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用于光學(xué)記錄的空氣隙飼服機(jī)構(gòu)的制作方法

文檔序號(hào):6777149閱讀:172來(lái)源:國(guó)知局
專(zhuān)利名稱(chēng):用于光學(xué)記錄的空氣隙飼服機(jī)構(gòu)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及用于近場(chǎng)光學(xué)記錄的設(shè)備,信息由記錄載體上的軌道中的標(biāo)記所表示,該設(shè)備包括光頭,其包括由透鏡致動(dòng)器定位于距記錄 載體表面近場(chǎng)距離處以便在軌道上產(chǎn)生掃描光斑的透鏡;以及空氣隙控 制器,其用于控制透鏡和所述表面之間的空氣隙,所述空氣隙控制器具 有用于通過(guò)向透鏡致動(dòng)器提供遞增的周期性激勵(lì)信號(hào)來(lái)將透鏡從遠(yuǎn)距 離帶到近場(chǎng)距離的接近模式,以便產(chǎn)生使透鏡接近所述表面的一 系列接零的速度,并且所述一系列接近時(shí)刻隨后使透鏡更靠近所述表面。本發(fā)明還涉及用于將透鏡從遠(yuǎn)距離帶到距記錄載體表面的近場(chǎng)距 離以便用于近場(chǎng)光學(xué)記錄的拉入(pull-in)方法,該方法包括向透鏡致 動(dòng)器提供遞增的周期性激勵(lì),以便產(chǎn)生使透鏡接近所述表面的 一 系列接零的速度,并且所述一系列接近時(shí)刻隨后使透鏡更靠近所述表面。
背景技術(shù)
T.Ishimoto, K.Saito, T.Kondo, A.Nakaoki和M.Yamamoto發(fā)表于 ISOM/ODS 2002上的文獻(xiàn)"Gap Servo System for a Biaxial Device Using an Optical Gap Signal in a Near Field Readout System"(另外稱(chēng)作文獻(xiàn)[l]) 記載了一種用于近場(chǎng)光學(xué)記錄的空氣隙伺服機(jī)構(gòu)。文獻(xiàn)[l]描述了一種使 用近場(chǎng)光頭的讀出方法和光學(xué)記錄載體,所述光頭包括非球面透鏡和固 體浸沒(méi)透鏡(SIL)。在該系統(tǒng)中,有必要將SIL底面和盤(pán)表面之間的空 氣隙恒定地維持在其中可檢測(cè)迅衰波的近場(chǎng)位置。產(chǎn)生了空氣隙誤差信 號(hào)以便檢測(cè)SIL和光盤(pán)表面之間的距離。然而,該空氣隙誤差信號(hào)只在 大約50 nm的近場(chǎng)區(qū)域中是可獲得的。WO2005/101391描述了一種空氣隙伺服系統(tǒng),該空氣隙伺服系統(tǒng)控 制光頭致動(dòng)器系統(tǒng)來(lái)維持所需的光頭位置。提出了一種特定的啟動(dòng)伺服 系統(tǒng),用于將光頭從遠(yuǎn)程啟動(dòng)位置帶到所述表面附近,即所謂的拉入過(guò) 程。該拉入過(guò)程通過(guò)當(dāng)透鏡移入近場(chǎng)位置時(shí)切換到空氣隙伺服環(huán)來(lái)完成。在拉入過(guò)程期間,過(guò)沖可能造成嚴(yán)重的問(wèn)題,如果光頭與光盤(pán)表面 接觸,那么這最終會(huì)導(dǎo)致光頭與光盤(pán)的碰撞。所描述的這種啟動(dòng)伺服系 統(tǒng)將周期性激勵(lì)信號(hào)提供給透鏡致動(dòng)器,以便具有透鏡接近所述表面的的速度,并且所述一系列接近時(shí)刻隨后使透鏡更靠近所述表面。當(dāng)在這 種時(shí)刻光頭到達(dá)近場(chǎng)距離之內(nèi)時(shí),切換到閉環(huán)模式,其中通過(guò)閉合伺服 環(huán)將透鏡維持在所需的近場(chǎng)距離處。但是在實(shí)踐中,這種已知的系統(tǒng)在處于接近模式時(shí)對(duì)于實(shí)際的記錄 載體不能安全地操作。發(fā)明內(nèi)容因此,本發(fā)明的目的是提供用于光學(xué)記錄的、快速且光頭與光盤(pán)碰 撞的風(fēng)險(xiǎn)較低的空氣隙伺服系統(tǒng)和拉入方法。依照本發(fā)明的第一方面,這個(gè)目的是利用如開(kāi)篇段落中所限定的設(shè) 備來(lái)實(shí)現(xiàn)的,所述設(shè)備包括用于控制記錄載體的旋轉(zhuǎn)、檢測(cè)記錄載體表 面在光頭方向上的盤(pán)位移的控制裝置,所述空氣隙控制器被設(shè)置用于將 周期性激勵(lì)和記錄載體的旋轉(zhuǎn)同步,使得在垂直于所述表面的方向上具 有基本上為零的速度的所述接近時(shí)刻之一對(duì)應(yīng)于盤(pán)位移的最小值。依照本發(fā)明的第二方面,這個(gè)目的是利用如開(kāi)篇段落中所限定的方 法來(lái)實(shí)現(xiàn)的,所述拉入方法包括控制記錄載體的旋轉(zhuǎn)、檢測(cè)記錄載體表 面在光頭方向上的盤(pán)位移以及將周期性激勵(lì)和記錄載體的旋轉(zhuǎn)同步,使之一對(duì)應(yīng)于盤(pán)位移的最小值。在實(shí)踐中,記錄載體不是完全平坦的。測(cè)量的效果在于,檢測(cè)記錄 載體表面的位移,尤其是檢測(cè)位移的最小值。當(dāng)記錄載體旋轉(zhuǎn)時(shí),所述 最小值由于所述非平坦性而與旋轉(zhuǎn)時(shí)刻相關(guān)。對(duì)周期性激勵(lì)施加同步, 以便將所述旋轉(zhuǎn)時(shí)刻的時(shí)序與特定接近時(shí)刻匹配,使得透鏡和所述表面 之間的距離因而具有最小值。有利的是,在這個(gè)特定的接近時(shí)刻,透鏡 的速度基本上為零,而且所述表面的位移具有零速度。