專利名稱：用于搜索可寫區(qū)的設備和方法,用于更新記錄管理信息的設備和方法,集成電路,以及一 ...的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及用于搜索可寫區(qū)的設備和方法，用于更新記錄管理信息的設備和方法，集成電路，以及一次寫入信息記錄介質(zhì)。
背景技術：
根據(jù)記錄特性，將作為信息記錄介質(zhì)的光盤分成多種。
僅能將信息記錄到相同記錄區(qū)中一次的一次寫入信息記錄介質(zhì)的一個例子，是一次寫入光盤。通常，一次寫入光盤與僅再現(xiàn)光盤高度兼容，并且相對而言比較廉價，從而，最近得以廣泛普及。一次寫入光盤的代表性例子包括DVD-R，CD-R等(“80mm(每面1.23吉字節(jié))和120mm(每面3.95吉字節(jié))DVD-可記錄盤(DVD-R)”，標準ECMA-279，1998年12月)。下面將描述DVD-R，作為一次寫入光盤的一個例子。
圖1表示DVD-R光盤100。DVD-R光盤100包括R信息區(qū)101和信息區(qū)102。
R信息區(qū)101包括PCA(功率校準區(qū))103和記錄管理區(qū)(RMARecording Management Area)104。PCA 103是執(zhí)行OPC(最佳功率控制)的區(qū)域。RMA 104是記錄有用于管理數(shù)據(jù)區(qū)106記錄狀態(tài)的信息的區(qū)域。
信息區(qū)102包括導入?yún)^(qū)105，數(shù)據(jù)區(qū)106和導出區(qū)107。導入?yún)^(qū)105和導出區(qū)107是控制信息記錄區(qū)，其中記錄有訪問數(shù)據(jù)區(qū)106所需的參數(shù)。在數(shù)據(jù)區(qū)106中，記錄用戶數(shù)據(jù)。將數(shù)據(jù)區(qū)106分成稱作RZone的記錄段。將表示每個RZone 161至163的記錄狀態(tài)的信息記錄到RMA 104中。
在附圖中，符號#n(n為整數(shù))表示區(qū)或信息的序號。信息的序號為，例如更新計數(shù)器數(shù)值。在圖1中，符號#n表示區(qū)域的序號。
圖2表示RMA 104。RMA 104存儲至少一段表示RZone的記錄狀態(tài)的記錄管理信息(RMDRecording Management Data)(例如，RMD 191，192，200)。
例如，當產(chǎn)生一個新的RZone時或者當從記錄/再現(xiàn)設備退出光盤時，更新RMD。從RMA 104的開始處記錄RMD。從而，在RMA 104的記錄區(qū)的終結(jié)端(緊靠未記錄區(qū)域190前面)記錄最新的RMD 200。
在最新的RMD 200中，有RZone的起始地址211至213，和表示RZone的記錄區(qū)的最后位置的最后記錄地址(LRALast RecordedAddress)221至223。當不存在RZone或者RZone中沒有記錄信息時，相應的LRA表示為0。
每次更新LRA時，并未將最新的RMD記錄到RMA 104中。從而，例如，當記錄/再現(xiàn)設備意外斷電時，讀取LRA的位置可能與真正的最后記錄位置不同。為了避免這一問題，通過搜索記錄區(qū)與未記錄區(qū)之間的邊界，檢測出真正的最后記錄位置。
圖3所示的流程圖表示，從將DVD-R光盤100裝入記錄/再現(xiàn)設備中開始直至將信息記錄到其上為止，記錄/再現(xiàn)設備所執(zhí)行的過程。
在步驟301中，從RMA 104讀出最新的RMD 200。
在步驟302中，參考步驟301中讀出的RMD 200，并尋找與可寫RZone相應的可寫地址(NWA下一可寫地址)。
圖4所示的流程圖表示圖3步驟301中過程的細節(jié)。
在步驟401中，指定RMA 104的起始地址為搜索起始地址，用于搜索記錄區(qū)與未記錄區(qū)之間的邊界。
在步驟402中，記錄/再現(xiàn)設備根據(jù)來自光盤的再現(xiàn)信號等，判斷是否已經(jīng)順次地將信息記錄到激光所照射的位置，從而搜索從搜索開始地址開始的記錄區(qū)與未記錄區(qū)之間的邊界。
判斷緊靠步驟402中檢測到的記錄區(qū)與未記錄區(qū)之間邊界后面的未記錄區(qū)的地址，是否與RMA 104的起始地址相匹配(步驟403)。當不匹配時，確定已經(jīng)記錄了RMD，流程轉(zhuǎn)到步驟404。當匹配時，確定沒有記錄RMD，流程轉(zhuǎn)到步驟405。
緊靠未記錄區(qū)前面的RMD為最新的RMD。從而，讀出緊靠步驟402中所檢測到的邊界前面的RMD，并將其存儲到記錄/再現(xiàn)設備中(步驟404)。
當緊靠所檢測出的記錄區(qū)與未記錄區(qū)之間的邊界之后的未記錄區(qū)的地址與RMA 104的起始地址相匹配時，則RMD還沒有被記錄到RMA 104中。在此情形中，例如，確定該光盤是全新的，并將表示這種狀態(tài)的標記存儲到記錄/再現(xiàn)設備中(步驟405)。
圖5所示的流程圖表示圖3步驟302的過程的細節(jié)。
在步驟501中，將步驟301中讀出的最新的RMD中所包含的可寫RZone的LRA的下一個地址，指定為搜索起始地址。
在步驟502中，從搜索起始地址開始尋找記錄區(qū)與未記錄區(qū)之間的邊界。
在步驟503中，確定緊靠步驟502中檢測出的邊界后面的未記錄區(qū)的地址為NWA。
根據(jù)上述過程，確定出作為真正可寫地址的NWA。對來自更高級別控制裝置，如個人計算機等的記錄指令作出響應，以NWA作為起始位置記錄數(shù)據(jù)。
圖6所示的流程圖表示在步驟402和502的過程中所使用的用于區(qū)別記錄區(qū)與未記錄區(qū)的示例方法。
在步驟601中，檢測從光盤讀出的再現(xiàn)信號的振幅。
判斷步驟601中所檢測出的振幅是否超過指定數(shù)值(步驟602)。當超過指定數(shù)值時，流程轉(zhuǎn)到步驟603，確定激光所照射的區(qū)域為記錄區(qū)。當再現(xiàn)信號的振幅等于或小于指定數(shù)值時，流程轉(zhuǎn)到步驟604，確定激光所照射的區(qū)域為未記錄區(qū)。
根據(jù)上述過程，搜索到記錄區(qū)與未記錄區(qū)之間的邊界。
與一次寫入光盤不同，在可重寫光盤中可將信息覆蓋到相同區(qū)域中。可重寫光盤的一個例子為DVD-RAM(參見標準ECMA-330“120mm(每面4.7吉字節(jié))和80mm(每面1.46吉字節(jié))DVD可重寫光盤(DVD-RAM)”，2001年12月)。
圖7表示DVD-RAM光盤(4.7吉字節(jié))700。DVD-RAM光盤700包括導入?yún)^(qū)701，兩個備用區(qū)702和704，數(shù)據(jù)區(qū)703，以及導出區(qū)705。
在DVD-RAM的情形中，在光盤制造過程中或者由于劃傷或污染光盤表面等，有可能會產(chǎn)生不能記錄/再現(xiàn)的區(qū)域(即，缺陷區(qū))。為了防止由于缺陷區(qū)的存在導致系統(tǒng)可靠性下降，執(zhí)行缺陷管理。在缺陷管理過程中，當在數(shù)據(jù)區(qū)703中檢測到缺陷區(qū)時，則將假定要記錄到缺陷區(qū)中的信息記錄到備用區(qū)702或704中。將檢測到缺陷區(qū)時用于管理缺陷區(qū)的缺陷管理信息(DMSDefect ManagementStructure)記錄到導入?yún)^(qū)701和導出區(qū)705所擁有的缺陷管理區(qū)(DMADefect Management Area)706至709中。
圖8表示DMA 706。DMA 706包括DDS(盤定義結(jié)構(gòu))801和DFL(缺陷列表)802，作為缺陷管理信息。DFL 802包括表示所檢測出的缺陷區(qū)的地址的缺陷區(qū)地址821和822，以及備用區(qū)中的取代目的地址823和824。
將與DMA 706中相同的信息記錄到DMA 707至709的每一個之中。
目前，對于一次寫入光盤，如DVD-R等，不執(zhí)行缺陷管理。由于開發(fā)出可輸出更短波長光的半導體激光器，光盤的記錄密度變得更高。從而，與光盤上所形成的溝槽或標記相比，光盤上的劃痕或污染相對較大，有可能導致不能記錄/再現(xiàn)的缺陷區(qū)增大。
如上所述，在對一次寫入光盤進行記錄之前檢測NWA。在此情形中，根據(jù)再現(xiàn)信號的幅值區(qū)分記錄區(qū)與未記錄區(qū)。缺陷區(qū)的再現(xiàn)信號質(zhì)量較低，即再現(xiàn)信號具有小振幅。很容易將這種缺陷區(qū)確定為可寫入的未記錄區(qū)。

發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本發(fā)明一個方面，提供一種用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的可寫區(qū)的設備。所述一次寫入信息記錄介質(zhì)包括用于記錄用戶數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)；記錄管理區(qū)，用于記錄表示數(shù)據(jù)區(qū)記錄狀態(tài)的記錄管理信息；以及，缺陷管理區(qū)，當在數(shù)據(jù)區(qū)中檢測到至少一個缺陷區(qū)時，用于記錄對所述至少一個缺陷區(qū)進行管理的缺陷管理信息。所述記錄管理信息包含表示至少一個記錄區(qū)的至少一個記錄區(qū)地址。所述缺陷管理信息包含，當檢測到至少一個缺陷區(qū)時，表示所述至少一個缺陷區(qū)的至少一個缺陷區(qū)地址。所述設備包括頭部分，用于執(zhí)行以下至少之一將信息記錄到一次寫入信息記錄介質(zhì)和從一次寫入信息記錄介質(zhì)再現(xiàn)信息；搜索部分，用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的未記錄區(qū)；以及，控制部分，用于控制所述頭部分和搜索部分的操作。所述搜索部分使用指定地址作為參考，搜索未記錄區(qū)。所述控制部分根據(jù)搜索結(jié)果，提供表示候選可寫區(qū)的候選區(qū)地址，并執(zhí)行判斷過程，判斷缺陷管理信息中是否存在表示與候選區(qū)地址相匹配的地址的缺陷區(qū)地址。當判斷結(jié)果為存在表示與候選地址相匹配的地址的缺陷區(qū)地址時，搜索部分使用該候選區(qū)地址后面的地址作為參考，執(zhí)行對另一個未記錄區(qū)的第二次搜索，并且控制部分根據(jù)第二次搜索的結(jié)果重新設置候選區(qū)地址，并執(zhí)行判斷過程。當判斷結(jié)果為不存在表示與候選區(qū)地址相匹配的地址的缺陷區(qū)地址時，控制部分將候選區(qū)地址所表示的區(qū)域確定為可寫區(qū)。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供一種用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的可寫區(qū)的設備。所述一次寫入信息記錄介質(zhì)包括用于記錄用戶數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)；記錄管理區(qū)，用于記錄表示數(shù)據(jù)區(qū)記錄狀態(tài)的記錄管理信息；以及，缺陷管理區(qū)，當在數(shù)據(jù)區(qū)中檢測到至少一個缺陷區(qū)時，用于記錄對所述至少一個缺陷區(qū)進行管理的缺陷管理信息。所述記錄管理信息包含表示至少一個記錄區(qū)的至少一個記錄區(qū)地址。所述缺陷管理信息包含，當檢測到至少一個缺陷區(qū)時，表示所述至少一個缺陷區(qū)的至少一個缺陷區(qū)地址。所述設備包括頭部分，用于執(zhí)行以下至少之一將信息記錄到一次寫入信息記錄介質(zhì)上和從一次寫入信息記錄介質(zhì)再現(xiàn)信息；搜索部分，用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的未記錄區(qū)；以及，控制部分，用于控制所述頭部分和搜索部分的操作。當數(shù)據(jù)區(qū)的指定記錄范圍中存在至少一個缺陷區(qū)時，控制部分檢測缺陷區(qū)地址，該缺陷區(qū)地址表示位于指定記錄范圍的至少一個缺陷區(qū)中最后地址處的缺陷區(qū)的地址?？刂撇糠謱⑽挥谒鶛z測出的缺陷區(qū)地址和表示指定記錄范圍的記錄區(qū)的記錄區(qū)地址兩者之后的地址，設定為表示候選可寫區(qū)的候選區(qū)地址。搜索部分使用候選區(qū)地址作為參考，搜索未記錄區(qū)，且控制部分將所檢測出的未記錄區(qū)確定為可寫區(qū)。
