專利名稱：一種確定可重寫光盤擦除功率的方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光存儲領(lǐng)域，尤其涉及一種確定可重寫光盤的擦除功率的方法和裝置。
隨著數(shù)字信息技術(shù)的飛速發(fā)展，光盤因其具有大容量、方便攜帶、低成本及非接觸式讀取等優(yōu)點，已成為越來越重要的信息存儲介質(zhì)。光盤包括只讀光盤(主要為CD-ROM)、可錄一次光盤(如CD-R，DVD-R)以及可擦重寫(如CD-RW，DVD-RW)?？刹林貙懝獗P主要有磁光盤(MO，Magneto-Optical Disk)和相變光盤(Phase-Change Disk)兩種。
相變光盤的記錄原理，是利用光盤記錄層材料結(jié)構(gòu)相變化達(dá)到的。一般光盤記錄層材料在不同溫度下會有不同的相(Phase)。在常溫下，光盤記錄層材料其原子為規(guī)則排列，即呈現(xiàn)晶態(tài)。如果光盤記錄層材料受熱而溫度高于其熔點，則其原子排列狀態(tài)為散亂不規(guī)則狀，此時如果使記錄層材料急速冷卻，其原子將不能恢復(fù)規(guī)則排列，而是維持高溫時的不規(guī)則狀，呈現(xiàn)非晶態(tài)；而將記錄層材料慢慢冷卻，則原子有足夠動能與時間做規(guī)則排列，呈現(xiàn)晶態(tài)。
基于上述相變原理，如果以高功率短脈沖的激光照射光盤記錄層，且最高溫度高于材料的熔點，并使其溫度在瞬間急速升降，則被照射位置的記錄層材料形成非結(jié)晶狀態(tài)，此過程即為數(shù)據(jù)寫入過程，該激光功率稱為寫入功率。當(dāng)以低功率激光脈沖照射光盤記錄層，引起其溫度變化介于熔點與結(jié)晶溫度之間且持續(xù)較長的時間時，則被照射位置的記錄層材料形成結(jié)晶狀態(tài)，此過程為數(shù)據(jù)擦除過程，該激光功率稱為擦除功率。
在實際的相變光盤記錄中，數(shù)據(jù)寫入及擦除以直接重寫的方式完成，即不對光盤上已有的數(shù)據(jù)進(jìn)行一遍專門的擦除，而是在寫入數(shù)據(jù)的過程中同時擦除已有數(shù)據(jù)。寫入功率和擦除功率直接影響到光盤寫入和擦除的效果，直接影響到刻錄在光盤上的數(shù)據(jù)對時鐘的抖動值(data-to-clock jitter)的大小。如果數(shù)據(jù)對時鐘的抖動值較大，將產(chǎn)生誤碼。一個重寫性能良好的光盤需要特定的最優(yōu)寫入功率和擦除功率，因此，生產(chǎn)廠商提供的相變光盤的ATIP(Absolute Time In Pregroove，預(yù)錄于預(yù)刻槽中的絕對時間)信息或者ADIP(AbsoluteAddress In Pregroove，預(yù)錄于預(yù)刻槽中的絕對地址)信息中存儲有相應(yīng)于該光盤的優(yōu)化寫入功率Pw和用于確定擦除功率的擦除/寫入功率比(ε＝Pe/Pw)等光盤刻寫策略信息(writestrategy)。在光盤上刻錄信息數(shù)據(jù)時，光盤刻錄裝置先讀取光盤上存儲的ATIP或ADIP信息中的Pw值，并用最優(yōu)功率控制(Optimum Power Control，OPC)程序校正，然后根據(jù)擦除/寫入功率比(ε＝Pe/Pw)得到擦除功率值。
但是，根據(jù)光盤中ATIP或ADIP信息中確定的擦除功率只是根據(jù)一個通用比值ε得出的擦除功率，而不是在具體刻錄條件下的最佳的擦除功率，不能保證最佳的擦除效果，因此將會有較多的殘存信號不能擦除，將影響光盤的重寫效果。另外，一些不包含光盤刻寫策略信息的光盤可能進(jìn)入市場，因此從光盤上無法得到相應(yīng)的寫入功率值以及相應(yīng)的擦除功率值，光盤刻寫設(shè)備在刻寫光盤時只能使用默認(rèn)擦除功率，而默認(rèn)的擦除功率有可能與具體刻錄條件下可以使用的最優(yōu)擦除功率相差甚遠(yuǎn)。有些情況下，光盤刻寫裝置將因無法得到擦除功率而無法進(jìn)行重寫。
