專利名稱：：故障信號生成電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及在光盤播放裝置中使用的故障信號生成電路。
背景技術(shù)：
：以往，在進(jìn)行CD-DA(CompactDiscDigitalAudio數(shù)字音頻光盤)、CD-R(CompactDiskRecordable可記錄光盤驅(qū)動器)、CD-RW(CompactDiskReWritable可重寫光盤)等的播放的光盤播放裝置中，使用把光盤的缺陷作為故障檢測的故障信號生成電路。在該缺陷中存在因盤的污跡和傷痕等引起的暗缺陷和因制造不良引起在鏡面上能夠看到的狀態(tài)(沒有色素膜的狀態(tài))的明缺陷。在此，在上述以往的故障信號生成電路中，例如有具備以下部分的電路(例如，參照特開2005-203006號公報)第1峰值保持電路，接收從光盤讀出與缺陷對應(yīng)地信號電平變化的RF(RadioFrequency射頻)信號，輸出與該RF信號大致同時變化的第1檢測信號；第2峰值保持電路，接收RF信號輸出時間常數(shù)長的第2檢測信號；電平調(diào)整電路，把第2檢測信號分壓成1/n；比較電路，把第1檢測信號和經(jīng)過分壓的第2檢測信號進(jìn)行比較輸出故障信號。即，在該故障信號生成電路中，比較電路以經(jīng)過分壓的第2檢測信號的電平為基準(zhǔn)值，按照和第1檢測信號的大小關(guān)系檢測故障并輸出故障信號。僅依照因CD-DA、CD-R盤的污跡和傷痕產(chǎn)生的暗缺陷使RF信號的電平降低的情況下，第1檢測信號的電平比經(jīng)過分壓的第2檢測信號的電平進(jìn)一步降低，能夠從比較電路輸出故障檢測信號，作為伺服性能沒有問題。另一方面，依照明缺陷使RF信號的電平上升的情況下，雖然第1檢測信號的電平上升，但和分壓后的第2檢測信號的電平的大小關(guān)系沒有改變。因而，不能從比較電路輸出故障信號，存在不能正常地把明缺陷作為故障檢測的問題。進(jìn)而，例如，因?yàn)樵贑D-RW播放時把播放裝置設(shè)置成高增益，所以由于明缺陷的檢查結(jié)束，有時第1檢測信號的電平下降到比分壓后的第2檢測信號的電平還低。此時，變成比較電路輸出暗缺陷的故障信號，其結(jié)果，存在光盤裝置的伺服性能惡化，播放變得困難的問題。
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的一個形態(tài)的故障信號生成電路具備低通濾波電路，依照光盤的暗缺陷、明缺陷，接收信號電平從基準(zhǔn)電平一方向高電平變化另一方向低電平變化的輸入信號，輸出與該輸入信號相比時間常數(shù)長的低通濾波信號；計算電路，計算上述輸入信號的電平和上述低通濾波信號的電平的差，輸出第1計算值；缺陷判定電路，根據(jù)上述第1計算值的符號判定是暗缺陷還是明缺陷；故障檢測判定電路，比較上述第1計算值的絕對值和第1基準(zhǔn)值的絕對值，在上述第1計算值的絕對值大時，判定為檢測出故障；以及輸出電路，當(dāng)在由上述缺陷判定電路判定為檢測出故障的同時，由上述缺陷判定電路判定為缺陷是暗缺陷的情況下，輸出表示檢測出暗缺陷的故障的第1故障信號，當(dāng)在由上述故障檢測判定電路判定為檢測出故障的同時，由上述缺陷判定電路判定為缺陷是明缺陷的情況下，輸出表示檢測出明缺陷的故障的第2故障信號。圖1是表示涉及本發(fā)明的實(shí)施例1的故障信號生成電路主要構(gòu)成的方框圖。圖2是表示輸出涉及本發(fā)明的實(shí)施例1的故障信號生成電路的輸出故障信號的動作的流程圖。