根據(jù)本發(fā)明另一方面，提供一種用于更新記錄管理信息的設備，所述記錄管理信息表示一次寫入信息記錄介質(zhì)用于記錄用尸數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)的記錄狀態(tài)。所述一次寫入信息記錄介質(zhì)還包括用于記錄記錄管理信息的記錄管理區(qū)。記錄管理信息包含表示至少一個記錄區(qū)的至少一個記錄區(qū)地址。所述設備包括頭部分，用于執(zhí)行以下至少之一將信息記錄到一次寫入信息記錄介質(zhì)上和從一次寫入信息記錄介質(zhì)再現(xiàn)信息；搜索部分，用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的未記錄區(qū)；以及，控制部分，用于控制所述頭部分和搜索部分的操作?？刂撇糠峙袛鄶?shù)據(jù)區(qū)的指定記錄范圍內(nèi)是否存在缺陷區(qū)。當指定記錄范圍內(nèi)存在缺陷區(qū)時，控制部分更新記錄管理信息，使表示指定記錄區(qū)中記錄區(qū)終結(jié)端的記錄區(qū)地址表示缺陷區(qū)地址之上或之后的地址。
在本發(fā)明的一個實施方式中，一次寫入信息記錄介質(zhì)還包括缺陷管理區(qū)，當存在缺陷區(qū)時用于記錄管理缺陷區(qū)的缺陷管理信息。當指定記錄范圍內(nèi)存在缺陷區(qū)時，控制部分更新缺陷管理信息，使缺陷管理信息包含表示缺陷區(qū)的缺陷區(qū)地址。
根據(jù)本發(fā)明另一方面，提供一種用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的可寫區(qū)的集成電路。所述一次寫入信息記錄介質(zhì)包括用于記錄用戶數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)；記錄管理區(qū)，用于記錄表示數(shù)據(jù)區(qū)記錄狀態(tài)的記錄管理信息；以及，缺陷管理區(qū)，當在數(shù)據(jù)區(qū)中檢測到至少一個缺陷區(qū)時，用于記錄對所述至少一個缺陷區(qū)進行管理的缺陷管理信息。所述記錄管理信息包含表示至少一個記錄區(qū)的至少一個記錄區(qū)地址。所述缺陷管理信息包含當檢測到至少一個缺陷區(qū)時用于表示所述至少一個缺陷區(qū)的至少一個缺陷區(qū)地址。所述集成電路包括搜索部分，用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的未記錄區(qū)；和，用于控制搜索部分的操作的控制部分。所述搜索部分使用指定地址作為參考搜索未記錄區(qū)。所述控制部分根據(jù)搜索結(jié)果，提供表示候選可寫區(qū)的候選區(qū)地址，并執(zhí)行判斷過程，判斷缺陷管理信息中是否存在表示與候選區(qū)地址相匹配的地址的缺陷區(qū)地址。當判斷結(jié)果為存在表示與候選區(qū)地址相匹配的地址的缺陷區(qū)地址時，搜索部分使用候選區(qū)地址后面的地址作為參考，執(zhí)行對另一未記錄區(qū)的第二次搜索，且控制部分根據(jù)第二次搜索的結(jié)果重新設置候選區(qū)地址，并執(zhí)行判斷過程。當判斷結(jié)果為不存在表示與候選區(qū)地址相匹配的地址的缺陷區(qū)地址時，控制部分將候選區(qū)地址所表示的區(qū)域確定為可寫區(qū)。
根據(jù)本發(fā)明另一方面，提供一種用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的可寫區(qū)的集成電路。所述一次寫入信息記錄介質(zhì)包括用于記錄用戶數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)；記錄管理區(qū)，用于記錄表示數(shù)據(jù)區(qū)記錄狀態(tài)的記錄管理信息；以及，缺陷管理區(qū)，當在數(shù)據(jù)區(qū)中檢測到至少一個缺陷區(qū)時，用于記錄對所述至少一個缺陷區(qū)進行管理的缺陷管理信息。所述記錄管理信息包含表示至少一個記錄區(qū)的至少一個記錄區(qū)地址。所述缺陷管理信息包含當檢測到至少一個缺陷區(qū)時表示至少一個缺陷區(qū)的至少一個缺陷區(qū)地址。所述集成電路包括用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的未記錄區(qū)的搜索部分；和，用于控制搜索部分的操作的控制部分。當數(shù)據(jù)區(qū)的指定記錄范圍內(nèi)存在至少一個缺陷區(qū)時，控制部分檢測缺陷區(qū)地址，所述缺陷區(qū)地址表示位于指定記錄范圍的至少一個缺陷區(qū)中最后地址處的缺陷區(qū)的地址?？刂撇糠謱⑽挥谒鶛z測出的缺陷區(qū)地址和表示指定記錄范圍的記錄區(qū)的記錄區(qū)地址兩者之后的地址，設定為表示候選可寫區(qū)的候選區(qū)地址。搜索部分使用候選區(qū)地址作為參考，搜索未記錄區(qū)，且控制部分將所檢測出的未記錄區(qū)確定為可寫區(qū)。
根據(jù)本發(fā)明另一方面，提供一種用于更新記錄管理信息的集成電路，所述記錄管理信息表示用于記錄一次寫入信息記錄介質(zhì)的用戶數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)的記錄狀態(tài)。所述一次寫入信息記錄介質(zhì)還包括用于記錄記錄管理信息的記錄管理區(qū)。所述記錄管理信息包含表示至少一個記錄區(qū)的至少一個記錄區(qū)地址。所述集成電路包括搜索部分，用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的未記錄區(qū)；以及，控制部分，用于控制所述搜索部分的操作。控制部分判斷數(shù)據(jù)區(qū)的指定記錄范圍內(nèi)是否存在缺陷區(qū)。當指定記錄范圍內(nèi)存在缺陷區(qū)時，控制部分更新記錄管理信息，使表示指定記錄區(qū)中記錄區(qū)終結(jié)端的記錄區(qū)地址表示缺陷區(qū)地址之上或之后的地址。
在本發(fā)明的一個實施方式中，一次寫入信息記錄介質(zhì)還包括缺陷管理區(qū)，當存在缺陷區(qū)時用于記錄管理缺陷區(qū)的缺陷管理信息。當指定記錄范圍中存在缺陷區(qū)時，控制部分更新缺陷管理信息，使缺陷管理信息包含表示缺陷區(qū)的缺陷區(qū)地址。
根據(jù)本發(fā)明另一方面，提供一種用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的可寫區(qū)的方法。所述一次寫入信息記錄介質(zhì)包括用于記錄用戶數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)；記錄管理區(qū)，用于記錄表示數(shù)據(jù)區(qū)記錄狀態(tài)的記錄管理信息；以及，缺陷管理區(qū)，當在數(shù)據(jù)區(qū)中檢測到至少一個缺陷區(qū)時，用于記錄對所述至少一個缺陷區(qū)進行管理的缺陷管理信息。記錄管理信息包含表示至少一個記錄區(qū)的至少一個記錄區(qū)地址。缺陷管理信息包含當檢測到至少一個缺陷區(qū)時表示所述至少一個缺陷區(qū)的至少一個缺陷區(qū)地址。所述方法包括以下步驟使用指定地址作為參考搜索未記錄區(qū)；根據(jù)搜索結(jié)果提供表示候選可寫區(qū)的候選區(qū)地址，并執(zhí)行判斷過程，判斷缺陷管理信息中是否存在表示與候選區(qū)地址相匹配的地址的缺陷區(qū)地址；當判斷結(jié)果為存在表示與候選區(qū)地址相匹配的地址的缺陷區(qū)地址時，使用候選區(qū)地址后面的地址作為參考對另一未記錄區(qū)執(zhí)行第二次搜索，并根據(jù)第二次搜索的結(jié)果重新設定候選區(qū)地址，執(zhí)行判斷過程；當判斷結(jié)果為不存在表示與候選區(qū)地址相匹配的地址的缺陷區(qū)地址時，將候選區(qū)地址所表示的區(qū)域確定為可寫區(qū)。
根據(jù)本發(fā)明另一方面，提供一種用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的可寫區(qū)的方法。所述一次寫入信息記錄介質(zhì)包括用于記錄用戶數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)；記錄管理區(qū)，用于記錄表示數(shù)據(jù)區(qū)記錄狀態(tài)的記錄管理信息；以及，缺陷管理區(qū)，當在數(shù)據(jù)區(qū)中檢測到至少一個缺陷區(qū)時，用于記錄對所述至少一個缺陷區(qū)進行管理的缺陷管理信息。記錄管理信息包含表示至少一個記錄區(qū)的至少一個記錄區(qū)地址。缺陷管理信息包含當檢測到至少一個缺陷區(qū)時表示所述至少一個缺陷區(qū)的至少一個缺陷區(qū)地址。所述方法包括以下步驟當數(shù)據(jù)區(qū)的指定記錄范圍中存在至少一個缺陷區(qū)時，檢測缺陷區(qū)地址，所述缺陷區(qū)地址表示位于指定記錄范圍的至少一個缺陷區(qū)中最后地址處的缺陷區(qū)的地址；將位于所檢測出的缺陷區(qū)地址和表示指定記錄范圍的記錄區(qū)的記錄區(qū)地址兩者之后的地址，設定為表示候選可寫區(qū)的候選區(qū)地址；以及，使用候選區(qū)地址作為參考，搜索未記錄區(qū)，且將所檢測出的未記錄區(qū)確定為可寫區(qū)。