因此，需要提供一種能夠確定具體刻寫情況下相變光盤擦除功率的方法和裝置。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供了一種在具體刻寫情況下確定可重寫光盤的光盤擦除功率的方法和裝置，可以提高光盤重寫時的擦除效果，克服現(xiàn)有技術(shù)中的不足。
本發(fā)明提供的一種確定可重寫光盤的光盤擦除功率的方法，包括步驟設(shè)定多個光盤擦除測試功率；使用一個指定的光盤寫入功率和所述多個光盤擦除測試功率分別進(jìn)行光盤刻寫測試，以獲取相應(yīng)于每個光盤擦除測試功率的的參數(shù)，該參數(shù)反映光盤數(shù)據(jù)擦除效果，如數(shù)據(jù)對時鐘的抖動值；和根據(jù)所述多個光盤擦除測試功率和所述參數(shù)確立一個光盤擦除測試功率和所述參數(shù)之間的對應(yīng)變化關(guān)系，以確定一個優(yōu)化的光盤擦除功率，用于所述可重寫光盤的數(shù)據(jù)擦除。優(yōu)選的，可以根據(jù)所述的對應(yīng)關(guān)系確定一個具體刻錄條件下的最佳擦除功率。
本發(fā)明還提供了一個確定可重寫光盤擦除功率的裝置，該裝置包括一個設(shè)定裝置，用于設(shè)定一個光盤擦除測試功率，以和一個指定的光盤寫入功率進(jìn)行光盤刻寫測試；一個獲取裝置，用于根據(jù)所述光盤刻寫測試獲取相應(yīng)于光盤擦除測試功率的參數(shù)，該參數(shù)反映光盤擦除效果；和一個確定裝置，用于根據(jù)所述參數(shù)值與所述光盤擦除測試功率確立一個光盤擦除測試功率和該參數(shù)之間的對應(yīng)變化關(guān)系，以確定一個光盤擦除功率，用于所述可重寫光盤的數(shù)據(jù)擦除。優(yōu)選的，可以根據(jù)所述的對應(yīng)關(guān)系確定一個具體刻錄條件下的最佳擦除功率。
通過本發(fā)明提供的方法和裝置，光盤刻寫系統(tǒng)在光盤中不提供優(yōu)化擦除功率或者提供的擦除功率不理想時，確定適合具體刻錄情況的一個擦除功率，從而使光盤重寫性能更可靠。
通過參照結(jié)合附圖所進(jìn)行的如下描述和權(quán)利要求，本發(fā)明的其它目的和成就將是顯而易見的，并對本發(fā)明也會有更為全面的理解。


本發(fā)明通過實例的方式，參照附圖進(jìn)行詳盡的解釋，其中圖1是根據(jù)本發(fā)明一個實施例的確定可重寫光盤擦除功率的裝置的方框圖；圖2是根據(jù)本發(fā)明一個實施例的確定可重寫光盤擦除功率的方法的流程圖；圖3是根據(jù)本發(fā)明一個實施例的第1次刻寫一張光盤時擦除/寫入功率(Pe/Pw)和數(shù)據(jù)對時鐘的平均抖動值之間的關(guān)系圖；圖4是根據(jù)圖3實施例的第3次重寫光盤時擦除/寫入功率(Pe/Pw)和數(shù)據(jù)對時鐘的平均抖動值之間的關(guān)系圖；圖5是根據(jù)圖3實施例的第9次重寫光盤時擦除/寫入功率(Pe/Pw)和數(shù)據(jù)對時鐘的平均抖動值之間的關(guān)系圖；和圖6是根據(jù)圖3實施例的第500次重寫光盤時擦除/寫入功率(Pe/Pw)和數(shù)據(jù)對時鐘的平均抖動值之間的關(guān)系圖。
在所有的附圖中，相同的參照數(shù)字表示相似的或相同的特征和功能。下面參照附圖結(jié)合實施例對本發(fā)明作進(jìn)一步說明。
具體實施例方式