因此,實(shí)現(xiàn)了平 滑地切換到所述閉合模式。本發(fā)明還基于如下的認(rèn)識(shí)。本發(fā)明的發(fā)明人已經(jīng)發(fā)現(xiàn),利用現(xiàn)有空 氣隙伺服機(jī)構(gòu)的非平坦盤(pán)的問(wèn)題可能在于,周期性激勵(lì)的最大值的確相對(duì)于盤(pán)位移的變化而隨機(jī)地出現(xiàn)。結(jié)果,最小距離可能在與所述接近時(shí) 刻不同的時(shí)刻出現(xiàn),即在透鏡速度不同于零時(shí)出現(xiàn)。因此,當(dāng)在這種時(shí) 刻切換到閉環(huán)時(shí),可能發(fā)生過(guò)沖或者甚至是光頭碰撞。依照本發(fā)明,表 面位移中最大值的時(shí)序已經(jīng)與周期性激勵(lì)的最大值同步。因此,通過(guò)進(jìn) 一步降低光頭碰撞的風(fēng)險(xiǎn),實(shí)現(xiàn)了實(shí)際記錄載體的安全工作。在所述設(shè)備的一個(gè)實(shí)施例中,控制裝置包括用于檢測(cè)記錄載體的旋 轉(zhuǎn)位置的位置裝置以及用于存儲(chǔ)對(duì)應(yīng)于所述盤(pán)位移最小值的峰值旋轉(zhuǎn) 位置的存儲(chǔ)器。最小值的檢測(cè)與檢測(cè)旋轉(zhuǎn)位置相聯(lián)系。有利的是,由于 存儲(chǔ)器的原因,所述位置易于與周期性激勵(lì)同步。在所述設(shè)備的一個(gè)實(shí)施例中,控制裝置被設(shè)置用于所述通過(guò)處理伺 服信號(hào)來(lái)檢測(cè)記錄載體表面在光頭方向上的盤(pán)位移,所述處理伺服信號(hào) 來(lái)自用于將輻射束聚焦在記錄載體的層上的聚焦伺服系統(tǒng)。聚焦伺服系 統(tǒng)在用于光學(xué)記錄的設(shè)備中是可用的,以便在記錄載體的記錄層上產(chǎn)生 掃描光斑。聚焦伺服系統(tǒng)產(chǎn)生聚焦伺服信號(hào),例如致動(dòng)器信號(hào)或聚焦誤 差信號(hào)。本發(fā)明的發(fā)明人已經(jīng)發(fā)現(xiàn),所述可用的聚焦伺服系統(tǒng)即使在近 場(chǎng)模式下實(shí)際沒(méi)有聚焦到預(yù)期的高密度層上時(shí),也能提供所述盤(pán)位移的 信息。例如,聚焦伺服系統(tǒng)可以在開(kāi)環(huán)模式下僅僅用作檢測(cè)器,或者輻 射束可以臨時(shí)聚焦在不同的層上。在一個(gè)特定的實(shí)施例中,聚焦伺服系 統(tǒng)被設(shè)置用于聚焦其波長(zhǎng)不同于掃描光斑波長(zhǎng)的輻射束。所述設(shè)備配備了針對(duì)不同波長(zhǎng)的附加光學(xué)系統(tǒng),用于例如與DVD或CD之類(lèi)的現(xiàn)有 記錄格式的向后兼容性。該附加光學(xué)系統(tǒng)可以用于例如通過(guò)將所述不同 波長(zhǎng)的輻射束聚焦到所述高密度層上,或者聚焦到存在于記錄載體中的 低密度層上來(lái)檢測(cè)盤(pán)位移。有利的是,僅僅經(jīng)過(guò)少量的修改,就可以使 用該現(xiàn)有聚焦伺服系統(tǒng)用于通過(guò)處理所述聚焦伺服信號(hào)來(lái)檢測(cè)盤(pán)位移。 在所附權(quán)利要求中給出了依照本發(fā)明的設(shè)備和方法的其他優(yōu)選實(shí) 施例,其公開(kāi)通過(guò)引用合并于此。


本發(fā)明的這些和其他方面根據(jù)下面的實(shí)施例將是顯而易見(jiàn)的,并且 將參照這些實(shí)施例進(jìn)一 步加以闡述,這些實(shí)施例在下列描述中通過(guò)舉例 并且參照附圖來(lái)描述,其中圖1示出了具有空氣隙伺服機(jī)構(gòu)的光學(xué)記錄設(shè)備;學(xué)記錄的光頭中的元件的示意圖;圖3示出了所計(jì)算的所述間隙誤差信號(hào)的反射曲線(xiàn);圖4示出了平坦記錄載體上的接近方法;圖5示出了透鏡和盤(pán)之間的空氣隙;圖6示出了沒(méi)有同步化的擺動(dòng)拉入過(guò)程;圖7示出了同步正弦發(fā)生器以及透鏡和盤(pán)之間的空氣隙;圖8示出了同步化的激勵(lì)信號(hào);圖9A示出了疊加在斜波上的幅度輕微遞增的周期性信號(hào); 圖9B示出了疊加在斜波上的幅度顯著遞增的正弦信號(hào);以及 圖9C示出了低通濾波的階梯信號(hào)。在這些附圖中,與已經(jīng)描述的元件相對(duì)應(yīng)的元件具有相同的附圖標(biāo)記。
具體實(shí)施方式
已經(jīng)提出了一種使用近場(chǎng)光頭的光學(xué)記錄系統(tǒng),作為在12cm光盤(pán) 上讀出150G字節(jié)或更多字節(jié)的技術(shù),所述近場(chǎng)光頭包括非球面透鏡和 固體浸沒(méi)透鏡(SIL)。在這種系統(tǒng)中,重要的是將SIL底面和盤(pán)之間的 空氣隙恒定地維持在其中可檢測(cè)迅衰波的近場(chǎng)位置。對(duì)此需要空氣隙伺 服系統(tǒng)。圖1示出了具有空氣隙伺服機(jī)構(gòu)的光學(xué)記錄設(shè)備。該設(shè)備用于通過(guò) 近場(chǎng)光學(xué)系統(tǒng)在記錄載體11上光學(xué)地讀取和/或記錄數(shù)據(jù)。近場(chǎng)光學(xué)系 統(tǒng)同樣首先可從文獻(xiàn)[l]中獲悉,還可以從K.Saito等人所著的"Readout Method for Read Only Memory Signal and Air Gap Control Signal in a Near Field Optical Disc System,"Jpn. J. Appl. Phys., Vol.41 ( 2002 ),第 1898-1902頁(yè)(另外稱(chēng)作文獻(xiàn)[2])中獲悉。