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基板缺陷檢測裝置的制作方法

文檔序號:6753549閱讀:139來源:國知局
專利名稱:基板缺陷檢測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明關(guān)于一種檢測裝置,特別是關(guān)于一種用以檢測光盤基板缺陷的基板缺陷檢測裝置。
背景技術(shù)
近年來,使用光盤片來儲存資料已經(jīng)是越來越普及的資料儲存方式,相對的,光盤片的生產(chǎn)量也越來越大,因此光盤片的品質(zhì)便是大量生產(chǎn)的一個重要指標;一般而言,制作光盤片的首要步驟之一即為形成光盤片的光盤基板,其通常是利用射出成形方式將原物料擠壓至一模版上,此時,預(yù)刻在模版上的圖案便可以決定所形成的光盤基板上的圖案,并同時可以定義出所形成的光盤基板的用途,例如,其可以是用來制造CD、CD-R、CD-RW、DVD、DVD-R、DVD-RW等。
承上所述,在制得所需的光盤基板之后,通常會接著于光盤基板上形成所需的膜層,如記錄層、反射層、或介電層等。然而,若所制得的光盤基板有缺陷時,則所完成的光盤片可能會不合規(guī)格,亦即必須報廢;如此將大幅地影響產(chǎn)率、并提高生產(chǎn)成本。因此,于光盤基板形成后,會先對其進行適當?shù)臏y試,而針對光盤基板上所形成的圖案的檢測方式,目前并無較有效率的方法,乃是利用人工肉眼直接觀察以判斷其是否為不良品,但是,此種檢測方式并無法有效檢測出光盤基板上的微小缺陷,如因射出成形過程中的不當所造成的水波紋圖案或刮痕的缺陷,甚至是射出成形過程不完全所造成的光盤基板外圍圖案不清的情形,這些有缺陷的光盤基板可能無法利用人工方式有效地檢測出來。
因此,如何提供一種能夠有效地針對光盤基板的缺陷進行檢測的基板缺陷檢測裝置,實為目前最需改善的課題之一。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于上述課題,本發(fā)明的目的為提供一種能夠有效地檢測光盤基板的缺陷的基板缺陷檢測裝置。
為達上述目的,依本發(fā)明的基板缺陷檢測裝置,其用以檢測一光盤基板,其特征是,包含一光源,其發(fā)出一光束;一第一偏光板,該光源設(shè)置于該第一偏光板的一側(cè);一第二偏光板,其設(shè)置于該第一偏光板的另一側(cè),且該第一偏光板的偏光方向與該第二偏光板的偏光方向垂直,其中該光盤基板設(shè)置于該第一偏光板與該第二偏光板之間,該光束依序穿過該第一偏光板、該光盤基板及該第二偏光板。
本發(fā)明還包含以下技術(shù)特征一擴散板,其設(shè)置于該光源及該第一偏光板之間。
一安定器,其與該光源電連接,以便該光源發(fā)出穩(wěn)定不閃爍的該光束。
復(fù)數(shù)個保護層,其分別設(shè)置于該第一偏光板與該第二偏光板的兩側(cè),以保護該第一偏光板與該第二偏光板。
承上所述,因依本發(fā)明的基板缺陷檢測裝置將待檢測的光盤基板設(shè)置于二偏光板之間,所以使用者可以于第二偏光板的另一側(cè)快速地觀察光盤基板的透光情形,并根據(jù)光盤基板的透光情形正確地判斷出光盤基板是否存在有前述的缺陷,藉以提高最終光盤產(chǎn)品的產(chǎn)率、及節(jié)省其制造成本。
本發(fā)明還包括其它技術(shù)特征,將通過以下附圖和具體實施例作以進一步說明。


圖1為一示意圖,顯示依本發(fā)明較佳實施例的基板缺陷檢測裝置的示意;圖2為一示意圖,顯示利用本發(fā)明較佳實施例的基板缺陷檢測裝置檢測光盤基板的示意;以及圖3為一示意圖,使用者觀察測試中的光盤基板的示意。
圖中符號說明1 基板缺陷檢測裝置11 光源12 第一偏光板13 第二偏光板14 擴散板15 安定器16 保護層17 支架2 光盤基板具體實施方式
以下將參照相關(guān)附圖,說明依本發(fā)明較佳實施例的基板缺陷檢測裝置,其中相同的元件將以相同的參照符號加以說明。
請參照圖1所示,依本發(fā)明較佳實施例的基板缺陷檢測裝置1包括一光源11、一第一偏光板12以及一第二偏光板13。另外,在本實施例中,基板缺陷檢測裝置1更包括一擴散板14、一安定器15、復(fù)數(shù)個保護層16及復(fù)數(shù)個支架17。
如圖1所示,第一偏光板12設(shè)置于光源11與第二偏光板13之間,而且第一偏光板12的偏光方向與第二偏光板13的偏光方向垂直,因此,當光源11發(fā)出一光束時,此光束會依序穿過第一偏光板12及第二偏光板13;擴散板14設(shè)置于光源11及第一偏光板12之間,其可以為一可透光的乳白色壓克力板,故在光源11所發(fā)出的光束穿過第一偏光板12及第二偏光板13之前,能夠先讓光束穿過擴散板14,以便使得光束能夠均勻地穿過第一偏光板12及第二偏光板13;該等保護層16分別設(shè)置于第一偏光板12與第二偏光板13的兩側(cè),以保護第一偏光板12與第二偏光板13;安定器15與光源11電連接,以便讓光源11能夠發(fā)出穩(wěn)定不閃爍的光束;而該等支架17分別設(shè)置于第一偏光板12與第二偏光板13之間,以便提供一空間以容置待測試的光盤基板。在本實施例中,保護層16為玻璃板,而光源11可以是白光源,例如為鹵素?zé)艄芑颦h(huán)形日光燈管。