根據(jù)本發(fā)明另一方面，提供一種用于更新記錄管理信息的方法，所述記錄管理信息表示用于記錄一次寫入信息記錄介質(zhì)的用戶數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)的記錄狀態(tài)。所述一次寫入信息記錄介質(zhì)還包括用于記錄記錄管理信息的記錄管理區(qū)。記錄管理信息包含表示至少一個記錄區(qū)的至少一個記錄區(qū)地址。所述方法包括以下步驟判斷數(shù)據(jù)區(qū)的指定記錄范圍內(nèi)是否存在缺陷區(qū)；并且，當指定記錄范圍內(nèi)存在缺陷區(qū)時，更新記錄管理信息，使表示指定記錄范圍中記錄區(qū)終結(jié)端的記錄區(qū)地址表示缺陷區(qū)地址之上或之后的地址。
在本發(fā)明的一個實施方式中，一次寫入信息記錄介質(zhì)還包括缺陷管理區(qū)，當存在缺陷區(qū)時用于記錄管理缺陷區(qū)的缺陷管理信息。該方法還包括以下步驟當指定記錄范圍中存在缺陷區(qū)時，更新缺陷管理信息，使缺陷管理信息包含表示缺陷區(qū)的缺陷區(qū)地址。
根據(jù)本發(fā)明另一方面，提供一種一次寫入信息記錄介質(zhì)，包括用于記錄用戶數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)；和，記錄管理區(qū)，用于記錄表示數(shù)據(jù)區(qū)記錄狀態(tài)的記錄管理信息。記錄管理信息包含表示至少一個記錄區(qū)的至少一個記錄區(qū)地址。當數(shù)據(jù)區(qū)的指定記錄范圍內(nèi)存在缺陷區(qū)時，表示指定記錄范圍中記錄區(qū)終結(jié)端的記錄區(qū)地址，表示缺陷區(qū)之上或之后的地址。
在本發(fā)明一個實施方式中，一次寫入信息記錄介質(zhì)還包括缺陷管理區(qū)，當存在缺陷區(qū)時，缺陷管理區(qū)用于記錄管理缺陷區(qū)的缺陷管理信息。
根據(jù)本發(fā)明，判斷所檢測出的未記錄區(qū)是否與缺陷區(qū)相匹配，從而防止將缺陷區(qū)判斷為可寫區(qū)。因而，能夠?qū)⑿畔⑹冀K如一地記錄到正常的記錄區(qū)中。
根據(jù)本發(fā)明，實現(xiàn)一種一次寫入信息記錄介質(zhì)，從而在指定記錄區(qū)中最后記錄地址之后的記錄區(qū)中不存在檢測到的缺陷區(qū)。根據(jù)本發(fā)明，最新的最后記錄地址總為表示缺陷區(qū)之上或之后記錄區(qū)的地址。從而，僅需要一次用于搜索記錄區(qū)與未記錄區(qū)之間邊界的過程，減少了確定可寫區(qū)時花費的時間。
根據(jù)本發(fā)明，一次寫入信息記錄介質(zhì)中包含有表示缺陷列表或記錄狀態(tài)的信息的起始位置的指針。從而，RMD或DMS可具有可變的長度。因此，可更有效地使用區(qū)域。
根據(jù)本發(fā)明，將RMD和DMS記錄到一起。從而，當讀出最新的RMD和DMS時，僅需要一次用于搜索記錄區(qū)與未記錄區(qū)之間邊界的過程，使處理時間縮短。
從而，此處所述的本發(fā)明具有以下優(yōu)點提供在一次寫入信息記錄介質(zhì)上搜索可寫區(qū)的設備、集成電路以及方法；用于更新記錄管理信息的設備、集成電路和方法；以及使用本發(fā)明的設備、集成電路或方法記錄有信息的一次寫入信息記錄介質(zhì)。
本領域技術人員在參照附圖閱讀和理解下面的詳細描述時，顯然可以想到本發(fā)明的這些和其他優(yōu)點。


圖1表示DVD-R光盤的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。
圖2表示DVD-R光盤的RMA和RMD的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。
圖3所示的流程圖表示從DVD-R光盤裝入記錄/再現(xiàn)設備中開始直至在其上記錄信息為止，記錄/再現(xiàn)設備所執(zhí)行的過程。
圖4所示的流程圖表示用于讀取最新的RMD的過程。
圖5所示的流程圖表示用于搜索DVD-R光盤的NMA的過程。
圖6所示的流程圖表示用于從未記錄區(qū)區(qū)分記錄區(qū)的一種示例方法。
圖7表示DVD-RAM光盤(4.7吉字節(jié))的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。
圖8表示DVD-RAM光盤(4.7吉字節(jié))的DMA和DMS的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。
圖9表示根據(jù)本發(fā)明的一次寫入信息記錄介質(zhì)。
圖10表示根據(jù)本發(fā)明的一次寫入信息記錄介質(zhì)的RMA和RMD的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。
圖11表示根據(jù)本發(fā)明的一次寫入信息記錄介質(zhì)的DMA和DMS的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。
圖12所示的流程圖表示從裝入本發(fā)明的一次寫入信息記錄介質(zhì)直到開始記錄操作為止，記錄/再現(xiàn)設備所執(zhí)行的示例過程。
圖13所示的流程圖表示根據(jù)本發(fā)明用于讀取最新DMS的示例過程。
圖14所示的流程圖表示根據(jù)本發(fā)明用于搜索NWA的示例過程。
圖15表示根據(jù)本發(fā)明一次寫入信息記錄介質(zhì)的RMA和RMD的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。
圖16所示的流程圖表示根據(jù)本發(fā)明用于搜索NWA的示例過程。
圖17所示的流程圖表示根據(jù)本發(fā)明用于搜索NWA的示例過程。
圖18表示根據(jù)本發(fā)明的一次寫入信息記錄介質(zhì)的特征。
圖19所示的流程圖表示根據(jù)本發(fā)明用于更新記錄管理區(qū)的示例過程。
圖20表示根據(jù)本發(fā)明的一次寫入信息記錄介質(zhì)的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。
圖21表示根據(jù)本發(fā)明一次寫入信息記錄介質(zhì)的RMA+DMA和RMD+DMS的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。
圖22所示的流程圖表示從裝入一次寫入信息記錄介質(zhì)開始直至開始記錄操作為止，本發(fā)明的記錄/再現(xiàn)設備所執(zhí)行的示例過程。
圖23所示的流程圖表示根據(jù)本發(fā)明用于讀取最新RMD+DMS的示例過程。
圖24所示的流程圖表示根據(jù)本發(fā)明用于更新RMA+DMA的示例過程。
圖25表示根據(jù)本發(fā)明的示例性記錄/再現(xiàn)設備。
具體實施例方式
下面，將參照附圖，通過說明性示例描述本發(fā)明。在附圖1至25中，相同附圖標記表示相同部件或步驟，并且為了簡潔而省略更多描述。
(實施方式1)圖9表示根據(jù)本發(fā)明實施方式1的一次寫入信息記錄介質(zhì)900。一次寫入信息記錄介質(zhì)還可以稱作一寫多讀信息記錄介質(zhì)。
一次寫入信息記錄介質(zhì)900包括用于記錄用戶數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)903，用于記錄表示數(shù)據(jù)區(qū)903記錄狀態(tài)的記錄管理信息(RMD)的記錄管理區(qū)(RMA)901，以及缺陷管理區(qū)(DMA)902和904，如果在數(shù)據(jù)區(qū)903中檢測到至少一個缺陷區(qū)，則缺陷管理區(qū)用于記錄管理至少一個缺陷區(qū)的缺陷管理信息(DMS)。RMD包含表示至少一個記錄區(qū)的至少一個記錄區(qū)地址(LRA)。如果檢測到缺陷區(qū)，則缺陷管理信息包含表示至少一個缺陷區(qū)的至少一個缺陷區(qū)地址。
如同數(shù)據(jù)區(qū)106那樣(參照圖1)，將數(shù)據(jù)區(qū)903分成多個RZone910，911，912和913。RMD表示每個RZone的記錄狀態(tài)。
圖10表示RMA 901。RMA 901存儲多個RMD 991，992和1000。最新的RMD 1000記錄在緊靠未記錄區(qū)990的前面。最新的RMD 1000包含LRA 1001，1002，1003和1004，每個LRA表示相應RZone中最后的記錄區(qū)的位置。
圖11表示DMA 902的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。DMA 902存儲多個DMS 981，982和1100。從DMA 902的開始處連續(xù)地記錄DMS。從而，緊靠未記錄區(qū)980前面記錄最新的DMS 1100。最新的DMS 1100包含DFL 1110和DDS 1120。DDS 1120包含指針1121，表示DFL 1110的開始位置。DFL 1110包含表示缺陷區(qū)的缺陷區(qū)地址1111和1112。DMA 904存儲與DMA 902中相同的信息。
圖25所示的方框圖表示根據(jù)本發(fā)明實施方式1的記錄/再現(xiàn)設備2500。
記錄/再現(xiàn)設備2500包括光學頭部分2502，記錄/再現(xiàn)控制部分2503，搜索部分2504，CPU(中央處理器)2505，緩沖器2506以及內(nèi)部總線2507。將一次寫入信息記錄介質(zhì)900(圖9)裝入記錄/再現(xiàn)設備2500中。記錄/再現(xiàn)設備2500在一次寫入信息記錄介質(zhì)900中所包含的數(shù)據(jù)區(qū)903中搜索可寫區(qū)。
CPU 2505根據(jù)CPU 2505中包含的控制程序，控制記錄/再現(xiàn)設備2500所有部件(例如光學頭部分2502，記錄/再現(xiàn)控制部分2503，搜索部分2504，緩沖器2506等)的操作。注意，CPU 2505和記錄/再現(xiàn)控制部分2503可以集成到單個控制部分中?？蓪⒂涗?再現(xiàn)控制部分2503，搜索部分2504，CPU 2505，緩沖器2506以及內(nèi)部總線2507例如包含在集成電路LSI 2600中。LSI 2600設置在記錄/再現(xiàn)設備2500中。
光學頭部分2502通過用激光照射一次寫入信息記錄介質(zhì)900，執(zhí)行以下至少之一將信息記錄到一次寫入信息記錄介質(zhì)900上和從一次寫入信息記錄介質(zhì)900再現(xiàn)信息。搜索部分2504在一次寫入信息記錄介質(zhì)900中搜索未記錄區(qū)。
記錄/再現(xiàn)控制部分2503使用光學頭部分2502，讀出記錄在一次寫入信息記錄介質(zhì)900上的、地址由CPU 2505所指定的區(qū)域中的信息，并將信息存儲到緩沖器2506中。記錄/再現(xiàn)控制部分2503還使用光學頭部分2502，將緩沖器2506中所存儲的數(shù)據(jù)寫入具有由CPU 2505所指定地址的區(qū)域中。此外，當檢測到缺陷區(qū)時，記錄/再現(xiàn)控制部分2503將表示缺陷區(qū)的地址(缺陷區(qū)地址)輸出給CPU2505。