盤(pán)狀記錄載體11在信息層上記錄類(lèi)型記錄載體上的 九道以i由制造空白記錄載體期間i供的預(yù)i壓軌道結(jié)構(gòu)(例如預(yù)刻槽)來(lái)表示。軌道結(jié)構(gòu)也可以由規(guī)則分布的標(biāo)記 來(lái)形成,所述標(biāo)記周期性地引起伺服信號(hào)的出現(xiàn)。被記錄信息在信息層 上由沿軌道記錄的光學(xué)可檢測(cè)標(biāo)記來(lái)表示。這些標(biāo)記是通過(guò)物理參數(shù)的 變化來(lái)構(gòu)成的,因而具有不同于其周邊的光學(xué)性質(zhì),所述變化例如在諸 如染料、合金或相變材料之類(lèi)的材料中記錄時(shí)獲得的反射的變化,或者在磁光材料中記錄時(shí)獲得的偏振方向的變化。記錄載體可以用于承載例 如視頻或音頻信息之類(lèi)的實(shí)時(shí)信息,或者例如計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)之類(lèi)的其他信 自-所述設(shè)備配備了用于掃描記錄載體11上的軌道的裝置,所述裝置包括用于旋轉(zhuǎn)記錄載體11的驅(qū)動(dòng)單元21、光頭22、用于將光頭22定 位在軌道上的伺服單元25以及控制單元20。光頭22包括已知類(lèi)型的光 學(xué)系統(tǒng),其用于產(chǎn)生被引導(dǎo)通過(guò)光學(xué)元件、被聚焦到記錄載體信息層的 軌道上的輻射斑的輻射束。輻射束由例如激光二極管的輻射源產(chǎn)生。伺 服單元25具有用于將輻射束聚焦到記錄載體記錄層上的掃描光斑的聚 焦伺服系統(tǒng)38。光頭包括透鏡24以及耦合到用于將透鏡定位到距記錄 載體11表面近場(chǎng)距離23處的空氣隙伺服控制器32的透鏡致動(dòng)器35。 圖2中示出了光頭中的光學(xué)元件的詳細(xì)實(shí)例。所迷空氣隙控制器具有用 于通過(guò)向透鏡致動(dòng)器提供遞增的周期性激勵(lì)信號(hào)來(lái)將透鏡從遠(yuǎn)距離帶 到近場(chǎng)距離的接近模式,以便產(chǎn)生透鏡接近所述表面的 一 系列接近時(shí) 刻。透鏡在這些接近時(shí)刻在垂直于記錄載體表面的方向上具有基本上為 零的速度。所述一系列接近時(shí)刻隨后使透鏡更靠近所述表面。最后,當(dāng) 透鏡在所述接近時(shí)刻之一位于近場(chǎng)距離之內(nèi)時(shí),該空氣隙控制器切換到 閉環(huán)模式。從開(kāi)環(huán)接近模式到閉環(huán)模式的切換可以在交接(hand-over) 模式中進(jìn)行,其中產(chǎn)生位置的基準(zhǔn)軌跡和/或透鏡的速度和加速度。當(dāng)光頭移入近場(chǎng)位置并且間隙誤差信號(hào)可用時(shí),可以通過(guò)交接控制 將空氣隙伺服系統(tǒng)切換到閉環(huán)控制操作。用于間隙伺服環(huán)的間隙基準(zhǔn)沒(méi) 有被直接設(shè)置成其最終的目標(biāo)值,而是可以通過(guò)基準(zhǔn)發(fā)生器來(lái)產(chǎn)生,以 便提供從初始基準(zhǔn)到所述最終目標(biāo)空氣隙距離的平滑軌跡,如 WO2005/101391中進(jìn)一步討論的。光頭還包括(未示出)用于在徑向方向上將所述光斑精細(xì)地定位在 軌道中心上的跟蹤致動(dòng)器。跟蹤致動(dòng)器可以包括用于徑向移動(dòng)光學(xué)元件 的線(xiàn)圏和永磁體,或者可替換地可以被設(shè)置用于改變反射元件的角度。 為了進(jìn)行讀取,通過(guò)光頭22中通常類(lèi)型的檢測(cè)器(例如四象限二極管) 來(lái)檢測(cè)由信息層反射的輻射,以便產(chǎn)生包括用于跟蹤和聚焦的主掃描信 號(hào)33和子檢測(cè)器信號(hào)的檢測(cè)器信號(hào)。前端單元31耦合到光頭22,用于 接收基于從軌道反射的輻射的檢測(cè)器信號(hào)。主掃描信號(hào)33由包括解調(diào) 器、去格式化器和輸出單元的通常類(lèi)型的讀處理單元30進(jìn)行處理,以便獲取信息??刂茊卧?0控制信息的記錄和獲取,并且可以;故設(shè)置用于接收來(lái) 自用戶(hù)或來(lái)自主機(jī)的命令??刂茊卧?0經(jīng)由例如系統(tǒng)總線(xiàn)之類(lèi)的控制線(xiàn)26連接到所述設(shè)備中的其他單元??刂茊卧?0包括控制電路,例如 微處理器、程序存儲(chǔ)器和接口,以便執(zhí)行下述過(guò)程和功能??刂茊卧?0 也可以實(shí)現(xiàn)為邏輯電路中的狀態(tài)機(jī)。所述設(shè)備可以配備用于將信息記錄在可寫(xiě)入或可重寫(xiě)類(lèi)型的記錄 載體上的記錄裝置。記錄裝置與光頭22和前端單元31合作以便產(chǎn)生寫(xiě) 入輻射束,并且包括用于處理輸入信息以便產(chǎn)生驅(qū)動(dòng)光頭22的寫(xiě)入信 號(hào)的寫(xiě)處理裝置,所述寫(xiě)處理裝置包括輸入單元27、格式化器28和調(diào) 制器29。為了寫(xiě)入信息,輻射束的功率由調(diào)制器29進(jìn)行控制,以便在 記錄層中產(chǎn)生光學(xué)上可檢測(cè)的標(biāo)記。在一個(gè)實(shí)施例中,輸入單元27包括用于諸如沖莫擬音頻和/或一見(jiàn)頻或 者數(shù)字未壓縮音頻/視頻之類(lèi)的輸入信號(hào)的壓縮裝置。