圖3是表示涉及本發(fā)明的實(shí)施例1的故障信號生成電路解除故障檢測的動作的流程圖。圖4是表示進(jìn)行涉及本發(fā)明的實(shí)施例1的故障信號生成電路的暗缺陷的故障檢測的定時波形的圖。圖5是表示進(jìn)行涉及本發(fā)明的實(shí)施例1的故障信號生成電路的明缺陷的故障檢測的定時波形的圖。圖6是表示具備了涉及本發(fā)明的實(shí)施例1的故障信號生成電路的光盤裝置主要構(gòu)成的一個例子的方框圖。具體實(shí)施例方式涉及本發(fā)明的故障信號生成電路，依照光盤的暗缺陷、明缺陷，接受信號電平從基準(zhǔn)電平一方向高電平變化另一方向低電平變化的輸入信號，把光盤的暗缺陷以及明缺陷作為故障更正確地進(jìn)行檢測，向光盤播放裝置的伺服系統(tǒng)輸出故障信號。以下，參照涉及本發(fā)明的實(shí)施例。圖1是表示涉及本發(fā)明的實(shí)施例1的故障信號生成電路的主要構(gòu)成的方框圖。如圖1所示，向故障信號生成電路100中輸入，依照例如，與CD-DA、CD-R、CD-RW等的光盤的暗缺陷、明缺陷，信號電平一方從基準(zhǔn)電平向高電平變化，另一方向低電平變化的輸入信號(例如，RFDC(RadioFrequencyDirectCurrent射頻直流信號))，或者，輔助光束和信號(SBAD(SubbeamAddition)信號))。而且，所謂RFDC信號是RF信號的直流成分的信號，根據(jù)光盤的主光束輸出而生成。此外，所謂輔助光束是跟蹤伺服機(jī)構(gòu)的控制信號，是拾波輸出的E信號和F信號。而后，該E信號和F信號的和(E+F)是輔助光束和信號。例如，該SBAD信號的電平依照光盤的暗缺陷從基準(zhǔn)電平下降，當(dāng)暗缺陷消失則電平返回到基準(zhǔn)電平。另一方面，依照光盤的明缺陷電平從基準(zhǔn)電平向上升，當(dāng)明缺陷消失則電平返回到基準(zhǔn)電平。在此，故障信號生成電路100具備低通濾波器1，接收上述輸入信號，輸出與該輸入信號相比時間常數(shù)更長的低通濾波信號；計算電路2，計算輸入信號的電平和低通濾波信號的電平的差，輸出第1計算值；缺陷判定電路3，用該第1計算值的符號判定是暗缺陷還是明缺陷；故障檢測判定電路4，進(jìn)行第1計算值的絕對值和基準(zhǔn)值的絕對值的比較，判定是否檢測到了故障；輸出電路5，根據(jù)該故障檢測判定電路4和缺陷判定電路3的判定結(jié)果，把故障信號輸出到伺服系統(tǒng)(未圖示)。計算電路2例如計算第1計算值即輸入信號(在此，是SBAD信號)的電平A和低通濾波信號的電平B的差(A-B)。例如，當(dāng)依照光盤的暗缺陷SBAD信號的電平A下降的情況下，第1計算值(A-B)變?yōu)樨?fù)。另一方面，當(dāng)與明缺陷對應(yīng)地SBAD信號的電平A上升的情況下，第1計算值(A-B)變成正。而后，計算電路2把該第1計算值(A-B)輸出到缺陷判定電路3。在此，缺陷判定電路3根據(jù)該第1計算值的符號，在向輸出電路5輸出判定為是暗缺陷、明缺陷的結(jié)果的同時，還向計算電路2輸出。故障檢測判定電路4例如進(jìn)行第1計算值的絕對值和第1基準(zhǔn)值的絕對值的比較，當(dāng)該第1計算值的絕對值大的情況下，判定為檢測出故障。另一方面，當(dāng)?shù)?計算值的絕對值小于等于第1基準(zhǔn)值的絕對值的情況下，故障檢測判定電路4判定為未檢測出故障。而后，故障檢測判定電路4把這些檢測判定結(jié)果輸出到輸出電路5。此外，故障檢測判定電路4當(dāng)正在檢測出故障的情況下，把表示故障檢測中的故障標(biāo)志設(shè)置信號(設(shè)置信號)輸出到計算電路2。