圖1是根據(jù)本發(fā)明一個實施例的確定可重寫光盤擦除功率的裝置100的方框圖。該裝置100包括一個設(shè)定裝置120，用于設(shè)定多個光盤擦除測試功率，以和一個指定的光盤寫入功率分別進(jìn)行一次光盤刻寫測試。光盤擦除測試功率的設(shè)定可以根據(jù)一些傳統(tǒng)的方法和數(shù)據(jù)設(shè)定，例如根據(jù)光盤或光盤刻寫裝置中提供的寫入功率及較常用的寫入功率與擦除功率之間的比值等設(shè)定。裝置100還包括一個獲取裝置140，用于根據(jù)一次光盤刻寫測試獲取相應(yīng)的數(shù)據(jù)對時鐘的抖動值。
裝置100還包括一個確定裝置160，用于根據(jù)該抖動值和該光盤擦除測試功率確立一個數(shù)據(jù)對時鐘的抖動值與光盤擦除功率之間的對應(yīng)關(guān)系，以確定一個用于該可重寫光盤數(shù)據(jù)擦除的光盤擦除功率。通常，確立一個數(shù)據(jù)對時鐘的抖動值與光盤擦除功率之間的關(guān)系至少需要三組對應(yīng)的光盤擦除測試功率和抖動值，所以，一般要設(shè)定至少三個光盤擦除測試功率以進(jìn)行光盤刻寫測試。
所確立的數(shù)據(jù)對時鐘的抖動值與光盤擦除功率之間的關(guān)系包括抖動值和光盤擦除功率之間的拋物線性關(guān)系，也可以包括一個抖動值和光盤擦除功率與指定的光盤刻寫功率比值之間的拋物線性關(guān)系。根據(jù)該拋物線性關(guān)系中抖動值最小時所對應(yīng)的一個極值，可以確定一個具體刻錄情況下的最佳擦除功率，可以被確定為刻寫該光盤時的擦除功率。
圖2是根據(jù)本發(fā)明一個實施例的確定可重寫光盤擦除功率的方法的流程圖。本實施例以32x CD-RW相變光盤的刻寫為例，對光盤重寫速度為19.2Mbit/s速度，讀取速度是14.52Mbit/s。
首先，光盤刻寫裝置設(shè)定至少三個不同的光盤擦除測試功率Pe(步驟S200)。該光盤擦除測試功率根據(jù)該光盤寫入功率來設(shè)定。該光盤寫入功率可以是缺省寫入功率，也可以是接近缺省寫入功率的值。例如，本實施例中指定寫入功率Pw＝40mw。根據(jù)實驗，光盤的擦除功率和寫入功率之間的關(guān)系滿足Pe/Pw＝0.2較好，因此光盤擦除功率的范圍可以8mw為中心，上下偏差30％左右。例如，可以設(shè)定三個擦除功率Pe＝7mw，8mw以及9mw，相應(yīng)的可以得到三個Pe/Pw的比值，分別為0.175，0.2，0.225。
接著，使用該指定的光盤寫入功率和該至少三個光盤擦除測試功率進(jìn)行一次光盤刻寫測試(步驟S210)。
然后，獲取該次刻寫測試的數(shù)據(jù)對時鐘的抖動值(步驟S220)。
光盤刻寫設(shè)備分別以上述三組寫入功率和擦除功率對光盤進(jìn)行重寫，根據(jù)常規(guī)方法可以用測量裝置測量數(shù)據(jù)對時鐘的抖動值。對于每組寫入功率和擦除功率，可以得到一個前沿抖動值(leading jitter)和一個后沿抖動值(trailing jitter)。測量裝置將自動計算前沿抖動值和后沿抖動值的均方根值，從而相應(yīng)地得到三個平均抖動值，分別為2.572，2.608和2.712。
然后，以拋物線求出該平均抖動值與擦除/寫入功率比之間的關(guān)系，獲得該抖動值和擦除/寫入功率比之間的拋物線方程(步驟S240)。本實施例中，將三組平均抖動值與擦除/寫入功率比的數(shù)據(jù)代入拋物線方程的一般方程，y＝ax2-bx+c，其中x代表Pe/Pw值，y代表平均抖動值。通過求解該方程組，得到系數(shù)a，b和c的值，從而計算出該拋物線方程。例如，根據(jù)上述已有的數(shù)據(jù)，獲得拋物線的方程為y＝53.937x2-18.77x+4.2045。當(dāng)然，也可以設(shè)定三個以上的擦除功率，這樣就可以得到更多的擦除/寫入功率比，也就可以獲得更多平均抖動值，從而使得到的拋物線的方程更精確。另外，也可以根據(jù)后沿抖動值和擦除/寫入功率比之間的關(guān)系來求出拋物線方程。