在MPEG標(biāo)準(zhǔn)中 描述了用于視頻的合適的壓縮方法,在ISO/IEC 11172中定義了 MPEG-1,在ISO/IEC 13818中定義了 MPEG-2。輸入信號(hào)可替換地可以 已經(jīng)依照這樣的標(biāo)準(zhǔn)被編碼。控制單元20被設(shè)置用于控制記錄載體的旋轉(zhuǎn)并且檢測(cè)記錄載體表 面在光頭方向上的盤(pán)位移,也稱(chēng)為記錄載體的跳動(dòng)(run-out)。該跳動(dòng)作 為記錄載體的旋轉(zhuǎn)位置的函數(shù)來(lái)檢測(cè),即跳動(dòng)值構(gòu)成記錄載體的旋轉(zhuǎn)頻 率下的重復(fù)樣式。表面的位移可以由單獨(dú)的傳感器來(lái)檢測(cè),或者當(dāng)聚焦 伺服機(jī)構(gòu)鎖定時(shí)通過(guò)使用來(lái)自聚焦伺服系統(tǒng)的聚焦信號(hào)來(lái)檢測(cè)。在鎖定 狀態(tài)下,聚焦信號(hào)(例如聚焦致動(dòng)器信號(hào))代表了盤(pán)表面的位移。檢測(cè) 該位移的最小值可以例如通過(guò)經(jīng)由總線(xiàn)26采集來(lái)自伺服系統(tǒng)的信號(hào)值 而在控制單元20中實(shí)現(xiàn)。記錄載體的旋轉(zhuǎn)位置由控制單元20中的旋轉(zhuǎn)控制系統(tǒng)26來(lái)檢測(cè), 該旋轉(zhuǎn)控制系統(tǒng)26監(jiān)視實(shí)際的旋轉(zhuǎn)位置。例如,旋轉(zhuǎn)位置可以基于到 達(dá)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)馬達(dá)的轉(zhuǎn)速(tacho )控制信號(hào)或者根據(jù)檢測(cè)來(lái)自記錄載體的 信號(hào),例如通過(guò)傳感器檢測(cè)標(biāo)記或讀取來(lái)自光頭的被記錄信息。應(yīng)當(dāng)注 意,所述設(shè)備可以使用上述光頭或者可以具有附加的光頭或傳感器,以 便讀取任何合適的信息來(lái)檢測(cè)記錄載體的旋轉(zhuǎn)位置,所述信息例如是來(lái) 自不同層或者來(lái)自預(yù)記錄樣式的數(shù)據(jù)。盤(pán)位移可以從任何可用于在記錄載體記錄層上產(chǎn)生掃描光斑的聚 焦伺服系統(tǒng)中檢測(cè)。聚焦伺服系統(tǒng)通常產(chǎn)生聚焦伺服信號(hào),例如致動(dòng)器 信號(hào)或聚焦誤差信號(hào)。所述可用的聚焦伺服系統(tǒng)即使在近場(chǎng)模式下實(shí)際 沒(méi)有聚焦到預(yù)期的高密度層上時(shí),也能提供所述盤(pán)位移的信息。例如, 聚焦伺服系統(tǒng)可以在開(kāi)環(huán)模式下僅僅用作檢測(cè)器,或者輻射束可以臨時(shí) 聚焦在不同的層上??諝庀犊刂破?2被設(shè)置用于將周期性激勵(lì)和記錄載體的旋轉(zhuǎn)同步時(shí)刻之一對(duì)應(yīng)于盤(pán)位移的最小值。下面將參照?qǐng)D5-8進(jìn)一步闡述空氣隙 控制器和控制單元20的同步功能。在一個(gè)實(shí)施例中,空氣隙控制器32 包括同步正弦發(fā)生器34。同步正弦發(fā)生器具有用于接收指示旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn) 控制信號(hào)的同步輸入端以及用于產(chǎn)生同步正弦信號(hào)的輸出端,該同步正 弦信號(hào)用于產(chǎn)生所述周期性激勵(lì)。在一個(gè)實(shí)施例中,旋轉(zhuǎn)控制系統(tǒng)36耦合到存儲(chǔ)器37。存儲(chǔ)器37可 以用于存儲(chǔ)與所述盤(pán)位移的最小值對(duì)應(yīng)的特定旋轉(zhuǎn)位置。存儲(chǔ)器還可以 用來(lái)容納存儲(chǔ)回路控制系統(tǒng),其中與記錄載體的旋轉(zhuǎn)同步地存儲(chǔ)和獲取 回路伺服信號(hào)。記錄載體整整旋轉(zhuǎn)一圏的盤(pán)位移數(shù)據(jù)可以存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器 中,并且可以用作聚焦控制伺服系統(tǒng)中的前饋信號(hào)。例如,可以基于存 儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的數(shù)據(jù)來(lái)控制路線(xiàn)(course)聚焦伺服致動(dòng)器。從存儲(chǔ)器 37中可以檢測(cè)一個(gè)或多個(gè)盤(pán)位移最小值并且將其用于使周期性激勵(lì)信 號(hào)同步。在一個(gè)實(shí)施例中,所述設(shè)備配備了用于掃描不同類(lèi)型記錄載體(例 如光學(xué)光路)的附加光學(xué)系統(tǒng),以便與DVD或CD之類(lèi)的現(xiàn)有記錄格 式向后兼容。該附加光學(xué)系統(tǒng)用于以如下所述方式檢測(cè)盤(pán)位移。將該附 加光學(xué)系統(tǒng)聚焦在記錄載體層上,并且產(chǎn)生與盤(pán)的跳動(dòng)對(duì)應(yīng)的伺服信 號(hào),例如遠(yuǎn)場(chǎng)光頭中的物鏡的伺服致動(dòng)器信號(hào)。所述現(xiàn)有聚焦伺服系統(tǒng) 用于通過(guò)處理來(lái)自所述可用聚焦伺服系統(tǒng)的聚焦伺服信號(hào)來(lái)檢測(cè)盤(pán)位 移。該附加光學(xué)系統(tǒng)可以將具有所述不同波長(zhǎng)的輻射束聚焦到高密度層 上或者聚焦到附加地存在于記錄載體中的低密度層上。