輸出電路5當(dāng)在用故障檢測判定電路4判定為檢測到了故障的同時用缺陷判定電路3判定為缺陷是暗缺陷的情況下，輸出表示檢測到了暗缺陷的故障的第1故障信號。另一方面，輸出電路5當(dāng)在用故障檢測判定電路4判定為檢測到故障的同時用缺陷判定電路3判定為缺陷是明缺陷的情況下，輸出表示檢測到了明缺陷的故障的第2故障信號。進(jìn)而，故障信號生成電路100具備故障解除判定電路6，進(jìn)行第2計算值和第2基準(zhǔn)值的絕對值的比較，在第2計算值大時，判定為已檢測不到故障。在此，計算電路2如已說明的那樣，在第1計算值的符號是負(fù)的情況下，當(dāng)接收到故障標(biāo)志設(shè)置信號(設(shè)置信號)后，再次進(jìn)行輸入信號的電平A和低通濾波信號的電平B的差的計算(A-B)，計算出第2計算值。另一方面，當(dāng)?shù)?計算值的符號是正的情況下，計算電路2當(dāng)接收到故障標(biāo)志設(shè)置信號(設(shè)置信號)后，進(jìn)行與計算該第1計算值的差的計算(A-B)的符號相反的(B-A)計算，計算第2計算值。而后，計算電路2向該故障解除判定電路6輸出上述第2計算值。故障解除判定電路6進(jìn)行該第2計算值和第2基準(zhǔn)值的絕對值的比較，當(dāng)?shù)?計算值比第2基準(zhǔn)值還大時判定為已不能檢測到故障。另一方面，故障解除判定電路6進(jìn)行第2計算值和第2基準(zhǔn)值的絕對值的比較，當(dāng)?shù)?計算值比第2基準(zhǔn)值還小時判定為處于故障檢測中。故障解除判定電路6把這些解除判定結(jié)果輸出到輸出電路5。而后，輸出電路5根據(jù)該故障解除判定電路6的輸出，禁止第1以及第2故障信號的輸出。即，輸出電路5當(dāng)判定為已不能檢測出故障的情況下，禁止第1以及第2故障信號的輸出。另一方面，輸出電路5當(dāng)判定為故障處于檢測中的情況下，繼續(xù)第1以及第2故障信號的輸出。另外，故障解除判定電路6當(dāng)判定為已不能檢測到故障后，則向計算電路2輸出故障標(biāo)志復(fù)位信號(復(fù)位信號)。由此，計算電路2在依照下一缺陷SBAD信號的電平發(fā)生變化的情況下，把第1計算值輸出到缺陷判定電路3以及故障檢測判定電路4。進(jìn)而，故障信號生成電路100具備計時電路7，輸出禁止信號，用于在輸出電路5的故障信號的輸出受到禁止后在規(guī)定期間，禁止暗缺陷或者明缺陷的故障的檢測。在此，向計時電路7輸入禁止上述的輸出電路5的第1以及第2故障信號的輸出的信號。接收到該信號的計時電路7向計算電路2輸出禁止信號。根據(jù)該禁止信號的輸入，計算電路2設(shè)置成輸入信號和低通濾波信號相等，即設(shè)置成計算值＝0，輸出信號。由此，判定為未能用故障檢測判定電路4檢測出故障。即，該規(guī)定期間(維持計算值＝0的狀態(tài)的期間)禁止故障的檢測。其結(jié)果，在該規(guī)定期間中，不能從輸出電路5輸出故障信號。而且，在此，雖然把上述禁止信號輸入到計算電路2，但也可以用該禁止信號例如控制輸出電路5，在規(guī)定期間禁止第1以及第2故障信號的輸出。進(jìn)而，故障信號生成電路100具備明缺陷檢測禁止電路8，禁止表示檢測到了明缺陷的故障的第2故障信號的輸出。如上所述，明缺陷是因制造不良引起能夠看到鏡面的狀態(tài)(沒有色素膜的狀態(tài))的缺陷，存在比因盤的污漬和傷痕等引起的暗缺陷還小，故障期間短的情況。這樣在故障期間短的情況下，如果實(shí)施檢測動作輸出第2故障信號，則還要考慮對伺服性能的影響。