搜索部分2504搜索記錄區(qū)與未記錄區(qū)之間的邊界。搜索部分2504執(zhí)行例如參照圖6所述的判斷方法。搜索部分2504檢測光學頭部分2502輸出的再現(xiàn)信號的幅值，并判斷該幅值是否超過指定數(shù)值。通過該判斷步驟，搜索部分2504檢測出記錄區(qū)與未記錄區(qū)之間的邊界，并獲得表示緊靠該邊界前面的位置的記錄區(qū)地址(LRA)。搜索部分2504將所獲得的記錄區(qū)地址輸出給CPU 2505。
緩沖器2506存儲從一次寫入信息記錄介質(zhì)900讀出的信息。緩沖器2506還存儲將要寫到一次寫入信息記錄介質(zhì)900上的信息。
內(nèi)部總線2507將記錄/再現(xiàn)控制部分2503，搜索部分2504，CPU2505和緩沖器2506相互連接。
圖12所示的流程圖表示從一次寫入信息記錄介質(zhì)900裝入記錄/再現(xiàn)設備2500中直至開始記錄操作為止，記錄/再現(xiàn)設備2500所執(zhí)行的示例過程。
在將一次寫入信息記錄介質(zhì)900裝入記錄/再現(xiàn)設備2500中之后，記錄/再現(xiàn)設備2500讀出最新的RMD。在步驟301中，從RMA 901讀出最新的RMD 1000(圖10)。將參照圖4描述這一操作。
在將一次寫入信息記錄介質(zhì)900裝入記錄/再現(xiàn)設備2500之后，CPU 2505將RMA 901的起始地址指定為搜索起始地址，由該地址開始，搜索部分2504開始搜索記錄區(qū)與未記錄區(qū)之間的邊界。CPU 2505命令搜索部分2504從RMA 901的起始地址開始搜索(步驟401)。
搜索部分2504從RMA 901的起始地址開始搜索未記錄區(qū)，檢測記錄區(qū)與未記錄區(qū)之間的邊界，并獲得表示緊靠邊界前面的位置的記錄區(qū)地址。搜索部分2504將所獲得的記錄區(qū)地址輸出給CPU 2505(步驟402)。
CPU 2505根據(jù)所獲得的記錄區(qū)地址，檢測緊靠邊界后面的未記錄區(qū)的地址(未記錄區(qū)地址)，并判斷未記錄區(qū)地址是否與RMA 901的起始地址相匹配(步驟403)。
在步驟403中，當這兩個地址彼此不匹配時，CPU 2505指定緊靠所檢測出的邊界前面RMD記錄位置的地址，并命令記錄/再現(xiàn)控制部分2503再現(xiàn)出該位置處所記錄的RMD。記錄/再現(xiàn)控制部分2503使用光學頭部分2502讀出所指定的RMD(此處，為最新的RMD 1000)，并將數(shù)據(jù)存儲到緩沖器2506中(步驟404)。
在步驟403中，當這兩個地址彼此匹配時，CPU 2505判斷所裝入的一次寫入信息記錄介質(zhì)是全新的，并將表示全新狀態(tài)的標記存儲到緩沖器2506中(步驟405)。
在讀出最新的RMD 1000之后，記錄/再現(xiàn)設備2500從DMA 902和904讀出最新的DMS(步驟1201)。將參照圖13描述這一操作。圖13表示步驟1201(圖12)的示意過程的流程圖。
CPU 2505將DMA 902的起始地址指定為搜索起始地址，搜索部分2504從該地址開始搜索記錄區(qū)與未記錄區(qū)之間的邊界。CPU 2505命令搜索部分2504，從DMA 902的起始地址開始搜索邊界(步驟1300)。
搜索部分2504從DMA 902的起始地址開始搜索未記錄區(qū)，檢測記錄區(qū)與未記錄區(qū)之間的邊界，并將表示緊靠邊界前面的位置的記錄區(qū)地址輸出給CPU 2505(步驟1301)。
CPU 2505根據(jù)所獲得的記錄區(qū)地址檢測緊靠邊界后面的未記錄區(qū)的地址(未記錄區(qū)地址)，并判斷未記錄區(qū)地址是否與DMA 902的起始地址相匹配(步驟1302)。
在步驟1302中當這兩個地址彼此不匹配時(已經(jīng)記錄了DMS)，CPU 2505指定緊靠所檢測出的邊界前面的DMS記錄位置的地址，并命令記錄/再現(xiàn)控制部分2503再現(xiàn)出該位置處所記錄的DMS。記錄/再現(xiàn)控制部分2503使用光學頭部分2502讀出所指定的DMS(此處為最新的DMS 1100)，并將數(shù)據(jù)存儲到緩沖區(qū)2506中(步驟1303)。
當這兩個地址彼此匹配時(還沒有記錄DMS)，CPU 2505將處于初始狀態(tài)的、缺陷區(qū)地址為0的DMS，存儲到緩沖器2506中(步驟1304)。
CPU 2505判斷是否已經(jīng)從所有DMA讀出DMS。當還沒有從任何DMA讀出DMS時，CPU 2505命令搜索部分2504在其余DMA中搜索邊界(步驟1305)，且流程轉(zhuǎn)到步驟1300。
當已經(jīng)從所有DMA讀出DMS時，CPU 2505從緩沖器2506中存儲的多個DMS中選擇最新的DMS。例如，當DMS包含表示更新次數(shù)的更新計數(shù)器數(shù)值時，CPU 2505互相比較從每個DMA讀出的更新計數(shù)器數(shù)值。在此情形中，CPU 2505確定具有最大更新計數(shù)器數(shù)值的DMS為最新的DMS，并將最新的DMS保留在緩沖器2506中。
在本實施方式中，假設具有最大更新計數(shù)器數(shù)值的DMS為最新的DMS?；蛘?，可利用只要能判斷出DMS是否是最新的DMS的任何操作。例如，可確定存儲有在DMS中所存儲的缺陷區(qū)地址中最大缺陷區(qū)地址的DMS為最新的DMS?；蛘撸?，檢測DFL記錄區(qū)的尺寸，并可確定具有最大尺寸的DMS為最新的DMS。
在讀出最新的DMS之后，記錄/再現(xiàn)設備2500搜索可寫地址(NWA)。在步驟1202中(圖12)，參照從步驟301和步驟1201讀出的RMD和DMS，在可寫RZone中檢測NWA。將參照圖14描述這一操作。圖14所示的流程圖表示圖12中步驟1202的一種示例過程。
CPU 2505從緩沖器2506所存儲的RMD讀出LRA，并確定LRA后面的地址(例如LRA下面的地址)。此處，CPU 2505命令搜索部分2504，以LRA下面的地址作為搜索起始地址進行搜索(步驟501)。
搜索部分2504使用LRA后面的地址作為參考，搜索未記錄區(qū)。此處，搜索部分2504從LRA下面的地址開始，朝向該地址后面的地址，搜索未記錄區(qū)，檢測記錄區(qū)與未記錄區(qū)之間的邊界，并獲得表示緊靠邊界前面的位置的記錄區(qū)地址。搜索部分2504將所獲得的記錄區(qū)地址輸出給CPU 2505(步驟502)。
CPU 2505從所獲得的記錄區(qū)地址開始，檢測緊靠邊界后面的未記錄區(qū)的地址(未記錄區(qū)地址)，并將未記錄區(qū)地址設定為表示候選可寫區(qū)的候選區(qū)地址(步驟1401)。CPU 2505判斷緩沖器2506所存儲的DMS中是否存在表示與候選區(qū)地址相匹配的地址的缺陷區(qū)地址(步驟1402)。
在步驟1402中，當判斷結(jié)果為不存在這種缺陷區(qū)地址時，CPU2505確定候選區(qū)地址為NWA，并確定NWA所表示的區(qū)域為可寫區(qū)(步驟1404)。
在步驟1402中，當判斷結(jié)果為存在這種缺陷區(qū)地址時，CPU 2505命令搜索部分2504，使用缺陷區(qū)地址后面的地址(＝當前候選區(qū)地址)作為搜索開始地址進行搜索(步驟1403)。
回到步驟502，搜索部分2504使用缺陷區(qū)地址后面的地址(＝當前候選區(qū)地址)作為參考，搜索另一未記錄區(qū)。此處，搜索部分2504從缺陷區(qū)地址下面的地址開始，朝向該地址后面的地址，搜索未記錄區(qū)。搜索部分2504檢測記錄區(qū)與未記錄區(qū)之間的邊界，獲得表示緊靠邊界前面的位置的記錄區(qū)地址。搜索部分2504將所獲得的記錄區(qū)地址輸出給CPU 2505。
CPU 2505和搜索部分2504反復地執(zhí)行步驟501至步驟1403中所述的操作，直到檢測到與缺陷區(qū)地址不匹配的候選區(qū)地址為止。
如上所述，根據(jù)本發(fā)明該實施方式，通過判斷所檢測出的未記錄區(qū)是否與缺陷區(qū)相匹配，防止將缺陷區(qū)錯誤地確定為可寫區(qū)。從而，總能將信息恒定地寫到正常的記錄區(qū)中。
雖然在本實施方式中搜索部分2504獲得了緊靠記錄區(qū)與未記錄區(qū)之間邊界前面的記錄區(qū)地址，不過也可以得到緊靠邊界后面的未記錄區(qū)地址。
通過使用表示DFL的起始位置的指針，DFL的長度是可變的，從而可減小DMS的尺寸。
盡管在實施方式1中以圖9的一次寫入信息記錄介質(zhì)為例進行了描述，不過每個區(qū)域可以位于介質(zhì)上任意位置處。此外，不特別限制每種區(qū)域的數(shù)量，只要每種區(qū)域至少有一個就足夠了。
盡管在實施方式1中，在讀出RMD之后讀出DMS，不過只要是在搜索NWA之前，DMS或RMD可以更早地被讀出。
(實施方式2)圖15表示作為RMA 901一種變型的RMA 901a。圖9和11中所述的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)對于RMA 901a和RMA 901而言是共同的。
RMA 901a存儲多個RMD 991a，992a和1000a。緊靠未記錄區(qū)990a前面記錄最新的RMD 1000a。最新的RMD 1000a包含表示在各個RZone中最后記錄區(qū)位置的LRA 1001，1002至1004和表示各個Rzone的Rzone范圍信息1011，1012和1014。
從裝入一次寫入信息記錄介質(zhì)開始直至開始記錄操作為止，在記錄/再現(xiàn)設備所執(zhí)行的過程中，對于實施方式1和2，從圖12的步驟301到步驟1201是相同的。
圖16所示的流程圖表示圖12的步驟1202的一種變型。
在步驟1601中，CPU 2505指定RZone(在其中從現(xiàn)在開始記錄信息)的范圍作為搜索范圍，并在其中搜索NWA。根據(jù)RMD 901a中所包含的RZone范圍信息，得出RZone的范圍。例如，當RZone范圍信息表示RZone的起始地址時，RZone范圍從RZone(在其中搜索NWA)的起始地址開始，到緊靠下一個RZone的起始地址之前的地址為止。當RZone范圍信息表示RZone的最后地址時，RZone范圍從緊靠RZone(在其中搜索NWA)前面的RZone的最后地址下面的地址開始，到該RZone(在其中搜索NWA)的最后地址為止。當RZone范圍信息同時表示出RZone的起始地址和最后地址時，RZone范圍從RZone(在其中搜索NWA)的起始地址開始到最后地址為止。
在步驟1602中，CPU 2505判斷在數(shù)據(jù)區(qū)106的指定記錄范圍(此處，為在其中搜索NWA的RZone的范圍)內(nèi)是否存在至少一個缺陷區(qū)。特別是，CPU 2505判斷DMS中的缺陷區(qū)地址中，是否存在表示在要搜索的NWA的RZone范圍內(nèi)的地址的缺陷區(qū)地址。
當存在表示RZone范圍(在其中搜索NWA)內(nèi)地址的缺陷區(qū)地址時，流程轉(zhuǎn)到步驟1603。當不存在缺陷區(qū)地址時，流程轉(zhuǎn)到步驟501。