接著，根據(jù)該拋物線方程獲取優(yōu)化的擦除/寫入功率比(步驟S260)。因為如果用最優(yōu)的寫入功率和擦除功率對光盤進(jìn)行重寫，其數(shù)據(jù)對時鐘的平均抖動值將是最小的，說明光盤重寫效果非常好，所以這里用求導(dǎo)拋物線方程的方法獲取優(yōu)化的擦除功率。求導(dǎo)該拋物線方程y＝53.937x2-18.77x+4.2045，并使求導(dǎo)得到的一次多項式為0。即107.874x-18.77＝0，求解該方程，得到x＝0.18，即Pe/Pw＝0.18。也可直接用X＝|b/2a|計算得到優(yōu)化擦除功率。
最后，根據(jù)Pe/Pw＝0.18，則優(yōu)化的擦除功率Pe＝0.18×40＝7.20mw(步驟S280)。
本實施例中以一個固定的寫入功率，和三個變化的擦除功率對光盤進(jìn)行一次重寫而求得一個優(yōu)化擦除功率。為了得到最優(yōu)的擦除功率，可以設(shè)定多個不同的寫入功率，對一張光盤進(jìn)行多次直接重寫，以獲取多個優(yōu)化的擦除功率，從中得到最優(yōu)的光盤擦除功率。例如，下面的例子是光盤類型及重寫速度都相同的前提下，設(shè)定了三個寫入功率，分別對一張光盤進(jìn)行多次直接重寫的情況。
圖3是根據(jù)本發(fā)明一個實施例的第1次刻寫光盤時擦除/寫入功率(Pe/Pw)和數(shù)據(jù)對時鐘的平均抖動值之間的關(guān)系圖。由圖可知，橫坐標(biāo)是Pe/Pw，縱坐標(biāo)是平均抖動值。這里分別設(shè)定了三個寫入功率40mw，43mw，46mw，再設(shè)定每個寫入功率對應(yīng)的多個擦除功率，并以設(shè)定的寫入功率和擦除功率對光盤分別進(jìn)行刻寫，并根據(jù)上述擦除功率優(yōu)化方法可以獲取每個寫入功率對應(yīng)的曲線，其中40mw寫入功率對應(yīng)菱形點曲線，43mw對應(yīng)方形點曲線，46mw對應(yīng)三角形點曲線。然后用拋物線來求出這些曲線，可以得到三條曲線的拋物線方程，分別為y＝53.937x2-18.77x+4.2045；y＝62.156x2-21.416x+4.2459；y＝79.135x2-27.228x+4.6052。
獲取拋物線方程的方法，可以在每條拋物線上取三個點，將這三個點即三組Pe/Pw值和平均抖動值代入拋物線的一般方程y＝ax2-bx+c，其中x代表Pe/Pw值，y代表平均抖動值。通過求解該方程組，得到系數(shù)a，b和c的值，從而計算出該拋物線方程。
得到拋物線方程后，就可以得到最小抖動值對應(yīng)的Pe/Pw值，從而獲得優(yōu)化的擦除功率。
一般，第一次刻寫的光盤都是空白盤，尚未用到擦除功率，也不能體現(xiàn)哪個擦除功率是最優(yōu)的，因而需再進(jìn)行若干次重寫。
圖4是根據(jù)圖3實施例的第3次重寫光盤時擦除/寫入功率(Pe/Pw)和數(shù)據(jù)對時鐘的平均抖動值之間的關(guān)系圖。圖5是根據(jù)圖3實施例的第9次重寫光盤時擦除/寫入功率(Pe/Pw)和數(shù)據(jù)對時鐘的平均抖動值之間的關(guān)系圖。圖6是根據(jù)圖3實施例的第500次重寫光盤時擦除/寫入功率(Pe/Pw)和數(shù)據(jù)對時鐘的平均抖動值之間的關(guān)系圖。從圖中可知，雖然拋物線有所不同，但是最小平均抖動值對應(yīng)的Pe/Pw都非常接近，具體數(shù)值可參見表1。