因而，特別是在不需要檢測明缺陷的故障的情況下，明缺陷檢測禁止電路8向輸出電路5輸出明缺陷禁止信號，并強(qiáng)制禁止第2故障信號的輸出。由此，例如，根據(jù)伺服系統(tǒng)的規(guī)格等，可以有選擇地切換故障信號生成電路100的功能。以下，按照流程圖說明關(guān)于具有以上那樣的構(gòu)成、功能的故障信號生成電路100的動作。圖2是表示輸出涉及本發(fā)明的實(shí)施例1的故障信號生成電路的故障信號的動作的流程圖。首先，如圖2所示，把輸入信號(SBAD信號)輸入到故障信號生成電路100(步驟S1)。接著，低通濾波器電路1處理該SBAD信號，把與輸入信號相比時間常數(shù)更長的低通濾波信號輸出到計算電路2(步驟S2)。接著，計算電路2計算SBAD信號和低通濾波信號的差(A-B)，把第1計算值輸出到缺陷判定電路3以及故障檢測判定電路4(步驟S3)。接著，缺陷判定電路3接收該輸出，根據(jù)第1計算值的符號，判定是暗缺陷還是明缺陷(步驟S4)。在該步驟S4中，當(dāng)?shù)?計算值的符號是正的情況下，這里判定缺陷是明缺陷，當(dāng)?shù)?計算值的符號是負(fù)的情況下，判定缺陷是暗缺陷。把該暗/明判定結(jié)果從缺陷判定電路3輸出到計算電路2以及輸出電路5。當(dāng)?shù)?計算值的符號是負(fù)，即判定為是暗缺陷的情況下，故障檢測判定電路4進(jìn)行第1計算值的絕對值和第1基準(zhǔn)值的絕對值的比較，判定有無故障檢測出來(步驟S5)。當(dāng)?shù)?計算值的絕對值小于等于第1基準(zhǔn)值的絕對值的情況下，用故障檢測判定電路4判定為未檢測出故障，再次返回步驟S1。另一方面，當(dāng)?shù)?計算值的絕對值比第1基準(zhǔn)值的絕對值還大的情況下，用故障檢測判定電路4判定為已檢測出故障。把這些檢測判定結(jié)果從故障檢測判定電路4輸出到輸出電路5。在步驟S5中，當(dāng)用故障檢測判定電路4判定為檢測出故障的情況下，輸出電路5把表示檢測出暗缺陷的故障的第1故障信號作為故障信號生成電路100的輸出進(jìn)行輸出(步驟S6)。另一方面，在步驟S4中，當(dāng)?shù)?計算值的符號是正，即當(dāng)判定是明缺陷的情況下，故障檢測判定電路4進(jìn)行第1計算值的絕對值和第1基準(zhǔn)值的絕對值的比較，判定有無故障檢測出來(步驟S7)。當(dāng)?shù)?計算值的絕對值小于等于第1基準(zhǔn)值的絕對值的情況下，用故障檢測判定電路4判定為未檢測出故障，返回步驟S1。另一方面，當(dāng)?shù)?計算值的絕對值比第1基準(zhǔn)值的絕對值還大的情況下，用故障檢測判定電路4判定為已檢測出故障。把這些檢測判定結(jié)果從故障檢測判定電路4輸出到輸出電路5。在此，在步驟S7之后，明缺陷檢測禁止電路8在不需要輸出明缺陷的故障信號的情況下，向輸出電路5輸出用于禁止第2故障信號的輸出的信號(步驟S8)。另一方面，當(dāng)需要輸出明缺陷的故障信號的情況下，轉(zhuǎn)移到步驟S6，把第2故障信號作為故障信號生成電路100的輸出從輸出電路5輸出。在步驟S6后，故障檢測判定電路4向計算電路2輸出故障標(biāo)志設(shè)置信號(設(shè)置信號)(步驟S9)。通過以上步驟，輸出故障信號生成電路100的缺陷的故障信號的動作結(jié)束，接著，轉(zhuǎn)移到解除故障檢測的動作。圖3是表示進(jìn)行涉及本發(fā)明的實(shí)施例1的故障信號生成電路的故障檢測的解除的動作的流程圖。首先，如圖3所示，把輸入信號(SBAD信號)輸入到故障信號生成電路100(步驟S10)。