應(yīng)當(dāng)注意,由于 所述不同類(lèi)型的記錄載體以及實(shí)際的近場(chǎng)記錄載體之間的差異,由所述 附加光學(xué)系統(tǒng)產(chǎn)生的掃描光斑可能會(huì)發(fā)生變形。不過(guò),這與檢測(cè)盤(pán)位移 無(wú)關(guān),因?yàn)椴灰髵呙枞魏螛?biāo)記或者從軌道中獲取信息。圖2示出了用于近場(chǎng)光學(xué)記錄的光頭中的元件的示意圖。該示意圖 給出了用于讀出實(shí)驗(yàn)的近場(chǎng)光學(xué)播放器設(shè)置的實(shí)例。在這個(gè)實(shí)驗(yàn)性播放器中,常規(guī)的DVD致動(dòng)器用于空氣隙控制和跟蹤,其中安裝了數(shù)值孔 徑NA4.9的特殊近場(chǎng)透鏡。在該圖中,PBS為偏振分束器;NBS為非 偏振分束器;為半波片。該設(shè)置包括主支路,主支路包含藍(lán)紫激光 器40和準(zhǔn)直透鏡、光束成形光學(xué)裝置41、兩個(gè)分束器和用于NA=1.9 透鏡43的聚焦調(diào)節(jié)的望遠(yuǎn)鏡42。圖中的左側(cè)支路包含用于檢測(cè)RF中 心孔徑信號(hào)的光電二極管44,所述RF中心孔徑信號(hào)包含數(shù)據(jù)信息并且 平行于主輻射束方向偏振。在相同的支路中,設(shè)置了分裂檢測(cè)器45以 便產(chǎn)生推挽跟蹤誤差信號(hào)。而且,僅僅對(duì)于該實(shí)驗(yàn)性設(shè)置而言,將CCD 相機(jī)46包括在內(nèi)以便觀測(cè)出瞳處的輻照度才莫式。半波片人/2用于控制 PBS分束并且分別引導(dǎo)到RF檢測(cè)器和推挽檢測(cè)器的光量。該圖右側(cè)的第二支路用來(lái)產(chǎn)生用于空氣隙控制的誤差信號(hào)。在近場(chǎng) 光盤(pán)系統(tǒng)中,SIL透鏡43需要放置在距光盤(pán)的迅衰距離內(nèi)。在我們的設(shè) 置中,SIL到光盤(pán)的距離一般為25nm。為了允許在這樣小的距離處利用 機(jī)械致動(dòng)器進(jìn)行空氣隙控制,需要合適的誤差信號(hào)。如文獻(xiàn)[1]和文獻(xiàn)[2] 所述,適合用作間隙誤差信號(hào)(GES)的線(xiàn)性信號(hào)可以從被反射光中獲 得,該被反射光的偏振狀態(tài)垂直于聚焦到盤(pán)上的主輻射束的偏振狀態(tài)。 所迷光的相當(dāng)大部分在SIL-空氣-光盤(pán)界面處反射后呈橢圓偏振這個(gè)效 果在被反射光經(jīng)過(guò)偏振器來(lái)觀察時(shí)得到眾所周知的馬耳蒂十字車(chē) (Maltese cross )。通過(guò)使用偏振光學(xué)裝置和單個(gè)光電二極管47對(duì)該馬 耳蒂十字車(chē)的所有光進(jìn)行積分,獲得垂直偏振狀態(tài)信號(hào)(稱(chēng)為"RF丄pol"),并且從該"RF丄pol"信號(hào)產(chǎn)生間隙誤差信號(hào)GES。圖3示出了所計(jì)算的間隙誤差信號(hào)的反射曲線(xiàn)。該圖基于沒(méi)有凹槽 的硅盤(pán)的仿真GES曲線(xiàn),并且表示了反射與空氣隙尺寸的關(guān)系。第一曲 線(xiàn)350示出了全反射與空氣隙寬度的函數(shù)關(guān)系,第二曲線(xiàn)351示出了針 對(duì)平行偏振的反射與空氣隙寬度的函數(shù)關(guān)系,笫三曲線(xiàn)352示出了針對(duì) 垂直偏振的反射與空氣隙寬度的函數(shù)關(guān)系,每種曲線(xiàn)示出了對(duì)應(yīng)三個(gè) NA值的結(jié)果。第二曲線(xiàn)351可以用作用于數(shù)據(jù)讀出的HF信號(hào)353。在 SIL底部反射的光的垂直偏振狀態(tài)的量用作間隙誤差信號(hào)354 (GES)以 便控制空氣隙。不過(guò),如圖所示,所述間隙誤差信號(hào)僅在近場(chǎng)區(qū)下大約 50 nm的GES線(xiàn)性范圍355內(nèi)是可用的。因此,需要所謂的拉入過(guò)程。利用拉入過(guò)程,光頭通過(guò)開(kāi)環(huán)操作從 其初始遠(yuǎn)場(chǎng)位置接近近場(chǎng)區(qū),然后空氣隙伺服系統(tǒng)盡可能平滑地切換到 閉合操作以便避免光頭與盤(pán)的任何碰撞。提出的空氣隙伺服系統(tǒng)包括三 種控制模式,其根據(jù)操作條件從一種模式切換到另一種模式。首先,接近控制要將光頭從其初始遠(yuǎn)場(chǎng)位置移入其中4企測(cè)到線(xiàn)性GES的近場(chǎng)區(qū); 交接控制要在從開(kāi)環(huán)接近控制到最終的閉環(huán)空氣隙調(diào)節(jié)控制的切換期 間實(shí)現(xiàn)平滑而快速的瞬態(tài)響應(yīng);最后,空氣隙控制要將空氣隙維持在固 定的目標(biāo)空氣隙附近。在WO2005/101391中的拉入過(guò)程中,如圖4所示, 在接近模式期間將其幅度隨時(shí)間遞增的正弦電壓施加到致動(dòng)器上,這在 以后將稱(chēng)為"擺動(dòng)拉入,,??諝庀端欧到y(tǒng)在這些正弦峰之一處啟動(dòng)其閉 環(huán)操作,并且在切換時(shí)刻光頭的速度保持在接近零的位置。這允許我們 從開(kāi)環(huán)操作過(guò)渡到閉環(huán)操作時(shí)顯著降低過(guò)沖,從而可以有效地避免透鏡 與光盤(pán)的碰撞。圖4示出了平坦記錄載體上的接近方法。左圖示出了施加的遞增周 期性信號(hào)73,它是歸一化的電流-時(shí)間關(guān)系曲線(xiàn);右圖示出了在從遠(yuǎn)場(chǎng) 范圍72接近近場(chǎng)范圍71期間的歸一化位置74和速度75。