在步驟1603中，CPU 2505檢測表示位于指定記錄范圍中至少一個缺陷區(qū)的最后地址處的缺陷區(qū)的缺陷區(qū)地址(最大缺陷區(qū)地址)。
在步驟1604中，CPU 2505將與RZone(在其中搜索NWA)相應的LRA與所檢測到的最大缺陷區(qū)地址進行比較。當最大缺陷區(qū)地址大于LRA時，流程轉(zhuǎn)到步驟1605。當LRA小于最大缺陷區(qū)地址時，流程轉(zhuǎn)到步驟501。當LRA等于最大缺陷區(qū)地址時，流程轉(zhuǎn)到步驟1605或步驟501。
在步驟1605中，CPU 2505將最大缺陷區(qū)地址下面的地址指定為搜索起始地址。
在步驟501中，CPU 2505將LRA下面的地址指定為搜索起始地址。
CPU 2505通過步驟1605或步驟501，將位于最大缺陷區(qū)地址和LRA后面的地址設定為候選區(qū)地址。
在步驟502中，搜索部分2504使用候選區(qū)地址(搜索起始地址)作為參考，搜索未記錄區(qū)。此處，搜索部分2504從候選區(qū)地址開始，朝向候選區(qū)地址后面的地址搜索未記錄區(qū)，檢測記錄區(qū)與未記錄區(qū)之間的邊界，并獲得表示緊靠邊界前面的位置的記錄區(qū)地址。搜索部分2504將所獲得的記錄區(qū)地址輸出給CPU 2505。
在步驟503中，CPU 2505根據(jù)步驟502中的檢測結(jié)果，檢測緊靠邊界后面的未記錄區(qū)的地址，并將該地址確定為NWA，將NWA所表示的區(qū)域確定為可寫區(qū)。
圖17所示的流程圖表示圖12的步驟1202的示例過程。除用步驟1701取代步驟1601并省略步驟1604外，圖17的流程圖與圖16的相同。
在步驟1701中，CPU 2505指定從與RZone(從此時開始向其中記錄信息)相應的LRA到該Rzone終結(jié)端的范圍，作為搜索NWA的搜索范圍。根據(jù)RMD 901a中包含的RZone范圍信息獲得RZone的范圍。當RZone范圍信息表示RZone的起始地址時，搜索范圍從LRA開始直到緊靠該RZone下面的RZone的起始地址之前的地址，在其中搜索NWA。當RZone范圍信息表示RZone的最后地址時，搜索范圍從LRA開始直至該RZone的最后地址，在其中搜索NWA。
在步驟1602中，CPU 2505判斷在數(shù)據(jù)區(qū)106中指定記錄范圍(此處，從與此時在其中記錄信息的RZone相應的LRA，直至該Rzone終結(jié)端的范圍)內(nèi)是否存在至少一個缺陷區(qū)。具體而言，CPU 2505判斷在DMS所包含的缺陷區(qū)地址中，是否存在表示指定記錄范圍內(nèi)地址的缺陷區(qū)地址。
在步驟1603中，CPU 2505檢測缺陷區(qū)地址(最大缺陷區(qū)地址)，該缺陷區(qū)地址表示位于指定記錄范圍內(nèi)存在的至少一個缺陷區(qū)的最后地址處的缺陷區(qū)的地址。
在圖17的過程中，將搜索范圍的起點設定為LRA。從而，當具有最大缺陷區(qū)地址時，最大缺陷區(qū)地址總是大于或等于LRA。因而，省略步驟1604的過程(圖16)。
隨后的步驟與圖16中的步驟相同，并省略這些步驟的描述。
根據(jù)本發(fā)明的實施方式2，在搜索起始地址與NWA之間并非總能檢測到缺陷區(qū)。從而，僅需要一次對于記錄區(qū)與未記錄區(qū)之間邊界的搜索操作。可在半導體存儲器中執(zhí)行判斷所檢測出的未記錄區(qū)地址是否為缺陷區(qū)的過程。在光盤上執(zhí)行用于搜索記錄區(qū)與未記錄區(qū)之間邊界的過程。從而，當重復地執(zhí)行判斷過程和搜索過程時，耗費較長時間才能確定NWA。在本實施方式中，不必重復地執(zhí)行判斷過程和搜索過程，從而可更迅速地確定NWA。
(實施方式3)圖18表示作為數(shù)據(jù)區(qū)903一部分的RZone 910，911和912。RZone910包含記錄區(qū)1805和未記錄區(qū)1801。RZone 911包含記錄區(qū)1807和未記錄區(qū)1802。RZone 912包含記錄區(qū)1809和未記錄區(qū)1803。
最新的RMD 1000存儲RZone 910的LRA 1001，RZone 911的LRA1002和RZone 912的LRA 1003。LRA 1001表示缺陷區(qū)1804的最后地址。LRA 1002位于缺陷區(qū)1806后面，表示的地址并非記錄區(qū)1807的最后地址。LRA 1003表示緊靠未記錄區(qū)1803前面的位置，即記錄區(qū)1809的最后地址。
如圖18中所示，在每個RZone的LRA后面的記錄區(qū)中，沒有檢測到缺陷區(qū)。換言之，RZone的LRA表示缺陷區(qū)地址之上或之后的地址，缺陷區(qū)地址表示RZone中存在的缺陷區(qū)。
圖19所示的流程圖表示由記錄/再現(xiàn)設備2500執(zhí)行的、用于更新記錄管理信息的一種示例過程。
CPU 2505將RZone中(記錄/再現(xiàn)控制部分2503受到指示在其中記錄信息)的最大地址設定為LRA，并覆蓋在緩沖器2506中所存儲的RMD內(nèi)的LRA(步驟1901)。
記錄/再現(xiàn)控制部分2503判斷在用戶數(shù)據(jù)記錄過程中是否檢測到缺陷(步驟1902)。當沒有發(fā)現(xiàn)缺陷時，流程轉(zhuǎn)到步驟1907。當發(fā)現(xiàn)缺陷時，記錄/再現(xiàn)控制部分2503將表示所檢測到的缺陷的地址(缺陷區(qū)地址)輸出給CPU 2505。CPU 2505將所檢測到的缺陷區(qū)地址添加到緩沖器2506所存儲的DFL中(步驟1903)。
CPU 2505命令記錄/再現(xiàn)控制部分2503，將通過向DFL添加缺陷區(qū)地址而得到更新的最新的DMS，記錄到DMA中。記錄/再現(xiàn)控制部分2503將更新的最新的DMS記錄到DMA 902和904中(步驟1904)。
CPU 2505判斷RZone的LRA是否表示缺陷區(qū)地址之上或之后的地址，其中缺陷區(qū)地址表示RZone中存在的缺陷區(qū)(步驟1905)。當LRA表示缺陷區(qū)地址之上或之后的地址時，流程轉(zhuǎn)到步驟1907。當LRA不表示缺陷區(qū)地址之上或之后的地址時，更新LRA，使更新的LRA表示缺陷區(qū)地址之上或之后的地址(步驟1906)。
CPU 2505命令記錄/再現(xiàn)控制部分2503，將通過覆蓋LRA而得到更新的最新的RMD記錄到RMA 901中。記錄/再現(xiàn)控制部分2503將更新的最新的RMD記錄到RMA 901中(步驟1907)。
根據(jù)本實施方式，實現(xiàn)這樣一種一次寫入信息記錄介質(zhì)，從而在最新的RMD所包含的LRA之后的記錄區(qū)中沒有檢測到的缺陷區(qū)。
如上所述，假設在步驟1901中嘗試進行記錄的RZone中的最大地址為LRA?？商鎿Q地，如圖18中所示，LRA可以為這樣一個地址，在RZone中的LRA后面的記錄區(qū)中沒有檢測到的缺陷區(qū)的地址。
根據(jù)本發(fā)明的實施方式3，在最新的RMD所包含的LRA后面的記錄區(qū)中沒有檢測到的缺陷區(qū)。從而，僅需要一次用于搜索記錄區(qū)與未記錄區(qū)之間邊界的過程，從而可減小尋找NWA所花費的時間。此外，通過這種更新方法，實現(xiàn)了具有圖18中所示數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的一次寫入信息記錄介質(zhì)。
在實施方式3中，在檢測到缺陷之后，將缺陷區(qū)地址添加到DFL，并將最新的DMS記錄到DMA中。可替換地，通過在檢測到缺陷之后輕松地更新LRA，最新的RMD顯然包含這樣的LRA，在該LRA后面為沒有檢測到缺陷區(qū)的記錄區(qū)。
最好將更新的最新的RMD和DMS記錄下來，直至從記錄/再現(xiàn)設備取下介質(zhì)為止。特別是，將更新數(shù)值保存到設備中，并記錄到RMA或DMA中，直至介質(zhì)被取下為止。
(實施方式4)圖20表示根據(jù)本發(fā)明實施方式4的一次寫入信息記錄介質(zhì)2000。一次寫入信息記錄介質(zhì)2000包括數(shù)據(jù)區(qū)903，用于記錄記錄管理信息和缺陷管理信息的RMA+DMA 2001，和作為缺陷區(qū)的替代目的區(qū)的備用區(qū)2003。將用于表示數(shù)據(jù)區(qū)903中所包含的多個RZone的記錄狀態(tài)的信息記錄到RMA+DMA 2001中。注意，一次寫入信息記錄介質(zhì)900中也包含備用區(qū)2003。
圖21表示RMA+DMA 2001的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。RMA+DMA 2001存儲多個RMD+DMS 2011，2012和2100，是RMD和DMS組合的信息。在RMA+DMA2001中，從其開始位置記錄RMD+DMS。從而，在緊靠未記錄區(qū)2014前面記錄最新的RMD+DMS 2100。最新的RMD+DMS 2100包含DDS 2130，DFL 2110和RMD 2120。DDS 2130包含分別表示RMD 2120和DFL2110的起始位置的指針2131和2132。DFL 2110包含檢測出的缺陷區(qū)的缺陷區(qū)地址1111和1112，和表示備用區(qū)中位置的地址的取代目的地址2111和2112，數(shù)據(jù)被記錄到備用區(qū)中，取代缺陷區(qū)。RMD 2120包含LRA 1001，1002和1004。
圖22所示的流程圖表示從一次寫入信息記錄介質(zhì)2000裝入記錄/再現(xiàn)設備2500中開始，直至開始記錄操作為止，記錄/再現(xiàn)設備2500所執(zhí)行的一種示例過程。
在步驟2201中，從RMA+DMA 2001讀出最新的RMD+DMS。
在步驟1202中，參照步驟2201中讀出的RMD+DMS，在可寫RZone中搜索NWA。通過例如實施方式1的圖14或?qū)嵤┓绞?的圖16所示的過程確定NWA。
圖23所示的流程圖表示圖22中步驟2201的一種示例過程。
在步驟2300中，CPU 2505將RMA+DMA 2001的起始地址指定為搜索起始地址，從該地址開始搜索記錄區(qū)與未記錄區(qū)之間的邊界。
在步驟2301中，搜索部分2504從搜索起始位置開始搜索記錄區(qū)與未記錄區(qū)之間的邊界。
在步驟2302中，CPU 2505判斷緊靠檢測出的邊界后面的未記錄區(qū)的地址是否與RMA+DMA 2001的起始地址相匹配。當這兩個地址彼此不匹配時，確定已經(jīng)記錄了RMD+DMS，流程轉(zhuǎn)到步驟2303。當這兩個地址彼此匹配時，確定還沒有記錄RMD+DMS，流程轉(zhuǎn)到步驟2304。
記錄在緊靠未記錄區(qū)前面區(qū)域中的RMD+DMS為最新的RMD+DMS2100。在步驟2303中，記錄/再現(xiàn)控制部分2503讀出記錄在緊靠檢測出的邊界前面區(qū)域中的RMD+DMS 2100，且CPU 2505將最新的DFL2110和最新的RMD 2120存儲到緩沖器2506中。