接著，低通濾波器電路1進(jìn)行該SBAD信號的處理，把與輸入信號相比時間常數(shù)更長的低通濾波信號輸出到計算電路2(步驟S11)。接著，接收到故障標(biāo)志設(shè)置信號(設(shè)置信號)的計算電路2根據(jù)第1計算值的符號，進(jìn)行SBAD信號和低通濾波信號的差的計算，把第2計算值輸出到故障解除判定電路6(步驟S12)。在此，計算電路2在第1計算值的符號是負(fù)的情況下(在此判定為是暗缺陷的情況)，再次進(jìn)行輸入信號的電平A和低通濾波信號的電平B的差的計算(A-B)，進(jìn)行第2計算值的計算。另一方面，當(dāng)?shù)?計算值的符號是正的情況下(在此判定為是明缺陷的情況)，計算電路2進(jìn)行與計算該第1計算值的差的計算(A-B)的符號相反的(B-A)計算，進(jìn)行第2計算值的計算。而后，計算電路2當(dāng)接收到故障標(biāo)志設(shè)置信號(設(shè)置信號)的情況下，把上述第2計算值輸出到該故障解除判定電路6。接著，故障解除判定電路6進(jìn)行第2計算值和第2基準(zhǔn)值的絕對值的比較，判定是否已不能檢測到故障(步驟S13)。在此，故障解除判定電路6進(jìn)行該第2計算值和第2基準(zhǔn)值的絕對值的比較，在第2計算值大時判定為已不能檢測到故障。另一方面，故障解除判定電路6在第2計算值比第2基準(zhǔn)值小時，判定為故障處于檢測中，返回步驟S10。把這些解除判定結(jié)果從故障解除判定電路6輸出到輸出電路5。在步驟S13中，當(dāng)判定為未檢測出故障的情況下，輸出電路5禁止對第1以及第2故障信號的輸出(步驟S14)。接著，故障解除判定電路6向計算電路2輸出故障標(biāo)志復(fù)位信號(復(fù)位信號)(步驟S15)。接著，接收到禁止輸出電路5輸出第1以及第2故障信號的信號的計時電路7開始禁止輸出電路5輸出故障信號的規(guī)定期間的計時(步驟S16)，在該規(guī)定期間中，即直至檢測禁止計時結(jié)束為止，向計算電路2輸出禁止信號，禁止檢測故障(步驟S17)。通過以上的流程，解除故障信號生成電路100的缺陷的故障檢測的動作結(jié)束，再次轉(zhuǎn)移到輸出下一故障信號的動作。在此，用以上流程說明所處理的各信號的定時波形。圖4是表示本發(fā)明實(shí)施例1的故障信號生成電路進(jìn)行暗缺陷的故障檢測的定時波形的圖。如圖4所示，SBAD信號依照暗缺陷，信號電平從基準(zhǔn)電平向下降低。而后，在時間t1以后，因?yàn)榈?計算值(A-B)的絕對值比第1基準(zhǔn)值(BDREF)的絕對值還大，所以故障檢測判定電路4判定為已檢測出故障。進(jìn)而，缺陷判定電路3因?yàn)榈?計算值(A-B)是負(fù)，所以判定為缺陷是暗缺陷。根據(jù)這些判定結(jié)果，輸出電路5輸出第1故障信號。接著，當(dāng)依照暗缺陷消失，SBAD信號的電平上升，則在時間t2，因?yàn)榈?計算值(A-B)比第2基準(zhǔn)值(BDREF2)還大，所以故障解除判定電路6判定為已不能檢測到故障。根據(jù)該判定，輸出電路5禁止第1故障信號的輸出。而后，在從時間t2到時間t3期間用計時電路7規(guī)定的規(guī)定期間中，用計算電路2計算成SBAD信號和低通濾波信號相等。由此，用故障檢測判定電路4判定為未檢測到故障。即，在該規(guī)定期間中，禁止故障的檢測，其結(jié)果，限制從輸出電路5輸出第1故障信號。圖5是表示涉及本發(fā)明的實(shí)施例1的故障信號生成電路進(jìn)行明缺陷的故障檢測的定時波形的圖。如圖5所示，SBAD信號依照明缺陷，信號電平從基準(zhǔn)電平上升到高電平。而后，在時間t1以后，因?yàn)榈?