表1是根據(jù)圖3至圖6的數(shù)據(jù)得到優(yōu)化擦除/寫入功率(Pe/Pw)的表格。從表中可以看出，以寫入功率為40mW為例，第1次重寫得到的優(yōu)化擦除/寫入功率(Pe/Pw)為0.17，第3次重寫得到的優(yōu)化擦除/寫入功率(Pe/Pw)為0.19，第9次重寫得到的優(yōu)化擦除/寫入功率(Pe/Pw)為0.20，第500次為0.22。優(yōu)化擦除/寫入功率比受到直接重寫(Direct overwrite)曲線即拋物線走勢的影響。實驗表明，第3次以后到第500次的重寫得到的優(yōu)化擦除/寫入功率比非常接近。如果把在第3次直接重寫時計算得到的擦除/寫入功率比作為優(yōu)化擦除/寫入功率比，那么在其它情況下獲取的Pe/Pw誤差約在10％之內(nèi)?？梢?，要得到優(yōu)化的擦除功率，不必進(jìn)行那么多次的重寫，只要進(jìn)行到第三次，基本上就能得到優(yōu)化的擦除功率了。
表1 根據(jù)圖3至圖6的數(shù)據(jù)得到優(yōu)化擦除/寫入功率(Pe/Pw)

注AJ是平均抖動值雖然經(jīng)過對本發(fā)明結(jié)合具體實施例進(jìn)行描述，對于在本技術(shù)領(lǐng)域熟練的人士，根據(jù)上文的敘述作出的許多替代、修改與變化將是顯而易見的。因此，當(dāng)這樣的替代、修改和變化落入附后的權(quán)利要求的精神和范圍之內(nèi)時，應(yīng)該被包括在本發(fā)明中。
權(quán)利要求
1.一種確定可重寫光盤的擦除功率的方法，包括步驟(a)設(shè)定多個光盤擦除測試功率；(b)使用所述多個光盤擦除測試功率和一個指定的光盤寫入功率分別進(jìn)行光盤刻寫測試，以獲取相應(yīng)于每個光盤擦除測試功率的參數(shù)，該參數(shù)反映光盤數(shù)據(jù)擦除效果；和(c)根據(jù)所述多個光盤擦除測試功率和所述參數(shù)確立一個光盤擦除測試功率和所述參數(shù)之間的對應(yīng)變化關(guān)系，以確定一個優(yōu)化的光盤擦除功率，用于所述可重寫光盤的數(shù)據(jù)擦除。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，步驟(b)所述光盤寫入功率包括缺省的光盤寫入功率。
3.如權(quán)利要求1或2所述的方法，其中，步驟(a)中所述多個光盤擦除測試功率中的一個或多個根據(jù)所述光盤寫入功率設(shè)定。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述的參數(shù)包括數(shù)據(jù)對時間的抖動值。
5.如權(quán)利要求4所述的方法，其中，所述抖動值包括數(shù)據(jù)對時鐘的平均抖動值。
6.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述對應(yīng)變化關(guān)系包括一個光盤擦除測試功率與指定光盤寫入功率的比值和參數(shù)之間的對應(yīng)變化關(guān)系。
7.如權(quán)利要求6所述的方法，其中，所述一個光盤擦除測試功率與所述指定光盤寫入功率的比值和抖動值之間的對應(yīng)變化關(guān)系包括一個光盤擦除測試功率與所述指定光盤寫入功率的比值和抖動值之間的拋物線性關(guān)系。
8.如權(quán)利要求7所述的方法，其中，步驟(c)包括根據(jù)所確立的拋物線性關(guān)系的極值確定一個光盤擦除功率。
9.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，步驟(a)所述多個光盤擦除測試功率包括至少三個光盤擦除測試功率。