在步驟2304中(還沒有記錄RMD+DMS)，例如，CPU 2505確定該一次寫入信息記錄介質(zhì)2000是全新光盤，產(chǎn)生表示全新狀態(tài)的標記和在初始狀態(tài)下表示缺陷區(qū)地址為0的DMS，并將標記和DMS存儲到緩沖器2506中。
圖24所示的流程圖表示用于將更新的RMD+DMS記錄到RMA+DMA中的一種示例方法。
在步驟1901中，CPU 2505將已嘗試進行記錄的Rzone中的最大地址設定為LRA。
在步驟1902中，記錄/再現(xiàn)控制部分2503判斷在用戶數(shù)據(jù)記錄過程中是否發(fā)現(xiàn)缺陷。當沒有發(fā)現(xiàn)缺陷時，流程轉(zhuǎn)到步驟2403。
當在步驟1902中發(fā)現(xiàn)了缺陷時，CPU 2505命令記錄/再現(xiàn)控制部分2503執(zhí)行取代過程，在取代過程中，將否則要記錄到檢測出的缺陷區(qū)中的數(shù)據(jù)，記錄到備用區(qū)(取代目的地)中。記錄/再現(xiàn)控制部分2503執(zhí)行取代過程(步驟2401)。
在步驟2402中，CPU 2505將檢測出的缺陷區(qū)的地址設定為缺陷區(qū)地址，將在該區(qū)域中存儲數(shù)據(jù)的備用區(qū)的地址設定為取代目的地址，并將這些地址添加到DFL 2110中，即，更新DFL 2110。
在步驟2403中，記錄/再現(xiàn)控制部分2503將包含更新的DFL和更新的LRA的最新的RMD+DMS，記錄到RMA+DMA 2001中。
在圖24的過程中，可執(zhí)行圖19的步驟1905和1906。在此情形中，在LRA后面的記錄區(qū)中，在RMA+DMA的最新的RMD中包含沒有檢測到缺陷區(qū)的LRA。
在最新的RMD所包含的LRA后面的記錄區(qū)中，沒有檢測到缺陷區(qū)。從而，僅需要一次用于搜索記錄區(qū)與未記錄區(qū)之間邊界的過程。因而，可縮短檢測NWA所需的時間。通過這種更新方法，實現(xiàn)一種一次寫入信息記錄介質(zhì)，使得在最新的RMD所包含的LRA后面的記錄區(qū)中，沒有檢測到的缺陷區(qū)。
在實施方式4中，將DFL和RMD一起記錄到RMA+DMA中。從而，與分別記錄DFL和RMD相比，可有效地利用區(qū)域。此外，當讀取最新的DMS和最新的RMD時，僅需要一次用于搜索記錄區(qū)與未記錄區(qū)之間邊界的過程，從而可縮短處理時間。
在實施方式4中，在檢測到缺陷之后，將缺陷區(qū)中的數(shù)據(jù)記錄到備用區(qū)中，并將取代目的地址添加到DFL中。顯然，僅通過在檢測到缺陷之后輕松地更新LRA，在LRA后面的記錄區(qū)中的最新的RMD中，包含沒有檢測到的缺陷區(qū)的LRA。
如實施方式1到4中所描述的，記錄/再現(xiàn)設備2500執(zhí)行用于搜索可寫區(qū)的方法，和用于更新記錄管理信息的方法。
注意，通常，在作為集成電路的LSI中實現(xiàn)記錄/再現(xiàn)控制部分2503，搜索部分2504，CPU 2505，緩沖器2506和內(nèi)部總線2507。這些部件可以在各個單個芯片上分別提供?？商鎿Q地，可將這些部件中的一部分或全部集成到一個芯片中。
正如此處所使用的，將集成電路稱作LSI。根據(jù)集成規(guī)模，集成電路可以為所謂的IC，系統(tǒng)LSI，高LSI或超LSI。
本發(fā)明的集成電路不限于LSI，可通過專用電路或通用處理器來實現(xiàn)?？墒褂每稍贚SI制造完成之后進行編程的FPGA(現(xiàn)場可編程門陣列)，或者使用能夠重新配置電路單元的接線或設置的可重新配置處理器。
此外，如果由于半導體技術或者另一種派生技術的進步導致出現(xiàn)集成電路技術，并取代當前的LSI技術，可使用這種新技術將功能塊集成。可使用生物工藝學中的適應性。
所提供的本發(fā)明的上述實施方式僅是出于說明的目的?？墒褂萌魏螖?shù)據(jù)結(jié)構(gòu)和算法，只要它們不偏離本發(fā)明的主旨即可。
例如，DFL或RMD可具有固定長度或可變長度。
例如，DDS可以不記錄在記錄區(qū)的終結(jié)端。
例如，RMD可以比DFL更早地記錄，或反之亦然。
例如，可發(fā)現(xiàn)最新的RMD要遲于最新的DMS。
例如，可記錄具有相同內(nèi)容的多個RMA和DMA以便進行多重復用。
例如，可提供多個RMA和DMA，并輪換著使用。
例如，當檢測到缺陷時，可將缺陷區(qū)中的數(shù)據(jù)記錄或不記錄到備用區(qū)中。
例如，可在添加到DFL之前執(zhí)行備用區(qū)的取代，或反之亦然。
例如，在不取代為備用區(qū)時，可以不存在備用區(qū)。
例如，當將RMD或DFL的起始位置記錄到從記錄結(jié)束位置開始的指定位置處時，可以不記錄表示所述起始位置的指針。
例如，DFL中包含的缺陷區(qū)地址或取代目的地址，以及RMD中包含的LRA或范圍信息，可按照指定的數(shù)據(jù)格式設置，并且不限于圖15和21中所示的數(shù)據(jù)格式。
用于從未記錄區(qū)區(qū)分記錄區(qū)的方法不限于圖6的區(qū)分方法。例如，對再現(xiàn)數(shù)據(jù)進行差錯校正，并且可判斷差錯是否超出校正范圍。例如，可判斷是否正常地獲得了數(shù)據(jù)中所包含的地址信息。例如，可使用表示再現(xiàn)信號質(zhì)量的抖動值，MLSE(最大似然序列差錯)等。
根據(jù)本發(fā)明一個方面，提供一種用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的可寫區(qū)的設備。所述一次寫入信息記錄介質(zhì)包括用于記錄用戶數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)；記錄管理區(qū)，用于記錄表示數(shù)據(jù)區(qū)記錄狀態(tài)的記錄管理信息；以及，缺陷管理區(qū)，當在數(shù)據(jù)區(qū)中檢測到至少一個缺陷區(qū)時，用于記錄對所述至少一個缺陷區(qū)進行管理的缺陷管理信息。所述記錄管理信息包含表示至少一個記錄區(qū)的至少一個記錄區(qū)地址。所述缺陷管理信息包含，當檢測到至少一個缺陷區(qū)時，表示所述至少一個缺陷區(qū)的至少一個缺陷區(qū)地址。所述設備包括頭部分，用于執(zhí)行以下至少之一將信息記錄到一次寫入信息記錄介質(zhì)和從一次寫入信息記錄介質(zhì)再現(xiàn)信息；搜索部分，用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的未記錄區(qū)；以及，控制部分，用于控制所述頭部分和搜索部分的操作。所述搜索部分使用指定地址作為參考，搜索未記錄區(qū)。所述控制部分根據(jù)搜索結(jié)果，提供表示候選可寫區(qū)的候選區(qū)地址，并執(zhí)行判斷過程，判斷缺陷管理信息中是否存在表示與候選區(qū)地址相匹配的地址的缺陷區(qū)地址。當判斷結(jié)果為存在表示與候選地址相匹配的地址的缺陷區(qū)地址時，搜索部分使用該候選區(qū)地址后面的地址作為參考，執(zhí)行對另一個未記錄區(qū)的第二次搜索，并且控制部分根據(jù)第二次搜索的結(jié)果重新設置候選區(qū)地址，并執(zhí)行判斷過程。當判斷結(jié)果為不存在表示與候選區(qū)地址相匹配的地址的缺陷區(qū)地址時，控制部分將候選區(qū)地址所表示的區(qū)域確定為可寫區(qū)。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供一種用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的可寫區(qū)的設備。所述一次寫入信息記錄介質(zhì)包括用于記錄用戶數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)；記錄管理區(qū)，用于記錄表示數(shù)據(jù)區(qū)記錄狀態(tài)的記錄管理信息；以及，缺陷管理區(qū)，當在數(shù)據(jù)區(qū)中檢測到至少一個缺陷區(qū)時，用于記錄對所述至少一個缺陷區(qū)進行管理的缺陷管理信息。所述記錄管理信息包含表示至少一個記錄區(qū)的至少一個記錄區(qū)地址。所述缺陷管理信息包含，當檢測到至少一個缺陷區(qū)時，表示所述至少一個缺陷區(qū)的至少一個缺陷區(qū)地址。所述設備包括頭部分，用于執(zhí)行以下至少之一將信息記錄到一次寫入信息記錄介質(zhì)上和從一次寫入信息記錄介質(zhì)再現(xiàn)信息；搜索部分，用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的未記錄區(qū)；以及，控制部分，用于控制所述頭部分和搜索部分的操作。當數(shù)據(jù)區(qū)的指定記錄范圍中存在至少一個缺陷區(qū)時，控制部分檢測缺陷區(qū)地址，該缺陷區(qū)地址表示位于指定記錄范圍的至少一個缺陷區(qū)中最后地址處的缺陷區(qū)的地址?？刂撇糠謱⑽挥谒鶛z測出的缺陷區(qū)地址和表示指定記錄范圍的記錄區(qū)的記錄區(qū)地址兩者之后的地址，設定為表示候選可寫區(qū)的候選區(qū)地址。搜索部分使用候選區(qū)地址作為參考，搜索未記錄區(qū)，且控制部分將所檢測出的未記錄區(qū)確定為可寫區(qū)。
根據(jù)本發(fā)明另一方面，提供一種用于更新記錄管理信息的設備，所述記錄管理信息表示一次寫入信息記錄介質(zhì)用于記錄用戶數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)的記錄狀態(tài)。所述一次寫入信息記錄介質(zhì)還包括用于記錄記錄管理信息的記錄管理區(qū)。記錄管理信息包含表示至少一個記錄區(qū)的至少一個記錄區(qū)地址。所述設備包括頭部分，用于執(zhí)行以下至少之一將信息記錄到一次寫入信息記錄介質(zhì)上和從一次寫入信息記錄介質(zhì)再現(xiàn)信息；搜索部分，用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的未記錄區(qū)；以及，控制部分，用于控制所述頭部分和搜索部分的操作?？刂撇糠峙袛鄶?shù)據(jù)區(qū)的指定記錄范圍內(nèi)是否存在缺陷區(qū)。當指定記錄范圍內(nèi)存在缺陷區(qū)時，控制部分更新記錄管理信息，使表示指定記錄區(qū)中記錄區(qū)終結(jié)端的記錄區(qū)地址表示缺陷區(qū)地址之上或之后的地址。
在本發(fā)明的一個實施方式中，一次寫入信息記錄介質(zhì)還包括缺陷管理區(qū)，當存在缺陷區(qū)時用于記錄管理缺陷區(qū)的缺陷管理信息。當指定記錄范圍內(nèi)存在缺陷區(qū)時，控制部分更新缺陷管理信息，使缺陷管理信息包含表示缺陷區(qū)的缺陷區(qū)地址。