計算值(A-B)的絕對值比第1基準(zhǔn)值(BDREF)的絕對值還大，所以故障檢測判定電路4判定為已檢測出故障。進(jìn)而，缺陷判定電路3因?yàn)榈?計算值(A-B)是正，所以判定為缺陷是明缺陷。根據(jù)這些判定結(jié)果，輸出電路5輸出第2故障信號。接著，當(dāng)依照明缺陷消失，SBAD信號的電平下降，則在時間t2，因?yàn)榈?計算值(B-A)比第2基準(zhǔn)值(BDREF2)還大，所以故障解除判定電路6判定為已不能檢測到故障。根據(jù)該判定，輸出電路5禁止第2故障信號的輸出。而后，和圖4的情況一樣，在從時間t2到時間t3的期間，在由計時電路7規(guī)定的規(guī)定期間中，用計算電路2計算成SBAD信號和低通濾波信號是相等的電平。其結(jié)果，在該規(guī)定期間，限制從輸出電路5輸出的第1故障信號。在此，當(dāng)不需要輸出明缺陷的故障信號的情況下，因?yàn)槊魅毕輽z測禁止電路8控制輸出電路5，所以在從時間t1到時間t2的期間內(nèi)，不輸出第2故障信號。說明具備了具有以上那樣的構(gòu)成、功能的故障信號生成電路100的光盤裝置200的一個例子。圖6是表示具備有本發(fā)明的實(shí)施例1的故障信號生成電路的光盤裝置的主要構(gòu)成的一個例子的方框圖。如圖6所示，把從盤201讀取的信號從PU(拾波器)202輸入到RF-Amp203。該RF-Amp203進(jìn)行在盤播放中需要的信號(聚焦錯誤(FE)信號、跟蹤錯誤(TE)信號、RF波紋信號、輔助光束加算信號、RF信號、RFDC信號)的生成。伺服電路204的ADC(模擬-數(shù)字變換器)205把在RF-Amp203中生成的信號變換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)，輸出到聚焦伺服機(jī)構(gòu)206、跟蹤伺服機(jī)構(gòu)207、傳動伺服機(jī)構(gòu)208。另外，信號處理電路209進(jìn)行RF信號的處理，輸出到伺服電路204的盤電機(jī)伺服機(jī)構(gòu)210。伺服輸出電路211根據(jù)聚焦伺服機(jī)構(gòu)206、跟蹤伺服機(jī)構(gòu)207、傳動伺服機(jī)構(gòu)208、盤電機(jī)伺服機(jī)構(gòu)210的輸出，用驅(qū)動器212控制電機(jī)213以及PU202進(jìn)行盤201的播放。在此，當(dāng)在盤201上有故障的情況下，向故障信號生成電路100輸入SBAD信號(或者RFDC信號)進(jìn)行故障檢測。而后，根據(jù)故障信號生成電路100的輸出信號，伺服控制電路214輸出控制信號，通過控制聚焦伺服機(jī)構(gòu)以及跟蹤伺服機(jī)構(gòu)的輸出，能夠沒有誤動作地播放盤201。如上所述，如果采用本實(shí)施例的故障信號生成電路，則作為故障能夠更正確地檢測光盤的暗缺陷以及明缺陷，把故障信號輸出到光盤播放裝置的伺服系統(tǒng)。而且，在以上實(shí)施例中，用于判定故障的檢測的第1基準(zhǔn)值以及用于判定故障的檢測結(jié)束的第2基準(zhǔn)值可以根據(jù)光盤的種類和規(guī)格、伺服系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)適宜地進(jìn)行設(shè)定。權(quán)利要求1.