這導(dǎo)致一系速度75,所述接近時(shí)刻例如其中剛好第 一 次進(jìn)入近場(chǎng)區(qū)域的第 一接近時(shí) 刻77。特別地,如箭頭76所示,速度在所述第一接近時(shí)刻77處基本上 為零,在該第一接近時(shí)刻處可以將空氣隙伺服系統(tǒng)切換到閉環(huán)操作。因此,如圖所示,在某個(gè)時(shí)間點(diǎn)戶(hù)tn處光頭的正峰值位置開(kāi)始進(jìn)入近場(chǎng)區(qū)。因此,如果在t=tn處出現(xiàn)從開(kāi)環(huán)接近控制到閉環(huán)或交接控制的模式切換, 那么在該切換時(shí)刻光頭的速度就保持為零。從而,在平坦記錄載體上, 即使采樣率相對(duì)較低,也能夠顯著降低所述切換時(shí)刻處瞬態(tài)響應(yīng)中的過(guò)沖。所述空氣隙伺服機(jī)構(gòu)中拉入方法的效果在于,當(dāng)光頭從其遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)接 近近場(chǎng)區(qū)時(shí),幅度遞增正弦信號(hào)纟皮施加到致動(dòng)器上。如現(xiàn)在針對(duì)具有跳 動(dòng)的非平坦記錄載體所解釋的,周期性激勵(lì)被同步到該跳動(dòng)上。在實(shí)踐中非常優(yōu)選的是,例如在上電期間或者當(dāng)空氣隙伺服系統(tǒng)執(zhí) 行透鏡的(臨時(shí))安全性回拉(pull-back)時(shí)在旋轉(zhuǎn)盤(pán)上啟動(dòng)空氣隙伺 服系統(tǒng)。這在驅(qū)動(dòng)操作期間由于臨時(shí)沖擊或振動(dòng)、盤(pán)上的局部缺陷等原 因而會(huì)發(fā)生。因此,所述空氣隙伺服機(jī)構(gòu)需要在優(yōu)選地不停止盤(pán)的情況12下再次啟動(dòng),以便盡可能迅速地中斷所述驅(qū)動(dòng)操作。對(duì)于旋轉(zhuǎn)盤(pán)的情況,WO2005/101391中描述的擺動(dòng)拉入過(guò)程并沒(méi)有 在從開(kāi)環(huán)操作到閉環(huán)操作的切換時(shí)刻保證小的過(guò)沖。在該已知系統(tǒng)中, 圖4中光頭位移的正的正弦峰并不對(duì)應(yīng)于盤(pán)和SIL之間的最小空氣隙距 離,這又不保證在所述切換時(shí)刻下光頭的速度接近于零。圖5示出了透鏡和盤(pán)之間的空氣隙。圖中詳細(xì)地示出了具有記錄層 12的記錄載體11。該記錄載體對(duì)于不完全平坦的實(shí)際記錄載體是示例 性的。致動(dòng)器51位于記錄載體11的上方,該記錄載體如箭頭57所示 進(jìn)行旋轉(zhuǎn)。致動(dòng)器51是光頭的一部分,所述光頭具有另外的光學(xué)元件 (例如另外的透鏡53 )和主動(dòng)元件(例如檢測(cè)器和/或激光器(未示出))。 致動(dòng)器51用于將透鏡52移到近場(chǎng)距離,其通過(guò)例如由圖1中示出的空 氣隙控制器32所提供的致動(dòng)器控制信號(hào)來(lái)供電。在旋轉(zhuǎn)期間,盤(pán)表面沿如箭頭56所示垂直于所述表面的方向移動(dòng), 造成也稱(chēng)為軸向跳動(dòng)的盤(pán)位移,例如40]am。應(yīng)當(dāng)注意,在實(shí)踐中,所 需的空氣隙可能比該軸向跳動(dòng)小若干數(shù)量級(jí),例如20nm。該跳動(dòng)在透 鏡52的位置處具有最小值,在箭頭56的位置處具有最大值。在透鏡52 的位置處存在空氣隙55,其可以定義為相對(duì)于基準(zhǔn)水平54 (例如光頭 位置)的透鏡位置y和盤(pán)位移yd之差。圖6示出了沒(méi)有同步的擺動(dòng)拉入過(guò)程。該圖示出了豎軸表示軸向跳 動(dòng)、水平軸表示時(shí)間的曲線(xiàn)圖。假定在記錄載體的一次旋轉(zhuǎn)期間跳動(dòng)在 正弦樣式下具有單一最大值和單一最小值。第一曲線(xiàn)63代表透鏡位置y, 其如上所述由周期性激勵(lì)信號(hào)進(jìn)行移動(dòng)。第二曲線(xiàn)62代表盤(pán)位移yd, 第三曲線(xiàn)61代表得到的空氣隙(yd-y)。沒(méi)有施加同步化。對(duì)于旋轉(zhuǎn)的 盤(pán),這種擺動(dòng)拉入過(guò)程并不保證在切換時(shí)刻U,光頭的速度如箭頭64所 示接近于零。在圖5和6示出的實(shí)例中,盤(pán)以3Hz的頻率旋轉(zhuǎn),同時(shí)光頭以lHz 的頻率擺動(dòng),其具有相對(duì)于盤(pán)旋轉(zhuǎn)的一定相位偏移。在這個(gè)特定的實(shí)例 中,透鏡52在進(jìn)入其中GES可用的近場(chǎng)區(qū)域時(shí)具有顯著的速度,因此 在切換時(shí)刻ts、、,可能出現(xiàn)大的過(guò)沖,導(dǎo)致透鏡與光盤(pán)的碰撞。為了調(diào)整所述擺動(dòng)拉入過(guò)程以便有效地適應(yīng)旋轉(zhuǎn)的盤(pán),使光學(xué)透鏡 位移的正的正弦峰同步以便對(duì)應(yīng)于盤(pán)表面和透鏡52之間的最小空氣隙 距離。對(duì)此可以如下設(shè)置正弦激勵(lì)電壓生成塊。以及透鏡和盤(pán)之間的空氣隙。同步正弦 發(fā)生器34具有用于接收指示旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)控制信號(hào)Rpm的同步輸入端60。同步正弦發(fā)生器34具有耦合到發(fā)生器單元66的計(jì)數(shù)器單元65,該 發(fā)生器單元66具有用于產(chǎn)生同步正弦波的輸出端67,以便產(chǎn)生用于周 期性激勵(lì)透鏡52的致動(dòng)器控制信號(hào)v(k)。