhí)行步驟S218，否則跳到步驟S210，以不 同的調(diào)整幅度增減出多個(gè)T0PR5P調(diào)整值，以重新確定該前脈沖前緣參數(shù)的最佳值。
步驟S218，存儲(chǔ)得到的后脈沖后緣參數(shù)TLAST5P的最佳值和前脈沖前緣參數(shù)T0PR5P的最 佳值，以利用其對(duì)光盤進(jìn)行刻錄。
流程結(jié)束。
本較佳實(shí)施方式的步驟S204和步驟S212中，之所以僅檢測(cè)符合上述條件的岸進(jìn)行測(cè)量是 因?yàn)閷?duì)應(yīng)nT坑的刻錄脈沖的寬度直接影響該坑前、后的岸的長(zhǎng)度，如果該nT坑之前/后的 岸都能達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度的話，其本身的長(zhǎng)度必然也會(huì)標(biāo)準(zhǔn)，又由于在EFM編碼后，燒錄到光碟上的數(shù)據(jù)中長(zhǎng)度為3T的坑與岸的數(shù)目最多(約為長(zhǎng)度為4T的1.2倍以上，請(qǐng)參考圖3A和圖3B) ，因此如果nT坑之前/后長(zhǎng)度為3T的岸的長(zhǎng)度能調(diào)整到標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度的話，則其之前/后長(zhǎng)度為 4T、 5T等的岸也會(huì)跟著趨近于標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度。在步驟S208后，也可先將參數(shù)TLAST5P的最佳值保存起來，在步驟S218中再保存參數(shù) T0PR5P的最佳值。在其它實(shí)施方式中，可對(duì)3T到14T的坑的所有刻錄脈沖進(jìn)行調(diào)整，也可以根據(jù)具體情況 只調(diào)整部分刻錄脈沖的脈沖寬度參數(shù)。在另一種實(shí)施方式中，可先對(duì)前脈沖前緣參數(shù)TOPRnP進(jìn)行調(diào)整，然后再對(duì)后脈沖后緣參 數(shù)TLASTnT進(jìn)行調(diào)整，方法與上述類似，不再贅述。上述刻錄脈沖寬度參數(shù)的調(diào)整方法，可自動(dòng)調(diào)整出刻錄脈沖寬度參數(shù)的最佳值，從而得 到最佳的刻錄脈沖寬度，如此不僅可以提高盤片的刻錄品質(zhì)，亦可使刻壞光盤的機(jī)率大幅降 低。如圖11所示，刻錄脈沖寬度參數(shù)的調(diào)整裝置300包括存儲(chǔ)單元302、控制單元304、檢測(cè) 單元306和初始參數(shù)轉(zhuǎn)換單元308、差值計(jì)算模塊310、線性擬合單元312和最佳參數(shù)計(jì)算單元 314。存儲(chǔ)單元302中存儲(chǔ)著脈沖寬度參數(shù)、測(cè)試數(shù)據(jù)信息和標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度信息。存儲(chǔ)單元302包括 初始參數(shù)存儲(chǔ)模塊322、最佳參數(shù)存儲(chǔ)模塊324、測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊326和標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度存儲(chǔ)模塊 328。初始參數(shù)存儲(chǔ)模塊322中存儲(chǔ)著脈沖寬度參數(shù)的初始值，至少包括后脈沖后緣參數(shù) TLASTnP的初始值和前脈沖前緣參數(shù)TOPRnP的初始值中的一個(gè)。最佳參數(shù)存儲(chǔ)模塊324用于存 儲(chǔ)根據(jù)當(dāng)前光盤100測(cè)量得出的脈沖寬度參數(shù)的最佳值。測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊326中存儲(chǔ)有試刻 時(shí)使用的測(cè)試數(shù)據(jù)。