10.一種確定可重寫光盤擦除功率的裝置，包括一個設(shè)定裝置，用于設(shè)定多個光盤擦除測試功率，以和一個指定的光盤寫入功率進(jìn)行光盤刻寫測試；一個獲取裝置，用于根據(jù)所述光盤刻寫測試獲取相應(yīng)于所述光盤擦除測試功率的參數(shù)，該參數(shù)反映光盤數(shù)據(jù)擦除效果；和一個確定裝置，用于根據(jù)所述光盤擦除測試功率和所述相應(yīng)的參數(shù)確立一個光盤測試功率和所述參數(shù)之間的對應(yīng)變化關(guān)系，以確定一個優(yōu)化的光盤擦除功率，用于所述可重寫光盤數(shù)據(jù)擦除。
11.如權(quán)利要求10所述的裝置，其中，所述獲取裝置獲取的參數(shù)包括一個數(shù)據(jù)對時鐘的抖動值。
12.如權(quán)利要求11所述的裝置，其中，所述對應(yīng)變化關(guān)系包括所述一個光盤擦除功率與所述指定光盤寫入功率的比值和抖動值之間的對應(yīng)關(guān)系。
13.如權(quán)利要求12所述的裝置，其中，所述一個光盤擦除功率與所述指定光盤寫入功率的比值和抖動值之間的對應(yīng)變化關(guān)系包括一個所述比值和抖動值之間的拋物線性關(guān)系。
14.如權(quán)利要求13所述的裝置，其中，所述確定裝置根據(jù)所述拋物線性關(guān)系的極值確定的一個光盤擦除功率。
15.一種光盤刻寫系統(tǒng)，包括一個光盤刻寫裝置，用于進(jìn)行光盤刻寫；和一個確定可重寫光盤擦除功率的裝置，該裝置包括一個設(shè)定裝置，用于設(shè)定多個光盤擦除測試功率，以和一個指定的光盤寫入功率通過所述光盤刻寫裝置進(jìn)行光盤刻寫測試；和一個獲取裝置，用于根據(jù)所述光盤刻寫測試獲取相應(yīng)于每個光盤擦除測試功率的參數(shù)，該參數(shù)反映光盤數(shù)據(jù)擦除效果；以及一個確定裝置，用于根據(jù)所獲取的參數(shù)與所述光盤擦除測試功率確立一個所述參數(shù)與光盤擦除測試功率之間的對應(yīng)關(guān)系，以確定一個優(yōu)化的光盤擦除功率，用于所述可重寫光盤的數(shù)據(jù)擦除。
16.如權(quán)利要求15所述的系統(tǒng)，其中，所述的參數(shù)包括數(shù)據(jù)對時間的抖動值。
17.如權(quán)利要求16所述的系統(tǒng)，其中，所述對應(yīng)變化關(guān)系包括一個光盤擦除功率與所述指定光盤寫入功率的比值和抖動值之間的對應(yīng)關(guān)系。
全文摘要
本發(fā)明提出了一種確定可重寫光盤的擦除功率的方法和裝置。該方法包括步驟首先設(shè)定多個光盤擦除測試功率，然后使用一個指定的光盤寫入功率和多個光盤擦除測試功率分別進(jìn)行光盤刻寫測試，以獲取相應(yīng)于每個光盤擦除測試功率的參數(shù)，該參數(shù)反映光盤擦除效果，如數(shù)據(jù)對時鐘的抖動值；再根據(jù)和該多個光盤擦除測試功率和所述相應(yīng)的參數(shù)建立一個該參數(shù)值和光盤擦除測試功率之間的對應(yīng)變化關(guān)系，以確定一個用于所述可重寫光盤的擦除功率。所述的對應(yīng)變化關(guān)系包括一個所述參數(shù)和與光盤擦除測試功率之間的拋物線性關(guān)系，根據(jù)該對應(yīng)關(guān)系可以得出一個在具體刻錄條件下最佳的擦除功率。利用該確定的光盤擦除功率重寫光盤，能夠在重寫光盤時擦除更完全，重寫效果更可靠。
文檔編號G11B7/125GK1691150SQ20041003519
公開日2005年11月2日 申請日期2004年4月23日 優(yōu)先權(quán)日2004年4月23日
發(fā)明者唐福龍, 本努奧·蒂爾克, 約翰·赫爾米希, 陶靖, 赫爾日·拉格朗日 申請人:皇家飛利浦電子股份有限公司