計(jì)數(shù)器單元65處理旋轉(zhuǎn)控制 信號(hào)Nrpm (例如來(lái)自轉(zhuǎn)速發(fā)生器的轉(zhuǎn)速脈沖序列),以便產(chǎn)生指示記錄 載體的旋轉(zhuǎn)位置的同步信號(hào)k。發(fā)生器單元66具有另外的輸入端,其接 收盤(pán)位移信息,特別是如箭頭68所示的最小盤(pán)位移N腿的位置58以及 如箭頭69所示的最大盤(pán)位移Nmax的位置59。最小和最大盤(pán)位移是相對(duì) 于旋轉(zhuǎn)位置,例如基于同步信號(hào)k來(lái)定義的。通過(guò)圖7中示出的電路34,將正弦激勵(lì)電壓與盤(pán)的旋轉(zhuǎn)同步。這是 通過(guò)利用例如來(lái)自主軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)電路的轉(zhuǎn)速脈沖來(lái)實(shí)現(xiàn)的。正弦激勵(lì)電 壓的相位的初始設(shè)置使得光頭位移的正的正弦峰對(duì)應(yīng)于圖7中盤(pán)位移yd 的最小值,其可以例如根據(jù)驅(qū)動(dòng)器啟動(dòng)校準(zhǔn)期間的盤(pán)傾斜校正過(guò)程或者 根據(jù)驅(qū)動(dòng)操作期間的存儲(chǔ)回路伺服控制器來(lái)檢測(cè)。如圖7所示,主軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)電路在每一次盤(pán)旋轉(zhuǎn)就提供Nrpm個(gè)轉(zhuǎn)速 脈沖,并且盤(pán)位移yd在轉(zhuǎn)速脈沖數(shù)Nmm和Nmax下分別具有其最小值和最大值。然后,可以如下給出激勵(lì)電壓v(k):粉△V ,vn +-Al…sm2;r其中k在這種情況下為范圍從1到Nrpm的轉(zhuǎn)速脈沖數(shù),V0、 AV分別為初 始電壓和每次旋轉(zhuǎn)中的電壓增量。圖8示出了同步的激勵(lì)信號(hào)。像圖6—樣,該圖示出了豎軸表示軸 向跳動(dòng)、水平軸表示時(shí)間的曲線(xiàn)圖。第一曲線(xiàn)83代表透鏡的位置y,所 述透鏡由如上所迷同步化的周期性激勵(lì)信號(hào)所移動(dòng)。第二曲線(xiàn)82代表 盤(pán)位移yd,第三曲線(xiàn)代表得到的空氣隙(yd-y)。應(yīng)當(dāng)注意,已經(jīng)施加旋壽i的盤(pán)位移的原因產(chǎn)生了正弦空氣隙。對(duì);旋轉(zhuǎn)的盤(pán):言:'、這種新的擺動(dòng)拉入過(guò)程的確保證了在從開(kāi)環(huán)操作到閉環(huán)操作的切換時(shí)刻tsw,光頭 的速度如箭頭84所示接近于零。因此,這種新的空氣隙伺服機(jī)構(gòu)能夠用在旋轉(zhuǎn)盤(pán)上。其主要思想在于保證光頭最大位移的增大與盤(pán)的旋轉(zhuǎn)同 步,并且它對(duì)應(yīng)于SIL和盤(pán)之間的最小空氣隙距離。擺動(dòng)拉入過(guò)程提供了遞增的周期性信號(hào),例如如圖6和8所示的幅度遞增的正弦信號(hào)。該正弦信號(hào)保證了當(dāng)所述光頭到達(dá)近場(chǎng)區(qū)時(shí)該光頭 的速度為零或者非常小。最后,應(yīng)當(dāng)指出的是,用于接近控制的正弦激勵(lì)是遞增周期性信號(hào)。 這可以通過(guò)利用正弦信號(hào)調(diào)制例如為斜波信號(hào)的遞增信號(hào)來(lái)實(shí)現(xiàn)。該周者非常小?;谙嗤脑?,各種實(shí)施例可以使用例如下面給出的其他 周期性遞增信號(hào)。圖9示出了遞增周期性激勵(lì)信號(hào)的各種實(shí)施例。圖9A示出了疊加 在斜波上的幅度輕微遞增的周期性信號(hào)。圖9B示出了疊加在斜波上的 幅度顯著遞增的正弦信號(hào)。圖9C中給出了另一種可能性,其中低通濾 波的階梯信號(hào)被施加給致動(dòng)器。在這些圖的每一幅中,左圖示出了歸一 化的控制電流,右圖示出了歸一化的位置(上曲線(xiàn))和速度(下曲線(xiàn)), 速度在透鏡接近所述表面的接近時(shí)刻基本上為零。應(yīng)當(dāng)注意實(shí)際的考慮在所有的這些實(shí)施例中,所選擇的激勵(lì)輸入 信號(hào)的頻率應(yīng)當(dāng)充分低于下方的致動(dòng)器的共振頻率,以便避免在接近控 制期間出現(xiàn)不希望的共振振蕩。此外,在每個(gè)所述接近時(shí)刻之間的致動(dòng) 器位置的增量(其例如在圖9A中用Ay表示)應(yīng)當(dāng)小于GES線(xiàn)性范圍 或者與GES線(xiàn)性范圍相當(dāng)。盡管已經(jīng)主要通過(guò)施加到近場(chǎng)光學(xué)記錄系統(tǒng)的空氣隙伺服機(jī)構(gòu)的 實(shí)施例說(shuō)明了本發(fā)明,但是本發(fā)明也適用于在任何透鏡和記錄載體表面 之間需要小的空氣隙的其他記錄載體和光頭系統(tǒng),例如矩形光卡、磁光 盤(pán)或任何其他類(lèi)型的信息存儲(chǔ)系統(tǒng),或者近場(chǎng)掃描顯微鏡系統(tǒng)。因此, 措詞"近場(chǎng)光學(xué)記錄"包括任何這樣的系統(tǒng)。應(yīng)當(dāng)指出的是,在本文中, 措詞"包括,,并不排除存在未列出的其他元件和步驟,元件之前的措詞 "一"或"一個(gè)"并不排除存在多個(gè)這樣的元件,任何附圖標(biāo)記并不限制權(quán) 利要求的范圍,本發(fā)明可以借助于硬件和軟件二者來(lái)實(shí)現(xiàn),以及若干"裝 置,,或"單元"可以由同一硬件或軟件項(xiàng)來(lái)表示。此外,本發(fā)明的范圍并不 限于這些實(shí)施例,并且本發(fā)明存在于每一種新穎特征或者上述特征的組 合之中。