標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度存儲(chǔ)模塊328中存儲(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)3T或4T或5T的長(zhǎng)度。在其它實(shí)施方式 中，存儲(chǔ)單元302可只包括初始參數(shù)存儲(chǔ)模塊322和測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊326，參數(shù)存儲(chǔ)模塊 322中最初存儲(chǔ)有脈沖寬度參數(shù)初始值，在確定脈沖寬度參數(shù)的最佳值后被替換為所述脈沖 寬度參數(shù)的最佳，用于在下次刻錄新光盤時(shí)作為脈沖寬度參數(shù)的初始值?？刂茊卧?04用于根據(jù)其接收到的脈沖寬度參數(shù)控制光學(xué)讀取頭200的刻錄工作。檢測(cè)單元306用于檢測(cè)刻錄在光盤上的測(cè)試數(shù)據(jù)的坑和岸的信息。初始參數(shù)轉(zhuǎn)換單元308用于將存儲(chǔ)在初始參數(shù)存儲(chǔ)模塊322中的脈沖寬度參數(shù)初始值轉(zhuǎn)化 為多個(gè)不同的脈沖寬度參數(shù)調(diào)整值。差值計(jì)算模塊310，用于接收來自檢測(cè)單元306的多個(gè)岸的長(zhǎng)度信息，計(jì)算上述多個(gè)岸的平均長(zhǎng)度與標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度(例如3T的標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度)的差值，輸出到線性擬合單元312。線性擬合單元312用于將接收到的多個(gè)差值與多個(gè)脈沖寬度參數(shù)調(diào)整值根據(jù)公式 y二a4X+b4進(jìn)行一次線性擬合，獲得線性擬合參數(shù)a4、 b4，定義y為上述差值，x為上述脈沖寬 度參數(shù)調(diào)整值。最佳參數(shù)計(jì)算單元314用于計(jì)算脈沖寬度參數(shù)的最佳值，該最佳值等于-b4/a4。 上述刻錄脈沖寬度參數(shù)的調(diào)整裝置300，可自動(dòng)調(diào)整出最佳的刻錄脈沖寬度參數(shù)，如此 不僅可以提高盤片100的刻錄品質(zhì)，亦可使刻壞光盤100的機(jī)率大幅降低。
權(quán)利要求
1.一種刻錄脈沖寬度參數(shù)的調(diào)整方法，刻錄脈沖包括前脈沖、后脈沖和位于前脈沖與后脈沖之間的底脈沖；光盤驅(qū)動(dòng)器中存儲(chǔ)有第一脈沖寬度參數(shù)初始值、測(cè)試數(shù)據(jù)和第一標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度；所述刻錄脈沖寬度參數(shù)的調(diào)整方法包括如下步驟將所述第一脈沖寬度參數(shù)初始值轉(zhuǎn)化為多個(gè)不同的第一脈沖寬度參數(shù)調(diào)整值，并分別使用所述多個(gè)不同的第一脈沖寬度參數(shù)調(diào)整值刻錄所述測(cè)試數(shù)據(jù)到光盤上；分別檢測(cè)并計(jì)算出刻錄到所述光盤上的各組測(cè)試數(shù)據(jù)中多個(gè)岸的平均長(zhǎng)度與所述第一標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度的差值，得到多個(gè)差值；將所述多個(gè)差值與所述多個(gè)不同的第一脈沖寬度參數(shù)調(diào)整值根據(jù)公式Y(jié)＝aX+b進(jìn)行一次線性擬合，得到線性擬合參數(shù)a、b；定義Y為所述差值，X為所述第一脈沖寬度參數(shù)調(diào)整值；計(jì)算所述第一脈沖寬度參數(shù)的最佳值-b/a；存儲(chǔ)所述第一脈沖寬度參數(shù)的最佳值-b/a，以利用其對(duì)所述光盤進(jìn)行刻錄。