根據(jù)本發(fā)明另一方面，提供一種用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的可寫區(qū)的集成電路。所述一次寫入信息記錄介質(zhì)包括用于記錄用戶數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)；記錄管理區(qū)，用于記錄表示數(shù)據(jù)區(qū)記錄狀態(tài)的記錄管理信息；以及，缺陷管理區(qū)，當在數(shù)據(jù)區(qū)中檢測到至少一個缺陷區(qū)時，用于記錄對所述至少一個缺陷區(qū)進行管理的缺陷管理信息。所述記錄管理信息包含表示至少一個記錄區(qū)的至少一個記錄區(qū)地址。所述缺陷管理信息包含當檢測到至少一個缺陷區(qū)時用于表示所述至少一個缺陷區(qū)的至少一個缺陷區(qū)地址。所述集成電路包括搜索部分，用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的未記錄區(qū)；和，用于控制搜索部分的操作的控制部分。所述搜索部分使用指定地址作為參考搜索未記錄區(qū)。所述控制部分根據(jù)搜索結(jié)果，提供表示候選可寫區(qū)的候選區(qū)地址，并執(zhí)行判斷過程，判斷缺陷管理信息中是否存在表示與候選區(qū)地址相匹配的地址的缺陷區(qū)地址。當判斷結(jié)果為存在表示與候選區(qū)地址相匹配的地址的缺陷區(qū)地址時，搜索部分使用候選區(qū)地址后面的地址作為參考，執(zhí)行對另一未記錄區(qū)的第二次搜索，且控制部分根據(jù)第二次搜索的結(jié)果重新設置候選區(qū)地址，并執(zhí)行判斷過程。當判斷結(jié)果為不存在表示與候選區(qū)地址相匹配的地址的缺陷區(qū)地址時，控制部分將候選區(qū)地址所表示的區(qū)域確定為可寫區(qū)。
根據(jù)本發(fā)明另一方面，提供一種用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的可寫區(qū)的集成電路。所述一次寫入信息記錄介質(zhì)包括用于記錄用戶數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)；記錄管理區(qū)，用于記錄表示數(shù)據(jù)區(qū)記錄狀態(tài)的記錄管理信息；以及，缺陷管理區(qū)，當在數(shù)據(jù)區(qū)中檢測到至少一個缺陷區(qū)時，用于記錄對所述至少一個缺陷區(qū)進行管理的缺陷管理信息。所述記錄管理信息包含表示至少一個記錄區(qū)的至少一個記錄區(qū)地址。所述缺陷管理信息包含當檢測到至少一個缺陷區(qū)時表示至少一個缺陷區(qū)的至少一個缺陷區(qū)地址。所述集成電路包括用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的未記錄區(qū)的搜索部分；和，用于控制搜索部分的操作的控制部分。當數(shù)據(jù)區(qū)的指定記錄范圍內(nèi)存在至少一個缺陷區(qū)時，控制部分檢測缺陷區(qū)地址，所述缺陷區(qū)地址表示位于指定記錄范圍的至少一個缺陷區(qū)中最后地址處的缺陷區(qū)的地址。控制部分將位于所檢測出的缺陷區(qū)地址和表示指定記錄范圍的記錄區(qū)的記錄區(qū)地址兩者之后的地址，設定為表示候選可寫區(qū)的候選區(qū)地址。搜索部分使用候選區(qū)地址作為參考，搜索未記錄區(qū)，且控制部分將所檢測出的未記錄區(qū)確定為可寫區(qū)。
根據(jù)本發(fā)明另一方面，提供一種用于更新記錄管理信息的集成電路，所述記錄管理信息表示用于記錄一次寫入信息記錄介質(zhì)的用戶數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)的記錄狀態(tài)。所述一次寫入信息記錄介質(zhì)還包括用于記錄記錄管理信息的記錄管理區(qū)。所述記錄管理信息包含表示至少一個記錄區(qū)的至少一個記錄區(qū)地址。所述集成電路包括搜索部分，用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的未記錄區(qū)；以及，控制部分，用于控制所述搜索部分的操作?？刂撇糠峙袛鄶?shù)據(jù)區(qū)的指定記錄范圍內(nèi)是否存在缺陷區(qū)。當指定記錄范圍內(nèi)存在缺陷區(qū)時，控制部分更新記錄管理信息，使表示指定記錄區(qū)中記錄區(qū)終結(jié)端的記錄區(qū)地址表示缺陷區(qū)地址之上或之后的地址。
在本發(fā)明的一個實施方式中，一次寫入信息記錄介質(zhì)還包括缺陷管理區(qū)，當存在缺陷區(qū)時用于記錄管理缺陷區(qū)的缺陷管理信息。當指定記錄范圍中存在缺陷區(qū)時，控制部分更新缺陷管理信息，使缺陷管理信息包含表示缺陷區(qū)的缺陷區(qū)地址。
根據(jù)本發(fā)明另一方面，提供一種用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的可寫區(qū)的方法。所述一次寫入信息記錄介質(zhì)包括用于記錄用戶數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)；記錄管理區(qū)，用于記錄表示數(shù)據(jù)區(qū)記錄狀態(tài)的記錄管理信息；以及，缺陷管理區(qū)，當在數(shù)據(jù)區(qū)中檢測到至少一個缺陷區(qū)時，用于記錄對所述至少一個缺陷區(qū)進行管理的缺陷管理信息。記錄管理信息包含表示至少一個記錄區(qū)的至少一個記錄區(qū)地址。缺陷管理信息包含當檢測到至少一個缺陷區(qū)時表示所述至少一個缺陷區(qū)的至少一個缺陷區(qū)地址。所述方法包括以下步驟使用指定地址作為參考搜索未記錄區(qū)；根據(jù)搜索結(jié)果提供表示候選可寫區(qū)的候選區(qū)地址，并執(zhí)行判斷過程，判斷缺陷管理信息中是否存在表示與候選區(qū)地址相匹配的地址的缺陷區(qū)地址；當判斷結(jié)果為存在表示與候選區(qū)地址相匹配的地址的缺陷區(qū)地址時，使用候選區(qū)地址后面的地址作為參考對另一未記錄區(qū)執(zhí)行第二次搜索，并根據(jù)第二次搜索的結(jié)果重新設定候選區(qū)地址，執(zhí)行判斷過程；當判斷結(jié)果為不存在表示與候選區(qū)地址相匹配的地址的缺陷區(qū)地址時，將候選區(qū)地址所表示的區(qū)域確定為可寫區(qū)。
根據(jù)本發(fā)明另一方面，提供一種用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的可寫區(qū)的方法。所述一次寫入信息記錄介質(zhì)包括用于記錄用戶數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)；記錄管理區(qū)，用于記錄表示數(shù)據(jù)區(qū)記錄狀態(tài)的記錄管理信息；以及，缺陷管理區(qū)，當在數(shù)據(jù)區(qū)中檢測到至少一個缺陷區(qū)時，用于記錄對所述至少一個缺陷區(qū)進行管理的缺陷管理信息。記錄管理信息包含表示至少一個記錄區(qū)的至少一個記錄區(qū)地址。缺陷管理信息包含當檢測到至少一個缺陷區(qū)時表示所述至少一個缺陷區(qū)的至少一個缺陷區(qū)地址。所述方法包括以下步驟當數(shù)據(jù)區(qū)的指定記錄范圍中存在至少一個缺陷區(qū)時，檢測缺陷區(qū)地址，所述缺陷區(qū)地址表示位于指定記錄范圍的至少一個缺陷區(qū)中最后地址處的缺陷區(qū)的地址；將位于所檢測出的缺陷區(qū)地址和表示指定記錄范圍的記錄區(qū)的記錄區(qū)地址兩者之后的地址，設定為表示候選可寫區(qū)的候選區(qū)地址；以及，使用候選區(qū)地址作為參考，搜索未記錄區(qū)，且將所檢測出的未記錄區(qū)確定為可寫區(qū)。
根據(jù)本發(fā)明另一方面，提供一種用于更新記錄管理信息的方法，所述記錄管理信息表示用于記錄一次寫入信息記錄介質(zhì)的用戶數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)的記錄狀態(tài)。所述一次寫入信息記錄介質(zhì)還包括用于記錄記錄管理信息的記錄管理區(qū)。記錄管理信息包含表示至少一個記錄區(qū)的至少一個記錄區(qū)地址。所述方法包括以下步驟判斷數(shù)據(jù)區(qū)的指定記錄范圍內(nèi)是否存在缺陷區(qū)；并且，當指定記錄范圍內(nèi)存在缺陷區(qū)時，更新記錄管理信息，使表示指定記錄范圍中記錄區(qū)終結(jié)端的記錄區(qū)地址表示缺陷區(qū)地址之上或之后的地址。
在本發(fā)明的一個實施方式中，一次寫入信息記錄介質(zhì)還包括缺陷管理區(qū)，當存在缺陷區(qū)時用于記錄管理缺陷區(qū)的缺陷管理信息。該方法還包括以下步驟當指定記錄范圍中存在缺陷區(qū)時，更新缺陷管理信息，使缺陷管理信息包含表示缺陷區(qū)的缺陷區(qū)地址。
根據(jù)本發(fā)明另一方面，提供一種一次寫入信息記錄介質(zhì)，包括用于記錄用戶數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)；和，記錄管理區(qū)，用于記錄表示數(shù)據(jù)區(qū)記錄狀態(tài)的記錄管理信息。記錄管理信息包含表示至少一個記錄區(qū)的至少一個記錄區(qū)地址。當數(shù)據(jù)區(qū)的指定記錄范圍內(nèi)存在缺陷區(qū)時，表示指定記錄范圍中記錄區(qū)終結(jié)端的記錄區(qū)地址，表示缺陷區(qū)之上或之后的地址。
在本發(fā)明一個實施方式中，一次寫入信息記錄介質(zhì)還包括缺陷管理區(qū)，當存在缺陷區(qū)時，缺陷管理區(qū)用于記錄管理缺陷區(qū)的缺陷管理信息。
工業(yè)上的應用根據(jù)本發(fā)明，判斷所檢測出的未記錄區(qū)是否與缺陷區(qū)相匹配，從而防止將缺陷區(qū)判斷為可寫區(qū)。因而，能夠?qū)⑿畔⑹冀K如一地記錄到正常的記錄區(qū)中。
根據(jù)本發(fā)明，實現(xiàn)一種一次寫入信息記錄介質(zhì)，從而在指定記錄區(qū)中最后記錄地址之后的記錄區(qū)中不存在檢測到的缺陷區(qū)。根據(jù)本發(fā)明，最新的最后記錄地址總為表示缺陷區(qū)之上或之后記錄區(qū)的地址。從而，僅需要一次用于搜索記錄區(qū)與未記錄區(qū)之間邊界的過程，減少了確定可寫區(qū)時花費的時間。
根據(jù)本發(fā)明，一次寫入信息記錄介質(zhì)中包含有表示缺陷列表或記錄狀態(tài)的信息的起始位置的指針。從而，RMD或DMS可具有可變的長度。因此，可更有效地使用區(qū)域。
根據(jù)本發(fā)明，將RMD和DMS記錄到一起。從而，當讀出最新的RMD和DMS時，僅需要一次用于搜索記錄區(qū)與未記錄區(qū)之間邊界的過程，使處理時間縮短。
從而，本發(fā)明可用于將信息記錄到一次寫入信息記錄介質(zhì)上，并從一次寫入信息記錄介質(zhì)再現(xiàn)信息的技術領域中。
本領域技術人員在不偏離本發(fā)明范圍和精神的前提下，易于想到多種其他變型。因而，所附權利要求的范圍不限于所給出的描述，而是更廣泛地構(gòu)建權利。
權利要求