權(quán)利要求
1.用于近場(chǎng)光學(xué)記錄的設(shè)備,信息由記錄載體(11)上的軌道中的標(biāo)記所表示,該設(shè)備包括-光頭(22),其包括由透鏡致動(dòng)器定位于記錄載體表面的近場(chǎng)距離處以便在軌道上產(chǎn)生掃描光斑的透鏡,以及-空氣隙控制器(32),其用于控制透鏡和所述表面之間的空氣隙,所述空氣隙控制器具有用于通過(guò)向透鏡致動(dòng)器提供遞增的周期性激勵(lì)信號(hào)來(lái)將透鏡從遠(yuǎn)距離帶到近場(chǎng)距離的接近模式,以便產(chǎn)生透鏡接近所述表面的一系列接近時(shí)刻,透鏡在這些接近時(shí)刻在垂直于所述表面的方向上具有基本上為零的速度,并且所述一系列接近時(shí)刻隨后將透鏡帶到更靠近所述表面的位置,以及-控制裝置(20),其用于-控制記錄載體的旋轉(zhuǎn),-檢測(cè)記錄載體表面在光頭方向上的盤(pán)位移,所述空氣隙控制器(32)被設(shè)置用于-將周期性激勵(lì)和記錄載體的旋轉(zhuǎn)同步,使得在垂直于所述表面的方向上具有基本上為零的速度的所述接近時(shí)刻之一對(duì)應(yīng)于盤(pán)位移的最小值。
2. 如權(quán)利要求l所述的設(shè)備,其中控制裝置(20)包括用于檢測(cè)記 錄載體的旋轉(zhuǎn)位置的位置裝置(36)以及用于存儲(chǔ)對(duì)應(yīng)于所述盤(pán)位移最 小值的峰值旋轉(zhuǎn)位置的存儲(chǔ)器(37)。
3. 如權(quán)利要求l所述的設(shè)備,其中位置裝置(36)被設(shè)置用于檢測(cè) 根據(jù)所述旋轉(zhuǎn)位置產(chǎn)生的轉(zhuǎn)速脈沖。
4. 如權(quán)利要求1所述的設(shè)備,其中空氣隙控制器(32)包括同步正 弦發(fā)生器(34),該同步正弦發(fā)生器(34)具有用于接收指示旋轉(zhuǎn)的控 制信號(hào)的輸入端以及用于產(chǎn)生同步正弦波的輸出端,該同步正弦波用于 產(chǎn)生所述周期性激勵(lì)。
5. 如權(quán)利要求1所述的設(shè)備,其中所述遞增周期性激勵(lì)信號(hào)包括幅 度遞增的周期性信號(hào)。
6. 如權(quán)利要求1所述的設(shè)備,其中所述遞增周期性激勵(lì)信號(hào)包括斜 波分量。
7. 如權(quán)利要求1所述的設(shè)備,其中所述遞增周期性激勵(lì)信號(hào)包括低 通濾波的階梯分量。
8. 如權(quán)利要求l所述的設(shè)備,其中空氣隙控制器(32)被設(shè)置用于 在接近模式下檢測(cè)透鏡何時(shí)在所述接近時(shí)刻之一處位于近場(chǎng)距離(355 )之內(nèi);以及當(dāng)透鏡位于近場(chǎng)距離之內(nèi)時(shí)切換到閉環(huán)才莫式。
9. 如權(quán)利要求1所述的設(shè)備,其中控制裝置(20)被設(shè)置用于通過(guò) 處理伺服信號(hào)來(lái)檢測(cè)記錄載體表面在光頭方向上的盤(pán)位移,所述處理伺 服信號(hào)來(lái)自用于將輻射束聚焦在記錄載體的層上的聚焦伺服系統(tǒng)(38 ), 在特定情況下該聚焦伺服系統(tǒng)(38)被設(shè)置用于聚焦波長(zhǎng)不同于所述掃 描光斑波長(zhǎng)的輻射束。
10. —種用于將透鏡從遠(yuǎn)距離帶到記錄載體表面的近場(chǎng)距離以便用 于近場(chǎng)光學(xué)記錄的拉入方法,該方法包括-向透鏡致動(dòng)器提供遞增的周期性激勵(lì),以便產(chǎn)生透鏡接近所述表面 的一系列接近時(shí)刻,透鏡在這些接近時(shí)刻在垂直于所述表面的方向上具 有基本上為零的速度,并且所述一系列接近時(shí)刻隨后將透鏡帶到更靠近 所述表面的4立置,-控制記錄載體的旋轉(zhuǎn),-檢測(cè)記錄載體表面在光頭方向上的盤(pán)位移,以及 -將所述周期性激勵(lì)和記錄載體的旋轉(zhuǎn)同步,使得在垂直于所述表面最小;。 土、 、、又、 、、 '; 全文摘要
一種設(shè)備經(jīng)由近場(chǎng)光學(xué)記錄在記錄載體上的軌道中讀取和/或記錄標(biāo)記。該設(shè)備具有包含透鏡的光頭,所述透鏡被定位于記錄載體表面的近場(chǎng)距離處??諝庀犊刂破饔糜诳刂仆哥R和所述表面之間的空氣隙(81),并且具有將透鏡從遠(yuǎn)場(chǎng)中的遠(yuǎn)距離帶到近場(chǎng)距離的接近模式。此外,該控制器提供了用于產(chǎn)生透鏡接近所述表面的一系列接近時(shí)刻的遞增周期性激勵(lì)信號(hào)(83)。在這些接近時(shí)刻處,透鏡具有基本上為零的速度(84)。所述一系列接近時(shí)刻隨后使透鏡更靠近所述表面。當(dāng)透鏡在所述接近時(shí)刻之一進(jìn)入近場(chǎng)范圍時(shí),所述空氣隙控制器切換到閉環(huán)模式。所述周期性激勵(lì)(83)與記錄載體的旋轉(zhuǎn)同步,使得所述接近時(shí)刻對(duì)應(yīng)于盤(pán)位移(82)的最小值。
文檔編號(hào)G11B7/135GK101326578SQ200680046077
公開(kāi)日2008年12月17日 申請(qǐng)日期2006年11月29日 優(yōu)先權(quán)日2005年12月6日
發(fā)明者李周鎰 申請(qǐng)人:皇家飛利浦電子股份有限公司
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