2.如權(quán)利要求l所述的刻錄脈沖寬度參數(shù)的調(diào)整方法，其特征在于 :所述第一脈沖寬度參數(shù)為后脈沖后緣參數(shù)或前脈沖前緣參數(shù)；所述后脈沖后緣參數(shù)用于調(diào)整長(zhǎng)度為nT的坑的刻錄脈沖的后脈沖的下降緣位置；所述 前脈沖前緣參數(shù)用于調(diào)整長(zhǎng)度為nT的坑的刻錄脈沖的前脈沖的上升緣位置；3《n《14， T為 刻錄一位數(shù)據(jù)所需的時(shí)間長(zhǎng)度。
3.如權(quán)利要求2所述的刻錄脈沖寬度參數(shù)的調(diào)整方法，其特征在于 :所述第一脈沖寬度參數(shù)為后脈沖后緣參數(shù)；所述檢測(cè)刻錄到所述光盤上的測(cè)試數(shù)據(jù)中多個(gè)岸的長(zhǎng)度步驟中，所述多個(gè)岸的長(zhǎng)度大 于或等于0.5T，并小于或等于3.5T;且所述多個(gè)岸之后的坑的長(zhǎng)度大于或等于0.5T，并小于 或等于3.5T，所述多個(gè)岸之前的坑的長(zhǎng)度大于或等于(n-0.5) T，并小于或等于(n+0. 5) T;所述第一標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度為3T的標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度。
4.如權(quán)利要求2所述的刻錄脈沖寬度參數(shù)的調(diào)整方法，其特征在于 :所述第一脈沖寬度參數(shù)為前脈沖前緣參數(shù)；所述檢測(cè)刻錄到所述光盤上的測(cè)試數(shù)據(jù)中多個(gè)岸的長(zhǎng)度步驟中，所述多個(gè)岸的長(zhǎng)度大于或等于0.5T，并小于或等于3.5T;且所述多個(gè)岸之前的坑的長(zhǎng)度大于或等于O. 5T，并小于或等于3.5T，所述多個(gè)岸之后的坑的長(zhǎng)度大于或等于(n-0.5) T，并小于或等于(n+0. 5)T;所述第一標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度為3T的標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度。
5. 如權(quán)利要求l所述的刻錄脈沖寬度參數(shù)的調(diào)整方法，其特征在于:所述將所述第一脈沖寬度參數(shù)初始值轉(zhuǎn)化為多個(gè)不同的第一脈沖寬度參數(shù)調(diào)整值步驟中的轉(zhuǎn)化方法是在所述第一脈沖寬度參數(shù)初始值的基礎(chǔ)上增減變換而成。
6. 如權(quán)利要求l所述的刻錄脈沖寬度參數(shù)的調(diào)整方法，其特征在于，進(jìn)一步包括以下步驟使用所述第一脈沖寬度參數(shù)的最佳值-b/a刻錄測(cè)試數(shù)據(jù)到光盤上； 檢測(cè)刻錄在所述光盤上的測(cè)試數(shù)據(jù)的刻錄品質(zhì)是否符合要求，如果符合則存儲(chǔ)所述第一脈沖寬度參數(shù)的最佳值-b/a，以利用其對(duì)所述光盤進(jìn)行刻錄，否則重新確定所述第一脈沖寬度參數(shù)的最佳值。
7. 如權(quán)利要求l所述的刻錄脈沖寬度參數(shù)的調(diào)整方法，其特征在于，所述檢測(cè)刻錄到所述光盤上的測(cè)試數(shù)據(jù)中多個(gè)岸的長(zhǎng)度步驟中，所述多個(gè)岸符合下列兩個(gè) 條件中的一個(gè)(1) ，所述多個(gè)岸的長(zhǎng)度大于或等于0.5T，并小于或等于3.5T;(2) ，所述多個(gè)岸的長(zhǎng)度大于或等于(m-0.5) T，并小于或等于(m+0.5) T; 且當(dāng)符合條件(1)時(shí)，所述標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度為3T的標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度；當(dāng)符合條件(2)時(shí)，所述第一標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度為m T的標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度，m大于3， T為刻錄一位數(shù)據(jù)所需的時(shí)間長(zhǎng)度。
