專利名稱：基于聚焦誤差的高倍速數(shù)字通用光盤的質(zhì)量檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種基于聚焦誤差的高倍速數(shù)字通用光盤的質(zhì)量檢測方法，尤其涉及數(shù)字通用光盤(以下簡稱DVD)的高倍速DVD盤片質(zhì)量檢測方法，屬于光存儲技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
在目前DVD-player和DVD-ROM等光學(xué)盤片驅(qū)動設(shè)備中，光盤信息的記錄與提取，是通過光盤驅(qū)動設(shè)備實現(xiàn)的，它將來自激光器的光束變成亞微米光斑，并根據(jù)從盤片反射的光學(xué)信號進行聚焦及信道伺服控制，克服在光盤旋轉(zhuǎn)讀取中的各種誤差。盡管光盤驅(qū)動設(shè)備采用了伺服跟蹤系統(tǒng)以校正讀取過程中的各種誤差，但是由盤片本身所引起的誤差，如偏心、面振和反射率等，會對光盤驅(qū)動器及讀出RF信號產(chǎn)生各種有害影響，如盤片偏心過大能使驅(qū)動器產(chǎn)生噪聲，反射率過小將不能正常讀出盤片信息等。
因此，在DVD盤片生產(chǎn)過程中，光盤測試的目的是為光盤提供盤片質(zhì)量信息，剔除不合格盤片，提供對盤片復(fù)制線和生產(chǎn)環(huán)境參數(shù)進行調(diào)整的依據(jù)。
目前，在DVD光盤的工業(yè)生產(chǎn)過程中，傳統(tǒng)的光盤電參數(shù)質(zhì)量評價方法常以標準驅(qū)動器為核心，然后由信號評價模塊判斷盤片的質(zhì)量。傳統(tǒng)光盤電參數(shù)檢測方法通常采用離線評價方式，即通常在盤片完成之后進行參數(shù)評價，并且評價一張盤片需要較長時間，盤片測試時旋轉(zhuǎn)速度較低，相當于DVD盤片1～4倍速。
傳統(tǒng)的光盤參數(shù)檢測方法對于光盤質(zhì)量檢測可以基本滿足需要。然而由于傳統(tǒng)的光盤參數(shù)評價裝置檢測時間長，應(yīng)用于光盤的在線質(zhì)量管理時存在很大的局限性，不能實時反應(yīng)光盤生產(chǎn)質(zhì)量變化。并且傳統(tǒng)的光盤電參數(shù)評價時盤片轉(zhuǎn)速較低，不能反應(yīng)出DVD盤片在高倍速情況下的讀出信號質(zhì)量，用來檢測高倍速DVD盤片質(zhì)量具有很大的局限性。
發(fā)明目的本發(fā)明的目的是提出一種基于聚焦誤差的高倍速數(shù)字通用光盤的質(zhì)量檢測方法，利用高倍速下聚焦誤差的變化對盤片質(zhì)量進行動態(tài)檢測，并且判斷高倍速DVD的盤片質(zhì)量。
本發(fā)明提出的基于聚焦誤差的高倍速高密度盤片的質(zhì)量檢測方法，包括以下各步驟(1)設(shè)待測盤片的轉(zhuǎn)速為n倍速，使檢測系統(tǒng)初始化，用激光光束聚焦在光盤反射層上，光盤反射后得到原始反射光斑；(2)將上述反射光斑分成四個光斑區(qū)，對每個光斑區(qū)的光強進行光電轉(zhuǎn)換，得到四個電壓，分別代表四個光斑區(qū)的光強；(3)將上述代表四個光斑區(qū)光強的電壓信號進行四則運算得到聚焦誤差信號；(4)設(shè)定待測盤片質(zhì)量所期望的抖晃值，并測定與該抖晃值所對應(yīng)的標準盤片的聚焦偏置值；(5)將上述標準盤片的聚焦偏置值設(shè)定為待測盤片聚焦信號的峰峰值閥值，將上述待測盤片的聚焦誤差信號與峰峰值閥值進行比較，若聚焦誤差信號位于閥值內(nèi)，則待測盤片質(zhì)量合格，若聚焦誤差信號位于閥值外，則待測盤片質(zhì)量不合格。
本發(fā)明提出的基于聚焦誤差的高倍速數(shù)字通用光盤的質(zhì)量檢測方法，其優(yōu)點是對待測盤片的評價參數(shù)少，因此檢測速度快，適于在線、大批量快速檢測盤片的質(zhì)量，提高盤片檢測效率。


圖1是利用本發(fā)明方法檢測盤片質(zhì)量的裝置原理圖。
圖1中，1是盤片，2是物鏡，3是光電探測器，4是主軸電機。