為使本發(fā)明的內(nèi)容更容易理解,以下將參照圖2說明利用依本發(fā)明較佳實施例的基板缺陷檢測裝置1來檢測一光盤基板2的詳細情形。
首先,將光源11的電源打開,此時光源11發(fā)出一光束,其依序穿過第一偏光板12與第二偏光板13;此外,由于光源11與安定器15電連接,所以光源11能夠發(fā)出穩(wěn)定不閃爍的光束。
接著,將待測試的光盤基板2移入第一偏光板12與第二偏光板13之間,然后由使用者于第二偏光板13上側(cè)直接觀察透過光盤基板2的光束的情形;請參照圖3所示,光源11所發(fā)出的光束依序穿過擴散板14、第一偏光板12、保護層16、光盤基板2、保護層16、第二偏光板13及保護層16,而使用者則于基板缺陷檢測裝置1的上側(cè)進行觀察;此時,若光盤基板2有缺陷時,例如光盤基板2具有因射出成形過程中的不當所造成的水波紋圖案或刮痕的缺陷、甚至是射出成形過程不完全所造成的光盤基板2外圍圖案不清的情形,則使用者所觀察到的光束會清楚呈現(xiàn)出水波紋圖案、刮痕或不合規(guī)格的外圍圖案的輪廓,因此能夠正確地判斷光盤基板2是否具有缺陷。
請再參考圖2所述,使用者將經(jīng)過測試的光盤基板2移出基板缺陷檢測裝置1,并接著將其它待測試的光盤基板2移入第一偏光板12與第二偏光板13之間以進行檢測動作。需注意者,為有效縮短檢測時間,使用者更可以將復(fù)數(shù)個待測試的光盤基板2同時移入第一偏光板12與第二偏光板13之間,以便同時進行多個光盤基板2的檢測動作。
綜上所述,由于依本發(fā)明的基板缺陷檢測裝置將待檢測的光盤基板設(shè)置于二偏光板之間,所以使用者可以于第二偏光板的另一側(cè)快速地觀察光盤基板的透光情形,并根據(jù)光盤基板的透光情形正確地判斷出光盤基板是否存在有前述的缺陷,藉以提高最終光盤產(chǎn)品的產(chǎn)率、及節(jié)省其制造成本。
以上所述僅為舉例性,而非為限制性者。任何未脫離本發(fā)明的精神與范疇,而對其進行的等效修改或變更,均應(yīng)包含于所述的權(quán)利要求范圍中。
權(quán)利要求
1.一種基板缺陷檢測裝置,其用以檢測一光盤基板,其特征是,包含一光源,其發(fā)出一光束;一第一偏光板,該光源設(shè)置于該第一偏光板的一側(cè);一第二偏光板,其設(shè)置于該第一偏光板的另一側(cè),且該第一偏光板的偏光方向與該第二偏光板的偏光方向垂直,其中該光盤基板設(shè)置于該第一偏光板與該第二偏光板之間,該光束依序穿過該第一偏光板、該光盤基板及該第二偏光板。
2.如權(quán)利要求1所述的基板缺陷檢測裝置,其特征是,更包含一擴散板,其設(shè)置于該光源及該第一偏光板之間。
3.如權(quán)利要求1所述的基板缺陷檢測裝置,其特征是,更包含一安定器,其與該光源電連接,以便該光源發(fā)出穩(wěn)定不閃爍的該光束。
4.如權(quán)利要求1所述的基板缺陷檢測裝置,其特征是,更包含復(fù)數(shù)個保護層,其分別設(shè)置于該第一偏光板與該第二偏光板的兩側(cè),以保護該第一偏光板與該第二偏光板。
5.如權(quán)利要求4所述的基板缺陷檢測裝置,其特征是,該等保護層為玻璃板。
6.如權(quán)利要求1所述的基板缺陷檢測裝置,其特征是,該光源為白光源。
7.如權(quán)利要求1所述的基板缺陷檢測裝置,其特征是,該光源為環(huán)型光源。
8.如權(quán)利要求1所述的基板缺陷檢測裝置,其特征是,更包含復(fù)數(shù)個支架,其分別設(shè)置于該第一偏光板與該第二偏光板之間,以便提供一空間以容置待測試的該光盤基板。
全文摘要
一種基板缺陷檢測裝置用以檢測一光盤基板,其包括一光源、一第一偏光板以及一第二偏光板。其中,光源發(fā)出一光束;光源設(shè)置于第一偏光板的一側(cè),而第二偏光板設(shè)置于第一偏光板的另一側(cè);第一偏光板的偏光方向與第二偏光板的偏光方向垂直;當進行測試時,光盤基板設(shè)置于第一偏光板與第二偏光板之間,光源所發(fā)出的光束依序穿過第一偏光板、光盤基板及第二偏光板。本發(fā)明可以提高最終光盤產(chǎn)品的產(chǎn)率及節(jié)省其制造成本。
文檔編號G11B7/26GK1744217SQ20041007519
公開日2006年3月8日 申請日期2004年9月2日 優(yōu)先權(quán)日2004年9月2日
發(fā)明者林保興, 張結(jié)雄, 張家瑋 申請人:精碟科技股份有限公司
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