8. 一種刻錄脈沖寬度參數(shù)的調(diào)整裝置，刻錄脈沖包括前脈沖、后脈 沖和位于前脈沖與后脈沖之間的底脈沖；其特征在于，所述刻錄脈沖寬度參數(shù)的調(diào)整裝置包 括存儲(chǔ)單元，用于存儲(chǔ)脈沖寬度參數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度及測(cè)試數(shù)據(jù)信息； 控制單元，用于根據(jù)獲得的脈沖寬度參數(shù)信息控制光學(xué)讀取頭的刻錄工作； 檢測(cè)單元，用于檢測(cè)試刻在光盤上的測(cè)試數(shù)據(jù)的坑和岸的長(zhǎng)度信息； 初始參數(shù)轉(zhuǎn)換單元，用于將存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)單元中的脈沖寬度參數(shù)初始值轉(zhuǎn)化為多個(gè)不同的脈沖寬度參數(shù)調(diào)整值；差值計(jì)算模塊，用于接收來自所述檢測(cè)單元的多個(gè)岸的長(zhǎng)度信息，計(jì)算所述多個(gè)岸的平均長(zhǎng)度與所述標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度的差值；線性擬合單元，用于將接收到的多個(gè)差值與所述多個(gè)不同的脈沖寬度參數(shù)調(diào)整值根據(jù) 公式Y(jié)二aX+b進(jìn)行一次線性擬合，獲得線性擬合參數(shù)a、 b;定義Y為所述差值，X為所述脈沖寬 度參數(shù)調(diào)整值；最佳參數(shù)計(jì)算單元，用于計(jì)算所述脈沖寬度參數(shù)的最佳值-b/a。
9.如權(quán)利要求8所述的刻錄脈沖寬度參數(shù)的調(diào)整裝置，其特征在于 :所述脈沖寬度參數(shù)為后脈沖后緣參數(shù)或前脈沖前緣參數(shù)；所述后脈沖后緣參數(shù)用于調(diào)整長(zhǎng)度為nT的坑的刻錄脈沖的后脈沖的下降緣位置；所述 前脈沖前緣參數(shù)用于調(diào)整長(zhǎng)度為nT的坑的刻錄脈沖的前脈沖的上升緣位置的；3《n《14， T 為刻錄一位數(shù)據(jù)所需的時(shí)間長(zhǎng)度。
10.如權(quán)利要求8所述的刻錄脈沖寬度參數(shù)的調(diào)整裝置，其特征在于 :所述計(jì)算單元通過增減變換將所述脈沖寬度參數(shù)初始值轉(zhuǎn)化為多個(gè)不同的脈沖寬度參數(shù)調(diào) 整值。
全文摘要
一種刻錄脈沖寬度參數(shù)的調(diào)整方法包括如下步驟將所述第一脈沖寬度參數(shù)初始值轉(zhuǎn)化為多個(gè)不同的第一脈沖寬度參數(shù)調(diào)整值，并分別使用所述多個(gè)不同的第一脈沖寬度參數(shù)調(diào)整值刻錄所述測(cè)試數(shù)據(jù)到光盤上；分別檢測(cè)并計(jì)算出刻錄到所述光盤上的各組測(cè)試數(shù)據(jù)中多個(gè)岸的平均長(zhǎng)度與所述第一標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度的差值，得到多個(gè)差值；將所述多個(gè)差值與所述多個(gè)不同的第一脈沖寬度參數(shù)調(diào)整值根據(jù)公式Y(jié)＝aX+b進(jìn)行一次線性擬合，得到線性擬合參數(shù)a、b；定義Y為所述差值，X為所述第一脈沖寬度參數(shù)調(diào)整值；計(jì)算所述第一脈沖寬度參數(shù)的最佳值-b/a；存儲(chǔ)所述第一脈沖寬度參數(shù)的最佳值，以利用其對(duì)所述光盤進(jìn)行刻錄。本發(fā)明還提供一種刻錄脈沖寬度參數(shù)的調(diào)整裝置。
文檔編號(hào)G11B20/10GK101315797SQ200710200749
公開日2008年12月3日 申請(qǐng)日期2007年6月1日 優(yōu)先權(quán)日2007年6月1日
發(fā)明者林忠縣, 王俊杰 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司