一種故障信號生成電路，其特征在于包括低通濾波電路，依照光盤的暗缺陷、明缺陷，接收信號電平從基準(zhǔn)電平一方向高電平變化另一方向低電平變化的輸入信號，輸出與該輸入信號相比時間常數(shù)長的低通濾波信號；計算電路，計算上述輸入信號的電平和上述低通濾波信號的電平的差，輸出第1計算值；缺陷判定電路，根據(jù)上述第1計算值的符號判定是暗缺陷還是明缺陷；故障檢測判定電路，比較上述第1計算值的絕對值和第1基準(zhǔn)值的絕對值，在上述第1計算值的絕對值大時，判定為檢測出故障；以及輸出電路，當(dāng)在由上述缺陷判定電路判定為檢測出故障的同時，由上述缺陷判定電路判定為缺陷是暗缺陷的情況下，輸出表示檢測出暗缺陷的故障的第1故障信號，當(dāng)在由上述故障檢測判定電路判定為檢測出故障的同時，由上述缺陷判定電路判定為缺陷是明缺陷的情況下，輸出表示檢測出明缺陷的故障的第2故障信號。2.如權(quán)利要求1所述的故障信號生成電路，其特征在于上述計算電路在上述第1計算值的符號是負(fù)的情況下，和上述差的計算同樣地進(jìn)行計算，當(dāng)上述第1計算值的符號是正的情況下，上述計算電路進(jìn)行和上述差的計算符號相反的計算，輸出第2計算值，還包括故障解除判定電路，進(jìn)行上述第2計算值和第2基準(zhǔn)值的絕對值的比較，在上述第2計算值大時判定為已不能檢測出故障，上述輸出電路基于上述故障解除判定電路的輸出信號，禁止上述第1以及第2故障信號的輸出。3.如權(quán)利要求2所述的故障信號生成電路，其特征在于還包括計時電路，用于從上述輸出電路的故障信號的輸出受到禁止開始在規(guī)定期間內(nèi)，禁止暗缺陷或者明缺陷的故障的檢測。4.如權(quán)利要求1所述的故障信號生成電路，其特征在于還包括明缺陷檢測禁止電路，用于禁止上述輸出電路輸出上述第2故障信號。5.如權(quán)利要求2所述的故障信號生成電路，其特征在于還包括明缺陷檢測禁止電路，用于禁止上述輸出電路輸出上述第2故障信號。6.如權(quán)利要求3所述的故障信號生成電路，其特征在于還包括明缺陷檢測禁止電路，用于禁止上述輸出電路輸出上述第2故障信號。7.如權(quán)利要求1所述的故障信號生成電路，其特征在于上述輸入信號是RFDC信號或者SBAD信號。8.如權(quán)利要求2所述的故障信號生成電路，其特征在于上述輸入信號是RFDC信號或者SBAD信號。9.如權(quán)利要求3所述的故障信號生成電路，其特征在于上述輸入信號是RFDC信號或者SBAD信號。10.如權(quán)利要求4所述的故障信號生成電路，其特征在于上述輸入信號是RFDC信號或者SBAD信號。全文摘要本發(fā)明提供故障信號生成電路。本發(fā)明的一個實(shí)施方式的故障信號生成電路具備低通濾波電路，依照光盤的暗缺陷、明缺陷，接收信號電平從基準(zhǔn)電平一方向高電平變化另一方向低電平變化的輸入信號，輸出與該輸入信號相比時間常數(shù)長的低通濾波信號；計算電路，計算上述輸入信號的電平和上述低通濾波信號的電平的差，輸出第1計算值；缺陷判定電路，根據(jù)上述第1計算值的符號判定是暗缺陷還是明缺陷；故障檢測判定電路，比較上述第1計算值的絕對值和第1基準(zhǔn)值的絕對值，在上述第1計算值的絕對值大時，判定為檢測出故障；以及輸出電路，當(dāng)在由上述缺陷判定電路判定為檢測出故障的同時，由上述缺陷判定電路判定為缺陷是暗缺陷的情況下，輸出表示檢測出暗缺陷的故障的第1故障信號，當(dāng)在由上述故障檢測判定電路判定為檢測出故障的同時，由上述缺陷判定電路判定為缺陷是明缺陷的情況下，輸出表示檢測出明缺陷的故障的第2故障信號。文檔編號G11B20/18GK1971722SQ20061016250公開日2007年5月30日申請日期2006年11月24日優(yōu)先權(quán)日2005年11月25日發(fā)明者河野英知,藤盛裕明,若杉純申請人:株式會社東芝