具體實施方法本發(fā)明提出的基于聚焦誤差的高倍速數(shù)字通用光盤的質(zhì)量檢測方法，首先，設(shè)待測盤片的轉(zhuǎn)速為n倍速，使檢測系統(tǒng)初始化，用激光光束聚焦在光盤反射層上，光盤反射后得到原始反射光斑；將上述反射光斑分成四個光斑區(qū)，對每個光斑區(qū)的光強進行光電轉(zhuǎn)換，得到四個電壓，分別代表四個光斑區(qū)的光強；將上述代表四個光斑區(qū)光強的電壓信號進行四則運算得到聚焦誤差信號；設(shè)定待測盤片質(zhì)量所期望的抖晃值，并測定與該抖晃值所對應(yīng)的標準盤片的聚焦偏置值；將上述標準盤片的聚焦偏置值設(shè)定為待測盤片聚焦信號的峰峰值閥值，將上述待測盤片的聚焦誤差信號與峰峰值閥值進行比較，若聚焦誤差信號位于閥值內(nèi)，則待測盤片質(zhì)量合格，若聚焦誤差信號位于閥值外，則待測盤片質(zhì)量不合格。
本發(fā)明提出的基于聚焦誤差的高倍速數(shù)字通用光盤的質(zhì)量檢測方法，其依據(jù)的原理如圖1所示，下面將參照附圖更詳細地說明本發(fā)明的內(nèi)容。在圖1中，盤片1夾持在主軸電機4上。物鏡2可使盤片反射的光成像于四像限探測器3上，并可以通過雙軸力矩器沿跟蹤和聚焦方向移動。于是本檢測方法包括以下各步驟設(shè)定盤片的轉(zhuǎn)速為n倍速(n≥4)，光盤一倍速的線速度為3.49m/s。
聚焦伺服閉環(huán)，徑向伺服閉環(huán)，并調(diào)整系統(tǒng)，消除光電四像限探測器的徑向和切向偏差，從光盤上反射可得到原始反射光斑。
將每個光斑區(qū)的光強進行光電轉(zhuǎn)換，得到四個電壓Ua、Ub、Uc、Ud，分別代表四個光斑區(qū)的光強。將上述四個電壓信號進行四則運算得到聚焦誤差信號Ua+Uc-Ub-Ud。
設(shè)定盤片質(zhì)量所期望的抖晃Jitter值，測定該Jitter值所對應(yīng)的聚焦偏置Defocus值為fe1。設(shè)定聚焦信號的峰峰值閥值為±fe1，若聚焦誤差信號位于閥值內(nèi)，則盤片質(zhì)量合格，若聚焦誤差信號位于閥值外，則盤片質(zhì)量不合格。
權(quán)利要求
1.一種基于聚焦誤差的高倍速高密度盤片的質(zhì)量檢測方法，其特征在于該方法包括以下各步驟(1)設(shè)待測盤片的轉(zhuǎn)速為n倍速，使檢測系統(tǒng)初始化，用激光光束聚焦在光盤反射層上，光盤反射后得到原始反射光斑；(2)將上述反射光斑分成四個光斑區(qū)，對每個光斑區(qū)的光強進行光電轉(zhuǎn)換，得到四個電壓，分別代表四個光斑區(qū)的光強；(3)將上述代表四個光斑區(qū)光強的電壓信號進行四則運算得到聚焦誤差信號；(4)設(shè)定待測盤片質(zhì)量所期望的抖晃值，并測定與該抖晃值所對應(yīng)的標準盤片的聚焦偏置值；(5)將上述標準盤片的聚焦偏置值設(shè)定為待測盤片聚焦信號的峰峰值閥值，將上述待測盤片的聚焦誤差信號與峰峰值閥值進行比較，若聚焦誤差信號位于閥值內(nèi)，則待測盤片質(zhì)量合格，若聚焦誤差信號位于閥值外，則待測盤片質(zhì)量不合格。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種基于聚焦誤差的高倍速高密度盤片的質(zhì)量檢測方法，屬于光存儲技術(shù)領(lǐng)域。首先設(shè)待測盤片的轉(zhuǎn)速為n倍速，將光盤上的激光反射光斑分成四個光斑區(qū)，對每個光斑區(qū)對應(yīng)的四個電壓信號進行四則運算得到聚焦誤差信號；設(shè)定待測盤片質(zhì)量所期望的抖晃值，并測定與該抖晃值所對應(yīng)的標準盤片的聚焦偏置值；將標準盤片的聚焦偏置值設(shè)定為待測盤片聚焦信號的峰峰值閥值，將上述待測盤片的聚焦誤差信號與峰峰值閥值進行比較，若聚焦誤差信號位于閥值內(nèi)，則待測盤片質(zhì)量合格，若聚焦誤差信號位于閥值外，則待測盤片質(zhì)量不合格。本發(fā)明的方法，對待測盤片的評價參數(shù)少，因此檢測速度快，適于在線、大批量快速檢測盤片的質(zhì)量，提高盤片檢測效率。
文檔編號G11B7/26GK1758347SQ20051010240
公開日2006年4月12日 申請日期2005年9月9日 優(yōu)先權(quán)日2005年9月9日
發(fā)明者馬建設(shè), 張建勇, 潘龍法, 徐端頤, 秦利琴 申請人:清華大學(xué)