1.一種用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的可寫區(qū)的設備，其中，所述一次寫入信息記錄介質(zhì)包括用于記錄用戶數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)；記錄管理區(qū)，用于記錄表示數(shù)據(jù)區(qū)記錄狀態(tài)的記錄管理信息；以及缺陷管理區(qū)，當在數(shù)據(jù)區(qū)中檢測到至少一個缺陷區(qū)時，用于記錄對所述至少一個缺陷區(qū)進行管理的缺陷管理信息，所述記錄管理信息包含表示至少一個記錄區(qū)的至少一個記錄區(qū)地址，所述缺陷管理信息包含，當檢測到至少一個缺陷區(qū)時，表示所述至少一個缺陷區(qū)的至少一個缺陷區(qū)地址，所述設備包括頭部分，用于執(zhí)行以下至少之一將信息記錄到一次寫入信息記錄介質(zhì)和從一次寫入信息記錄介質(zhì)再現(xiàn)信息；搜索部分，用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的未記錄區(qū)；以及控制部分，用于控制所述頭部分和搜索部分的操作，所述搜索部分使用指定地址作為參考，搜索未記錄區(qū)，所述控制部分根據(jù)搜索結(jié)果，提供表示候選可寫區(qū)的候選區(qū)地址，并執(zhí)行判斷過程，判斷缺陷管理信息中是否存在表示與候選區(qū)地址相匹配的地址的缺陷區(qū)地址，當判斷結(jié)果為存在表示與候選地址相匹配的地址的缺陷區(qū)地址時，搜索部分使用該候選區(qū)地址后面的地址作為參考，執(zhí)行對另一個未記錄區(qū)的第二次搜索，并且控制部分根據(jù)第二次搜索的結(jié)果重新設置候選區(qū)地址，并執(zhí)行判斷過程，當判斷結(jié)果為不存在表示與候選區(qū)地址相匹配的地址的缺陷區(qū)地址時，控制部分將候選區(qū)地址所表示的區(qū)域確定為可寫區(qū)。
2.一種用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的可寫區(qū)的設備，其中，所述一次寫入信息記錄介質(zhì)包括用于記錄用戶數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)；記錄管理區(qū)，用于記錄表示數(shù)據(jù)區(qū)記錄狀態(tài)的記錄管理信息；以及缺陷管理區(qū)，當在數(shù)據(jù)區(qū)中檢測到至少一個缺陷區(qū)時，用于記錄對所述至少一個缺陷區(qū)進行管理的缺陷管理信息，所述記錄管理信息包含表示至少一個記錄區(qū)的至少一個記錄區(qū)地址，所述缺陷管理信息包含，當檢測到至少一個缺陷區(qū)時，表示所述至少一個缺陷區(qū)的至少一個缺陷區(qū)地址，所述設備包括頭部分，用于執(zhí)行以下至少之一將信息記錄到一次寫入信息記錄介質(zhì)上和從一次寫入信息記錄介質(zhì)再現(xiàn)信息；搜索部分，用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的未記錄區(qū)；以及控制部分，用于控制所述頭部分和搜索部分的操作，當數(shù)據(jù)區(qū)的指定記錄范圍中存在至少一個缺陷區(qū)時，控制部分檢測缺陷區(qū)地址，該缺陷區(qū)地址表示位于指定記錄范圍的至少一個缺陷區(qū)中最后地址處的缺陷區(qū)的地址，控制部分將位于所檢測出的缺陷區(qū)地址和表示指定記錄范圍的記錄區(qū)的記錄區(qū)地址兩者之后的地址，設定為表示候選可寫區(qū)的候選區(qū)地址，并且搜索部分使用候選區(qū)地址作為參考，搜索未記錄區(qū)，且控制部分將所檢測出的未記錄區(qū)確定為可寫區(qū)。
3.一種用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的可寫區(qū)的集成電路，其中，所述一次寫入信息記錄介質(zhì)包括用于記錄用戶數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)；記錄管理區(qū)，用于記錄表示數(shù)據(jù)區(qū)記錄狀態(tài)的記錄管理信息；以及缺陷管理區(qū)，當在數(shù)據(jù)區(qū)中檢測到至少一個缺陷區(qū)時，用于記錄對所述至少一個缺陷區(qū)進行管理的缺陷管理信息，所述記錄管理信息包含表示至少一個記錄區(qū)的至少一個記錄區(qū)地址，所述缺陷管理信息包含當檢測到至少一個缺陷區(qū)時用于表示所述至少一個缺陷區(qū)的至少一個缺陷區(qū)地址，所述集成電路包括搜索部分，用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的未記錄區(qū)；和用于控制搜索部分的操作的控制部分，所述搜索部分使用指定地址作為參考搜索未記錄區(qū)，所述控制部分根據(jù)搜索結(jié)果，提供表示候選可寫區(qū)的候選區(qū)地址，并執(zhí)行判斷過程，判斷缺陷管理信息中是否存在表示與候選區(qū)地址相匹配的地址的缺陷區(qū)地址，當判斷結(jié)果為存在表示與候選區(qū)地址相匹配的地址的缺陷區(qū)地址時，搜索部分使用候選區(qū)地址后面的地址作為參考，執(zhí)行對另一未記錄區(qū)的第二次搜索，且控制部分根據(jù)第二次搜索的結(jié)果重新設置候選區(qū)地址，并執(zhí)行判斷過程，以及當判斷結(jié)果為不存在表示與候選區(qū)地址相匹配的地址的缺陷區(qū)地址時，控制部分將候選區(qū)地址所表示的區(qū)域確定為可寫區(qū)。
4.一種用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的可寫區(qū)的集成電路，其中，所述一次寫入信息記錄介質(zhì)包括用于記錄用戶數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)；記錄管理區(qū)，用于記錄表示數(shù)據(jù)區(qū)記錄狀態(tài)的記錄管理信息；以及缺陷管理區(qū)，當在數(shù)據(jù)區(qū)中檢測到至少一個缺陷區(qū)時，用于記錄對所述至少一個缺陷區(qū)進行管理的缺陷管理信息，所述記錄管理信息包含表示至少一個記錄區(qū)的至少一個記錄區(qū)地址，所述缺陷管理信息包含當檢測到至少一個缺陷區(qū)時表示至少一個缺陷區(qū)的至少一個缺陷區(qū)地址，所述集成電路包括用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的未記錄區(qū)的搜索部分；和用于控制搜索部分的操作的控制部分，當數(shù)據(jù)區(qū)的指定記錄范圍內(nèi)存在至少一個缺陷區(qū)時，控制部分檢測缺陷區(qū)地址，所述缺陷區(qū)地址表示位于指定記錄范圍的至少一個缺陷區(qū)中最后地址處的缺陷區(qū)的地址，控制部分將位于所檢測出的缺陷區(qū)地址和表示指定記錄范圍的記錄區(qū)的記錄區(qū)地址兩者之后的地址，設定為表示候選可寫區(qū)的候選區(qū)地址，并且搜索部分使用候選區(qū)地址作為參考，搜索未記錄區(qū)，且控制部分將所檢測出的未記錄區(qū)確定為可寫區(qū)。
5.一種用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的可寫區(qū)的方法，其中，所述一次寫入信息記錄介質(zhì)包括用于記錄用戶數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)；記錄管理區(qū)，用于記錄表示數(shù)據(jù)區(qū)記錄狀態(tài)的記錄管理信息；以及缺陷管理區(qū)，當在數(shù)據(jù)區(qū)中檢測到至少一個缺陷區(qū)時，用于記錄對所述至少一個缺陷區(qū)進行管理的缺陷管理信息，記錄管理信息包含表示至少一個記錄區(qū)的至少一個記錄區(qū)地址，缺陷管理信息包含當檢測到至少一個缺陷區(qū)時表示所述至少一個缺陷區(qū)的至少一個缺陷區(qū)地址，所述方法包括以下步驟使用指定地址作為參考搜索未記錄區(qū)；根據(jù)搜索結(jié)果提供表示候選可寫區(qū)的候選區(qū)地址，并執(zhí)行判斷過程，判斷缺陷管理信息中是否存在表示與候選區(qū)地址相匹配的地址的缺陷區(qū)地址；當判斷結(jié)果為存在表示與候選區(qū)地址相匹配的地址的缺陷區(qū)地址時，使用候選區(qū)地址后面的地址作為參考對另一未記錄區(qū)執(zhí)行第二次搜索，并根據(jù)第二次搜索的結(jié)果重新設定候選區(qū)地址，執(zhí)行判斷過程；當判斷結(jié)果為不存在表示與候選區(qū)地址相匹配的地址的缺陷區(qū)地址時，將候選區(qū)地址所表示的區(qū)域確定為可寫區(qū)。
6.一種用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的可寫區(qū)的方法，其中，所述一次寫入信息記錄介質(zhì)包括用于記錄用戶數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)；記錄管理區(qū)，用于記錄表示數(shù)據(jù)區(qū)記錄狀態(tài)的記錄管理信息；以及缺陷管理區(qū)，當在數(shù)據(jù)區(qū)中檢測到至少一個缺陷區(qū)時，用于記錄對所述至少一個缺陷區(qū)進行管理的缺陷管理信息，記錄管理信息包含表示至少一個記錄區(qū)的至少一個記錄區(qū)地址，缺陷管理信息包含當檢測到至少一個缺陷區(qū)時表示所述至少一個缺陷區(qū)的至少一個缺陷區(qū)地址，所述方法包括以下步驟當數(shù)據(jù)區(qū)的指定記錄范圍中存在至少一個缺陷區(qū)時，檢測缺陷區(qū)地址，所述缺陷區(qū)地址表示位于指定記錄范圍的至少一個缺陷區(qū)中最后地址處的缺陷區(qū)的地址；將位于所檢測出的缺陷區(qū)地址和表示指定記錄范圍的記錄區(qū)的記錄區(qū)地址兩者之后的地址，設定為表示候選可寫區(qū)的候選區(qū)地址；以及使用候選區(qū)地址作為參考，搜索未記錄區(qū)，且將所檢測出的未記錄區(qū)確定為可寫區(qū)。
全文摘要
提供一種用于搜索一次寫入信息記錄介質(zhì)的可寫區(qū)的設備，包括搜索部分和控制部分。搜索部分使用指定地址作為參考，搜索未記錄區(qū)?？刂撇糠指鶕?jù)搜索結(jié)果，提供表示候選可寫區(qū)的候選區(qū)地址，并執(zhí)行判斷過程，判斷缺陷管理信息中是否存在表示與候選區(qū)地址相匹配的地址的缺陷區(qū)地址。當判斷結(jié)果為不存在表示與候選區(qū)地址相匹配的地址的缺陷區(qū)地址時，控制部分將候選區(qū)地址所表示的區(qū)域確定為可寫區(qū)。
文檔編號G11B20/12GK1839443SQ20048002420
公開日2006年9月27日 申請日期2004年6月21日 優(yōu)先權日2003年6月23日
發(fā)明者加藤壽惠, 山本義一, 植田宏, 伊藤基志 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社